JPH0340348B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0340348B2 JPH0340348B2 JP57010464A JP1046482A JPH0340348B2 JP H0340348 B2 JPH0340348 B2 JP H0340348B2 JP 57010464 A JP57010464 A JP 57010464A JP 1046482 A JP1046482 A JP 1046482A JP H0340348 B2 JPH0340348 B2 JP H0340348B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insulation resistance
- low frequency
- switch
- transformer
- frequency voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/16—Measuring impedance of element or network through which a current is passing from another source, e.g. cable, power line
- G01R27/18—Measuring resistance to earth, i.e. line to ground
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は従来の活線回路の絶縁抵抗測定方法の
改良に関するものである。
改良に関するものである。
従来の活線回路の絶縁抵抗の測定方法例として
特公55−19510に開示されたものである。この方
法は通電中の電気機器の被測定物に電源周波数よ
りもかなり低い周波数の低周波電圧を、直列に挿
入した基準抵抗を介して印加し、その基準抵抗に
発生した電圧のうち上記低周波数の電圧のみを選
択増幅してその電圧値によつて絶縁抵抗を測定す
るものであるが、これによれば(i)低周波電圧の印
加に当つて被測定回路に直列に抵抗を挿入する必
要がある。(ii)商用周波数よりも低い低周波電圧を
印加したにせよ、対地浮遊容量が未知のため測定
電圧値への浮遊容量の影響が不明である、という
欠点がある。
特公55−19510に開示されたものである。この方
法は通電中の電気機器の被測定物に電源周波数よ
りもかなり低い周波数の低周波電圧を、直列に挿
入した基準抵抗を介して印加し、その基準抵抗に
発生した電圧のうち上記低周波数の電圧のみを選
択増幅してその電圧値によつて絶縁抵抗を測定す
るものであるが、これによれば(i)低周波電圧の印
加に当つて被測定回路に直列に抵抗を挿入する必
要がある。(ii)商用周波数よりも低い低周波電圧を
印加したにせよ、対地浮遊容量が未知のため測定
電圧値への浮遊容量の影響が不明である、という
欠点がある。
本発明は通電中の電路の絶縁抵抗測定において
該電路の接地線を低周波電圧の印加されたトラン
スまたは低周波電圧を発振する発振トランスのコ
アーを貫通（単に貫通あるいは数ターン巻装して
貫通）せしめることにより電路に低周波電圧を印
加すると共に、この接地線をして零相変流器をも
貫通せしめ、それによつて対地浮遊容量または絶
縁抵抗を介して帰還する漏減電流を検出し、この
検出された漏洩電流に含まれる印加低周波電圧の
周波成分を選択増幅しそれらの電圧値を用いて活
線回路の絶縁を測定するものである。
該電路の接地線を低周波電圧の印加されたトラン
スまたは低周波電圧を発振する発振トランスのコ
アーを貫通（単に貫通あるいは数ターン巻装して
貫通）せしめることにより電路に低周波電圧を印
加すると共に、この接地線をして零相変流器をも
貫通せしめ、それによつて対地浮遊容量または絶
縁抵抗を介して帰還する漏減電流を検出し、この
検出された漏洩電流に含まれる印加低周波電圧の
周波成分を選択増幅しそれらの電圧値を用いて活
線回路の絶縁を測定するものである。
この発明を以下実施例をもつて説明する。第１
図は本発明の実施例を示すもので、電源トランス
Ａの１次側には高圧電圧が印加されており、２次
側には負荷Ｚが接続されている。２次側電路の絶
縁抵抗をＲ、対地浮遊容量をＣで示している。電
源トランスＡは、第２種接地線Ｅ２にて接地され
ている。ここでは単相２線式電路の場合について
のべるが、本発明の方法はそれに限定されず、単
相３線、３相３線等にも同様に適応可能である。
図は本発明の実施例を示すもので、電源トランス
Ａの１次側には高圧電圧が印加されており、２次
側には負荷Ｚが接続されている。２次側電路の絶
縁抵抗をＲ、対地浮遊容量をＣで示している。電
源トランスＡは、第２種接地線Ｅ２にて接地され
ている。ここでは単相２線式電路の場合について
のべるが、本発明の方法はそれに限定されず、単
相３線、３相３線等にも同様に適応可能である。
接地線Ｅ２は、低周波電圧を発振する発振回路
OSCの発振トランスＴのコアーを貫通または数
回巻装して貫通している。巻線N1，N2は発振回
路を構成するためのものである。また接地線E2
は零相変流器ZCTをも貫通しており、これによ
つてZCTには絶縁抵抗Ｒ、ならびに対地浮遊容
量Ｃを介して、商用周波成分ならびにトランスＴ
による低周波電圧成分の漏洩電流が得られる。零
相変流器ZCTの出力は増幅器AMPにて増幅され
た後、増幅器AMP出力は印加した低周波の周波
成分のみを通すフイルタBPF1に加える。BPF1の
出力は、整流回路DET１に加えることにより該
当周波成分に相当する電圧が得られる。この電圧
にて絶縁抵抗を指示することができる。やや詳し
く説明するとトランスＴで電路に印加される低周
波電圧の電圧をV1（大地と電路間の電圧）とすれ
ば、リレー接点γl1〜γl3がオープンの状態では整
流回路DET1の出力電圧e1は となる。ここで低周波電圧の周波数を0＝ω0／2πと する。
OSCの発振トランスＴのコアーを貫通または数
回巻装して貫通している。巻線N1，N2は発振回
路を構成するためのものである。また接地線E2
は零相変流器ZCTをも貫通しており、これによ
つてZCTには絶縁抵抗Ｒ、ならびに対地浮遊容
量Ｃを介して、商用周波成分ならびにトランスＴ
による低周波電圧成分の漏洩電流が得られる。零
相変流器ZCTの出力は増幅器AMPにて増幅され
た後、増幅器AMP出力は印加した低周波の周波
成分のみを通すフイルタBPF1に加える。BPF1の
出力は、整流回路DET１に加えることにより該
当周波成分に相当する電圧が得られる。この電圧
にて絶縁抵抗を指示することができる。やや詳し
く説明するとトランスＴで電路に印加される低周
波電圧の電圧をV1（大地と電路間の電圧）とすれ
ば、リレー接点γl1〜γl3がオープンの状態では整
流回路DET1の出力電圧e1は となる。ここで低周波電圧の周波数を0＝ω0／2πと する。
周波数0を充分に低くするか、浮遊容量Ｃが小
さければ１／Ｒ≫ω0cとなり、e1は浮遊容量の影響 を受けずに絶縁抵抗を測定できることになる。
さければ１／Ｒ≫ω0cとなり、e1は浮遊容量の影響 を受けずに絶縁抵抗を測定できることになる。
ところで、式で示されるごとく測定された絶
縁抵抗は対地浮遊容量が大きいとき誤差を含むこ
とになるが、この誤差は次の方法で除去される。
トランスＴと零相変流器ZCTには前記同様接地
線ELが貫通しているが、更にこれら接地線の貫
通とは互に逆相となる向きに貫通する新たなルー
プ接続線LINKが貫通しており、この接続線には
リレー接点γl1〜γl3を介してコンデンサC1〜C3が
接続終端されている。
縁抵抗は対地浮遊容量が大きいとき誤差を含むこ
とになるが、この誤差は次の方法で除去される。
トランスＴと零相変流器ZCTには前記同様接地
線ELが貫通しているが、更にこれら接地線の貫
通とは互に逆相となる向きに貫通する新たなルー
プ接続線LINKが貫通しており、この接続線には
リレー接点γl1〜γl3を介してコンデンサC1〜C3が
接続終端されている。
ところで、接点γl1〜γl3のいくつかがオンした
ときの総合挿入容量をC0とするとき、零相変流
器には容量C0を介して逆相の電流が流れるため、
このときの整流回路DET１の出力をe′1とすれば、 となる。
ときの総合挿入容量をC0とするとき、零相変流
器には容量C0を介して逆相の電流が流れるため、
このときの整流回路DET１の出力をe′1とすれば、 となる。
したがつて式においてe′1が最小となるのは
Ｃ＝C0のときとなる。このようにe′1が最小に近
い値となるように容量C0を設定すれば、このと
きの整流回路DET1の出力e′1はＶ／Ｒとなるので正 確に絶縁抵抗を測定することができる。次に容量
C0の設定方法の一例を述べると、容量C0を増加
した後と、前の整流回路出力値e′1を比較し、も
し増加後e′1が減少していれば更に容量C0を増加
させ、第２図に示される如くC0の増加後e′1が増
加したならばその時点以前の容量C0にもどすこ
とによりe′1が最少となる如くするものである。
この「前後」のe′1の値を比較するためにスイツ
チSWとコンデンサCCならびにバツフアアンプ
BFからなるサンプルホルダを構成し、ステツプ
状にコンデンサC0を変化するたびにその時点の
DET１出力値を記憶するごとくクロツク回路か
らのパルスで制御する。整流回路DET１の出力
とすでに記憶されているバツフアアンプBFの出
力をレベル比較器COMPで比較し、もしDET１
出力がバツフアアンプBF出力より小さいときに
はクロツク回路CLOCKより供給されるクロツク
パルスとレベル比較器COMP出力と論理素子
ANDで論理積がとられ、例えば３ビツトからな
る２進カウンタCOUNTで計数をスタートする。
カウンタの各ビツト出力は電源Vsの供給されて
いるリレーRL1〜RL3のコイルをドライブし、接
点γl1〜γl3を動作させる。即ち例えばリレー接点
γl1に接続されているコンデンサの容量をC1とす
るとき、他のリレー接点に接続されたコンデンサ
の容量がC2＝2C1，C3＝22C1＝4C1となるごとく
し、レベル比較器出力でDET１出力がバツフア
アンプBF出力より大と判定するまで計数を継続
し、逐次コンデンサ容量C0の値をステツプ状に
増加させ、もしDET１出力がバツフアアンプBF
より大となつたとき計数をストツプすると共に計
数を１ステツプ減少するごとく動作させる。
Ｃ＝C0のときとなる。このようにe′1が最小に近
い値となるように容量C0を設定すれば、このと
きの整流回路DET1の出力e′1はＶ／Ｒとなるので正 確に絶縁抵抗を測定することができる。次に容量
C0の設定方法の一例を述べると、容量C0を増加
した後と、前の整流回路出力値e′1を比較し、も
し増加後e′1が減少していれば更に容量C0を増加
させ、第２図に示される如くC0の増加後e′1が増
加したならばその時点以前の容量C0にもどすこ
とによりe′1が最少となる如くするものである。
この「前後」のe′1の値を比較するためにスイツ
チSWとコンデンサCCならびにバツフアアンプ
BFからなるサンプルホルダを構成し、ステツプ
状にコンデンサC0を変化するたびにその時点の
DET１出力値を記憶するごとくクロツク回路か
らのパルスで制御する。整流回路DET１の出力
とすでに記憶されているバツフアアンプBFの出
力をレベル比較器COMPで比較し、もしDET１
出力がバツフアアンプBF出力より小さいときに
はクロツク回路CLOCKより供給されるクロツク
パルスとレベル比較器COMP出力と論理素子
ANDで論理積がとられ、例えば３ビツトからな
る２進カウンタCOUNTで計数をスタートする。
カウンタの各ビツト出力は電源Vsの供給されて
いるリレーRL1〜RL3のコイルをドライブし、接
点γl1〜γl3を動作させる。即ち例えばリレー接点
γl1に接続されているコンデンサの容量をC1とす
るとき、他のリレー接点に接続されたコンデンサ
の容量がC2＝2C1，C3＝22C1＝4C1となるごとく
し、レベル比較器出力でDET１出力がバツフア
アンプBF出力より大と判定するまで計数を継続
し、逐次コンデンサ容量C0の値をステツプ状に
増加させ、もしDET１出力がバツフアアンプBF
より大となつたとき計数をストツプすると共に計
数を１ステツプ減少するごとく動作させる。
このときの整流回路DET１の出力は最少値を
とつており前述の理論によりV1／Ｒに相当する
ため、このときの整流回路DET１の出力値を測
定することで絶縁抵抗に相当する電圧が得られ
る。また一定時間後、カウンタCOUNTをクロツ
ク回路で発生されたリセツト信号RESETにより
リセツトし、挿入容量C0を０とした状態から再
び同様な動作を繰返すものとすれば、再び上記操
作により整流回路DET１の出力には対地浮遊容
量の変動の影響を受けずに絶縁抵抗に相当する電
圧を間欠的に得ることができることになる。また
このときの整流回路DET１の出力値を別途設け
たサンプルホルダ等（図示されていない）に記憶
すれば連続して絶縁抵抗値を指示することができ
る。
とつており前述の理論によりV1／Ｒに相当する
ため、このときの整流回路DET１の出力値を測
定することで絶縁抵抗に相当する電圧が得られ
る。また一定時間後、カウンタCOUNTをクロツ
ク回路で発生されたリセツト信号RESETにより
リセツトし、挿入容量C0を０とした状態から再
び同様な動作を繰返すものとすれば、再び上記操
作により整流回路DET１の出力には対地浮遊容
量の変動の影響を受けずに絶縁抵抗に相当する電
圧を間欠的に得ることができることになる。また
このときの整流回路DET１の出力値を別途設け
たサンプルホルダ等（図示されていない）に記憶
すれば連続して絶縁抵抗値を指示することができ
る。
上記説明ではカウンタCOUNTのビツト数を３
ビツトとしたが、これは必要に応じて拡張すれば
よい。またコンデンサC1，C2，C3の設定は２進
則のものを例示にしたがこれもカウンタCOUNT
を10進カウンタ等とすることができ、これに限定
されないことも明らかである。
ビツトとしたが、これは必要に応じて拡張すれば
よい。またコンデンサC1，C2，C3の設定は２進
則のものを例示にしたがこれもカウンタCOUNT
を10進カウンタ等とすることができ、これに限定
されないことも明らかである。
なおまた上記実施例ではトランスＴのコア、零
相変流器ZCTを接地線が貫通するものとしたが、
２次電路に両者、または一方が貫通しても同様の
結果の得られることも明らかである。さらにこれ
らのトランスＴ、零相変流器ZCTを分割型コア
のものとすれば接地線への貫通を容易にすること
ができる。
相変流器ZCTを接地線が貫通するものとしたが、
２次電路に両者、または一方が貫通しても同様の
結果の得られることも明らかである。さらにこれ
らのトランスＴ、零相変流器ZCTを分割型コア
のものとすれば接地線への貫通を容易にすること
ができる。
本発明の方法は従来の方法の欠点を解決するだ
けでなく、極めて経済的に活線状態で絶縁抵抗の
測定が可能であり、その工業的価値は大である。
けでなく、極めて経済的に活線状態で絶縁抵抗の
測定が可能であり、その工業的価値は大である。
第１図は本発明の実施例を示す図、第２図は本
発明の動作例を示す図 Ａ：電源トランス、Ｔ：発振トランス、
ZCT：零相変流器、AMP：増幅器、BPF1：フ
イルタ、DET1：整流回路、E2：接地線、C1，
C2，C3：挿入コンデンサ。
発明の動作例を示す図 Ａ：電源トランス、Ｔ：発振トランス、
ZCT：零相変流器、AMP：増幅器、BPF1：フ
イルタ、DET1：整流回路、E2：接地線、C1，
C2，C3：挿入コンデンサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 通電中の電路の絶縁抵抗の測定にあたつて、
接地線に結合したトランスを介して前記電路に低
周波電圧を印加すると共に、前記接地線に結合し
た変流器の出力から前記低周波電圧成分のみを選
択増幅してその電圧値によつて絶縁抵抗を指示す
る活線回路の絶縁抵抗測定方法に於いて、前記ト
ランスに結合したループ接続線を前記接地線とは
逆向きに前記変流器に貫通し、且該ループ接続線
にはスイツチとコンデンサの直列回路を複数並列
に挿入すると共に、絶縁抵抗測定に際して前記変
流器の低周波電圧出力が最小になるように前記ス
イツチを制御したことを特徴とする活線回路の簡
易絶縁抵抗測定方法。 ２ 前記変流器の低周波電圧出力が最小になるよ
うに前記スイツチを制御する方法として、前記変
流器出力中の低周波電圧を整流する手段と、整流
して得た直流電圧値を記憶する手段とを具え、前
記スイツチを制御する毎に前記記憶した一サンプ
リング前の電圧値と現在のサンプル値との大小を
比較するように制御したことを特徴とする特許請
求の範囲１項記載の活線回路の簡易絶縁抵抗測定
方法。 ３ 前記スイツチを制御し、前記ループ接続線に
挿入される総合容量を漸増または漸減させ、前記
記憶した一サンプル前の電圧値と現在のサンプル
値との大小関係が逆転したとき、前記一サンプリ
ング前の容量値に設定したことを特徴とする特許
請求の範囲２項記載の活線回路の簡易絶縁抵抗測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046482A JPS58127174A (ja) | 1982-01-26 | 1982-01-26 | 活線回路の簡易絶縁抵抗測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046482A JPS58127174A (ja) | 1982-01-26 | 1982-01-26 | 活線回路の簡易絶縁抵抗測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58127174A JPS58127174A (ja) | 1983-07-28 |
| JPH0340348B2 true JPH0340348B2 (ja) | 1991-06-18 |
Family
ID=11750851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1046482A Granted JPS58127174A (ja) | 1982-01-26 | 1982-01-26 | 活線回路の簡易絶縁抵抗測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58127174A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60162963A (ja) * | 1984-02-03 | 1985-08-24 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 簡易絶縁抵抗測定方法 |
| JPH0640113B2 (ja) * | 1984-12-28 | 1994-05-25 | 東洋通信機株式会社 | 簡易絶縁抵抗測定方法 |
| JPS61288170A (ja) * | 1985-06-14 | 1986-12-18 | Japan Atom Energy Res Inst | 地絡抵抗検出回路 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57200869A (en) * | 1981-06-04 | 1982-12-09 | Toyo Commun Equip Co Ltd | Measurement of insulation resistance |
-
1982
- 1982-01-26 JP JP1046482A patent/JPS58127174A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58127174A (ja) | 1983-07-28 |
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