JPH0334129A - レンズ変位測定装置 - Google Patents
レンズ変位測定装置Info
- Publication number
- JPH0334129A JPH0334129A JP16876289A JP16876289A JPH0334129A JP H0334129 A JPH0334129 A JP H0334129A JP 16876289 A JP16876289 A JP 16876289A JP 16876289 A JP16876289 A JP 16876289A JP H0334129 A JPH0334129 A JP H0334129A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- light
- photoelectric detector
- optical path
- light source
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光デイスクドライブにおけるピックアップの
レンズ変位測定装置に関する。
レンズ変位測定装置に関する。
従来の技術
光デイスクドライブにおいては、記録媒体に対向する集
光レンズをフォーカシング方向とトラッキング方向との
位置を正確に定める必要があり、このために、集光レン
ズの光軸の変位量を検出する種々の検出装置がある０例
えば、特開昭６０−１０５９０５号公報に記載されてい
るように、絞りレンズの放物面反射鏡状部によりレーザ
ー光の一部を集光させ、この集光された光を４分割受光
センサの差信号により検出して面振れ、芯振れを測定す
る発明がある。また、実開昭６２−７６６０８号公報に
記載されているように、遮光板の窓部を通過した光を４
分割受光センサにより検出することにより、集光レンズ
の偏心、振れの大きさを測定する考案がある。さらに、
実開昭６２−９８０２３号公報に記載されているように
、分光器を使用してレーザー光の一部を遮光板に照射し
、この遮光板を通過した光を４分割受光センサにより検
出することにより、集光レンズの変位量を測定する考案
がある。さらに、実開昭６３−１５９７０９号公報に記
載されているように、集光レンズを保持する鏡筒部の外
周上に配置されたミラーに光源からの光線を照射し、こ
のミラーからの反射光を４分割受光センサで受光するこ
とにより、集光レンズの変位量を測定する考案がある。
光レンズをフォーカシング方向とトラッキング方向との
位置を正確に定める必要があり、このために、集光レン
ズの光軸の変位量を検出する種々の検出装置がある０例
えば、特開昭６０−１０５９０５号公報に記載されてい
るように、絞りレンズの放物面反射鏡状部によりレーザ
ー光の一部を集光させ、この集光された光を４分割受光
センサの差信号により検出して面振れ、芯振れを測定す
る発明がある。また、実開昭６２−７６６０８号公報に
記載されているように、遮光板の窓部を通過した光を４
分割受光センサにより検出することにより、集光レンズ
の偏心、振れの大きさを測定する考案がある。さらに、
実開昭６２−９８０２３号公報に記載されているように
、分光器を使用してレーザー光の一部を遮光板に照射し
、この遮光板を通過した光を４分割受光センサにより検
出することにより、集光レンズの変位量を測定する考案
がある。さらに、実開昭６３−１５９７０９号公報に記
載されているように、集光レンズを保持する鏡筒部の外
周上に配置されたミラーに光源からの光線を照射し、こ
のミラーからの反射光を４分割受光センサで受光するこ
とにより、集光レンズの変位量を測定する考案がある。
さらに、実開昭６３−１５９７１２号公報に記載されて
いるように、集光レンズを保持する鏡筒部の外周上に４
分割受光センサを設け、この４分割受光センサに長方形
のスポット光を照射して集光レンズの変位量を測定する
考案がある。
いるように、集光レンズを保持する鏡筒部の外周上に４
分割受光センサを設け、この４分割受光センサに長方形
のスポット光を照射して集光レンズの変位量を測定する
考案がある。
発明が解決しようとする課題
上記公報に記載された発明又は考案は、光源からの光を
４分割受光センサに導く遮光板やミラー等の光路部材、
或いは、４分割受光センサが集光レンズを保持する支持
部材に取付けられているため、支持部材は取付部品の増
加によって重量が重くなる。したがって、この支持部材
をトラッキング方向とフォーカシング方向とに移動させ
る駆動力を大きくしなければならず、また、支持部材の
振動も大きくなる等の問題がある。
４分割受光センサに導く遮光板やミラー等の光路部材、
或いは、４分割受光センサが集光レンズを保持する支持
部材に取付けられているため、支持部材は取付部品の増
加によって重量が重くなる。したがって、この支持部材
をトラッキング方向とフォーカシング方向とに移動させ
る駆動力を大きくしなければならず、また、支持部材の
振動も大きくなる等の問題がある。
課題を解決するための手段
記録媒体に対向する集光レンズを保持するレンズ支持体
を駆動部に連結してトラッキング方向とフォーカシング
方向とに変位自在に設け、前記レンズ支持体に前記トラ
ッキング方向及び前記フォーカシング方向に対して直交
する透過光路を形成し、この透過光路の両端部の断面積
より大きい径の光束をもってこの透過光路の一端に光線
を照射する光源と、前記透過光路の他端に対向する光電
検出器とを前記レンズ支持体の外部に設けた。
を駆動部に連結してトラッキング方向とフォーカシング
方向とに変位自在に設け、前記レンズ支持体に前記トラ
ッキング方向及び前記フォーカシング方向に対して直交
する透過光路を形成し、この透過光路の両端部の断面積
より大きい径の光束をもってこの透過光路の一端に光線
を照射する光源と、前記透過光路の他端に対向する光電
検出器とを前記レンズ支持体の外部に設けた。
作用
光源から光電検出器に至る光軸は常に一定であるため、
レンズ支持体が変位すると、その透過光路が光源から光
電検出器に至る光軸に対して変位し、これに伴い光電検
出器による光源からの光の受光状態が変化するため、集
光レンズの変位状態を検出することができ、また、光電
検出器と光源とをレンズ支持体の外部に設け、集光レン
ズを保持するレンズ支持体には透過光路のみを形成する
だけでよく、これにより、レンズ支持体の軽量化を図る
ことができる。
レンズ支持体が変位すると、その透過光路が光源から光
電検出器に至る光軸に対して変位し、これに伴い光電検
出器による光源からの光の受光状態が変化するため、集
光レンズの変位状態を検出することができ、また、光電
検出器と光源とをレンズ支持体の外部に設け、集光レン
ズを保持するレンズ支持体には透過光路のみを形成する
だけでよく、これにより、レンズ支持体の軽量化を図る
ことができる。
実施例
本発明の一実施例を第１図ないし第６図に基づいて説明
する。１はレンズ支持体で、このレンズ支持体ｌは駆動
部（図示せず）に連結されてフォーカシング方向Ｙとト
ラッキング方向Ｘとに駆動される。また、このレンズ支
持体ｌには記録媒体としての光ディスク（図示せず）に
対向する集光レンズ２が保持されている。さらに、この
レンズ支持体ｌには、Ｙ方向及びＸ方向に対して直交す
る両端開口の透過光路３が形成されている。そして、ハ
ーフミラ−４を介して光線を透過光路３の一端に照射す
る光源５と、透過光路３の他端に対向する光電検出器６
とが前記レンズ支持体ｌの外部に固定的に設けられてい
る。前記光源５からの光線はレンズ７により平行化され
、この光線の光束の径は前記透過光路３の両端の断面積
より大きく定められている。さらに、前記ハーフミラ−
４の端部には前記光源５から直進する光線を検出してこ
の光源５からの光量を一定値に補償するための受光素子
８が固定されている。さらに、前記光電検出器６はＣＣ
Ｄセンサを用いてもよいが、本実施例においては４つの
受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄを有する４分割受光センサが使
用されている。第４図に示すように、これらの受光素子
Ａ、Ｂ、Ｃ。
する。１はレンズ支持体で、このレンズ支持体ｌは駆動
部（図示せず）に連結されてフォーカシング方向Ｙとト
ラッキング方向Ｘとに駆動される。また、このレンズ支
持体ｌには記録媒体としての光ディスク（図示せず）に
対向する集光レンズ２が保持されている。さらに、この
レンズ支持体ｌには、Ｙ方向及びＸ方向に対して直交す
る両端開口の透過光路３が形成されている。そして、ハ
ーフミラ−４を介して光線を透過光路３の一端に照射す
る光源５と、透過光路３の他端に対向する光電検出器６
とが前記レンズ支持体ｌの外部に固定的に設けられてい
る。前記光源５からの光線はレンズ７により平行化され
、この光線の光束の径は前記透過光路３の両端の断面積
より大きく定められている。さらに、前記ハーフミラ−
４の端部には前記光源５から直進する光線を検出してこ
の光源５からの光量を一定値に補償するための受光素子
８が固定されている。さらに、前記光電検出器６はＣＣ
Ｄセンサを用いてもよいが、本実施例においては４つの
受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄを有する４分割受光センサが使
用されている。第４図に示すように、これらの受光素子
Ａ、Ｂ、Ｃ。
Ｄは、それぞれアンプ９，１０，１１．１２に接続され
ている。また、受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄのの出力をそれ
ぞれＡ’、 Ｂ’、 Ｃ’、 Ｄ’とすると、Ａ’ ＋
Ｂ’とＣ’ ＋ Ｄ’とを比較する比較器１３と、Ａ
’＋Ｃ’とＢ’＋Ｄ’とを比較する比較器１４とが設け
られている。
ている。また、受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄのの出力をそれ
ぞれＡ’、 Ｂ’、 Ｃ’、 Ｄ’とすると、Ａ’ ＋
Ｂ’とＣ’ ＋ Ｄ’とを比較する比較器１３と、Ａ
’＋Ｃ’とＢ’＋Ｄ’とを比較する比較器１４とが設け
られている。
このような構成において、光源５から照射された光はレ
ンズ７により平行化され、ハーフミラ−４によって９０
″偏向される。偏向されたこの光は透過光路３を通り光
電検出器６に受光される。
ンズ７により平行化され、ハーフミラ−４によって９０
″偏向される。偏向されたこの光は透過光路３を通り光
電検出器６に受光される。
この時、レンズ支持体ｌがＸ方向又はＹ方向酸いはその
合成方向に変位すると、ハーフミラ−４の中心から光電
検出器６の中心に至る光軸に対して透過光路３がずれる
ため、光電検出器６の受光状態が変化する。第２図（ａ
）に示す状態は光が光電検出器６の中心に照射された正
常な状態で、その照射光の中心は第３図におけるａ地点
である。
合成方向に変位すると、ハーフミラ−４の中心から光電
検出器６の中心に至る光軸に対して透過光路３がずれる
ため、光電検出器６の受光状態が変化する。第２図（ａ
）に示す状態は光が光電検出器６の中心に照射された正
常な状態で、その照射光の中心は第３図におけるａ地点
である。
第２図（ｂ）に示す状態は光が光電検出器６の中心から
上方（Ｙ方向）に寄って照射された状態で、その照射光
の中心は第３図におけるｂ地点である。
上方（Ｙ方向）に寄って照射された状態で、その照射光
の中心は第３図におけるｂ地点である。
第２図（ｃ）に示す状態は光が光電検出器６の中心から
左方（Ｘ方向）に寄って照射された状態で、その照射光
の中心は第３図におけるＣ地点である。
左方（Ｘ方向）に寄って照射された状態で、その照射光
の中心は第３図におけるＣ地点である。
第２図（ｄ）に示す状態は光が光電検出器６の中心から
上部左方（Ｙ及びＸ方向）に寄って照射された状態で、
その照射光の中心は第３図におけるｄ地点である。この
時のＹ方向の変位量は比較器１３の出力により検出され
、Ｘ方向の変位量は比較器１４の出力により検出される
。
上部左方（Ｙ及びＸ方向）に寄って照射された状態で、
その照射光の中心は第３図におけるｄ地点である。この
時のＹ方向の変位量は比較器１３の出力により検出され
、Ｘ方向の変位量は比較器１４の出力により検出される
。
さらに、第５図（ａ）は集光レンズ２の光軸がフォーカ
シング方向となるＹ軸に一致する正常な状態で、透過光
路３の入射光量と出射光量とは専しいが、第５図（ｂ）
に示すようにレンズ支持体ｌの傾斜により集光レンズ２
の光軸が倒れると、透過光路３への入射光量に対して出
射光量が減少する。すなわち、光電検出器６の受光量が
減少する。この光電検出器６の受光量の変化と、レンズ
支持体１の傾斜角の変化とは、第６図に示すように反比
例し、光電検出器６の受光量が少ない程レンズ支持体１
の傾斜角が大きくなる。この時、受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ，
Ｄの出力が変化するので、この減少量及び傾斜方向を知
ることもできる。
シング方向となるＹ軸に一致する正常な状態で、透過光
路３の入射光量と出射光量とは専しいが、第５図（ｂ）
に示すようにレンズ支持体ｌの傾斜により集光レンズ２
の光軸が倒れると、透過光路３への入射光量に対して出
射光量が減少する。すなわち、光電検出器６の受光量が
減少する。この光電検出器６の受光量の変化と、レンズ
支持体１の傾斜角の変化とは、第６図に示すように反比
例し、光電検出器６の受光量が少ない程レンズ支持体１
の傾斜角が大きくなる。この時、受光素子Ａ、Ｂ、Ｃ，
Ｄの出力が変化するので、この減少量及び傾斜方向を知
ることもできる。
以上のように、光源５とレンズ７とハーフミラ−４と光
電検出器６とをレンズ支持体１の外部に設け、集光レン
ズ２を保持するレンズ支持体ｌには透過光路３のみを形
成するだけでよく、これにより、レンズ支持体ｌを軽量
化することができ、これにより、レンズ支持体１を小さ
な駆動力で駆動することができ、また、レンズ支持体１
の振動を少なくすることもできる。
電検出器６とをレンズ支持体１の外部に設け、集光レン
ズ２を保持するレンズ支持体ｌには透過光路３のみを形
成するだけでよく、これにより、レンズ支持体ｌを軽量
化することができ、これにより、レンズ支持体１を小さ
な駆動力で駆動することができ、また、レンズ支持体１
の振動を少なくすることもできる。
なお、光源５を透過光路３の一端に向けることにより、
ハーフミラ−８を省略してもよい、また、第７図に示す
ように、レンズ支持体ｌに、連続する内周面１７を有す
るトンネル状の透過光路１８を透過光路３に代えて形成
してもよい、この場合には、内周面１７の反射率を低く
することが望ましい、さらに、第８図に示すように、光
電検出器６の上下に受光素子１５．１６を配列してもよ
い。
ハーフミラ−８を省略してもよい、また、第７図に示す
ように、レンズ支持体ｌに、連続する内周面１７を有す
るトンネル状の透過光路１８を透過光路３に代えて形成
してもよい、この場合には、内周面１７の反射率を低く
することが望ましい、さらに、第８図に示すように、光
電検出器６の上下に受光素子１５．１６を配列してもよ
い。
これにより、第８図（ａ）に示す正常な状態から、第８
図（ｂ）に示すようにレンズ支持体１が傾斜した場合に
は、前述したように光電検出器６の受光量が減少するが
、この時に下方の受光素子１６の周辺が上方の受光素子
１５の周辺より明るいた・め、受光素子１５，１６の出
力差によりレンズ支持体ｌの傾斜方向を知ることもでき
る。レンズ支持体１が逆方向に傾斜した時は、受光素子
１６より受光素子１５の方が出力が大きくなり、傾斜方
向が認識される。
図（ｂ）に示すようにレンズ支持体１が傾斜した場合に
は、前述したように光電検出器６の受光量が減少するが
、この時に下方の受光素子１６の周辺が上方の受光素子
１５の周辺より明るいた・め、受光素子１５，１６の出
力差によりレンズ支持体ｌの傾斜方向を知ることもでき
る。レンズ支持体１が逆方向に傾斜した時は、受光素子
１６より受光素子１５の方が出力が大きくなり、傾斜方
向が認識される。
発明の効果
本発明は上述のように構成したので、光源から光電検出
器に至る光軸は常に一定であるため、レンズ支持体が変
位すると、その透過光路が光源がら光電検出器に至る光
軸に対して変位し、これに伴い光電検出器による光源か
らの光の受光状態が変化するため、集光レンズの変位状
態を検出することができ、また、光電検出器と光源とを
レンズ支持体の外部に設け、集光レンズを保持するレン
ズ支持体には透過光路のみを形成するだけでよく、これ
により、レンズ支持体の軽量化を図ることができ、した
がって、レンズ支持体を小さな駆動力で駆動することが
でき、さらに、レンズ支持体の振動を少なくすることも
できる等の効果を有する。
器に至る光軸は常に一定であるため、レンズ支持体が変
位すると、その透過光路が光源がら光電検出器に至る光
軸に対して変位し、これに伴い光電検出器による光源か
らの光の受光状態が変化するため、集光レンズの変位状
態を検出することができ、また、光電検出器と光源とを
レンズ支持体の外部に設け、集光レンズを保持するレン
ズ支持体には透過光路のみを形成するだけでよく、これ
により、レンズ支持体の軽量化を図ることができ、した
がって、レンズ支持体を小さな駆動力で駆動することが
でき、さらに、レンズ支持体の振動を少なくすることも
できる等の効果を有する。
第１図ないし第６図は本発明の一実施例を示すもので、
第１図は斜視図、第２図は光電検出器の受光状態の変化
を示す正面図、第３図は光電検出器の受光地点を座標を
もって示す説明図、ｆｊＳ４図は光電検出器を含む電子
回路図、第５図はレンズ支持体の傾斜方向の変位量を検
出する状態を示す縦断側面図、第６図はそのレンズ支持
体の傾斜角の変化と光電検出器の受光量の変化との関係
を示すグラフ、第７図は透過光路の変形例を示すレンズ
支持体の縦断側面図、第８図はレンズ支持体の傾斜方向
の変位を検出する手段の変形例を示す縦断側面図である
。
第１図は斜視図、第２図は光電検出器の受光状態の変化
を示す正面図、第３図は光電検出器の受光地点を座標を
もって示す説明図、ｆｊＳ４図は光電検出器を含む電子
回路図、第５図はレンズ支持体の傾斜方向の変位量を検
出する状態を示す縦断側面図、第６図はそのレンズ支持
体の傾斜角の変化と光電検出器の受光量の変化との関係
を示すグラフ、第７図は透過光路の変形例を示すレンズ
支持体の縦断側面図、第８図はレンズ支持体の傾斜方向
の変位を検出する手段の変形例を示す縦断側面図である
。
Claims (1)
- 記録媒体に対向する集光レンズを保持するレンズ支持体
を駆動部に連結してトラッキング方向とフォーカシング
方向とに変位自在に設け、前記レンズ支持体に前記トラ
ッキング方向及び前記フォーカシング方向に対して直交
する透過光路を形成し、この透過光路の両端部の断面積
より大きい径の光束をもってこの透過光路の一端に光線
を照射する光源と、前記透過光路の他端に対向する光電
検出器とを前記レンズ支持体の外部に設けたことを特徴
とするレンズ変位測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16876289A JPH0334129A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | レンズ変位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16876289A JPH0334129A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | レンズ変位測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0334129A true JPH0334129A (ja) | 1991-02-14 |
Family
ID=15873972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16876289A Pending JPH0334129A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | レンズ変位測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0334129A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005223102A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Nec Corp | 不揮発性記憶装置及びその製造方法 |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP16876289A patent/JPH0334129A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005223102A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Nec Corp | 不揮発性記憶装置及びその製造方法 |
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