JPH034261U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH034261U JPH034261U JP6345489U JP6345489U JPH034261U JP H034261 U JPH034261 U JP H034261U JP 6345489 U JP6345489 U JP 6345489U JP 6345489 U JP6345489 U JP 6345489U JP H034261 U JPH034261 U JP H034261U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- outer cylinder
- contact
- fitted
- pointer
- fixed disk
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
第１図は本考案電位差式探傷器の探傷プローブ
の一実施例の部分破断斜視図、第２図は同上の水
平断面図、第３図は同上の垂直断面図である。第
４図は公知の電位差式探傷器の原理図、第５図は
同上の試験片による較正曲線図、第６図は従来の
探傷プローブの部分破断正面図である。 １，２，３，４……接触針、５……外筒、６…
…固定デイスク、７，８……直線ガイド溝孔、９
……間隔調整デイスク、１０，１１，１２，１３
……螺旋状ガイド溝孔、１４……皿小ねじ、１５
……ピン、１６……操作輪、１７……指針、１８
……目盛、１９……止めねじ、２０……止め輪、
２１……リード線、２２……カバー、２３……コ
ネクター、２４……ケーブル、２５……接触針間
隔。
の一実施例の部分破断斜視図、第２図は同上の水
平断面図、第３図は同上の垂直断面図である。第
４図は公知の電位差式探傷器の原理図、第５図は
同上の試験片による較正曲線図、第６図は従来の
探傷プローブの部分破断正面図である。 １，２，３，４……接触針、５……外筒、６…
…固定デイスク、７，８……直線ガイド溝孔、９
……間隔調整デイスク、１０，１１，１２，１３
……螺旋状ガイド溝孔、１４……皿小ねじ、１５
……ピン、１６……操作輪、１７……指針、１８
……目盛、１９……止めねじ、２０……止め輪、
２１……リード線、２２……カバー、２３……コ
ネクター、２４……ケーブル、２５……接触針間
隔。
Claims (1)
- ４本の接触針を収容する外筒と、上記外筒内に
嵌入固定され直径上の直線ガイド溝孔に上記４本
の接触針を移動自在に挿入した固定デイスクと、
上記固定デイスクに重ね合わせて上記外筒内にそ
の中心周りに回動可能に嵌入され４個の螺旋状ガ
イド溝孔にそれぞれ接触針を移動自在に挿入した
間隔調整デイスクと、上記間隔調整デイスクの周
縁に取付けられた操作輪及びその表面に付設され
た指針と、上記外筒表面に上記指針に対向して刻
設された接触針設定間隔目盛とを具えたことを特
徴とする電位差式探傷器の探傷プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6345489U JPH034261U (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6345489U JPH034261U (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH034261U true JPH034261U (ja) | 1991-01-17 |
Family
ID=31593519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6345489U Pending JPH034261U (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH034261U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014077782A (ja) * | 2012-09-20 | 2014-05-01 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 焼き入れ深さ測定装置、焼き入れ深さ測定方法、表層深さ測定装置、表層深さ測定方法 |
-
1989
- 1989-05-31 JP JP6345489U patent/JPH034261U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014077782A (ja) * | 2012-09-20 | 2014-05-01 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 焼き入れ深さ測定装置、焼き入れ深さ測定方法、表層深さ測定装置、表層深さ測定方法 |