JPH0341767A - 固体撮像装置及びその組立方法 - Google Patents
固体撮像装置及びその組立方法Info
- Publication number
- JPH0341767A JPH0341767A JP1175588A JP17558889A JPH0341767A JP H0341767 A JPH0341767 A JP H0341767A JP 1175588 A JP1175588 A JP 1175588A JP 17558889 A JP17558889 A JP 17558889A JP H0341767 A JPH0341767 A JP H0341767A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solid
- chip
- image sensor
- chips
- state image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/04—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
- H04N1/19—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
- H04N1/191—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays the array comprising a one-dimensional [1D] array
- H04N1/192—Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line
- H04N1/193—Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line using electrically scanned linear arrays, e.g. linear CCD arrays
- H04N1/1934—Combination of arrays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/024—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
- H04N1/028—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up
- H04N1/03—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up with photodetectors arranged in a substantially linear array
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
- H10F39/152—One-dimensional array CCD image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/611—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers for connecting multiple chips together
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/401—Package configurations characterised by multiple insulating or insulated package substrates, interposers or RDLs
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N2201/00—Indexing scheme relating to scanning, transmission or reproduction of documents or the like, and to details thereof
- H04N2201/024—Indexing scheme relating to scanning, transmission or reproduction of documents or the like, and to details thereof deleted
- H04N2201/02487—Manufacturing details
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
- H10W72/5522—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
- H10W72/5524—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising aluminium [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
- H10W72/5525—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising copper [Cu]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/932—Plan-view shape, i.e. in top view
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は複数個の固体撮像素子チップが配列され且つ
画像入力機器等に用いられる固体撮像装置に関する。ま
た、この発明は固体撮像装置の組立方法にも関する。
画像入力機器等に用いられる固体撮像装置に関する。ま
た、この発明は固体撮像装置の組立方法にも関する。
従来、複数個の固体撮像素子チップを同一平面上に並べ
て配列し固体撮像装置を構成した例として、例えば第1
9八図に示すような構造のものがある。この固体撮像装
置は例えばCCD(C!+arge Coupled
Device)リニアイメージセンサと呼ばれる長方形
の固体撮像素子チップ(10)を複数個同一直線上に並
べて構成したインライン配列型固体撮像装置であり、第
19[3図はその断面図である。これら第19八図及び
第19B図において、複数の固体撮像素子チップ(10
〉がグイボンド樹脂(図示せず)によりパッケージ基板
(20)上に搭載されている。パッケージ基板(20)
上には配線(23)が形成され、この配線(23)に接
続された外部リード(24)がパッケージ基板(20)
外縁に固定されている。また、パッケージ基板(20)
上には固体撮像素子チップ〈10)搭載部の空間を密閉
するため接着剤樹脂(26)を介してガラスn (21
)が取り付けられている。
て配列し固体撮像装置を構成した例として、例えば第1
9八図に示すような構造のものがある。この固体撮像装
置は例えばCCD(C!+arge Coupled
Device)リニアイメージセンサと呼ばれる長方形
の固体撮像素子チップ(10)を複数個同一直線上に並
べて構成したインライン配列型固体撮像装置であり、第
19[3図はその断面図である。これら第19八図及び
第19B図において、複数の固体撮像素子チップ(10
〉がグイボンド樹脂(図示せず)によりパッケージ基板
(20)上に搭載されている。パッケージ基板(20)
上には配線(23)が形成され、この配線(23)に接
続された外部リード(24)がパッケージ基板(20)
外縁に固定されている。また、パッケージ基板(20)
上には固体撮像素子チップ〈10)搭載部の空間を密閉
するため接着剤樹脂(26)を介してガラスn (21
)が取り付けられている。
第19C図に示すように、各固定撮像素子チップ(10
)上にはボンディングパッド(12)が形成され、この
ボンディングパッド(12)と配線(23〉に接続され
た端子(22)とがそれぞれワイヤ(13〉により電気
的に接続されている。また、固定撮像素子チップ(10
)の上面には、受光部であるフォトダイオード等の画素
(11〉が形成されており、これら画素(11〉が複数
関連なって画素列(1)を構成している。
)上にはボンディングパッド(12)が形成され、この
ボンディングパッド(12)と配線(23〉に接続され
た端子(22)とがそれぞれワイヤ(13〉により電気
的に接続されている。また、固定撮像素子チップ(10
)の上面には、受光部であるフォトダイオード等の画素
(11〉が形成されており、これら画素(11〉が複数
関連なって画素列(1)を構成している。
このような構成の固体撮像装置は主としてファクシミリ
やコピー機などにおける原稿読取用画像入力装置として
使用され、例えばA3版サイズの原稿を読取るためには
、少なくとも幅310mm以上の長さの有効読取長を有
する固体撮像装置を構成する必要があった。ところが、
シリコン半導体技術などを利用したCCDリニアイメー
ジセンサなどの固体撮像素子チップ(10)の最大長さ
はこのイメジセンサを形成する際に用いるシリコン基板
の径により制限され、例えば6インチサイズのシリコン
基板を用いたとしても、チップ取り数量をある程度大き
くするためにセンサ長さは実際には100mm程度のも
のとなる。従って、上述の有効読取長を得るために第1
9C図に示すように複数の固体撮像素子チップ(10)
を配列してこれらの画素列(1)を−直線上に配置して
いた。
やコピー機などにおける原稿読取用画像入力装置として
使用され、例えばA3版サイズの原稿を読取るためには
、少なくとも幅310mm以上の長さの有効読取長を有
する固体撮像装置を構成する必要があった。ところが、
シリコン半導体技術などを利用したCCDリニアイメー
ジセンサなどの固体撮像素子チップ(10)の最大長さ
はこのイメジセンサを形成する際に用いるシリコン基板
の径により制限され、例えば6インチサイズのシリコン
基板を用いたとしても、チップ取り数量をある程度大き
くするためにセンサ長さは実際には100mm程度のも
のとなる。従って、上述の有効読取長を得るために第1
9C図に示すように複数の固体撮像素子チップ(10)
を配列してこれらの画素列(1)を−直線上に配置して
いた。
次に、このような複数の固体撮像素子チップ(10)か
ら成る固体撮像装置を製造する方法を第20図に示すフ
ローチャートを用いて説明する。
ら成る固体撮像装置を製造する方法を第20図に示すフ
ローチャートを用いて説明する。
まず、汎用のシリコン半導体プロセス技術を用いてシリ
コン基板上に形成された複数個の固体撮像素子チップ(
10)は、ステップS1でそれぞれ電気的に特性や動作
性能が測定され、チエツクされる〈ウェハテスト)、こ
のウェハテストにより良品チップと不良品チップが選別
される。
コン基板上に形成された複数個の固体撮像素子チップ(
10)は、ステップS1でそれぞれ電気的に特性や動作
性能が測定され、チエツクされる〈ウェハテスト)、こ
のウェハテストにより良品チップと不良品チップが選別
される。
続いて、ステップS2でこのシリコン基板をグイシング
し、個別のチップに分割する。分割された固体撮像素子
チップ(10)のうちステップS1のウェハテストで良
品と認められたものだけを所要数例えば5チツプを取り
出し、ステップS3において第19A図に示したパッケ
ージ基板(20)上に順次位置決めしダイボンド樹脂を
介して接着、固定する。
し、個別のチップに分割する。分割された固体撮像素子
チップ(10)のうちステップS1のウェハテストで良
品と認められたものだけを所要数例えば5チツプを取り
出し、ステップS3において第19A図に示したパッケ
ージ基板(20)上に順次位置決めしダイボンド樹脂を
介して接着、固定する。
次に、ステップS4で各チップ(10)のボンディング
パッド(12)とパッケージ基板(20)上の端子(2
2)とをワイヤ(13)により接続する。
パッド(12)とパッケージ基板(20)上の端子(2
2)とをワイヤ(13)により接続する。
その後、ステップS5で接着剤樹脂(26)を用いてガ
ラス蓋(21)をパッケージ基板(20)上に接着、固
定し固体撮像素子チップ(10)を保護する。
ラス蓋(21)をパッケージ基板(20)上に接着、固
定し固体撮像素子チップ(10)を保護する。
以上の工程により、固体撮像素子チップ(10)を5チ
ップ−列に並べて構成した固体撮像装置が組立てられる
が、この組立工程中における各チップ(10)での不良
発生をチエツクするため、組立工程完了後にステップS
6で各チップ(10)の特性の測定や評価を再度行う(
ファイナルテスト)。このファイナルテストは第20図
のステップS7のようにステップS5のガラス蓋接着工
程の直前に行われることもある。
ップ−列に並べて構成した固体撮像装置が組立てられる
が、この組立工程中における各チップ(10)での不良
発生をチエツクするため、組立工程完了後にステップS
6で各チップ(10)の特性の測定や評価を再度行う(
ファイナルテスト)。このファイナルテストは第20図
のステップS7のようにステップS5のガラス蓋接着工
程の直前に行われることもある。
以上、固体撮像素子チップ(10)を複数個−直線上に
並べたインライン配列型の固体撮像装置について述べた
が、この他、第21八〜21C図に示すような千鳥配列
型の固体撮像装置がある。この固体撮(☆装置では、複
数の固体撮像素子チップく10)を多少オーバーラツプ
させて互い違いにパッケージ基板(20)上に配列して
いる。従って、隣接するチップ(10)間のつなぎ合せ
部分に走査方向の空隙が発生せず、画像データを取りも
らすことがないという特徴がある。但し、オーバーラツ
プしているために走査方向の時間的、空間的補正回路を
必要とする。
並べたインライン配列型の固体撮像装置について述べた
が、この他、第21八〜21C図に示すような千鳥配列
型の固体撮像装置がある。この固体撮(☆装置では、複
数の固体撮像素子チップく10)を多少オーバーラツプ
させて互い違いにパッケージ基板(20)上に配列して
いる。従って、隣接するチップ(10)間のつなぎ合せ
部分に走査方向の空隙が発生せず、画像データを取りも
らすことがないという特徴がある。但し、オーバーラツ
プしているために走査方向の時間的、空間的補正回路を
必要とする。
このような従来の千鳥配列型の固体撮像装置においても
、その基本構造はインライン配列型のものとほとんど変
わらず、組立方法についても第20図に示したフローと
基本的には同一であった。
、その基本構造はインライン配列型のものとほとんど変
わらず、組立方法についても第20図に示したフローと
基本的には同一であった。
以上説明したような固体撮像装置に用いられる複数個の
固体撮像素子チップ(10)は、それぞれステップS1
のウェハテスト時に既に良品/不良品が判定されており
、良品のみが集められて固体撮像装置として組立てられ
るが、実際にはウェハテスト後のダイシング工程、ダイ
ボンド工程、ワイヤボンド工程あるいはこれらの工程中
におけるハンドリング時などに、新たに異物付着やチ・
ンブ損傷による欠陥や電気的特性不良を発生することが
あった。そこで、従来の固体撮像装置は、第20図のス
テップS5におけるガラス蓋接着工程後にステップS6
で、あるいはステップS4のワイヤボンド工程後にステ
ップS7で再度テスト(ファイナルテスト〉され、最終
的な良品/不良品の判定がなされていた。
固体撮像素子チップ(10)は、それぞれステップS1
のウェハテスト時に既に良品/不良品が判定されており
、良品のみが集められて固体撮像装置として組立てられ
るが、実際にはウェハテスト後のダイシング工程、ダイ
ボンド工程、ワイヤボンド工程あるいはこれらの工程中
におけるハンドリング時などに、新たに異物付着やチ・
ンブ損傷による欠陥や電気的特性不良を発生することが
あった。そこで、従来の固体撮像装置は、第20図のス
テップS5におけるガラス蓋接着工程後にステップS6
で、あるいはステップS4のワイヤボンド工程後にステ
ップS7で再度テスト(ファイナルテスト〉され、最終
的な良品/不良品の判定がなされていた。
このため、例えば5チツプ楕戒の固体撮像装置において
、ファイナルテスト時にそのうちの1チツプのみに不良
か発見された場合、そのままではこれら複数の固体撮像
素子チップ(10)の組み合わせにより構成される固体
fa像装置も不良品となり、不良チップ以外の4個の良
品チップも実質的に不良品扱いとなってしまう。従って
、製造歩留りを大きく低下させるばかりか、みすみす他
の良品固体撮像素子チップ(10)をも無駄にしてしま
うという問題点があった。
、ファイナルテスト時にそのうちの1チツプのみに不良
か発見された場合、そのままではこれら複数の固体撮像
素子チップ(10)の組み合わせにより構成される固体
fa像装置も不良品となり、不良チップ以外の4個の良
品チップも実質的に不良品扱いとなってしまう。従って
、製造歩留りを大きく低下させるばかりか、みすみす他
の良品固体撮像素子チップ(10)をも無駄にしてしま
うという問題点があった。
この問題を解決するため、ファイナルテスト時に発見さ
れた不良チップを別の良品チップに置き換えるという方
法(チップリプレイス〉が考えられる。しかし、通常隣
接するチップ(10)との間隙を極力減らすために互い
に極度に接近してチップ(10)が配置されるので、複
数個配列されたチップ(10)の中から不良品デツプだ
けをワイヤ(13)による接続を切断して他の良品チッ
プに損傷を与えることなく、ダイボンド樹脂の接着力に
抗して取り外すことが困難であった。仮に不良品チップ
をうまく取り外せたとしてもパッケージ基板(20)上
に残存したダイボンド樹脂を他の良品チップにゴミなど
の異物付着を起こさせることなく取り除くことが難しく
、なおかつ他のチップに悪影響を及ぼさずにこの限られ
たスペース内に新たに良品チップを挿入しダイボンドす
ることが非常に困難であった。さらに、ワイヤボンド工
程を要するなど工程的に非常に繁雑であるばかりか、こ
れら一連の工程を他の良品チップに損傷や異物付着など
の欠陥発生あるいは電気的特性の不良を誘発することな
く完了させることはほとんど不可能に近い困難さを伴っ
ていた。
れた不良チップを別の良品チップに置き換えるという方
法(チップリプレイス〉が考えられる。しかし、通常隣
接するチップ(10)との間隙を極力減らすために互い
に極度に接近してチップ(10)が配置されるので、複
数個配列されたチップ(10)の中から不良品デツプだ
けをワイヤ(13)による接続を切断して他の良品チッ
プに損傷を与えることなく、ダイボンド樹脂の接着力に
抗して取り外すことが困難であった。仮に不良品チップ
をうまく取り外せたとしてもパッケージ基板(20)上
に残存したダイボンド樹脂を他の良品チップにゴミなど
の異物付着を起こさせることなく取り除くことが難しく
、なおかつ他のチップに悪影響を及ぼさずにこの限られ
たスペース内に新たに良品チップを挿入しダイボンドす
ることが非常に困難であった。さらに、ワイヤボンド工
程を要するなど工程的に非常に繁雑であるばかりか、こ
れら一連の工程を他の良品チップに損傷や異物付着など
の欠陥発生あるいは電気的特性の不良を誘発することな
く完了させることはほとんど不可能に近い困難さを伴っ
ていた。
この問題はインライン配列型の固体撮像装置のみならず
千鳥配列型の固体撮像装置でも同様であった。
千鳥配列型の固体撮像装置でも同様であった。
また、不良品チップと良品チップの置き換えばかりでな
く、例えば個々の固体撮像素子チップの感度、暗電流値
、飽和信号量、分光感度特性等の電気的特性がチップ間
で適性範囲内に揃っておらずバラツキがあった場合に、
特定のチップを所望の特性を持つ別のチップに置き換え
るという必要性が生じた際にもチップリプレイスの要求
が発生するが、実際には困難であった6 また、ハンドリング性を向上させると共に、ウェハから
分割した固体撮像素子チップをパッケージ基板に固着す
る前にチップテストを可能とするために、本出願人は特
開昭62〜279671号公報において、各固体撮像素
子チップをその長辺がチップの長辺より短く且つ短辺が
チップの短辺より長い基台上に搭載してサブキットを形
成し、このサブキットを複数個パッケージ基板上に配列
した固体撮像装置を開示した。この固体撮像装置では、
組立後のチップリプレイスが可能となるが、チップの方
が基台より長いのでサブキットの位置合わせ時に隣接す
るチップの端面同士が接触してチップを損傷する恐れも
考えられる。
く、例えば個々の固体撮像素子チップの感度、暗電流値
、飽和信号量、分光感度特性等の電気的特性がチップ間
で適性範囲内に揃っておらずバラツキがあった場合に、
特定のチップを所望の特性を持つ別のチップに置き換え
るという必要性が生じた際にもチップリプレイスの要求
が発生するが、実際には困難であった6 また、ハンドリング性を向上させると共に、ウェハから
分割した固体撮像素子チップをパッケージ基板に固着す
る前にチップテストを可能とするために、本出願人は特
開昭62〜279671号公報において、各固体撮像素
子チップをその長辺がチップの長辺より短く且つ短辺が
チップの短辺より長い基台上に搭載してサブキットを形
成し、このサブキットを複数個パッケージ基板上に配列
した固体撮像装置を開示した。この固体撮像装置では、
組立後のチップリプレイスが可能となるが、チップの方
が基台より長いのでサブキットの位置合わせ時に隣接す
るチップの端面同士が接触してチップを損傷する恐れも
考えられる。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、組立後の固体撮像素子チップを損傷すること
なく容易に置き換えることのできる固体撮像装置を提供
することを目的とする。
たもので、組立後の固体撮像素子チップを損傷すること
なく容易に置き換えることのできる固体撮像装置を提供
することを目的とする。
また、この発明は、良品の固体撮像素子チップの有効使
用を可能とし且つ製造歩留りを大幅に向上させることの
できる固体撮像装置の組立方法を提供することをも目的
とする。
用を可能とし且つ製造歩留りを大幅に向上させることの
できる固体撮像装置の組立方法を提供することをも目的
とする。
この発明に係る固体撮像装置は、それぞれ画素列と複数
のボンディングパッドを有する複数の固体撮像素子チッ
プと、それぞれ対応する固体撮像素子チップを搭載する
と共に搭載される固体撮像素子チップより長い長辺とそ
の固体撮像素子チップのボンディングパッドに電気的に
接続される複数の端子を有する複数のチップキャリアと
、これら複数のチップキャリアを搭載するパッケージ基
板と、パッケージ基板に設けられると共に複数のチップ
キャリアの端子に電気的に接続される複数の外部リード
とを備えたものである。
のボンディングパッドを有する複数の固体撮像素子チッ
プと、それぞれ対応する固体撮像素子チップを搭載する
と共に搭載される固体撮像素子チップより長い長辺とそ
の固体撮像素子チップのボンディングパッドに電気的に
接続される複数の端子を有する複数のチップキャリアと
、これら複数のチップキャリアを搭載するパッケージ基
板と、パッケージ基板に設けられると共に複数のチップ
キャリアの端子に電気的に接続される複数の外部リード
とを備えたものである。
また、この発明に係る固体撮像装置の組立方法は、それ
ぞれ−画素列と複数のボンディングパッドとを有する複
数の固体撮像素子チップを各固体撮像素子チップより長
い長辺及び複数の端子を有する複数のチップキャリア上
に搭載し、各チップキャリアの複数の端子とこのチップ
キャリアに搭載された固体撮像素子チップの複数のボン
ディングパッドとを電気的に接続することにより複数の
撮像ユニットを形成し、これら複数の撮像ユニットを複
数の外部リードが設けられたパッケージ基板上に配列固
定し、複数の撮像ユニットの端子と外部リードとを電気
的に接続し、各撮像ユニットの固体撮像素子チップのテ
ストを行い、このテストにより不良の固体撮像素子チッ
プが発見された場合には、その固体撮像素子チップを含
む撮像ユニットをパッケージ基板から除去してその代わ
りに新たな撮像ユニットをパッケージ基板上に固定する
方法である。
ぞれ−画素列と複数のボンディングパッドとを有する複
数の固体撮像素子チップを各固体撮像素子チップより長
い長辺及び複数の端子を有する複数のチップキャリア上
に搭載し、各チップキャリアの複数の端子とこのチップ
キャリアに搭載された固体撮像素子チップの複数のボン
ディングパッドとを電気的に接続することにより複数の
撮像ユニットを形成し、これら複数の撮像ユニットを複
数の外部リードが設けられたパッケージ基板上に配列固
定し、複数の撮像ユニットの端子と外部リードとを電気
的に接続し、各撮像ユニットの固体撮像素子チップのテ
ストを行い、このテストにより不良の固体撮像素子チッ
プが発見された場合には、その固体撮像素子チップを含
む撮像ユニットをパッケージ基板から除去してその代わ
りに新たな撮像ユニットをパッケージ基板上に固定する
方法である。
この発明に係る固体撮像装置では、複数の固体撮像素子
チップがそれぞれこれらのチップより長い長辺を有する
複数のチップキャリア上に搭載され、これらチップキャ
リアを用いてパッケージ基板上に配列固定される。
チップがそれぞれこれらのチップより長い長辺を有する
複数のチップキャリア上に搭載され、これらチップキャ
リアを用いてパッケージ基板上に配列固定される。
また、この発明の固体撮像装置の組立方法においては、
複数の撮像ユニットをパッケージ基板上に配列固定した
後、各固体撮像素子チップのテストを実施し、不良の固
体撮像素子チップを撮像ユニットごとりブレイスする。
複数の撮像ユニットをパッケージ基板上に配列固定した
後、各固体撮像素子チップのテストを実施し、不良の固
体撮像素子チップを撮像ユニットごとりブレイスする。
以下、この発明の実施例について添付図面を参照して説
明する。
明する。
第1^図はこの発明の第1実施例に係る固体撮像装置を
示す斜視図である。この固体撮像装置は、固体撮像素子
チップとしてCCDリニアイメージセンサを5チップ直
列に配置して、A3版サイズの読取り幅を持つインライ
ン配列型の固体撮像装置であり、第1B図はその断面図
である。これら第1八図及び第1B図において、複数の
固体撮像素子チップ(10)がそれぞれセラミック等か
らなるチ・ノブキャリア(31)上にグイボンド樹脂(
図示せず)を介して搭載されており、これにより複数の
撮像ユニット(30〉が形成されている。さらに、各撮
像ユニ・ント(30)のチップキャリア(31)が接着
剤(図示せず)を介してパッケージ基板(20)上に搭
載されている。
示す斜視図である。この固体撮像装置は、固体撮像素子
チップとしてCCDリニアイメージセンサを5チップ直
列に配置して、A3版サイズの読取り幅を持つインライ
ン配列型の固体撮像装置であり、第1B図はその断面図
である。これら第1八図及び第1B図において、複数の
固体撮像素子チップ(10)がそれぞれセラミック等か
らなるチ・ノブキャリア(31)上にグイボンド樹脂(
図示せず)を介して搭載されており、これにより複数の
撮像ユニット(30〉が形成されている。さらに、各撮
像ユニ・ント(30)のチップキャリア(31)が接着
剤(図示せず)を介してパッケージ基板(20)上に搭
載されている。
パッケージ基板(20)上には配線(23)が形成され
、この配線(23〉に接続された外部リード(24)が
パッケージ基板(20)外縁に固定されている。また、
パッケージ基板(20)上には固体撮像素子チップ(1
0)搭載部の空間を密閉するため接着剤樹脂(26)を
介してガラス蓋(21)が取り付けられている。
、この配線(23〉に接続された外部リード(24)が
パッケージ基板(20)外縁に固定されている。また、
パッケージ基板(20)上には固体撮像素子チップ(1
0)搭載部の空間を密閉するため接着剤樹脂(26)を
介してガラス蓋(21)が取り付けられている。
第1C図に示すように、各固定撮像素子チップ(lO)
上に複数のボンディングパッド(12)が形成される一
方、チップキャリア(31)には複数の端子(32)が
形成されており、これらボンディングパッド(12)と
端子(32)とがそれぞれワイヤ(13)により電気的
に接続されている。またーパッケージ基板(20)上で
は各配81(23)にそれぞれ端子(22)が接続され
ており、これらの端子(22)とチ・ンブキャリア(3
1)上の端子(32)とがワイヤ(25)により電気的
に接続されている。さらに、固定撮像素子チップ(10
)の上面には、受光部であるフ才l・ダイオード等の画
素(11)が形成されており、これら画素(11)が複
数個連なって画素列(1)をfjlltしている。
上に複数のボンディングパッド(12)が形成される一
方、チップキャリア(31)には複数の端子(32)が
形成されており、これらボンディングパッド(12)と
端子(32)とがそれぞれワイヤ(13)により電気的
に接続されている。またーパッケージ基板(20)上で
は各配81(23)にそれぞれ端子(22)が接続され
ており、これらの端子(22)とチ・ンブキャリア(3
1)上の端子(32)とがワイヤ(25)により電気的
に接続されている。さらに、固定撮像素子チップ(10
)の上面には、受光部であるフ才l・ダイオード等の画
素(11)が形成されており、これら画素(11)が複
数個連なって画素列(1)をfjlltしている。
このような構成の固体撮像装置は、固体撮像素子チップ
(10)をチップキャリア(31)を介してバ・ンケー
ジ基板(20)上に載せることを最大の特徴とするが、
第2八〜2F図の工程図を参照してこの実施例の固体撮
像装置の組立方法を説明する。
(10)をチップキャリア(31)を介してバ・ンケー
ジ基板(20)上に載せることを最大の特徴とするが、
第2八〜2F図の工程図を参照してこの実施例の固体撮
像装置の組立方法を説明する。
予め、チップ状態に分割されている固体撮像素子チップ
(10)の長さがXlであるとすると、チップキャリア
(31)の長辺の長さが(X+α)IIimとなるよう
に固体撮像素子チップ(10)及びチップキャリア(3
1)の長さを調整しておく。ここでαはオーバーサイズ
量であり、α≧OIである。このような固体撮像素子チ
ップ(10)の裏面にグイボンド樹脂(図示せず)を塗
り、第2八因に示すように、チップキャリア(31)上
から固体Jla(3,素子チップ(10)がはみ出さな
いように位置決めしてこの上にグイボンドする。尚、チ
ップキャリア(31)の表面上には、第3八図に示すよ
うに、固体撮像素子チップ(10)が搭載される領域(
36)の周辺に複数の端子(32)が形成されている。
(10)の長さがXlであるとすると、チップキャリア
(31)の長辺の長さが(X+α)IIimとなるよう
に固体撮像素子チップ(10)及びチップキャリア(3
1)の長さを調整しておく。ここでαはオーバーサイズ
量であり、α≧OIである。このような固体撮像素子チ
ップ(10)の裏面にグイボンド樹脂(図示せず)を塗
り、第2八因に示すように、チップキャリア(31)上
から固体Jla(3,素子チップ(10)がはみ出さな
いように位置決めしてこの上にグイボンドする。尚、チ
ップキャリア(31)の表面上には、第3八図に示すよ
うに、固体撮像素子チップ(10)が搭載される領域(
36)の周辺に複数の端子(32)が形成されている。
キュア処理によりダイボンド樹脂を硬化させた後には、
固体撮像素子チップ<10)とチップキャリア(31)
は一体となっており、これ以降の工程中では固体撮像素
子チップ(10)を直接ハンドリングする必要はなく、
チップキャリア(31)をハンドリング対象とすれば良
い。従って、ダイボンド工程以降の固体撮像装置の製作
工程中で使用される諸装置あるいは治工具類により、固
体撮像素子チップ(10)に直接触れることがないため
、ハンドリング中に硬材料である固体撮像素子チンブ(
10)の角部が欠けるチッピング等の不良発生およびハ
ンドリング治工具類からのゴミ、異物による汚染等を未
然に防止できる。
固体撮像素子チップ<10)とチップキャリア(31)
は一体となっており、これ以降の工程中では固体撮像素
子チップ(10)を直接ハンドリングする必要はなく、
チップキャリア(31)をハンドリング対象とすれば良
い。従って、ダイボンド工程以降の固体撮像装置の製作
工程中で使用される諸装置あるいは治工具類により、固
体撮像素子チップ(10)に直接触れることがないため
、ハンドリング中に硬材料である固体撮像素子チンブ(
10)の角部が欠けるチッピング等の不良発生およびハ
ンドリング治工具類からのゴミ、異物による汚染等を未
然に防止できる。
次いで、第2B図に示すように、
固体f!ffl素子チッ
プ(10)上のボンディングパッド(12)とチップキ
ャリア(31)上の端子(32)とをそれぞれ金あるい
は銅、アルミニウム等のワイヤ(13)によりワイヤボ
ンドする。これにより、電気的配線が固体撮像素子チッ
プ(10)上からチップキャリア(31)上に引き出さ
れ、撮像ユニット〈30〉が形成される。この撮像ユニ
ツ) (30)の斜視図を第3B図に示す。
ャリア(31)上の端子(32)とをそれぞれ金あるい
は銅、アルミニウム等のワイヤ(13)によりワイヤボ
ンドする。これにより、電気的配線が固体撮像素子チッ
プ(10)上からチップキャリア(31)上に引き出さ
れ、撮像ユニット〈30〉が形成される。この撮像ユニ
ツ) (30)の斜視図を第3B図に示す。
次に、第2C〜2D図に示すように、撮像ユニット(3
0)をパッケージ基板(20)上に順次lユニットずつ
画素列(1)が−直線上に並ぶようにインライン配列型
に位置決めしてこれらを接着剤(図示せず〉により固定
していく。この際、各ユニット(30)においてチップ
キャリア(31)の方が固体撮像素子チップ(10)よ
りオーバーサイズα1分だけ長いので、隣接する撮像ユ
ニット(30)の固体撮像素子チップ(10)同志が直
接接触することはない。従って、固体撮像素子チップ(
lo)端部でのチッピング等のダメージ発生が防止され
る。このため、隣接する撮像ユニット(30)の間隔を
小さくするためにta像ユニット(30)のチップキャ
リア(31)同志を直接押しあててパッケージ基板(2
0)上に配置固定していくことができ、作業性が向上す
る。
0)をパッケージ基板(20)上に順次lユニットずつ
画素列(1)が−直線上に並ぶようにインライン配列型
に位置決めしてこれらを接着剤(図示せず〉により固定
していく。この際、各ユニット(30)においてチップ
キャリア(31)の方が固体撮像素子チップ(10)よ
りオーバーサイズα1分だけ長いので、隣接する撮像ユ
ニット(30)の固体撮像素子チップ(10)同志が直
接接触することはない。従って、固体撮像素子チップ(
lo)端部でのチッピング等のダメージ発生が防止され
る。このため、隣接する撮像ユニット(30)の間隔を
小さくするためにta像ユニット(30)のチップキャ
リア(31)同志を直接押しあててパッケージ基板(2
0)上に配置固定していくことができ、作業性が向上す
る。
続いて、第2E図に示すように、チップキャリア(31
〉上の端子(32〉とパッケージ基板(20)上の端子
(22)との間をそれぞれ金、銅、あるいはアルミニウ
ムなどのワイヤ(25)によりワイヤボンドする。
〉上の端子(32〉とパッケージ基板(20)上の端子
(22)との間をそれぞれ金、銅、あるいはアルミニウ
ムなどのワイヤ(25)によりワイヤボンドする。
これにより、固体tea像素子チップ(10)上のボン
ディングパッド(12)からパッケージ基板(20)の
外部リード(24)までが電気的に接続される。このと
きの撮像ユニット(30)の配列の様子を第4図の平面
図に示す。
ディングパッド(12)からパッケージ基板(20)の
外部リード(24)までが電気的に接続される。このと
きの撮像ユニット(30)の配列の様子を第4図の平面
図に示す。
最後に、第2F図に示すように、窒素等の不活性ガス雰
囲気中でガラス! (21)を接着剤(図示せず)によ
りパッケージ基板(20)上に固定し、固体撮像素子チ
ップ(10)の搭載雰囲気を密閉する。
囲気中でガラス! (21)を接着剤(図示せず)によ
りパッケージ基板(20)上に固定し、固体撮像素子チ
ップ(10)の搭載雰囲気を密閉する。
以上の方法により、第1八図に示した固体@像装置が基
本的には完成するが、でき上がった固体撮像装置の品質
、性能を確実にするためには、上記の一連の工程中にフ
ァイナルテスト工程を挿入するのが有効な方法である。
本的には完成するが、でき上がった固体撮像装置の品質
、性能を確実にするためには、上記の一連の工程中にフ
ァイナルテスト工程を挿入するのが有効な方法である。
第5図はファイナルテスト工程を挿入した固体撮像装置
の組立方法を示すフローチャート図である。その基本的
な流れは第2八〜2F図に示した一連の工程に対応して
いるが、以下第5図を用いて組立方法を説明する。
の組立方法を示すフローチャート図である。その基本的
な流れは第2八〜2F図に示した一連の工程に対応して
いるが、以下第5図を用いて組立方法を説明する。
まず、シリコン基板上に形成された複数個の固体撮像素
子チップ(10)は、ステップSllで電気的に特性や
動作性能が測定される(ウェハテスト〉。
子チップ(10)は、ステップSllで電気的に特性や
動作性能が測定される(ウェハテスト〉。
このウェハテストにより、良品チップと不良品チップと
を選別するためのデータが取られる。続いて、ステップ
S12でダイサ(図示せず)によりシリコン基板がダイ
シングされ、個々のチップに分割される。分割された固
体撮像素子チップ(lO)のうち、先のウェハテストデ
ータにより良品を選別し、ステップ313でこれをチッ
プキャリア(31〉上にダイボンド樹脂により接着固定
する0次いで、ステップS14で、固体撮像素子チップ
(lO)のボンディングパッド(12)とチップキャリ
ア(31)上の端子(32)とをワイヤボンドし、固体
撮像素子チップ(10)とチップキャリア(31)とか
らなる撮像ユニット(30)を形成する。次に、ステッ
プS15で、この撮像ユニット(30〉を固体撮像装置
として必要個数である5個をインライン配列型にパッケ
ージ基板り20)上に端から順次接着剤を介して配列す
る。ここで、接着剤としては例えば熱硬化タイプのもの
を用い、この段階では比較的低温で半硬化させる。続い
て、ステップS16で、チップキャリア(31)上の端
子(32)とパッケージ基板(20)上の端子り22〉
との間をワイヤボンドして結線する。
を選別するためのデータが取られる。続いて、ステップ
S12でダイサ(図示せず)によりシリコン基板がダイ
シングされ、個々のチップに分割される。分割された固
体撮像素子チップ(lO)のうち、先のウェハテストデ
ータにより良品を選別し、ステップ313でこれをチッ
プキャリア(31〉上にダイボンド樹脂により接着固定
する0次いで、ステップS14で、固体撮像素子チップ
(lO)のボンディングパッド(12)とチップキャリ
ア(31)上の端子(32)とをワイヤボンドし、固体
撮像素子チップ(10)とチップキャリア(31)とか
らなる撮像ユニット(30)を形成する。次に、ステッ
プS15で、この撮像ユニット(30〉を固体撮像装置
として必要個数である5個をインライン配列型にパッケ
ージ基板り20)上に端から順次接着剤を介して配列す
る。ここで、接着剤としては例えば熱硬化タイプのもの
を用い、この段階では比較的低温で半硬化させる。続い
て、ステップS16で、チップキャリア(31)上の端
子(32)とパッケージ基板(20)上の端子り22〉
との間をワイヤボンドして結線する。
この段階で固体撮像装置としての電気的動作テストすな
わちファイナルテストが可能となる。
わちファイナルテストが可能となる。
そこでステップS17としてファイナルテストを実施し
、5個の撮像ユニット(30)全てを実装した状態で固
体撮像素子チップ(10)の欠陥、電気的特性等につい
てテストする。その結果、ステップS18でいずれかの
撮像ユニット(30)の固体撮像素子チップ(10)あ
るいはそれらのいくつかに何らかの不良が発見された場
合には、さらにステップS19で、不良の固体撮像素子
チップ(10)を含む撮像ユニット(30)あるいは5
つすべての撮像ユニッ) (30)のワイヤ(25)を
除去し、半硬化状態にある接着剤部分でパッケージ基板
(20)上から特定の撮像ユニット(30)あるいはす
べての撮像ユニット(30)を取り外す、撮像ユニット
(30〉を取り外した後のパッケージ基板(20)上並
びに再度使用する良品の撮像ユニット(30)のチップ
キャリア(31)下面には接着剤が残存している場合が
多いが、その時にはスクレーバー(図示せず)により機
械的に除去するか、または有機溶剤により洗浄する。あ
るいはこれらを併用してもよい、この残存接着剤の除去
作業中においても、固体撮像素子チップ(10)は撮像
ユニット(30)としてチップキャリア(31)に保護
された状態で取り扱われるため、損傷などの不良を発生
することはない。
、5個の撮像ユニット(30)全てを実装した状態で固
体撮像素子チップ(10)の欠陥、電気的特性等につい
てテストする。その結果、ステップS18でいずれかの
撮像ユニット(30)の固体撮像素子チップ(10)あ
るいはそれらのいくつかに何らかの不良が発見された場
合には、さらにステップS19で、不良の固体撮像素子
チップ(10)を含む撮像ユニット(30)あるいは5
つすべての撮像ユニッ) (30)のワイヤ(25)を
除去し、半硬化状態にある接着剤部分でパッケージ基板
(20)上から特定の撮像ユニット(30)あるいはす
べての撮像ユニット(30)を取り外す、撮像ユニット
(30〉を取り外した後のパッケージ基板(20)上並
びに再度使用する良品の撮像ユニット(30)のチップ
キャリア(31)下面には接着剤が残存している場合が
多いが、その時にはスクレーバー(図示せず)により機
械的に除去するか、または有機溶剤により洗浄する。あ
るいはこれらを併用してもよい、この残存接着剤の除去
作業中においても、固体撮像素子チップ(10)は撮像
ユニット(30)としてチップキャリア(31)に保護
された状態で取り扱われるため、損傷などの不良を発生
することはない。
その後、不良チップの載った撮像ユニット(30)の代
わりに新たに置き換えられる良品チップの載った撮像ユ
ニット(30)と、再度使用する良品の撮像ユニット(
30)とを上記のステップS15及びS16と同様にし
てパッケージ基板(20)上に順次位置合せして固定し
、続いてワイヤボンドする(チップリプレイス)。
わりに新たに置き換えられる良品チップの載った撮像ユ
ニット(30)と、再度使用する良品の撮像ユニット(
30)とを上記のステップS15及びS16と同様にし
てパッケージ基板(20)上に順次位置合せして固定し
、続いてワイヤボンドする(チップリプレイス)。
尚、ステップS17のファイナルテストにより、最終的
に固体撮像装置として合格の判定がなされた場合には、
各撮像ユニット(30〉をパッケージ基板(20)に固
定していた接着剤を本硬(ヒさせた後、ステップS20
で窒素等の不活性ガス雰囲気中においてガラス蓋(21
)をパッケージ基板(20)上に接着する。これにより
、インライン配列型の固体撮像装置が完成する。
に固体撮像装置として合格の判定がなされた場合には、
各撮像ユニット(30〉をパッケージ基板(20)に固
定していた接着剤を本硬(ヒさせた後、ステップS20
で窒素等の不活性ガス雰囲気中においてガラス蓋(21
)をパッケージ基板(20)上に接着する。これにより
、インライン配列型の固体撮像装置が完成する。
以上のように、本発明の組立方法においては、固体撮像
装置の組立後においても固体撮1象素子チップ(10)
のりブレイスが欠陥、不良等を誘発することなく簡単に
行える。
装置の組立後においても固体撮1象素子チップ(10)
のりブレイスが欠陥、不良等を誘発することなく簡単に
行える。
尚、第5図で説明した固体撮像装置の組立方法では、撮
像ユニット(30〉をパッケージ基板(20〉上に配置
しワイヤボンドした後にファイナルテストを実施して不
良チップの有無を検査したが、撮像ユニット(30)を
形成した後は固体撮像素子チップ(10〉のハンドリン
グが容易となるため、撮渫ユニッ) (30)をパッケ
ージ基板(20)上に配置する前でも、チップキャリア
(31)上の端子(32)にナス1〜用の探針(プロー
ブ)を容易に接触させることができる。
像ユニット(30〉をパッケージ基板(20〉上に配置
しワイヤボンドした後にファイナルテストを実施して不
良チップの有無を検査したが、撮像ユニット(30)を
形成した後は固体撮像素子チップ(10〉のハンドリン
グが容易となるため、撮渫ユニッ) (30)をパッケ
ージ基板(20)上に配置する前でも、チップキャリア
(31)上の端子(32)にナス1〜用の探針(プロー
ブ)を容易に接触させることができる。
そこで、第6図に示すように、ステップS14で撮像ユ
ニット(30)を形成した後、直ちにステップS21と
してチップキャリア(31)上の端子(32)にテス)
〜プローブを接触させ、固体撮像素子チップ(10〉の
電気的特性、欠陥などを測定、テスト(ユニットテスト
)することもできる。この段階で各撮像ユニット(30
)の良/不良を判定し、その後ステップS15で良品ユ
ニットのみを集めてパッケージ基板(20)上に配置す
る。この後の工程は第5図の組立方法と同様であるが、
ステップS21のユニットテスト 落としができるため、パッケージ基板〈20〉上に撮像
ユニット(30)を配置した後のチップリプレイスを実
施する確率を減らずことができ、実質的に生産性が向上
する。
ニット(30)を形成した後、直ちにステップS21と
してチップキャリア(31)上の端子(32)にテス)
〜プローブを接触させ、固体撮像素子チップ(10〉の
電気的特性、欠陥などを測定、テスト(ユニットテスト
)することもできる。この段階で各撮像ユニット(30
)の良/不良を判定し、その後ステップS15で良品ユ
ニットのみを集めてパッケージ基板(20)上に配置す
る。この後の工程は第5図の組立方法と同様であるが、
ステップS21のユニットテスト 落としができるため、パッケージ基板〈20〉上に撮像
ユニット(30)を配置した後のチップリプレイスを実
施する確率を減らずことができ、実質的に生産性が向上
する。
また、上記の実施例においては、チップキャリア(31
)上のチップ載置領域(36)上にダイボンド樹脂を介
して直接固体撮像素子チップ(10)を固定したが、固
体撮像素子チップ(10)の基板電位を固定するなどの
目的のために、チップ載置領域(36)上の全面あるい
は部分的に電極を形成し、この電極から配線を引出して
いずれかの端子(32〉に接続するようにしてもよい。
)上のチップ載置領域(36)上にダイボンド樹脂を介
して直接固体撮像素子チップ(10)を固定したが、固
体撮像素子チップ(10)の基板電位を固定するなどの
目的のために、チップ載置領域(36)上の全面あるい
は部分的に電極を形成し、この電極から配線を引出して
いずれかの端子(32〉に接続するようにしてもよい。
また、チップキャリア(31)を熱硬化型接着剤でパッ
ケージ基板(20)上に固定する例を示したが、その他
の材料、あるいは手段によって固定してもよいことは言
うまでもない。
ケージ基板(20)上に固定する例を示したが、その他
の材料、あるいは手段によって固定してもよいことは言
うまでもない。
上記の実施例においては、チップキャリアク31)上で
且つチップ搭載頽域(36)の片側に端子(32)を形
成したが、端子(32)は必要に応じてチップF載領域
(36)の両側に形成してもよい。
且つチップ搭載頽域(36)の片側に端子(32)を形
成したが、端子(32)は必要に応じてチップF載領域
(36)の両側に形成してもよい。
同様に、ガラスIff (21)の固定にも接着剤を用
いた例を示したが、接着剤以外の材料、手段であっても
よいことは言うまでもない。さらに、ガラスff (2
1)並びにパッケージ基板(20〉の形状は上記実施例
に例示された形状に限られるものではない。
いた例を示したが、接着剤以外の材料、手段であっても
よいことは言うまでもない。さらに、ガラスff (2
1)並びにパッケージ基板(20〉の形状は上記実施例
に例示された形状に限られるものではない。
また、上記実施例においては、チップキャリア(31)
上の端子(32)あるいは(34)とパッケージ基板(
20)上の端子(22)との接続にワイヤ〈25ンを、
固体撮像素子チップ(10)上のボンディングパッド(
12)と端子(32)との接続にワイヤ(13)をそれ
ぞれ用いた例を示したが、いずれの場合においても、電
気的導通路を形成すればよいので、その手段はワイヤに
限られるものではなく、リードをハンダにより接続する
などの他の方法であってもよい。
上の端子(32)あるいは(34)とパッケージ基板(
20)上の端子(22)との接続にワイヤ〈25ンを、
固体撮像素子チップ(10)上のボンディングパッド(
12)と端子(32)との接続にワイヤ(13)をそれ
ぞれ用いた例を示したが、いずれの場合においても、電
気的導通路を形成すればよいので、その手段はワイヤに
限られるものではなく、リードをハンダにより接続する
などの他の方法であってもよい。
次に、この発明の第2実施例に係る固体撮像装置につい
て第7^、713及び8図を用いて説明する。
て第7^、713及び8図を用いて説明する。
この実施例におけるチップキャリア(31a)は。
第7八図のように、4つのコーナ一部〈四隅)のうち同
じ側にある2つの隅が切欠かれた構造となっている。こ
の切欠部(37)に接するようにして、その上面にチッ
プ載置領域(36)が形成されている。さらに、チップ
キャリア(31.a)の上面にはチップ載置領域(36
)の周辺部に、載置される固体撮像素子チップ(10)
上のボンディングパッド(12)に対応する複数の端子
(32)が形成されている。これらの端子(32)は配
線(33)により端子(34)に接続されている。
じ側にある2つの隅が切欠かれた構造となっている。こ
の切欠部(37)に接するようにして、その上面にチッ
プ載置領域(36)が形成されている。さらに、チップ
キャリア(31.a)の上面にはチップ載置領域(36
)の周辺部に、載置される固体撮像素子チップ(10)
上のボンディングパッド(12)に対応する複数の端子
(32)が形成されている。これらの端子(32)は配
線(33)により端子(34)に接続されている。
第7B図に示すように、チップキャリア(31a)上の
チップ載置領域(36)上にダイボンド樹脂(図示せず
)を介して固体撮像素子チップ(10)を固定し、ボン
ディングパッド(12)と端子(32)との間をワイヤ
(13)により結線することにより撮像ユニット(30
a)が形成される。このとき、固体撮像素子チップ(1
0)は画素列(1)がチップキャリア(31a)の切欠
部(37)に近接するようにダイボンドされる。撮像ユ
ニット(30a)の形成後はチップキャリア(3h)の
側部等をつかんでハンドリングすることができ、固体撮
像素子チップ(10〉を直接ハンドリングする必要が無
くなり、欠陥発生を防止できる。
チップ載置領域(36)上にダイボンド樹脂(図示せず
)を介して固体撮像素子チップ(10)を固定し、ボン
ディングパッド(12)と端子(32)との間をワイヤ
(13)により結線することにより撮像ユニット(30
a)が形成される。このとき、固体撮像素子チップ(1
0)は画素列(1)がチップキャリア(31a)の切欠
部(37)に近接するようにダイボンドされる。撮像ユ
ニット(30a)の形成後はチップキャリア(3h)の
側部等をつかんでハンドリングすることができ、固体撮
像素子チップ(10〉を直接ハンドリングする必要が無
くなり、欠陥発生を防止できる。
第8図に示すように、例えば5個の撮像ユニツ’r−
(30a)を、各切欠部(37)が交互に重なるように
配置する。すると、隣接する固体撮像素子チップ(to
)上の画素列(1)は互いに近接して位置することとな
り、千鳥配列型の固体撮像装置が得られる。
(30a)を、各切欠部(37)が交互に重なるように
配置する。すると、隣接する固体撮像素子チップ(to
)上の画素列(1)は互いに近接して位置することとな
り、千鳥配列型の固体撮像装置が得られる。
尚、チップキャリア(31a)の端子(34)はパッケ
ージ基板(20)上の端子(22)にワイヤ(25)に
より接続され、ボンディングパッド(12)から外部リ
ード(24)までが電気的に接続される。また、外部り
−ド(24)は5個の撮像ユニット(30a)の向きに
対応してパッケージ基板(20)の両側縁部にそれぞれ
設けられている。第8図はガラス蓋が取付けられる前の
状態を示している6 尚、上記の第2実施例においては、千鳥配列に対応させ
るために、チップキャリア(31a)の四隅のうち二隅
に切欠部(37)を設けた例を示したが、三隅あるいは
四隅すべてに切欠部(37)を設けてもよい、また、切
欠部〈37)は少なくとも隣接するチップキャリア(3
1a)の接合部に設けてあればよいので、パッケージ基
板’(20)上に配置される複数の撮像ユニット(30
a)のうち、先端あるいは後端に位置する撮像ユニット
(30a)では−隅だけに切欠部〈37)を持つチップ
キャリア(31a)を用いることができる。さらに、切
欠部(37)の長さは例えば第7^図に示した実施例に
おける長さに限られるものではなく、隣接するチップキ
ャリア(31a)との重ね合せが確保できる大きさであ
ればよい。
ージ基板(20)上の端子(22)にワイヤ(25)に
より接続され、ボンディングパッド(12)から外部リ
ード(24)までが電気的に接続される。また、外部り
−ド(24)は5個の撮像ユニット(30a)の向きに
対応してパッケージ基板(20)の両側縁部にそれぞれ
設けられている。第8図はガラス蓋が取付けられる前の
状態を示している6 尚、上記の第2実施例においては、千鳥配列に対応させ
るために、チップキャリア(31a)の四隅のうち二隅
に切欠部(37)を設けた例を示したが、三隅あるいは
四隅すべてに切欠部(37)を設けてもよい、また、切
欠部〈37)は少なくとも隣接するチップキャリア(3
1a)の接合部に設けてあればよいので、パッケージ基
板’(20)上に配置される複数の撮像ユニット(30
a)のうち、先端あるいは後端に位置する撮像ユニット
(30a)では−隅だけに切欠部〈37)を持つチップ
キャリア(31a)を用いることができる。さらに、切
欠部(37)の長さは例えば第7^図に示した実施例に
おける長さに限られるものではなく、隣接するチップキ
ャリア(31a)との重ね合せが確保できる大きさであ
ればよい。
また、各チップキャリア(31a)を、その短辺側で隣
り合うチップキャリア(:1Ha)とつき合わせて配置
することにより、画素列(1)が−直線上に並ぶインラ
イン配列型の固体撮像装置としても用いることができる
。
り合うチップキャリア(:1Ha)とつき合わせて配置
することにより、画素列(1)が−直線上に並ぶインラ
イン配列型の固体撮像装置としても用いることができる
。
ところで、固体撮像装置の組立工程中での種々のチップ
ハンドリング過程を考慮すると、チップキャリア(31
)、(31a)が#!倒しあるいは転倒した状態となっ
てもそこに搭載されている固体bi像素子チップ(10
)に何らダメージが及ばない事が望ましい。
ハンドリング過程を考慮すると、チップキャリア(31
)、(31a)が#!倒しあるいは転倒した状態となっ
てもそこに搭載されている固体bi像素子チップ(10
)に何らダメージが及ばない事が望ましい。
第9八図はこのような要求に対応する第3実施例の固体
撮像装置に用いられたチップキャリア(31b)の斜視
図である。チップキャリア(31b)の上部には、搭載
される固体撮像素子チップ(10)の短辺より大きな幅
を有する溝状凹部(38)が形成されており、この溝状
凹部(38)底部にチップ載置領域(36)が形成され
ている。溝状凹部(38)の両側部に位置する凸部(3
5〉は物理的外力から固体撮像素子チップ(10)を保
護するとともに、その凸部(35)の上面には固体撮像
素子チップ(lO)上のボンディングパッド(12)に
接続される複数の端子(32)が形成されている。この
チップキャリア(31b>のチップ載置領域(36)に
第9B図のように固体撮像素子チップ(10)を搭載し
、固体撮像素子チップ(lO)のボンディングパッド(
12〉とチップキャリア(31b)の端子(32)とを
ワイヤ(13)により接続することにより撮像ユニット
(30b)が形成される。
撮像装置に用いられたチップキャリア(31b)の斜視
図である。チップキャリア(31b)の上部には、搭載
される固体撮像素子チップ(10)の短辺より大きな幅
を有する溝状凹部(38)が形成されており、この溝状
凹部(38)底部にチップ載置領域(36)が形成され
ている。溝状凹部(38)の両側部に位置する凸部(3
5〉は物理的外力から固体撮像素子チップ(10)を保
護するとともに、その凸部(35)の上面には固体撮像
素子チップ(lO)上のボンディングパッド(12)に
接続される複数の端子(32)が形成されている。この
チップキャリア(31b>のチップ載置領域(36)に
第9B図のように固体撮像素子チップ(10)を搭載し
、固体撮像素子チップ(lO)のボンディングパッド(
12〉とチップキャリア(31b)の端子(32)とを
ワイヤ(13)により接続することにより撮像ユニット
(30b)が形成される。
チップキャリア(31b)のチップ保護用の凸部(35
)は固体撮像素子チップ(10〉のつき合わせ部分とな
る端部側すなわち短辺側には設けられず短辺側端部にお
いて溝状凹部(38〉は開放された構造となっている。
)は固体撮像素子チップ(10〉のつき合わせ部分とな
る端部側すなわち短辺側には設けられず短辺側端部にお
いて溝状凹部(38〉は開放された構造となっている。
また、溝状凹部(38)の両側部に凸部(35)を配置
したことによりチップキャリア(31b)の側部の厚み
が増し、組立時の機械的な保持領域を増すことができハ
ンドリング性の向上効果も得られる。溝状凹部(38)
の深さは固体撮像素子チップ(10)の高さ(厚さ)よ
り大きくすることにより、転倒時のチップ破損、異物付
着防止効果を高めることができる。さらに、チップキャ
リア(31b)の長辺方向の長さは搭載する固体撮像素
子チップ(10)の長さと同一あるいはそれ以上とする
ことにより、固体撮像素子チップ(10〉の短辺側端部
の損傷が防止される。
したことによりチップキャリア(31b)の側部の厚み
が増し、組立時の機械的な保持領域を増すことができハ
ンドリング性の向上効果も得られる。溝状凹部(38)
の深さは固体撮像素子チップ(10)の高さ(厚さ)よ
り大きくすることにより、転倒時のチップ破損、異物付
着防止効果を高めることができる。さらに、チップキャ
リア(31b)の長辺方向の長さは搭載する固体撮像素
子チップ(10)の長さと同一あるいはそれ以上とする
ことにより、固体撮像素子チップ(10〉の短辺側端部
の損傷が防止される。
以上のような撮像ユニット(30b)は、第1八図に示
したように例えばその5ユニツトをそれぞれ短辺側でつ
き合わせて配置することによりインライン配列型の固体
撮像装置を構成することができる。
したように例えばその5ユニツトをそれぞれ短辺側でつ
き合わせて配置することによりインライン配列型の固体
撮像装置を構成することができる。
ここで明らかなように、隣接する撮像ユニット(30b
)の固体撮像素・子チップ(10)上の画素(11)間
のギャップを小さくするために、チップキャリア(31
b)と固体撮像素子チップ(lO)の長さができるだけ
近い方が望ましい。
)の固体撮像素・子チップ(10)上の画素(11)間
のギャップを小さくするために、チップキャリア(31
b)と固体撮像素子チップ(lO)の長さができるだけ
近い方が望ましい。
また、この第3実施例においては、チップキャリア(3
1b)に形成される溝状凹部(38)の形状として断面
形状、平面形状とも矩形のものを示したが、これらの形
状は矩形に限られるものではなく、丸形、台形、凹凸を
有する形状、うねりを有する形状など、どのような形状
であってもよい。
1b)に形成される溝状凹部(38)の形状として断面
形状、平面形状とも矩形のものを示したが、これらの形
状は矩形に限られるものではなく、丸形、台形、凹凸を
有する形状、うねりを有する形状など、どのような形状
であってもよい。
また、溝状凹部(38)の両側部の凸部(35〉の形状
も特に矩形に限定されるものではなく、講状凹部(38
)の底部から凸部(35)上面までの高さが一様である
必要はなく、段付きであったり、傾斜したりしていても
よく、さらには固体撮像素子チップ(10)をはさんで
対向する凸部(35)の高さは異なっていてもよい。
も特に矩形に限定されるものではなく、講状凹部(38
)の底部から凸部(35)上面までの高さが一様である
必要はなく、段付きであったり、傾斜したりしていても
よく、さらには固体撮像素子チップ(10)をはさんで
対向する凸部(35)の高さは異なっていてもよい。
第10八図はこの発明の第4実施例の固体撮像装置に用
いられたチップキャリア(31c)の斜視図である。こ
のチップキャリア(31c)は、第9八図に示した第3
実施例におけるチップキャリア(31b>と同様に、固
体撮像素子チップ(10〉を搭載する溝状凹部(38)
が上部に形成されており、この溝状凹部(38〉の短辺
側端部は開放されている。また、溝状凹部(38)両開
部の凸部(35)をチップキャリア(31c)の・1隅
のうち2つの隅において切り欠いた構造となっている。
いられたチップキャリア(31c)の斜視図である。こ
のチップキャリア(31c)は、第9八図に示した第3
実施例におけるチップキャリア(31b>と同様に、固
体撮像素子チップ(10〉を搭載する溝状凹部(38)
が上部に形成されており、この溝状凹部(38〉の短辺
側端部は開放されている。また、溝状凹部(38)両開
部の凸部(35)をチップキャリア(31c)の・1隅
のうち2つの隅において切り欠いた構造となっている。
第10B図に示すように、溝状凹部〈38)内のチップ
装置領域(36)に固体撮像素子チップ(10)を搭載
し、固体撮像素子チップ(10)のボンディングパッド
(12)とチップキャリア(31c)の端子(32)と
をワイヤ〈13)で接続することにより撮像ユニット(
30c)が形成される。
装置領域(36)に固体撮像素子チップ(10)を搭載
し、固体撮像素子チップ(10)のボンディングパッド
(12)とチップキャリア(31c)の端子(32)と
をワイヤ〈13)で接続することにより撮像ユニット(
30c)が形成される。
第8図の第2実施泗と同様に、チップキャリア(31c
)の切欠部(37)を交互に重ね合わせて複数のIA′
l像ユニツI・(30c)を千鳥配列することができる
。
)の切欠部(37)を交互に重ね合わせて複数のIA′
l像ユニツI・(30c)を千鳥配列することができる
。
また、これにより隣接する固体撮1象素子チップ(10
)の画素列(1)間のギャップ量を減らすとともに、チ
ップ(10〉間の位置合わせをしやすくしている。尚、
端子(32)はチップキャリア(31c)の片側の凸部
(35)上のみに形成してもあるいは両側の凸部(35
)上にそれぞれ形成してもよいが、第LOA〜10B[
]では固固体撮像素子チップ 10 ) lの画素列(
1)とは反対側の凸部(35)上のみに形成した場合を
示した。
)の画素列(1)間のギャップ量を減らすとともに、チ
ップ(10〉間の位置合わせをしやすくしている。尚、
端子(32)はチップキャリア(31c)の片側の凸部
(35)上のみに形成してもあるいは両側の凸部(35
)上にそれぞれ形成してもよいが、第LOA〜10B[
]では固固体撮像素子チップ 10 ) lの画素列(
1)とは反対側の凸部(35)上のみに形成した場合を
示した。
また、この実施例においては、チップキャリア(31c
)の短辺側端が開放されているので、この部分でつき合
わせて配置することにより第4図に示したようなインラ
イン配列型の固体撮像装置とすることもできる。
)の短辺側端が開放されているので、この部分でつき合
わせて配置することにより第4図に示したようなインラ
イン配列型の固体撮像装置とすることもできる。
この発明の第5実施例に用いられるチップキャリア(3
1d)を第11八図に示す。このチップキャリア(31
d)は第10八図のチップキャリア(31c)において
、溝状凹部(38)の短辺側端部にまで凸部(35)が
及んだものである。第11.8図に示すように、溝状凹
部(38)内のチップ載置領域(36)に固体撮像素子
チップ(10)を搭載し、固体撮像素子チップ(10)
のボンディングパッド(12)とチップキャリア(31
,d )の端子(32)とをワイヤ(13)で接続する
ことにより撮像ユニット(30d)が形成される。
1d)を第11八図に示す。このチップキャリア(31
d)は第10八図のチップキャリア(31c)において
、溝状凹部(38)の短辺側端部にまで凸部(35)が
及んだものである。第11.8図に示すように、溝状凹
部(38)内のチップ載置領域(36)に固体撮像素子
チップ(10)を搭載し、固体撮像素子チップ(10)
のボンディングパッド(12)とチップキャリア(31
,d )の端子(32)とをワイヤ(13)で接続する
ことにより撮像ユニット(30d)が形成される。
この撮像ユニット(30d)は第8図に示したような千
鳥配列を可能とする。インライン配列との共用を前提と
しない場合には、この実施例のように、固体撮像素子チ
ップ<10)の短辺側をチップキャリア(31d)の凸
部(35)でカバーすることにより、固体撮像素子チッ
プ(10)の端部での損傷が物理的に確実に防止され、
またチップキャリア(31cl>の保持可能な領域が増
えるため組立工程中でのチップのハンドリング性がさら
に向上する。
鳥配列を可能とする。インライン配列との共用を前提と
しない場合には、この実施例のように、固体撮像素子チ
ップ<10)の短辺側をチップキャリア(31d)の凸
部(35)でカバーすることにより、固体撮像素子チッ
プ(10)の端部での損傷が物理的に確実に防止され、
またチップキャリア(31cl>の保持可能な領域が増
えるため組立工程中でのチップのハンドリング性がさら
に向上する。
第12八図はこの発明の第6実施例で用いられるチップ
キャリア(31e)の斜視図である。このチップキャリ
ア(31e)には、その長手方向に沿って一条の段部(
39)が形成されており、この段部(39)上にチップ
載置領域(36)が配置されている。すなわち、第10
八図に示したチップキャリア(31c)において切欠部
(37〉側の凸部(3S)を全て取り除いた構造となっ
ている。第10B図に示すように、このチップキャリア
(31e)のチップ載置領域(36)上に固体撮像素子
チップ(10)を搭載し、固体撮像素子チップ(10)
のボンディングパッド(12)とチップキャリア(31
e)の端子(32〉とをワイヤ(13〉で接続すること
により撮像ユニツl□(30e)が形成される。
キャリア(31e)の斜視図である。このチップキャリ
ア(31e)には、その長手方向に沿って一条の段部(
39)が形成されており、この段部(39)上にチップ
載置領域(36)が配置されている。すなわち、第10
八図に示したチップキャリア(31c)において切欠部
(37〉側の凸部(3S)を全て取り除いた構造となっ
ている。第10B図に示すように、このチップキャリア
(31e)のチップ載置領域(36)上に固体撮像素子
チップ(10)を搭載し、固体撮像素子チップ(10)
のボンディングパッド(12)とチップキャリア(31
e)の端子(32〉とをワイヤ(13〉で接続すること
により撮像ユニツl□(30e)が形成される。
この実施例では、簡単な構造のチップキャリア(31e
)でありながら、固体撮像素子チップ(10)を十分に
保護することができる。尚、第11B図の実施例と同様
に、固体撮像素子チップ(10)の短辺側1端部を凸部
(35)でカバーするような11! 31としてもよい
。
)でありながら、固体撮像素子チップ(10)を十分に
保護することができる。尚、第11B図の実施例と同様
に、固体撮像素子チップ(10)の短辺側1端部を凸部
(35)でカバーするような11! 31としてもよい
。
第13八図はこの発明の第7実施例で用いられるチップ
キャリア(3H)の斜視図である。このチップキャリア
(3H)には、溝状凹部(38f)とその両側部に位置
する凸部(35f)との間に凸部(35r)より低い段
部(39r)が形成されており、階殴状構造を有してい
る。溝状凹部(38r)上にチップ載置領域(36)が
配置されると共に各端子(32)が凸部(35f)上が
ら段部(39f)上にまで連続して設けられている。そ
して、第13B図に示すように、このチップキャリア(
3H)のチップ載置領域(36)上に固体撮像素子チッ
プ(10)を搭載し、段部(39f)上に位置する端子
(32)部分と固体撮像素子チップ(10)のボンディ
ングパッド(12)とをワイヤ(13)で接続すること
により撮像ユニット(30F)が形成される。
キャリア(3H)の斜視図である。このチップキャリア
(3H)には、溝状凹部(38f)とその両側部に位置
する凸部(35f)との間に凸部(35r)より低い段
部(39r)が形成されており、階殴状構造を有してい
る。溝状凹部(38r)上にチップ載置領域(36)が
配置されると共に各端子(32)が凸部(35f)上が
ら段部(39f)上にまで連続して設けられている。そ
して、第13B図に示すように、このチップキャリア(
3H)のチップ載置領域(36)上に固体撮像素子チッ
プ(10)を搭載し、段部(39f)上に位置する端子
(32)部分と固体撮像素子チップ(10)のボンディ
ングパッド(12)とをワイヤ(13)で接続すること
により撮像ユニット(30F)が形成される。
このような構造の撮像ユニット(30f)とすることに
より、ワイヤ(13)は凸部(35f)より低い段部<
39f)C;13いてボンディングされるので、撮像ユ
ニット(30f)のハンドリング時にこの撮像ユニッ)
(30f)が転倒しても、固体撮像素子チップ(1o
)のみならずワイヤ(13)の損傷をも防止することが
できる。尚、撮像ユニット<3Of)をパッケージ基板
上に搭載した後は、凸部(35f)上に位置する端子(
32〉部分とパッケージ基板の端子との間でワイヤボン
ディングが行われる。
より、ワイヤ(13)は凸部(35f)より低い段部<
39f)C;13いてボンディングされるので、撮像ユ
ニット(30f)のハンドリング時にこの撮像ユニッ)
(30f)が転倒しても、固体撮像素子チップ(1o
)のみならずワイヤ(13)の損傷をも防止することが
できる。尚、撮像ユニット<3Of)をパッケージ基板
上に搭載した後は、凸部(35f)上に位置する端子(
32〉部分とパッケージ基板の端子との間でワイヤボン
ディングが行われる。
第14A図はこの発明の第8実施例で用いられるデツプ
キャリア(31g>の斜視図である。このチップキャリ
ア(31g)では、溝状凹部(38g)の一方の側部に
は第7実施例と同様に段部(39g>及び凸部(35g
>が形成され、他方には凸部(35[1)のみが形成さ
れると共に切欠部(37)が形成されている。従って、
第148図のように、溝状凹部(381?)のチップ載
置領域(36)上に固体撮像素子チップ(10〉を搭載
すると共に段部(39g>上に位置する端子(32)部
分と固体撮像素子チップ(10)のボンディングパッド
(12)とをワイヤ(13)で接続すれば、千鳥配列に
適した撮像ユニット(30g)が形成される。
キャリア(31g>の斜視図である。このチップキャリ
ア(31g)では、溝状凹部(38g)の一方の側部に
は第7実施例と同様に段部(39g>及び凸部(35g
>が形成され、他方には凸部(35[1)のみが形成さ
れると共に切欠部(37)が形成されている。従って、
第148図のように、溝状凹部(381?)のチップ載
置領域(36)上に固体撮像素子チップ(10〉を搭載
すると共に段部(39g>上に位置する端子(32)部
分と固体撮像素子チップ(10)のボンディングパッド
(12)とをワイヤ(13)で接続すれば、千鳥配列に
適した撮像ユニット(30g)が形成される。
第15A図はこの発明の第9実施例で用いられるパッケ
ージ基板(20a)の斜視図である。このパッケージ基
板(20a)の上面には凹部(101)が形成されてお
り、凹部(101)内ニfia像ユニットHa 領jl
(300)カ決められている。第15B図に示すよう
に、撮像ユニット(30)のチップキャリア(31)を
凹部(401)内に嵌合し固定するだけで、撮像ユニッ
ト(30)の位置決めが容易に行われる。このようにし
て撮像ユニット(30)をパッケージ基板(20a)上
に搭載した後、撮像ユニット(30)の端子(32)と
パッケージ基板(20a )の外部リード(24)とが
ワイヤ(25)によりボンディングされる。尚、図示し
たパッケージ基板(20a)は二つの撮像ユニット(3
0)を搭載するためのものであり、第15B図ではその
うち一つの撮像ユニット(30)のみが搭載された状態
を示している。
ージ基板(20a)の斜視図である。このパッケージ基
板(20a)の上面には凹部(101)が形成されてお
り、凹部(101)内ニfia像ユニットHa 領jl
(300)カ決められている。第15B図に示すよう
に、撮像ユニット(30)のチップキャリア(31)を
凹部(401)内に嵌合し固定するだけで、撮像ユニッ
ト(30)の位置決めが容易に行われる。このようにし
て撮像ユニット(30)をパッケージ基板(20a)上
に搭載した後、撮像ユニット(30)の端子(32)と
パッケージ基板(20a )の外部リード(24)とが
ワイヤ(25)によりボンディングされる。尚、図示し
たパッケージ基板(20a)は二つの撮像ユニット(3
0)を搭載するためのものであり、第15B図ではその
うち一つの撮像ユニット(30)のみが搭載された状態
を示している。
第1°6^図はこの発明の第1O実施例で用いられるパ
ッケージ基板(20b)の斜視図である。このパッケー
ジ基板(20b)の上面には、位置決め用の複数のピン
(102)が所定の位置に固定されており、これらピン
(102)により撮像ユニット搭載領域(aOO)が決
められている。第168図に示すように、撮像ユニット
(30〉のチップキャリア〈31)をピン(102)に
押し当てた状態でパッケージ基板(20b)上に固定す
るだけで、撮像ユニット(30)の位置決めが容易に行
われる。このようにして撮像ユニット(30)をパッケ
ージ基板(20b)上に搭載した後、撮像ユニット(3
0)の端子〈32)とパッケージ基板(20b)の外部
リード(24)とがワイヤ(25)によりボンディング
される。尚、図示したパッケージ基板(20b)は二つ
の撮像ユニット(30〉を搭載するためのものであり、
第16B図ではそのうち一つの撮像ユニット(30)の
みが搭載された状態を示している。
ッケージ基板(20b)の斜視図である。このパッケー
ジ基板(20b)の上面には、位置決め用の複数のピン
(102)が所定の位置に固定されており、これらピン
(102)により撮像ユニット搭載領域(aOO)が決
められている。第168図に示すように、撮像ユニット
(30〉のチップキャリア〈31)をピン(102)に
押し当てた状態でパッケージ基板(20b)上に固定す
るだけで、撮像ユニット(30)の位置決めが容易に行
われる。このようにして撮像ユニット(30)をパッケ
ージ基板(20b)上に搭載した後、撮像ユニット(3
0)の端子〈32)とパッケージ基板(20b)の外部
リード(24)とがワイヤ(25)によりボンディング
される。尚、図示したパッケージ基板(20b)は二つ
の撮像ユニット(30〉を搭載するためのものであり、
第16B図ではそのうち一つの撮像ユニット(30)の
みが搭載された状態を示している。
第17八図はこの発明の第11実施例で用いられるパッ
ケージ基板(20c)の斜視図である。このパッケージ
基板(20c)の上面には、アライメントマーク(10
3)及び(104)が所定の位置に設けられており、こ
れらアライメントマーク(103)及び(104)の近
傍に撮像ユニット搭載領域(300)が決められている
。
ケージ基板(20c)の斜視図である。このパッケージ
基板(20c)の上面には、アライメントマーク(10
3)及び(104)が所定の位置に設けられており、こ
れらアライメントマーク(103)及び(104)の近
傍に撮像ユニット搭載領域(300)が決められている
。
一方、第1713図に示すように、撮像ユニット(30
)のチップキャリア(31)上にもそれぞれアライメン
トマーク(113)及び(114)が設けられており、
図示しない汎用の光学的検出手段を用いてパッケージ基
板(20c)上のアライメントマーク(103)及び(
104)とチップキャリア(31)上のアライメントマ
ーク(113)及び(114)との相対位置を確認する
ことにより撮像ユニット(30)の位置決めを行う。こ
のようにして撮像ユニット(30)をパッケージ基板(
20c)上に搭載した後、撮像ユニット(30)の端子
(32)とパッケージ基板(20c)の外部リード(2
4)とがワイヤ(25)によりボンディングされる。
)のチップキャリア(31)上にもそれぞれアライメン
トマーク(113)及び(114)が設けられており、
図示しない汎用の光学的検出手段を用いてパッケージ基
板(20c)上のアライメントマーク(103)及び(
104)とチップキャリア(31)上のアライメントマ
ーク(113)及び(114)との相対位置を確認する
ことにより撮像ユニット(30)の位置決めを行う。こ
のようにして撮像ユニット(30)をパッケージ基板(
20c)上に搭載した後、撮像ユニット(30)の端子
(32)とパッケージ基板(20c)の外部リード(2
4)とがワイヤ(25)によりボンディングされる。
第18八図はこの発明の第12実施例で用いられるパッ
ケージ基板(20d)の斜視図である。このパッケージ
基板(20d)は、平板状の基板本体<201)とこの
基板本体(201)上に固定されたスペーサ(202)
とを有している。外部リード(24)は基板本体(20
1)上に設けられている。スペーサ(202)には、そ
の中央部に撮像ユニツ1−(30)を収容するための開
口部(202a)が形成されると共にこの開口部(20
2a)内に突き出るように位置決め用の複数の突起(1
05)が所定の位置に形成されている。各突起(105
)の先端面(106)は高精度に加工されている。第1
8[1図に示すように、撮像ユニット(30)のチップ
キャリア(31)の側面をスペーサ(202)の突起(
105)の先端面(106)に押し当てた状態で基板本
体(201)上に固定するだけで、撮像ユニット(30
)の位置決めが容易に行われる。この実施例においては
、スペーサ(202)の開口部(202a)全体を高精
度に加工する必要はなく、突起(105)の先端面(1
06)のみを高い精度て加工すればよいので、パッケー
ジ基板(20d)の製造が容易となる。このようにして
撮像ユニット(30)をパッケージ基板(20d)上に
搭載した後、撮1象ユニット(30)の端子(32)と
パッケージ基板(20cl)の外部リード(24)とが
ワイヤ(25)によりボンディングされる。
ケージ基板(20d)の斜視図である。このパッケージ
基板(20d)は、平板状の基板本体<201)とこの
基板本体(201)上に固定されたスペーサ(202)
とを有している。外部リード(24)は基板本体(20
1)上に設けられている。スペーサ(202)には、そ
の中央部に撮像ユニツ1−(30)を収容するための開
口部(202a)が形成されると共にこの開口部(20
2a)内に突き出るように位置決め用の複数の突起(1
05)が所定の位置に形成されている。各突起(105
)の先端面(106)は高精度に加工されている。第1
8[1図に示すように、撮像ユニット(30)のチップ
キャリア(31)の側面をスペーサ(202)の突起(
105)の先端面(106)に押し当てた状態で基板本
体(201)上に固定するだけで、撮像ユニット(30
)の位置決めが容易に行われる。この実施例においては
、スペーサ(202)の開口部(202a)全体を高精
度に加工する必要はなく、突起(105)の先端面(1
06)のみを高い精度て加工すればよいので、パッケー
ジ基板(20d)の製造が容易となる。このようにして
撮像ユニット(30)をパッケージ基板(20d)上に
搭載した後、撮1象ユニット(30)の端子(32)と
パッケージ基板(20cl)の外部リード(24)とが
ワイヤ(25)によりボンディングされる。
上記の各実施例においては、固体撮像素子チップ(10
)としてCCDリニアイメージセンサの如き長尺形のも
のを例示したが、この他エリアイメージセンサと呼ばれ
る短辺、長辺の比がそれほど大きくない四角形のもので
あってもよく、外形形状により制限を受けるものではな
い。
)としてCCDリニアイメージセンサの如き長尺形のも
のを例示したが、この他エリアイメージセンサと呼ばれ
る短辺、長辺の比がそれほど大きくない四角形のもので
あってもよく、外形形状により制限を受けるものではな
い。
また、上記の各実施例においては、固体撮像素子チップ
(10)の配列方式としてインライン配列型及び千鳥配
列型の例を示したが、本発明の主旨に沿えばこれらの配
列に限定されるものではなく、例えば画素列が柵の目状
に配置されるアレイ状配列型や複数の画素列が並行する
水平配列型などのその他の配列方式にも本発明が適用で
きることは言うまでもない。
(10)の配列方式としてインライン配列型及び千鳥配
列型の例を示したが、本発明の主旨に沿えばこれらの配
列に限定されるものではなく、例えば画素列が柵の目状
に配置されるアレイ状配列型や複数の画素列が並行する
水平配列型などのその他の配列方式にも本発明が適用で
きることは言うまでもない。
また、上記の固体撮像装置の各実施例においては、イン
ライン配列型、千鳥配列型のいずれの例においても5チ
ツプ構成あるいは2チツプ横或のものを示したが、チッ
プ数はこれに限られるものではない。
ライン配列型、千鳥配列型のいずれの例においても5チ
ツプ構成あるいは2チツプ横或のものを示したが、チッ
プ数はこれに限られるものではない。
また、固体撮像素子チップ(10)は白黒対応のもので
あっても、あるいは例えば表面にon−cl+ipカラ
ーフィルタが形成されたカラ一対応のもののいずれであ
ってもよく、さらには可視波長域に感度を有するものあ
るいはそれ以外の赤外域や紫外域に感度を有するもので
あってもよい。
あっても、あるいは例えば表面にon−cl+ipカラ
ーフィルタが形成されたカラ一対応のもののいずれであ
ってもよく、さらには可視波長域に感度を有するものあ
るいはそれ以外の赤外域や紫外域に感度を有するもので
あってもよい。
以上説明したように、この発明に係る固体撮像装置は、
それぞれ画素列と複数のボンディングパッドを有する複
数の固体撮像素子チップと、それぞれ対応する固体撮像
素子チップを搭載すると共に搭載される固体撮像素子チ
ップより長い長辺とその固体撮像素子チップのボンディ
ングパッドに電気的に接続される複数の端子を有する複
数のチップキャリアと、これら複数のチップキャリアを
搭載するパッケージ基板と、パッケージ基板に設けられ
ると共に複数のチップキャリアの端子に電気的に接続さ
れる複数の外部リードとを備えているので、組立後の固
体撮像素子チップを損傷することなく容易に交換するこ
とができる。
それぞれ画素列と複数のボンディングパッドを有する複
数の固体撮像素子チップと、それぞれ対応する固体撮像
素子チップを搭載すると共に搭載される固体撮像素子チ
ップより長い長辺とその固体撮像素子チップのボンディ
ングパッドに電気的に接続される複数の端子を有する複
数のチップキャリアと、これら複数のチップキャリアを
搭載するパッケージ基板と、パッケージ基板に設けられ
ると共に複数のチップキャリアの端子に電気的に接続さ
れる複数の外部リードとを備えているので、組立後の固
体撮像素子チップを損傷することなく容易に交換するこ
とができる。
また、この発明に係る固体撮(象装置の組立方法は、そ
れぞれ画素列と複数のボンディングパッドとを有する複
数の固体撮像素子チップを各固体撮像素子チップより長
い長辺及び複数の端子を有する複数のチップキャリア上
に搭載し、各チップキャリアの複数の端子とこのチップ
キャリアに搭載された固体撮像素子チップの複数のボン
ディングパッドとを電気的に接続することにより複数の
撮像ユニッ1〜を形成し、これら複数の撮像ユニットを
複数の外部リードが設けられたパッケージ基板上に配列
固定し、複数の撮像ユニットの端子と外部リードとを電
気的に接続し、各撮像ユニットの固体撮像素子チップの
テストを行い、このテストにより不良の固体撮像素子チ
ップが発見された場合には、その固体撮像素子チップを
含む撮像ユニットをパッケージ基板から除去してその代
わりに新たな撮像ユニットをパッケージ基板上に固定す
るので、良品の固体撮像素子チップの有効使用が可能に
なると共に製造歩留りが大幅に向上する。
れぞれ画素列と複数のボンディングパッドとを有する複
数の固体撮像素子チップを各固体撮像素子チップより長
い長辺及び複数の端子を有する複数のチップキャリア上
に搭載し、各チップキャリアの複数の端子とこのチップ
キャリアに搭載された固体撮像素子チップの複数のボン
ディングパッドとを電気的に接続することにより複数の
撮像ユニッ1〜を形成し、これら複数の撮像ユニットを
複数の外部リードが設けられたパッケージ基板上に配列
固定し、複数の撮像ユニットの端子と外部リードとを電
気的に接続し、各撮像ユニットの固体撮像素子チップの
テストを行い、このテストにより不良の固体撮像素子チ
ップが発見された場合には、その固体撮像素子チップを
含む撮像ユニットをパッケージ基板から除去してその代
わりに新たな撮像ユニットをパッケージ基板上に固定す
るので、良品の固体撮像素子チップの有効使用が可能に
なると共に製造歩留りが大幅に向上する。
第1八図及び第1B図はそれぞれこの発明の第1実施例
に係る固体撮像装置を示す斜視図及び断面図、第1C図
は第1八図の部分Cの拡大図、第2A〜2F図は第1実
施例の固体撮像装置を製造するための工程図、第3八図
は第1実施例で用いられたチップキャリアの斜視図、第
3B図は第3^図のチップキャリアを用いた撮像ユニッ
トの斜視図、第4図は第3B図の撮像ユニットをパッケ
ージ基板上に配列したときの平面図、第5図はこの発明
に係る固体撮像装置の組立方法を示すフローチャート図
、第6図は変形例に係る組立方法を示すフローチャート
図、第7八図は第2実施例で用いられたチップキャリア
の斜視図、第7B図は第7八図のチップキャリアを用い
た撮像ユニットの斜視図、第8図は第7B図の撮像ユニ
ットをパッケージ基板上に配列したときの平面図、第9
A図は第3実胞例で用いられたチップキャリアの斜視図
、第9B図は第9八図のチップキャリアを用いた撮像ユ
ニットの斜視図、第10^図は第4実施例で用いられた
チップキャリアの斜視図、第10[1図は第10八図の
チップキャリアを用いた撮像ユニットの斜視図、第11
八図は第5実施例で用いられたチップキャリアの斜視図
、第118図は第11八図のチップキャリアを用いた撮
像ユニットの斜視図、第12A図は第6実施例で用いら
れたチップキャリアの斜視図、第128図は第12八図
のチップキャリアを用いた!l像ユニットの斜視図、第
13八図は第7実施例で用いられたチップキャリアの斜
視図、第13B図は第13A図のチップキャリアを用い
た撮像ユニットの斜視図、第14八図は第8実施例で用
いられたチップキャリアの斜視図、第14B図は第14
八図のチップキャリアを用いた撮像ユニットの斜視図、
第15A図は第9実施例で用いられたパッケージ基板の
斜視図、第15B図は第15八図のパッケージ基板に撮
像ユニットを搭載したときの斜視図、第16^図は第1
0実施例で用いられたパッケージ基板の斜視図、第16
B図は第16A図のパッケージ基板に撮像ユニットを搭
載したときの斜視図、第17A図は第”11実施例で用
いられたパッケージ基板の斜視図、第17B図は第17
A図のパッケージ基板に撮像ユニットを搭載したときの
斜視図、第18八図は第12実施例で用いられたパッケ
ージ基板の斜視図、第18B図は第18八図のパッケー
ジ基板に撮像ユニツ1〜を搭載したときの斜匁図、第1
9八図及び第198図はそれぞれ従来の固体撮像装置を
示す斜視図及び断面図、第19C図は第19A図の部分
Aの拡大図、第20図は従来の固体撮像装置の製造工程
を示すフローチャート図、第21A図及び第21B図は
それぞれ他の従来例を示す斜視図及び断面図、第21C
図は第21八図の部分Bの拡大図である。 図において、(1)は画素列、(10)は固体撮像素子
チップ、(12)はボンディングパッド、(13)及び
(25)はワイヤ、〈20)はパッケージ基板、(22
)及び(32)は端子、(24)は外部リード、(30
)は撮像ユニット、(31)はチップキャリアである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 どコ どど 形40 郁5図 形8図 300 形 7A図 +14 2す
に係る固体撮像装置を示す斜視図及び断面図、第1C図
は第1八図の部分Cの拡大図、第2A〜2F図は第1実
施例の固体撮像装置を製造するための工程図、第3八図
は第1実施例で用いられたチップキャリアの斜視図、第
3B図は第3^図のチップキャリアを用いた撮像ユニッ
トの斜視図、第4図は第3B図の撮像ユニットをパッケ
ージ基板上に配列したときの平面図、第5図はこの発明
に係る固体撮像装置の組立方法を示すフローチャート図
、第6図は変形例に係る組立方法を示すフローチャート
図、第7八図は第2実施例で用いられたチップキャリア
の斜視図、第7B図は第7八図のチップキャリアを用い
た撮像ユニットの斜視図、第8図は第7B図の撮像ユニ
ットをパッケージ基板上に配列したときの平面図、第9
A図は第3実胞例で用いられたチップキャリアの斜視図
、第9B図は第9八図のチップキャリアを用いた撮像ユ
ニットの斜視図、第10^図は第4実施例で用いられた
チップキャリアの斜視図、第10[1図は第10八図の
チップキャリアを用いた撮像ユニットの斜視図、第11
八図は第5実施例で用いられたチップキャリアの斜視図
、第118図は第11八図のチップキャリアを用いた撮
像ユニットの斜視図、第12A図は第6実施例で用いら
れたチップキャリアの斜視図、第128図は第12八図
のチップキャリアを用いた!l像ユニットの斜視図、第
13八図は第7実施例で用いられたチップキャリアの斜
視図、第13B図は第13A図のチップキャリアを用い
た撮像ユニットの斜視図、第14八図は第8実施例で用
いられたチップキャリアの斜視図、第14B図は第14
八図のチップキャリアを用いた撮像ユニットの斜視図、
第15A図は第9実施例で用いられたパッケージ基板の
斜視図、第15B図は第15八図のパッケージ基板に撮
像ユニットを搭載したときの斜視図、第16^図は第1
0実施例で用いられたパッケージ基板の斜視図、第16
B図は第16A図のパッケージ基板に撮像ユニットを搭
載したときの斜視図、第17A図は第”11実施例で用
いられたパッケージ基板の斜視図、第17B図は第17
A図のパッケージ基板に撮像ユニットを搭載したときの
斜視図、第18八図は第12実施例で用いられたパッケ
ージ基板の斜視図、第18B図は第18八図のパッケー
ジ基板に撮像ユニツ1〜を搭載したときの斜匁図、第1
9八図及び第198図はそれぞれ従来の固体撮像装置を
示す斜視図及び断面図、第19C図は第19A図の部分
Aの拡大図、第20図は従来の固体撮像装置の製造工程
を示すフローチャート図、第21A図及び第21B図は
それぞれ他の従来例を示す斜視図及び断面図、第21C
図は第21八図の部分Bの拡大図である。 図において、(1)は画素列、(10)は固体撮像素子
チップ、(12)はボンディングパッド、(13)及び
(25)はワイヤ、〈20)はパッケージ基板、(22
)及び(32)は端子、(24)は外部リード、(30
)は撮像ユニット、(31)はチップキャリアである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 どコ どど 形40 郁5図 形8図 300 形 7A図 +14 2す
Claims (2)
- (1)それぞれ画素列と複数のボンディングパッドを有
する複数の固体撮像素子チップと、 それぞれ対応する固体撮像素子チップを搭載すると共に
搭載される固体撮像素子チップより長い長辺とその固体
撮像素子チップのボンディングパツドに電気的に接続さ
れる複数の端子を有する複数のチップキャリアと、 前記複数のチップキャリアを搭載するパッケージ基板と
、 前記パッケージ基板に設けられると共に前記複数のチッ
プキャリアの端子に電気的に接続される複数の外部リー
ドと を備えたことを特徴とする固体撮像装置。 - (2)それぞれ画素列と複数のボンディングパッドとを
有する複数の固体撮像素子チップを各固体撮像素子チッ
プより長い長辺及び複数の端子を有する複数のチップキ
ャリア上に搭載し、 各チップキャリアの複数の端子とこのチップキャリアに
搭載された固体撮像素子チップの複数のボンディングパ
ッドとを電気的に接続することにより複数の撮像ユニッ
トを形成し、 前記複数の撮像ユニットを複数の外部リードが設けられ
たパッケージ基板上に配列固定し、前記複数の撮像ユニ
ットの端子と前記外部リードとを電気的に接続し、 各撮像ユニットの固体撮像素子チップのテストを行い、 前記テストにより不良の固体撮像素子チップが発見され
た場合には、その固体撮像素子チップを含む撮像ユニッ
トを前記パッケージ基板から除去してその代わりに新た
な撮像ユニットを前記パッケージ基板上に固定する ことを特徴とする固体撮像装置の組立方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1175588A JPH0777261B2 (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | 固体撮像装置及びその組立方法 |
| US07/430,419 US4987477A (en) | 1989-07-10 | 1989-11-02 | Solid state imaging device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1175588A JPH0777261B2 (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | 固体撮像装置及びその組立方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0341767A true JPH0341767A (ja) | 1991-02-22 |
| JPH0777261B2 JPH0777261B2 (ja) | 1995-08-16 |
Family
ID=15998708
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1175588A Expired - Lifetime JPH0777261B2 (ja) | 1989-07-10 | 1989-07-10 | 固体撮像装置及びその組立方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4987477A (ja) |
| JP (1) | JPH0777261B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005181314A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Xerox Corp | ダイを試験する方法 |
| JP2009514257A (ja) * | 2003-06-27 | 2009-04-02 | ウードゥヴェ セミコンダクターズ | 接合された直線アレイを有する画像センサー |
| JP2010021343A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Canon Inc | 固体撮像装置の製造方法及び固体撮像装置 |
| JP2017084861A (ja) * | 2015-10-23 | 2017-05-18 | 日本電気株式会社 | 固体撮像素子を搭載した撮像装置及びその製造方法 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03289759A (ja) * | 1990-03-08 | 1991-12-19 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
| US5140395A (en) * | 1990-04-03 | 1992-08-18 | Electromed International Ltd. | X-ray sensor arrays |
| US5521427A (en) * | 1992-12-18 | 1996-05-28 | Lsi Logic Corporation | Printed wiring board mounted semiconductor device having leadframe with alignment feature |
| JPH06244231A (ja) * | 1993-02-01 | 1994-09-02 | Motorola Inc | 気密半導体デバイスおよびその製造方法 |
| JP3360504B2 (ja) * | 1995-11-10 | 2002-12-24 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置の後処理方法及び製造方法 |
| US6151131A (en) * | 1997-11-03 | 2000-11-21 | Xerox Corporation | Print system with deferred job assembly feature |
| CA2370899A1 (en) * | 1999-05-06 | 2000-11-16 | Sandia Corporation | Fuel cell and membrane |
| US6890677B2 (en) | 1999-05-06 | 2005-05-10 | Sandia Corporation | Fuel cell and membrane |
| US20030185480A1 (en) * | 2002-03-28 | 2003-10-02 | Antao Chen | Device package with reduced bonding stresses |
| US7733106B2 (en) * | 2005-09-19 | 2010-06-08 | Formfactor, Inc. | Apparatus and method of testing singulated dies |
| KR100895820B1 (ko) * | 2008-01-02 | 2009-05-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 패키지용 회로 기판, 이의 제조 방법 및 이를 갖는반도체 패키지 |
| US7906372B2 (en) * | 2008-07-09 | 2011-03-15 | Avago Technologies Fiber Ip (Singapore) Pte. Ltd | Lens support and wirebond protector |
| US9086553B2 (en) | 2011-06-27 | 2015-07-21 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Optical communications device having electrical bond pads that are protected by a protective coating, and a method for applying the protective coating |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3784884A (en) * | 1972-11-03 | 1974-01-08 | Motorola Inc | Low parasitic microwave package |
| JPS604991B2 (ja) * | 1979-05-11 | 1985-02-07 | 株式会社東芝 | ディスプレイ装置 |
| NL8202470A (nl) * | 1982-06-18 | 1984-01-16 | Philips Nv | Hoogfrequentschakelinrichting en halfgeleiderinrichting voor toepassing in een dergelijke inrichting. |
| US4712018A (en) * | 1983-01-31 | 1987-12-08 | Xerox Corporation | Method and apparatus for fabricating full width scanning arrays |
-
1989
- 1989-07-10 JP JP1175588A patent/JPH0777261B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-02 US US07/430,419 patent/US4987477A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009514257A (ja) * | 2003-06-27 | 2009-04-02 | ウードゥヴェ セミコンダクターズ | 接合された直線アレイを有する画像センサー |
| JP2005181314A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Xerox Corp | ダイを試験する方法 |
| JP2010021343A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Canon Inc | 固体撮像装置の製造方法及び固体撮像装置 |
| JP2017084861A (ja) * | 2015-10-23 | 2017-05-18 | 日本電気株式会社 | 固体撮像素子を搭載した撮像装置及びその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4987477A (en) | 1991-01-22 |
| JPH0777261B2 (ja) | 1995-08-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0341767A (ja) | 固体撮像装置及びその組立方法 | |
| TWI249848B (en) | Solid state imaging device, semiconductor wafer, optical device module, method of solid state imaging device fabrication, and method of optical device module fabrication | |
| US7227236B1 (en) | Image sensor package and its manufacturing method | |
| US5281852A (en) | Semiconductor device including stacked die | |
| US6380615B1 (en) | Chip size stack package, memory module having the same, and method of fabricating the module | |
| US7294907B2 (en) | Solid-state imaging device and method for manufacturing the same | |
| US7002241B1 (en) | Packaging of semiconductor device with a non-opaque cover | |
| US5397916A (en) | Semiconductor device including stacked die | |
| US7745897B2 (en) | Methods for packaging an image sensor and a packaged image sensor | |
| US20050116138A1 (en) | Method of manufacturing a solid state image sensing device | |
| JPH08222654A (ja) | ボール・グリッド・アレイ・アセンブリ用マルチ・ストランド基板および方法 | |
| EP2014086B1 (en) | Method for mounting protective covers on image capture devices | |
| US8003426B2 (en) | Method for manufacturing package structure of optical device | |
| JP2003332542A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| US7595839B2 (en) | Image sensor chip packaging method | |
| JP2007518275A (ja) | 光センサを実装するための方法 | |
| US5528157A (en) | Integrated circuit package for burn-in and testing of an integrated circuit die | |
| US20070034772A1 (en) | Image sensor chip package | |
| US7368322B2 (en) | Method for mounting a chip on a base and arrangement produced by this method | |
| US6772510B1 (en) | Mapable tape apply for LOC and BOC packages | |
| US6318622B1 (en) | High power hybrid modules assembly using vacuum oven for permanent electrical connections | |
| US20030102483A1 (en) | Method of manufacturing optical semiconductor device | |
| JPH03109760A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2002329813A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JP3938876B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 |