JPH0334931B2 - - Google Patents
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- JPH0334931B2 JPH0334931B2 JP58068006A JP6800683A JPH0334931B2 JP H0334931 B2 JPH0334931 B2 JP H0334931B2 JP 58068006 A JP58068006 A JP 58068006A JP 6800683 A JP6800683 A JP 6800683A JP H0334931 B2 JPH0334931 B2 JP H0334931B2
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- JP
- Japan
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- radiation
- image data
- parallel beam
- cross
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T12/00—Tomographic reconstruction from projections
- G06T12/20—Inverse problem, i.e. transformations from projection space into object space
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2211/00—Image generation
- G06T2211/40—Computed tomography
- G06T2211/421—Filtered back projection [FBP]
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、主として電子医療機器の分野で使用
される計算機トモグラフイ装置に関する。特に、
逆投影法により被検体の断面部分に関する放射線
吸収係数の分布画像を再構成する計算機トモグラ
フイ装置の改良に関する。
される計算機トモグラフイ装置に関する。特に、
逆投影法により被検体の断面部分に関する放射線
吸収係数の分布画像を再構成する計算機トモグラ
フイ装置の改良に関する。
計算機トモグラフイ装置では、放射線を発生さ
せ、この放射線を被検体の断面部分に透過させ、
その断面部分に関して多数の角度方向についてそ
れぞれ多数個のサンプリングデータとして得られ
る透視像データを収集するように構成されてい
る。この透視像データは、被検体の周りに0゜〜
360゜にわたる角度方向に収集することにより、放
射線吸収係数の分布画像を再構成するとき、ノイ
ズの少ない、各種のアーテイフアクトの少ない良
質の画像を得ることができる。このため、従来か
ら放射線ビームを被検体の周りに360゜回転させ
て、透視像データを収集するように構成された装
置が広く知られている。
せ、この放射線を被検体の断面部分に透過させ、
その断面部分に関して多数の角度方向についてそ
れぞれ多数個のサンプリングデータとして得られ
る透視像データを収集するように構成されてい
る。この透視像データは、被検体の周りに0゜〜
360゜にわたる角度方向に収集することにより、放
射線吸収係数の分布画像を再構成するとき、ノイ
ズの少ない、各種のアーテイフアクトの少ない良
質の画像を得ることができる。このため、従来か
ら放射線ビームを被検体の周りに360゜回転させ
て、透視像データを収集するように構成された装
置が広く知られている。
一方、透視像データの収集は、被検体の断面部
分に平行ビームの放射線を透過させ、この平行ビ
ームの放射線をその断面内で走査させることによ
り行うものと、フアンビームの放射線を発生さ
せ、これを被検体の断面部分に透過させて行うも
のとがある。この平行ビームによる透視像データ
の収集は能率が悪く、また放射線発生源のエネル
ギーの効率が悪く、これらの点からはフアンビー
ムを用いて透視像データを収集する方法が優れて
いる。しかし、フアンビームにより収集された透
視像データから、逆投影法により放射線吸収係数
の分布画像を再構成するには、どうしてもその演
算処理が複雑になり、したがつて、再構成画像を
得るまでの時間が長くなる。これを改良するため
本願発明者は、被検体にはフアンビームを照射し
てフアンビームによる透視像データを得て、これ
を演算により平行ビームによる透視像データと等
価なものに変換して、逆投影の処理を実行する方
法を発明して特許出願した（特願昭58−44802）。
分に平行ビームの放射線を透過させ、この平行ビ
ームの放射線をその断面内で走査させることによ
り行うものと、フアンビームの放射線を発生さ
せ、これを被検体の断面部分に透過させて行うも
のとがある。この平行ビームによる透視像データ
の収集は能率が悪く、また放射線発生源のエネル
ギーの効率が悪く、これらの点からはフアンビー
ムを用いて透視像データを収集する方法が優れて
いる。しかし、フアンビームにより収集された透
視像データから、逆投影法により放射線吸収係数
の分布画像を再構成するには、どうしてもその演
算処理が複雑になり、したがつて、再構成画像を
得るまでの時間が長くなる。これを改良するため
本願発明者は、被検体にはフアンビームを照射し
てフアンビームによる透視像データを得て、これ
を演算により平行ビームによる透視像データと等
価なものに変換して、逆投影の処理を実行する方
法を発明して特許出願した（特願昭58−44802）。
このようにして、フアンビームにより効率的に
透視像データを収集し、これを平行ビームに変換
して高速に逆投影の演算処理を実行することがで
きるようになつた。しかし、発明者は、平行ビー
ムによる透視像データに逆投影の処理を施すと
き、これを被検体の周りに0゜〜360°にわたる角度
方向に行うことにはなお無駄があり、さらにこれ
を効率的に演算処理することができることに気付
いた。
透視像データを収集し、これを平行ビームに変換
して高速に逆投影の演算処理を実行することがで
きるようになつた。しかし、発明者は、平行ビー
ムによる透視像データに逆投影の処理を施すと
き、これを被検体の周りに0゜〜360°にわたる角度
方向に行うことにはなお無駄があり、さらにこれ
を効率的に演算処理することができることに気付
いた。
本発明は、被検体の周り0゜〜360゜にわたる角度
方向にデータ収集を行う利点を失うことなく、さ
らに高速に逆投影の演算処理を実行することがで
きる計算機トモグラフイ装置を提供することを目
的とする。
方向にデータ収集を行う利点を失うことなく、さ
らに高速に逆投影の演算処理を実行することがで
きる計算機トモグラフイ装置を提供することを目
的とする。
本発明は、被検体の周りに0゜〜360゜にわたる角
度方向に放射線を照射してデータ収集を行い、こ
れにより得られた透視像データに、放射線吸収係
数の分布を求める再構成処理の一部を施して得ら
れる逆投影データの全角度方向のデータ群に対
し、180度異なる角度方向の二組の逆投影データ
の間で、収集径路（平行ビームの通路）が同一の
直線上にあるデータ毎に加算（または加算に比例
した演算）で逆投影データを作り、こうして得た
データを新しいデータとして、被検体の周りに角
度360°はなく、その半分の角度180゜にわたり逆投
影による再構成の演算を行うことを特徴とする。
度方向に放射線を照射してデータ収集を行い、こ
れにより得られた透視像データに、放射線吸収係
数の分布を求める再構成処理の一部を施して得ら
れる逆投影データの全角度方向のデータ群に対
し、180度異なる角度方向の二組の逆投影データ
の間で、収集径路（平行ビームの通路）が同一の
直線上にあるデータ毎に加算（または加算に比例
した演算）で逆投影データを作り、こうして得た
データを新しいデータとして、被検体の周りに角
度360°はなく、その半分の角度180゜にわたり逆投
影による再構成の演算を行うことを特徴とする。
本発明の逆投影による再構成は、平行ビームに
ついての透視像データにより行う。透視像データ
が平行ビームにより得られたものであるときに
は、その透視像データをそのまま用いることがで
きる。透視像データが、フアンビームにより収集
されたものであるときには、このデータを演算に
より平行ビームのデータに変換して、逆投影法に
より再構成する手段に供給すればよい。
ついての透視像データにより行う。透視像データ
が平行ビームにより得られたものであるときに
は、その透視像データをそのまま用いることがで
きる。透視像データが、フアンビームにより収集
されたものであるときには、このデータを演算に
より平行ビームのデータに変換して、逆投影法に
より再構成する手段に供給すればよい。
逆投影処理は処理データ数が非常に多く、再構
成のための時間の大きな部分を占める。しかし、
二つのデータを単に加算する処理は簡単であり、
かつデータの数もずつと少ないので、演算時間は
逆投影処理の時間に比べて無視できるほど短い。
したがつて、逆投影による再構成の時間は、本発
明により半分になる。
成のための時間の大きな部分を占める。しかし、
二つのデータを単に加算する処理は簡単であり、
かつデータの数もずつと少ないので、演算時間は
逆投影処理の時間に比べて無視できるほど短い。
したがつて、逆投影による再構成の時間は、本発
明により半分になる。
演算処理を行う角度180゜は0゜〜360゜の内の0゜〜
180゜でも、180゜〜360゜でもそのほかどの180゜の部
分でもよい。
180゜でも、180゜〜360゜でもそのほかどの180゜の部
分でもよい。
第１図は本発明実施例計算機トモグラフイ装置
のブロツク構成図である。テーブル・ガントリー
TGには、Ｘ線発生部XGとＸ線検出部Ｓとが装
備され、被検体PA（患者）を寝かせるように構成
されている。この被検体PAにＸ線発生部XGか
ら公知の手法により、フアンビームＸ線を発生し
被検体PAを透過させた後に、Ｘ線検出部Ｓで電
気信号に変換する。この電気信号は、データ収集
装置DASで増幅積分され、アナログ・デイジタ
ル変換されて、デイジタル信号の透視像データを
得る。この透過像データはデータ記憶装置DS１
に一時記憶され、前処理装置PPCにより、断面
像再構成のための前処理を施す。その前処理の結
果得られたデータはデータ記憶装置DS２に一時
記憶される。このデータ記憶装置DS２に記憶さ
れたデータは、フアンビーム平行ビーム変換装置
FPCで処理され、データ記憶装置DS３に一時記
憶される。
のブロツク構成図である。テーブル・ガントリー
TGには、Ｘ線発生部XGとＸ線検出部Ｓとが装
備され、被検体PA（患者）を寝かせるように構成
されている。この被検体PAにＸ線発生部XGか
ら公知の手法により、フアンビームＸ線を発生し
被検体PAを透過させた後に、Ｘ線検出部Ｓで電
気信号に変換する。この電気信号は、データ収集
装置DASで増幅積分され、アナログ・デイジタ
ル変換されて、デイジタル信号の透視像データを
得る。この透過像データはデータ記憶装置DS１
に一時記憶され、前処理装置PPCにより、断面
像再構成のための前処理を施す。その前処理の結
果得られたデータはデータ記憶装置DS２に一時
記憶される。このデータ記憶装置DS２に記憶さ
れたデータは、フアンビーム平行ビーム変換装置
FPCで処理され、データ記憶装置DS３に一時記
憶される。
このデータに対して、フーリエ変換装置FFT
との間でフーリエ変換の処理が施され、その結果
はデータ記憶装置DS４に一時記憶される。その
データ記憶装置DS４に記憶されたデータについ
て、フイルタ装置FILTによりフイルタ処理が施
され、さらに、逆フーリエ変換装置IFFTによ
り、逆フーリエ変換処理が施され、データ記憶装
置DS５に一時記憶される。このデータは逆投影
制御装置BPCにより処理されて映像データとな
り、映像データ記憶装置IMに記憶される。この
映像データは像写真撮影装置MFCで写真撮影さ
れ、画像表示装置GDCに表示される。
との間でフーリエ変換の処理が施され、その結果
はデータ記憶装置DS４に一時記憶される。その
データ記憶装置DS４に記憶されたデータについ
て、フイルタ装置FILTによりフイルタ処理が施
され、さらに、逆フーリエ変換装置IFFTによ
り、逆フーリエ変換処理が施され、データ記憶装
置DS５に一時記憶される。このデータは逆投影
制御装置BPCにより処理されて映像データとな
り、映像データ記憶装置IMに記憶される。この
映像データは像写真撮影装置MFCで写真撮影さ
れ、画像表示装置GDCに表示される。
上記テーブル・ガントリーTGにはテーブル・
ガントリー制御装置TGCが接続され、Ｘ線発生
部XGにはＸ線発生部制御装置XGCが接続され、
それぞれＸ線発生および照射の制御を行うように
構成されている。
ガントリー制御装置TGCが接続され、Ｘ線発生
部XGにはＸ線発生部制御装置XGCが接続され、
それぞれＸ線発生および照射の制御を行うように
構成されている。
これらのテーブル・ガントリー制御装置TGC
およびＸ線発生部制御装置XGC、さらに、各デ
ータ記憶装置DS１〜DS５、映像データ記憶装置
IM、各処理装置、制御装置および変換装置は、
撮影制御装置SCCにより制御されるように構成さ
れている。
およびＸ線発生部制御装置XGC、さらに、各デ
ータ記憶装置DS１〜DS５、映像データ記憶装置
IM、各処理装置、制御装置および変換装置は、
撮影制御装置SCCにより制御されるように構成さ
れている。
このように構成された計算機トモグラフイ装置
では、被検体PAをテーブル・ガントリーTGに
置き、被検体PAの断面部分に関してそれぞれ複
数Ｎ個のサンプリングデータとして得られる透視
像データを多数の角度方向に収集してデータ記憶
装置DS１に記憶し、これに前処理を施した後に、
フアンビーム平行ビーム変換装置FPCによりフ
アンビームで収集された透視像データは平行ビー
ムのデータに変換される。そのデータについて、
フーリエ変換装置FFTでフーリエ変換により上
記断面部分に関するフーリエ像データを得る。こ
のデータはデータ記憶装置DS４に記憶され、フ
イルタ装置FILTによるフイルタ処理および逆フ
ーリエ変換装置IFFTによる逆フーリエ変換処理
が施されて、放射線吸収係数に対応するデータと
なり、逆投影制御装置BPCにより逆投影されて、
各部の放射線吸収係数の分布をなす画像データと
なる。これは、画像表示装置GDCに表示すると
ともに、像写真撮影装置MFCで写真撮影を行う。
では、被検体PAをテーブル・ガントリーTGに
置き、被検体PAの断面部分に関してそれぞれ複
数Ｎ個のサンプリングデータとして得られる透視
像データを多数の角度方向に収集してデータ記憶
装置DS１に記憶し、これに前処理を施した後に、
フアンビーム平行ビーム変換装置FPCによりフ
アンビームで収集された透視像データは平行ビー
ムのデータに変換される。そのデータについて、
フーリエ変換装置FFTでフーリエ変換により上
記断面部分に関するフーリエ像データを得る。こ
のデータはデータ記憶装置DS４に記憶され、フ
イルタ装置FILTによるフイルタ処理および逆フ
ーリエ変換装置IFFTによる逆フーリエ変換処理
が施されて、放射線吸収係数に対応するデータと
なり、逆投影制御装置BPCにより逆投影されて、
各部の放射線吸収係数の分布をなす画像データと
なる。これは、画像表示装置GDCに表示すると
ともに、像写真撮影装置MFCで写真撮影を行う。
ここで、本発明の特徴とするところは、逆投影
制御装置BPCに供給されたデータは、互いに180゜
異なる角度方向の二組のデータの間で、平行ビー
ムの通路（データ収集径路）が同一の直線上にあ
るデータ毎に二つのデータが相互に加算され、こ
の加算されたデータを用いて、逆投影制御装置
BPCが逆投影の処理を実行するところにある。
制御装置BPCに供給されたデータは、互いに180゜
異なる角度方向の二組のデータの間で、平行ビー
ムの通路（データ収集径路）が同一の直線上にあ
るデータ毎に二つのデータが相互に加算され、こ
の加算されたデータを用いて、逆投影制御装置
BPCが逆投影の処理を実行するところにある。
第２図は本発明実施例装置の動作手順を示すフ
ローチヤートである。
ローチヤートである。
この実施例装置のアルゴリズムについて説明す
る。第３図は平行ビームについて被検体PAの断
面をxy平面で表す図で、ｐ（ｔ，θ）はtY平面で
直線Ｌ上での放射線の投影データ（プロジエクシ
ヨン）、ｆ（ｘ，ｙ）は点PT（ｘ，ｙ）における放
射線吸収係数、Δtは隣接する平行線間の長さと
すると、フイルタ補正逆投影法の場合のアルゴリ
ズムは次のとおりとなる。
る。第３図は平行ビームについて被検体PAの断
面をxy平面で表す図で、ｐ（ｔ，θ）はtY平面で
直線Ｌ上での放射線の投影データ（プロジエクシ
ヨン）、ｆ（ｘ，ｙ）は点PT（ｘ，ｙ）における放
射線吸収係数、Δtは隣接する平行線間の長さと
すると、フイルタ補正逆投影法の場合のアルゴリ
ズムは次のとおりとなる。
高速フーリエ変換（FFT）のアルゴリズムは、
フイルタリングのアルゴリズムは、
Ｑ（ωo，θi）＝Ｐ（ωo，θi）・Ｈ（ωo） ……(2)
逆フーリエ変換（IFFT）のアルゴリズムは、
逆投影のアルゴリズムは、
ｆ（ｘ，ｙ）＝CμM-1
〓i=0
q′（ti，θi） ……(4)
である。
ここで、本発明の特徴とするところは、
q′（ti，θi）＝ｑ（ti，θi）
＋ｑ（ti′，θi′） ……(5)
ただし、θi′＝θi＋180゜
ti′＝−ti
ti＝ｘ・cosθi＋ｙ・sinθi
として、互いに180゜角度方向の異なる二組のデー
タの間で、平行ビームの通路（データの収集径
路）が同一の直線上にあるデータ毎に、二つのデ
ータを相互に加算して利用するところにある。
タの間で、平行ビームの通路（データの収集径
路）が同一の直線上にあるデータ毎に、二つのデ
ータを相互に加算して利用するところにある。
第４図はある角度方向ｉ Viewのデータの組
とそれと180度角度方向の異なるi′Viewのデータ
の組の対応関係を示す図である。PAは被検体領
域、Ｏは被検体領域の中心を表す。
とそれと180度角度方向の異なるi′Viewのデータ
の組の対応関係を示す図である。PAは被検体領
域、Ｏは被検体領域の中心を表す。
第５図はある角度方向ｉ Viewのデータとそ
れと180度角度方向の異なるi′Viewのデータで収
集径路（平行ビーム通路）が同一直線上にあり合
成を受けるものの対応関係を示す図である。
れと180度角度方向の異なるi′Viewのデータで収
集径路（平行ビーム通路）が同一直線上にあり合
成を受けるものの対応関係を示す図である。
このような処理を行うことにより、透視像デー
タを被検体の周りに0゜〜360゜にわたる角度方向に
収集して、データ数を多くしてノイズの少ない、
各種のアーテイフアクトの少ない品質の高い画像
の再構成を、半分の処理時間で実行することがで
きる。
タを被検体の周りに0゜〜360゜にわたる角度方向に
収集して、データ数を多くしてノイズの少ない、
各種のアーテイフアクトの少ない品質の高い画像
の再構成を、半分の処理時間で実行することがで
きる。
なお、フアンビーム平行ビーム変換（FPC）
のアルゴリズムは、 ｉを平行ビームの透視像データの組（VIEW）
番号、 ｊを平行ビームのビーム番号（検出器のチヤン
ネル番号）、 i′をフアンビームの透視像データの組（VIEW）
番号、 j′をフアンビームのビーム番号（検出器のチヤ
ンネル番号）、とするとき、 i′＝ｉ＋１／Δθsin-1（（ｊ−Cc）Δt／ｌ）……(
6) j′＝Cc＋１／Δφsin-1（（ｊ−Cc）Δt／ｌ）……(
7) である。ここで、 Cμは定数、 Ｈ（ωn）はフイルタ関数 Δθ：隣接する二つの透視像データの組の間
（隣接する二つのVIEW間）の角度、（一定角
度間隔で走査を行う場合） Cc：中心ビーム番号（検出器の中心チヤンネ
ル番号） Δφ：フアンビームの隣接する２チヤンネル
（２ビーム）間のなす角度（検出器アレイが
Ｘ線源から見て等角度の間隔で排列されてい
る場合） ｌ：Ｘ線源と再構成中心間の距離 Δt：隣接する平行ビーム（検出器チヤンネル）
の間隔 である。
のアルゴリズムは、 ｉを平行ビームの透視像データの組（VIEW）
番号、 ｊを平行ビームのビーム番号（検出器のチヤン
ネル番号）、 i′をフアンビームの透視像データの組（VIEW）
番号、 j′をフアンビームのビーム番号（検出器のチヤ
ンネル番号）、とするとき、 i′＝ｉ＋１／Δθsin-1（（ｊ−Cc）Δt／ｌ）……(
6) j′＝Cc＋１／Δφsin-1（（ｊ−Cc）Δt／ｌ）……(
7) である。ここで、 Cμは定数、 Ｈ（ωn）はフイルタ関数 Δθ：隣接する二つの透視像データの組の間
（隣接する二つのVIEW間）の角度、（一定角
度間隔で走査を行う場合） Cc：中心ビーム番号（検出器の中心チヤンネ
ル番号） Δφ：フアンビームの隣接する２チヤンネル
（２ビーム）間のなす角度（検出器アレイが
Ｘ線源から見て等角度の間隔で排列されてい
る場合） ｌ：Ｘ線源と再構成中心間の距離 Δt：隣接する平行ビーム（検出器チヤンネル）
の間隔 である。
上記例に示す各アルゴリズムは、いずれも一例
を示すもので、平行ビームによるデータについて
逆投影を行うものであるかぎり、この他のどのよ
うなアルゴリズムを適用しても本発明を実施する
ことができる。
を示すもので、平行ビームによるデータについて
逆投影を行うものであるかぎり、この他のどのよ
うなアルゴリズムを適用しても本発明を実施する
ことができる。
互いに角度方向が180°異なるデータの加算は、
上記例では逆投影制御装置BPCでその逆投影の
直前に実行するように説明したが、逆投影制御装
置BPCに入力する前の段階で実行しても本発明
を実施することができる。
上記例では逆投影制御装置BPCでその逆投影の
直前に実行するように説明したが、逆投影制御装
置BPCに入力する前の段階で実行しても本発明
を実施することができる。
さらに、本発明の装置は専用の高速プロセツサ
（アレイ・プロセツサ等）、CPU、マイクロプロ
セツサ等の処理装置を付加したり、磁気デイス
ク、フロツピーテイスク、磁気テープ等の記憶装
置を接続したり、オペレータ・コンソール等の表
示操作器を加えることによつても構成することが
できる。あるいは不要の装置を省いて構成するこ
とができる。また、上記実施例でデータ記憶装置
を複数個共用して構成したり、複数の処理装置を
合体して構成したり、分離して構成することがで
きる。
（アレイ・プロセツサ等）、CPU、マイクロプロ
セツサ等の処理装置を付加したり、磁気デイス
ク、フロツピーテイスク、磁気テープ等の記憶装
置を接続したり、オペレータ・コンソール等の表
示操作器を加えることによつても構成することが
できる。あるいは不要の装置を省いて構成するこ
とができる。また、上記実施例でデータ記憶装置
を複数個共用して構成したり、複数の処理装置を
合体して構成したり、分離して構成することがで
きる。
以上説明したように、本発明によれば、被検体
の周りに0゜〜360゜にわたり透視像データを収集し
て、ノイズの少ないかつ各種のアーテイフアクト
の少ない高い品質の画像を再構成することができ
るとともに、逆投影による演算処理の時間を半分
にすることができる優れた効果がある。
の周りに0゜〜360゜にわたり透視像データを収集し
て、ノイズの少ないかつ各種のアーテイフアクト
の少ない高い品質の画像を再構成することができ
るとともに、逆投影による演算処理の時間を半分
にすることができる優れた効果がある。
第１図は本発明実施例装置のブロツク構成図。
第２図は本発明実施例装置の制御手順を示すフロ
ーチヤート。第３図は平行ビームについてＸ線透
視断面の座標を表示する図。第４図はある角度方
向ｉ Viewのデータの組とそれと180度角度方向
の異なるi′Viewのデータの組の対応関係を示す
図。第５図はある角度方向ｉ Viewのデータと
それと180度角度方向の異なるi′Viewのデータで
収集径路（平行ビーム通路）が同一直線上にある
合成を受けるものの対応関係を示す図。
第２図は本発明実施例装置の制御手順を示すフロ
ーチヤート。第３図は平行ビームについてＸ線透
視断面の座標を表示する図。第４図はある角度方
向ｉ Viewのデータの組とそれと180度角度方向
の異なるi′Viewのデータの組の対応関係を示す
図。第５図はある角度方向ｉ Viewのデータと
それと180度角度方向の異なるi′Viewのデータで
収集径路（平行ビーム通路）が同一直線上にある
合成を受けるものの対応関係を示す図。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 放射線を発生させこの放射線を被検体の断面
部分に透過させその断面部分に関してそれぞれ多
数個のサンプリングデータとして得られる透視像
データを前記被検体の周りに0゜〜360゜にわたる多
数の角度方向について収集し、この透視像データ
に前記断面部分に関する放射線吸収係数の分布を
求める再構成処理の一部を施し、平行ビームの逆
投影データを得る第一の手段と、 この第一の手段によつて得られた逆投影データ
より前記断面部分に関する放射線吸収係数の分布
画像を逆投影法により再構成する第二の手段と を含む計算機トモグラフイ装置において、 前記第一の手段によつて得られたある角度方向
の逆投影データの全角度方向にわたる集合である
逆投影データ群について、互いに180度異なる角
度方向の二組の逆投影データ毎に収集径路が同一
である直線上にあるデータ毎に二つのデータの加
算または加算に比例する演算により得たデータを
前記第二の手段に供給する第三の手段を備え、 上記第二の手段は上記加算または加算に比例す
る演算で得たデータについて角度方向180゜にわた
り再構成の処理を行うように構成された ことを特徴とする計算機トモグラフイ装置。 ２ 第一の手段は、平行ビームの放射線を発生さ
せ平行ビームの透視像データを収集するように構
成された特許請求の範囲第１項に記載の計算機ト
モグラフイ装置。 ３ 第一の手段は、フアンビームの放射線を発生
させる手段と、フアンビームの放射線により得ら
れた透視像データを平行ビームの透視像データま
たはそのデータに再構成処理の一部を施して得ら
れたデータを平行ビームのデータに演算により変
換する手段とを含む特許請求の範囲第１項に記載
の計算機トモグラフイ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58068006A JPS59194260A (ja) | 1983-04-18 | 1983-04-18 | 計算機トモグラフイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58068006A JPS59194260A (ja) | 1983-04-18 | 1983-04-18 | 計算機トモグラフイ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59194260A JPS59194260A (ja) | 1984-11-05 |
| JPH0334931B2 true JPH0334931B2 (ja) | 1991-05-24 |
Family
ID=13361340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58068006A Granted JPS59194260A (ja) | 1983-04-18 | 1983-04-18 | 計算機トモグラフイ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59194260A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200471611Y1 (ko) * | 2011-12-07 | 2014-03-05 | 주식회사 휴테크산업 | 마사지기 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6198239A (ja) * | 1984-10-18 | 1986-05-16 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US4852132A (en) | 1985-08-30 | 1989-07-25 | Yokogawa Medical Systems | Method of collecting data for x-ray tomograph |
| JPH0799539B2 (ja) * | 1985-09-30 | 1995-10-25 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | 放射線断層撮影装置 |
-
1983
- 1983-04-18 JP JP58068006A patent/JPS59194260A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200471611Y1 (ko) * | 2011-12-07 | 2014-03-05 | 주식회사 휴테크산업 | 마사지기 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59194260A (ja) | 1984-11-05 |
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