JPH0330752A - 生体眼の寸法測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、生体眼の第１測定対象面から第２測定対象面
までの距離としての眼軸長、前房深さ、水晶体厚さ等を
非接触で測定することのできる生体眼の寸法測定装置の
改良に関する。

（従来の技術） 従来から、生体眼の第１測定対象面から第２測定対象面
までの距離としての眼軸長、前房深さ・水晶体厚さ等を
測定する生体眼の寸法測定装置としては、超音波を用い
て眼の前方から投射した超音波の角膜前面、水晶体前面
、水晶体後面、眼底表面における反射波をブラウン管上
に描き出し、そのブラウン管上に描き出されたエコーダ
ラムを撮影して計測するものが知られている。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、この従来の生体眼の寸法測定装置は、測
定精度が±０．　２＋ａｍ程度であり、たとえば、測定
の結果得られた眼軸長を用いてＩ　ＯＬ　（Ｉｎｔｒａ
−ｏｃｕｌａｒ　Ｌｅｎｓ）のパワーを決定するには、
その眼軸長の測定精度が不十分であるという問題点があ
る。

また、この従来の超音波による生体眼の寸法測定装置は
、測定に際して生体眼にプローブを接触させなければな
らないために、感染等の予防措置を構じなければならな
いという面倒もある。

そこで、近年、干渉縞を観察することにより眼軸長、前
房深さ、水晶体厚さ等を非接触で測定することのできる
生体眼の寸法測定装置が提案されている。

第４図に示す生体眼の寸法測定装置は、眼軸長を測定す
るために用いる装置の一例を示すもので、Ａ、Ｆ、Ｆａ
ｒｃｈｅｒ　　ａｔ　　ａｌ、（ＯＦ丁ＩＣ３ＬＥＴＴ
ＥＲＶＯＬ、１３　　Ｎｏ。

３　ＰＰ、１８６−１８８　（Ｍａｒｃｈ　１９８８）
　０ｐｔｉｃａｌ　５ｏｃｉｅｔｙ　ｏｆＡｍｅｒｉｃ
ａ）に記載されている技術である。

この第４図に示す生体眼の寸法測定装置は、半導体レー
ザー１、コリメートレンズ２、二枚の平行平面板３．４
、ビームスプリッタ５、集光レンズ６、撮像カメラ７か
ら概略構成されている。半導体レーザー１から出射され
たレーザー光はコリメートレンズ２によって平行光束と
され、二枚の平行平面板３．４に導かれる。二枚の平行
平面板３．４を通過した平行光束（光束■という）はビ
ームスプリッタ５を介して生体眼８の眼底９に収束光と
して導かれ、眼底９で反射されて略平行光束（平面波）
として生体眼８から出射され、ビームスプリッタ５の反
射面１０によって集光レンズ６の存在する方向に反射さ
れ、集光レンズ６により集光されて撮像カメラ７に導か
れる。また、平行平面板３を通過した平行光束の一部は
平行平面板４により反射されて反射光束（光束■という
）は平行平面板３に戻り、この平行平面板３により再び
反射されて平行平面板４を通過し、ビームスプリッタ５
を通過して生体眼８の角膜１１に導かれる。

この角膜１１により反射された反射光は、発散光（球面
波）としてビームスプリッタ５に導かれ、その反射面１
０で集光レンズ６の存在する方向に反射され、集光レン
ズ６により集光されてカメラ７に導かれる。なお、第４
図において、１２は半導体レーザー１の光量モニター用
の受光センサである。

この従来のものにおいては、平行平面板３と平行平面板
４との距＠Ｓを可変とし、平行平面板３と平行平面板４
との間に存在する物質の屈折率をｎ、眼内物質の屈折率
をＮ、測定によって得られる眼軸長（角膜１１の頂点か
ら眼底９までの距１１）をＸとして、 ｎ　Ｉ　＝ＮＸ の等式を満足するように、平行平面板３と平行平面板４
との距離爺を調節すると、光束■と光束■とが等光路長
となり、カメラ７により干渉縞が観察される。

したがって、この干渉縞が観察されたときの平行平面板
■を測定値として得ることにより、眼軸長Ｘを求めるこ
とができる。

ところが、この干渉縞を観察することにより眼軸長を測
定する生体眼の寸法測定装置は、角膜表面からの反射光
束がほぼ球面波であるのに対して眼底面からの反射光束
がほぼ平面波であるので、角膜頂点から周辺部に離れる
に従って干渉縞の本数が非常に多くなり、測定精度が低
下する。また、このものは、集光レンズ６、カメラ７の
光軸を生体眼８に対して正確にアライメントしなければ
ならないのであるが、平行平面板３．４の可動を行いつ
つアライメントを行わなければならいので、このアライ
メントがきわめて面倒であるという問題点もある。

１！！明は上記の事情に鑑みて為されたもので、その目
的は、特定の光学部材を可動させなくとも非接触で生体
眼の第１測定対象面から第２測定対象面までの距離とし
ての眼軸長、前房深さ、水晶体厚さ等を測定できる生体
眼の寸法測定装置を提供することにある。

（課題を解決するための手段） 本発明の請求項１に記載の生体眼の寸法測定装置は、 可干渉光を生体眼に投光する投光手段と。

前記可干渉光の波長を変化させる波長変化手段と、 前記生体限の第１測定対象面からの反射光と前記生体眼
の第２測定対象面からの反射光とを干渉させて該第１測
定対象面からの反射光と該第２測定対象面からの反射光
との位相差に対応する干渉強度を検出すると共に、前記
可干渉光の波長変化に伴う前記反射光同士の干渉強度の
変化に基づき前記可干渉光の波長変化に対する前記反射
光同士の位相差の変化量を検出する可干渉光位相差変化
量検出手段と、 前記参照光位相差変化量検出手段に基づき前記生体眼の
第１測定対象面から第２測定対象面までの距離を演算す
る演算手段と、 を備えていることを特徴とする。

本発明の請求項２に記載の生体眼の寸法測定装置は、 上記の目的を達成するため、 可干渉光を生体眼に投光する投光手段と、前記可干渉光
の波長を変化させる波長変化手段前記可干渉光の一部針
分離して一組の参照光を生成し、該一組の参照光を干渉
させてその一組の参照光の位相差に対応する干渉強度を
検出すると共に、前記可干渉光の波長変化に伴う前記一
組の参照光の干渉強度の変化に基づき前記可干渉光の波
長変化に対する前記一組の参照光の位相差の変化量を検
出する参照光位相差変化量検出手段と、前記生体眼の第
１測定対象面からの反射光と前記生体眼の第２測定対象
面からの反射光とを干渉させて該第１測定対象面からの
反射光と該第２測定対象面からの反射光との位相差に対
応する干渉強度を検出すると共に、前記可干渉光の波長
変化に伴う前記反射光同士の干渉強度の変化に基づき前
記可干渉光の波長変化に対する前記反射光同士の位相差
の変化量を検出する可干渉光位相差変化量検出手段と、 前記参照光位相差変化量検出手段と前記可干渉光位相差
変化量検出手段とに基づき、前記生体眼の第１測定対象
面から第２測定対象面までの距離を演算する演算手段と
、 を備えていることを特徴とする。

（作用） 本発明の請求項１の生体眼の寸法測定装置によれば、可
干渉光の波長変化と反射光同士の位相差の変化量との間
に一定の関係があるので、演算手段により第１測定対象
面から第２測定対象面までの距離を求めることができる
。

本発明の請求項２の生体限の寸法測定装置によれば、投
光手段により可干渉光を生体眼に投光する。その可干渉
光の一部は分離されて、一組の参照光として用いられる
。この一組の参照光には位相差が与えられているため、
その位相差に対応する干渉強度が与えられる。ここで、
その可干渉光の波長を変化させると、その波長変化に伴
って干渉強度が変化する。従って、可干渉光の波長変化
に対する一組の参照光の位相差の変化量が検出される。

　　一方、可干渉光の波長を変化させると、第１測定対
象面からの反射光と第２測定対象面からの反射光との位
相差に対応する干渉強度も変化する。従って、可干渉光
の波長変化に対する反射光同士の位相差の変化量も検出
される。

可干渉光の波長変化に対する一組の参照光の位相差の変
化量と反射光同士の位相差の変化量との間には所定の関
係があるので、一組の参照光の位相差の変化量と反射光
同士の位相差の変化量とを測定すれば、第１測定対象面
から第２測定対象面までの距離を求めることができる。

本発明によれば、特定の光学部材を可動させて干渉縞を
検出しなくとも非接触で生体眼の第１測定対象面から第
２測定対象面までの距離としての眼軸長、前房深さ、水
晶体厚さ等を正確に測定できる。

（実施例） 第１図は本発明に係わる生体眼の寸法測定装置の第１実
施例を示す光学図であって、この第１図において、１３
は半導体レーザー　１４は半導体レーザー駆動回路であ
る。半導体レーザー１３は加熱冷却用板１５の一面側に
取り付けられ、加熱冷却用板１６の他面側にはベルチェ
効果形素子１６が取り付けられている。そのペルチェ効
果形素子１６は温度制御回路１７によって制御され、半
導体レーザー１３はそのペルチェ効果形素子１６の加熱
・冷却によってその温度が上昇・下降し、そのレーザー
光の発振波長が変化され、加熱冷却板１５とペルチェ効
果形索子１６と温度制御回路１７とは可干渉光の波長を
変化させる波長変化手段として機能する。なお、半導体
レーザー１３はモードジャンプを起こさない領域で使用
する。

その半導体レーザー１３から出射された可干渉光として
のレーザー光は、コリメータレンズ１８によって平行レ
ーザー光束とされ、絞り１９の開口２０を通過してハー
フミラ−２１に導かれる。ハーフミラ−２１を通過した
平行レーザー光束はビームスプリッタ２２に導かれ、ハ
ーフミラ−２１で反射された平行レーザー光束はハーフ
ミラ−２３に導かれる。

ビームスプリッタ２２は半導体レーザー１３と共に可干
渉光を生体眼に投光する投光手段として機能し、ビーム
スプリッタ２２に導かれた平行レーザー光束はその反射
面２４で生体眼２５に向けて反射される。そして、その
生体眼２５に向けて反射された平行レーザー光束の一部
は角膜２６の表面で反射されて球面反射光束となる。ま
た、残りの平行レーザー光束は角膜２６、水晶体２７を
通過して収束光として眼底２８に結像され、その眼底２
日で反射される。

眼底２８において反射された収束光は水晶体２７を通過
し、角膜２６から空気中に出射されるとき反射平行光束
となる。この反射平行光束と角膜２６の表面で反射され
た球面反射光束とはビームスプリッタ２２を通過して干
渉光束となって対物レンズ２９に導かれ、集光される。

ここでは、角膜２６の表面が第１測定対象面であり、眼
底２８が第２測定対象面である。生体眼２５に向けて反
射された反射光束は、角膜２６の表面、眼底２８で反射
される他、水晶体２７の前面、水晶体２７の後面でも反
射され、この水晶体２７の前面、後面からの反射光束も
対物レンズ２９に導かれる。

ハーフミラ−２１は、ハーフミラ−２３と共に可干渉光
の一部を分離して一組の参照光を生成する機能を有し、
ハーフミラ−２３に導かれた平行レーザ−光束の一部は
このハーフミラ−２３を通過して反射ミラー３０に導か
れ、その平行レーザー光束の残りはこのハーフミラ−２
３で反射されて反射ミラー３１に導かれる０反射ミラー
３０に導かれた平行レーザー光束と反射ミラー３１に導
かれた平行レーザー光束とは一組の参照光として再びハ
ーフミラ−２３に導かれて干渉光となり、受光器３２に
導かれる。

ここで、ハーフミラ−２３から反射ミラー３０までの幾
何学的距離を１１、ハーフミラ−２３から反射ミラー３
１までの幾何学的距離を２２とすると、一組の参照光の
光路差！は、＊　＝２（ｆ＋−Ｉｍ）である。

受光器３２にはこの先路差曾に基づく干渉強度を有する
干渉光束が受光され、半導体レーザー１３の波長を一定
にすると、この受光器３２の干渉信号の出力は一定であ
る。

温度制御回路１７により半導体レーザー１３の温度を変
化させると、レーザー光の波長が変化し、これによって
、受光器３２の干渉信号の出力が変化する。干渉信号は
増幅器３３により増幅されて第１メモリ３４に記憶され
る。ここに、受光！！３２、第１メモリ３４は、可干渉
光の波長変化に伴う一組の参照光の干渉強度の変化に基
づき可干渉光の波長変化に対する一組の参照光の位相差
の変化量を検出する参照光位相差変化量検出手段として
機能する。

一組の参照光の位相差は２πｇ／λであり、可干渉光の
波長の変化量をΔλとすると、可干渉光め波長変化後の
一組の参照光の位相差は、２π（倉／（λ＋Δλ））で
ある。

この式を変形すると、 ２π１（１＋Δλ／λ）−Ｉ／λとなる。

λ）Δλとすると、上記式は級数展開により、２π曹Δ
λ／λ２の式に近似でき、 可干渉光の波長変化後の一組の参照光の位相差は、 ２π（堂／λ−堂Δλ／λ８）となり、可干渉光の波長
変化に対する一組の参照光の位相差の変化量は、 ２π１Δλ／λ２となる。

従って、半導体レーザー１３の温度を変化させて、半導
体レーザー１３のレーザー光の波長λを変化させると、
波長λの変化に従って干渉光の強度が変化する信号波形
を得ることになる。

第１メモリ３４に記憶される信号波形は、単位時間当り
の温度変化に対して可干渉光の波長変化がリニアでない
ときには、周期が一定しないので（イ）に示すようにな
る。可干渉光の波長変化に対する一組の参照光の位相差
の変化量を検出するためには、安定した周期の信号波形
とする必要があるため、一組の参照光の干渉により信号
波形の単位時間当りの波形変化量を測定し、第２図（ロ
）に示すように周期的な波形を得る。

一方、対物レンズ２９により集光された反射光束同士は
干渉光束として受光器３５に導かれ、角膜２Ｂの表面か
ら眼底２８までの幾何学的距離を倉ヨ、生体眼２５の平
均屈折率をｎとすると、受光器３５には２ｎ１×に対応
する光路差に基づく干渉強度を有する干渉光束が受光さ
れる。この受光器３５における干渉強度は、可干渉光の
波長を一定に維持したとしても、拍動により眼軸長が変
化するため多少変動する。

レーザー光の波長を変化させると、受光器３５の出力が
変化し、この出力は干渉信号として増幅器３６により増
幅されて第２メモリ３７に入力される。

半導体レーザー１３の波長変化に対する反射光同士の位
相差の変化量は、一組の参照光の位相差の変化量を導い
たときと同様の数学的手順を踏んで、２πｎ（２１１，
１Δλ／λりとして求められる。

従って、受光器３５での位相差の変化量を？１、受光器
３２での位相差の変化量を９２とすると、！１＝２πｎ
（２１１にΔλ／λ２）・・・０重２＝２π（りΔλ／
λ２）　　　・・・■従って、Δλ／λ２を消去すると
、 ｌｘ＝’Ｐ＋！９／２ｎ’ｉ’＊　　　　　　　・・−
。

が得られ、受光器３５により得られた干渉信号の位相差
の変化量を測定により求めて、眼軸長９．を得ることが
できる。

ここで、第２メモリ３７に記憶される信号波形は、角膜
２６の表面からの反射光束と眼底２Ｂからの反射光束と
の干渉に基づく干渉成分の他、水晶体２７の前面からの
反射光束と角膜２Ｂの表面からの反射光束とに基づく干
渉成分、水晶体２７の後面からの反射光束と角膜２６の
表面からの反射光束とに基づく干渉成分、水晶体２７の
前面からの反射光束とその後面からの反射光束とに基づ
く干渉成分、眼底２８からの反射光束と水晶体２７の前
面からの反射光束に基づく干渉成分、その後面からの反
射光束と眼底２８からの反射光束とに基づく干渉成分が
含まれている。なお、第２メモリ３７に記憶される信号
波形も一定周期とならないときには、第１メモリ３４に
記憶される信号波形と同様の処理を行って一定周期とな
るように補正する。この他、一定周期に補正された第１
メモリ３４の信号波形を用いて第２メモリ３７に記憶さ
れる信号波形を補正することもできる。

眼軸長１１求める場合、角膜２６の表面からの反射光束
と眼底２８からの反射光束との干渉に基づく干渉成分以
外の干渉成分は雑音成分として機能し、第２メそり３７
に記憶される信号波形は、角ｌ１ｌＩ２６の表面からの
反射光束と眼底２８からの反射光束との干渉に基づく干
渉成分に雑音成分が合成された振幅、周期が異なる複雑
な合成波となる。

そこで、第２メモリ３７に記憶されている信号波形のス
ペクトル解析を行い、求めようとする眼軸長Ｑｘに対応
する反射光束同士の干渉成分を他の雑音成分から分離す
る。なお、温度制御回路１７、第１メモリ３４、第２メ
モリ３７、演算手段３９は可干渉光の波長変化に対する
一組の参照光の位相差変化量と生体眼２５かもの反射光
束同士の位相差変化量とを同時に得るため、同期制御回
路３８によって同期制御される。

演算手段３９は、フーリエ変換に基づき各干渉成分に対
応する周波数を求める機能を有し、式■、■から位相差
の変化量が大きい程周波数が高いこと明かであるから面
間距離が最も大きい眼軸長ｇ８に対する干渉成分の周波
数が最も高い、また、生体眼２５の眼球のおよその大き
さを仮定できるので、眼軸長以外のたとえば前房深さ、
水晶体厚さに基づく干渉成分の周波数もおよそ知ること
ができ、従って、これらの干渉成分を合成波形から雑音
成分として分離して眼軸長に基づく信号波形を得ること
ができる。

よって、対物レンズ四、受光器あ、第２メモリ３７は、
生体眼の第１測定対象面からの反射光とその生体眼の第
２７１１！定対象面からの反射光とを干渉させて第１測
定対象面からの反射光と第２測定対象面からの反射光と
の位相差に対応する干渉強度を検出すると共に、その可
干渉光の波長変化に伴う生体眼からの反射光同士の干渉
強度の変化に基づき可干渉光の波長変化に対する反射光
同士の位相差の変化量を検出する可干渉光位相差変化量
検出手段として機能し、演算手段３９は参照光位相差変
化量検出手段と可干渉光位相差変化量検出手段とに基づ
き、生体眼の第１測定対象面から第２測定対象面までの
距離を演算する作用を果たす。

第３図は本発明に係わる生体眼の寸法測定装置の第２実
施例を示す光学図であって、１個の受光器３６により眼
軸長の測定を行う構成としたものであり、半導体レーザ
ー１３から出射されたレーザー光の一部をビームスプリ
ッタ２２の反射面２４により分離してハーフミラ−２１
に向けて反射させ、一組の参照光を得ると共に、この一
組の参照光を生体１ＩＩ２５からの反射光束と共に対物
レンズ２９に導き集光して受光器３５によりその干渉強
度を検出する構成としたものである。

この実施例の場合、受光器３５の出力には、生体眼２５
からの反射光束同士の干渉に基づく干渉成分と一組の参
照光の干渉に基づく干渉成分とが含まれることになるが
、この干渉成分の識別は、光路差２ｇを光学的眼軸長２
９ｔよりも充分に大きくとっておけば、スペクトル解析
により行うことができる。

また、この実施例の場合には、一組の参照光の干渉によ
って得られる信号波形を用いて生体眼からの反射光の干
渉によって得られる信号波形を周期的波形に補正するこ
とが不可能であるので、単位時間当りの温度変化と波長
変化とがりニア−な関係を有する半導体レーザー１３を
用いるか、あるいは、温度変化と半導体レーザー１３の
発振波長との関係をあらかじめ調べておいてこの関係に
基づき信号波形を補正し、周期的な信号波形を得るよう
にする。

以上、各実施例においては、一組の参照光の位相差の変
化量を参考にして、眼軸長を求めることにしたが、レー
ザー光の波長をモニターできる場合には、■式において
、可干渉光の波長変化に対する生体銀からの反射光同士
の位相差の変化量を測定により検出し、波長λ、波長変
化量Δλをモニターにより測定すれば、一組の参照光の
位相差の変化量を参考にしなくとも眼軸長を求めること
ができる。また、可干渉光を発生させるものであれば、
半導体レーザー１３に限る必要もないことももちろんで
ある。

なお、生体銀２５に対する対物レンズ２９の上下左右方
向のアライメントは測定を開始する前に行うが、生体銀
２５に対する対物レンズ２９の光軸方向の距離調整を精
密に行う必要はない。

（効果） 本発明に係わる生体銀の寸法測定装置は、以上説明した
ように構成したので、特定の光学部材を可動させて干渉
縞を検出しなくとも非接触で生体銀の第１測定対象面か
ら第２測定対象面までの距離としての眼軸長、前房深さ
、水晶体厚さ等を正確に測定できるという効果を奏する
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係わる生体銀の寸法測定装置の第１実
施例を示す光学図、 第２図は第１図に示すメモリの信号波形の処理を説明す
るための図、 第３図は本発明に係わる生体銀の寸法測定装置の第２実
施例を示す光学図、 第４図は従来の生体銀の寸法測定装置の光学図、である
。 １３・・・半導体レーザー　　１６・・・ペルチェ効果
形素子、ｌフ・・・温度制御回路、　　　２１・・・ハ
ーフミラ−２２・・・ビームスプリッタ、２５・・・生
体銀、　　２６・・・角膜、２Ｂ・・・眼底、　　　　
　　　２９・・・対物レンズ、箕、３１・・・反射面、
　　　　３４・・・第１メモリ、３７・・・第２メモリ
、　　　　３９・・・演算手段。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）可干渉光を生体眼に投光する投光手段と、前記可
   干渉光の波長を変化させる波長変化手段と、 前記生体眼の第１測定対象面からの反射光と前記生体眼
   の第２測定対象面からの反射光とを干渉させて該第１測
   定対象面からの反射光と該第２測定対象面からの反射光
   との位相差に対応する干渉強度を検出すると共に、前記
   可干渉光の波長変化に伴う前記反射光同士の干渉強度の
   変化に基づき前記可干渉光の波長変化に対する前記反射
   光同士の位相差の変化量を検出する可干渉光位相差変化
   量検出手段と、 前記可干渉光位相差変化量検出手段に基づき前記生体眼
   の第１測定対象面から第２測定対象面までの距離を演算
   する演算手段と、 を備えていることを特徴とする生体眼の寸法測定装置。
2. （２）可干渉光を生体眼に投光する投光手段と、前記可
   干渉光の波長を変化させる波長変化手段と、 前記可干渉光の一部を分離して一組の参照光を生成し、
   該一組の参照光を干渉させてその一組の参照光の位相差
   に対応する干渉強度を検出すると共に、前記可干渉光の
   波長変化に伴う前記一組の参照光の干渉強度の変化に基
   づき前記可干渉光の波長変化に対する前記一組の参照光
   の位相差の変化量を検出する参照光位相差変化量検出手
   段と、前記生体眼の第１測定対象面からの反射光と前記
   生体眼の第２測定対象面からの反射光とを干渉させて該
   第１測定対象面からの反射光と該第２測定対象面からの
   反射光との位相差に対応する干渉強度を検出すると共に
   、前記可干渉光の波長変化に伴う前記反射光同士の干渉
   強度の変化に基づき前記可干渉光の波長変化に対する前
   記反射光同士の位相差の変化量を検出する可干渉光位相
   差変化量検出手段と、 前記参照光位相差変化量検出手段と前記可干渉光位相差
   変化量検出手段とに基づき、前記生体眼の第１測定対象
   面から第２測定対象面までの距離を演算する演算手段と
   、 を備えていることを特徴とする生体眼の寸法測定装置。
3. （３）前記参照光位相差変化量検出手段は、前記可干渉
   光の波長変化に伴う前記一組の参照光の干渉強度の変化
   を、前記干渉光の波長変化に対する参照光の干渉強度の
   波形信号として記憶する第１メモリを備え、前記可干渉
   光位相差変化量検出手段は、前記可干渉光の波長変化に
   伴う前記反射光同士の干渉強度の変化を、前記可干渉光
   の波長変化に対する干渉光同士の干渉強度の波形信号と
   して記憶する第２メモリを備え、 前記演算手段は、前記第１メモリと前記第２メモリとに
   基づき前記生体眼の第１測定対象面から第２測定対象面
   までの距離を演算することを特徴とする請求項１に記載
   の生体眼の寸法測定装置。
4. （４）前記演算手段は、前記波形信号のフーリエ変換に
   基づき前記可干渉光の波長に対する前記反射光同士の干
   渉強度の波形信号に含まれている雑音成分を除去して演
   算を行うことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載
   の生体眼の寸法測定装置。