JPH0334216B2 - - Google Patents
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- JPH0334216B2 JPH0334216B2 JP60240955A JP24095585A JPH0334216B2 JP H0334216 B2 JPH0334216 B2 JP H0334216B2 JP 60240955 A JP60240955 A JP 60240955A JP 24095585 A JP24095585 A JP 24095585A JP H0334216 B2 JPH0334216 B2 JP H0334216B2
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- wafer
- sliding ring
- rotating
- contact
- orientation flat
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、オリエンテーシヨンフラツトを有
する半導体ウエーハなどの中心を同一位置に合せ
るウエーハの中心合せ装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a wafer centering device for aligning the centers of semiconductor wafers and the like having orientation flats to the same position.
ウエーハの中心を合せる装置には種々の方式が
あるが、つぎのような方式が代表的である。すな
わち、第3図に示すものは、ウエーハ中心合せポ
ジシヨン1の片側に複数の回転ローラ2…を設
け、ウエーハ3をエアーもしくは傾斜によつて前
記回転ローラ2…側に押付けてウエーハ3を回転
させるとともに、前記回転ローラ2…のうち、3
個をウエーハ3の円周面に沿つて配設し、かつ両
端の回転ローラ2a,2aの間隔をウエーハ3の
オリエンテーシヨンフラツト3a(以下、オリフ
ラ)の長さに設定する。そして、回転ローラ2…
によつて回転するウエーハ3のオリフラ3aが回
転ローラ2aと2aとの間に位置すると、ウエー
ハ3は矢印a方向に落ち込み回転が停止する。こ
のとき、ウエーハ3のオリフラ3aは中間の回転
ローラ2bと非接触状態となり、この状態をたと
えばフオトデイテクタによつて検出することによ
り、オリフラ3aの位置およびウエーハ3の中心
合せをしている。
There are various methods for aligning the centers of wafers, but the following methods are typical. That is, in the system shown in FIG. 3, a plurality of rotating rollers 2 are provided on one side of a wafer centering position 1, and the wafer 3 is rotated by pressing the wafer 3 against the rotating rollers 2 using air or tilting. In addition, 3 of the rotating rollers 2...
The rotation rollers 2a, 2a at both ends are arranged along the circumferential surface of the wafer 3, and the interval between the rotating rollers 2a, 2a at both ends is set to the length of the orientation flat 3a (hereinafter referred to as orientation flat) of the wafer 3. And rotating roller 2...
When the orientation flat 3a of the wafer 3 that is being rotated is located between the rotating rollers 2a, the wafer 3 falls in the direction of arrow a and stops rotating. At this time, the orientation flat 3a of the wafer 3 is in a non-contact state with the intermediate rotating roller 2b, and by detecting this state with, for example, a photodetector, the position of the orientation flat 3a and the center of the wafer 3 are aligned.
また、第4図に示すものは、ウエーハ3をチヤ
ツク(図示しない)によつて吸着した状態で回転
させ、オリフラ3aがローラ4aと4aに平行な
方向を向いたとき、これをフオトデイテクタなど
で検出、回転を停止してバキユームチヤツクを解
除し、シリンダなどによつてウエーハ3をローラ
4b方向に押し、ウエーハ中心合せポジシヨン1
の片側に設けた複数の回転自在なローラ4…に当
接し、オリフラ3aの位置およびウエーハ3の中
心合せを行なつている。 In addition, in the case shown in FIG. 4, when the wafer 3 is rotated while being attracted by a chuck (not shown) and the orientation flat 3a faces in a direction parallel to the rollers 4a and 4a, this is detected by a photodetector or the like. , the rotation is stopped, the vacuum chuck is released, and the wafer 3 is pushed toward the roller 4b using a cylinder or the like, and the wafer is centered at position 1.
The wafer 3 is brought into contact with a plurality of rotatable rollers 4 provided on one side of the wafer 3 to align the position of the orientation flat 3a and the center of the wafer 3.
しかしながら、前記いずれの中心合せ装置にお
いても、ローラがウエーハの外周面に沿つて配設
されているため、ウエーハの外径にバラツキがあ
ると、ウエーハの外周面がすべてのローラに接触
することはできず、ウエーハの中心位置にずれが
生じるとともに、オリフラの長さにもバラツキが
あるため、オリフラ位置を正確に位置決めするこ
とはできないという不都合がある。 However, in any of the above centering devices, the rollers are arranged along the outer circumferential surface of the wafer, so if there are variations in the outer diameter of the wafer, the outer circumferential surface of the wafer will not come into contact with all the rollers. This causes a shift in the center position of the wafer, and there is also variation in the length of the orientation flat, so there is a problem that the orientation flat position cannot be accurately determined.
また、前述のように問題点を解決するために、
第5図および第6図に示すように構成したものも
知られている。第5図に示すものは、ウエーハ中
心合せポジシヨン1を囲繞するように配設した複
数個のローラ5…の外側に駆動ベルト6を掛渡
し、この駆動ベルト6を一対の駆動ローラ7によ
つて矢印方向に走行させる。さらに、前記各ロー
ラ5…の偏心位置に接触子8を取付け、ローラ5
…の回転によつて接触子8…をウエーハ3の中心
方向に変位させることによつてウエーハ3の外周
面を中心方向に押しし付けて中心合せをするよう
にしたものである。第6図に示すものは、ウエー
ハ中心合せボジシヨン1を囲繞するように配設し
た複数の揺動アーム9…を外方に付勢するととも
に、その先端に接触子10…を設け、これら揺動
アーム9…を押しリング11を上方へ移動させる
ことによつて接触子10…をウエーハ3の外周面
を中心方向に押圧させて中心合せするようにした
ものである。 Also, in order to solve the problem as mentioned above,
Devices configured as shown in FIGS. 5 and 6 are also known. In the system shown in FIG. 5, a drive belt 6 is wound around the outside of a plurality of rollers 5 arranged so as to surround a wafer centering position 1, and this drive belt 6 is driven by a pair of drive rollers 7. Run in the direction of the arrow. Furthermore, a contactor 8 is attached to an eccentric position of each of the rollers 5, and the roller 5 is
By displacing the contacts 8 toward the center of the wafer 3 by the rotation of the wafer 3, the outer circumferential surface of the wafer 3 is pressed toward the center for centering. In the device shown in FIG. 6, a plurality of swinging arms 9 arranged to surround the wafer centering position 1 are urged outward, and contacts 10 are provided at the tips of the swinging arms 9, and these swinging arms are By moving the arms 9 upward and pushing the ring 11 upward, the contacts 10 press the outer peripheral surface of the wafer 3 toward the center, thereby aligning the center.
このように構成することによつて、ウエーハの
外径にバラツキがあつても、その中心合せが可能
であるが、第5図の場合には駆動ローラ7によつ
て駆動ベルト6を走行させているため、駆動ベル
ト6に部分的にたわみが生じて駆動ベルト6にス
リツプ現象が生じ、これを補正する機構が必要と
なる。また、第6図の場合には押しリング11を
水平に上下移動させることが困難であるととも
に、接触子10…の位置調整が難しいという問題
がある。 With this configuration, even if the outer diameter of the wafer varies, it is possible to center the wafer, but in the case of FIG. 5, the drive belt 6 is run by the drive roller 7. As a result, the drive belt 6 is partially bent, causing a slip phenomenon in the drive belt 6, and a mechanism for correcting this is required. Further, in the case of FIG. 6, there are problems in that it is difficult to horizontally move the push ring 11 up and down, and it is also difficult to adjust the positions of the contacts 10.
この発明は、前記事情に着目してなされたもの
で、その目的とするところは、ウエーハのオリフ
ラ位置がどの位置にあつても、またウエーハの外
径にバラツキがあつてもウエーハの中心を正確に
合せることができるウエーハの中心合せ装置を提
供することにある。
This invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is to accurately maintain the center of the wafer no matter where the orientation flat position of the wafer is or even if there are variations in the outer diameter of the wafer. An object of the present invention is to provide a wafer centering device that can center a wafer.
この発明は、前記目的を達成するために、水平
面内で回転自在に支持されるとともにウエーハ設
置部を囲繞する摺動リングの周縁に複数の回動ア
ームを等間隔に配設し、これら回動アームの一端
部に回動アームの回動に伴つて前記ウエーハの外
周面を中心方向に押圧する接触子を設け、前記各
回動アームを同一変位させ接触子をウエーハの中
心に対して進退させることによりウエーハの中心
を合せるように構成したことにある。
In order to achieve the above object, the present invention includes a plurality of rotating arms disposed at equal intervals around the periphery of a sliding ring that is rotatably supported in a horizontal plane and surrounding a wafer installation part, and these rotating arms are arranged at equal intervals. A contact element is provided at one end of the arm to press the outer circumferential surface of the wafer toward the center as the rotating arm rotates, and each of the rotating arms is displaced in the same manner to move the contact element forward and backward with respect to the center of the wafer. The reason is that the wafer is configured to align the center of the wafer.
以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described based on the drawings.
第1図はウエーハの中心合せ装置を上方から見
た状態で、第2図はその一部を断面した側面図で
ある。図中21は、リング状に形成された固定ベ
ースであり、この固定ベース21の上面には軸受
22を介して摺動リング23が水平面内で回転自
在に支持されている。そして、この摺動リング2
3によつてウエーハ設置部24を囲繞しており、
このウエーハ設置部24にはウエーハ搬送路(図
示しない)を介して搬入されたウエーハ25をそ
の下面から真空吸着するバキユームチヤツク26
が設けられている。さらに、前記摺動リング23
の正面には周方向に等間隔に複数個、この実施例
によれば6個のてこ式接触機構27…が設けられ
ている。これらてこ式接触機構27…は同一構造
であるため、その1個について説明すると、28
は回動アームであり、この回動アーム28の中間
部は枢支ピン29によつて前記摺動リング23の
上面に回動自在に枢支されている。そして、この
回動アーム28の一端部にはつまみローラ30が
回転自在に軸支され、このつまみローラ30の上
面の偏心位置には円柱状の接触子31が固定され
ている。すなわち、つまみローラ30を回転する
ことによつて接触子31が公転して前記ウエーハ
25の外周面に対して進退するようになつてい
る。また、回動アーム28の他端部における側面
には摺動板32が一体に固定され、これと対向す
る前記固定ベース21の上面には摺動ピン33が
突設されている。さらに、前記回動アーム28の
端部と摺動リング23の外周面に突設したポスト
34との間には摺動板32と摺動ピン33とを圧
接するための引張りばね35が張設され、回動ア
ーム28を回動させる回動手段28aを構成して
いる。そして、摺動リング23が時計方向に回転
したとき摺動板32が摺動ピン33と摺動しなが
ら回動アーム28が枢支ピン29を支点として反
時計方向に回動して接触子31がウエーハ25の
外周面に向つて前進し、逆に摺動リング23が反
時計方向に回転したとき回動アーム28は時計方
向に回動して接触子31がウエーハ25の外周面
から後退するようになつている。しかも、前記て
こ式接触機構27…の回動アーム28は同時に同
一変位するように構成されている。 FIG. 1 shows the wafer centering device as seen from above, and FIG. 2 is a partially sectional side view thereof. In the figure, reference numeral 21 denotes a ring-shaped fixed base, and a sliding ring 23 is rotatably supported on the upper surface of the fixed base 21 via a bearing 22 in a horizontal plane. And this sliding ring 2
3 surrounds the wafer installation part 24,
The wafer installation section 24 has a vacuum chuck 26 that vacuum-chucks the wafer 25 carried in through a wafer conveyance path (not shown) from its lower surface.
is provided. Furthermore, the sliding ring 23
A plurality of lever-type contact mechanisms 27, six in this embodiment, are provided on the front surface of the lever-type contact mechanisms 27 at equal intervals in the circumferential direction. Since these lever type contact mechanisms 27... have the same structure, one of them will be explained as follows.
is a rotating arm, and the intermediate portion of this rotating arm 28 is rotatably supported on the upper surface of the sliding ring 23 by a pivot pin 29. A pinch roller 30 is rotatably supported at one end of the rotating arm 28, and a cylindrical contact 31 is fixed at an eccentric position on the upper surface of the pinch roller 30. That is, by rotating the pinch roller 30, the contactor 31 revolves and moves forward and backward relative to the outer peripheral surface of the wafer 25. Further, a sliding plate 32 is integrally fixed to the side surface of the other end of the rotating arm 28, and a sliding pin 33 is protruded from the upper surface of the fixed base 21 facing the sliding plate 32. Furthermore, a tension spring 35 is stretched between the end of the rotating arm 28 and a post 34 protruding from the outer circumferential surface of the sliding ring 23 to press the sliding plate 32 and the sliding pin 33. This constitutes a rotating means 28a for rotating the rotating arm 28. Then, when the sliding ring 23 rotates clockwise, the sliding plate 32 slides on the sliding pin 33, and the rotating arm 28 rotates counterclockwise about the pivot pin 29, and the contactor 31 moves forward toward the outer peripheral surface of the wafer 25, and conversely, when the sliding ring 23 rotates counterclockwise, the rotating arm 28 rotates clockwise and the contactor 31 retreats from the outer peripheral surface of the wafer 25. It's becoming like that. Moreover, the pivot arms 28 of the lever-type contact mechanisms 27 are configured to be displaced simultaneously and in the same manner.
このように構成された摺動リング23の外周面
の一部には外方に向つて作動杆36が突設されて
いて、この作動杆36の先端部はこれと直角方向
に設置されたアクチユエータ37と連結されてい
る。そして、アクチユエータ37によつて回動す
る作動杆36によつて摺動リング23が回転する
ようになつている。なお、38は摺動リング23
の外周面の一部に突設したマニユアル操作アーム
であり、調整時に摺動リング23を回転するもの
である。また、39は接触子31を調整するとき
に摺動リング23を固定ベース21に固定する固
定用治具である。 A part of the outer peripheral surface of the sliding ring 23 configured as described above is provided with an actuating rod 36 projecting outward, and the tip of the actuating rod 36 is connected to an actuator installed perpendicularly thereto. It is connected to 37. The sliding ring 23 is rotated by an operating rod 36 which is rotated by an actuator 37. In addition, 38 is the sliding ring 23
This is a manual operation arm that protrudes from a part of the outer peripheral surface of the slide ring 23, and rotates the sliding ring 23 during adjustment. Further, 39 is a fixing jig for fixing the sliding ring 23 to the fixed base 21 when adjusting the contactor 31.
しかして、各てこ式接触機構27…の接触子3
1…が同一内接円をなすようにセツテイングを行
なうため、マニユアル操作アーム38を操作して
摺動リング23を回転させて各回動アーム28…
を調整指示位置に合せる。そして、固定用治具3
9によつて摺動リング23を固定する。この状態
で、マスタ円盤(図示しない)をウエーハ設置部
24のバキユームチヤツク26に吸着する。そし
て、各てこ式接触機構27…のつまみローラ30
を回転させて接触子31をマスタ円盤の外周面に
接触する。 Therefore, the contact 3 of each lever type contact mechanism 27...
1... form the same inscribed circle, the manual operation arm 38 is operated to rotate the sliding ring 23, and each rotating arm 28...
to the adjustment position. And fixing jig 3
9 fixes the sliding ring 23. In this state, a master disk (not shown) is attracted to the vacuum chuck 26 of the wafer installation section 24. And the pinch roller 30 of each lever type contact mechanism 27...
is rotated to bring the contactor 31 into contact with the outer peripheral surface of the master disk.
このようにして各てこ式接触機構27…の接触
子31…をセツテイングしたのち、固定用治具3
9による摺動リング23の固定を解除しマスタ円
盤を取り外したのち、ウエーハ25の中心合せを
行なう。この場合、ウエーハ搬送路を介して搬入
されたウエーハ25はバキユームチヤツク26に
よつて吸着されてウエーハ設置部24にセツトさ
れる。つぎに、アクチユエータ37が作動して作
動杆36が矢印方向に回動すると、摺動リング2
3は時計方向に回転(実際には数度の回動角)す
る。したがつて、各てこ式接触機構27…の摺動
ピン33と摺動板32とが摺動し、回動アーム2
8は枢支ピン29を中心として反時計方向に回動
する。したがつて、接触子31…はウエーハ設置
部24の中心方向に移動してウエーハ25の外周
面を6方向からその中心方向に押圧する。このた
め、ウエーハ25は中心位置に移動し、この状態
で前記バキユームチヤツク26によつてウエーハ
25を吸着することによつてウエーハ25の中心
合せができる。このとき、前記回動アーム28
は、それらのうちの一つの回動アーム28に設け
られている接触子31が前記ウエーハ25のオリ
フラ25aの位置にあるとき他の回動アーム28
に設けられている接触子31により前記ウエーハ
25を保持できる位置に配設される。したがつ
て、前記回動アーム28の一定変位量は、前記回
動アーム28に設けられている接触子31が前記
ウエーハ25の外周部に接触し、且つ、前記オリ
フラ25aには接触しないように設定されてい
る。このため、この実施例においては、ウエーハ
25のオリフラ25aの存在によつて6個てこ式
接触機構27…のうち、1個の接触子31はオリ
フラ25aに対向して非接触状態となるが、残り
の5個の接触子31によつてウエーハ25の中心
合せが可能であり、そのオリフラ25aの位置が
どの位置であつても中心合せに影響することはな
いが、その接触子31の個数は5個以上であるこ
とが望ましい。これら一連の動作によつてウエー
ハ25の中心合せを行なつたのちであれば、固定
撮像素子とウエーハ自身の回動とによつてオリフ
ラ25aを非接触で検出することもできる。 After setting the contacts 31 of each lever-type contact mechanism 27 in this way, the fixing jig 3
After releasing the fixation of the sliding ring 23 by 9 and removing the master disk, the center of the wafer 25 is aligned. In this case, the wafer 25 carried in via the wafer transport path is attracted by the vacuum chuck 26 and set in the wafer setting section 24. Next, when the actuator 37 operates and the operating rod 36 rotates in the direction of the arrow, the sliding ring 2
3 rotates clockwise (actually a rotation angle of several degrees). Therefore, the sliding pin 33 and the sliding plate 32 of each lever type contact mechanism 27 slide, and the rotating arm 2
8 rotates counterclockwise around a pivot pin 29. Therefore, the contacts 31 move toward the center of the wafer installation section 24 and press the outer peripheral surface of the wafer 25 from six directions toward the center. Therefore, the wafer 25 moves to the center position, and in this state, the vacuum chuck 26 sucks the wafer 25, thereby making it possible to center the wafer 25. At this time, the rotating arm 28
When the contactor 31 provided on one of the rotating arms 28 is at the orientation flat 25a of the wafer 25, the other rotating arm 28
The wafer 25 is disposed at a position where the wafer 25 can be held by a contactor 31 provided thereon. Therefore, the fixed amount of displacement of the rotating arm 28 is such that the contactor 31 provided on the rotating arm 28 contacts the outer peripheral portion of the wafer 25 and does not contact the orientation flat 25a. It is set. Therefore, in this embodiment, due to the presence of the orientation flat 25a of the wafer 25, one contactor 31 out of the six lever-type contact mechanisms 27 faces the orientation flat 25a and is in a non-contact state. Centering of the wafer 25 is possible using the remaining five contacts 31, and no matter where the orientation flat 25a is located, the centering is not affected; however, the number of contacts 31 is It is desirable that the number is 5 or more. After centering the wafer 25 through these series of operations, the orientation flat 25a can also be detected in a non-contact manner using the fixed image pickup device and the rotation of the wafer itself.
なお、前記一実施例によれば、摺動リング23
を回転する手段としてアクチユエータによつて回
動する作動杆を用いたが、これに限定されず、他
の回転駆動手段でもよく、また各回動アームを回
動させる手段として摺動板と摺動ピンとを用いた
が、この構造においても限定されるものではな
い。 Note that, according to the embodiment, the sliding ring 23
Although an actuating rod rotated by an actuator is used as a means for rotating the rotary arm, the present invention is not limited to this, and other rotary drive means may be used, and a sliding plate and a sliding pin can be used as a means for rotating each rotary arm. was used, but this structure is not limited.
そして、この発明のウエーハ中心合せ装置は、
ウエーハ検査工程、露光工程、各種処理工程等の
半導体製造工程において、ウエーハの中心合せを
必要とする工程であればどこでも使用できる。 The wafer centering device of this invention is
It can be used in any semiconductor manufacturing process such as a wafer inspection process, exposure process, and various processing processes that requires centering of a wafer.
以上説明したように、この発明によれば、ウエ
ーハの外径にバラツキがあつても、オリエンテー
シヨンフラツトの位置がどの位置にあつても、ウ
エーハの外周から同時に同一変位する複数個の接
触子によつて中心方向に押圧することにより、正
確に中心合せすることができるという効果を奏す
る。
As explained above, according to the present invention, even if there are variations in the outer diameter of the wafer, regardless of the position of the orientation flat, a plurality of contacts that are simultaneously displaced from the outer circumference of the wafer in the same manner By pressing toward the center with the child, the center can be accurately aligned.
第1図はこの発明の一実施例を示すウエーハ中
心合せ装置の平面図、第2図は同じく一部を縦断
側面図、第3図乃至第6図は従来のウエーハの中
心合せ装置のそれぞれ異なる例を示す説明図であ
る。
21……固定ベース、23……摺動リング、2
4……ウエーハ設置部、25……ウエーハ、28
a……回動手段、28……回動アーム、31……
接触子。
FIG. 1 is a plan view of a wafer centering device showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partially longitudinal side view of the same, and FIGS. 3 to 6 are different views of conventional wafer centering devices. It is an explanatory diagram showing an example. 21...Fixed base, 23...Sliding ring, 2
4...Wafer installation part, 25...Wafer, 28
a... Rotating means, 28... Rotating arm, 31...
contact child.
Claims (1)
を有するウエーハの中心を所定位置に位置決めす
るウエーハの中心合わせ装置において、前記ウエ
ーハを着脱自在に保持するウエーハ設置部と、こ
のウエーハ設置部が固定された固定ベースと、こ
の固定ベースに水平面内で回転自在に支持される
とともに前記ウエーハ設置部を囲繞する摺動リン
グと、この摺動リングを回転駆動する摺動リング
回転手段と、この摺動リングの周方向に沿つて配
置されるとともにこの摺動リングに対して水平面
内で回動自在に枢支された少なくとも5個の回動
アームと、これら回動アームの一端部に設けられ
これら回動アームの回動に伴つて前記ウエーハの
外周面に当接する接触子と、前記固定ベースと前
記摺動リングとの間に設けられ前記摺動リング回
転手段による摺動リングの回転に伴つて前記各回
動アームを前記ウエーハに対して一定量ずつ変位
させて前記接触子を前記ウエーハに弾性的に押圧
させることにより前記ウエーハの中心を所定位置
に位置決めする付勢手段とを具備し、前記少なく
とも5個の回動アームは、それらのうちの一つの
回動アームに設けられている接触子が前記ウエー
ハのオリエンテーシヨンフラツト位置にあるとき
他の回動アームに設けられている接触子により前
記ウエーハを保持できる位置に配設され、且つ、
前記回動アームの一定変位量は、前記回動アーム
に設けられている接触子が前記ウエーハの外周部
に接触し、且つ、前記オリエンテーシヨンフラツ
トには接触しないように設定されていることを特
徴とするウエーハの中心合せ装置。1. A wafer centering device for positioning the center of a wafer at a predetermined position, which has an orientation flat on a part of the peripheral edge, and a wafer installation part that removably holds the wafer, and a wafer installation part that is fixed. a fixed base, a sliding ring rotatably supported by the fixed base in a horizontal plane and surrounding the wafer installation section, a sliding ring rotating means for rotationally driving the sliding ring, and a sliding ring rotatably supported by the fixed base in a horizontal plane; at least five rotating arms disposed along the circumferential direction of the sliding ring and rotatably supported in a horizontal plane with respect to the sliding ring; A contact element that comes into contact with the outer peripheral surface of the wafer as the arm rotates, and a contact that contacts the outer peripheral surface of the wafer each time as the sliding ring rotates by the sliding ring rotation means provided between the fixed base and the sliding ring. biasing means for positioning the center of the wafer at a predetermined position by displacing the movable arm by a predetermined amount relative to the wafer and elastically pressing the contactor against the wafer; The pivoting arms of the pivoting arms of the wafer are arranged such that when the contactors provided on one of the pivoting arms are in the orientation flat position of the wafer, the contactors provided on the other pivoting arm cause the wafer to be is placed in a position where it can hold, and
The fixed amount of displacement of the rotating arm is set such that a contact provided on the rotating arm contacts the outer circumference of the wafer and does not contact the orientation flat. A wafer centering device featuring:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24095585A JPS62101045A (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Center aligner for wafer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24095585A JPS62101045A (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Center aligner for wafer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62101045A JPS62101045A (en) | 1987-05-11 |
| JPH0334216B2 true JPH0334216B2 (en) | 1991-05-21 |
Family
ID=17067135
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24095585A Granted JPS62101045A (en) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | Center aligner for wafer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62101045A (en) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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1985
- 1985-10-28 JP JP24095585A patent/JPS62101045A/en active Granted
Also Published As
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|---|---|
| JPS62101045A (en) | 1987-05-11 |
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