JPH0331234B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は熱中性子減衰時間検層技術に関するも
のであり、更に詳しくいえば、地層の熱中性子減
衰特性の固有値をより正確に表す熱中性子減衰時
間測定値を発生するための方法および装置に関す
るものである。 坑井検層においては、熱中性子減衰時間ログ
が、試錐孔が貫通している地層における熱中性子
の吸収率の測定値を与える。熱中性子減衰時間測
定値の基本的な物理過程は直線的である。すなわ
ち、熱中性子減衰時間τは熱中性子捕獲により発
生されたガンマ線を検出することにより測定され
る。この量は次式に従つて巨視的な地層捕獲断面
積に変換できる。 Σ（捕獲単位）＝4550／τ ここに、τは熱中性子減衰時間（マイクロ秒）、
１捕獲単位＝10cmである。塩素は普通地球元素
（common earth element）のうちで最も強力な
中性子吸収材であるから、τは地層中の水に含ま
れている塩化ナトリウムにより主として決定され
る。したがつて、熱中性子減衰時間のログは、裸
坑検層においては有効ではあるが、その主な用途
は、石油またはガスを含んでいる地層と塩水を含
んでいる地層を区別するため、および井戸の産出
寿命中における水飽和の変化を監視するためにケ
ーシングを挿入された井戸において主として用い
られる。 熱中性子減衰時間検層は、本願の出願人である
シユランバーガー・テクノロジー・コーポレーシ
ヨン（Sehlumberger Technology
Corporation）のシユランバーガー・ウエル・サ
ービス（Schlumberger Well Service）部門に
よりTDTというマークの下に商業的規模で行わ
れている検層技術であつて、最も広く受けいれら
れ、かつ最も重要な検層技術である。この検層技
術の施に際してはシユランバーガー社は、米国特
許第3890501号に開示されているTDT−Ｋ装置
と、米国特許第4223218号と第4224516号に開示さ
れているTDT−Ｍ装置との２種類の検層装置を
基本的に用いている。それら２種類の装置におい
ては熱中性子減衰時間の測定は、まず高エネルギ
ー中性子のパルスすなわちバーストを地層にくり
返えし照射することにより行われる。各パルスの
後で、地層の内部と試錐孔環境中に存在する元素
による熱中性子の捕獲から生じたガンマ線の測定
により決定される熱中性子数の減少率が決定され
る。中性子源から近い位置と、中性子源から遠い
位置において測定を行うことができるように、検
層器内には２台の検出器が設けられる。 熱中性子減衰時間測定値を用いて定量的な石油
飽和決定を行うためには、地層の測定された（見
かけの）中性子減衰時間が、その地層の固有の捕
獲断面積が示す真の中性子減衰時間にどのような
関係があるかを考慮に入れることが重要である。
本質的には２つの要因が測定に影響を及ぼし得
る。第１の要因は高い中性子密度領域から低い中
性子密度領域への空間的な拡散であつて、中性子
源が点源であることから起るものである。第２の
要因は検層器自体、試錐弧流体、ケーシングおよ
びセメントのような物質が存在し、それらの物質
の全てが地層の捕獲断面積とは異なる捕獲断面積
を有することである。それらの影響を修正するた
めにこれまで種々の提案が行われている。たとえ
ば、米国特許第3890501号には(1)拡散逸脱（修正）
カーブの使用、(2)Σへ比τ_N／τ_Fまたは中性子源か
ら遠く離れている位置に設けられている検出器に
より得られたカウント値の比を乗ずる、ことを含
んで、中性子源から近い位置にある検出器による
τとΣ（τ_FとΣ_F）の測定値を拡散による影響に対
して修正し、固有のτとΣ（τ_INTとΣ_INT）をより正
確に反映する値を得るためのいくつかの代替技術
が記載されている。この米国特許には、中性子源
から離れている検出器によるτとΣの測定値（τ_F
とΣ_F）の方が、中性子源に近い検出器による測
定値τ_NとΣ_Nよりも、中性子拡散により影響を受
ける程度が低いこと、およびある状況においては
測定値τ_Nを希望によりτ_INTの拡散修正された測定
値として使用できることも記述されている。それ
らの拡散修正技術はTDK−Ｔ装置において利用
され、成功を収めている。最近、τとΣの測定値
を得るのに中性子源から離れている検出器を一層
効率的に使用するために16個の検出時間ゲートを
用いるTDT−Ｍ装置が開発際れている（米国特
許第4223218号、第4224516号参照）。 しかし、TDT検層はそのように重要な仕事で
あるから、その仕事を更に改善することが望まし
く、とくに、拡散による影響と試錐孔捕獲断面積
による影響を含む環境の影響についてτとΣの測
定値を修正することが望ましい。 このように拡散による影響と試錐孔捕獲断面積
による影響の双方についてτとΣを修正するとい
う要求に対しては、上述の従来技術はまだ不十分
である。 したがつて、本発明の目的は、拡散による影響
と試錐孔捕獲断面積による影響の双方についてτ
とΣを修正できる検層技術を提供することにあ
る。 本発明によれば、試錐孔の中に設けられている
中性子源から高エネルギー中性子の個別パルスを
照射し、それらのパルスとパルスの間にその地層
中に熱中性子群を発生させる過程と、試錐孔内の
第１と第２の各場所において、中性子パルスの間
の時間内に、地層中の熱中性子群の変化を示す物
理量を検出する過程と、前記第１と第２の検出さ
れた物理量から地層の熱中性子減衰時間の第１と
第２の測定値を得る過程と、前記測定値に及ぼさ
れる中性子拡散の影響に対する修正と試錐孔捕獲
断面積の影響に対する修正とを行なうための修正
係数を含む予め定められている実験式に従つて前
記第１と第２の熱中性子減衰時間測定値を組合わ
せ、地層の熱中性子減衰時間の修正された測定値
を得る過程と、を備え、前記第１の場所と中性子
源の間隔は前記第２の場所と中性子源の間隔より
狭く、試錐孔捕獲断面積の影響の修正のための修
正係数は、地層の熱中性子捕獲断面積と試錐孔の
実効熱中性子捕獲断面積とから定められる、試錐
孔が貫通している地層の熱中性子減衰時間の環境
条件により修正された測定値を得る方法が得られ
る。 また、本発明の別の面によれば試錐孔の中を動
かされる検層器と、この検層器の内部に配置さ
れ、高エネルギー中性子の個別パルスを地層に照
射し、それらのパルスとパルスの間にその地層中
に熱中性子群を発生させる中性子源と、前記検層
器の中に前記中性子源から第１と第２の距離の所
に配置され、中性子パルスの間の時間内に、地層
中の熱中性子群の変化を示す物理量を検出する第
１と第２の検出器と前記第１と第２の検出された
物理量から地層の熱中性子減衰時間の第１と第２
の測定値を得る要素と、前記測定値に及ぼされる
中性子拡散の影響に対する修正と試錐受孔捕獲断
面積の影響に対する修正を行なうための修正係数
を含む予め定められている実験式に従つて前記第
１と第２の熱中性子減衰時間測定値を組合わせ、
地層の熱中性子減衰時間の修正された測定値を得
る要素と、を備え、試錐孔捕獲断面積の影響の修
正のための修正係数は、地層の熱中性子捕獲断面
積と試錐孔の実効熱中性子捕獲断面積とから定め
られる、試錐孔が貫通している地層の熱中性子減
衰時間の環境条件により修正された測定値を得る
装置が得られる。 本発明によれば、中性子拡散の影響に対する修
正と試錐孔捕獲断面積の影響に対する修正とを行
うための修正係数を含む予め定めた実験式に従つ
て、第１と第２の熱中性子減衰時間測定値を組み
合わせるようにしているため、拡散による影響と
試錐孔捕獲断面積による影響の双方について修正
された熱中性子減衰時間測定値が得られるという
効果を奏する。 以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。 本発明に従つて、三次元、時間依存、中性子−
ガンマ線結合モンテ・カルロ計算法（three
dimensional、time−dependent、、coupled
neutrongamma ray Monte Carlo
calculations）を用いて検層器の応答をモデル化
することにより、拡散の影響と試錐孔捕獲の影響
を考慮に入れて、中性子源から近い位置と遠い位
置とに設けられている検出器によつて測定したτ
とΣの測定値を処理するための改良した技術が開
発されている。このモンテ・カルロ法は媒体中に
おける中性子とガンマ線の輸送をシミユレートす
るための無作為標本化技術である。モンテ・カル
ロ処理においては、ある粒子の履歴が一連の無作
為事象としてコンピユータにおいてシミユレート
される。粒子は中性子源から無作為に放出され、
輸送は一連の直線飛行路で行われる。それらの直
線飛行路は衝突事象により遮断される。次の相互
作用までの飛行路の長さは媒体の形と断面積に依
存するランダム変量である。発生された放射の種
類、エネルギー、向きのような相互作用の結果も
ランダム変量により支配される。簡単なアナログ
形モンテ・カルロ法においては、粒子は吸収され
るか、システムの幾何学的条件から逃れるまで追
跡される。そして、ある粒子がそのような状態に
なるとその粒子の履歴は終り、新しいソース粒子
が選択される。 モデル化は概念的には数値法より簡単であるか
ら、各物理的プロセスのこの処理はモンテ・カル
ロ法の利点である。また、この用途に用いられる
SAM−CEコードのような高級なコンピユータ・
コードにとつて複雑な三次元幾何学的条件は何ら
問題とはならない。しかし、全ての核検層器のよ
うに熱中性子減衰時間検層器ではソース粒子また
は二次粒子のほんのわずかな部分が検出器に達す
るだけである。たとえば、数百万個の中性子のう
ちでただ１個が中性子検出器で実際にカウントを
発生できる。したがつて、アナログ・シミユレー
シヨンを行うにはコンピユータの処理時間が非常
に長くなるという簡単な理由から、この物理的な
過程のモデル化はしばしばそれ自体が不適切であ
る。この問題を解決するために、モンテ・カルロ
計算をより簡単にするいくつかの技術が開発され
ている。一般に、コンピユータのコードが問題に
あまり良く適合しないことにより生ずる統計誤差
は不当に大きいから、それらの技術の目的はコン
ピユータのコードを問題に良く適合させることで
ある。それらの技術のうちの１つはエステイメー
タを用いることである。熱中性子減衰時間計算に
おいては、問題の中性子が熱エネルギーに達して
捕獲されるまで追跡される。その捕獲された時点
で、核捕獲のエネルギー特性により捕獲ガンマ線
のカスケードがひき起される。ガンマ線が媒体を
介して追跡される前には、ガンマ線が検出器の方
向に散乱して、吸収されることなしに検出器に達
する確立が計算され、この部分的な結果が検出器
の応答として保持される。したがつて、ガンマ線
が検出器に実際に到達し、その検出器を通過する
ということをシミユレートすることなしに完全に
妥当な検出器応答を計算できる。 他の効率的な改良技術は、検出器において記録
を最も生じやすい粒子を選択的に標本化する目的
をもつて、種々の重みづけ（重要性標本化）戦略
を使用するものである。たとえば、ソース中性子
が全ての方向に等しく放射されるものとすると、
検出器へ向つて放射された中性子よりも、検出器
から離れる向きに放射された中性子の重みづけの
程度が低いことは理由のあることである。スペー
ス、時間、角度、エネルギーによる重みづけは、
妥当な長さのコンピユータ処理時間以内で良い結
果を得るために全て要求できる。本発明の基礎を
成すモンテ・カルロ計算を行うために、計算され
たΣについてのプラスマイナス３％またはそれよ
り高い統計的な確度が許容できるものとして決定
された。 以上述べた基準を用い、TDT−Ｋ検出器と
TDT−Ｍ検出器の応答を、中性子源と検出器と
の間隔（加速器のターゲツトと検出器の検出結晶
との間隔）を、近い方の検出器中性子源との間隔
を約30cm（約13インチ）、遠い方の検出器中性子
源との間隔を約64cm（約25インチ）として用いる
ことによりモデル化した。τの測定に用いた中性
子バーストの後の遅延時間は2τであつた。それら
の計算の結果の一部を第２〜５図に示す。それら
の結果は、地層についての改善された値τとΣ
は、近い方の検出器と遠い方の検出器とからのデ
ータを後で詳しく説明するやり方で組合わせるこ
とにより得られることを示している。また、先行
技術の逸脱カーブは試錐孔と地層との捕獲断面積
の限られた範囲内でのみ有用であることもそれら
の結果は示している。 ここで、検層装置の基礎についてまず説明する
ことにする。第１図は本発明を実施するのに有用
な熱中性子減衰時間検層器の一実施例を示す。こ
の検層器の詳細が前記米国特許第3890501号、第
4223218号、第4224516号に示されているから、第
１図には検層器の概略が示されているだけであ
る。 一般に、検層器は流体が洩れず、圧力と温度に
対して強いゾンデ１０を含む。このゾンデ１０は
試錐孔１２の中に外装ケーブル１４によりつり下
げられ、かつ上下動させられるようになつてい
る。試錐孔１２の内部は鋼製のケーシング１８
と、このケーシングの周囲の補強セメント２０で
囲まれ、試錐孔内部には試錐孔流体１６が含まれ
る。地層が参照番号２２で示されている。この試
錐孔の内部にはチユービングは示されていない
が、希望によつては、チユービングを含む試錐孔
にも使用できるようにゾンデ１０の寸法は定めら
れる。当業者には明らかであろうが、通常のホイ
ストおよび深度記録計２４も用いられる。 ゾンデ１０はパルス状中性子加速器すなわち中
性子源２６と、この中性子源２６からそれぞれ近
い位置と遠い位置に配置される放射検出器２８，
３０を含む。中性子源すなわち加速器２６はなる
べく14−NevのＤ，Ｔ型にするとよいが、適当な
任意の構造のものとすることができる。このパル
ス加速器を動作させるために必要な高電圧電源、
励振およびパルス形成回路（図示せず）がこの検
層器に含まれることが理解されるであろう。検出
器２８，３０は通常のものであつて、なるべくガ
ンマ線検出器たとえばヨウ化ナトリウム結晶検出
器を用いるようにする。希望によつては、たとえ
ばヘリウム−３を充した比率カウンタのような中
性子検出器が使用できる。以後、検出器２８，３
０はガンマ線検出器とする。 地下の検層器１０へは地上の電源（図示せず）
からケーブル１４を介して電力が供給される。検
出器２８，３０およびその他の電子装置に電力を
供給するためにゾンデ１０の内部にも電源が設け
られる。 検出器２８，３０により発生された信号が、第
１図では地下の電子回路３２へ供給されるものと
して示されている。それらの電子回路３２には増
幅、弁別、処理など、前記米国特許第3890501号
の開示していることに従つて検出器２８，３０の
出力信号からのτ，τを計算し、検出器２８，３
０と加速器２６の動作を制御し、または前記米国
特許第3890501号あるいは米国特許第4223218号と
第4224516号の開示しているところに従つて検出
器からのカウント率情報を調整し、それを地上へ
送るために必要な全ての回路を含む。地上におい
ては、地下から送られてきた信号は電子回路３４
により受信され、その電子回路により以後の処理
のための必要に応じて復号、変換などの処理を受
ける。その処理を受けてからそれらの信号は処理
装置３６へ与えられる。 τの測定値が地上において計算されるものとす
るとその計算は前記３つの米国特許に開示されて
いるようなやり方で各検出器２８，３０ごとにコ
ンピユータ３６により行われる。次に、τ_N，τ_F
（またはΣ_N，Σ_F）測定値がコンピユータ３６にお
いて本発明に従つて組合わされ、地層のτ_INTと
Σ_INTをより正確に表す、環境条件で修正されたτ
とΣの測定値オンラインで与える。前記したよう
に、この目的のために通常の深度記録結合リンク
２４が用いられる。 中性子源が一様に分布している無限に均質な媒
体の場合には、測定されたτとΣが固有の地層τ
とΣに等しくなる。前記したように、かつ後で詳
しく説明するように、試錐孔と、ケーシングと、
セメントと、局限化された中性子源の影響とのた
めに測定されたτとΣが固有のτとΣが異なるよ
うにされる。 これまでの説明から理解されるであろうよう
に、検出器２８，３０は地層２２からのガンマ線
と、試錐孔流体１６、鋼製ケーシング１８と、セ
メント２０のような、試錐孔内のその他の物質か
らのガンマ線とに応答する。直径が約24.5cm（８
分の77インチ）のケーシングが挿入されている直
径が約30.5cm（12インチ）の試錐孔が貫通してい
る、孔隙率が約36％であつて飽和塩水を含んでい
る地層に対して前記モンテ・カルロモデル化技術
を用いて計算された、近い検出器２８と遠い検出
器３０についてのガンマ線カウント率を第２図に
比較して示す。この比較においては、試錐孔内と
ケーシング内と、セメント内で発生されたガンマ
線からの寄与が組合わされている。それらのデー
タを調べることにより、約2τ秒送れてから種々の
成分を指数として近似でき、試錐孔と、鋼製ケー
シングと、セメントとに対する積分されたτが検
出器２８，３０でほぼ同じ値を有し（τ_N＝80、τ_F
＝83）地層ガンマ線からのτが、遠い方の検出器
の方が近い方の検出器より約10％高い（τ_F＝101、
τ_N＝94）ということがわかる。また、地層カウン
ト率成分と試錐孔カウント率と試錐孔カウント率
成分との比は、遠い検出器における方が近い検出
器におけるよりおよそ２倍大きい。それらの結論
は計算される広い範囲のケース（岩石の組成、孔
隙率、試錐孔の寸法、地層および試錐孔に含まれ
ている流体の塩分、ケーシングの寸法、裸坑、
等）にわたつて妥当であることが見出されてい
る。 孔隙率が36％で、塩水で飽和している無限大す
なわち試錐孔が貫通していない地層についての計
算結果が第３図に示されている。近い検出器にお
いて計算されたτの値は固有のτの値である95マ
イクロ秒に非常に近く、遠い検出器において計算
されたτの値は、第２図から得られる結論と同様
に、約10％大きい。第３図は同じ地層にその地層
の捕獲断面積Σと同じ捕獲断面積Σ_BHを有する試
錐孔を貫通させた場合の計算結果を示すものであ
る。地層の捕獲断面積と同じ捕獲断面積を有する
試錐孔の効果は近い検出器と遠い検出器の双方に
おいて計算されるτの値を小さくすることであ
る。このτの減少する理由の一部は、中性子の試
錐孔における平均自由行程が14Mevと、地層中
での平均自由行程より長くなつた結果である。そ
のために仮想中性子源が検出器に接近することに
なる。その結果として試錐孔付近における熱中性
子の密度が高くなる。それらの効果によつて生ず
る全体としての結果は、試錐孔の存在により、遠
い方の検出器において計算されたτが固有のτに
近くなり、近い方の検出器で計算したτが固有の
τの値より小さくなることである。また、試錐孔
の存在により両方の検出器におけるカウント率が
大幅に上昇する。 密度が1.0〜2.7ｇ／cm³の範囲の無限大媒体また
は地層の捕獲断面積と同じ捕獲断面積を有する試
錐孔が貫通している地層の場合には、両方の検出
器で計算されたτは固有のτの10％以内であるこ
とが見出されている。更に近い方の検出器におい
て計算されたτ_Nは、遠い方の検出器において計算
されたτ_Fより約10％小さい。 使用する検出器の種類に応じて、測定したτに
は空間的な変動も存在する。新鮮な水の入つてい
るタンクという簡単な場合について、熱中性子検
出器とガンマ線検出器を用いてτと、放射線源か
らの距離との比較測定を行つた結果によれば、測
定されたτが固有のτに等しくなる放射線源から
の距離は、ガンマ線測定の場合の方が中性子測定
の場合より大きいことが判明している。先に述べ
たように、第２〜５図に示されている計算結果
は、放射線源と検出器の距離が、近い方の検出器
と遠い方の検出器でそれぞれ約33cm（約13イン
チ）、約64cm（25インチ）である場合についての
ものである。用いた検出器はヨウ化ナトリウム・
ガンマ線検出器であつた。 以上述べたデータと観察により、測定したτの
値を空間的に影響と試錐孔の影響について修正す
るための次のような計の実験式を得ることができ
る。 τ＝τ_F＋Ａ（τ_F−τ_NＢ）＋Ｃ (1) 第３図に関連して先に説明したように、試錐孔
が存在しないとすると示されている実際の地層条
件にわたるτの測定値は、τ_Fがτ_Nより大きいがτ_F
とτ_Nの差は10％とほぼ一様であることが示されて
いる。中性子密度が近い方の検出器と遠い方の検
出器との間で空間的に移動した結果であるこの差
は(1)式においてＢ項により考慮されている。Ｂの
値は孔隙率と岩石の組成とに応じて僅かに、たと
えば1.0〜1.2の範囲内で変化することがあるが、
一般的には1.1としていることができる。 また、測定されたτ_Nとτ_Fは試錐孔成分と地層成
分を有し、τ_Fの方がτ_Nよりも２倍の地層成分を有
することも示されている。このτ_Nとτ_Fの関係は試
錐孔の寸法と、ケーシングの寸法と、裸坑とによ
つて多少、たとえば１〜５の範囲で変化するが、
パラメータのかなり広い範囲にわたつて比較的一
様でもある。したがつて、一般的な場合には、(1)
式中のＡ項は0.5とすることができる。 (1)式のＣ項は、少くとも一部は放射線源と検出
器との間隔、およびτの測定において選択したバ
ースト後の遅延時間の結果として生じたと考えら
れるτ_Fとτ_INTの観察された差を補償する定数であ
る。ここで仮定したパラメータのそれらの差、す
なわち、約33cm（約13インチ）と約64cm（約25イ
ンチ）の放射線源と検出器の間隔および遅延時間
2τに対するそれらの差を補償するＣの値として10
マイクロ秒が適切であることが判明している。 測定されたτの値が、地層のΣに対する試錐孔
の捕獲断面積変化によつても影響を受けることが
見出されている。これは第４図に示されている。
第４図は、孔隙率が36％で、塩水で飽和されてい
る砂岩地層において、種々の塩分に対する直径約
25cm（10インチ）の試錐孔の計算された捕獲率を
示すものである（τ_INT＝95マイクロ秒）。65Kppm
という試錐孔の塩分は地層の捕獲断面積と同じ捕
獲断面積を示すものである。第４図は、試錐孔の
塩分が高くなるにつれて、2τの遅延時間後に試錐
孔捕獲率が低下するが、試錐孔における中性子減
衰率は漸近値に接近することを示している。した
がつて、試錐孔の捕獲断面積Σ_BHが測定値τに及
ぼす効果は(1)試錐孔と地層との捕獲率の相対的な
大きさと、(2)試錐孔と地層とのτの値と、の両方
に依存する。それらの項の相対的な変動に応じ
て、測定されたτに対する試錐孔修正項（△〓_B
Ｈ）を多くの値とすることができる。この効果は
計算と研究室で得たデータの双方に見られてい
る。地層の捕獲断面積より小さい実効試錐孔捕獲
断面積を得るためには、この修正により符号が変
化する。 第５図は、試錐孔捕獲実効項（△Σ_BH）が、固
有の地層Σと実効捕獲断面積（eff.Σ_BH）との比に
よりどのようにして変化するかを示すものであ
る。実効試錐孔捕獲断面積を、以後、ケーシング
を施した試錐孔に対して定義するが、裸坑に対し
ては試錐孔捕獲断面積（Σ_BH）と丁度同じである。
近い検出器と遠い検出器とに対する試錐孔修正は
異なり、かつ遠い検出器に対する試錐孔修正が小
さいことのために、それら２つの測定値を用いて
測定されたτとΣを固有の値に近い値へ修正でき
る。また、試錐孔の実効捕獲断面積が地層の捕獲
断面積よりはるかに大きい時に、修正値がゆるや
かに変化することも第５図に示されている。しか
し、実効試錐孔捕獲断面積と実効地層捕獲断面積
がほぼ等しい時は修正項迅速に変化する。地層と
試錐孔の捕獲断面積を正確に知ることは決してで
きないから、逸脱カーブが良く機能するために
は、実効試錐孔捕獲断面積が実効地層捕獲断面積
より十分に大きくなければならない。更に、時間
経過検層（time−lapse logging）においては、
修正項を最初のログから正規化することは、上記
の条件が満される時だけ良い近似である。 試錐孔捕獲段面積の変化が測定されたτに及ぼ
す効果は、(1)式のＡ項を次式に従つて決定するこ
とによつて一層正確に考慮に入れることができ
る。 Ａ＝0.5（１＋0.5Σ／eff.Σ_BH） (2) ここに、Σは地層捕獲断面積、eff.Σ_BHは実効試
錐捕獲断面積である。 裸坑についてだけeff.Σ_BHが単一に定められる。
すなわち、それが試錐孔捕獲断面積Σ_BHである。
ケーシングを施した孔の場合には、実効試錐孔捕
獲断面積を決定するために次式を使用できる。 eff.Σ_BH＝Σ（r_i）ψ（r_i）dA_b／ψ（r_i）dA_b (3) ここに、 r_iは試錐孔内の各物質の厚さ（ｉ＝１、２、…
…ｎ）、 Σ（r_i）は物質ｉの捕獲断面積、 ψ（r_i）は物質ｉ中の熱中性子束、 A_bは試錐孔面積である。 (3)式の典型的なケーシング試錐孔への反応が第
６図に見られる。この図はeff.Σ_BHが地層Σより大
きく、試錐孔中の熱中性子束が後の時間における
地層からの中性子拡散に主として基づくものであ
るような状況をモデル化したものである。このよ
うな試錐孔構造に対する実効試錐孔捕獲断面積は
(3)式を用いて次式のように書くことができる。 eff.Σ_BH＝∫〔〓（r_i）ψ（r_i）＋Σ（r₂）ψ（
r₂）＋Σ（r₃）ψ（r₃）〕dA_b／∫〔ψ（r_i）＋ψ（r₂
）＋ψ（r₃）〕dA_b eff.Σ_BHが地層より大きい場合には、種々の試錐
孔物質中の中性子束ψ（r_i）は次の拡散式により
近似できる。 ψ（r_i）＝e^-Krｉ／Dr_i ここに、Ｄは熱中性子拡散係数 Ｋ＝√〓_i Σ_iは物質ｉの熱中性子捕獲断面積である。 たとえば、この近似モデルは第１表に示すよう
に新鮮な水セメントの実効試錐孔捕獲断面積を与
えるものである。

【表】 従来の逸脱カーブは、地層捕獲断面積Σが第１
表に与えられている値より小さい時には良く合う
が、大きい時はそうではない。 第４図を参照して先に説明したように、eff.Σ_BH
が地層Σよりはるかに大きい時は試錐孔修正項は
徐々に変化する。この場合には、(1)の項Ａ（τ_F−
τ_NＢ）を各τ_Nとτ_Fの測定時間より長い時間にわた
つて平均することにより、測定されたτにおける
統計精度をはるかに高くできる。 (2)式中のＡの値は各τの測定時間より長い時
間、たとえば所定の数のτ時間、にわたつて平均
をとることができる。その場合には、処理装置３
６はΣに対しては、前の平均化時間にわたつて測
定されたΣの値を用いて(2)式からＡを計算し、そ
れから、その平均されたＡの値を用いて、(1)式か
ら測定されたτの値を計算する。Ａ項を平均化す
ることが望ましくなければ、(2)で用いられている
Σの値は次の先行するτ測定からのτの値であ
る。いずれの場合でもＡ項の修正は検層中に定期
的に更新される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に従つて改良した熱中性子捕獲
測定を行うために、試錐の中に検層器が地下に降
ろされている熱中性子減衰時間検層装置の略図、
第２図は直径が約25cm（９−5/8インチ）である
鋼製ケーシングが挿入されている、直径が約31cm
（12インチ）で周囲をセメントで固められた試錐
孔が貫通している孔隙率が36％である砂岩地層に
おける地層物質と、試錐孔物質と、両者を合わせ
たものとに対する、中性子源から近い検出器と遠
い検出器とのガンマ線カウント率と中性子バース
ト後の時間との関係を示すグラフ、第３図は(1)試
錐孔が無い時（無限大地層）時と、(2)直径が約25
cm（10インチ）の裸坑がある時、の塩水が飽和し
ている孔隙率36％の砂岩地層に対する近い検出器
と、遠い検出器とのカウント率と時間との関係の
グラフを比較して示し、第４図は直径が約25cm
（10インチ）の裸坑が貫通している、孔隙率が36
％である。塩水が飽和している地層に対する試錐
孔捕獲率と時間の関係の変化を示すグラフ、第５
図は試錐孔の捕獲実効項が、固有地層捕獲断面積
と実効試錐孔捕獲断面積との比とともにどのよう
に変化するかを示すグラフ、第６図は実効試錐孔
捕獲断面積が地層捕獲断面積より大きい場合に対
する試錐孔への熱中性子束を示すケーシングを施
した試錐孔モデルである。 １０……検層器、２６……中性子源、２８，３
０……検出器、３２……地下電子回路、３６……
処理装置、３８……記録計。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 試錐孔の中に設けられている中性子源から高
   エネルギー中性子の個別パルスを照射し、それら
   のパルスとパルスの間にその地層中に熱中性子群
   を発生させる過程と、 試錐孔内の第１と第２の各場所において、前記
   中性子パルスの間の時間内に、前記地層中の熱中
   性子群の変化を示す物理量を検出する過程と、 前記第１と第２の検出された物理量から地層の
   熱中性子減衰時間の第１と第２の測定値を得る過
   程と、 前記測定値に及ぼされる中性子拡散の影響に対
   する修正を行なうための修正係数と試錐孔捕獲断
   面積の影響に対する修正を行なうための修正係数
   とを含む予め定められている実験式に従つて前記
   第１と第２の熱中性子減衰時間測定値を組合わ
   せ、地層の熱中性子減衰時間の修正された測定値
   を得る過程と、 を備え、前記第１の場所と中性子源の間隔は前記
   第２の場所と中性子源の間隔より狭く、 前記実験式中の前記試錐孔捕獲断面積の影響に
   対する修正を行なうための修正係数は、地層の熱
   中性子捕獲断面積と試錐孔の実効熱中性子捕獲断
   面積とから定められることを特徴とする試錐孔が
   貫通している地層の熱中性子減衰時間の環境条件
   により修正された測定値を得る方法。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の方法であつて、
   予め定められている前記実験式は次のような一般
   的な形を有し、 τ＝τ_F＋Ａ（τ_F−τ_NＢ）＋Ｃ ここに、 τは地層の熱中性子減衰時間の修正された測定
   値、 τ_Fは前記第２の場所で測定した熱中性子減衰時
   間の測定値、 τ_Nは前記第１の場所で測定した熱中性子減衰時
   間の測定値、 Ａは試錐孔捕獲断面積の影響に対する修正係
   数、 Ｂは中性子拡散の影響に対する修正係数、 Ｃは定数、 であることを特徴とする方法。 ３ 特許請求の範囲第２項記載の方法であつて、
   Ａの値はほぼ0.5、Ｂの値はほぼ1.1、Ｃの値はほ
   ぼ10マイクロ秒であることを特徴とする方法。 ４ 特許請求の範囲第２項記載の方法であつて、 Σを地層の熱中性子捕獲断面積、 eff.Σ_BHを試錐孔の実効熱中性子捕獲断面積とし
   て、Ａは式 Ａ＝0.5（１＋0.5Σ／eff.Σ_BH） に従つて定められることを特徴とする方法。 ５ 特許請求の範囲第４項記載の方法であつて、 r_i（ｉ＝１、２、……ｎ）を地層中の物質ｉの
   厚さ、 Σ（r_i）を物質ｉに対する熱中性子捕獲断面積、 ψ（r_i）を物質ｉ中の熱中性子束、 Abを試錐孔の面積として、 eff.Σ_BHは式 eff.Σ_BH＝Σ（r_i）ψ（r_i）dA_b／ψ（r_i）dA_b に従つて決定されることを特徴とする方法。 ６ 特許請求の範囲第５項記載の方法であつて、 Ｄを熱中性子拡散係数、 Ｋ＝√_i、 Σ_iを物質ｉの熱中性子捕獲断面積、 として、ψ（r_i）は式 ψ（r_i）＝e^-Krｉ／Dr_i に従つて決定されることを特徴とする方法。 ７ 特許請求の範囲第１〜６項のいずれかに記載
   の方法であつて、 前記修正された熱中性子減衰時間測定値を試錐
   孔の中の深さの関数として記録する過程を備える
   ことを特徴とする方法。 ８ 試錐孔の中を動かれる検層器と、 この検層器の内部に配置され、高エネルギー中
   性子の個別パルスを地層に照射し、それらのパル
   スとパルスの間にその地層中に熱中性子群を発生
   させる中性子源と、 前記検層器の中に前記中性子源から第１と第２
   の距離の所に配置され、前記中性子パルスの間の
   時間内に、前記地層中の熱中性子群の変化を示す
   物理量を検出する第１と第２の検出器と、 前記第１と第２の検出された物理量から地層の
   熱中性子減衰時間の第１と第２の測定値を得る要
   素と、 前記測定値に及ぼされる中性子拡散の影響に対
   する修正を行なうための修正係数と試錐孔捕獲断
   面積の影響に対する修正とを行なうための修正係
   数とを含む予め定められている実験式に従つて前
   記第１と第２の熱中性子減衰時間測定値を組合わ
   せ、地層の熱中性子減衰時間の修正された測定値
   を得る要素と、 を備え、 前記実験式中の前記試錐孔捕獲断面積の影響に
   対する修正を行なうための修正係数は、地層の熱
   中性子捕獲断面積と試錐孔の実効熱中性子捕獲断
   面積とから定められることを特徴とする試錐孔が
   貫通している地層の熱中性子減衰時間の環境条件
   により修正された測定値を得る装置。 ９ 特許請求の範囲第８項記載の装置であつて、
   予め定められている前記実験式は次のような一般
   的な形を有し、 τ＝τ_F＋Ａ（τ_F−τ_NＢ）＋Ｃ ここに、 τは地層の熱中性子減衰時間の修正された測定
   値、 τ_Fは前記第２の場所で測定した熱中性子減衰時
   間の測定値、 τ_Nは前記第１の場所で測定した熱中性子減衰時
   間の測定値、 Ａは試錐孔捕獲断面積の影響に対する修正係
   数、 Ｂは中性子拡散の影響に対する修正係数、 Ｃは定数、 であることを特徴とする装置。 １０ 特許請求の範囲第９項記載の装置であつ
   て、Ａはほぼ0.5、Ｂの値はほぼ1.1、Ｃの値はほ
   ぼ10マイクロ秒であることを特徴とする装置。 １１ 特許請求の範囲第９項記載の装置であつ
   て、 Σを地層の熱中性子捕獲断面積、 eff.Σ_BHを試錐孔の実効熱中性子捕獲断面積とし
   て、Ａは式 Ａ＝0.5（１＋0.5Σ／eff.Σ_BH） に従つて定められることを特徴とする装置。 １２ 特許請求の範囲第１１項記載の装置であつ
   て、 r_i（ｉ＝１、２、……ｎ）を地層中の物質ｉの
   厚さ、 Σ（r_i）を物質ｉに対する熱中性子捕獲断面積、 ψ（r_i）を物質ｉ中の熱中性子束、 Ａを試錐孔の面積として、 eff.Σ_BHは式 eff.Σ_BH＝Σ（r_i）ψ（r_i）dA／ψ（r_i）dA に従つて決定されることを特徴とする装置。 １３ 特許請求の範囲第１２項記載の装置であつ
   て、 Ｄを熱中性子拡散係数、 Ｋ＝√〓_i、 〓_iを物質ｉの熱中性子捕獲断面積、 として、ψ（r_i）は式 ψ（r_i）＝e^-Krｉ／Dr_i に従つて決定されることを特徴とする装置。 １４ 特許請求の範囲第８〜１３項のいずれかに
   記載の装置であつて、 前記修正された熱中性子減衰時間測定値を試錐
   孔の中の深さの関数として記録する要素を備える
   ことを特徴とする装置。