JPH033896B2 - - Google Patents
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- JPH033896B2 JPH033896B2 JP57233532A JP23353282A JPH033896B2 JP H033896 B2 JPH033896 B2 JP H033896B2 JP 57233532 A JP57233532 A JP 57233532A JP 23353282 A JP23353282 A JP 23353282A JP H033896 B2 JPH033896 B2 JP H033896B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microprocessor
- processing
- data
- processing parameters
- memory
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/028—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
- G01D3/036—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves
- G01D3/0365—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves the undesired influence being measured using a separate sensor, which produces an influence related signal
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、マイクロプロセツサを用いてリニア
ライズ及び温度補正等の補正処理を行なう圧力測
定器の改良に関する。
ライズ及び温度補正等の補正処理を行なう圧力測
定器の改良に関する。
マイクロプロセツサの発達により、各種のプロ
セス測定器の信号処理にマイクロプロセツサが多
く用いられるようになつてきた。従来、かかるマ
イクロプロセツサを用いた圧力測定器は、第１図
に示すように圧力を検出しデイジタル信号に変換
する圧力検出回路１、温度検出回路２、マイクロ
プロセツサ３、信号処理手順を記憶する第１の不
揮発性読出し専用メモリ４、処理パラメータを記
憶する第２の不揮発性読出し専用メモリ５および
入出力回路６をもつて測定器本体７が構成され、
この測定器本体７は自身の入出力回路６を介して
外部機器（例えばプロセス制御機器）１０とデー
タの授受を行なうようになつている。そして、こ
の測定器本体７においてマイクロプロセツサ３
は、第１および第２の専用メモリ４，５の処理手
順および処理パラメータに基づいて圧力検出回路
１の圧力検出信号の必要な処理を行なうととも
に、圧力検出回路１に温度依存性があるので、温
度検出回路２からの温度検出信号を取込んで前記
処理と併せて圧力検出回路１の非直線性の補正処
理を行ない、その補正後のデータを入出力回路６
を介して外部機器１０へ与えている。なお、第１
および第２の専用メモリ４，５は、処理手順等の
プログラムを適宜な期間記憶しておく必要がある
こと、また電源を常時供給しておくことが難しい
こと等から不揮発性のROMが使用されている。
図中、Ｐは圧力、Ｔは温度を示している。
セス測定器の信号処理にマイクロプロセツサが多
く用いられるようになつてきた。従来、かかるマ
イクロプロセツサを用いた圧力測定器は、第１図
に示すように圧力を検出しデイジタル信号に変換
する圧力検出回路１、温度検出回路２、マイクロ
プロセツサ３、信号処理手順を記憶する第１の不
揮発性読出し専用メモリ４、処理パラメータを記
憶する第２の不揮発性読出し専用メモリ５および
入出力回路６をもつて測定器本体７が構成され、
この測定器本体７は自身の入出力回路６を介して
外部機器（例えばプロセス制御機器）１０とデー
タの授受を行なうようになつている。そして、こ
の測定器本体７においてマイクロプロセツサ３
は、第１および第２の専用メモリ４，５の処理手
順および処理パラメータに基づいて圧力検出回路
１の圧力検出信号の必要な処理を行なうととも
に、圧力検出回路１に温度依存性があるので、温
度検出回路２からの温度検出信号を取込んで前記
処理と併せて圧力検出回路１の非直線性の補正処
理を行ない、その補正後のデータを入出力回路６
を介して外部機器１０へ与えている。なお、第１
および第２の専用メモリ４，５は、処理手順等の
プログラムを適宜な期間記憶しておく必要がある
こと、また電源を常時供給しておくことが難しい
こと等から不揮発性のROMが使用されている。
図中、Ｐは圧力、Ｔは温度を示している。
ところで、マイクロプロセツサ３を用いてデー
タ処理を行なう圧力測定器は、その機器の製造時
および校正時などに機器の持つ固体差いわゆる器
差を考慮しつつマイクロプロセツサ３にてデータ
処理を行なつている。このため、第２の専用メモ
リ５にあつては、第２図に示すように抜き差し可
能な構成とし、必要なときに抜き取つて処理パラ
メータを書き替え、再度所定位置に差し込むよう
にしているが、これら一連のパラメータ書き替え
作業が煩雑であり、しかもメモリ５の抜き取りの
ために蓋８を開けるので機器内の熱的平衡状態が
使用時とは異なつてしまい、温度補正処理の正確
性が失なわれる欠点がある。
タ処理を行なう圧力測定器は、その機器の製造時
および校正時などに機器の持つ固体差いわゆる器
差を考慮しつつマイクロプロセツサ３にてデータ
処理を行なつている。このため、第２の専用メモ
リ５にあつては、第２図に示すように抜き差し可
能な構成とし、必要なときに抜き取つて処理パラ
メータを書き替え、再度所定位置に差し込むよう
にしているが、これら一連のパラメータ書き替え
作業が煩雑であり、しかもメモリ５の抜き取りの
ために蓋８を開けるので機器内の熱的平衡状態が
使用時とは異なつてしまい、温度補正処理の正確
性が失なわれる欠点がある。
本発明は、機器の蓋を開けずに特定の条件の下
に処理パラメータの書き替えを可能とし、機器内
部での熱的平衡状態を保持し得、かつ誤操作によ
り処理パラメータが揮発されないようにするマイ
クロプロセツサを用いた圧力測定器を提供するこ
とにある。
に処理パラメータの書き替えを可能とし、機器内
部での熱的平衡状態を保持し得、かつ誤操作によ
り処理パラメータが揮発されないようにするマイ
クロプロセツサを用いた圧力測定器を提供するこ
とにある。
本発明は、処理パラメータを記憶する電気的に
読出し、書き込み可能なメモリと、キーワードお
よび処理手順を記憶する読み出し専用メモリと、
錠付きスイツチとを有し、外部機器から前記キー
ワードに一致するデータが入力され、かつ錠付き
スイツチから特定のデータが入力されたとき、前
記処理手順に従つて読出し、書き込み可能なメモ
リを書き替え可能にする圧力測定器である。
読出し、書き込み可能なメモリと、キーワードお
よび処理手順を記憶する読み出し専用メモリと、
錠付きスイツチとを有し、外部機器から前記キー
ワードに一致するデータが入力され、かつ錠付き
スイツチから特定のデータが入力されたとき、前
記処理手順に従つて読出し、書き込み可能なメモ
リを書き替え可能にする圧力測定器である。
以下、本発明の一実施例について第３図および
第４図を参照して説明する。なお、これらの図に
おいて第１図および第２図と同一部分には同一符
号を付して詳しい説明は省略する。この圧力測定
器において特に従来のものを異なる点について述
べると、第１は従来の第２の専用メモリ５に代え
て電気的に読み出し、書き込み可能な例えば
EEP−ROM（Electricaly Erasable−PROM）等
の不揮発性メモリ１１を設け、これに処理パラメ
ータを記憶保持すること。このEEP−ROMとし
ては例えば米インテル社の2816EEP−ROMが使
用される。第２はマイクロプロセツサ３に錠付き
スイツチ１２を設け、キー１３によつて錠付きス
イツチ１２が予め定めた切換状態イ例えばスイツ
チオンとなつたときにマイクロプロセツサ３へ不
揮発性メモリ１１におけるデータ書き替え指令を
与えること。第３は処理手順を記憶するROMな
どの不揮発性読み出し専用メモリ４′を設け、こ
れに予め定めた一連のデータ（キーワード）Ａを
記憶させ、さらに外部機器（例えばプロセス制御
機器）１０から入出力回路６を通つて受領される
一連のデータと前記一連のデータＡとが一致し、
かつそのときの錠付きスイツチ１２がスイツチオ
ンのとき不揮発性メモリ１１のデータ書き替えを
可能とし、そうでないときに書き替えを禁止とす
る処理手順Ｂを記憶保持させたことにある。な
お、不揮発性読出し専用メモリ４′に記憶保持さ
せる一連のデータＡとしては、例えばアスキーコ
ードのCALBcr（crはキヤリツジリターン）の一
連のコードを用い、処理パラメータが誤操作等に
よつて書き変えられないようにする。また、錠付
きスイツチ１２は第４図に示すように測定器本体
７のパネル面７ａに取付けられる。
第４図を参照して説明する。なお、これらの図に
おいて第１図および第２図と同一部分には同一符
号を付して詳しい説明は省略する。この圧力測定
器において特に従来のものを異なる点について述
べると、第１は従来の第２の専用メモリ５に代え
て電気的に読み出し、書き込み可能な例えば
EEP−ROM（Electricaly Erasable−PROM）等
の不揮発性メモリ１１を設け、これに処理パラメ
ータを記憶保持すること。このEEP−ROMとし
ては例えば米インテル社の2816EEP−ROMが使
用される。第２はマイクロプロセツサ３に錠付き
スイツチ１２を設け、キー１３によつて錠付きス
イツチ１２が予め定めた切換状態イ例えばスイツ
チオンとなつたときにマイクロプロセツサ３へ不
揮発性メモリ１１におけるデータ書き替え指令を
与えること。第３は処理手順を記憶するROMな
どの不揮発性読み出し専用メモリ４′を設け、こ
れに予め定めた一連のデータ（キーワード）Ａを
記憶させ、さらに外部機器（例えばプロセス制御
機器）１０から入出力回路６を通つて受領される
一連のデータと前記一連のデータＡとが一致し、
かつそのときの錠付きスイツチ１２がスイツチオ
ンのとき不揮発性メモリ１１のデータ書き替えを
可能とし、そうでないときに書き替えを禁止とす
る処理手順Ｂを記憶保持させたことにある。な
お、不揮発性読出し専用メモリ４′に記憶保持さ
せる一連のデータＡとしては、例えばアスキーコ
ードのCALBcr（crはキヤリツジリターン）の一
連のコードを用い、処理パラメータが誤操作等に
よつて書き変えられないようにする。また、錠付
きスイツチ１２は第４図に示すように測定器本体
７のパネル面７ａに取付けられる。
次に、以上のように構成された圧力測定器の作
用について説明する。圧力検出回路１は圧力Ｐを
検出しこれをデイジタル的な圧力検出信号に変換
してマイクロプロセツサ３に供給する。温度検出
回路２も同様に温度Ｔを検出しこれをデイジタル
的な温度検出信号に変換した後、マイクロプロセ
ツサ３に供給する。ここで、マイクロプロセツサ
３は不揮発性読出し専用メモリ４′の前処理手順
に従い、かつ不揮発性メモリ１１の処理パラメー
タを読出して圧力検出信号についてリニアライ
ズ、温度補正等の処理を行なつた後、入出力回路
６を介して外部機器１０へ伝送される。
用について説明する。圧力検出回路１は圧力Ｐを
検出しこれをデイジタル的な圧力検出信号に変換
してマイクロプロセツサ３に供給する。温度検出
回路２も同様に温度Ｔを検出しこれをデイジタル
的な温度検出信号に変換した後、マイクロプロセ
ツサ３に供給する。ここで、マイクロプロセツサ
３は不揮発性読出し専用メモリ４′の前処理手順
に従い、かつ不揮発性メモリ１１の処理パラメー
タを読出して圧力検出信号についてリニアライ
ズ、温度補正等の処理を行なつた後、入出力回路
６を介して外部機器１０へ伝送される。
次に、機器を校正する場合、測定器本体７が恒
温槽中に設置され、かつこの測定器本体７には外
部機器１０として例えば校正用基準圧力発生器、
温度制御装置および制御用コンピユータから成る
校正設備が接続される。そして、測定器本体７に
は制御用コンピユータにより所定の温度および基
準圧力が加えられる。その際、錠付きスイツチ１
２にキー１３を挿し込んで錠付きスイツチ１２を
オンとしデータの書き替えを可能とするととも
に、制御用コンピユータから例えばCALBcrコー
ドの如き一連のデータが送出される。この一連の
コードは入出力回路６を経てマイクロプロセツサ
３に入力される。マイクロプロセツサ３は、外部
機器１０から一連のデータが入力されると、その
データと不揮発性読み出し専用メモリ４′の一連
のデータＡとを比較し一致すれば、さらに前記専
用メモリ４′の処理手順Ｂに基づいて錠付きスイ
ツチ１２からの書き込み指令が不揮発性メモリ１
１への書き替え許可であると判断する。そして、
マイクロプロセツサ３は、機器の出力データが正
しい値となるように処理パラメータを求め、この
処理パラメータの不揮発性メモリ１１への書き替
えを実行する。実際的には、各圧力および各温度
に対して実施することにより、リニアライズ、温
度補正等の処理パラメータが最適化され校正が完
了される。校正後、錠付きスイツチ１２がオフと
され、処理手順Ｂにより不揮発性メモリ１１はデ
ータの書き替えが禁止され、同メモリ１１として
は校正された処理パラメータを記憶保持する。
温槽中に設置され、かつこの測定器本体７には外
部機器１０として例えば校正用基準圧力発生器、
温度制御装置および制御用コンピユータから成る
校正設備が接続される。そして、測定器本体７に
は制御用コンピユータにより所定の温度および基
準圧力が加えられる。その際、錠付きスイツチ１
２にキー１３を挿し込んで錠付きスイツチ１２を
オンとしデータの書き替えを可能とするととも
に、制御用コンピユータから例えばCALBcrコー
ドの如き一連のデータが送出される。この一連の
コードは入出力回路６を経てマイクロプロセツサ
３に入力される。マイクロプロセツサ３は、外部
機器１０から一連のデータが入力されると、その
データと不揮発性読み出し専用メモリ４′の一連
のデータＡとを比較し一致すれば、さらに前記専
用メモリ４′の処理手順Ｂに基づいて錠付きスイ
ツチ１２からの書き込み指令が不揮発性メモリ１
１への書き替え許可であると判断する。そして、
マイクロプロセツサ３は、機器の出力データが正
しい値となるように処理パラメータを求め、この
処理パラメータの不揮発性メモリ１１への書き替
えを実行する。実際的には、各圧力および各温度
に対して実施することにより、リニアライズ、温
度補正等の処理パラメータが最適化され校正が完
了される。校正後、錠付きスイツチ１２がオフと
され、処理手順Ｂにより不揮発性メモリ１１はデ
ータの書き替えが禁止され、同メモリ１１として
は校正された処理パラメータを記憶保持する。
従つて、以上のような実施例の構成によれば、
処理パラメータの記憶保持に電気的に読み出し書
き込み可能な不揮発性メモリ１１を用い、かつ錠
付きスイツチ１２のオン・オフおよび例えば
CALBcrのキーワードにより、前記メモリ１１の
書き替えおよび禁止の処理手順がなされるように
したので、処理パラメータは電源の供給停止によ
つて揮発することがないばかりか、誤操作によつ
て処理パラメータが破壊されるようなこともなく
なる。しかも、不揮発性メモリ１１は電気的に書
き込みができるため、例えば校正時の処理パラメ
ータの変更に対しても機器の蓋８を開ける必要が
なくなり、機器内部の熱的平衡がくずれて温度補
正パラメータを求めることができなくなるような
心配はなくなる。
処理パラメータの記憶保持に電気的に読み出し書
き込み可能な不揮発性メモリ１１を用い、かつ錠
付きスイツチ１２のオン・オフおよび例えば
CALBcrのキーワードにより、前記メモリ１１の
書き替えおよび禁止の処理手順がなされるように
したので、処理パラメータは電源の供給停止によ
つて揮発することがないばかりか、誤操作によつ
て処理パラメータが破壊されるようなこともなく
なる。しかも、不揮発性メモリ１１は電気的に書
き込みができるため、例えば校正時の処理パラメ
ータの変更に対しても機器の蓋８を開ける必要が
なくなり、機器内部の熱的平衡がくずれて温度補
正パラメータを求めることができなくなるような
心配はなくなる。
なお、上記実施例では、キーワードにアスキー
コードのCALBcrを用いたが、これには通常のデ
ータ授受には使用しえない文字列ないしバイナリ
コードを用いてもよいことは言うまでもない。ま
た、錠付きスイツチ１２の代りに例えば電子式ス
イツチ回路を用い、このスイツチ回路を予め定め
た所定回数オンとしたとき書き替え指令であると
するか、或いはオン・オフからなる符号信号をも
つて書き替え指令であると意味づけてもよい。ま
た、蓋付きの錠付きスイツチであつてもよい。そ
の他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々
変形して実施できる。
コードのCALBcrを用いたが、これには通常のデ
ータ授受には使用しえない文字列ないしバイナリ
コードを用いてもよいことは言うまでもない。ま
た、錠付きスイツチ１２の代りに例えば電子式ス
イツチ回路を用い、このスイツチ回路を予め定め
た所定回数オンとしたとき書き替え指令であると
するか、或いはオン・オフからなる符号信号をも
つて書き替え指令であると意味づけてもよい。ま
た、蓋付きの錠付きスイツチであつてもよい。そ
の他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々
変形して実施できる。
以上詳記したように本発明によれば、処理パラ
メータの記憶保持に電気的な読み出し書き替え可
能なメモリを用い、かつこのメモリの書き替えが
錠付きスイツチ及びキーワードによつて保護され
ているので、誤操作によつて処理パラメータが破
壊されるようなことがなく、かつ、機器の蓋を開
けずに外部から勝手に操作されることなく特定の
条件の下に処理パラメータの変更が可能であり、
機器内部は実使用時と同様の熱的平衡状態を保持
して校正を行なうことができ、ひいては温度補正
の正確性を期し得る圧力測定器を提供できる。
メータの記憶保持に電気的な読み出し書き替え可
能なメモリを用い、かつこのメモリの書き替えが
錠付きスイツチ及びキーワードによつて保護され
ているので、誤操作によつて処理パラメータが破
壊されるようなことがなく、かつ、機器の蓋を開
けずに外部から勝手に操作されることなく特定の
条件の下に処理パラメータの変更が可能であり、
機器内部は実使用時と同様の熱的平衡状態を保持
して校正を行なうことができ、ひいては温度補正
の正確性を期し得る圧力測定器を提供できる。
第１図は従来の圧力測定器のブロツク構成図、
第２図は開蓋時の機器内部の状態図、第３図は本
発明に係る圧力測定器の一実施例を示すブロツク
構成図、第４図は機器の外観を示す概念図であ
る。 １……圧力検出回路、２……温度検出回路、３
……マイクロプロセツサ、４′……不揮発性読出
し専用メモリ、６……入出力回路、７……測定器
本体、１０……外部機器、１１……不揮発性メモ
リ、１２……錠付きスイツチ。
第２図は開蓋時の機器内部の状態図、第３図は本
発明に係る圧力測定器の一実施例を示すブロツク
構成図、第４図は機器の外観を示す概念図であ
る。 １……圧力検出回路、２……温度検出回路、３
……マイクロプロセツサ、４′……不揮発性読出
し専用メモリ、６……入出力回路、７……測定器
本体、１０……外部機器、１１……不揮発性メモ
リ、１２……錠付きスイツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 外気の検出温度に基づいてマイクロプロセツ
サが圧力検出回路によつて検出された圧力検出信
号の補正処理を行う圧力測定器において、 必要な時に外部機器を前記マイクロプロセツサ
に接続し、このマイクロプロセツサと外部機器と
の間のデータの授受を司る入出力回路と、前記マ
イクロプロセツサに接続され、前記補正処理その
他のデータ処理に必要な前記処理パラメータを記
憶する電気的に読み出し・書き込み可能な不揮発
性メモリと、前記マイクロプロセツサに接続さ
れ、予めキーワードおよび処理手順などを記憶す
る不揮発性読み出し専用メモリと、前記マイクロ
プロセツサ、入出力回路およびメモリ等が内蔵さ
れた筐体の外側に設けられ、必要な時に開蓋せず
に前記マイクロプロセツサに対し処理パラメータ
の書き替え指令を与える錠付きスイツチと、前記
マイクロプロセツサにおいて前記外部機器から入
力される所定のデータと予め定めた前記キーワー
ドとが一致し、かつ、前記錠付きスイツチから処
理パラメータの書き替え指令があつたときに前記
不揮発性メモリを書き替えを可能とし、前記外部
機器からのデータに基づいて前記処理パラメータ
を変更する処理パラメータ変更手段とを備え、前
記外筐内の熱的平行状態を保持しながら処理パラ
メータの書き替えを行うことを特徴とする圧力測
定器。 ２ 錠付きスイツチは、電子式スイツチを所定回
数オンとするものである特許請求の範囲第１項記
載の圧力測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23353282A JPS59122924A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 圧力測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23353282A JPS59122924A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 圧力測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59122924A JPS59122924A (ja) | 1984-07-16 |
| JPH033896B2 true JPH033896B2 (ja) | 1991-01-21 |
Family
ID=16956515
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23353282A Granted JPS59122924A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 圧力測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59122924A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1985004474A1 (en) * | 1984-03-30 | 1985-10-10 | Rosemount Inc. | Pressure compensated differential pressure sensor and method |
| JPS6197543A (ja) * | 1984-10-19 | 1986-05-16 | Fujikura Ltd | 半導体圧力センサの補償回路 |
| JPS61190149A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-23 | Hitachi Ltd | エンジン制御装置 |
| JPS62178342U (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-12 | ||
| JPS6311827A (ja) * | 1986-07-01 | 1988-01-19 | Kubota Ltd | 差圧計の零点補正装置 |
| JPH0695055B2 (ja) * | 1986-07-18 | 1994-11-24 | 山武ハネウエル株式会社 | リモ−トシ−ル形差圧・圧力発信器 |
| JPH0454700A (ja) * | 1990-06-25 | 1992-02-21 | Hitachi Ltd | センサ入力回路 |
| JP4712220B2 (ja) * | 2001-05-02 | 2011-06-29 | 大亜真空株式会社 | 圧力測定装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55138101A (en) * | 1979-04-13 | 1980-10-28 | Hitachi Ltd | Engine controller |
| JPS57117088A (en) * | 1981-01-12 | 1982-07-21 | Terumo Corp | Measuring apparatus |
| JPS57157112A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-28 | Teraoka Seiko Co Ltd | Method for compensating linearity in detector |
-
1982
- 1982-12-28 JP JP23353282A patent/JPS59122924A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59122924A (ja) | 1984-07-16 |
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