JPH033992Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案はICソケツトにおけるIC押えカバーの
ロツク機構に関し、例えば頻繁にICの着脱を行
なう測定用ICソケツトに好適に用いられる同ロ
ツク機構に係る。

従来技術 ICソケツトにおけるIC押えカバーは、ソケツ
ト基盤に設けたコンタクトとICの接点要素とを
加圧接触させ、且つICの搭載を保持するための
ものであつて、従つて該IC押えカバーの閉合状
態を保持するロツク機構が不可欠である。

このロツク機構として例えば第７図に示すよう
に、ソケツト基盤１の一端に該ソケツト基盤１上
に開閉されるIC押えカバー２を軸４ａを介して
回動可に枢着すると共に、同ソケツト基盤１の他
端にロツクレバー３を軸４ｂを介して枢着し、
IC押えカバー２を閉合した後、ロツクレバー３
を回動して同レバー３の自由端に設けた係止用突
部３ａが上記IC押えカバー２の自由端に設けた
係止用突部２ａ表面を摺動しつつ乗り越えて、該
突部２ａの一側に形成した溝２ｂに係入し、IC
押えカバー２の閉合保持及び上記コンタクト６と
IC接点要部との接触を保持するようにしている。

又他の従来例として、上記IC押えカバー２は
ソケツト基盤１に枢着せずに分離して形成し、同
基盤１に閉合した後ソケツト基盤１に枢着したロ
ツクレバー３をIC押えカバー２の上面の適所に
係合させその閉合を保持するようにしたものがあ
る。又上記ロツクレバー３はソケツト基盤１に回
動自在に枢着する他、IC押えカバー２に枢着し
ソケツト基盤１へ係合するようにしたものもあ
る。

考案が解決しようとする問題点 然るに上記第７図に代表例として示した従来例
においては、ロツクレバー３による係脱時、係止
用突部３ａ，２ａが相互にその表面を摺動しつつ
乗り越えて係合を果す構成であるから、IC測定
用ソケツトの如きICを頻繁に着脱する場合、従
つてロツクレバー３を頻繁に係脱する場合には係
止用突部２ａ，３ａが短期に摩耗し、IC押えカ
バー２に遊びや浮上りを生じてIC押え及び保持
を不安定にし接触不良を来す等、信頼性を著しく
低下させ、値が健全であつてもソケツト基盤全体
を廃棄せねばならず、商品のライフサイクルを著
しく低下させる結果となつていた。

上記問題点はロツクレバーをIC押えカバーに
設けた場合も同様である。

問題点を解決するための手段 本考案は上記問題点を解決する手段として、前
記IC押えカバーとロツクレバーとを備えたICソ
ケツトにおいて、上記IC押えカバーに形成した
ロツクレバー係止用突部又は上記ロツクレバーに
形成したIC押えカバー係止用突部を、滑性な表
面を有する耐摩耗性部材にて形成し、該耐摩耗性
部材の表面を係接面として上記回動ロツクレバー
による上記係脱を得る構成として該ロツクレバー
の繰り返し係脱による上記係止用突部の早期摩耗
の問題、及びこれに起因する上記不具合を極めて
効果的に解消しソケツトの長寿命使用を可能にし
たものである。

又上記耐摩耗性部材から成る係止用突部を自由
回動するように設けて係合時の摩擦抵抗の軽減を
図り上記効果の向上を図つたものである。

又上記係止用突部は耐摩耗性部材から成る軸部
材又はボール等によつて構成し、同様に摩擦抵抗
の軽減を図つたものである。

作 用 本考案によれば、上記構成によりロツクレバー
の係脱に際して同係止用突部が回動することに加
え、耐摩耗性を発揮してこの係止用突部の摺動部
位における摩耗を著しく低下させ、頻度の高い繰
返し係脱を行なつても、係合部位を健全に保つこ
とができ、従来の如き摩耗による有害なIC押え
カバーの遊びや浮上りの問題、これに起因する前
記不具合を効果的に解決し、ICソケツトを長寿
命とすることができると共に、この間ロツクレバ
ーのロツク部位を高精度に維持してICの保持と、
接触の保持とを安全且つ健全に行なわせ、高信頼
のICソケツトの提供を可能とする。

実施例 以下本考案の各実施例を図面に基いて説明す
る。

第１実施例（第１図Ａ乃至Ｄ参照） 図において１はIC５の接点要素５ａと接触す
べく配置された多数のコンタクト６を有するソケ
ツト基盤を示し、該ソケツト基盤１の一端に同ソ
ケツト基盤１に開閉されるIC押えカバー２を軸
４ａを介して回動自在に設け、該IC押えカバー
２を閉合して該ソケツト基盤１のIC搭載部１ａ
に搭載したIC５を同ソケツト基盤１との間で保
持しつつ押え力を与えてICの接点要素５ａと上
記コンタクト６との接触を保持する構成とし、該
ソケツト基盤１の他端にロツクレバー３を軸４ｂ
を介して回動自在に設け、該ロツクレバー３を
IC押えカバー２の上面に係合させて上記ICの保
持及び接触の保持を図る構成とする。

上記係合手段として、上記IC押えカバー２及
び上記ロツクレバー３の自由端に係止用突部２
ａ，３ａを夫々設ける。

上記IC押えカバー２の係止用突部２ａは滑生
な表面を有する耐摩耗性軸部材、例えば弾性を有
する表面をメツキ処理した金属製の軸によつて形
成し、該軸部材を該IC押えカバー２の自由端一
側から他側に亘り延在させると共に、該係止用突
部２ａたる軸部材の長手方向に沿う一側に隣接し
て同突部２ａに向け上り勾配としたガイド面２ｃ
を設ける。該ガイド面２ｃはその上位端を係止用
突部２ａたる軸部材の一方側死点から上死点P₂
寄りに近接した位置P₁に配置する。

又係止用突部２ａの他側にその上死点を過ぎた
位置に底面を有するロツクレバー３の係止用突部
３ａを受け入れる溝２ｂを設ける。上記ロツクレ
バー３の係止用突部３ａは上記耐摩耗性軸部材か
ら成る係止用突部２ａの表面を摺動しつつ乗り越
えて上記溝２ｂに受け入れられ、係止用突部２ａ
に滑り係合しIC押えカバー２とロツク状態とな
り、ICの保持及び上記コンタクト６とIC接点要
素５ａの接触を保持する。

コンタクト６は上下方向の撓み弾性を有し、上
記IC５の接点要素５ａは該コンタクト上に載接
され、第１図Ｄ図に示すように上記ロツクレバー
３の係止用突部３ａは上記コンタクト６の弾性に
抗しこれを下方へ撓ませながら、上記IC押えカ
バー２の係止用突部２ａを乗り越え、上記係合を
果す。即ち、IC押えカバー２の係止用突部２ａ
は初期においてガイド面２ｃに当り、該ガイド面
２ｃを上記コンタクト６の弾性に抗し押下げなが
ら該ガイド面２ｃの案内にて係止用突部２ａたる
軸部材の側死点を過ぎた位置P₁に到達し、同位
置から係止用突部２ａの表面を滑り摺動しなが
ら、これを更に上記コンタクト６の弾性に抗し押
下げ、その上死点P₂を乗り越えて上記係合を果
す。該係合状態はコンタクト６の上方復元力によ
つてガタなく保持される。

又は上記係止用突部２ａたる軸部材に曲げ弾性
を付与させ、該曲げ弾性に依存して上記係止用突
部２ａ，３ａ相互の乗り越え、滑り係合を許容す
る。

第２実施例（第２図参照） 同実施例は、上記ソケツト基盤１に閉合される
IC押えカバー２を同基盤１に枢結せずに分離し
て設け、該IC押えカバー２により該ソケツト基
盤１に搭載したIC５に押え力を与えてICの接点
要素５ａと上記コンタクト６との接触を保持する
構成とすると共に、上記IC押えカバー２の両端
に係止用突部２ａを設け、該係止用突部２ａを
夫々耐摩耗性軸部材にて形成し、これに対応して
上記ソケツト基盤１の両端にロツクレバー３を軸
４ｂを介して回動自在に枢着し、該両ロツクレバ
ー３の回動により同レバー３に設けた係合用突部
３ａがソケツト基盤１の両端で前記の如くIC押
えカバー２の係止用突部２ａに滑り係合し、該
IC押えカバー２の閉合保持及びコンタクト６と
IC接点要素５ａの接触を保持する構成とした場
合を示している。

第３実施例（第３図参照） 同実施例は、ソケツト基盤１の一端に係止用突
部２a′を設けると共に、同他端にIC押えカバー２
を軸４ａを介して回動自在に枢着し、該IC押え
カバー２の自由端にロツクレバー３を軸４ｂを介
して回動自在に枢着し、該IC押えカバー２を閉
合し然る後該ロツクレバー３を回動させてソケツ
ト基盤１に設けた係止用突部２a′に係合する構成
とし、該係止用突部２a′を耐摩耗性軸部材にて形
成し、該耐摩耗性軸部材表面を係接面とし摺動し
つつ前記係合を図るようにした場合を示す。

第４実施例（第４図参照） 上記各実施例がIC押えカバー２に設けた係止
用突部２ａを耐摩耗性部材によつて形成した場合
を示したのに対し、本実施例においては上記ロツ
クレバー３の係合用突部３ａを耐摩耗性の軸部材
によつて形成した場合を示している。

上記各実施例における如く係止用突部２ａ，３
ａ相互の係合による場合には何れか一方、又は双
方の係止用突部を耐摩耗性軸部材によつて形成す
る。又第３図に示す如く何れか一方にのみ係止用
突部２ａ又は３ａを設けることによつて上記ロツ
ク状態を形成する場合には該突部のみを耐摩耗性
部材によつて構成する。

第５実施例（第５図Ａ，Ｂ参照） 同実施例は前記IC押えカバーに設けた係止用
突部２ａを軸部材によつて形成し、該軸部材を支
軸９ｂと該支軸９ｂに緩挿する筒軸９ａとの複合
軸構造とし、支軸９ｂの両端をIC押えカバー２
に軸支させ、筒軸９ａを自由回動する如く構成
し、前記ロツクレバー３の係止用突部３ａが該筒
軸９ａを回動させながらこれを乗り越えて前記係
合を果すようにした場合を示している。

第６実施例（第６図Ａ，Ｂ，Ｃ参照） 同実施例は上記IC押えカバー２に設けた係止
用突部２ａ（又はロツクレバー３に設けた係止用
突部３ａ）を耐摩耗性のボール１０によつて構成
した場合を示す。該耐摩耗性ボール１０は例えば
第６図Ｂに示すように、IC押えカバー２の表面
に溝１１を設け、該溝１１の一端から複数の上記
ボール１０を滑入して一列に並設し、抜止め１２
にて導入部からの脱落を阻止し、同溝１１内に回
動自在に保持する。該回動を円滑に行なわせるた
め、溝１１の内面とボール１０との間に間隙１３
を形成する。

該実施例においてもガイド面２ｃを設け該ガイ
ド面２ｃの上位端をボール１０の上死点手前に位
置させる。

上記第１乃至第５実施例において、耐摩耗性部
材にて形成した係止用突部２ａ，２a′，３ａは第
６実施例と同様、回動自在に設ける。

考案の効果 以上説明した通り本考案によれば、上記構成に
より滑性な耐摩耗性部材から成る係止用突部がロ
ツクレバーの係脱に際して回動するので、この係
止用突部の摺動部位における摩耗劣化の問題を抜
本的に解消し、例えばIC測定等において頻度の
高い繰返し係脱を行なつても、係合部位を長久的
に健全に保つことができ、従来の如き摩耗による
有害なIC押えカバーの遊びや浮上りの問題、こ
れに起因するIC保持の不良、接触不良等の不具
合を効果的に解決し、ICソケツトを長寿命とす
ることができると共に、この間ロツクレバーのロ
ツク部位を高精度に維持してICの保持と、接触
の保持とを安定且つ健全に行なわせ、高信頼の
ICソケツトの提供を可能とする。よつてロツク
レバーの瑕疵のために短期間に交換を強いられて
いた使用者の経済的負担を著しく軽減させ且つ測
定の信頼性も向上させる等、単純な構成にして効
果的な課題解決を図ることができた。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の第１実施例を示し、同図Ａは
ICソケツトをロツク開放状態を以つて示す斜視
図、同図ＢはIC押えカバーの閉合状態を以つて
示す同斜視図、同図Ｃはロツクレバーによるロツ
ク状態を以つて示す同斜視図、同図Ｄは係止用突
部の係合状態に至る過程を側面拡大視して示す
図、第２図は第２実施例をロツク開放状態を以つ
て示すICソケツト一部切欠側面図、第３図は第
３実施例をロツク状態を以つて示すICソケツト
一部切欠側面図、第４図は第４実施例をロツク開
放状態を以つてICソケツト一部切欠側面図、第
５図は第５実施例を示し、同図Ａは軸部材を分解
して示すIC押えカバーの部分斜視図、同図Ｂは
同ロツクレバーのロツク状態を一部断面して示す
側面図、第６図は第６実施例を示し、同図Ａはロ
ツク開放状態を以つて示すICソケツト斜視図、
同図Ｂはボール滑入状態を説明するIC押えカバ
ーの部分斜視図、同図Ｃは同ボール滑入後の状態
を示すIC押えカバー断面図、第７図は従来のIC
ソケツトを部分断面して示す側面図である。 １……ソケツト基盤、２……IC押えカバー、
２ａ，３ａ…耐摩耗性部材から成る係止用突部、
３……ロツクレバー、５……IC、５ａ……ICの
接点要素、６……コンタクト。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ソケツト基盤に閉合されてICを保持するIC
   押えカバーと、上記ソケツト基盤又はIC押え
   カバーの何れか一方に回動可に取付けられて同
   他方に係脱し上記IC押えカバーの閉合の保持
   及び同解除を行なうロツクカバーとを具備する
   ICソケツトにおいて、上記IC押えカバーに形
   成したロツクレバー係止用突部又は上記ロツク
   レバーに形成したIC押えカバー係止用突部を、
   滑性な表面を有する耐摩耗性部材にて形成し、
   該耐摩耗性部材の表面を係接面として上記回動
   ロツクレバーによる上記係脱を得る構成とする
   と共に、上記係止用突部を自由回動するように
   設けたことを特徴とするICソケツトにおける
   IC押えカバーのロツク機構。 (2) 上記自由回動する係止用突部が軸部材から成
   ることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第
   １項記載のICソケツトにおけるIC押えカバー
   のロツク機構。 (3) 上記自由回動する係止用突部がボールから成
   ることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第
   １項記載のICソケツトにおけるIC押えカバー
   のロツク機構。