JPH03293558A - 拡散接合法による超音波探傷用標準試験片の作製方法 - Google Patents
拡散接合法による超音波探傷用標準試験片の作製方法Info
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- JPH03293558A JPH03293558A JP2093865A JP9386590A JPH03293558A JP H03293558 A JPH03293558 A JP H03293558A JP 2093865 A JP2093865 A JP 2093865A JP 9386590 A JP9386590 A JP 9386590A JP H03293558 A JPH03293558 A JP H03293558A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は接合部幅の狭い接合部品質評価を行なう拡散接
合法による超音波探傷用標準試験片作製方法に関するも
のである。
合法による超音波探傷用標準試験片作製方法に関するも
のである。
（従来の技術）
従来の超音波探傷用のＡＳＴＭ標準試験片１は第４図に
示す如く直径約５０肛で、その中央部に種々な深さの各
種サイズの欠陥２を有していた。そこでこの標準試験片
１で製品接合部の欠陥を探傷する場合に製品接合部位置
と標準試験片の欠陥深さが一致しないと、その付近の欠
陥深さの試験片で目的とする欠陥深さに対する検量線を
作ったりしていた。しかしこの場合でもＡＳＴＭ標準試
験片と製品との金属組織の差による超音波透過能の差に
より製品の接合部欠陥が検出されなかったり、また幅の
狭い接合部に含まれる欠陥が検出できないという欠点が
あった。
示す如く直径約５０肛で、その中央部に種々な深さの各
種サイズの欠陥２を有していた。そこでこの標準試験片
１で製品接合部の欠陥を探傷する場合に製品接合部位置
と標準試験片の欠陥深さが一致しないと、その付近の欠
陥深さの試験片で目的とする欠陥深さに対する検量線を
作ったりしていた。しかしこの場合でもＡＳＴＭ標準試
験片と製品との金属組織の差による超音波透過能の差に
より製品の接合部欠陥が検出されなかったり、また幅の
狭い接合部に含まれる欠陥が検出できないという欠点が
あった。
（発明が解決しようとする課題）
前記従来方法では、製品と標準試験片間で金ＫＭｉ織や
欠陥位置が異なる場合、拡散接合部幅が狭い製品の接合
品質評価は困難であった。
欠陥位置が異なる場合、拡散接合部幅が狭い製品の接合
品質評価は困難であった。
本発明は前記従来の欠点を排除して、拡散接合部幅が狭
くても接合部品質評価ができる標準試験片作製方法を提
供せんとするものである。
くても接合部品質評価ができる標準試験片作製方法を提
供せんとするものである。
（課題を解決するための手段）
このため本発明は、拡散接合部の幅が狭い製品の接合品
質評価を可能とする方法であって、１つの標準試験片に
数種類の欠陥を有する製品と幅が同じ試験片を拡散接合
法により作製し、同拡散接合法により作製した標準試験
片の材料は製品と同一として標準試験片と製品との超音
波透過能を同じとしてなるもので、これを課題解決のた
めの手段とするものである。
質評価を可能とする方法であって、１つの標準試験片に
数種類の欠陥を有する製品と幅が同じ試験片を拡散接合
法により作製し、同拡散接合法により作製した標準試験
片の材料は製品と同一として標準試験片と製品との超音
波透過能を同じとしてなるもので、これを課題解決のた
めの手段とするものである。
（作用）
拡散接合部欠陥評価用の標準試験片として、製品と同一
金属組織と同一接合幅を有するものを作製することによ
り、従来のＡＳＴＭ標準試験片使用時よりも欠陥検出精
度が改善され、拡散接合部の品質信頼性の向上を図るこ
とができる。
金属組織と同一接合幅を有するものを作製することによ
り、従来のＡＳＴＭ標準試験片使用時よりも欠陥検出精
度が改善され、拡散接合部の品質信頼性の向上を図るこ
とができる。
（実施例）
以下本発明の実施例を図面について説明すると、第１図
〜第３図は材質がＴｉ−６Ａ１４Ｖ に対する実施例を
示し、第１図は拡散接合前に、片方の接合片３に機械加
工で欠陥サイズの異なる各種接合欠陥４を故意に加工し
た場合を示し、二の接合片の材料は製品と同一とした場
合であり、同接合片３と同一サイズの欠陥のないものを
接合する。
〜第３図は材質がＴｉ−６Ａ１４Ｖ に対する実施例を
示し、第１図は拡散接合前に、片方の接合片３に機械加
工で欠陥サイズの異なる各種接合欠陥４を故意に加工し
た場合を示し、二の接合片の材料は製品と同一とした場
合であり、同接合片３と同一サイズの欠陥のないものを
接合する。
第２図は拡散接合後の標準試験片５の外観を示す。なお
、この試験片５の拡散接合部６は製品と同一接合条件（
９００″Ｃ１０，３ｋｇ／ｍ、２Ｈｒ加圧、１０−５ｍ
ｍＨｇ）とした。
、この試験片５の拡散接合部６は製品と同一接合条件（
９００″Ｃ１０，３ｋｇ／ｍ、２Ｈｒ加圧、１０−５ｍ
ｍＨｇ）とした。
第３図は機械加工及びワイヤカット等の加工法により拡
散接合部７の幅を製品と同じにした超音波探傷用標準試
験片８の外観を示す。加工により除去した試験片を研磨
し、光学顕微鏡観察をすることにより欠陥サイズの実体
を把握することができる。以上の実施例はＴｉ −６Ａ
Ｉ−４Ｖを対象としたが、本発明は拡散接合が可能な全
ての材料の接合欠陥検出に適用できる。
散接合部７の幅を製品と同じにした超音波探傷用標準試
験片８の外観を示す。加工により除去した試験片を研磨
し、光学顕微鏡観察をすることにより欠陥サイズの実体
を把握することができる。以上の実施例はＴｉ −６Ａ
Ｉ−４Ｖを対象としたが、本発明は拡散接合が可能な全
ての材料の接合欠陥検出に適用できる。
（発明の効果）
以上詳細に説明した如く本発明は構成されており、製品
と同一材料を用いることにより標準試験片の超音波透過
能が製品と同じとなるため、製品と同一接合幅を有する
標準試験片の表面エコー及び底面エコーと欠陥エコー間
のノイズを除去し、欠陥エコーだけを抽出するような超
音波探傷条件を設定し、その条件で製品の超音波探傷を
実施することにより、製品接合部に欠陥が存在する場合
は欠陥が検出できる。
と同一材料を用いることにより標準試験片の超音波透過
能が製品と同じとなるため、製品と同一接合幅を有する
標準試験片の表面エコー及び底面エコーと欠陥エコー間
のノイズを除去し、欠陥エコーだけを抽出するような超
音波探傷条件を設定し、その条件で製品の超音波探傷を
実施することにより、製品接合部に欠陥が存在する場合
は欠陥が検出できる。
第１図（ａ）は本発明の実施例に係る拡散接合前の接合
片の平面図、第１図（ｂ）は第１図（ａ）のＡ〜Ａ断面
図、第２図（ａ）は拡散接合後の標準試験片を示す正面
図、第２図ｂ）は第２図（ａ）の平面図、第３図（ａ）
は接合部幅を製品と同一に加工した標準試験片を示す正
面図、第３図Φ）は第３図（ａ）の平面図、第４図（ａ
）は従来の標準試験片を示す正面図、第４図（ｂ）は第
４図（ａ）の平面図である。 図の主要部分の説明 ３−接合片 ４−・−接合欠陥５−試験片 ６−・・拡散接合部 ７−拡散接合部 ８−試験片
片の平面図、第１図（ｂ）は第１図（ａ）のＡ〜Ａ断面
図、第２図（ａ）は拡散接合後の標準試験片を示す正面
図、第２図ｂ）は第２図（ａ）の平面図、第３図（ａ）
は接合部幅を製品と同一に加工した標準試験片を示す正
面図、第３図Φ）は第３図（ａ）の平面図、第４図（ａ
）は従来の標準試験片を示す正面図、第４図（ｂ）は第
４図（ａ）の平面図である。 図の主要部分の説明 ３−接合片 ４−・−接合欠陥５−試験片 ６−・・拡散接合部 ７−拡散接合部 ８−試験片
Claims (1)
- 拡散接合部の幅が狭い製品の接合品質評価を可能とする
方法であって、１つの標準試験片に数種類の欠陥を有す
る製品と幅が同じ試験片を拡散接合法により作製し、同
拡散接合法により作製した標準試験片の材料は製品と同
一として標準試験片と製品との超音波透過能を同じとし
てなることを特徴とする拡散接合法による超音波探傷用
標準試験片の作製方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2093865A JPH03293558A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | 拡散接合法による超音波探傷用標準試験片の作製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2093865A JPH03293558A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | 拡散接合法による超音波探傷用標準試験片の作製方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03293558A true JPH03293558A (ja) | 1991-12-25 |
Family
ID=14094343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2093865A Pending JPH03293558A (ja) | 1990-04-11 | 1990-04-11 | 拡散接合法による超音波探傷用標準試験片の作製方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03293558A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005078428A1 (ja) * | 2004-02-17 | 2005-08-25 | Masao Yoshida | キズ検査用基準ゲージの製造方法 |
-
1990
- 1990-04-11 JP JP2093865A patent/JPH03293558A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005078428A1 (ja) * | 2004-02-17 | 2005-08-25 | Masao Yoshida | キズ検査用基準ゲージの製造方法 |
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