JPH03285170A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
- Publication number
- JPH03285170A JPH03285170A JP8487790A JP8487790A JPH03285170A JP H03285170 A JPH03285170 A JP H03285170A JP 8487790 A JP8487790 A JP 8487790A JP 8487790 A JP8487790 A JP 8487790A JP H03285170 A JPH03285170 A JP H03285170A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reaction tank
- base
- leveling
- automatic analyzer
- mechanism base
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は同一架台に複数個の反応槽を搭載した自動分析
装置および、その複数個の反応膜の水平を比す機構・方
法に関する。
装置および、その複数個の反応膜の水平を比す機構・方
法に関する。
従来の大型装置は、1台の架台にひとつの反応槽を搭載
した分析ユニットと呼ばれるものを複数個要求される処
理能力によって組み合わせひとつの装置として作り上げ
ている。この場合は1台の架台にひとつの反応槽である
ため架台のサイズは反応槽ひとつが乗る大きさで良いた
めその平面度は良いものが期待できる。又架台1台に対
しひとつの反応槽であることでその水平出しについては
特に問題となることはなかった。
した分析ユニットと呼ばれるものを複数個要求される処
理能力によって組み合わせひとつの装置として作り上げ
ている。この場合は1台の架台にひとつの反応槽である
ため架台のサイズは反応槽ひとつが乗る大きさで良いた
めその平面度は良いものが期待できる。又架台1台に対
しひとつの反応槽であることでその水平出しについては
特に問題となることはなかった。
上記従来技術は前述のようにひとつの架台にひとつの反
応槽という構造であるため各々の反応槽の水平出し機構
は必要としないが、架台が反応槽の数、及びこれらのを
搭載する共通の架台とを合わせた数だけ必要とするため
構造の複雑化・製造価格の上昇を招いている。又、分析
ユニットと呼ばれる反応槽がひとつ乗った架台の集合体
として装置をまとめようとした背景には、まず第1に大
型の自動分析装置においてひとつの分析ユニットが故障
しても他のユニットがその部分をカバーして測定に支障
ないようにする事、そして故障したユニットだけを簡単
に交換できるようにする事がある。第2にシリーズ化設
計が共通部分を使って容易にできるようにする事が上げ
られる。しかしながら信頼性設計の進んだ現在では実際
に故障して分析ユニットだけを交換するような例はきわ
めてまれである事、又、シリーズ化設計とい言っても、
上位、下位の機種がラインアップされている現在では広
範囲にわたってシリーズ化する必要がなく上位の大型機
種の部分だけをシリーズ化すれば良い状況となっている
。このように大型機種のみシリーズ化するのであればひ
とつの架台に複数個の反応槽を搭載する必要が生じて来
ている。本発明は、ひとつの大きな架台(幅約2mX奥
行き約0.75m )に複数個(実施例では2個)搭載
する場合の各々の反応槽の水平出し機構およびその方法
を提供することにある。
応槽という構造であるため各々の反応槽の水平出し機構
は必要としないが、架台が反応槽の数、及びこれらのを
搭載する共通の架台とを合わせた数だけ必要とするため
構造の複雑化・製造価格の上昇を招いている。又、分析
ユニットと呼ばれる反応槽がひとつ乗った架台の集合体
として装置をまとめようとした背景には、まず第1に大
型の自動分析装置においてひとつの分析ユニットが故障
しても他のユニットがその部分をカバーして測定に支障
ないようにする事、そして故障したユニットだけを簡単
に交換できるようにする事がある。第2にシリーズ化設
計が共通部分を使って容易にできるようにする事が上げ
られる。しかしながら信頼性設計の進んだ現在では実際
に故障して分析ユニットだけを交換するような例はきわ
めてまれである事、又、シリーズ化設計とい言っても、
上位、下位の機種がラインアップされている現在では広
範囲にわたってシリーズ化する必要がなく上位の大型機
種の部分だけをシリーズ化すれば良い状況となっている
。このように大型機種のみシリーズ化するのであればひ
とつの架台に複数個の反応槽を搭載する必要が生じて来
ている。本発明は、ひとつの大きな架台(幅約2mX奥
行き約0.75m )に複数個(実施例では2個)搭載
する場合の各々の反応槽の水平出し機構およびその方法
を提供することにある。
上記目的を達成するためにはその手段としてまず第1に
ひとつの架台に複数個の反応槽を搭載するため架台のサ
イズが大きくなり反応槽を搭載する面の平面度が悪くな
るおそれがあるため、各々の反応槽の水平出しを行う調
整機構を架台全体の水平出しを行う調整機構とは別に設
けたことが上げられる。
ひとつの架台に複数個の反応槽を搭載するため架台のサ
イズが大きくなり反応槽を搭載する面の平面度が悪くな
るおそれがあるため、各々の反応槽の水平出しを行う調
整機構を架台全体の水平出しを行う調整機構とは別に設
けたことが上げられる。
第2に反応槽の水平出しの実際の方法は、反応槽自体を
上下させるか、それが乗っている機構ベースを上下させ
るかの2通りの方法があるが、他のサンプリング機構や
撹拌機構も機構ベース上に乗っておりこれらとの上下位
置置係を変化させないようにする為に反応槽の乗った機
構ベース全体を上下させるようにした。
上下させるか、それが乗っている機構ベースを上下させ
るかの2通りの方法があるが、他のサンプリング機構や
撹拌機構も機構ベース上に乗っておりこれらとの上下位
置置係を変化させないようにする為に反応槽の乗った機
構ベース全体を上下させるようにした。
第3に実際に機構ベースを上下させる方法は架台にネジ
を切ったボスを溶接し、そのボスにボルトおよび袋ナツ
トをねじ込みこ九に接触している機構ベースがボルトお
よび袋ナツトの上下運動に係合して上下する方法を採用
したものである。
を切ったボスを溶接し、そのボスにボルトおよび袋ナツ
トをねじ込みこ九に接触している機構ベースがボルトお
よび袋ナツトの上下運動に係合して上下する方法を採用
したものである。
各々の反応槽用に設けられた水平出し機構は、搭載する
架台の平面度がある程度悪くても、個々の反応槽(機構
テーブル)毎独立に水平出しを行う方式であるので十分
水平を取る事ができる。又架台全体の水平出し機構は1
組立時および据付時に装置全体の水平を出すものとして
使用する。又、機構ベース全体を上下させることは、ベ
ース上に乗っている反応槽、およびサンプリング機構・
撹拌機構等の機構ユニット同志の相対位置は変化しない
がサンプリングノズルと機構ベースとは別置きのサンプ
ルの入っている試験管との高さの位置関係が変わってし
まうおそれがあり、これはサンプル量のデッドボリュー
ムとしての不具合となる。
架台の平面度がある程度悪くても、個々の反応槽(機構
テーブル)毎独立に水平出しを行う方式であるので十分
水平を取る事ができる。又架台全体の水平出し機構は1
組立時および据付時に装置全体の水平を出すものとして
使用する。又、機構ベース全体を上下させることは、ベ
ース上に乗っている反応槽、およびサンプリング機構・
撹拌機構等の機構ユニット同志の相対位置は変化しない
がサンプリングノズルと機構ベースとは別置きのサンプ
ルの入っている試験管との高さの位置関係が変わってし
まうおそれがあり、これはサンプル量のデッドボリュー
ムとしての不具合となる。
これを避けるために本方式においてはサンプリング機構
の近くに基準点として上下位置を変化させない場所を一
点設けている。これによってサンプリング先端と試験管
の乗るサンプラとの高さ関係は一定の高さを保持するこ
とができる。機構ベースを実際に上下する支点としては
前述の点を基準点として他の2点を上下の調節点にして
計3点によって水平を決定するので容易に水平を出す事
ができる。その他の数ケ所の支持点は出された機構ベー
スの水平面に合わせる恰好となる。尚この調整作業にお
いては機構ベース自体の平面度のくるいを除去するため
実際の機構ベースとは違って厚みの厚い平面度が良く出
されているものを使い、機構ベースの乗る調整ボルト、
ベース受はナツトの高さを規定する。
の近くに基準点として上下位置を変化させない場所を一
点設けている。これによってサンプリング先端と試験管
の乗るサンプラとの高さ関係は一定の高さを保持するこ
とができる。機構ベースを実際に上下する支点としては
前述の点を基準点として他の2点を上下の調節点にして
計3点によって水平を決定するので容易に水平を出す事
ができる。その他の数ケ所の支持点は出された機構ベー
スの水平面に合わせる恰好となる。尚この調整作業にお
いては機構ベース自体の平面度のくるいを除去するため
実際の機構ベースとは違って厚みの厚い平面度が良く出
されているものを使い、機構ベースの乗る調整ボルト、
ベース受はナツトの高さを規定する。
以下、本発明の実施例を第1図〜第6図により説明する
。第1図は本実施例の全体図を示すもので反応槽7.タ
ーンテーブル6、機構系のユニットの乗っている機構ベ
ース2が架台1上に2ユニット上下調整機構を備えてい
るベース支え3を介して搭載されている。第2図は第1
図の平面図(この場合調整用機構ベース20のみ架台1
に乗っている。)を表わしている。試験管21はラック
19に差し込まれサンプラ18上を移動しサンプリング
機構5の位置でサンプルが採取される。
。第1図は本実施例の全体図を示すもので反応槽7.タ
ーンテーブル6、機構系のユニットの乗っている機構ベ
ース2が架台1上に2ユニット上下調整機構を備えてい
るベース支え3を介して搭載されている。第2図は第1
図の平面図(この場合調整用機構ベース20のみ架台1
に乗っている。)を表わしている。試験管21はラック
19に差し込まれサンプラ18上を移動しサンプリング
機構5の位置でサンプルが採取される。
調整用機構ベース20内に表示されているA、B。
CおよびDの英字はベース支え3の構造を表わし各々、
第3図、第4図、第S図、および第6図の図象に対応し
ている。A点はサンプリング機構5近くの基準点であり
この点を支点として上下の位置調節を行う。B点および
0点は機構ベース2の水平出しのための調節点である。
第3図、第4図、第S図、および第6図の図象に対応し
ている。A点はサンプリング機構5近くの基準点であり
この点を支点として上下の位置調節を行う。B点および
0点は機構ベース2の水平出しのための調節点である。
ボスBは架台1に溶接されており、これにねじ込まれて
いるボルトB13.ボルトC14が回転することにより
上下する。ナツト12はボルトB、Cのゆるみ止めの働
きをする。尚、A点と0点においてはボスAIO,ボル
トC14の先端が機構ベース2の穴と勘合し機構ベース
=2の前後・左右の位置決めを行なっている。残りのD
点は第6図の構造になっておりボスC15は架台1に溶
接されておりこれにメネジの切っであるベース受はナツ
ト16が押しバネ17を介在させてねじ込まれている。
いるボルトB13.ボルトC14が回転することにより
上下する。ナツト12はボルトB、Cのゆるみ止めの働
きをする。尚、A点と0点においてはボスAIO,ボル
トC14の先端が機構ベース2の穴と勘合し機構ベース
=2の前後・左右の位置決めを行なっている。残りのD
点は第6図の構造になっておりボスC15は架台1に溶
接されておりこれにメネジの切っであるベース受はナツ
ト16が押しバネ17を介在させてねじ込まれている。
ベース受はナツト=16にはスリ割り溝が切ってあり機
構ベース2を乗せた状態で−ドライバにて高さの調整が
可能な状態になっている。押しバネ17は調節後、機構
ベース2を乗せる迄の間ベース受はナツト16がゆるん
で位置が変わってしまうのを防ぐ働きをしている。
構ベース2を乗せた状態で−ドライバにて高さの調整が
可能な状態になっている。押しバネ17は調節後、機構
ベース2を乗せる迄の間ベース受はナツト16がゆるん
で位置が変わってしまうのを防ぐ働きをしている。
本発明は1以上説明したように構成されているので以下
に記載されているような効果を奏する。
に記載されているような効果を奏する。
ひとつの架台に複数個の反応槽を搭載することは大型の
自動分析装置を構成する場合、装置をより軽便に、それ
に伴って原価を低く押えるためにどうしても必要となっ
てくることであるが、本発明はこうした要求に対して各
反応槽に上下調節機構を設けることにより実現可能とし
た。これはただ単に反応槽の水平出し機構の発明にとど
まるのではなく大型機の構造の簡略化および原価低減ま
で含めた効果をもたらすものである。
自動分析装置を構成する場合、装置をより軽便に、それ
に伴って原価を低く押えるためにどうしても必要となっ
てくることであるが、本発明はこうした要求に対して各
反応槽に上下調節機構を設けることにより実現可能とし
た。これはただ単に反応槽の水平出し機構の発明にとど
まるのではなく大型機の構造の簡略化および原価低減ま
で含めた効果をもたらすものである。
第1図および第2図は本発明の一実施例の全体および平
面図、第3図〜第6図は第2図のベース支え点A、B、
CおよびD点の構造の縦断面図である。
面図、第3図〜第6図は第2図のベース支え点A、B、
CおよびD点の構造の縦断面図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ひとつの反応槽と、撹拌機構・試薬ノズル移動機構
・サンプリング機構等の機構ユニットが設置された機構
ベースが、同一の架台に複数個搭載された事を特徴とす
る自動分析装置。 2、請求項1記載において機構ベース全体を上下させる
事で反応槽の水平出しを行うようにしたことを特徴とす
る自動分析装置。 3、請求項2記載の水平出しにおいて、水平出しの基準
点をサンプリングノズル近傍の一ケ所に設けた事および
、その他の機構ベース支え部をネジ構造により上下させ
るようにした事を特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8487790A JPH03285170A (ja) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8487790A JPH03285170A (ja) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | 自動分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03285170A true JPH03285170A (ja) | 1991-12-16 |
Family
ID=13843016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8487790A Pending JPH03285170A (ja) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03285170A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2021053858A1 (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | ||
| WO2023002761A1 (ja) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置およびその傾斜調整方法 |
-
1990
- 1990-04-02 JP JP8487790A patent/JPH03285170A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2021053858A1 (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | ||
| WO2021053858A1 (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置およびその水平出し方法 |
| US12345728B2 (en) | 2019-09-19 | 2025-07-01 | Hitachi High-Tech Corporation | Automated analysis device and method for leveling same |
| WO2023002761A1 (ja) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置およびその傾斜調整方法 |
| JPWO2023002761A1 (ja) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 |
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