JPH0328737B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はデータ貯蔵媒体、更に具体的に云え
ば、データ貯蔵媒質の隣接したトラツクの間の間
隔を測定する方法と装置に関する。この発明は特
に光学デイスクに関連してトラツクのピツチの測
定に適している。

光学デイスクは、後で再生する為にテレビジヨ
ン番組資料を記録するだけでなく、計算機のデー
タ貯蔵という様な他の用途にも使われる密度の高
い情報貯蔵媒体である。

典型的には、光学デイスクは、大体LPレコー
ドの寸法の円板として耐久力のある澄明プラスチ
ツク材料で作られる。情報は、デイスクの内側
に、反射率の様な一様な光学的な性質を持つ埋設
面に貯蔵される。この面には、一様な光学的な性
質を変えた、例えば反射率が減少した小さな標識
又は区域が、この面にトラツクの形で逐次的に配
置される。こういうトラツクは同心円として、又
は１本の連続的な渦巻きとして配置される。情報
は、トラツクにある標識の空間周波数の変化とし
て、並びに標識の間にある変化しない面のランド
に較べた標識の相対寸法の変化として表わされ
る。例えば、ビデオ情報の記録に使われる普通の
１形式の光学デイスクは、デイスクの内部に埋設
した反射面を持ち、この反射面の中の標識は小さ
なピツトである。

デイスクのトラツクを構成する情報を含有する
標識が極めて小さい寸法であると共に、トラツク
間の間隔又はピツチが小さい為、光学デイスクは
高い密度で情報の貯蔵が出来る。この様な標識は
典型的には長さが約0.75ミクロンから1.25ミクロ
ンの範囲内で変化する。トラツクのピツチは典型
的には1.5乃至2.0ミクロン程度である。

光学デイスク製造過程の品質を監視する為、ト
ラツクのピツチの変化が存在することを検出する
だけでなく、こういう変化の特性、例えば空間周
波数を検出することが出来る様に、十分な精度で
トラツクのピツチの偏差を測定出来ることが望ま
しい。トラツクのピツチの変化の特性が判つてい
れば、その原因である欠陥部品又は欠陥に近い部
品を突止める助けになる。こういうことが判つて
いれば、トラツクのピツチの変化が許容し難い大
きさであるかどうかを確認することも出来る。

然し、現在まで、商業的な光学デイスクの製造
に使われている方法で、トラツクのピツチの変化
を直接的に検出する為に使われていた方法は、デ
イスクを顕微鏡の下に置き、個人がデイスクの
種々の区域を見ることであつた。デイスクは顕微
鏡の視野に較べると非常に大きく、その為、デイ
スク全体を検査するのは極めて時間がかゝるか
ら、これは満足し得る方法ではなかつた。更に、
重要なトラツクのピツチの変化は、顕微鏡の視野
に較べて比較的大きな空間的なパターンで起るこ
とがある。この種の個別のトラツクのピツチの変
化が存在することを検出することが出来るかも知
れないが、この様な偏差の発生パターンは観察者
の目を逃れることもある。更に、顕微鏡の視野は
一群のトラツクの小さな部分しかカバーしないの
で、比較的隔たりの小さい視野に及ぶものであつ
ても、顕微鏡を介して行なつた相異なる観察の間
で、観察されたトラツクの偏差を比較して、観察
された偏差の相関性から、特定のトラツクの偏差
に関する情報を求めることは困難である。

従つて、光学デイスクの様な情報貯蔵媒体の隣
接したトラツクの間隔の変化を正確に測定し得る
装置に対する要望があることが理解されよう。更
に、比較的短時間の内に、デイスクの情報区域全
体にわたり、光学デイスクのトラツクのピツチを
正確に測定し得る装置に対する要望がある。この
発明はこういう要望に応えるものである。

この発明は、光学デイスクの様な情報貯蔵媒体
の隣接した情報トラツクの間の間隔を測定する装
置を要旨とする。第１のトラツクの少なくとも一
部分に光のスポツトを投射し、光検出器が、デイ
スクから予定の方向に反射された光量を検出し
て、それを表わす出力電気信号を発生する。装置
は、第１のトラツクに対して平行な第２のトラツ
クからの、光のスポツトの横方向の間隔を略一定
に保つ。第２のトラツクと略平行な方向に、光の
スポツトとデイスクの間で相対運動を行なわせ
る。こうして、第２のトラツクに対して略一定の
相対的な間隔に保たれて、第１のトラツクに沿つ
て、光のスポツトが走査する。媒体から出て来る
光の空間的な分布により、２つのトラツクの間の
相対的な間隔を測定することが出来る。例えば、
特定の位置で検出し得る、デイスクから反射され
た光量は、直接的にトラツクのピツチに関係づけ
ることが出来る。

この発明は従来に較べて幾つかの重要な利点が
ある。先づ、この発明は光学デイスクを走査する
時、実時間で、トラツク間の間隔又はピツチを直
接的に測定することが出来る。この測定値は電気
信号の形であり、これは実際の瞬時的なトラツク
のピツチに定量的に関係づけることが出来る。こ
の信号を使つて例えばオツシログラフを駆動し、
光学デイスク全体のトラツクのピツチの永久的な
記録を作ることが出来る。これは従来の方式に較
べた大きな改良である。

第２に、現存の市場で入手し得る光学デイスク
再生装置に対して、ごく僅かな多少の変更を加え
ることによつて構成することが出来る。即ち、高
密度の光学デイスクに関連してこの発明を実施す
るのに必要な精度を比較的容易に達成する為に、
市場で入手し得る現存の装置を利用することが出
来る。

以上の説明から、この発明が、光学デイスクを
製造する時の品質管理の分野並びに測定全般の分
野で、重要な進歩をもたらしたことが理解されよ
う。特にこの発明は、情報貯蔵デイスク、特に光
学デイスクのトラツク間の間隔を測定する敏速で
非常に正確な方法並びに装置を提供する。この発
明のその他の面並びに利点は、以下図面について
詳しく説明する所から明らかになろう。

第１図は光学デイスクの一部分の斜視図であ
る。デイスク１０は円形で、大体LPレコードの
寸法を持ち、高速回転の為にスピンドル（図に示
してない）にデイスクをはめることが出来る様
に、中心開口１２を持つている。デイスク１０の
内部には、レコードの溝つき区域と大体同じ寸法
の面積を持つ情報貯蔵面１４がある。この情報貯
蔵面１４は反射率又は透過率の様な一様な光学的
な性質を持つている。面１４全体にわたつて渦巻
形のトラツクとして、面に一連の標識又は小さな
区域が配置され、これらの区域は、例えば周囲の
面からの一様な鏡面反射に較べて、それから反射
される光の散乱を起すことにより、その周囲の面
とは光に対する影響が異なる様になつている。

第２図は第１図に示したデイスク１０の情報貯
蔵面１４の小さな一部分の平面図である。３本の
隣接したトラツクの標識１６が矢印１８，２０，
２２で示されている。これから判る様に、標識１
６は各々のトラツクで逐次的に配置されていて、
それらの間にある反射材料のランド２４の光学的
な性質とは変つた光学的な性質を持つ区域を構成
している。

第３図は第２図の線３−３で切つた断面図であ
つて、トラツク２２の一部分の断面を示す。対物
レンズ（図に示してない）によつて結像された読
取レーザ光ビーム２６が、第１の位置Ａにあるピ
ツト１６に中心合せされることが示されている。
光ビーム２６が、ランド２４上の第２の位置Ｂに
も示されている。トラツク２２が、矢印２８で示
す様に、光ビーム２６に対して横方向に移動し、
従つて、ビーム位置Ｂは走査過程で、位置Ａより
も後の時点に対応する。

読取光ビーム２６がトラツク２２上のスポツト
３０に結像される。位置Ａでは、スポツト３０が
ピツト１６と重なり、これが矢印３２で示す様
に、光の実質的な部分を回折させる。若干の光
は、矢印３４で示す様に、入射ビーム２６の方向
にレンズに向つて反射される。然し、回折の為、
若干の光は異なる方向に反射される。全ての光が
対物レンズを逆に通るわけではない。対物レンズ
を逆に通る様に反射される光の一部分の位相相殺
の様な他の影響により、スポツト３０がピツト１
６上にある時に検出される光量が減少する。

位置Ｂでは、読取レーザ光ビーム２６がランド
２４の面に結像される。この面は平坦で反射性で
あり、従つて、大部分の光が対物レンズの方向に
反射される。実際、位置Ｂで反射される大部分の
光は、矢印３６で示す様に、レンズを逆に通る。

光学デイスク再生装置は、第３図に示した対物
レンズ形式を使うと共に光検出器を利用し、この
光検出器が対物レンズを通つて反射されたレーザ
光を検出する。

第４図は、第３図に示したトラツクの部分を読
取つた光のスポツトからの光を検出する再生装置
で、この様な光検出器の出力のグラフ４２を示
す。

第５図は第２図に示す３本のトラツク１８，２
０，２２の一部分、並びに中心のトラツク２０に
中心合せした読取レーザ光の結像スポツト３２を
示す。個々の標識は、標識によつてトラツクが走
査される時のトラツクの反射率の平均レベルが、
トラツクの間の区域より小さくなることを別にす
れば、この発明を実施する上で特に役立つもので
はないので、図に示してない。前に述べた様に光
のスポツト３２は点ではなく、トラツク２０に中
心合せした大まかに云つて円形の区域を占める。
スポツト３２は、読取レーザ光の主要部分のみが
デイスクに入射する区域を構成し、回折成分の様
な光ビーム２６の他の成分（第３図）は、第５図
に示したスポツト３２の区域の外側にある。この
事実が或る作用を持つが、それは後で説明する。
然し、ビームからの大部分の光は第５図に示すス
ポツト３２内に入る。再生装置では、スポツト３
２が矢印４４で示す向きに、トラツク２０に沿つ
て移動し、こうしてスポツト３２がトラツクを走
査する。

第６図は３本のトラツク４６，４８，５０を示
しており、中心のトラツク４８は隣接トラツク４
６，５０に対する所望の位置からずれている。事
実、中心トラツク４８は上側トラツク４６に接触
せんばかりであることが判る。この形は接触形ト
ラツクとして示してあり、これによつて主に２種
類の問題が起る。第１に、大抵の光学デイスク再
生装置は、光のスポツト３２を読取中のトラツク
に中心合せした状態に保つトラツキング・サーボ
装置を含んでいる。こういうサーボ装置は限界が
あるが、この限界を越えることがある。例えば、
第６図に示した場合、トラツク４８が所望の形か
ら急にずれ、隣接トラツク４６にごく近い所まで
接近することにより、サーボにとつては曖味な瞬
時状態になり、光のスポツト３２は実際にトラツ
ク４８から離れて、矢印５２で示す様に、隣接ト
ラツク４６の追跡を始めることがある。この状態
により、LPレコードの引つかききずによつて生
ずるのと同様な、トラツクからトラツクへの飛越
しを招くことがある。

第２に、トラツキング・サーボ装置がスポツト
３２をトラツク４８を中心合せした状態に保つと
しても、２つのトラツク４６，４８が接近する場
合の近辺で、スポツト３２の境界の外側にあるず
つと多量の光が隣接トラツク４６に入射し、この
為、漏話のレベル、即ち隣接トラツク４６からの
信号を拾うことがかなり大きくなる。

この発明はこの種のトラツクのピツチの偏差を
検出することに関する。

第７図は、この発明の好ましい実施例のトラツ
ク並びに光のスポツトの形式を示す。２つのスポ
ツト５４，５６が、基準トラツクとして作用する
トラツク２０の両側にまたがつている。第３のス
ポツト５８が隣接トラツク２２の一部分に入射す
るが、隣接トラツク２２の内側の縁６０が第３の
光のスポツト５８を２等分することが好ましい。
３つのスポツト５４，５６，５８が、以下説明す
る様に、基準トラツク２０の方向に一緒に移動す
る。

各々のスポツト５４，５６，５８から、反射面
によつて反射されて対物レンズを通る光が、３つ
の光検出器（図に示してない）の内の１つによつ
て検出される。第８図は、反射面から反射されて
この様な光検出器によつて検出された、光のスポ
ツトからの光の強度のグラフ６３である。横軸は
トラツクの軸線に対して垂直な方向に於ける面上
の光のスポツトの位置を表わし、縦軸は光の強度
を表わす。これから判る様に、光の強度は、トラ
ツクの間の区域にスポツトがある時に最大であ
り、スポツトがトラツクに中心合せされた時に最
小である。グラフ６３に３つの点６４，６６，６
８が示されており、これらはスポツト５４，５
６，５８（第７図）に関連した夫々の光検出器に
よつて検出された光の強度に対応する。即ち、ス
ポツト５４に関連した光検出器は、第８図の点６
４で表わされた強度の光を受取り、スポツト５６
に関連した光検出器は、点６６で表わされる光量
を受取り、スポツト５８に関連した光検出器は点
６８で表わされた光量を受取る。グラフ６３は、
面から反射された光を受取る光検出器の出力電圧
にも対応することが理解されよう。グラフ６３並
びに後で説明する同様なグラフ上の点は、説明の
便宜上、光検出器の電圧のグラフと呼ぶ。

第９図は第７図に示した３つの光のスポツト５
４，５６，５８を発生する光学装置の略図であ
る。偏光レーザ光源７０がビーム７２を出力す
る。ビーム７２は回折格子７４を通過し、これが
ビーム７２を密な間隔の３本のビーム７８に分割
する。回折格子７４を通過した後、レーザ光ビー
ムが発散レンズ７６を通る。発散レンズ７６を通
過した後、３本のビーム７８が偏光ビーム分割器
８０を介して1/4波長板８２へ送られる。この後、
ビーム７８が鏡８４によつて反射され、顕微鏡対
物レンズ８６を通る様に差し向けられる。レンズ
８６が３本のビーム７８を３つの別々のスポツト
８８，９０，９２として光学デイスクの反射面に
結像する。３つのレーザ光のスポツト５４，５
６，５８からの光の内、対物レンズ８６を通つて
反射される部分が、略同じ通路に沿つて鏡８４へ
戻り、そこで1/4波長板８２へ送られる。1/4波長
板８２を２回通過することにより、反射光の偏光
が入射光ビーム７２に対して90゜回転する。この
逆向き反射光は、この為、集束レンズ８８に向つ
て偏光ビーム分割器８０で反射される。集束レン
ズ８８が３つの光成分９０，９２，９４を図示の
３つの光検出器９６，９８，１００に集束する。
各々の光検出器９６，９８，１００のの出力は、
３つの光のスポツト５４，５６，５８の内の夫々
異なる１つから対物レンズ８６を介して反射され
た光量を表わす。

第９図に概略的に示した装置は、現存の光学デ
イスク再生装置を変更することによつて構成する
ことが出来る。全ての光学デイスク再生装置は、
読取レーザ光のスポツトを読取中のトラツクに中
心合せした状態に保つ装置を持つていなければな
らない。普通の形のこういう装置は、読取光のス
ポツトに隣接して補助の２つの光のスポツトを利
用するサーボ装置である。第１０図は、この様な
トラツキング・サーボ装置を持つ光学デイスク再
生装置に使われるレーザ光のスポツトの形態を示
す線図である。３本のトラツク１８，２０，２２
が示されている。中心トラツク２０は中心のレー
ザ光のスポツト１０２によつて読取られる。読取
中のトラツク２０の両側の縁にまたがつて、他の
２つの補助の光のスポツト１０４，１０６を発生
する。３つの光のスポツト１０２，１０４，１０
６は、第９図に示す様に、１本のレーザ光ビーム
の通路内に回折格子を配置することによつて発生
される。格子の選び方並びに光学装置内での配置
は、予定の所望の距離だけ、読取スポツトから隔
たるスポツトが発生される様にする。補助のスポ
ツト１０４，１０６を読取中のトラツク２０の両
側の縁にまたがる様な所望の位置に配置するのに
十分な分だけ、格子を回転させる。第９図の光検
出器９６，９８，１００に対応する様な、スポツ
ト１０２，１０４，１０６に関連した光検出器
は、各々の光検出器が、光学デイスクの反射面上
の３つのスポツトの夫々異なる１つから反射され
た光を検出する様に配置される。補助スポツト１
０４，１０６からの光を検出した光検出器の出力
が、トラツキング・サーボ（図に示してない）に
供給され、これらの信号を使つて、レーザ光の読
取スポツト１０２をトラツク２０に中心合せした
状態に保つが、これは従来周知である。

この装置を変更して、第７図に示す形の光のス
ポツトを発生することが出来る。その為には、現
存の回折格子を、第７図に示すスポツトの整合状
態を発生するのに適切な分だけ回転しさえすれば
よい。この時、３つの光のスポツトに関連した光
検出器は位置を適当に修正して、夫々の光のスポ
ツトからの光を検出する様にする。

更に、光検出器の出力が供給される電子回路
は、中心スポツトがもやは読取スポツトとして使
われず、トラツキング・スポツト（第７図）とし
て使われることに合せて、以下説明する様に修正
する。第１１図は上に述べたサーボ装置を持つ再
生装置に関連して使われる３つの光検出器を示し
ている。２つの補助スポツト光検出器１０８，１
１０が示されていると共に、読取レーザ光のスポ
ツトからの光に対する第３の象眼形光検出器１１
２も示されている。公知の様に、象眼形光検出器
は、読取レーザ光のスポツトの焦点に関する情報
を発生する為に、読取レーザ光のスポツトに対し
て設けられる。この情報を焦点サーボ装置に送つ
て、読取レーザ光のスポツトをデイスクのトラツ
クに対する合焦状態に保つ。向い合つた象眼から
の出力を組合せ、この結果得られる２本の信号線
を焦点サーボ装置の入力として使う。例えば、出
力１１４，１１６を組合せると共に、出力１１８
及び１２０を組合せる。各々の補助ビーム光検出
器１０８，１１０は、夫々１本の出力線１２２，
１２４を有する。

第１２図は、この発明に従つて変更した再生装
置の回路の一部分を示す。２つの入力線１２８，
１３０を持つ加算器を設ける。組合せた信号線１
１４，１１６（第１１図）からの出力を加算器１
２６の線１２８に印加し、組合せた線１１８，１
２０（第１１図）からの出力を加算器１２６の線
１３０に印加する。この為、加算器１２６の出力
１３２は、象眼形光検出器１１２に入射した全光
量を表わす。

図示の様に、トラツキング・サーボ１３４は２
本の入力線１３６，１３８を持つている。普通、
入力線１３８が補助ビーム光検出器１１０の出力
１２４に接続され、入力線１３６が補助スポツト
光検出器１０８の出力線１２２に接続される。然
し、この発明では、入力線１３８を出力線１２４
から切離し、その代りに加算器１２６の出力線１
３２を図示の様に入力線１３８に接続する。トラ
ツキング・サーボ１３４に対する入力線１３６は
相変らず光検出器１０８の出力線１２２に接続さ
れる。こうして、普通は再生装置の読取スポツト
として使われる中心スポツト１０２（第１０図）
が、第２のトラツキング・スポツトとして作用す
る様に接続される。この為、第３の光検出器１１
０の出力１２４は自由になり、以下説明する様
に、この発明に従つて、トラツク・ピツチ測定信
号として使える。出力１２４は、測定信号として
の作用の他に、デイスクに記録された情報に対す
る信号源としても使うことが出来ることに注意さ
れたい。この為、ビデオ光学デイスクを再生し、
トラツクのピツチを測定しながら、再生されたビ
デオ画像を観察することが出来る。これによつて
トラツクのピツチと観察された画像の間の相関性
が得られる。

次に第１３図について、この発明の好ましい実
施例の動作を説明する。第１３図は、第７図に示
したのと同様な図であつて、基準トラツク２０に
トラツキング・スポツト５４，５６がまたがつて
おり、第３の補助スポツト５８が隣接トラツク２
２にまたがつている。スポツト５４，５６，５８
は前に述べた様にして発生される。図から判る様
に、隣接トラツク２２は、基準トラツク２０に対
して一定の間隔を持つ理想的な通路から幾分彎曲
している。この為、トラツク２０及びトラツク２
２の間の間隔がこの彎曲の近辺で減少する。トラ
ツクの彎曲の割合が、例示の都合上圧縮されてい
ることに注意されたい。トラツクのピツチの実際
の彎曲は、１吋又は２吋までの範囲の距離にわた
つて起る。

第１３図で、補助の光のスポツト５８が、補助
トラツクの彎曲領域の近辺で、補助トラツク２２
に入射することが示されている。第１３図と第７
図を比較すれば判る様に、第７図に示す普通のト
ラツクの形態の場合と較べて、補助スポツト５８
の内の一層大きな百分率がトラツク２２上にあ
る。

第１４図は反射面から反射されたスポツトから
の光を検出する光検出器の出力電圧のグラフであ
る。横軸はデイスクの平面内で第１３図に示した
トラツクに対して垂直な方向を表わす。３つのス
ポツト５４，５６，５８に対する光検出器の出力
に対応する３点１４２，１４４，１４６がグラフ
１４０に示されている。点１４２，１４４で表わ
される電圧がトラツキングの目的だけに使われ、
従つて、装置がトラツクを走査する時、比較的一
定のまゝであることが理解されよう。第１４図の
スポツト１４６の電圧は、トラツク２０及びトラ
ツク２２の間の間隔の測定に使われる信号を表わ
す。

比較の為、ずれなかつたトラツク２２に対応す
る光検出器の出力曲線を第１４図に破線１４８で
示してある。これから、破線部分１４８は、第８
図に示したグラフの部分と正確に対応することが
理解されよう。破線部分１４８には、トラツク２
２がずれていなければ検出されるスポツト５８に
対する光検出器の出力に対応する点１４６′が示
されている。矢印で示す様に、トラツク２２の彎
曲により光検出器の出力のグラフ１４０に歪みが
生じ、これによつて点１４６′が下降し、これは
光検出器の出力電圧の大きさの減少に対応する。
矢印１５０で示した、光検出器の出力レベルの減
少量は、トラツク２２が理想的な真直ぐな形から
ずれた程度に対応している。

第１５図は第１３図と同様な図であつて、補助
トラツク２２の内、基準トラツク２０から遠ざか
る向きにずれた部分だけを示している。この結
果、補助スポツト５８は、もはや隣接トラツク２
２の一部分にさえまたがらなくなる。

第１６図は第１５図に示した２つのトラツク２
０，２２の区域にあるスポツトに対する光検出器
の出力曲線１５２を示すグラフである。３つのス
ポツト５４，５６，５８の各々に対する光検出器
の出力に対応する３点１５４，１５６，１５８が
グラフ１５２に示されている。隣接トラツク２２
のずれがない場合に対応するグラフ１５２の延長
が破線で示されている。点１５８の光検出器の出
力は、トラツクのずれがない時に対応する、点１
５８′の出力より大きいことが判る。

第１３図及び第１４図と第１５図及び第１６図
とを比較すれば、略真直ぐな、ずれのない形から
隣接トラツク２２がずれると、補助スポツト５８
から反射される光量に変化が生じ、この為、対応
する光検出器の出力に変化が生ずることが理解さ
れよう。スポツト５８に対する光検出器の出力の
変化量は、或る範囲内で、トラツク２２の略真直
ぐな正常な形からのずれの大きさに直接的に関係
づけることが出来る。補助トラツク２２とトラツ
クの間にある反射材料の区域との平均反射率の
差、トラツク２２の幅、並びに補助スポツト５８
の形と強度が判つていれば、基準トラツク２０か
らの隣接トラツク２２の所定の間隔で反射される
光量を正確に計算することが出来る。これを第１
１図の光検出器１１０の様な光検出器の出力に関
係づけることが出来る。こうして、トラツクの間
隔を定量的に測定することが出来る。

この測定は、トラツクのピツチのずれの有限の
範囲にわたつてのみ有効であることに注意された
い。例えば、第１５図で、隣接トラツク２２が図
面に示したよりも一層大きな分だけ右へずれた場
合、スポツト５８に対する光検出器の出力に変化
は起らない。然し、極限の間の有用な範囲にわた
り、補助スポツトの光検出器の出力は、隣接トラ
ツク２２の正常な形からのずれの大きさに定量的
に関係づけることが出来る。第１７図にこれを例
示する。

第１７図は基準トラツクと補助トラツクの間の
トラツクの間隔の或るずれの範囲にわたり、スポ
ツト５８から反射された光を検出する光検出器の
出力曲線１６２を示すグラフである。トラツクの
間隔が非常に大きい場合、光検出器の出力は特性
的な高い電圧V_Hで一定にとゞまることが判る。
トラツクの間隔が減少すると、光検出器の出力
は、スポツトがトラツクに中心合せされた場合に
対応する最小値V_Lに達し、その後、スポツトが
トラツクの反対側へ通過するのにつれて増加す
る。

普通のトラツクの間隔に対応する、ｘのトラツ
ク間隔の領域では、曲線１６２はＳ字形である。
曲線１６２は、ｘ−ｄ及びｘ＋ｄの間のトラツク
間隔の領域内で、略直線的である。こゝで2dは、
光検出器の出力範囲の約85％にわたる出力電圧を
発生する様な間隔の範囲を表わす。この略直線的
な範囲で、検出器の出力は実際のトラツクの間隔
と比較的正確に相関させることが出来る。検出器
の出力を１つ又は更に多くの装置に印加して、こ
の方法に従つて走査する光学デイスクに対するト
ラツクの間隔を表示し又は記録することが出来
る。

第１８図は、光学デイスクの走査によつて得ら
れた、時間ｔに対する光検出器の出力曲線１６４
を示すグラフである。第１９図は補助ビーム光検
出器の出力に接続された線１６６に、その入力を
普通に接続した幾つかの装置を示すトラツク間隔
測定装置の略図である。オツシロスコープ１６８
が線１６６に接続されて、第８図に示す波形１６
４の様な出力波形を表示する。カメラ１７０をオ
ツシロスコープのスクリーンのフード１７２に取
付けて、オツシロスコープの曲線の永久的な記録
を作る。条片形記録装置１７４を低減濾波器１７
６を介して線１６６に接続し、第１８図に示した
波形１６４の低周波数成分の永久的な記録を作
る。スペクトル分析装置１７８を線１６６に接続
して、波形のスペクトル成分の分析を実時間で作
る。

低域濾波器１７６及び条片形記録装置１７４
は、動きの遅い走査と組合せて使つて、光検出器
の出力波形の比較的高い周波数成分の永久的な記
録を作ることが出来る。

こうして第１９図に示す試験装置は、光学デイ
スクのトラツクの間隔の偏差を分析する為の広範
囲の情報を提供する。

上に述べた装置は「直線トラツキング様式検出
器」と呼ばれる方式を表わす。第２０図は、「非
直線形」又は「異変形」検出様式と呼ぶことの出
来る様な別の検出様式のトラツク及び光スポツト
の配置を示す。この方法では、直線形検出様式の
場合と同じ様に、２つの隣接するトラツキング・
スポツト１８０，１８２を使う。第３のスポツト
１８４も使うが、直線形検出方法の場合の様に、
隣接トラツク２２の近い方の縁にまたがるのでは
なく、基準トラツク２０と隣接トラツク２２の間
の中間に位置ぎめする。

第２１図は２つのトラツク２０，２２の領域に
入射した光のスポツトからの光検出器の出力のグ
ラフ１８６を示す。２つのトラツキング・スポツ
ト１８０，１８２の位置に対応する点１８８，１
９０が曲線１８６に示されている。補助ビーム１
８４の位置に対応する点１９２もこの曲線に示し
てある。点１９２は、曲線１８６上で、曲線１８
６の勾配が最小になる位置にあり、従つて、トラ
ツクのピツチの正常な形からの偏差に対する装置
の感度が最低である所にある。

第２２図は第２０図と同様な図であるが、隣接
トラツク２２が正常な通路から若干ずれた場合を
示している。第２３図は、第２１図と同様に、第
２２図に示した形に対するグラフ１９４を示して
いる。破線１８６′は、隣接トラツク２２がずれ
なかつた場合に対応するグラフ１９４の延長であ
る。補助スポツト１８４に対応する点１９２は、
第２１図に示した位置に較べて、実質的に偏差が
ないことが認められよう。従つて、第２０図及び
第２２図に示した非直線形検出方式は、トラツク
２２の小さな偏差に対する感度が最低になる。

第２４図は第２２図に示したのと同様なトラツ
ク及びスポツトの配置を示す図であるが、隣接ト
ラツク２２は基準トラツク２０の方へ大きくずれ
ている。第２５図は、第２４図に示したトラツク
の近辺にあるスポツトに対する光検出器の出力曲
線１９４を示すグラフである。ずれが生じなかつ
た時の曲線１９４の延長１８６′が破線で示され
ている。スポツト１８４に対する光検出器の出力
に対応する点１９２′が、矢印１９６で示す様に、
トラツクの正常な形の時の位置から実質的にずれ
ていることが判る。

第２２図及び第２４図に示した配置の効用は、
これらの図面を第７図及び第１３図と比較すれば
理解されよう。第１３図では、隣接トラツク２２
は比較的僅かだけずれている。それでも、第１４
図の点１４６を見れば判る様に、スポツト５８か
らの反射光を検出する光検出器の出力は、直線検
出範囲の限界近くにある。実際、第１７図を見れ
ば判る様に、トラツク２２の偏差が第１３図に示
すものよりずつと大きくなると、トラツクの間隔
が減少する方向で、補助スポツト５８に対する光
検出器の出力レベルは最低値を通り、その後実際
に再び増加し始め、曖味な結果になる。これに対
して、第２４図及び第２５図を見れば、隣接トラ
ツク２２がトラツクの間隔が減少する向きに比較
的大きくずれているが、曲線１９４上の点１９
２′は、トラツクの間隔の変化に対する感度が比
較的高い領域内にあることが認められよう。

第２６図は、第２０図に示した「異変形」でト
ラツク２２，２０の間の間隔に対して、スポツト
１８４を検出する光検出器の出力を表わすグラフ
である。ｘで表わしたトラツクの間隔が公称のト
ラツクの間隔である。検出器が、トラツクの間隔
の偏差に対して最大の感度を持つ様なトラツクの
間隔の領域は、何れも公称の間隔ｘよりも小さな
トラツクの間隔を表わす２点ａ及びｂの間にあ
る。

第１９図に示す装置並びに第２０図に示すスポ
ツトの配置を使うと、トラツクの間隔の大きな偏
差を有効に監視し且つ測定することが出来ること
が理解されよう。この代りに、第２０図に示すス
ポツトの配置は、後で第２７図について説明する
様に、接近しすぎたトラツクに対して警報を発す
る様に構成された回路に関連して使うことが出来
る。

第２７図は、トラツクが接近した場合、前述の
警報を発する様な「異変形」の装置の略図であ
る。補助ビーム光検出器からの出力（第１１図の
線１２４）が、２キロヘルツの低減濾波器２００
に印加される。低域濾波器２００の出力が比較器
２０２に印加され、この比較器は、入力信号のレ
ベルが予定の閾値レベルより下がつた時、出力を
発生する様に構成されている。この閾値レベルの
電圧は、例えば、第２６図に示したトラツクの間
隔ｃに関連した電圧レベルであつてよい。比較器
２０２から線２０４に出る出力が警報回路２０６
並びにストツプ・モーシヨン作動回路２０８に印
加される。回路２０８は、ストツプ・モーシヨン
様式に切換える為に、ピツチ監視装置に接続する
ことが出来る。こうして、トラツクが非常に接近
した間隔である状態に対応する信号が線１２４に
印加されると、警報器が作動され、トラツク・ピ
ツチ監視装置が自動的にストツプ・モーシヨン様
式になり、トラツクを更に厳密に検査することが
出来る様にする。問題にならない様な比較的小さ
いトラツクの間隔の偏差によつては、警報器はト
リガされない。この為、第２７図に示した装置
は、極めて接近したトラツク、所謂接触形トラツ
クだけを検出する「異変形」動作様式をとる。２
キロヘルツの低域濾波器２００は、雑音スパイク
の様な擬似成分によつて警報器がトリガされるの
を防止するのに役立つ。

第２８図は別のトラツクとスポツトの配置を示
す図である。この配置では、２つのトラツキン
グ・スポツト２１０，２１２がトラツキング・サ
ーボ機能に関連して、基準トラツク２０にまたが
つていることは、これまでの実施例と同じである
が、補助スポツト１２４は隣接トラツク２２に中
心合せされている。第２９図は、第２８図のトラ
ツク２０，２２の近辺にスポツトがある場合に対
応する光検出器の出力を示す。グラフ２１６の点
２２０で表わした補助スポツト２１４に対する光
検出器の出力は、第２８図に示したトラツクの正
常な形に対する最低点にあることが判る。

第２８図の補助スポツト２１４は、矢印２２
４，２２６で示す様に、他のスポツト２１０，２
１２に対して調節自在に横方向に移動出来る様に
なつている。補助スポツト２１４の位置を調節し
て、それに関連した光検出器の出力を最小にする
ことにより、云い換えれば、点２２２を第２９図
に示す最低位置において、スポツト２１４の位置
をこの出力最低の点で確認することにより、平均
トラツク・ピツチを測定する。この制御作用は、
３つの光のスポツトを発生する回折格子７６（第
９図）を回転することによつて行なうことが出来
る。

第３０Ａ図は、補助の光のスポツトに調節自在
の動きが出来る様にする装置の図である。図示の
装置は前に述べた第９図に示す装置の一部分の変
形である。レーザ光ビーム７２が回折格子７６を
通過し、３本のビーム２２４，２２６，２２８が
集束レンズ２３０を通過する。３本のビーム２２
４，２２６，２２８はレンズ２３０によつて平面
２３２に結像する。硝子の様な透明材料の３つの
立方体２３４，２３６，２３８が、レンズ２３０
から出て来る３本のビームの焦点に中心合せされ
ている。外側の１つの立方体２３８は、回転の矢
印２４０で示す様に、その１つの軸線の周りに回
転することが出来る様になつている。立方体２３
８を矢印２４０のの向きに回転することにより、
立方体２３８から出て来る光ビーム２４２は、第
３０Ｂ図に示す様に、基準トラツクに対して垂直
な向きにそらされる。第３１図は、光の補助スポ
ツト２１４が、Ｘで示す公称位置から、矢印２４
４で示す向きに移動することを示している。即
ち、硝子の立方体２３８（第３０Ａ図）が回転し
得ることにより、補助スポツト２１４を調節自在
に移動させ、補助スポツトの光検出器の出力をゼ
ロにして、前に述べたトラツクの平均ピツチの測
定作用を持たせることが出来る。事実、回転する
硝子の立方体２３８を用いる方法は、トラツキン
グの最善の結果が得られる様に、格子の角度を最
適にする為に、この発明の全ての実施例に用いる
ことが出来る。第３０Ａ図に示した静止立方体２
３４，２３６は、回転する立方体２３８が存在す
ることによつて生ずる焦点の若干の変化を補償す
る為に設けられている。静止立方体２３４，２３
６がないと、調節自在の補助光ビーム２４２によ
つて作られる光のスポツトは、若干焦点が外れ
る。

第３２図は前に第１１図について説明した３つ
の光検出器１０８，１１２，１１０の面を示す略
図であり、反射された光のスポツト２４６，２４
８，２５０が入射することを示している。スポツ
ト２４６はスポツト２１０（第３１図）から反射
された光を表わし、スポツト２４８はスポツト２
１２（第３１図）から反射された光を表わし、ス
ポツト２５０はスポツト２１４（第３１図）から
反射された光である。スポツト２５０は光検出器
１１０の視野の一番縁にあることが判る。スポツ
ト２１４（第３１図）が更に横方向に移動すれ
ば、スポツト２５０は光検出器１１０の視野から
出て行き始める。これによつて、光検出器１１０
から誤つた出力信号が生ずる。以上のことから、
第３１図に示した配置に於ける補助スポツト２１
４の調節範囲が制限されていることが理解されよ
う。こういう装置を構成する時、このことを考慮
に入れなければならない。

トラツクの間隔を検出する別の方式が第３３図
に示されている。この方式では、基準トラツクを
追跡する為に２つのスポツト２５２，２５４を使
い、隣接トラツク２２を追跡する為に２つの補助
スポツト２５６，２５８を使う。この実施例で
は、基準トラツク２０に関連した１対のスポツト
に対する１つと、隣接トラツク２２に関連した１
対のスポツトに対する別の１つとの２つのトラツ
キング・サーボ装置を設けることが出来る。第３
４図は、第３３図に示したスポツト方式を使うこ
との出来る格子、レンズ及び硝子立方体から成る
装置を示す。入射ビーム７２の通路内に強力な２
次回折成分を発生する得る格子２６０が設けられ
る。回折格子２６０がビームを５つの強力な成分
２６２ａ乃至２６２ｅに分割する。これらの５つ
の成分が、発散レンズ２６４を通過し、このレン
ズがビームを平面２６６に集束する。不透明な材
料のブロツク２６８が、一番外側の１つのビーム
２６２ａの通路を遮る。２つのビーム２６２ｂ，
２６２ｃが静止硝子立方体２７０を通過する。残
りの２つの光ビーム２６２ｄ，２６２ｅが第２の
回転自在の硝子立方体２７２を通過する。この立
方体は、矢印２７４で示す様に、焦平面２６６内
で、その長軸の周りに回転し得る。回転し得る立
方体２７２を回転することにより、両方のビーム
２６２ｄ，２６２ｅによつて発生された光のスポ
ツトは、第３３図に示す様に一緒に動く。回転し
得る立方体２７２は、普通のトラツキング・サー
ボ装置（図に示してない）に用いられる駆動機
構、例えばガルバノメータの軸に取付けることが
出来る。トラツキング・サーボ装置が２つの光の
スポツト２５６，２５８（第３３図）が隣接トラ
ツク２２を追跡する様にする。２つの補助光スポ
ツト２５６，２５８に関連したサーボ装置の位置
電圧を絶えず監視することにより、基準トラツク
２０と隣接トラツク２２の間の間隔を連続的に監
視することが出来る。

第３５図は、この発明の更に別の実施例の動作
原理を示す。この実施例では、３つの光のスポツ
ト２７４，２７６，２７８を、初期位置では、
光学デイスク再生装置で普通使われる形で設け
る。第３５図では、３つの光のスポツト２７４，
２７６，２７８が、位置で第１のトラツク２８
０ａを典型的に追跡する形で示されており、トラ
ツク２８０ａに沿つて矢印２８２が示す向きに走
査する。２つ又は３つ全部のスポツトからの光が
この走査の間に検出される。短な距離走査した
後、３つの光のスポツトを第２の位置へ突然に
移動させ、第２のトラツク２８０ｂを走査し、こ
れらのスポツトからの光を検出する。トラツク２
８０ｂで短な距離だけ走査した後、スポツトを第
３の位置へ再び突然に移動する。この様に逐次
的にトラツクを増分形で走査することを、第６の
位置に達するまで続ける。６番目の位置でトラ
ツク２８０ｆを走査した後、３つの光のスポツト
は再び第１のトラツク２８０ａに戻され、上に述
べた過程を繰返す。第２の補助の光スポツト２７
８の通路を破線２８４で示してある。

３つの光のスポツト２７４，２７６，２７８に
対して正しいトラツキングの基準を保つ為、再生
装置の回路に普通の標本化保持回路を付け加え、
２つの補助スポツト２７４，２７８に関連した光
検出器の出力を、３つのスポツトが位置にある
時に標本化する。３つのスポツトが再び位置に
復帰するまで、光検出器の出力の値を保持してお
き、この保持した信号をこの期間の間トラツキン
グ・サーボ装置に印加して、適正なトラツキング
を保つ。３つのスポツトが１つのトラツクを標本
化し、その後別のトラツクへ移動する速度は、３
つのスポツトが、トラツキング・サーボの応答よ
りも高い速度で、保持した信号を更新する為に、
第１のトラツクへ復帰する様に選ばれる。例え
ば、普通の光学デイスクトラツキング・サーボ装
置は、約40キロヘルツ又はそれ以上の周波数を持
つトラツキング帰還信号成分にあまり影響されな
い。この為、第３５図で、標本化の時間的な速
度、即ち、３つの光のスポツトが矢印２８６で表
わされる距離を走査する速度を25マイクロ秒に設
定することにより、トラツキング・サーボ装置の
帰還信号は、約40キロヘルツの速度で更新され
る。これによつて、トラツキング・サーボの応答
が、標本周波数、又は標本化された帰還信号の濾
波作用による位相歪みによつて影響されないこと
が保証される。

第３６図は、第３５図に示した逐次的な移動走
査を行なわせる光学装置の略図である。レーザ光
ビーム７２が音響光学式ビーム偏向装置２９０に
送られる。この偏向装置にはその入力端子２９２
に階段形電圧入力波形が印加される。出て行くビ
ーム２９４は、線２９２の入力信号に従つて、階
段形で偏向される。出て行くビーム２９４が、そ
の偏向移動範囲の１端に実線で示されている。ビ
ーム２９４′は、偏向移動範囲の他端に破線で示
されている。

ビーム２９４が第１の集束レンズ２９６を通過
し、このレンズがビーム２９４を像平面２９８に
結像する。この後ビーム２９４が、第１の集束レ
ンズ２９６から、各々のレンズの焦点距離の２倍
に等しい距離だけ隔たる第２の集束レンズ３００
を通過する。第２の集束レンズ３００が発散する
光ビーム２９４をコリメートする。コリメートさ
れたビーム２９４が、第２の集束レンズ３００か
ら距離ｆの所に配置された回折格子３０２を通過
する。回折格子３０２が１本のコリメートされた
光ビーム２９４を所望の３つのビーム成分に分割
して、第３５図に示す３つの光のスポツトを作
る。第３６図を見れば、集束レンズ装置が偏向さ
れた光ビーム２９４を、走査全体を通じて同じ位
置で回折格子３０２を通過させることにより、一
定のスポツトの形を作ることが理解されよう。

回折格子３０２から出て来る分割されたビーム
３０４が、再生装置の発散レンズ３０６を通過す
る。光学装置の残りの部分は普通の光学デイスク
再生装置にあるものと同じである。格子３０２に
対する発散レンズ３０６の位置を調節することに
より、分割されたビーム３０４の移動量、従つて
ビーム３０４によつて作られるスポツトの移動量
（矢印３０８で示す）を調節することが出来る。

以上の説明から、この発明が特に光学デイスク
の様な記録媒体に用いた時、トラツクのピツチの
測定並びに監視の分野で著しい進歩をもたらした
ことが理解されよう。特にこの発明は、トラツク
が走査される時、トラツクの間隔を実時間で直接
的に測定する正確な電気光学的な方法を提供す
る。測定されたトラツク間の間隔のいろいろな面
を測定する幾つかの実施例を説明した。幾つかの
実施例を具体的に説明したが、この発明の範囲内
で種々の変更が可能であることは云うまでもな
い。従つて、この発明は特許請求の範囲の記載の
みによつて限定されることを承知されたい。

【図面の簡単な説明】

第１図は光学デイスクの一部分の斜視図、第２
図は光学デイスクの記録面の小さな一部分の平面
図、第３図は第２図の線３−３で切つた断面図、
第４図は第３図のトラツクを読取る光のスポツト
からの反射光を検出する光検出器の出力を示すグ
ラフ、第５図は光学デイスクに設けられた３つの
情報トラツクの一部分の平面図、第６図はトラツ
クのピツチの偏差を示す第５図と同様な平面図、
第７図は３つのトラツクの一部分の平面図で、こ
の発明の考えに従つて結像される光のスポツトの
形状を示す。第８図は第３図に示す３つのトラツ
クの近辺にある光のスポツトからの反射された光
を検出する光検出器の出力を示すグラフ、第９図
はこの発明に従つて構成された光学装置の略図、
第１０図は普通の光学デイスク再生装置によつて
発生されるトラツクと光のスポツトの形態を示
す、第１１図は普通の光学デイスク再生装置で使
われる様な３つの光検出器を示す図、第１２図は
この発明の考えに従つて変更した普通の光学デイ
スク再生装置のトラツキング・サーボ装置の一部
分のブロツク図、第１３図は第７図に示すのと同
様な図であるが、トラツクのピツチの偏差だけを
示している。第１４図は第１３図に示す２つのト
ラツクの近辺にある光のスポツトから反射された
光を検出する光検出器の出力を示すグラフ、第１
５図は第１３図と同様な図で、異なる種類のトラ
ツクの偏差を示す。第１６図は第１５図に示す２
つのトラツクの近辺にある光のスポツトから反射
された光を検出する光検出器の出力を示すグラ
フ、第１７図は第１５図に示す光のスポツト５８
から反射された光を検出する光検出器の出力をト
ラツクの間隔に対して描いたグラフ、第１８図は
この発明の考えに従つてデイスクを走査する時に
得られた、光検出器の出力と時間との関係を示す
グラフ、第１９図はこの発明に従つて検出される
トラツクのピツチの偏差を監視並びに記録する電
子装置のブロツク図、第２０図はこの発明の別の
実施例によるトラツクと光のスポツトの形態を示
す図、第２１図は第２０図に示した２つのトラツ
クの近辺に於ける光検出器の出力を示すグラフ、
第２２図は第２０図と同様な図であるが、トラツ
クのピツチの僅かな偏差を示している。第２３図
は第２２図に示した２つのトラツクの近辺にある
光のスポツトに対する光検出器の出力を示すグラ
フ、第２４図は第２０図と同様な図で、トラツク
のピツチの比較的大きな偏差を示す。第２５図は
第２４図に示した２つのトラツクの近辺にある光
のスポツトに対する光検出器の出力を示すグラ
フ、第２６図は第２４図に示す光のスポツト１８
４から反射された光を検出する光検出器の出力を
トラツクの間隔に対して描いたグラフ、第２７図
はトラツクのピツチの大きな偏差を検出する装置
のブロツク図、第２８図はこの発明の更に別の実
施例によるトラツクと光スポツトの形態を示す
図、第２９図は第２８図に示した２つのトラツク
の近辺にある光のスポツトに対する光検出器の出
力を示すグラフ、第３０Ａ図はこの発明の幾つか
の実施例で使われる様な光学装置の図、第３０Ｂ
図は回転自在の光学立方体の図で、それが回転す
る時の結像光ビームに対する影響を示す。第３１
図は第３０Ａ図に示した光学装置によつて作られ
るトラツクと光スポツトの形態を示す図、第３２
図は第３０Ａ図に示した光学装置に関連して使わ
れる３つの光検出器の検出面を示す図、第３３図
はこの発明の更に別の実施例によるトラツクと光
スポツトの形態を示す図、第３４図は第３３図に
示すトラツクと光スポツトの形態を発生するのに
使われる光学装置の図、第３５図はこの発明の更
に別の実施例によるトラツクと光のスポツトの形
態を示す図、第３６図は第３５図に示したトラツ
クと光のスポツトの形態を発生する為に使われる
光学装置の図である。 主な符号の説明、５４，５６，５８：光のスポ
ツト、７０：レーザ光源、９６，９８，１００：
光検出器、１３４：トラツキング・サーボ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 情報記録媒体の隣接した情報トラツクの間の
   間隔をを測定する方法に於て、第１のトラツクの
   少なくとも一部分にトラツキング用の光スポツト
   を投射すると共に、前記第１のトラツクのトラツ
   キング用光スポツトから横方向に所定の間隔離し
   た他の光スポツトを前記第１のトラツクに隣接し
   た平行な第２のトラツクもしくはこれに近接する
   媒体上に投射し、これにより前記記録媒体から予
   定の方向に反射された前記各光スポツトからの光
   量を検出して電気信号に変換し、この電気信号の
   うち第１のトラツクのトラツキング用光スポツト
   から得られる電気信号を用いて該光スポツトを第
   １のトラツクに沿いトラツキング制御し、この光
   スポツトのトラツキングと一体に移動する前記他
   の光スポツトから得られる電気信号を用いてトラ
   ツクの間の間隔を測定することを特徴とする情報
   トラツクの間隔測定方法。 ２ 特許請求の範囲１に記載した方法に於て、前
   記第１及び第２のトラツクの間の平均間隔を測定
   する為に、光のビームの方向を制御自在に調節
   し、こうして得られる前起媒体上の光スポツトの
   前記略一定の横方向の間隔が、前記第１のトラツ
   クの少なくとも一部分を含む範囲内で、前記第２
   のトラツクに対し制御自在に位置決めし得る様に
   した測定方法。 ３ 情報記録媒体の平行な情報トラツクの間の間
   隔を測定する方法に於て、第１のトラツクの相異
   なる部分に第１及び第２のトラツキング用光スポ
   ツトを投射し、これにより前記媒体から第１の予
   定の方向に反射された、前記第１及び第２の光ス
   ポツトからの光量を検出し、前記第１のトラツク
   に対する前記第１及び第２の光スポツトの相対的
   な横方向の位置を制御し、前記第１のトラツクと
   平行な第２のトラツクの相異なる部分に第３及び
   第４の光スポツトを投射し、これにより前記媒体
   から第２の予定の方向に反射された、前記第３及
   び第４の光スポツトからの光量を検出し、前記第
   ２のトラツクに対する前記第３及び第４の光スポ
   ツトの相対的な横方向の位置を制御し、前記第１
   及び第２の光スポツトの内の少なくとも一方に対
   する前記第３及び第４の光スポツトの内の少なく
   とも一方の相対的な位置を表わす出力信号を発生
   し、この出力信号から隣接するトラツク間の間隔
   を測定する方法。 ４ 情報記録媒体の複数個の平行な情報トラツク
   の間の間隔を測定する方法に於て、光学手段から
   記録媒体に向け投射されるトラツキング用光スポ
   ツト及びこれにより横方向に一定間隔離れた他の
   光スポツトにより、複数個の平行な各トラツクを
   短い距離走査しながら第１のトラツクから最終の
   トラツクまで逐次移動し、再び第１のトラツクへ
   戻す過程を繰返すことを特徴とするトラツクの間
   隔測定方法。 ５ 情報記録媒体の隣接した情報トラツクの間の
   間隔を測定する装置に於て、第１のトラツクの少
   なくとも一部分にトラツキング用の光スポツトを
   投射すると共に前記第１のトラツクと平行な第２
   のトラツクの少なくとも一部もしくはこれに対応
   する媒体上に前記トラツキング用光スポツトから
   横方向に所定の間隔離して投射する光学手段と、
   前記各光スポツトの投射により媒体上から予定の
   方向に反射される前記各光スポツトからの光量を
   検出してそれぞれの性質を表わす電気信号を発生
   する光検出手段と、前記光検出手段からトラツキ
   ング用光スポツトに応じて発生する電気信号によ
   り前記トラツキング用光スポツトが前記第１のト
   ラツクを追跡するよう前記光学手段を制御すると
   共に前記他の光スポツトの前記トラツキング用光
   スポツトからの横方向の間隔を一定に保つトラツ
   キング手段と、前記他の光スポツトの反射光量に
   応じて前記光検出手段から出力される電気信号か
   ら２つのトラツクの間の間隔を定量的に測定する
   手段とを備えたことを特徴とするトラツクの間隔
   測定装置。 ６ 特許請求の範囲５に記載した装置に於て、光
   学手段が、第１，第２のトラツキング用光スポツ
   ト及び第３の他の光スポツトに関連した３本の光
   ビームに分離する回折格子を有するトラツクの間
   隔測定装置。 ７ 特許請求の範囲５に記載した装置に於て、前
   記他の光スポツトの光量を検出する光検出手段に
   接続されていて、その電気信号を監視して、該電
   気信号が予定のレベルに達した時に出力を発生す
   る比較手段と、該比較手段が出力信号を発生した
   ことを表示する表示手段とを有するトラツクの間
   隔測定装置。 ８ 特許請求の範囲５または６に記載した装置に
   於て、前記第１及び第２のトラツクの間の平均間
   隔を測定する為、前記光学手段からの光ビームの
   方向を制御自在に調節する光ビーム調節手段を設
   け、前記他の光スポツトの横方向の略一定の位置
   が、前記第１のトラツクの少なくとも一部分を含
   む範囲内で、前記第２のトラツクに対して制御自
   在に位置決めし得る様にしたトラツクの間隔測定
   装置。