JPH03292638A - 焦点位置検出装置 - Google Patents
焦点位置検出装置Info
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- JPH03292638A JPH03292638A JP9562290A JP9562290A JPH03292638A JP H03292638 A JPH03292638 A JP H03292638A JP 9562290 A JP9562290 A JP 9562290A JP 9562290 A JP9562290 A JP 9562290A JP H03292638 A JPH03292638 A JP H03292638A
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- optical
- optical path
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光情報記録再生装置等における焦点位置検出
装置に関する。
装置に関する。
従来の技術
従来、光情報記録再生装置等において、対物レンズの焦
点位置のずれを検出するフォーカスエラー信号を求める
一般的な方法としては、ナイフェツジ法、非点収差法、
フーコー法、ビームサイズ法などがある。この場合、代
表的な非点収差法を例にとると、特開昭５３−３９１２
３号公報に開示されているものがある。これは、第７図
に示すように、図示しないレーザ光源より出射された光
をビームスプリッタ１に通過させ対物レンズ２により集
光して光ディスク３の面に照射し、これにより反射され
た光をビームスプリッタ１により今度は反射して信号検
出光学系４に導き、集光レンズ５により集光し円柱面レ
ンズ６を透過して光検出器８に検出する。
点位置のずれを検出するフォーカスエラー信号を求める
一般的な方法としては、ナイフェツジ法、非点収差法、
フーコー法、ビームサイズ法などがある。この場合、代
表的な非点収差法を例にとると、特開昭５３−３９１２
３号公報に開示されているものがある。これは、第７図
に示すように、図示しないレーザ光源より出射された光
をビームスプリッタ１に通過させ対物レンズ２により集
光して光ディスク３の面に照射し、これにより反射され
た光をビームスプリッタ１により今度は反射して信号検
出光学系４に導き、集光レンズ５により集光し円柱面レ
ンズ６を透過して光検出器８に検出する。
これにより、第８図に示すような円柱面レンズ６を通過
し非点収差の発生した光路上の各位置ａ。
し非点収差の発生した光路上の各位置ａ。
ｂ、ｃ、ｄ、ｅでのビーム断面形状は第９図に示すよう
になり、ビームはＣの位置では真円となりその前後の位
置では縦方向又は横方向に変形したものとなる。従って
、対物レンズ２が合焦点にある時に複数に分割された受
光面をもつ光検出器８を真円となるＣ点に予め位置させ
ておくことによって、焦点ずれが発生したような時には
ビームが変形して検出される受光量が変化するため、こ
れによりフォーカスエラー信号を検出することができる
。
になり、ビームはＣの位置では真円となりその前後の位
置では縦方向又は横方向に変形したものとなる。従って
、対物レンズ２が合焦点にある時に複数に分割された受
光面をもつ光検出器８を真円となるＣ点に予め位置させ
ておくことによって、焦点ずれが発生したような時には
ビームが変形して検出される受光量が変化するため、こ
れによりフォーカスエラー信号を検出することができる
。
発明が解決しようとする課題
上述したようなフォーカスエラー信号を検出する方法は
、いずれも一般的によく使用されている方法ではあるが
、しかし、このような検出方法では光検出器８自体の位
置ずれ或いは温度変化に伴う光路長や波長等の変化によ
って、検出されるフォーカスエラー信号にオフセット分
が含まれてしまい正確な信号検出を行うことができない
という問題がある。
、いずれも一般的によく使用されている方法ではあるが
、しかし、このような検出方法では光検出器８自体の位
置ずれ或いは温度変化に伴う光路長や波長等の変化によ
って、検出されるフォーカスエラー信号にオフセット分
が含まれてしまい正確な信号検出を行うことができない
という問題がある。
課題を解決するための手段
そこで、このような問題点を解決するために、請求項１
記載の発明では、レーザ光源より出射された光を対物レ
ンズにより集光して光情報記録媒体に照射することによ
り情報の記録や再生を行うと共に、その光情報記録媒体
からの反射光を信号検出光学系に導き情報の再生やフォ
ーカスエラー信号等の検出を行う光情報記録再生装置に
おいて、前記光情報記録媒体からの反射光が前記信号検
出光学系に導かれた光路上に焦点ずれに伴う前記反射光
の角度変位を一方向のみに発生させる一方向角度変位発
生部材を配設し、この一方向角度変位発生部材により一
方向に変位された前記反射光を集光レンズに通過させそ
の集光点の前後の位置の光量差を検出するフォーカスエ
ラー信号検出手段を設けた。
記載の発明では、レーザ光源より出射された光を対物レ
ンズにより集光して光情報記録媒体に照射することによ
り情報の記録や再生を行うと共に、その光情報記録媒体
からの反射光を信号検出光学系に導き情報の再生やフォ
ーカスエラー信号等の検出を行う光情報記録再生装置に
おいて、前記光情報記録媒体からの反射光が前記信号検
出光学系に導かれた光路上に焦点ずれに伴う前記反射光
の角度変位を一方向のみに発生させる一方向角度変位発
生部材を配設し、この一方向角度変位発生部材により一
方向に変位された前記反射光を集光レンズに通過させそ
の集光点の前後の位置の光量差を検出するフォーカスエ
ラー信号検出手段を設けた。
また、請求項２記載の発明では、レーザ光源より出射さ
れた光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照
射することにより情報の記録や再生を行うと共に、その
光情報記録媒体からの反射光を信号検出光学系に導き情
報の再生やフォーカスエラー信号等の検出を行う光情報
記録再生装置において、前記光情報記録媒体からの反射
光が前記信号検出光学系に導かれた光路上に焦点ずれに
伴う前記反射光の角度変位を一方向のみに発生させる一
方向角度変位発生部材を配設し、この一方向角度変位発
生部材に１より一方向に変位された前記反射光の光路上
に光路分離部材を配設し、この光路分離部材により２分
割された各々の光路上に集光レンズを配設し、その一方
の集光レンズにより形成される集光点の前方の光路上に
フォーカス受光素子を配設し、その他方の集光レンズに
より形成される集光点の後方の光路上にフォーカス受光
素子を配設した。
れた光を対物レンズにより集光して光情報記録媒体に照
射することにより情報の記録や再生を行うと共に、その
光情報記録媒体からの反射光を信号検出光学系に導き情
報の再生やフォーカスエラー信号等の検出を行う光情報
記録再生装置において、前記光情報記録媒体からの反射
光が前記信号検出光学系に導かれた光路上に焦点ずれに
伴う前記反射光の角度変位を一方向のみに発生させる一
方向角度変位発生部材を配設し、この一方向角度変位発
生部材に１より一方向に変位された前記反射光の光路上
に光路分離部材を配設し、この光路分離部材により２分
割された各々の光路上に集光レンズを配設し、その一方
の集光レンズにより形成される集光点の前方の光路上に
フォーカス受光素子を配設し、その他方の集光レンズに
より形成される集光点の後方の光路上にフォーカス受光
素子を配設した。
作用
従って、一方向角度変位発生部材により一方向に変位さ
れた光を集光レンズに通過させることにより得られた光
は、合焦時においてはそのビーム断面形状が光軸方向の
どこの位置でも常に真円となるため光軸方向のずれの影
響を全く受けなくなり、これにより、光軸方向のずれに
対してフォーカスエラー信号にオフセット分が含まれる
ようなことをなくすことができる。
れた光を集光レンズに通過させることにより得られた光
は、合焦時においてはそのビーム断面形状が光軸方向の
どこの位置でも常に真円となるため光軸方向のずれの影
響を全く受けなくなり、これにより、光軸方向のずれに
対してフォーカスエラー信号にオフセット分が含まれる
ようなことをなくすことができる。
実施例
本発明の一実施例を第１図ないし第５図に基づいて説明
する。まず、第１図に基づいて焦点位置検出装置を含む
光情報記録再生装置の全体構成について述べる。レーザ
光源としての半導体レーザ９から出射された光は、カッ
プリングレンズ１０により平行化された後、ビーム整形
プリズム１１によりビーム整形され、ビームスプリッタ
１２を透過して偏向プリズム１３により偏向され、対物
レンズ１４により集光され、光情報記録媒体としての光
磁気ディスク１５の表面に照射され、これにより情報の
記録等が行われる。また、その光磁気ディスク１５から
の反射光は、対物レンズ１４、偏向プリズム１３を順次
介して、前記ビームスプリッタ１２により反射され信号
検出光学系１６内に導かれる。
する。まず、第１図に基づいて焦点位置検出装置を含む
光情報記録再生装置の全体構成について述べる。レーザ
光源としての半導体レーザ９から出射された光は、カッ
プリングレンズ１０により平行化された後、ビーム整形
プリズム１１によりビーム整形され、ビームスプリッタ
１２を透過して偏向プリズム１３により偏向され、対物
レンズ１４により集光され、光情報記録媒体としての光
磁気ディスク１５の表面に照射され、これにより情報の
記録等が行われる。また、その光磁気ディスク１５から
の反射光は、対物レンズ１４、偏向プリズム１３を順次
介して、前記ビームスプリッタ１２により反射され信号
検出光学系１６内に導かれる。
この信号検出光学系１６内では、ビームスプリッタ１２
により反射された光磁気ディスク１５からの反射光がλ
／２板１７を通過した光路上には。
により反射された光磁気ディスク１５からの反射光がλ
／２板１７を通過した光路上には。
一方向角度変位発生部材としてのプリズム１８が配設さ
れている。このプリズム１８は焦点ずれに伴う反射光の
角度変位を一方向のみに発生させる働きがある。このプ
リズム１８により一方向に変位された光路上には光路分
離部材としての偏光ビームスプリッタ１９が配設されて
いる。この偏光ビームスプリッタ１９により反射された
光路上には集光レンズ２０が配設され、この集光レンズ
２０により形成される集光点Ｐの前方の光路上にはフォ
ーカス受光素子２１が配設されている。また、偏光ビー
ムスプリッタ１９を透過した光路上には集光レンズ２２
が配設され、この集光レンズ２２により形成される集光
点Ｐの後方の光路上にはフォーカス受光素子２３が配設
されている。また、前記プリズム１８と前記偏光ビーム
スプリッタ１９との間の光路上には、アパーチャ２４が
配設されている。この場合、前記偏光ビームスプリッタ
１９と、集光レンズ２０．２２と、フォーカス受光素子
２１．２３と、アパーチャ２４とは、フォーカスエラー
信号検出手段２５を構成している。
れている。このプリズム１８は焦点ずれに伴う反射光の
角度変位を一方向のみに発生させる働きがある。このプ
リズム１８により一方向に変位された光路上には光路分
離部材としての偏光ビームスプリッタ１９が配設されて
いる。この偏光ビームスプリッタ１９により反射された
光路上には集光レンズ２０が配設され、この集光レンズ
２０により形成される集光点Ｐの前方の光路上にはフォ
ーカス受光素子２１が配設されている。また、偏光ビー
ムスプリッタ１９を透過した光路上には集光レンズ２２
が配設され、この集光レンズ２２により形成される集光
点Ｐの後方の光路上にはフォーカス受光素子２３が配設
されている。また、前記プリズム１８と前記偏光ビーム
スプリッタ１９との間の光路上には、アパーチャ２４が
配設されている。この場合、前記偏光ビームスプリッタ
１９と、集光レンズ２０．２２と、フォーカス受光素子
２１．２３と、アパーチャ２４とは、フォーカスエラー
信号検出手段２５を構成している。
このような構成において、プリズム１８の働きを順を追
っ、て述べる。今、第２図に示すように頂角ψ、のプリ
ズム１８があると、このプリズム１８は、周知のように
、 ｎ：屈折率 なる倍率のビーム整形作用をもつ。
っ、て述べる。今、第２図に示すように頂角ψ、のプリ
ズム１８があると、このプリズム１８は、周知のように
、 ｎ：屈折率 なる倍率のビーム整形作用をもつ。
この時、同時に角度も変化し、第２図におけるθ、と０
２との間には、θ１．θ２が微小な場合、θ、″：ＭＯ
３・・・（３） なる関係が成り立つ。
２との間には、θ１．θ２が微小な場合、θ、″：ＭＯ
３・・・（３） なる関係が成り立つ。
そこで、今、第２図に示すように、対物レンズ１４によ
り光磁気ディスク１５面に照射される光スポットの位置
がずれる、いわゆる、フォーカスずれが発生した場合に
ついて考える。このフォーカスずれが生じると、再帰光
路中では、ある角度θ、なる光線の角度ずれが起る。そ
のθ、が微小ならば、その光線の光軸２６からの距離を
ｒｌ とすると、θ、：ｋｒ、の関係が成り立つ。そ
して、この光線がプリズム１８を透過した後には、（３
）式のθ、＝Ｍθ、となることは前述より明らかである
が、これと同時にビーム整形されるので、プリズム１８
を透過後の光軸２６からの距離は、ｒ、 ＃
ｒ、 ・・・（４）となる。すなわち、ｒ＝ｒ、
の位置で角度θ、＝Ｍθ、となる。
り光磁気ディスク１５面に照射される光スポットの位置
がずれる、いわゆる、フォーカスずれが発生した場合に
ついて考える。このフォーカスずれが生じると、再帰光
路中では、ある角度θ、なる光線の角度ずれが起る。そ
のθ、が微小ならば、その光線の光軸２６からの距離を
ｒｌ とすると、θ、：ｋｒ、の関係が成り立つ。そ
して、この光線がプリズム１８を透過した後には、（３
）式のθ、＝Ｍθ、となることは前述より明らかである
が、これと同時にビーム整形されるので、プリズム１８
を透過後の光軸２６からの距離は、ｒ、 ＃
ｒ、 ・・・（４）となる。すなわち、ｒ＝ｒ、
の位置で角度θ、＝Ｍθ、となる。
一方、プリズム１８がビーム整形作用をもたない方向（
紙面に垂直な方向）では、角度θ、及び光軸２６からの
距離ｒ、はそのまま維持される。
紙面に垂直な方向）では、角度θ、及び光軸２６からの
距離ｒ、はそのまま維持される。
すなわち、ｒ＝ｒ、の位置で角度θ、だからｒ＝ｒ、＝
ｒ、／Ｍの位置ではθａ＝θ、／Ｍとなる。
ｒ、／Ｍの位置ではθａ＝θ、／Ｍとなる。
従って、プリズム１８を透過後の両方向の光線角度を光
軸２６からの距離の等しいところで比べると、 θ□：θａ ＝ Ｍニー ＝＝ Ｍ”θ１：０１となり
、すなわち、プリズム１８は実質的にＭ８倍の角度拡大
作用をもつことになる。
軸２６からの距離の等しいところで比べると、 θ□：θａ ＝ Ｍニー ＝＝ Ｍ”θ１：０１となり
、すなわち、プリズム１８は実質的にＭ８倍の角度拡大
作用をもつことになる。
従って、このような光線が集光レンズ１４に入射すると
、合焦時の場合には、第５図（ｂ）に示すように集光レ
ンズ１４を透過後のビーム断面形状は常に真円２７とな
り、また、焦点ずれが生じると、第５図（ａ）（ｃ）に
示すようにビーム断面形状は楕円２８となる。この場合
、その楕円２８のビームは、長軸、短軸が前ビン（ａ）
、後ビン（ｃ）で逆転する位置、例えば、第５図中、Ａ
。
、合焦時の場合には、第５図（ｂ）に示すように集光レ
ンズ１４を透過後のビーム断面形状は常に真円２７とな
り、また、焦点ずれが生じると、第５図（ａ）（ｃ）に
示すようにビーム断面形状は楕円２８となる。この場合
、その楕円２８のビームは、長軸、短軸が前ビン（ａ）
、後ビン（ｃ）で逆転する位置、例えば、第５図中、Ａ
。
Ｂの位置ができる。そこで、第４図に示すように、Ａの
位置に４分割された受光面ａ、、 ａ□、ａ、。
位置に４分割された受光面ａ、、 ａ□、ａ、。
ａ４を有するフォーカス受光素子２１を配置し、また、
そのＢの位置に４分割された受光面ｂ ｌ ｌｂ、、
ｂ、、 ｂ４を有するフォーカス受光素子２３を配
置することによって、 第４図（ａ）の前ビンの位置では、 ａ 、 十ａ ｓ ＜ ａ ｘ ＋ａ ４ｂ、十す、＞
ｂ、十ｂ４ となり、 第４図（ｂ）の合焦点の位置では、 ａ、＋ａ、＝ａ、＋ａ４ ｂ、 十す、＝ｂ、十ｂ４ となり、 第４図（ｃ）の後ビンの位置では、 ａ、＋ａ、＞ａ、＋ａ。
そのＢの位置に４分割された受光面ｂ ｌ ｌｂ、、
ｂ、、 ｂ４を有するフォーカス受光素子２３を配
置することによって、 第４図（ａ）の前ビンの位置では、 ａ 、 十ａ ｓ ＜ ａ ｘ ＋ａ ４ｂ、十す、＞
ｂ、十ｂ４ となり、 第４図（ｂ）の合焦点の位置では、 ａ、＋ａ、＝ａ、＋ａ４ ｂ、 十す、＝ｂ、十ｂ４ となり、 第４図（ｃ）の後ビンの位置では、 ａ、＋ａ、＞ａ、＋ａ。
ｂ、十す、＜ｂ、十ｂ４
となる。
これにより、フォーカス受光素子２１．２３によりそれ
ぞれ検出される各フォーカスエラー信号の値をＦａ、Ｆ
ｂとすると、 Ｆ ａ ＝ （ａ、 十ａｓ） （ａｔ 十ａｍ）
Ｆｂ＝ （ｂ、十す、）−（ｂ、十ｂ４）となる。
ぞれ検出される各フォーカスエラー信号の値をＦａ、Ｆ
ｂとすると、 Ｆ ａ ＝ （ａ、 十ａｓ） （ａｔ 十ａｍ）
Ｆｂ＝ （ｂ、十す、）−（ｂ、十ｂ４）となる。
これらＦａ、ＦｂＯ差分を求めると、
Ｆ○＝Ｆａ−Ｆｂ
＝（ａ＋＋ａｓ）−（ａｍ＋ａｊ−（ｂ、＋ｂ、）＋（
ｂ、＋ｂ、）・・・ （５） となり、これにより最終的に求めようとするフォーカス
エラー信号ＦＯの値を知ることができる。
ｂ、＋ｂ、）・・・ （５） となり、これにより最終的に求めようとするフォーカス
エラー信号ＦＯの値を知ることができる。
上述したように、一方向のみの角度変位を発生させるプ
リズム１８を用い集光レンズ２０．２２により集光され
た集光点Ｐの前後の位置でフォーカスエラー信号Ｆｏを
検出することによって、第５図（ｂ）に示すように合焦
時にはビーム断面形状はその先軸方向のどこの位置でも
常に真円となるため、これにより、光軸方向の位置ずれ
が発生したような場合でもフォーカスエラー信号Ｆｏに
オフセットが含まれないものとなるので正確な信号検出
を行うことが可能となる。
リズム１８を用い集光レンズ２０．２２により集光され
た集光点Ｐの前後の位置でフォーカスエラー信号Ｆｏを
検出することによって、第５図（ｂ）に示すように合焦
時にはビーム断面形状はその先軸方向のどこの位置でも
常に真円となるため、これにより、光軸方向の位置ずれ
が発生したような場合でもフォーカスエラー信号Ｆｏに
オフセットが含まれないものとなるので正確な信号検出
を行うことが可能となる。
なお、光磁気信号の検出に関しては、従来一般的に行わ
れている検出方法により求めることができるが１本実施
例におけるフォーカス受光素子２１．２３をそのまま用
いても検出することは可能である。すなわち、第１図の
構成において、光磁気信号Ｍｏを検出する場合には、 Ｍｏ＝（ａ、＋ａ、十ａ、十ａ４）−（ｂ、＋ｂ、＋ｂ
、＋ｂ４）・・・（６） により求めることができる。
れている検出方法により求めることができるが１本実施
例におけるフォーカス受光素子２１．２３をそのまま用
いても検出することは可能である。すなわち、第１図の
構成において、光磁気信号Ｍｏを検出する場合には、 Ｍｏ＝（ａ、＋ａ、十ａ、十ａ４）−（ｂ、＋ｂ、＋ｂ
、＋ｂ４）・・・（６） により求めることができる。
次に、本発明の変形例について述べる。前述した実施例
では、フォーカスエラー信号Ｆｏを検出するために、第
１図に示したように集光レンズ２０．２２の手前にアパ
ーチャ２４を配置させ、これによりビーム断面形状を真
円となるようにしたが、ここではそのようなアパーチャ
２４を用いずに信号検出を行うものである。すなわち、
第６図に示すように、プリズム１８と集光レンズ２０゜
２２との間にアパーチャ２４を置かないような構成とす
ることによって、プリズム１８のビーム整形作用により
合焦時（ｂ）におけるビーム断面形状は楕円となる。し
かし、その合焦時における楕円率は常に一定であるため
、フォーカス受光素子２１．２３の分割線傾きＸ ／
Ｙ ＝ ｍとなるように予め設定しておくことにより前
述した実施例と同様な効果を得ることができる。
では、フォーカスエラー信号Ｆｏを検出するために、第
１図に示したように集光レンズ２０．２２の手前にアパ
ーチャ２４を配置させ、これによりビーム断面形状を真
円となるようにしたが、ここではそのようなアパーチャ
２４を用いずに信号検出を行うものである。すなわち、
第６図に示すように、プリズム１８と集光レンズ２０゜
２２との間にアパーチャ２４を置かないような構成とす
ることによって、プリズム１８のビーム整形作用により
合焦時（ｂ）におけるビーム断面形状は楕円となる。し
かし、その合焦時における楕円率は常に一定であるため
、フォーカス受光素子２１．２３の分割線傾きＸ ／
Ｙ ＝ ｍとなるように予め設定しておくことにより前
述した実施例と同様な効果を得ることができる。
なお、本実施例では、集光レンズ２０，２２．は。
偏光ビームスプリッタ１９の後段に位置して配設されて
いるがこのような配置に限るものではなく、例えば、こ
れらの部品を入れかえて集光レンズを共通化して用いる
ことは可能である。また、光磁気検出を行わない場合に
は、偏光ビームスプリッタ１９の代わりにハーフプリズ
ムを用いることができ、また、この場合にはλ／２板も
不要となる。
いるがこのような配置に限るものではなく、例えば、こ
れらの部品を入れかえて集光レンズを共通化して用いる
ことは可能である。また、光磁気検出を行わない場合に
は、偏光ビームスプリッタ１９の代わりにハーフプリズ
ムを用いることができ、また、この場合にはλ／２板も
不要となる。
発明の効果
請求項１記載の発明は、光情報記録媒体からの反射光が
信号検出光学系に導かれた光路上に焦点ずれに伴う反射
光の角度変位を一方向のみに発生させる一方向角度変位
発生部材を配設し、この一方向角度変位発生部材により
一方向に変位された反射光を集光レンズに通過させその
集光点の前後の位置の光量差を検出するフォーカスエラ
ー信号検出手段を設けたので、一方向角度変位発生部材
により一方向に変位された光を集光レンズに通過させる
ことにより得られた光は、合焦時においてはそのビーム
断面形状が光軸方向のどこの位置でも常に真円となるた
め光軸方向のずれの影響を全く受けなくなり、これによ
り、光軸方向のずれに対してフォーカスエラー信号にオ
フセット分が含まれるようなことがなくなるため正確な
信号検出を行うことが可能となるものである。
信号検出光学系に導かれた光路上に焦点ずれに伴う反射
光の角度変位を一方向のみに発生させる一方向角度変位
発生部材を配設し、この一方向角度変位発生部材により
一方向に変位された反射光を集光レンズに通過させその
集光点の前後の位置の光量差を検出するフォーカスエラ
ー信号検出手段を設けたので、一方向角度変位発生部材
により一方向に変位された光を集光レンズに通過させる
ことにより得られた光は、合焦時においてはそのビーム
断面形状が光軸方向のどこの位置でも常に真円となるた
め光軸方向のずれの影響を全く受けなくなり、これによ
り、光軸方向のずれに対してフォーカスエラー信号にオ
フセット分が含まれるようなことがなくなるため正確な
信号検出を行うことが可能となるものである。
また、請求項２記載の発明は、光情報記録媒体からの反
射光が信号検出光学系に導かれた光路上に焦点ずれに伴
う反射光の角度変位を一方向のみに発生させる一方向角
度変位発生部材を配設し、この一方向角度変位発生部材
により一方向に変位された反射光の光路上に光路分離部
材を配設し、この光路分離部材により２分割された各々
の光路上に集光レンズを配設し、その一方の集光レンズ
により形成される集光点の前方の光路上にフォーカス受
光素子を配設し、その他方の集光レンズにより形成され
る集光点の後方の光路上にフォーカス受光素子を配設し
たので、一方向角度変位発生部材により一方向に変位さ
れた光を集光レンズに通過させることにより得られた光
は、合焦時においてはそのビーム断面形状が光軸方向の
どこの位置でも常に真円となるため光軸方向のずれの影
響を全く受けなくなり、これにより、光軸方向のずれに
対してフォーカスエラー信号にオフセット分が含まれる
ようなことがなくなるため正確な信号検出を行うことが
可能となるものである。
射光が信号検出光学系に導かれた光路上に焦点ずれに伴
う反射光の角度変位を一方向のみに発生させる一方向角
度変位発生部材を配設し、この一方向角度変位発生部材
により一方向に変位された反射光の光路上に光路分離部
材を配設し、この光路分離部材により２分割された各々
の光路上に集光レンズを配設し、その一方の集光レンズ
により形成される集光点の前方の光路上にフォーカス受
光素子を配設し、その他方の集光レンズにより形成され
る集光点の後方の光路上にフォーカス受光素子を配設し
たので、一方向角度変位発生部材により一方向に変位さ
れた光を集光レンズに通過させることにより得られた光
は、合焦時においてはそのビーム断面形状が光軸方向の
どこの位置でも常に真円となるため光軸方向のずれの影
響を全く受けなくなり、これにより、光軸方向のずれに
対してフォーカスエラー信号にオフセット分が含まれる
ようなことがなくなるため正確な信号検出を行うことが
可能となるものである。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図、第２図及び第
３図はプリズムの働きについて述べる説明図、第４図は
集光点の前後の位置にフォーカス受光素子を配設した場
合の様子を示す説明図、第５図は集光点の前後の位置で
のビーム断面形状を示す説明図、第６図は本発明の変形
例でありアパーチャを用いない場合における集光点の前
後の位置でのビーム断面形状を示す説明図、第７図は従
来例を示す構成図、第８図はその信号検出光学系の様子
を示す斜視図、第９図はその光路上で非点収差の発生し
たビーム断面形状の変化の様子を示す説明図である。 ９・・・レーザ光源、１４・・・対物レンズ、１５・・
・光情報記＃媒体、１６・・・信号検出光学系、１８・
・・一方向角度変位発生部材、１９・・・光路分離部材
、２０・・・集光レンズ、２１・・・フォーカス受光素
子、２２・・・集光レンズ、２３・・・フォーカス受光
素子、２５・・・フォーカスエラー信号検出光学系、Ｐ
・・・集光点 出 願 人 株式会社 リ コ ３３図 」ご Ｊ 図 、％ は図 （Ａ側） （Ｂ＠） −あ 図 ３ ８図 図
３図はプリズムの働きについて述べる説明図、第４図は
集光点の前後の位置にフォーカス受光素子を配設した場
合の様子を示す説明図、第５図は集光点の前後の位置で
のビーム断面形状を示す説明図、第６図は本発明の変形
例でありアパーチャを用いない場合における集光点の前
後の位置でのビーム断面形状を示す説明図、第７図は従
来例を示す構成図、第８図はその信号検出光学系の様子
を示す斜視図、第９図はその光路上で非点収差の発生し
たビーム断面形状の変化の様子を示す説明図である。 ９・・・レーザ光源、１４・・・対物レンズ、１５・・
・光情報記＃媒体、１６・・・信号検出光学系、１８・
・・一方向角度変位発生部材、１９・・・光路分離部材
、２０・・・集光レンズ、２１・・・フォーカス受光素
子、２２・・・集光レンズ、２３・・・フォーカス受光
素子、２５・・・フォーカスエラー信号検出光学系、Ｐ
・・・集光点 出 願 人 株式会社 リ コ ３３図 」ご Ｊ 図 、％ は図 （Ａ側） （Ｂ＠） −あ 図 ３ ８図 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、レーザ光源より出射された光を対物レンズにより集
光して光情報記録媒体に照射することにより情報の記録
や再生を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光
を信号検出光学系に導き情報の再生やフォーカスエラー
信号等の検出を行う光情報記録再生装置において、前記
光情報記録媒体からの反射光が前記信号検出光学系に導
かれた光路上に焦点ずれに伴う前記反射光の角度変位を
一方向のみに発生させる一方向角度変位発生部材を配設
し、この一方向角度変位発生部材により一方向に変位さ
れた前記反射光を集光レンズに通過させその集光点の前
後の位置の光量差を検出するフォーカスエラー信号検出
手段を設けたことを特徴とする焦点位置検出装置。 ２、レーザ光源より出射された光を対物レンズにより集
光して光情報記録媒体に照射することにより情報の記録
や再生を行うと共に、その光情報記録媒体からの反射光
を信号検出光学系に導き情報の再生やフォーカスエラー
信号等の検出を行う光情報記録再生装置において、前記
光情報記録媒体からの反射光が前記信号検出光学系に導
かれた光路上に焦点ずれに伴う前記反射光の角度変位を
一方向のみに発生させる一方向角度変位発生部材を配設
し、この一方向角度変位発生部材により一方向に変位さ
れた前記反射光の光路上に光路分離部材を配設し、この
光路分離部材により２分割された各々の光路上に集光レ
ンズを配設し、その一方の集光レンズにより形成される
集光点の前方の光路上にフォーカス受光素子を配設し、
その他方の集光レンズにより形成される集光点の後方の
光路上にフォーカス受光素子を配設したことを特徴とす
る焦点位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9562290A JPH03292638A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | 焦点位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9562290A JPH03292638A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | 焦点位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03292638A true JPH03292638A (ja) | 1991-12-24 |
Family
ID=14142636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9562290A Pending JPH03292638A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | 焦点位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03292638A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1637912A2 (en) | 2004-08-26 | 2006-03-22 | Fujinon Corporation | Automatic focusing system |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61113137A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-31 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
| JPH01260636A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-17 | Konica Corp | 焦点検出方法 |
-
1990
- 1990-04-11 JP JP9562290A patent/JPH03292638A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61113137A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-31 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
| JPH01260636A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-17 | Konica Corp | 焦点検出方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1637912A2 (en) | 2004-08-26 | 2006-03-22 | Fujinon Corporation | Automatic focusing system |
| EP1637912A3 (en) * | 2004-08-26 | 2006-06-07 | Fujinon Corporation | Automatic focusing system |
| US7570299B2 (en) | 2004-08-26 | 2009-08-04 | Fujinon Corporation | Automatic focusing system |
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