JPH0328705A - 光切断法による物体の立体形状検知装置 - Google Patents
光切断法による物体の立体形状検知装置Info
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- JPH0328705A JPH0328705A JP1162665A JP16266589A JPH0328705A JP H0328705 A JPH0328705 A JP H0328705A JP 1162665 A JP1162665 A JP 1162665A JP 16266589 A JP16266589 A JP 16266589A JP H0328705 A JPH0328705 A JP H0328705A
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業」二の利用分野〕
この発明は、光切断法を用いて物体の立体形状を検知す
る装置に関する。
る装置に関する。
第3図は光切断法により物体の立体形状を計測する従来
の装置を模式的に示したものである。レーザ光源(1)
の前方にシリンドリ力ルレンズ(2)を介して回転ミラ
ー(3)が配置され、回転ミラー(3)の前方に計測の
対象となる物休(4)が配置されている。この物体(4
)に対向するようにイメージセンサ(5〉が配置されて
おり、−イメージセンサ(5)に判定部(6)が接続さ
れ、さらに判定部(6)にメモリ部(7)か接続されて
いる。尚、物休(4〉とイメージセンサ(5)との間に
は、物体(4)の像をイメージセンサ(5)上に結像ず
るための光学レンス(8)か配置されている。
の装置を模式的に示したものである。レーザ光源(1)
の前方にシリンドリ力ルレンズ(2)を介して回転ミラ
ー(3)が配置され、回転ミラー(3)の前方に計測の
対象となる物休(4)が配置されている。この物体(4
)に対向するようにイメージセンサ(5〉が配置されて
おり、−イメージセンサ(5)に判定部(6)が接続さ
れ、さらに判定部(6)にメモリ部(7)か接続されて
いる。尚、物休(4〉とイメージセンサ(5)との間に
は、物体(4)の像をイメージセンサ(5)上に結像ず
るための光学レンス(8)か配置されている。
・方、回転ミラー(3)の近傍には、回転ミラー(3)
の基準角度を検知するための光検出器(9)が配置され
ており、この光検出器(9)にカウンタ(10〉が接続
され、カウンタ(1o〉の出力がデータハス(1】)に
よりメモリ部(7)に接続されている。また、メモリ部
(7)にはデータパス(12〉を介してデータプロセッ
サ(13〉か接続されている。
の基準角度を検知するための光検出器(9)が配置され
ており、この光検出器(9)にカウンタ(10〉が接続
され、カウンタ(1o〉の出力がデータハス(1】)に
よりメモリ部(7)に接続されている。また、メモリ部
(7)にはデータパス(12〉を介してデータプロセッ
サ(13〉か接続されている。
イメージセンサ(5)は、このイメージセンサ(5)と
物体(4)とを結ぶ軸をχ軸とし゛ζX.−Y平面Lに
配列された複数の画素(5a)を存している。判定部(
6)及ひメモリ部<7)はそれそれイメージセンサ(5
)の各画素(5a)に一対−に対応j一で配列された複
数θ〕比較器(6a)及ひ複数のメモリ(7a〉を有し
ている。
物体(4)とを結ぶ軸をχ軸とし゛ζX.−Y平面Lに
配列された複数の画素(5a)を存している。判定部(
6)及ひメモリ部<7)はそれそれイメージセンサ(5
)の各画素(5a)に一対−に対応j一で配列された複
数θ〕比較器(6a)及ひ複数のメモリ(7a〉を有し
ている。
このような横成の装置において、レーザ光源(1)から
レーザ光を出則させると共に回転ミラー(3)を角速度
ωてY軸の回りに凹転さぜる。レー”l光源(1〉から
出射されたレーザ光は、ジリン1・リカルレンス(2)
により)′軸方向に拡開された後、回転ミラー(3)に
より反射され、スリッl〜状の照射光(14〉を形成す
る。この照射光(14)は回転ミラー(3)の回転に伴
って角速度ωて回転することとなるか、この照射光(1
4〉か光検出器(9)を通過し/こときに光検出器(9
)から検出信号がカウンタ(10〉に出力され、これに
まりカウンタ(10)か計時を開始する。以後カウンタ
(10)から経過時刻tを示す時刻テータが時々刻々デ
ータハス(11)を介L2てメモリ部(7)に出力され
る。
レーザ光を出則させると共に回転ミラー(3)を角速度
ωてY軸の回りに凹転さぜる。レー”l光源(1〉から
出射されたレーザ光は、ジリン1・リカルレンス(2)
により)′軸方向に拡開された後、回転ミラー(3)に
より反射され、スリッl〜状の照射光(14〉を形成す
る。この照射光(14)は回転ミラー(3)の回転に伴
って角速度ωて回転することとなるか、この照射光(1
4〉か光検出器(9)を通過し/こときに光検出器(9
)から検出信号がカウンタ(10〉に出力され、これに
まりカウンタ(10)か計時を開始する。以後カウンタ
(10)から経過時刻tを示す時刻テータが時々刻々デ
ータハス(11)を介L2てメモリ部(7)に出力され
る。
回転ミラー(3)かさらに回転してノ、リッl・状の照
則光(l4)か物体(4)を照射するようになると、照
射光(14)は物体(4)の表面」二に光切断線(15
)を形或しつつこの表面上を走査することとなる。この
とき、光切断線(15〉の像(16〉か、光学レンス(
8)を介してイメージセンサ(5)上に投影され、判定
部(6〉の各比較器(6a)は対応ずるイメージセンサ
(5)の画素(5a)からの出力信今に塞ついてそれそ
れ対応する画素(5a)にお(つる光切断線(■5)の
像(16)の通過を判定する。各比較器(6a)は光切
断線3 (15)の像(16)か対応ずる画素〈5u)を通過し
たと判定すると、ノモリ部(7)の対応ずるメモリ(7
a)に1・リカ信号を出力I7、これによりこのときの
テータバス〈11)上の時刻テータがメモリ(7a)に
記憶される。
則光(l4)か物体(4)を照射するようになると、照
射光(14)は物体(4)の表面」二に光切断線(15
)を形或しつつこの表面上を走査することとなる。この
とき、光切断線(15〉の像(16〉か、光学レンス(
8)を介してイメージセンサ(5)上に投影され、判定
部(6〉の各比較器(6a)は対応ずるイメージセンサ
(5)の画素(5a)からの出力信今に塞ついてそれそ
れ対応する画素(5a)にお(つる光切断線(■5)の
像(16)の通過を判定する。各比較器(6a)は光切
断線3 (15)の像(16)か対応ずる画素〈5u)を通過し
たと判定すると、ノモリ部(7)の対応ずるメモリ(7
a)に1・リカ信号を出力I7、これによりこのときの
テータバス〈11)上の時刻テータがメモリ(7a)に
記憶される。
こσ)ようにして、各画素(5a〉における光切断線(
15)の像(16)の通過時刻しかそれそれ対尾ずるメ
モリ(7a〉に記憶された後、これら通過時刻tはテー
タハス(12)を介してデータプY]セッザ(13)に
一゛こみ出される。とこノノで、経過時%ll t.に
おけるスリソl・状の照射光(14〉の基準角度からの
偏向角度αは、α−ωLて表されるので、照射光(14
)は経過時刻しを用いた面方程式で表される。また、イ
メージセンサ(5)に投影された像(16)七の1点は
物体(4)Hの1点に対応し、これらの点は光学レンス
(8〉の中心を通る−直線1,に位置ずる。従っ゛(、
この直線の方程式と照則光(14)を示す而方程式とか
ら、イメージセンサ(5 ) .....I.r− y
{象(16)の1点に対応(j−ろ物体(4)の点の
空間座標が算出される。この、1:うな方?人により、
テータフ゜1コセッザ(13}にJ3い゛ζ丁勿4 体(4)の形状及び位置の算出か行われる。
15)の像(16)の通過時刻しかそれそれ対尾ずるメ
モリ(7a〉に記憶された後、これら通過時刻tはテー
タハス(12)を介してデータプY]セッザ(13)に
一゛こみ出される。とこノノで、経過時%ll t.に
おけるスリソl・状の照射光(14〉の基準角度からの
偏向角度αは、α−ωLて表されるので、照射光(14
)は経過時刻しを用いた面方程式で表される。また、イ
メージセンサ(5)に投影された像(16)七の1点は
物体(4)Hの1点に対応し、これらの点は光学レンス
(8〉の中心を通る−直線1,に位置ずる。従っ゛(、
この直線の方程式と照則光(14)を示す而方程式とか
ら、イメージセンサ(5 ) .....I.r− y
{象(16)の1点に対応(j−ろ物体(4)の点の
空間座標が算出される。この、1:うな方?人により、
テータフ゜1コセッザ(13}にJ3い゛ζ丁勿4 体(4)の形状及び位置の算出か行われる。
[発明か解決し.l:うとする課題〕
第3図に示すように、メモリ部(7〉の各メモリ(7a
〉には、カウンタ(10)からの時刻テータを入力する
だめのデータハス(11)と記憶した時刻j〜一タをデ
ータプロセッサ(13)に出力するためのデータハス(
12)を接続する必要かある。しかしなから、実用的な
時刻データを伝送するためには例えは16ヒッ1・程度
のテータハスを妾ずるので、各メモリ(7a)には少な
くとも32木以4二の信号線か接続されることとなり、
配線構成が極めて繁雑になるという問題かあった。さら
に、このため、このような立体形状検知装置の作成か複
雑なものとなーっていた。
〉には、カウンタ(10)からの時刻テータを入力する
だめのデータハス(11)と記憶した時刻j〜一タをデ
ータプロセッサ(13)に出力するためのデータハス(
12)を接続する必要かある。しかしなから、実用的な
時刻データを伝送するためには例えは16ヒッ1・程度
のテータハスを妾ずるので、各メモリ(7a)には少な
くとも32木以4二の信号線か接続されることとなり、
配線構成が極めて繁雑になるという問題かあった。さら
に、このため、このような立体形状検知装置の作成か複
雑なものとなーっていた。
特に、イメーシセンサ(5L I’ll定部(6〉及び
メモリ部(7)を積層形成してこれらを1チップで構成
ずれは汎用性の優れたアハイスか得られるが、この場合
、例えはイメージセンサ(5)の各画素(5a)の大き
さを50μIn角、配線のライン幅/スペース幅を1
lIIn/ ]. urnとすると、32本以上の信号
線が接続される各メモリ(7a)は6 4 1I+n以
上の幅を要すること(.こなり、−つの画素(5a)よ
り大きくなってしまう。
メモリ部(7)を積層形成してこれらを1チップで構成
ずれは汎用性の優れたアハイスか得られるが、この場合
、例えはイメージセンサ(5)の各画素(5a)の大き
さを50μIn角、配線のライン幅/スペース幅を1
lIIn/ ]. urnとすると、32本以上の信号
線が接続される各メモリ(7a)は6 4 1I+n以
上の幅を要すること(.こなり、−つの画素(5a)よ
り大きくなってしまう。
このため、配線層を多層にする等の複雑な構造を用いな
ければ、このようなテハイスを実現ずることは困勤てあ
った。
ければ、このようなテハイスを実現ずることは困勤てあ
った。
この発明はこのような問題点を解消するためになされた
ものて、配線横成が簡単て目.つ容易に作或することの
できる光切断法による物体の立体形状検知装置を提供す
ることを目的とする。
ものて、配線横成が簡単て目.つ容易に作或することの
できる光切断法による物体の立体形状検知装置を提供す
ることを目的とする。
この発明に係る光切断法による物体の立体形状検知装置
は、スリット状の光をパルス点灯させると共にこれを対
象物体に所定の速度で走査させる光投射千段と、対象物
体に苅向して配置されると共(こ枚数の画素を存ずるイ
メージセンサと、スリッl・状の光により対象物体表而
に形戒された光切断線をイメージセンサ士に結像させる
光学系と、イメーシセンサの各画素で検出された光切断
線の像のパルス数をそれそれカウントずるカウン1〜手
段と、このカウシ1〜手段゛(カウントされたイメージ
センサの各画素毎のパルス数から光切断線の像が各画素
を通過した時刻を演算する時刻演算手段と、この時刻演
算手段で演算された各画素における光切断線の像の通過
時刻とスリッ1・状の光の走査速度とから対象物体の立
体形状を演算する形状演算手段とを備えたちのである。
は、スリット状の光をパルス点灯させると共にこれを対
象物体に所定の速度で走査させる光投射千段と、対象物
体に苅向して配置されると共(こ枚数の画素を存ずるイ
メージセンサと、スリッl・状の光により対象物体表而
に形戒された光切断線をイメージセンサ士に結像させる
光学系と、イメーシセンサの各画素で検出された光切断
線の像のパルス数をそれそれカウントずるカウン1〜手
段と、このカウシ1〜手段゛(カウントされたイメージ
センサの各画素毎のパルス数から光切断線の像が各画素
を通過した時刻を演算する時刻演算手段と、この時刻演
算手段で演算された各画素における光切断線の像の通過
時刻とスリッ1・状の光の走査速度とから対象物体の立
体形状を演算する形状演算手段とを備えたちのである。
この発明にJ3いては、対象物体に照射ずるスリッ1・
状の光をパルス点灯させ、カウント手段がイメージセン
゛り−の各画素で検出し乙二光切断線のパルス数をカウ
ンT− L、そのパルス数から時刻演算手段か各画素に
おける光切断線の像の通過時刻を演算する。
状の光をパルス点灯させ、カウント手段がイメージセン
゛り−の各画素で検出し乙二光切断線のパルス数をカウ
ンT− L、そのパルス数から時刻演算手段か各画素に
おける光切断線の像の通過時刻を演算する。
以下、この発明の実施例を添付図而に基ついて説明する
。
。
第1図は本発明J)−実施例に係る光切断法による物体
の立体形状検知装置を示すブロック図である。光投射手
段(21〉は、スリッ1・状の光をパルス点灯させてこ
れを対象物体〈22)に照射させると共7 にこの照射光て対象物体(22)の表面を走査させるも
のである。具体的には、第3図に示し/S従来の装置に
お(゛)る1/−ザ光源(1)、シリンlヘリ力ルレン
ス(2)及び四転ミラー(3)と、レーザ光源(1)を
パルス発振させるための制御回路(図示せず)から楊成
される。
の立体形状検知装置を示すブロック図である。光投射手
段(21〉は、スリッ1・状の光をパルス点灯させてこ
れを対象物体〈22)に照射させると共7 にこの照射光て対象物体(22)の表面を走査させるも
のである。具体的には、第3図に示し/S従来の装置に
お(゛)る1/−ザ光源(1)、シリンlヘリ力ルレン
ス(2)及び四転ミラー(3)と、レーザ光源(1)を
パルス発振させるための制御回路(図示せず)から楊成
される。
対象物体(22)に対向するように結像光学系(23〉
を介してイメージセンーり゛<24)が配置されている
。
を介してイメージセンーり゛<24)が配置されている
。
結像光学系(23)は、光学レンス等から形或され、ス
リッl・状の1車射光により対象物体(22)の表面に
形成されノ::光切断線の像をイメージセンサ(24)
上に結像させる。,イメージセンサ{24}は、第3図
にお(つるイメージセンサ(5)と同様に、このイメー
シ七ンサ(24)と列象物体(22)とを結ぶY軸に垂
直なX−Z平面上に二次元的に配列された複数の画素を
イT L ”C )3つ、結像光学系〈23)に土って
形成された光切断線の像を検出ずる。
リッl・状の1車射光により対象物体(22)の表面に
形成されノ::光切断線の像をイメージセンサ(24)
上に結像させる。,イメージセンサ{24}は、第3図
にお(つるイメージセンサ(5)と同様に、このイメー
シ七ンサ(24)と列象物体(22)とを結ぶY軸に垂
直なX−Z平面上に二次元的に配列された複数の画素を
イT L ”C )3つ、結像光学系〈23)に土って
形成された光切断線の像を検出ずる。
イメージセンサ(24)には、このイメージセンサ(2
4〉の各画素で検i11された光切断線の像σ)パルス
数をそれぞれカウントするカウント手段(25)か接8 続されている。
4〉の各画素で検i11された光切断線の像σ)パルス
数をそれぞれカウントするカウント手段(25)か接8 続されている。
このカウン1へ手段(25)でカウントされたイメージ
センサ(24)の各画素毎のパルス数から光切断線の像
が各画素を通過した時刻を演算する時刻演算手段(26
)がカウント手段(25)に接続されている。
センサ(24)の各画素毎のパルス数から光切断線の像
が各画素を通過した時刻を演算する時刻演算手段(26
)がカウント手段(25)に接続されている。
さらに、時刻演算千段(26)には、この時刻演算千段
(26)で演算された各両素毎の光切断線の像の通過時
刻を用いて列象物体(22〉の立体形状を演算する形状
演算千段〈27)が接続されている。これら時刻演算手
段(26)及び形状演算手段(27)はマイクロプロセ
ッザ等の=1ンピュータにより栴成される。
(26)で演算された各両素毎の光切断線の像の通過時
刻を用いて列象物体(22〉の立体形状を演算する形状
演算千段〈27)が接続されている。これら時刻演算手
段(26)及び形状演算手段(27)はマイクロプロセ
ッザ等の=1ンピュータにより栴成される。
次に、動作について説明する。
ます、光投射千段(21)によりスリッl〜状の照射光
か所定の周波数でパルス点灯されると共に所定の角速度
ωて回転され、対象物体(22〉の表面上を走査する,
、このスリッI・状の照射光により対象物体(22)の
表面に(..L光切断線か形成され、結像光学系(23
)により光切断線の像かイメージセンサ(24)」二に
結像される。このとき、照射光はパルス点灯されている
ので、イメージセンサ(24)上に結像された光切断線
の像もパルス状(こ点灯することにろ゛り、この光切断
線の像を検出し/.:.fメーシセン−リ−(24)の
各画素からはパルス状の検出信号か出)Jされる。た/
こ1−,、照射光の走査に什一)でイメーシヒンナ(2
4)士に結像された光切断線の像も移動するので、イメ
・−シセン−9−(24)の一画素全光切I新緑の像か
通過す−る時間/Sけその画素かt)パルス状の検出信
号が出力されることとなる。
か所定の周波数でパルス点灯されると共に所定の角速度
ωて回転され、対象物体(22〉の表面上を走査する,
、このスリッI・状の照射光により対象物体(22)の
表面に(..L光切断線か形成され、結像光学系(23
)により光切断線の像かイメージセンサ(24)」二に
結像される。このとき、照射光はパルス点灯されている
ので、イメージセンサ(24)上に結像された光切断線
の像もパルス状(こ点灯することにろ゛り、この光切断
線の像を検出し/.:.fメーシセン−リ−(24)の
各画素からはパルス状の検出信号か出)Jされる。た/
こ1−,、照射光の走査に什一)でイメーシヒンナ(2
4)士に結像された光切断線の像も移動するので、イメ
・−シセン−9−(24)の一画素全光切I新緑の像か
通過す−る時間/Sけその画素かt)パルス状の検出信
号が出力されることとなる。
イメージセンサ〈24)の各画素から出力された検出信
号に基ついて、各画素゛ζ検出された光切II YjA
の像のパルス数かそれそれ力Tンンl・千段(25)に
,1、リカウ〉1・される。
号に基ついて、各画素゛ζ検出された光切II YjA
の像のパルス数かそれそれ力Tンンl・千段(25)に
,1、リカウ〉1・される。
このように17てスリッl〜状の照肘光によるχ・1架
1勿体(22)の走査か註rずると、■7刻演算j″−
段ク26)に』jいてカウ〉1・P段(25)てカウン
トされたイメージセンサ(24)の各画素毎のパルス数
から光Lノ川新線の像か各両素を通過した時々1I/I
・演算される。スリッl・状の照’J=1光は所定の周
波数てバル7..r;!.I.月されるのて、イメージ
センサ(24)V+− 画素゜({夷111されノごバ
/Lス数Cよぞσ)画素を光l,Ij断線の像か通過゛
4るに要する時間を小している。従一〕で、照射光の走
査に仲一)で光切断線の像かイメージセンサ(24)1
“,をX軸方向に移動するものとすると、X軸方向に配
列された−列の画素列について各画素までのパルス数を
それそれ累積することにより、各画素を像が通過した時
刻を演算ずることかできる。
1勿体(22)の走査か註rずると、■7刻演算j″−
段ク26)に』jいてカウ〉1・P段(25)てカウン
トされたイメージセンサ(24)の各画素毎のパルス数
から光Lノ川新線の像か各両素を通過した時々1I/I
・演算される。スリッl・状の照’J=1光は所定の周
波数てバル7..r;!.I.月されるのて、イメージ
センサ(24)V+− 画素゜({夷111されノごバ
/Lス数Cよぞσ)画素を光l,Ij断線の像か通過゛
4るに要する時間を小している。従一〕で、照射光の走
査に仲一)で光切断線の像かイメージセンサ(24)1
“,をX軸方向に移動するものとすると、X軸方向に配
列された−列の画素列について各画素までのパルス数を
それそれ累積することにより、各画素を像が通過した時
刻を演算ずることかできる。
イメーシセンサ(24)の各画素にお(−}る光GIJ
断線の像の通過時211を求めた後、形状演算千段(2
7)に1−3いて、スリッl・状の照射光を示す而方程
式及びイメーシセン“り゛(24)の各画素と結像尤学
系(23)の中心とを結ぶ直線の力程式から対象物体(
22)表面の各点の空間座標か演算され、これにより対
象物体(22)の形状か検知される。
断線の像の通過時211を求めた後、形状演算千段(2
7)に1−3いて、スリッl・状の照射光を示す而方程
式及びイメーシセン“り゛(24)の各画素と結像尤学
系(23)の中心とを結ぶ直線の力程式から対象物体(
22)表面の各点の空間座標か演算され、これにより対
象物体(22)の形状か検知される。
以上のようにこの実施例では、イメージセンサ(24)
の各両素て検出されるパルス数をカウントすることによ
り、これらの各向素を光切断線の像か通過する時刻を演
算ずるのて、従宋の土うに各画素1hhに時刻データを
入力するl:めのテータハスは不要となる。このため、
装置の配線構成か極め゛C簡r}1.になる。
の各両素て検出されるパルス数をカウントすることによ
り、これらの各向素を光切断線の像か通過する時刻を演
算ずるのて、従宋の土うに各画素1hhに時刻データを
入力するl:めのテータハスは不要となる。このため、
装置の配線構成か極め゛C簡r}1.になる。
11
?2目にイメージセンサ(24)及ひカウン1〜r段〈
25〉の具体的な四路構成を示ず。−ノ21〜センザ笠
からなるN個の画素(3].)−(31.,)がイメー
シセ冫ザ(24〉のX軸方向の一画素列を構成している
。これら各画素(81.)〜(31.)はそれそれ差分
増幅2:;ク321)〜(32.)の第1人力端に接続
されてよ)り、差分増幅器(32.)一( 3 2 N
)の第2人力端には基準電J」供給線(3:{a)を介
して各差分増幅器(32.)〜(32.)に共通に括壁
電JF源(33〉か接続され゛Cいる。各差分増幅器(
32,)■〜(32N)の出力端はぞれそれカウンタ(
34,)〜(34.)に接続され、各カウンタ(34
+ )・へ(34N)はそれぞれデコーダ(35.)〜
(35.)に接続されている。また、各カウンタ(34
1)一 (34N)にはリセッl−信号線(36a )
を介してリセッ1〜回路(36〉が接続されている。そ
して、これら差分増幅B(32.)〜(32■)、基準
電圧源(33Lカウ〉′夕(34.)〜(34N) .
デコータ(35.)〜(35.)及ひリセンl一回fY
!(36)によりカウンl− f一段ク25)か形成さ
れている。尚、第2図にはX軸力向の−画素列、例えは
ノ番目の画素列に対j心ずる回i,J!l0)みか示さ
れてJ3り、火際に(,1+2 このような回路かY軸方向に複数列配列される。
25〉の具体的な四路構成を示ず。−ノ21〜センザ笠
からなるN個の画素(3].)−(31.,)がイメー
シセ冫ザ(24〉のX軸方向の一画素列を構成している
。これら各画素(81.)〜(31.)はそれそれ差分
増幅2:;ク321)〜(32.)の第1人力端に接続
されてよ)り、差分増幅器(32.)一( 3 2 N
)の第2人力端には基準電J」供給線(3:{a)を介
して各差分増幅器(32.)〜(32.)に共通に括壁
電JF源(33〉か接続され゛Cいる。各差分増幅器(
32,)■〜(32N)の出力端はぞれそれカウンタ(
34,)〜(34.)に接続され、各カウンタ(34
+ )・へ(34N)はそれぞれデコーダ(35.)〜
(35.)に接続されている。また、各カウンタ(34
1)一 (34N)にはリセッl−信号線(36a )
を介してリセッ1〜回路(36〉が接続されている。そ
して、これら差分増幅B(32.)〜(32■)、基準
電圧源(33Lカウ〉′夕(34.)〜(34N) .
デコータ(35.)〜(35.)及ひリセンl一回fY
!(36)によりカウンl− f一段ク25)か形成さ
れている。尚、第2図にはX軸力向の−画素列、例えは
ノ番目の画素列に対j心ずる回i,J!l0)みか示さ
れてJ3り、火際に(,1+2 このような回路かY軸方向に複数列配列される。
たたし、丞準電圧源(33)及ひリセッ1〜回路(36
)はそれぞれ二次元的に配列された全ての差分増幅器及
ひカウンタに辻通のもσ)である。
)はそれぞれ二次元的に配列された全ての差分増幅器及
ひカウンタに辻通のもσ)である。
次に、この具体例の動作を述べる。
スリソl・状の照q・j光の走査開始時にリセッl〜回
路〈36)から各カウンタ(34.)〜(34N)にリ
セッ}・信号か′出力され、各カウンタ(34.)一
(34. )のカウンl・数は初期値0にリセッ1・さ
れる。照射光により対象物体の表面に形成された光切断
線の像かイメーシセン−リ1241.に結像されるか、
照射光の走査に伴って光切+h線の像はイメージセンサ
(24)上を画素(31,)から両素(31N)に向か
ってX軸方向に移動するものとする。
路〈36)から各カウンタ(34.)〜(34N)にリ
セッ}・信号か′出力され、各カウンタ(34.)一
(34. )のカウンl・数は初期値0にリセッ1・さ
れる。照射光により対象物体の表面に形成された光切断
線の像かイメーシセン−リ1241.に結像されるか、
照射光の走査に伴って光切+h線の像はイメージセンサ
(24)上を画素(31,)から両素(31N)に向か
ってX軸方向に移動するものとする。
画素(31..)〜(31.)のうら1番目の画素(3
],)で光Q川υi線の渫か検出されると、この画素(
3],)の検出信号は差分増幅器(32,)で基準電圧
源(33)から供給された基準電圧V refと化較さ
れる。差分増幅器(32,)4ま検出信号のレヘルか基
準電圧Vret’より大きい場合に光切断線の像を検出
したものと?11定してカウンタ(34 , )にハイ
レヘルの信シづーをlj))し、これによりカウンタ(
34,)はカPノン1〜数を]/、二〇)増加する,,
光Uノ断線の像はパルス状に点減し,ているので、その
点滅毎に差分増幅器(32,)に43{フる検出信′i
}の判定及ひカウンタ(34 , )への信tノ゛の出
力か行われる。従一)で、画素(3+.)を光切断線の
像か通過ずる間の点滅パルス数か力1−7ンタ(3’i
+)にカウンl・される。
],)で光Q川υi線の渫か検出されると、この画素(
3],)の検出信号は差分増幅器(32,)で基準電圧
源(33)から供給された基準電圧V refと化較さ
れる。差分増幅器(32,)4ま検出信号のレヘルか基
準電圧Vret’より大きい場合に光切断線の像を検出
したものと?11定してカウンタ(34 , )にハイ
レヘルの信シづーをlj))し、これによりカウンタ(
34,)はカPノン1〜数を]/、二〇)増加する,,
光Uノ断線の像はパルス状に点減し,ているので、その
点滅毎に差分増幅器(32,)に43{フる検出信′i
}の判定及ひカウンタ(34 , )への信tノ゛の出
力か行われる。従一)で、画素(3+.)を光切断線の
像か通過ずる間の点滅パルス数か力1−7ンタ(3’i
+)にカウンl・される。
この土うにして、各画素(3+1>’〜(3].)で検
出され7′::光切断線の像のパルス数かそれそれカウ
ンタ(34.)へ(34.)に積算される。その後、各
カウ/タ(34.)〜(34N>のカウンl・数はそれ
それデコータ(35.)へ・(35.,)を介して時刻
演算P段へ伝送される、、このとき、各デコータ(35
.)〜(35■)はj番目の画素列゛(あることを示ず
ア1・レス線Xjとそれそれの)′方向のア1・レス線
Y1〜)′6とによりIllil次指走さノ1,、カウ
ンl・数か例え(316ヒツ1−のテータハス(37)
を介して伝送される。
出され7′::光切断線の像のパルス数かそれそれカウ
ンタ(34.)へ(34.)に積算される。その後、各
カウ/タ(34.)〜(34N>のカウンl・数はそれ
それデコータ(35.)へ・(35.,)を介して時刻
演算P段へ伝送される、、このとき、各デコータ(35
.)〜(35■)はj番目の画素列゛(あることを示ず
ア1・レス線Xjとそれそれの)′方向のア1・レス線
Y1〜)′6とによりIllil次指走さノ1,、カウ
ンl・数か例え(316ヒツ1−のテータハス(37)
を介して伝送される。
ここで、時刻演算手段による時刻演算の−例を以1・′
に述I\る。1回の照q・1光の疋徨時間をT。、1番
目の画素(3L)に接続されたカウンタ(34 . )
の力ウ〉1・数をri +、パルス0点滅周期をtとし
、1回の走査の最初のパルスか1番目の画素(31..
)て、最後のパルスかN番目の画素(31N)でそれそ
れ検出されるものとする。]凹の走査におけるパルス点
滅回数は1゛。/t回となる。一方、1番1]のカウン
タ(34.)から1#目のカウンタ(34.)まての累
積カウンI・数はΣn1(表され、N個のカウンタk− (34.)へ〈34.)による総カウンl・数はΣn5
となる。
に述I\る。1回の照q・1光の疋徨時間をT。、1番
目の画素(3L)に接続されたカウンタ(34 . )
の力ウ〉1・数をri +、パルス0点滅周期をtとし
、1回の走査の最初のパルスか1番目の画素(31..
)て、最後のパルスかN番目の画素(31N)でそれそ
れ検出されるものとする。]凹の走査におけるパルス点
滅回数は1゛。/t回となる。一方、1番1]のカウン
タ(34.)から1#目のカウンタ(34.)まての累
積カウンI・数はΣn1(表され、N個のカウンタk− (34.)へ〈34.)による総カウンl・数はΣn5
となる。
k=1
ところで、光切断線の像か隣接する複数の画素にまたか
って形成される場合も−考えられ、このときにはΣrl
k > T a / jとなる。これらのことから、
k−1 1番目の画素(3L)を光切断線の像か通過する時刻′
1゛,は走査開始時刻を0として、て表される。
って形成される場合も−考えられ、このときにはΣrl
k > T a / jとなる。これらのことから、
k−1 1番目の画素(3L)を光切断線の像か通過する時刻′
1゛,は走査開始時刻を0として、て表される。
こσ)■式で算出された通過時刻′I゛,に基つき、形
状演算千段て対象物体の各点の空間座標か求められる。
状演算千段て対象物体の各点の空間座標か求められる。
第2図に示したような構成とすることに3Yり、15
?lll1方向の−・つの画素列に列し、16ピッ1・
のデータハス(37) .基準電圧供給線(33a).
リセッl■ (.9=弓線(36a)及ひアl・レス線
X1の1↑119本の仁53線のみて済むこととなる。
のデータハス(37) .基準電圧供給線(33a).
リセッl■ (.9=弓線(36a)及ひアl・レス線
X1の1↑119本の仁53線のみて済むこととなる。
従一)で、配線のライン幅,/′スペース帖を1 11
11/] 1onとし/こ場含に{J、−両素列当/ご
りの配線幅Cま381III+となり、例えは−・画素
の大きさか50μIn角であるイメーシセンサ(24)
を力r′ノン1・丁.段(25)と共に容易に1チップ
に積層形成することか可能となる。
11/] 1onとし/こ場含に{J、−両素列当/ご
りの配線幅Cま381III+となり、例えは−・画素
の大きさか50μIn角であるイメーシセンサ(24)
を力r′ノン1・丁.段(25)と共に容易に1チップ
に積層形成することか可能となる。
また、第2図の画素(31.)へー(31..L差分増
幅器(32.)〜(32.)、カウンタ(34 . )
− (34. )、デニZ一タ(35.)〜(35N)
等を互いに積層せずにそれぞれ二,次元的に配置しても
よい。
幅器(32.)〜(32.)、カウンタ(34 . )
− (34. )、デニZ一タ(35.)〜(35N)
等を互いに積層せずにそれぞれ二,次元的に配置しても
よい。
尚、対象物体(22〉が照射光の走査範聞より小さいと
きに(よ、1回の走査のパルスの一部のみが両素(31
..)〜.(31.)の一部て検出されることとなる、
.この場合に(よ、例えば各差分増幅器(32.)〜(
32.)に共通の出力線をT本引き出して時刻演算手段
に接続し、この画素列で最初(こバルスを検出した時刻
かち最後にパルスを検j,4il,た時刻ま゛ζσ)経
過11!r16 間を時刻演算手段により31測ずる。そして、この経過
時間を■式の1゛。の代A〕りに用いれはよい。
きに(よ、1回の走査のパルスの一部のみが両素(31
..)〜.(31.)の一部て検出されることとなる、
.この場合に(よ、例えば各差分増幅器(32.)〜(
32.)に共通の出力線をT本引き出して時刻演算手段
に接続し、この画素列で最初(こバルスを検出した時刻
かち最後にパルスを検j,4il,た時刻ま゛ζσ)経
過11!r16 間を時刻演算手段により31測ずる。そして、この経過
時間を■式の1゛。の代A〕りに用いれはよい。
以F説明したように、この発明に係る光切断法による物
体の立体形状検知裏置は、スリッ1・状の光をパルス点
灯させると共にこれを列象物体に所定の速度で走査させ
る光投則干段と、対象物体に対向して配置されると共に
複数の画素を有ずるイメーシセンサと、スリッl・状の
光により対象物体表面に形成された光切断線をイメージ
センサ」二に結像させる光学系と、イメーシセンサの各
画素で検出された光切断線の像のパルス数をそれそれ力
ウンl〜ずるカウンl−手段と、このカウント手段てカ
ウンl−されたイメージセンサの各画素毎のパルス数か
ら光切断線の像が各画素を通過した時刻を演算する時刻
演算手段と、この時刻演算千段で演算された各画素にお
ける光切断線の像の通過時刻とスリッ1・状の光の走査
速度とから対象物体の立体形状を演9二する形状演算F
段とをflifiえているので、配線横或か簡ipにな
り、容易に作成することかてきる。
体の立体形状検知裏置は、スリッ1・状の光をパルス点
灯させると共にこれを列象物体に所定の速度で走査させ
る光投則干段と、対象物体に対向して配置されると共に
複数の画素を有ずるイメーシセンサと、スリッl・状の
光により対象物体表面に形成された光切断線をイメージ
センサ」二に結像させる光学系と、イメーシセンサの各
画素で検出された光切断線の像のパルス数をそれそれ力
ウンl〜ずるカウンl−手段と、このカウント手段てカ
ウンl−されたイメージセンサの各画素毎のパルス数か
ら光切断線の像が各画素を通過した時刻を演算する時刻
演算手段と、この時刻演算千段で演算された各画素にお
ける光切断線の像の通過時刻とスリッ1・状の光の走査
速度とから対象物体の立体形状を演9二する形状演算F
段とをflifiえているので、配線横或か簡ipにな
り、容易に作成することかてきる。
第1図は本発明の一実施例に係る光切断法に,1、る物
体の立体形状検知装置を示ずブ口ツク円、第2図は第1
図の要部の具体例を示す凹路図、第3図は従来例に係る
立体形状検知装置を示す斜視1イ1てある。 図において、(21)は光投射手段、(22)は対象物
体、(23)は結像光学系、〈24)はイメージセンー
リ′、(25)はカウント千段、(26)は時刻演算手
段、(27)は形状演算手段である。 なお、各図中同一符号は同−または相″I1部分をノt
ミず。 19 ρり いり N) 〜
体の立体形状検知装置を示ずブ口ツク円、第2図は第1
図の要部の具体例を示す凹路図、第3図は従来例に係る
立体形状検知装置を示す斜視1イ1てある。 図において、(21)は光投射手段、(22)は対象物
体、(23)は結像光学系、〈24)はイメージセンー
リ′、(25)はカウント千段、(26)は時刻演算手
段、(27)は形状演算手段である。 なお、各図中同一符号は同−または相″I1部分をノt
ミず。 19 ρり いり N) 〜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 スリット状の光をパルス点灯させると共にこれを対象物
体に所定の速度で走査させる光投射手段と、 前記対象物体に対向して配置されると共に複数の画素を
有するイメージセンサと、 前記スリット状の光により前記対象物体表面に形成され
た光切断線を前記イメージセンサ上に結像させる光学系
と、 前記イメージセンサの各画素で検出された前記光切断線
の像のパルス数をそれぞれカウントするカウント手段と
、 前記カウント手段でカウントされた前記イメージセンサ
の各画素毎のパルス数から前記光切断線の像が各画素を
通過した時刻を演算する時刻演算手段と、 前記時刻演算手段で演算された各画素における前記光切
断線の像の通過時刻と前記スリット状の光の走査速度と
から前記対象物体の立体形状を演算する形状演算手段と を備えたことを特徴とする光切断法による物体の立体形
状検知装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1162665A JPH0718693B2 (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 光切断法による物体の立体形状検知装置 |
| US07/424,924 US4982102A (en) | 1989-06-27 | 1989-10-23 | Apparatus for detecting three-dimensional configuration of object employing optical cutting method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1162665A JPH0718693B2 (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 光切断法による物体の立体形状検知装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0328705A true JPH0328705A (ja) | 1991-02-06 |
| JPH0718693B2 JPH0718693B2 (ja) | 1995-03-06 |
Family
ID=15758953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1162665A Expired - Lifetime JPH0718693B2 (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 光切断法による物体の立体形状検知装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4982102A (ja) |
| JP (1) | JPH0718693B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2581863B2 (ja) * | 1991-12-26 | 1997-02-12 | 三菱電機株式会社 | 立体形状計測装置及び立体形状計測用センサ |
| US5680218A (en) * | 1992-03-18 | 1997-10-21 | Adams; Bruce L. | Optical gaging system |
| JP3175393B2 (ja) * | 1993-03-08 | 2001-06-11 | ソニー株式会社 | 距離測定方法および装置 |
| US5405375A (en) * | 1994-01-21 | 1995-04-11 | Incontrol, Inc. | Combined mapping, pacing, and defibrillating catheter |
| GB9515311D0 (en) * | 1995-07-26 | 1995-09-20 | 3D Scanners Ltd | Stripe scanners and methods of scanning |
| US6044170A (en) * | 1996-03-21 | 2000-03-28 | Real-Time Geometry Corporation | System and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation |
| US5870220A (en) * | 1996-07-12 | 1999-02-09 | Real-Time Geometry Corporation | Portable 3-D scanning system and method for rapid shape digitizing and adaptive mesh generation |
| AU3991799A (en) | 1998-05-14 | 1999-11-29 | Metacreations Corporation | Structured-light, triangulation-based three-dimensional digitizer |
| US7065242B2 (en) * | 2000-03-28 | 2006-06-20 | Viewpoint Corporation | System and method of three-dimensional image capture and modeling |
| KR100975872B1 (ko) * | 2008-10-20 | 2010-08-13 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 광 감지 장치, 회로 및 광 감지 회로 구동 방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5853704A (ja) * | 1981-09-26 | 1983-03-30 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 位置検出装置 |
| US4794262A (en) * | 1985-12-03 | 1988-12-27 | Yukio Sato | Method and apparatus for measuring profile of three-dimensional object |
-
1989
- 1989-06-27 JP JP1162665A patent/JPH0718693B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-23 US US07/424,924 patent/US4982102A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4982102A (en) | 1991-01-01 |
| JPH0718693B2 (ja) | 1995-03-06 |
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