JPH0341923B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0341923B2 JPH0341923B2 JP58155726A JP15572683A JPH0341923B2 JP H0341923 B2 JPH0341923 B2 JP H0341923B2 JP 58155726 A JP58155726 A JP 58155726A JP 15572683 A JP15572683 A JP 15572683A JP H0341923 B2 JPH0341923 B2 JP H0341923B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- acetylacetonate
- organic
- compound
- indium
- transparent conductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Coating Of Shaped Articles Made Of Macromolecular Substances (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
Description
本発明は、浸漬法に適した透明導電性被膜形成
液に係り、特に焼成によつて透明導電性金属酸化
物となる有機金属化合物を含む透明導電性被膜形
成液に関する。
ガラス、セラミツク等の絶縁基板上に形成し
た、In、Sn、Sb、Cd等の酸化物被膜は、光透過
率が高く良好な導電性を示すことはよく知られて
おり、半導体素子、液晶表示装置等に使用した
り、或は電子写真用記録媒体などの光と電場が関
与する電子機能デバイスの構成要素の1つとし
て、この他太陽電池や撮像管などの光電変換素
子、また透明面発熱体(デクロスター)や透明断
熱体、抵抗体や赤外線反射体などの機能膜として
利用されてきている。
この金属酸化物透明導電膜の形成法としては化
学スプレー法、真空蒸着法、スパツタリング法、
スクリーン印刷法がある。化学スプレー法は比較
的面積の大きな被膜を得るには有利であるが、装
置が大掛りで又、特性の制御が困難である。真空
蒸着法は最近マスク蒸着法が発達し、エツチング
処理の必要はなくなつたが、処理がバツチ式であ
るために量産性の点で問題がある。スパツタリン
グ法も真空蒸着法と同様処理がバツチ式であるか
ら、大面積のものを得るには不適当である。スク
リーン印刷法は印刷時の作業性が悪く、特に微細
なパターンを安定に印刷しにくく、また形成され
た被膜の導電性の良否にもバラツキが大きいとい
う欠点があつた。
これらの欠点を解消するものとして、近年浸漬
法が注目されている。この方法では、(イ)基材上へ
の有機金属化合物溶液の塗布、(ロ)乾燥、(ハ)焼成、
(ニ)エツチングの簡単な工程で、基材上に任意の形
状の被膜を形成することが可能であり、しかも設
備も大掛りのものを必要とせず、また大量生産も
容易である。この浸漬法の原料としては、色々の
ものが検討されてきているが、種々の問題があり
実用化されていない。すなわちInCl3、InNO3、
SnCl2、SnCl4等の無機塩の有機溶剤分散液を使
用した場合は、形成された膜が白濁化しており、
膜の機械的強度が弱く、傷がつきやすい等の欠点
がある。さらにオクチル酸インジウムなどの有機
インジウム化合物を溶解した浸漬液では、液自体
の安定性が悪く、絶縁基板に塗布した時に加水分
解を起こして浸漬液や被膜が白濁化すること、及
び透明の被膜が得られても面積抵抗値や、機械的
強度等の物理的性質が不十分である。
本発明は、このような欠点を解消し、液の寿命
が長く、低抵抗で透明度および密着強度の高い透
明導電性被膜が得られる透明導電性被膜形成液を
提供することを目的とする。
本発明に係る透明導電性被膜形成液は、焼成に
よつて透明導電性金属酸化物となる有機金属化合
物と、抵抗値調整剤と、これらを溶解する有機溶
剤とを含んでいる。
前記有機金属化合物は一般式In×(X)l(Y)o
〔X〕はβ−ケトン酸エステル類、Yはβ−ジケ
トン類、l=1又は2、m=1又は2、但しl+
m=3〕で表わされる有機インジウム化合物であ
る。
前記抵抗値調整剤としては、一般式(α)2Sn
(β)2〔αは一般式CnH2o+1(但しn=1〜6)で
表わされるアルキル基、βはβ−ジケトン類〕で
表わされる有機スズ化合物が用いられる。
前記有機インジウム化合物の一般式におけるX
は、耐加水分解性、浸漬液の安定性、かつ経済性
にすぐれたキレート形成性化合物としてはアセト
酢酸エチルが好ましい。
前記有機スズ化合物のうち特にジメチルスズア
セチルアセトナート、ジエチルスズアセチルアセ
トナート、ジブチルスズアセチルアセトナート、
あるいはジプロピオン酸スズアセチルアセトナー
トが浸漬液の安定性を高めるため好適である。
本発明において用いる有機溶剤としては焼成の
前の乾燥工程での揮発の容易さ、溶液の安定性、
経済性等から低沸点の有機溶剤、例えばメタノー
ル、エタノールなどの低級アルコール類、アセト
酢酸エチル等のエステル類、メチルエチルケトン
等のケトン類、ベンゼンなどが好適である。
次に本発明の形成液を使用して透明導電膜を基
材上に形成する方法について説明する。
基材としてはガラス、セラミツク等の板状また
はその他の形状のものが用途に応じて選ばれる。
また、所望する膜厚に応じて形成液の濃度や引き
上げ速度を調整する。このようにして基材上に形
成液を塗布した後、乾燥される。乾燥条件として
は、140℃で10分間放置すれば溶剤は充分に蒸発
し、基板上に透明な膜が生成する。次に空気中に
おいて500℃で30分間焼成する。この処理により
有機物は完全に分解し、基板上に透明な導電膜が
形成される。この1回の処理で膜厚等が不十分な
場合は同様な処理を繰り返し行ない、所望の膜厚
を有する機械的強度のすぐれた透明導電性膜を得
ることができる。以下実施例に従つて更に詳細に
述べる。
実施例 1
有機インジウム化合物としてインジウム・ジ・
エチルアセトアセテート・モノ・アセチルアセト
ネート、〔In
The present invention relates to a transparent conductive film forming liquid suitable for a dipping method, and particularly to a transparent conductive film forming liquid containing an organometallic compound that becomes a transparent conductive metal oxide upon firing. It is well known that oxide films such as In, Sn, Sb, and Cd formed on insulating substrates such as glass and ceramics have high light transmittance and good conductivity, and are used in semiconductor devices and liquid crystal displays. It is used in equipment, etc., or as one of the components of electronic functional devices that involve light and electric fields, such as electrophotographic recording media, as well as photoelectric conversion elements such as solar cells and image pickup tubes, and transparent surface heat generating devices. It has been used as a functional film for bodies (decloster), transparent heat insulators, resistors, infrared reflectors, etc. Methods for forming this metal oxide transparent conductive film include chemical spray method, vacuum evaporation method, sputtering method,
There is a screen printing method. Although the chemical spray method is advantageous in obtaining a film with a relatively large area, it requires large-scale equipment and is difficult to control properties. Recently, the vacuum evaporation method has developed into a mask evaporation method, which eliminates the need for etching treatment, but since the treatment is performed in batches, there is a problem in terms of mass production. Like the vacuum evaporation method, the sputtering method is also a batch-type process, and therefore is not suitable for obtaining a large area. The screen printing method has disadvantages such as poor workability during printing, difficulty in stably printing particularly fine patterns, and large variations in the conductivity of the formed film. In recent years, the immersion method has attracted attention as a solution to these drawbacks. This method involves (a) applying an organometallic compound solution onto a substrate, (b) drying, (c) baking,
(iv) It is possible to form a film of any shape on a substrate through the simple process of etching, and it does not require large-scale equipment, and mass production is easy. Various materials have been studied as raw materials for this dipping method, but they have not been put to practical use due to various problems. That is, InCl 3 , InNO 3 ,
When using an organic solvent dispersion of an inorganic salt such as SnCl 2 or SnCl 4 , the formed film becomes cloudy.
There are disadvantages such as the membrane has low mechanical strength and is easily scratched. Furthermore, immersion liquids in which organic indium compounds such as indium octylate are dissolved have poor stability, and when applied to insulating substrates, hydrolysis occurs, causing the immersion liquid and coating to become cloudy, and transparent coatings to become cloudy. Even if obtained, physical properties such as area resistance and mechanical strength are insufficient. An object of the present invention is to provide a transparent conductive film-forming liquid that eliminates these drawbacks and provides a transparent conductive film with a long liquid life, low resistance, and high transparency and adhesion strength. The transparent conductive film forming liquid according to the present invention contains an organometallic compound that becomes a transparent conductive metal oxide upon firing, a resistance value adjusting agent, and an organic solvent that dissolves these. The organometallic compound has the general formula In×(X) l (Y) o
[X] is β-ketonic acid ester, Y is β-diketone, l = 1 or 2, m = 1 or 2, provided that l +
m=3]. The resistance value adjusting agent has the general formula (α) 2 Sn
An organic tin compound represented by (β) 2 [α is an alkyl group represented by the general formula CnH 2o+1 (where n=1 to 6) and β is β-diketones] is used. X in the general formula of the organic indium compound
Ethyl acetoacetate is preferred as a chelate-forming compound that is excellent in hydrolysis resistance, stability of immersion liquid, and economical efficiency. Among the organic tin compounds, dimethyltin acetylacetonate, diethyltin acetylacetonate, dibutyltin acetylacetonate,
Alternatively, tin dipropionate acetylacetonate is suitable because it increases the stability of the immersion liquid. The organic solvent used in the present invention is characterized by ease of volatilization in the drying process before firing, stability of the solution,
From the viewpoint of economy and the like, organic solvents with low boiling points, such as lower alcohols such as methanol and ethanol, esters such as ethyl acetoacetate, ketones such as methyl ethyl ketone, and benzene are suitable. Next, a method for forming a transparent conductive film on a substrate using the forming liquid of the present invention will be described. As the base material, a plate-shaped material such as glass or ceramic or another shape is selected depending on the purpose.
Further, the concentration of the forming liquid and the pulling speed are adjusted depending on the desired film thickness. After the forming liquid is applied onto the base material in this manner, it is dried. As for drying conditions, if the film is left at 140°C for 10 minutes, the solvent will evaporate sufficiently and a transparent film will be formed on the substrate. Next, it is baked in air at 500°C for 30 minutes. This treatment completely decomposes the organic matter and forms a transparent conductive film on the substrate. If the film thickness is insufficient after this one-time treatment, the same treatment is repeated to obtain a transparent conductive film having a desired thickness and excellent mechanical strength. The following will be described in more detail with reference to Examples. Example 1 Indium di-
Ethyl acetoacetate mono-acetylacetonate, [In
【式】(acac)〕及び
インジウム・モノ・エチルアセトアセテート・
ジ・アセチルアセトネート
〔In[Formula] (acac)] and indium mono-ethyl acetoacetate.
Diacetylacetonate [In
【式】(acac)2〕
を用い、これらの化合物が可溶な有機溶剤を見い
出すべく検討を重ねた。インジウム・ジ・エチル
アセトアセテート・モノ・アセチルアセトネート
に対する結果を第1表に、インジウム・モノ・エ
チルアセトアセテート・ジ・アセチルアセトネー
トに対する結果を第2表に示す。
なお表中の溶液安定性及び溶液透明度について
は、形成液調整後1ケ月間沈澱、にごり、及び浸
漬液の液面に浮遊物質等の異物が全くなく調整直
後の状態がそのまま保持されていると判断したも
のは◎印、上述の化学的性質に変化があつたもの
は〇印、調整直後と較べて著るしく浸漬液の劣化
が進んでいると判断したものは×印で示す。浸漬
時の成膜性について◎印は優秀、〇印は良好、×
印は悪いと判断したものである。[Formula] (acac) 2 ] We conducted repeated studies to find organic solvents in which these compounds are soluble. The results for indium di-ethylacetoacetate mono-acetylacetonate are shown in Table 1, and the results for indium mono-ethylacetoacetate di-acetylacetonate are shown in Table 2. Regarding the solution stability and solution transparency in the table, it is assumed that the condition immediately after adjustment is maintained without any precipitation, cloudiness, or foreign matter such as floating substances on the surface of the immersion liquid for one month after adjustment of the forming solution. Items that have been determined are marked with a ◎, items where there has been a change in the chemical properties described above are marked with an ○, and items where it has been determined that the immersion liquid has deteriorated significantly compared to immediately after adjustment are marked with an x. Regarding film formation properties during immersion, ◎ indicates excellent, 〇 indicates good, and ×
The mark is judged to be bad.
【表】【table】
【表】
これらの表から明らかな様に有機溶剤として
は、メチルエチルケトン、酢酸エチル、ベンゼン
が好ましい。これらの有機溶剤を用いた浸漬液は
1ケ月以上の長期にわたり化学的に安定してお
り、液の劣化の無い浸漬液を得ることができた。
メタノール、エタノール、のアルコール類やエー
テルを有機溶剤として用いた浸漬液は調整後2〜
3日で沈澱が発生し、液表面に結晶性の浮遊物が
生じ、その結果として溶液が白濁化してしまい、
透明度が著しく低下する。
次に電気抵抗値調整用有機スズ化合物について
検討を行なつた。
まず有機インジウム化合物としてインジウム・
ジ・エチルアセトアセテート・モノ・アセチルア
セトネートを用い、更に抵抗値調整用有機スズ化
合物として後述の第3表〜第8表に示す化合物を
用いた。そして有機溶剤としてメチルエチルケト
ンを使用して6種類の形成液を作成した。これら
の液において上記の有機スズ化合物の添加量x
を、全有機金属に対して5.0,10.0,12.0,15.0,
20.0重量%に規制した。
(有機金属)
Γ〔In[Table] As is clear from these tables, methyl ethyl ketone, ethyl acetate, and benzene are preferred as organic solvents. The immersion liquid using these organic solvents was chemically stable for a long period of one month or more, and it was possible to obtain an immersion liquid without deterioration of the liquid.
Immersion liquids using alcohols such as methanol, ethanol, or ether as organic solvents are used after adjustment.
Precipitation occurs within 3 days, and crystalline suspended matter forms on the surface of the solution, resulting in a cloudy solution.
Transparency is significantly reduced. Next, we investigated organic tin compounds for adjusting electrical resistance. First, as an organic indium compound, indium
Di-ethylacetoacetate mono-acetylacetonate was used, and compounds shown in Tables 3 to 8 below were used as organic tin compounds for adjusting the resistance value. Six types of forming solutions were prepared using methyl ethyl ketone as an organic solvent. In these liquids, the amount x of the above organotin compound added
5.0, 10.0, 12.0, 15.0, for all organometallic
It was regulated at 20.0% by weight. (Organic metal) Γ〔In
【式】(acac)〕
10×(1−x/100)重量%
Γ〔有機スズ化合物〕 10×(x/100)重量%
(溶剤)
Γメチルエチルケトン 90重量%
但し、xは全有機金属に占める有機スズ化合物
の割合である。
上記形成液中に50mm×25mm×1mmのソーダガラ
ス基板を浸漬した。20cm/分の引上速度で基板を
溶液から引き上げ、140℃で10分間予備乾燥を行
つた。次いでベルト炉中で500℃、30分間焼成し
て、ガラス基板上に透明導電性被膜を得た。この
被膜の表面抵抗、膜厚、光透過度、及び膜強度を
測定した結果を次の第3表から第8表に示す。[Formula] (acac)] 10 x (1-x/100) weight% Γ [organotin compound] 10 x (x/100) weight% (solvent) Γ methyl ethyl ketone 90 weight% However, x accounts for the total organic metal This is the proportion of organotin compounds. A soda glass substrate measuring 50 mm x 25 mm x 1 mm was immersed in the above forming solution. The substrate was pulled up from the solution at a pulling speed of 20 cm/min and pre-dried at 140°C for 10 minutes. Next, it was baked in a belt furnace at 500°C for 30 minutes to obtain a transparent conductive film on the glass substrate. The results of measuring the surface resistance, film thickness, light transmittance, and film strength of this film are shown in Tables 3 to 8 below.
【表】【table】
【表】【table】
【表】【table】
【表】【table】
【表】【table】
【表】
これらの表から明らかなように、いずれの場合
も有機スズ化合物の添加量xは全有機金属量に対
して10〜15重量%の範囲のものが好ましい。また
有機スズ化合物のうちジブチルスズアセチルアセ
トナート(C4H9)2Sn(acac)2を用いた形成液は、
6種類の溶液の中で最も低い面積抵抗値を有して
いる。
実施例 2
実施例1で溶解度を調べた有機インジウム化合
物のうちインジウム・モノ・エチルアセトアセテ
ート・ジ・アセチルアセトネートを用い、電気抵
抗値調整用有機スズ化合物として実施例1と同様
の6種類の有機スズ化合物を用いて形成液を作成
し、実施例1と同様の被膜特性を調べた。その結
果、実施例1で述べたのと同様に有機スズ化合物
の添加量xが10〜15重量%のものは面積抵抗値が
低く、更にジブチルスズアセチルアセトナートを
用いたものは最も低い面積抵抗値を有していた。
実施例 3
適正な全有機金属含有率を求めるため、下記組
成の形成液を作成した。
(金属部)
Γインジウム・ジ・エチルアセトアセテート・モ
ノ・アセチル・アセトネート
…0・875y重量%
Γジブチルスズアセチルアセトナート
…0.125y重量%
(溶媒部)
Γメチルエチルケトン 100−y重量部
但しyは全有機金属含有率である。
作成した形成液を用いて実施例2と同様な条件
でソーダガラス基板上に被膜を形成し、それの被
膜物性などを調査して次の第9表にまとめた。な
お表中の溶液安定性については、20日間以上にわ
たり化学的変化がなく使用可能なものは◎印、10
日以上で20日以内使用可能なものは〇印、10日間
未満のものは△印を付した。浸漬時の成膜性につ
いては、浸漬後に白濁して膜厚のムラが顕著なも
のは×印、白濁化せず膜厚のムラがほとんどない
ものは〇印、特に優秀と判断したものは◎印を付
した。[Table] As is clear from these tables, in any case, the amount x of the organic tin compound added is preferably in the range of 10 to 15% by weight based on the total amount of organic metal. Among organic tin compounds, the forming solution using dibutyltin acetylacetonate (C 4 H 9 ) 2 Sn(acac) 2 is
It has the lowest sheet resistance value among the six types of solutions. Example 2 Among the organic indium compounds whose solubility was investigated in Example 1, indium mono-ethyl acetoacetate di-acetylacetonate was used, and six types of organic tin compounds similar to those in Example 1 were used as organic tin compounds for adjusting electrical resistance. A forming solution was prepared using an organic tin compound, and the film properties similar to those in Example 1 were investigated. As a result, as described in Example 1, those in which the amount x of the organic tin compound added was 10 to 15% by weight had a low areal resistance value, and the one using dibutyltin acetylacetonate had the lowest areal resistance value. It had Example 3 In order to determine an appropriate total organometallic content, a forming liquid having the following composition was prepared. (Metal part) Γ indium di-ethylacetoacetate mono-acetyl acetonate
...0.875ywt% Γdibutyltin acetylacetonate
...0.125y% by weight (solvent part) Γ methyl ethyl ketone 100-y parts by weight, where y is the total organic metal content. A film was formed on a soda glass substrate using the prepared forming solution under the same conditions as in Example 2, and the physical properties of the film were investigated and summarized in Table 9 below. Regarding solution stability in the table, those that can be used without chemical change for more than 20 days are marked with ◎, and 10
Items that can be used for more than 20 days are marked with ○, and items that can be used for less than 10 days are marked with △. Regarding film formation properties during immersion, those that become cloudy after immersion and have noticeable unevenness in film thickness are marked with an ×, those that do not become cloudy and have almost no unevenness in film thickness are marked with ○, and those judged to be particularly excellent are marked as ◎ Marked.
【表】【table】
【表】
この表から明らかなように、全有機金属含有量
yが15〜30重量%、好ましくは25〜30重量%のも
のは、優れた諸種の特性を有している。
実施例 4
有機インジウム化合物としてインジウム・モ
ノ・エチルアセトアセテート・ジ・アセチルアセ
トネートを用いて実施例3と同様の検討を行な
い、第9表とほぼ同じ結果が得られた。
図は各形成液の保存特性図で、図中の曲線Aは
インジウム・ジ・エチルアセトアセテート・モ
ノ・アセチルアセトネートとジブチルスズアセチ
ルアセトナートを用いた形成液のもの、曲線Bは
インジウム・モノ・エチルアセトアセテート・
ジ・アセチルアセトネートとジブチルスズアセチ
ルアセトナートを用いた形成液のもの、曲線Cは
オクチル酸インジウムとジブチルスズアセチルア
セトナートを用いた比較例となる形成液のもので
ある。なおこの比較例のものは、10日間保存する
と液が白濁化して、その後は使用不可能であつ
た。
この図から明らかなように、比較例のものは得
られた被膜の面積抵抗値が高く、しかも保存日数
によつて特性値が変化してしまう。これに対して
本発明に係る形成液A,Bのものは得られる被膜
の面積抵抗値が低く、しかも長期間保存しても特
性値の変化がほとんどなく性能が安定している。
本発明は前述のように、有機金属化合物として
インジウム・ジ・エチルアセトアセテート・モ
ノ・アセチルアセトネートまたはインジウム・モ
ノ・エチルアセトアセテート・ジ・アセチルアセ
トネートの有機インジウム化合物を用いることに
より、溶液安定性、溶液透明度ならびに浸漬時の
成膜性に優れた溶液が得られる。
また電気抵抗値調整剤として、ジメチルスズア
セチルアセトナート、ジエチルスズアセチルアセ
トナート、ジブチルスズアセチルアセトナート、
ジプロピオン酸スズアセチルアセトナートのグル
ープから選択された有機スズ化合物を用い、か
つ、有機インジウム化合物と有機スズ化合物の全
有機金属量に対する有機スズ化合物の添加量を10
〜15重量%の範囲に規制することにより、低い面
積抵抗値を有し、しかも基板に対する密着強度が
高い被膜を形成することができる。
さらに、形成液全量中での全有機金属量(有機
インジウム化合物+有機スズ化合物)を15〜30重
量%の範囲に規制することにより、長期間保存し
ても特性値の変化がほとんどない、性能的に安定
した透明導電性被膜形成液を提供することができ
る。[Table] As is clear from this table, those having a total organometallic content y of 15 to 30% by weight, preferably 25 to 30% by weight, have various excellent properties. Example 4 The same study as in Example 3 was conducted using indium mono-ethylacetoacetate di-acetylacetonate as the organic indium compound, and almost the same results as in Table 9 were obtained. The figure shows the storage characteristics of each forming solution. Curve A in the figure is for a forming solution using indium di-ethylacetoacetate mono-acetylacetonate and dibutyltin acetylacetonate, and curve B is for the forming solution using indium di-ethylacetoacetate mono-acetylacetonate. Ethylacetoacetate・
Curve C is for a forming solution using diacetylacetonate and dibutyltin acetylacetonate, and curve C is for a comparative forming solution using indium octylate and dibutyltin acetylacetonate. In addition, in this comparative example, the liquid became cloudy after being stored for 10 days and could not be used thereafter. As is clear from this figure, the film obtained in the comparative example has a high sheet resistance value, and furthermore, the characteristic value changes depending on the number of days of storage. On the other hand, in the case of forming liquids A and B according to the present invention, the film obtained has a low sheet resistance value, and even when stored for a long period of time, there is almost no change in characteristic values and the performance is stable. As described above, the present invention uses an organic indium compound such as indium di-ethylacetoacetate mono-acetylacetonate or indium mono-ethylacetoacetate di-acetylacetonate as an organic metal compound to stabilize the solution. A solution with excellent properties, solution transparency, and film-forming properties during immersion can be obtained. In addition, as electrical resistance value adjusting agents, dimethyltin acetylacetonate, diethyltin acetylacetonate, dibutyltin acetylacetonate,
Using an organotin compound selected from the group of tin dipropionate acetylacetonate, and adding the organotin compound in an amount of 10% relative to the total organometallic amount of the organoindium compound and the organotin compound.
By regulating the content within the range of ~15% by weight, it is possible to form a coating having a low sheet resistance value and high adhesion strength to the substrate. Furthermore, by regulating the total amount of organometallic (organoindium compound + organotin compound) in the total amount of the forming solution to a range of 15 to 30% by weight, we have achieved performance that shows almost no change in characteristic values even after long-term storage. It is possible to provide a transparent conductive film forming liquid that is stable in terms of performance.
図は各形成液の保存にともなう特性値の変化状
態を示す特性曲線である。
The figure is a characteristic curve showing how the characteristic values change as each forming solution is stored.
Claims (1)
機金属化合物と、電気抵抗値調整剤と、前記有機
金属化合物ならびに電気抵抗値調整剤を溶解する
有機溶剤とを含有する透明導電性被膜形成液にお
いて、 前記有機金属化合物がインジウム・ジ・エチル
アセトアセテート・モノ・アセチルアセトネート
またはインジウム・モノ・エチルアセトアセテー
ト・ジ・アセチルアセトネートの有機インジウム
化合物あり、 前記電気抵抗値調整剤が、ジメチルスズアセチ
ルアセトナート、ジエチルスズアセチルアセトナ
ート、ジブチルスズアセチルアセトナート、ジプ
ロピオン酸スズアセチルアセトナートのグループ
から選択された有機スズ化合物であり、 前記有機インジウム化合物と有機スズ化合物の
全有機金属量に対する有機スズ化合物の添加量
が、10〜15重量%の範囲に規制され、 かつ、前記有機インジウム化合物と有機スズ化
合物の全有機金属量が形成液全量中に15〜30重量
%含有されていることを特徴とする透明導電性被
膜形成液。[Scope of Claims] 1 Contains an organometallic compound that becomes a transparent conductive metal oxide upon firing, an electrical resistance regulator, and an organic solvent that dissolves the organometallic compound and the electrical resistance regulator. In the transparent conductive film forming liquid, the organometallic compound is an organic indium compound of indium di-ethylacetoacetate mono-acetylacetonate or indium mono-ethylacetoacetate di-acetylacetonate, and the electrical resistance value is the modifier is an organotin compound selected from the group of dimethyltin acetylacetonate, diethylstin acetylacetonate, dibutyltin acetylacetonate, and tin dipropionate acetylacetonate; The amount of the organotin compound added to the amount of organic metal is regulated in the range of 10 to 15% by weight, and the total amount of organic metals of the organic indium compound and the organotin compound is contained in the total amount of the forming liquid at 15 to 30% by weight. A transparent conductive film forming liquid characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15572683A JPS6049509A (en) | 1983-08-27 | 1983-08-27 | Transparent conductive film forming liquid |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15572683A JPS6049509A (en) | 1983-08-27 | 1983-08-27 | Transparent conductive film forming liquid |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6049509A JPS6049509A (en) | 1985-03-18 |
| JPH0341923B2 true JPH0341923B2 (en) | 1991-06-25 |
Family
ID=15612121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15572683A Granted JPS6049509A (en) | 1983-08-27 | 1983-08-27 | Transparent conductive film forming liquid |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049509A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2729373B2 (en) * | 1987-01-07 | 1998-03-18 | 東京応化工業 株式会社 | Coating solution for metal oxide film formation |
| JPH0529710Y2 (en) * | 1990-11-19 | 1993-07-29 | ||
| JP2824751B2 (en) * | 1995-11-27 | 1998-11-18 | 東京応化工業株式会社 | Coating solution for metal oxide film formation |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57143205A (en) * | 1981-02-28 | 1982-09-04 | Sony Corp | Method of forming transparent conductive film |
-
1983
- 1983-08-27 JP JP15572683A patent/JPS6049509A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6049509A (en) | 1985-03-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4643913A (en) | Process for producing solar cells | |
| KR850001860B1 (en) | Composition and processing for preparing transparent conducting film | |
| JPS5854089B2 (en) | Method for forming transparent conductive film | |
| JPS62124276A (en) | Improved chemical vapor deposition generating fluorine dopedtin oxide coating | |
| US3759743A (en) | Method of applying coarings of tin oxide upon transparent substrates | |
| JPS6019610B2 (en) | Transparent conductive film formation method | |
| US5085805A (en) | Electrically conducting, ir reflecting, fluorine-doped tin oxide organic compound | |
| JPH0341923B2 (en) | ||
| JPH0233075B2 (en) | ||
| JP3338966B2 (en) | Coating solution for forming transparent conductive film | |
| JPH0141665B2 (en) | ||
| JP3834339B2 (en) | Transparent conductive film and method for producing the same | |
| JPH01501323A (en) | Coating liquid | |
| JPH0238138B2 (en) | TOMEIDODENSEIHIMAKUKEISEIYOSOSEIBUTSU | |
| JPS639018B2 (en) | ||
| JPH0221083B2 (en) | ||
| JPH05262524A (en) | Method for manufacturing zinc oxide thin film | |
| JPH04255768A (en) | Coating liquid for forming transparent conductive film | |
| JPS6222312A (en) | Formation of transparent conducting film | |
| JPS5923403B2 (en) | Method for manufacturing transparent conductive film | |
| JPH0530001B2 (en) | ||
| JPS6027130B2 (en) | Method for manufacturing solution for creating transparent conductive film | |
| JP3208794B2 (en) | Composition for forming transparent conductive film and method for forming transparent conductive film | |
| JPS601703A (en) | Transparent conductive coating forming liquid | |
| JPH05314820A (en) | Composition for forming transparent conductive film and formation of transparent conductive film |