JPH03287015A - 反射型光学式変位検出器 - Google Patents

反射型光学式変位検出器

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JPH03287015A
JPH03287015A JP8938690A JP8938690A JPH03287015A JP H03287015 A JPH03287015 A JP H03287015A JP 8938690 A JP8938690 A JP 8938690A JP 8938690 A JP8938690 A JP 8938690A JP H03287015 A JPH03287015 A JP H03287015A
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grating
reference point
optical grating
fixed optical
forming surface
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JP8938690A
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Inventor
Norihito Toikawa
樋川 典仁
Wataru Ishibashi
石橋 渡
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Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、互いに相対変位する検出対象物の一方の側に
取付けられた変位検出用固定光学格子と、検出対象物の
他方の側に取付けられた変位検出用光学格子とを相対移
動させた時に生じる変位検出用光信号から検出対称物間
の相対移動量を検出する反射型光学式変位検出器の改良
に関する。
[従来の技術] 一般に、物体の長さ等を測定する変位検出器において、
相対移動する物の移動量を測定する場合、光学格子が形
成されたメインスケール、及びインデックススケールを
含む検出器を測定対象物に固定し、メインスケールと検
出器の相対移動量を光学的に読み取る光学式変位検出器
が知られている。
この光学式変位検出器は、工作機械や光学器械及び精密
測定器等の位置決め装置をして広く用し)られている。
このような光学式変位検出器としては、通常。
透過型あるいは反射型の光学式変位検出器力S用IJ)
られている。
このうち、透過型の変位検出器は、発光源と受光素子が
変位検出用固定光学格子と可動光学格子を間にして対向
して配置されてし)る。
これに対して1反射型の変位検出器は、第7図に示され
るように、変位検出用の可動光学格子1を備えたインデ
ックススケール2及び変位検出用の固定光学格子3を備
えたメインスケール4に対して一方の側(インデックス
スケール2側)に発光源5及びフォトダイオードからな
る受光素子6とが配置されているので、透過型の光学式
変位検出器と比較して、小型化及び低コスト化を図るこ
とができる。
第7図において、符号7はメインスケール4に設けられ
た基準点検出用固定光学格子、符号8はインデックスス
ケール2に配置された基準点検出用可動光学格子を示し
、これらは共に同一のランダムパターンとされている。
第9図にメインスケール4の格子形成面9を示す。第9
図において、基準点検出用固定光学格子7はランダムパ
ターンであるのに対し変位検出用固定光学格子3は一定
の格子間隔のパターンであることが示されている。
上記第7図に示される反射型光学式変位検出器において
は、発光源5から射出された照明光の一部はメインスケ
ール4の格子形成面9にある変位検出用固定光学格子3
で反射され、更に変位検出用可動光学格子lを通過した
後に受光素子6のうち変位検出信号用受光素子6Aに受
光され、ここで電気信号に変換されて、プリアンプIO
Aを経て信号処理回路11に入力される。第10図(A
)に受光素子6Aで検出される変位検出信号の波形を示
す。ここでPは格子間隔を示す。
また、発光源5から射出された光は、基準点検出用固定
光学格子7で反射され、検出用可動光学格子8を通って
、受光素子6のうちの基準点検出信号用受光素子6Bに
受光されてここで電気信号に変換される。第10図(B
)に基準点検出信号用受光素子6Bで検出される基準点
検出信号の波形を示す。基準点検出信号14は、ランダ
ムパターンの光学格子7及び8が重ねあわされた時に生
じる。
なお、変位検出用固定光学格子3と変位検出用固定光学
格子1との距離は、反射型光学式変位検出器の分解能を
いくつに設定するか等により所定の値に定める必要があ
る。そのため、変位検出用固定光学格子3が形成される
格子形成面9は、インデックススケール2の格子形成面
13に近い側の格子形成面9Bに設けられる場合と遠い
側の格子形成面9Aに設けられる場合とがある。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら従来は、変位検出用固定光学格子3が第2
格子形成面9Bにではなく第1格子形成面9Aにある構
成の場合は第7図に示した様に、基準点検出用固定光学
格子7は変位検出用固定光学格子3と同じく第2格子形
成面9Bに設けられていた。その理由は、第2格子形成
面9B上にフォトエツチング行程により変位検出用固定
光学格子3を形成した後、新たにアライメントをし直し
てから第1格子形成面9Aに基準点検出用固定光学格子
7のフォトエツチング行程を採ることは、コスト高とな
り、又製造技術上容易ではないからである。
そして基準点検出用固定光学格子7を格子形成面9Aに
おく結果、基準点検出用可動光学格子8と基準点検出用
固定光学格子7との距離はメインスケール4の基板15
の厚さの分だけ不必要に離れていた。そのため、第10
図(B)に示す様に基準点検出信号14は本来の波形が
14Aで示すように波形幅Qであるのに対して、符号1
4Bに示される様に鈍った波形になり、精度の高い基準
点検出信号14を得られないという問題点があった。
また、このような問題点があるため当初から基準点検出
用の光学格子7.8を設けることを止め基準点の検出を
行なわない純粋なインクリメンタルの変位検出器として
のみ用いることを余儀なくされていた。
また、基準点検出用光学格子7.8を設ける場合におい
ても、主に製作行程上の理由によるものであるが、第8
図に示すように基準点検出用固定光学格子7はインデッ
クススケール4の長手方向に一定の間隔L(例えば50
mm)毎に設けられていた。そのため、特に長尺の変位
検出器にあっては不要にもかかわらず基準点検出用固定
光学格子3が複数存在することがあり、邪魔になる場合
はせっかく焼き付けたに6かかわらず格子を除去する行
程が必要であった。
また、これに関連して、工作機械等において変位ストロ
ークを設定しておく場合のように複数の位置で基準信号
を必要とする場合においても、設定する変位ストローク
に対応させて基準点検出用固定光学格子3の間隔を設定
することができないという問題点があった。
本発明は係る状況に鑑みてなされたものでありその目的
は5変位検出用固定光学格子3を、メインスケールの格
子形成面9のうち変位検出用固定光学格子3のある第1
格子形成面9Aとは反対の側の第2格子形成面9Bに容
易に設けることを容易にした反射型光学式変位検出器を
提供することである。
[課題を解決するための手段] そのため本発明は、互いに相対変位する検出対象物の一
方の側に取付けられるメインスケールと、検出対称物の
他方の側に取付けられ、且つ、前記メインスケールに沿
って往復可動なインデックススケールと、前記インデッ
クススケールの格子形成面に形成された変位検出用可動
光学格子及び基準点検出用可動光学格子と、前記メイン
スケールの格子形成面に形成された変位検出用固定光学
格子及び基準点検出用固定光学格子と、前記インデック
ススケールに配置された発光源及び受光素子と、を有し
てなり、前記発光源から射出された光線が変位検出用固
定光学格子に反射され、前記変位検出用可動光学格子を
通った後、前記受光素子で検出される変位検出用信号に
より検出対称物間の相対変位を検出する反射型光学式変
位検出器において、前記基準点検出用固定光学格子は、
前記メインスケールの格子形成面のうち前記変位検出用
固定光学格子のある第1格子形成面とは反対の側の第2
格子形成面にあり、前記第1格子形成面には、前記発光
源から射出された光線を反射させて前記基準点検出用固
定光学格子及び前記基準点検出用可動光学格子に向ける
反射面があることを特徴とし、前記課題を解決する。
また、本発明は、前記基準点検出用固定光学格子は、前
記メインスケールとは別体の透明板に形成され、その透
明板が前記メインスケールの第2格子形成面に接着され
たことを特徴とする。
[作用] 変位検出用固定光学格子3を、メインスケールの格子形
成面9のうち変位検出用固定光学格子3のある第1格子
形成面9Aとは反対の側の第2格子形成面9Bに設ける
本発明の構成により、発光源5から射出した光線は第1
格子形成面にある反射面16で反射され、基準点検出用
固定光学格子8を通過した後それに近在する基準点検出
用可動光学格子8に直ちに入射し、メインスケール4と
インデックススケール2との相対移動に伴い鋭い波形の
基準点信号が検出される。
また、基準点検出用固定光学格子7は、メインスケール
4とは別体として製造された後、既にあるメインスケー
ル4の第1格子形成面上の変位検出用固定光学格子3と
のアライメントをしながらメインスケール4の第2格子
形成面に接着される。
[実施例コ 本発明の好適な実施例を図面を参照して詳細に説明する
第1図は本発明に係る反射型光学式変位検出器の第1実
施例を示す断面図である。
この第1実施例は、互いの相対変位する検出対象物(図
示省略)の一方の側に取付けられるメインスケール4と
、検出対象物の他方の側に取付けられ、且つ、前記メイ
ンスケール4に沿って往復動可能なインデックススケー
ル2と、前記インデックススケール2の格子形成面13
に形成された変位検出用可動光学格子1及び基準点検出
用可動光学格子8と、前記メインスケール4の格子形成
面9に形成された変位検出用固定光学格子3及び基準点
検出用固定光学格子と、前記インデックススケール2に
配置された発光源5及び受光素子6と、を有してなり、
前記発光源5から照射された光線が変位検出用固定光学
格子3に反射され、前記変位検出用可動光学格子1を通
った後、前記受光素子6で検出される変位検出用信号1
7により検出対象物間の相対変位を検出する反射型光学
式変位検出器において、前記基準点検出用固定光学格子
7は、前記メインスケール4の格子形成面9のうち前記
変位検出用固定光学格子3のある第1格子形成面9Aと
は反対の側の第2格子形成面9Bにあり、前記第2格子
形成面9Bには、前記発光#5から照射された光線ゐ反
射させて前記基準点検出用固定光学格子7及び前記基準
点検出用可動光学格子8に向ける反射面16が設けられ
ている。
受光素子6は、変位検出用信号を受光する変位検出用受
光素子6Aと基準点検出用信号用受光素子6Bとがある
。変位検出用受光素子6Aは図示していないが複数あり
、それらによって第10図(A)に示されると同様の波
形で相互に90度位相のずれた正弦波と余弦波の各々が
検出され、相対移動方向の方向判別に利用される。
変位検出用受光素子6A及び基準点検出用信号用受光素
子6Bの出力は、各々プリアンプ10A10Bで増幅さ
れた後、信号処理回路11で信号処理され、その結果は
表示手段12に表示される。信号処理回路11及び表示
手段12の構成は周知であるので説明は省略する。
この実施例においては基準点検出用固定光学格子7は、
インデックス2の格子形成面13に近い側の第2格子形
成i9Bにある。その一方、変位検出用固定光学格子は
、変位検出用可動光学格子1からの距離を所定の距離に
あるべき、という分解能等に関した要請により第1格子
形成面9Bにある。
反射面16は、第2格子形成面9Aにむらなくクロム蒸
着してつくられている。
第2図はメインスケール4の斜視図であり、第3図は第
2図における線分1−1から見たメインスケールの断面
図である。
基準点検出用固定光学格子7は、メインスケール4とは
別体の透明板である格子ガラス薄板20の一方の面にク
ロム蒸着されたものであり、そして、第1図乃至第3図
に示すように、その格子ガラス薄板20の他方の面がメ
インスケール4の第2格子形成面に接着剤19により接
着されている。接着剤19は、透明接着剤であり、格子
ガラス薄板20の他方の面に一面に薄く塗られている。
なお、必ずしも格子ガラス薄板20の他方の面に一面に
薄く塗らなくとも、格子ガラス薄板20の周辺サイドを
第2格子形成面9Bに接着しても構わない。この場合接
着剤19は、透明である必要はない。
格子ガラス薄板20の他方の直は、基準点検出用固定光
学格子7が変位検出用固定光学格子3の格子配列方向と
同方向になるようにアライメントされた状態で接着され
る。
次に本実施例の作用について説明する。発光源5から射
出される光線は、一部が変位検出用固定光学格子3を照
射して反射された後、変位検出用可動光学格子lを透過
して変位検出用受光素子6Aで検出される。また、発光
源5からの光線の他の一部は格子形成面9Aに設けられ
た反射面16で反射されて基準点検出用固定光学格子7
を透過した後、基準点検出用可動光学格子8を透過して
基準点検出用受光素子6Bで検出される。
基準点検出用固定光学格子7と基準点検出用可動光学格
子8とは、近接して配置されているので、基準点検出用
固定光学格子7で回折した光線が明暗まばらに基準点検
出用可動光学格子8に入射することが少くなる。即ち、
例えば検出用固定光学格子7と基準点検出用可動光学格
子8とが重なったときを考えると、基準点検出用固定光
学格子7で種々の方向へ光線が回折されること等を考慮
する必要がない。そして、基準点検出用固定光学格子7
と基準点検出用可動光学格子8とは合わされて、2個の
光学格子というよりも言わば1個の光学格子として作用
する度合いを強める。その結果、基準点検出用受光素子
6Bに検出される基準点検出用信号14の波形は鋭くな
る。
また、基準点検出用固定光学格子7は、メインスケール
4とは別体である格子ガラス薄板20の一方の面にクロ
ム蒸着される。格子ガラス薄板20にある基準点検出用
固定光学格子7が変位検出用固定光学格子3の格子配列
方向と同方向になるようにアライメントされた状態で、
その格子ガラス薄板20の他方の面をメインスケール4
の第2格子形成面に接着剤19により接着する。
次に本実施例の効果を記載する。
前述のように基準点検出用受光素子6Bに検出される基
準点検出信号14の波形が鋭くなるので、精度の高い基
準点検出信号を得ることができる。その結果、設定する
分解能等の理由により変位検出用光学格子3がインデッ
クススケール2の格子形成面13に遠い側9Aにある場
合でも、精度の高い基準点検出信号を有する反射型光学
式変位検出器を提供することができる。
また、基準点検出用固定光学格子7をメインスケール4
とは別体である格子ガラス薄板20の一方の面に形成し
た後、その格子ガラス薄板20を格子形成面9Bに接着
することにより、基準点検出用固定光学格子7を容易に
設けることができるまた、第4図に示す様に、格子ガラ
ス薄板20の一方の面に任意の間隔で複数の基準点検出
用固定光学格子7をクロム蒸着して、格子形成面9Bに
接着することにより、任意の間隔で複数の基準点検出用
固定光学格子を容易に設けることができる。その結果、
工作機械等において変位ストロークを設定しておく場合
のように複数の位置で基準信号を必要とする場合におい
て、設定する変位ストロークに対応させて基準点検出用
固定光学格子3の間隔を設定することを容易にできる。
次に第5図を用いて本発明に係る他の実施例を説明する
。この実施例においては、変位検出用可動光学格子1の
格子配列方向に垂直方向の格子長さが、第1図に示した
実施例に比べて長い。その他の点は、第1図に示した実
施例と同じである。
本実施例においても、基準点検出用固定光学格子7は、
メインスケール4とは別体の格子ガラス薄板20の一方
の画にクロム蒸着されたものであるこの場合、発光源5
から射出した光線の一部が変位検出用可動光学格子1と
通過し、さらにその光線は変位検出用固定光学格子3を
照射して反射された後、変位検出用可変光学格子1を透
過して変位検出用受光素子6Aで検出される。
このような構成にすることにより、本出願人が特開昭6
3−24128等で開示した、いわゆる3個の光学格子
を用いた構成の反射型光学式変位検出器を、変位検出用
固定光学格子3と基準点検出用固定光学格子7とが相互
にメインスケール4の反対側にある構成で提供すること
ができる。その結果、高精度の基準点検出用信号を出力
できるいわゆる3個の光学格子を用いた構成の反射型光
学式変位検出器を提供できる。
以上、本発明について好適な実施例を挙げて説明したが
、本発明は、この実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の改良並びに
設計の変更が可能なことは勿論である。
例えば、製作行程上有利でないという判断から変位検出
用固定光学格子7は、メインスケール4と別体の格子ガ
ラス板20にまずエツチングされる場合を示したが、変
位検出用固定光学格子7を直接第2格子形成面9Bに形
成した場合も本願発明に属することはいうまでもない。
また、発光源5の光のコヒーレンスの程度は問わない。
従って、発光源5は、いわゆるLEDであってもレーザ
ダイオードであっても構わないことはいうまでもない。
また、第4図に示した複数の基準点検出用固定光学格子
は、−枚の格子ガラス板20に複数設けられていたが、
それぞれ単一の基準点検出用固定光学格子格子7を有す
る格子ガラス板20を必要な位置に複数設けても良い。
また、反射面16は、第2格子形成面9B上にべったり
クロム蒸着した場合に限らず5変位検出用固定光学格子
3と同様の格子であっても、又は変位検出用固定光学格
子3そのものであっても実質上構わない。いずれにして
も、反射面16で反射された光線の強度分布は、基準点
検出用固定光学格子20において平均的に均一となれば
良いからである。
また5図に示されたメインスケール4、格子ガラス薄板
20や反射面16等の厚さは、模式的に図示したちので
あり、従ってその図示された大小関係等は本質的なもの
ではない。
[発明の効果] 本発明は、上記のように変位検出用固定光学格子を、メ
インスケールの格子形成面のうち変位検出用固定光学格
子のある第を格子形成面とは反対の側の第2格子形成面
に設ける構成にしたので、高精度の基準点検出信号を有
する反射型光学式変位検出器を提供することができる。
また、基準点検出用固定光学格子は、メインスケール4
と別体の透明板20に形成されて、その透明板20をメ
インスケールの第2格子形成面に接着するので、簡易に
基準点検出用固定光学格子を任意の位置に設けることが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る一実施例の断面図である第2図は
第1図におけるメインスケールの斜視図である。 第3図は第2図に示すメインスケールの断面図である。 第4図は基準点検出用固定光学格子が複数ある場合を示
すメインスケールの斜視図である。 第5図は、本発明に係る第2実施例の断面図である。 第6図は、インデックススケールの光学格子面を示す平
面図である。 第7図は従来の反射型光学式変位検出器の断面図である
。 第8図は複数の基準点検出用固定光学格子を有する、従
来のメインスケールの光学格子面を示す平面図である。 第9図は従来のメインスケールの光学格子面を示す平面
図である。 第10図は変位検出用信号と基準点検出用信号の波形を
示す線図である。 2 ・ 3 ・ 4 ・ 5 ・ 7 ・ 8 ・ 9 ・  A  B 16 ・ 20 ・ インデックススケール 変位検出用固定光学格子 メインスケール 発光源 基準点検出用固定光学格子 基準点検出用可動光学格子 格子形成面 第1格子形成面 第2格子形成面 反斜面 格子ガラス薄板

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)互いに相対変位する検出対象物の一方の側に取付
    けられるメインスケールと、検出対称物の他方の側に取
    付けられ、且つ、前記メインスケールに沿って往復可動
    なインデックススケールと、前記インデックススケール
    の格子形成面に形成された変位検出用可動光学格子及び
    基準点検出用可動光学格子と、前記メインスケールの格
    子形成面に形成された変位検出用固定光学格子及び基準
    点検出用固定光学格子と、前記インデックススケールに
    配置された発光源及び受光素子と、を有してなり、前記
    発光源から射出された光線が変位検出用固定光学格子に
    反射され、前記変位検出用可動光学格子を通った後、前
    記受光素子で検出される変位検出用信号により検出対称
    物間の相対変位を検出する反射型光学式変位検出器にお
    いて、前記基準点検出用固定光学格子は、前記メインス
    ケールの格子形成面のうち前記変位検出用固定光学格子
    のある第1格子形成面とは反対の側の第2格子形成面に
    あり、 前記第1格子形成面には、前記発光源から射出された光
    線を反射させて前記基準点検出用固定光学格子及び前記
    基準点検出用可動光学格子に向ける反射面があることを
    特徴とする反射型光学式変位検出器。
  2. (2)前記基準点検出用固定光学格子は、前記メインス
    ケールとは別体の透明板に形成され、その透明板が前記
    メインスケールの第2格子形成面に接着されたことを特
    徴とする請求項(1)に記載の反射型光学式変位検出器
JP8938690A 1990-04-04 1990-04-04 反射型光学式変位検出器 Pending JPH03287015A (ja)

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