JPH0341326A - 分光測定方法 - Google Patents
分光測定方法Info
- Publication number
- JPH0341326A JPH0341326A JP1177514A JP17751489A JPH0341326A JP H0341326 A JPH0341326 A JP H0341326A JP 1177514 A JP1177514 A JP 1177514A JP 17751489 A JP17751489 A JP 17751489A JP H0341326 A JPH0341326 A JP H0341326A
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- Japan
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- light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明（よ 光源からの光や物体の探射光などの分光分
布を測定するための分光測定装置に関するもので、光源
の光色 演色性を評価したり、物体色の測定などミ そ
のスペクトルに対する効果量の評価に使用するものであ
る。
布を測定するための分光測定装置に関するもので、光源
の光色 演色性を評価したり、物体色の測定などミ そ
のスペクトルに対する効果量の評価に使用するものであ
る。
従来の技術
光源のエネルギー量や光色 演色性を評価したり、物体
色の測定に分光測定を使用する場合、スペクトルの波長
分解能よりも測定におけるエネルギー積分の精度の向上
が重要となる。すなわち、波長分布の細部の形状より、
適当な波長区分に対する放射のエネルギー強度をいかに
正確にとらえるかが課題となる。これに（よ 使用する
分光器のスペクトル帯域半値幅と測定波長サンプリング
間隔を一致させることで実現される。従来の分散素子駆
動型モノクロメータで（よ たとえばプリズムモノクロ
メータでは分散曲線とと波長目盛りが一致するた取 機
械幅を等間隔送りで測定した このとき、短波長部分と
長波長部分で（よ 線令散の大きさがかなり異なるが、
隣合う測定波長位置での分散の差は大きな変化がない
ものとして行なった また分散素子駆動型の回折格子モ
ノクロメータで（よ サインバー機構の導入により、分
散曲線と波長目盛りは独立している。しかし回折格子モ
ノクロメータの分散（よ プリズムのそれに比べて直線
に近く、また 分光測定の途中で分散の変化に合わせて
スリット幅を機械的に修正することが難しいたム 分散
の変化を無視して分光測定をおこなってきた 先に述べた分散素子駆動型モノクロメータでは測定時間
がかかるた吹 社風 分光分散光学系と受光素子アレイ
を組み合せ、測定対象物からの光スペクトルを短時間に
測定する分光測定器が使用されるようになったが、 測
定サンプリング間隔に相当する受光素子の機械的間隔と
、分散とが独立しているたム 受光素子アレイの面上で
の分散の非直線性が大きく、スペクトル帯域半値幅と測
定波長サンプリング間隔が一致せず、先に述べた分散索
子駆動型モノクロメータに比べて測定誤差が大きいとい
う問題点があった 発明が解決しようとする課題 上記に述べたように 分光分散光学系と受光素子アレイ
を組み合せ、測定対象物からの光スペクトルを短時間に
測定する分光測定器では 測定ザンプリング間隔に相当
する受光素子の機械的間隔と、分光分散光学系の分散と
が独立している。このた数 受光素子アレイの面上での
分散の非直線性が大きく、スペクトル帯域半値幅と測定
波長サンプリング間隔が一致せず不整合が生じるたム光
源のエネルギー量や光色 演色性を評価したり、物体色
の測定に分光測定を使用する場合、誤差を生ずる。
色の測定に分光測定を使用する場合、スペクトルの波長
分解能よりも測定におけるエネルギー積分の精度の向上
が重要となる。すなわち、波長分布の細部の形状より、
適当な波長区分に対する放射のエネルギー強度をいかに
正確にとらえるかが課題となる。これに（よ 使用する
分光器のスペクトル帯域半値幅と測定波長サンプリング
間隔を一致させることで実現される。従来の分散素子駆
動型モノクロメータで（よ たとえばプリズムモノクロ
メータでは分散曲線とと波長目盛りが一致するた取 機
械幅を等間隔送りで測定した このとき、短波長部分と
長波長部分で（よ 線令散の大きさがかなり異なるが、
隣合う測定波長位置での分散の差は大きな変化がない
ものとして行なった また分散素子駆動型の回折格子モ
ノクロメータで（よ サインバー機構の導入により、分
散曲線と波長目盛りは独立している。しかし回折格子モ
ノクロメータの分散（よ プリズムのそれに比べて直線
に近く、また 分光測定の途中で分散の変化に合わせて
スリット幅を機械的に修正することが難しいたム 分散
の変化を無視して分光測定をおこなってきた 先に述べた分散素子駆動型モノクロメータでは測定時間
がかかるた吹 社風 分光分散光学系と受光素子アレイ
を組み合せ、測定対象物からの光スペクトルを短時間に
測定する分光測定器が使用されるようになったが、 測
定サンプリング間隔に相当する受光素子の機械的間隔と
、分散とが独立しているたム 受光素子アレイの面上で
の分散の非直線性が大きく、スペクトル帯域半値幅と測
定波長サンプリング間隔が一致せず、先に述べた分散索
子駆動型モノクロメータに比べて測定誤差が大きいとい
う問題点があった 発明が解決しようとする課題 上記に述べたように 分光分散光学系と受光素子アレイ
を組み合せ、測定対象物からの光スペクトルを短時間に
測定する分光測定器では 測定ザンプリング間隔に相当
する受光素子の機械的間隔と、分光分散光学系の分散と
が独立している。このた数 受光素子アレイの面上での
分散の非直線性が大きく、スペクトル帯域半値幅と測定
波長サンプリング間隔が一致せず不整合が生じるたム光
源のエネルギー量や光色 演色性を評価したり、物体色
の測定に分光測定を使用する場合、誤差を生ずる。
いま、モノクロメータのスペクトル帯域特性の波長半値
幅を５ｎｍに設定し 波長５４６． ｌｎｍの水銀輝線
を測定した場合を考える。 モノクロメータの波長を
５４５ｎｍおよび５５０ｎｍに設定したとき、そのスペ
クトル帯域特性は第１図のようになる。水銀輝線のエネ
ルギーをＰ ＝ １００ｍＷ−ｍ−２としたとき、設定
波長が５４５ｎｍおよび５５０ｎｍのときの測定値（上
（１）、（２）式よりもとめられる。
幅を５ｎｍに設定し 波長５４６． ｌｎｍの水銀輝線
を測定した場合を考える。 モノクロメータの波長を
５４５ｎｍおよび５５０ｎｍに設定したとき、そのスペ
クトル帯域特性は第１図のようになる。水銀輝線のエネ
ルギーをＰ ＝ １００ｍＷ−ｍ−２としたとき、設定
波長が５４５ｎｍおよび５５０ｎｍのときの測定値（上
（１）、（２）式よりもとめられる。
（１）
、 、、 （２）
逆に このときの測定値Ｐ（５４５）、Ｐ （５５０）
から区分求積によりＰを求めると Ｐ＝Ｐ（５４５）＋Ｐ（５５０）＝ １００ ［ｍ
Ｗ ＋＋ｒ” ］、、 （３） となる。すなわち、モノクロメータのスペクトル帯域特
性が理想的な二等辺三角形であれば スペクトル帯域特
性の波長半値幅と測定における波長ザンプリング間隔を
一致させることにより、先に示した電価積分を精度よく
行なうことができる。
から区分求積によりＰを求めると Ｐ＝Ｐ（５４５）＋Ｐ（５５０）＝ １００ ［ｍ
Ｗ ＋＋ｒ” ］、、 （３） となる。すなわち、モノクロメータのスペクトル帯域特
性が理想的な二等辺三角形であれば スペクトル帯域特
性の波長半値幅と測定における波長ザンプリング間隔を
一致させることにより、先に示した電価積分を精度よく
行なうことができる。
これに対し スペクトル帯域特性の波長半値幅と測定に
おける波長サンプリング間隔が一致しない場合を考える
。上記の例で、波長サンプリング間隔５ｎｍ、入射スリ
ット波長幅５ｎｍ、 に対して出側スリット波長幅を
７ｎｍに設定すると、モノクロメータのスペクトル帯域
特性は第２図に示す様に帯域半値幅９ｎｍの台形となる
。 （図の放射照度の目盛り（よ この台形のスペクト
ル帯域特性と、先に示した理想的な二等辺三角形を威す
スペクトル帯域特性の面積が等しくなるよう正規化した
ものである。
おける波長サンプリング間隔が一致しない場合を考える
。上記の例で、波長サンプリング間隔５ｎｍ、入射スリ
ット波長幅５ｎｍ、 に対して出側スリット波長幅を
７ｎｍに設定すると、モノクロメータのスペクトル帯域
特性は第２図に示す様に帯域半値幅９ｎｍの台形となる
。 （図の放射照度の目盛り（よ この台形のスペクト
ル帯域特性と、先に示した理想的な二等辺三角形を威す
スペクトル帯域特性の面積が等しくなるよう正規化した
ものである。
）このとき、放射照度１００ｍＷ・ｍ”２の波長５４６
．１ｎｍ水銀輝線の測定値（よ 設定波長が５４５ｎｍ
および５５０ｎｍにおいて、それぞれ９７ｍＷ−ｍ−２
と４２ｍＷ−ｍ−２で、水銀輝線の放射照度測定値が１
３９＋ｎＬｍ−２となり真値に対して３９％の誤差を生
じる。
．１ｎｍ水銀輝線の測定値（よ 設定波長が５４５ｎｍ
および５５０ｎｍにおいて、それぞれ９７ｍＷ−ｍ−２
と４２ｍＷ−ｍ−２で、水銀輝線の放射照度測定値が１
３９＋ｎＬｍ−２となり真値に対して３９％の誤差を生
じる。
本発明は 分光分散光学系と受光素子アレイを組み合せ
た分光測定器のスペクトル帯域半値幅と測定波長サンプ
リング間隔との不整合によって生じる測定誤差を無くし
分光測定を行なう波長範囲の全域のどの部分でＬ 分
光的情報（データ）の過不足が生じないようにし 測定
精度を向上させることを課題としｔも 課題を解決するための手段 上記の問題点を解決するための手段について示す。分光
分散光学系と受光素子アレイを組み合せ、測定対象物か
らの光スペクトルを測定する分光測定器において、それ
ぞれの受光素子と分散素子との組合わせによる分光応答
度特性と、隣接する受光素子と分散素子との組合わせに
よる分光応答度特性を台底した分光応答特性 不連続に
ならずに互いに隣接する分光応答特性の重心波長を結ぶ
連続した滑らかな曲線になるような位置になるように
受光素子アレイを分散方向に移動する。このとき、その
受光素子の出力を検出する。受光素子アレイを移動しな
がら、上記の条件を満足した位置の受光素子の出力を検
出していき、分光測定を行なう波長範囲の全域にわたっ
て測定されたとき、波長範囲のどの部分で転 スペクト
ル帯域半値幅と測定波長ザンプリング間隔を一致させる
ことができ、測定精度を向上させ、分光的情報（データ
）の過不足が生じないようにした分光測定が実現できる
。
た分光測定器のスペクトル帯域半値幅と測定波長サンプ
リング間隔との不整合によって生じる測定誤差を無くし
分光測定を行なう波長範囲の全域のどの部分でＬ 分
光的情報（データ）の過不足が生じないようにし 測定
精度を向上させることを課題としｔも 課題を解決するための手段 上記の問題点を解決するための手段について示す。分光
分散光学系と受光素子アレイを組み合せ、測定対象物か
らの光スペクトルを測定する分光測定器において、それ
ぞれの受光素子と分散素子との組合わせによる分光応答
度特性と、隣接する受光素子と分散素子との組合わせに
よる分光応答度特性を台底した分光応答特性 不連続に
ならずに互いに隣接する分光応答特性の重心波長を結ぶ
連続した滑らかな曲線になるような位置になるように
受光素子アレイを分散方向に移動する。このとき、その
受光素子の出力を検出する。受光素子アレイを移動しな
がら、上記の条件を満足した位置の受光素子の出力を検
出していき、分光測定を行なう波長範囲の全域にわたっ
て測定されたとき、波長範囲のどの部分で転 スペクト
ル帯域半値幅と測定波長ザンプリング間隔を一致させる
ことができ、測定精度を向上させ、分光的情報（データ
）の過不足が生じないようにした分光測定が実現できる
。
作用
上記の手段によって、分光分散光学系と受光素子アレイ
を組み合せ、測定対象物からの光スペクトルを短時間に
測定する分光測定器において、受光素子アレイの面上で
の分散の非直線性が大きい場合、測定しようとする波長
範囲のどの部分でも、スペクトル帯域半値幅と測定波長
サンプリング間隔を一致させることができ、分光的情報
（データ）の過不足が生じないようにした分光測定が実
現できる。このたム 光源のエネルギー量や光色 演色
性を評価したり、物体色の測定に分光測定を使用する場
合、精度の高い測定が可能となる。
を組み合せ、測定対象物からの光スペクトルを短時間に
測定する分光測定器において、受光素子アレイの面上で
の分散の非直線性が大きい場合、測定しようとする波長
範囲のどの部分でも、スペクトル帯域半値幅と測定波長
サンプリング間隔を一致させることができ、分光的情報
（データ）の過不足が生じないようにした分光測定が実
現できる。このたム 光源のエネルギー量や光色 演色
性を評価したり、物体色の測定に分光測定を使用する場
合、精度の高い測定が可能となる。
実施例
本発明の一実施例を図面を使って説明する。第３図に
本発明の一実施例である連続干渉フィルタ（フィルター
の一方向に対して、透過帯域スペクトルの重心波長力文
連続的に変化する狭帯域透Ｑ− 過干渉フイルター）とフォトダイオードアレイを使用し
たものに関して、それを使用して光源の分光分布を測定
する場合について示す。図において１は測定しようとす
る光源である。光源１からの光束を、連続干渉フィルタ
２に導き、空間的に波長分離した光をフォトダイオード
アレイ３で検出する。前記フォトダイオードアレイ３（
よ モータ４で、前記連続干渉フィルタ２の分光分散方
向に前記フォトダイオードアレイ３を移動する。これに
よって、前記フォトダイオードアレイ３を構成する個々
の受光素子の分光応答度（よ その前面に位置する前記
連続干渉フィルタ２Ｑ その受光素子の位置における分
光透過率によって補正され前記連続干渉フィルタ２の分
光分散方向に前記フォトダイオードアレイ３を移動する
ことにより、個々の受光素子の干渉フィルタによって補
正された分光応答度の重心波長を、変化させる。フォト
ダイオードアレイ３の各素子の出力は データ処理部５
に送られる。前記データ処理部５（戴 モータ制御部６
から前記フォトダイオードアレイ３を０− 移動位置の信号を受は取り、前記フォトダイオドアレイ
３を構成する個々の受光素子と前記連続干渉フィルタ２
との組合わせによる分光応答度特性と、隣接する受光素
子と前記連続干渉フィルタ２との組合わせによる分光応
答特性力交 不連続にならずに 互いに隣接する分光応
答特性の重心波長を結ぶ連続した滑らかな曲線になるよ
うな移動位置で、それぞれの受光素子の出力を検出する
。
本発明の一実施例である連続干渉フィルタ（フィルター
の一方向に対して、透過帯域スペクトルの重心波長力文
連続的に変化する狭帯域透Ｑ− 過干渉フイルター）とフォトダイオードアレイを使用し
たものに関して、それを使用して光源の分光分布を測定
する場合について示す。図において１は測定しようとす
る光源である。光源１からの光束を、連続干渉フィルタ
２に導き、空間的に波長分離した光をフォトダイオード
アレイ３で検出する。前記フォトダイオードアレイ３（
よ モータ４で、前記連続干渉フィルタ２の分光分散方
向に前記フォトダイオードアレイ３を移動する。これに
よって、前記フォトダイオードアレイ３を構成する個々
の受光素子の分光応答度（よ その前面に位置する前記
連続干渉フィルタ２Ｑ その受光素子の位置における分
光透過率によって補正され前記連続干渉フィルタ２の分
光分散方向に前記フォトダイオードアレイ３を移動する
ことにより、個々の受光素子の干渉フィルタによって補
正された分光応答度の重心波長を、変化させる。フォト
ダイオードアレイ３の各素子の出力は データ処理部５
に送られる。前記データ処理部５（戴 モータ制御部６
から前記フォトダイオードアレイ３を０− 移動位置の信号を受は取り、前記フォトダイオドアレイ
３を構成する個々の受光素子と前記連続干渉フィルタ２
との組合わせによる分光応答度特性と、隣接する受光素
子と前記連続干渉フィルタ２との組合わせによる分光応
答特性力交 不連続にならずに 互いに隣接する分光応
答特性の重心波長を結ぶ連続した滑らかな曲線になるよ
うな移動位置で、それぞれの受光素子の出力を検出する
。
第４図に前記連続干渉フィルタ２の分散方向の機械的な
位置と分光透過特性の重心波長の関係を示す。波長（よ
短波長短からの距離に比例している。一方、それぞれ
の波長位置におけるそれぞれの受光素子の分光応答度の
スペクトル帯域半値幅（よ 第５図に示すとおり、波長
に大きく依存する。
位置と分光透過特性の重心波長の関係を示す。波長（よ
短波長短からの距離に比例している。一方、それぞれ
の波長位置におけるそれぞれの受光素子の分光応答度の
スペクトル帯域半値幅（よ 第５図に示すとおり、波長
に大きく依存する。
したがって、それぞれの受光素子の分光応答度の重心波
長と、隣接する受光素子の出力検出を行なう時の分光応
答度の重心波長との波長的距離が、その波長におけ衣
分散光学系によって決定される波長帯域半値幅また（戴
その整数分の１となる位置で、その受光素子の出力を
検出し 波長帯域１ 半値幅また（よ その整数分の１と、波長サンプリング
間隔が等しい分光測定データを得る。
長と、隣接する受光素子の出力検出を行なう時の分光応
答度の重心波長との波長的距離が、その波長におけ衣
分散光学系によって決定される波長帯域半値幅また（戴
その整数分の１となる位置で、その受光素子の出力を
検出し 波長帯域１ 半値幅また（よ その整数分の１と、波長サンプリング
間隔が等しい分光測定データを得る。
発明の効果
以上述べてきたように 本発明の構成によって、分光分
散光学系と受光素子アレイを組み合せ、測定対象物から
の光スペクトルを短時間に測定する分光測定器において
、受光素子アレイの面上での分散の非直線性が大きい場
合、測定しようとする波長範囲のどの部分でｋ スペク
トル帯域半値幅と測定波長サンプリング間隔を一致させ
ることができ、分光的情報（データ）の過不足が生じな
いようにした分光測定が実現できる。このた歇 光源の
エネルギー量や光色 演色性を評価したり、物体色の測
定に分光測定を使用する場合、精度の高い測定が可能と
なる。
散光学系と受光素子アレイを組み合せ、測定対象物から
の光スペクトルを短時間に測定する分光測定器において
、受光素子アレイの面上での分散の非直線性が大きい場
合、測定しようとする波長範囲のどの部分でｋ スペク
トル帯域半値幅と測定波長サンプリング間隔を一致させ
ることができ、分光的情報（データ）の過不足が生じな
いようにした分光測定が実現できる。このた歇 光源の
エネルギー量や光色 演色性を評価したり、物体色の測
定に分光測定を使用する場合、精度の高い測定が可能と
なる。
第１図は モノクロメータのスペクトル帯域特性の波長
半値幅を５ｎｍに設定し 波長５４６．１ｎｍの水銀輝
線を測定した場合、モノクロメータの波長を５４５ｎｍ
および５５０ｎｍに設定したときへ スペクトル２− 帯域特性、すなわちスペクトル帯域半値幅と測定波長サ
ンプリング間隔の整合がとれている場合のスペクトル帯
域特性阻 第２図（上 波長サンプリング間隔５０ｍ、
入射スリット波長幅５ｒ＋＋ｎ、 に対して出射スリ
ット波長幅を９ｎｍに設定した場合のモノクロメータの
スペクトル帯域特性、すなわちスペクトル帯域半値幅と
測定波長サンプリング間隔の整合がとれない場合のスペ
クトル帯域特性は 第３図は 本発明の一実施例である
連続干渉フィルタとフォトダイオードアレイを使用した
装置の構成図である。また 第４図に前記連続干渉フィ
ルタ２の分散方向の機械的な位置と分光透過特性の重心
波長の関係を、第５図に受光素子の分光応答度のスペク
トル帯域半値幅の波長に対する特性図を示す。 １３１．光温２．．．連続干渉フィル久 フォトダイオ
ードアレイ、４１１．モー久 ５９９．データ処理敵６
１０．モータ制御訛
半値幅を５ｎｍに設定し 波長５４６．１ｎｍの水銀輝
線を測定した場合、モノクロメータの波長を５４５ｎｍ
および５５０ｎｍに設定したときへ スペクトル２− 帯域特性、すなわちスペクトル帯域半値幅と測定波長サ
ンプリング間隔の整合がとれている場合のスペクトル帯
域特性阻 第２図（上 波長サンプリング間隔５０ｍ、
入射スリット波長幅５ｒ＋＋ｎ、 に対して出射スリ
ット波長幅を９ｎｍに設定した場合のモノクロメータの
スペクトル帯域特性、すなわちスペクトル帯域半値幅と
測定波長サンプリング間隔の整合がとれない場合のスペ
クトル帯域特性は 第３図は 本発明の一実施例である
連続干渉フィルタとフォトダイオードアレイを使用した
装置の構成図である。また 第４図に前記連続干渉フィ
ルタ２の分散方向の機械的な位置と分光透過特性の重心
波長の関係を、第５図に受光素子の分光応答度のスペク
トル帯域半値幅の波長に対する特性図を示す。 １３１．光温２．．．連続干渉フィル久 フォトダイオ
ードアレイ、４１１．モー久 ５９９．データ処理敵６
１０．モータ制御訛
Claims (3)
- （１）分光分散光学系と受光素子アレイを組み合せ、測
定対象物からの光スペクトルを測定する分光測定器にお
いて、前記受光素子アレイを構成する個々の受光素子と
前記分散素子との組合わせによる分光応答度特性と、隣
接する受光素子と分散素子との組合わせによる分光応答
度特性が、不連続にならずに、互いに隣接する分光応答
特性の重心波長を結ぶ連続した滑らかな曲線になるよう
な移動位置で、それぞれの受光素子の出力を検出し、分
光測定を行なう波長範囲の全域のどの部分でも、分光的
情報の過不足が生じないようにした分光測定方法および
測定装置。 - （２）請求項１において、分光分散光学系の分散方向に
受光素子アレイをそのアレイ間隔以内の距離だけ移動し
、前記受光素子アレイのそれぞれの受光素子の分光応答
度の重心波長と隣接する受光素子の出力検出を行なう時
の分光応答度の重心波長との波長的距離が、その波長に
おける前記分散光学系によって決定される波長帯域半値
幅、またはその整数分の１となる位置で、その受光素子
の出力を検出し、波長帯域半値幅、またはその整数分の
１と波長サンプリング間隔が等しい分光測定データを得
ることを特徴とする分光測定方法および測定装置。 - （３）請求項１において、分光分散光学系の分散方向に
分光分散素子をそのアレイ間隔以内の距離だけ移動し、
前記受光素子アレイのそれぞれの受光素子の分光応答度
の重心波長と隣接する受光素子の出力検出を行なう時の
分光応答度の重心波長との波長的距離が、その波長にお
ける前記分散光学系によって決定される波長帯域半値幅
、またはその整数分の１となる位置で、その受光素子の
出力を検出し、波長帯域半値幅、またはその整数分の１
と波長サンプリング間隔が等しい分光測定データを得る
分光測定方法および測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1177514A JPH0789084B2 (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | 分光測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1177514A JPH0789084B2 (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | 分光測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0341326A true JPH0341326A (ja) | 1991-02-21 |
| JPH0789084B2 JPH0789084B2 (ja) | 1995-09-27 |
Family
ID=16032241
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1177514A Expired - Lifetime JPH0789084B2 (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | 分光測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0789084B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5200913A (en) * | 1990-05-04 | 1993-04-06 | Grid Systems, Inc. | Combination laptop and pad computer |
| JPH05107114A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-04-27 | Nec Corp | 観測波長帯可変型電子走査式放射計 |
| US5333116A (en) * | 1990-05-04 | 1994-07-26 | Ast Research, Inc. | Combination laptop and pad computer |
| JPH0843206A (ja) * | 1994-05-19 | 1996-02-16 | Schablonentechnik Kufstein Ag | 光束の色度検出装置 |
| US6005767A (en) * | 1997-11-14 | 1999-12-21 | Vadem | Portable computer having articulated display |
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