JPH0343586B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0343586B2 JPH0343586B2 JP61023250A JP2325086A JPH0343586B2 JP H0343586 B2 JPH0343586 B2 JP H0343586B2 JP 61023250 A JP61023250 A JP 61023250A JP 2325086 A JP2325086 A JP 2325086A JP H0343586 B2 JPH0343586 B2 JP H0343586B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- wave number
- circuit
- variable
- transmission
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は超音波を用いて材料の内部を非破壊
にて検査する装置に関するものである。
にて検査する装置に関するものである。
金属等の固体物中に存在する欠陥を見つける手
段として超音波を材料中に入射させて欠陥からの
反射波（以下エコーという）をとらえCRT等の
表示器へ表示することにより欠陥の大きさや材料
中の欠陥の位置を測定する為の装置として超音波
探傷装置がある。
段として超音波を材料中に入射させて欠陥からの
反射波（以下エコーという）をとらえCRT等の
表示器へ表示することにより欠陥の大きさや材料
中の欠陥の位置を測定する為の装置として超音波
探傷装置がある。
従来、この種の装置として第４図に示すような
超音波探傷装置が提案されている。図において１
は各回路に必要な同期信号を出力する同期部、２
は同期部１からの出力信号をもとに送信信号を発
生する送信部、３は送信部２からの送信信号をも
とに超音波を発生し被検材に超音波を入射させる
とともに被検材からのエコーをとらえて電気信号
に変換する探触子、４は探触子３からの電気信号
を増幅する受信部、５は受信部４の出力信号を表
示する表示器である。
超音波探傷装置が提案されている。図において１
は各回路に必要な同期信号を出力する同期部、２
は同期部１からの出力信号をもとに送信信号を発
生する送信部、３は送信部２からの送信信号をも
とに超音波を発生し被検材に超音波を入射させる
とともに被検材からのエコーをとらえて電気信号
に変換する探触子、４は探触子３からの電気信号
を増幅する受信部、５は受信部４の出力信号を表
示する表示器である。
従来の超音波探傷装置は上記のように構成され
ているので、固定された送信の周波数と送信波数
で探触子３に送信信号を送信部２より印加し、探
傷するようにしていた。
ているので、固定された送信の周波数と送信波数
で探触子３に送信信号を送信部２より印加し、探
傷するようにしていた。
従来の超音波探傷装置は上記のように固定され
た送信の周波数と波数でのみ送信している為、探
触子の保有している周波数特性上の限定した任意
の一点のみ使用しており、被検材に最適な送信周
波数及び送信波数を送信する事が出来ず、探触子
に表示されている公称周波数のみを情報として探
触子を交換する等を実施し、被検材に最適な周波
数に近い公称周波数の探触子を選択していた。し
かし送信波数については選択出来る手段はなくあ
る任意の数波を発生する超音波探傷装置本体を変
換しているが、いずれも探触子の種類や装置の種
類に限界があり実際はオーステナイト系の被検材
や、粒子の粗い材料等探傷の場合に発生する粒子
からの反射波（これを淋状エコーと呼ぶが、表示
器上のＳ／Ｎを悪くしている）がＳ／Ｎを悪くし
ている。
た送信の周波数と波数でのみ送信している為、探
触子の保有している周波数特性上の限定した任意
の一点のみ使用しており、被検材に最適な送信周
波数及び送信波数を送信する事が出来ず、探触子
に表示されている公称周波数のみを情報として探
触子を交換する等を実施し、被検材に最適な周波
数に近い公称周波数の探触子を選択していた。し
かし送信波数については選択出来る手段はなくあ
る任意の数波を発生する超音波探傷装置本体を変
換しているが、いずれも探触子の種類や装置の種
類に限界があり実際はオーステナイト系の被検材
や、粒子の粗い材料等探傷の場合に発生する粒子
からの反射波（これを淋状エコーと呼ぶが、表示
器上のＳ／Ｎを悪くしている）がＳ／Ｎを悪くし
ている。
この発明はこのような問題点を解消する為にな
されたもので、周波数可変手段と波数可変手段を
設け被検材に最適な周波数を調べるとともに最適
周波数にて送信し、かつ波数を選択し最適なＳ／
Ｎで探傷出来る超音波探傷装置を得ることを目的
とするものである。
されたもので、周波数可変手段と波数可変手段を
設け被検材に最適な周波数を調べるとともに最適
周波数にて送信し、かつ波数を選択し最適なＳ／
Ｎで探傷出来る超音波探傷装置を得ることを目的
とするものである。
この発明にかかる超音波探傷装置は送信周波数
を可変する周波数可変回路及び周波数設定手段と
送信波数を可変する波数可変回路及び波数設定手
段とを設けたものである。
を可変する周波数可変回路及び周波数設定手段と
送信波数を可変する波数可変回路及び波数設定手
段とを設けたものである。
この発明においては送信周波数と送信波数を可
変し、被検材に最適な送信を行うことにより淋状
エコー等が発生し、探傷のＳ／Ｎを悪くしている
要因を低減し、探傷を容易に行える。
変し、被検材に最適な送信を行うことにより淋状
エコー等が発生し、探傷のＳ／Ｎを悪くしている
要因を低減し、探傷を容易に行える。
第１図はこの発明による超音波探傷装置の一実
施例を示す図である。第１図において１〜５は第
４図に示したものと同様である。６は同期回路１
の出力信号に同期して送信部２へのパルス幅を可
変する周波数可変回路、７は周波数可変回路６へ
の制御信号を出力する周波数設定手段、８は周波
数可変回路６の出力信号の波数を可変する波数可
変回路、９は波数可変回路８への制御信号を出力
する波数設定手段である。
施例を示す図である。第１図において１〜５は第
４図に示したものと同様である。６は同期回路１
の出力信号に同期して送信部２へのパルス幅を可
変する周波数可変回路、７は周波数可変回路６へ
の制御信号を出力する周波数設定手段、８は周波
数可変回路６の出力信号の波数を可変する波数可
変回路、９は波数可変回路８への制御信号を出力
する波数設定手段である。
次に上記実施例の動作を第１図〜第３図を参照
しながら説明する。同期回路１の出力信号をもと
に波数可変回路８は波数設定手段９で設定した設
定値に対応して周波数可変回路６の動作時間制御
信号CLTo（第３図に示すCLTo）を出力する。周
波数可変回路６は波数可変回路８の出力信号
CLToにて制御される時間内に周波数設定手段７
で設定した設定値に対応したパルス（第３図に示
すCLTWno）を送信部２へ出力する。送信部２
は周波数可変回路６の出力信号CLTWno）に対
応した送信信号を探触子３へ出力する。この実施
例では第２図に示すように上記の動作をCLTWn
（ｍ＝１、２、３、……）の“ｍ”をある時間帯
｛波数可変回路８の出力信号CLToで制御される
波数（ｎ＝１、２、３、……）の“ｎ”が最大と
なる迄の時間（第２図に示すnt）｝固定しておき
波数可変回路８の出力信号CLToで制御される波
数“ｎ”を順次増加し、周波数可変回路６の出力
信号CLTWnoを得る。また、波数可変回路８の
出力信号CLToで制御される波数“ｎ”を波数設
定手段９で設定し終つたならば波数設定手段９は
ｎ＝１を設定する。同時に周波数設定手段７は周
波数可変回路６の出力信号CLTWnoのｍ＝２を
設定し、第３図に示すCLTw２１を周波数可変回
路６が出力する。
しながら説明する。同期回路１の出力信号をもと
に波数可変回路８は波数設定手段９で設定した設
定値に対応して周波数可変回路６の動作時間制御
信号CLTo（第３図に示すCLTo）を出力する。周
波数可変回路６は波数可変回路８の出力信号
CLToにて制御される時間内に周波数設定手段７
で設定した設定値に対応したパルス（第３図に示
すCLTWno）を送信部２へ出力する。送信部２
は周波数可変回路６の出力信号CLTWno）に対
応した送信信号を探触子３へ出力する。この実施
例では第２図に示すように上記の動作をCLTWn
（ｍ＝１、２、３、……）の“ｍ”をある時間帯
｛波数可変回路８の出力信号CLToで制御される
波数（ｎ＝１、２、３、……）の“ｎ”が最大と
なる迄の時間（第２図に示すnt）｝固定しておき
波数可変回路８の出力信号CLToで制御される波
数“ｎ”を順次増加し、周波数可変回路６の出力
信号CLTWnoを得る。また、波数可変回路８の
出力信号CLToで制御される波数“ｎ”を波数設
定手段９で設定し終つたならば波数設定手段９は
ｎ＝１を設定する。同時に周波数設定手段７は周
波数可変回路６の出力信号CLTWnoのｍ＝２を
設定し、第３図に示すCLTw２１を周波数可変回
路６が出力する。
以上の動作を繰り返す事により、探触子３から
被検材へ入射される超音波は周波数と波数を可変
され、被検材を伝播する。伝播された超音波は再
び探触子３で電気信号に変換され受信部４を介し
表示器５で表示するよう構成されているので表示
器５上のエコーを監視することにより上記周波数
可変回路６の出力信号CLTwの被検材に対する最
適条件（波数設定手段９で設定した値“ｎ”と周
波数設定手段７で設定した値“ｍ”）が明確にな
るとともに被検材への最適条件が選択出来る。次
に波数可変回路８へ周波数可変回路６の動作を第
３図に示す実施例を参照しながら説明する。第３
図ａにおいて、波数可変回路８はモノマルチバイ
ブレータ（以下Ｍ／Ｍという。）１０、抵抗Ra1
〜Rao（Ra1＜Ra2＜……＜Rao）、抵抗Ra1〜Raoを
切換えるセレクタＡ１３およびコンデンサCaか
ら構成される。また周波数可変回路６は抵抗RB1
〜RBo（RB1＜RB2＜……＜RBo）、抵抗RB1〜RBoを
切換るセレクタＢ１４、抵抗Rc1〜Rco（Rc1＜Rc2
＜……＜Rco）、抵抗Rc1〜Rcoを切換えるセレクタ
Ｃ１５、コンデンサCB，CcおよびＭ／MB、Ｃ１
１，１２から構成されている。
被検材へ入射される超音波は周波数と波数を可変
され、被検材を伝播する。伝播された超音波は再
び探触子３で電気信号に変換され受信部４を介し
表示器５で表示するよう構成されているので表示
器５上のエコーを監視することにより上記周波数
可変回路６の出力信号CLTwの被検材に対する最
適条件（波数設定手段９で設定した値“ｎ”と周
波数設定手段７で設定した値“ｍ”）が明確にな
るとともに被検材への最適条件が選択出来る。次
に波数可変回路８へ周波数可変回路６の動作を第
３図に示す実施例を参照しながら説明する。第３
図ａにおいて、波数可変回路８はモノマルチバイ
ブレータ（以下Ｍ／Ｍという。）１０、抵抗Ra1
〜Rao（Ra1＜Ra2＜……＜Rao）、抵抗Ra1〜Raoを
切換えるセレクタＡ１３およびコンデンサCaか
ら構成される。また周波数可変回路６は抵抗RB1
〜RBo（RB1＜RB2＜……＜RBo）、抵抗RB1〜RBoを
切換るセレクタＢ１４、抵抗Rc1〜Rco（Rc1＜Rc2
＜……＜Rco）、抵抗Rc1〜Rcoを切換えるセレクタ
Ｃ１５、コンデンサCB，CcおよびＭ／MB、Ｃ１
１，１２から構成されている。
Ｍ／MA１０は波数設定手段９で設定された制
御信号に基づきセレクタＡ１３により選択される
Ra1〜Raoの所定抵抗とコンデンサCaにより第３
図ｂに示すtaの時間幅を有する出力信号CLToを
出力する。Ｍ／MC１２はＭ／MA１０の出力信
号CLToに同期し、周波数設定手段７で設定され
た制御信号に基づきセレクタＣ１５により選択さ
れるRc1〜Rcoの所定の抵抗とコンデンサCcにより
第３図ｂに示すtwの時間幅を有する出力信号
CLTWnoを出力する。Ｍ／MB１１はＭ／MC１
２の一方の出力信号CLTWnoに同期し周波数設
定手段７で設定された制御信号に基づきセレクタ
Ｂ１４により選択されるRB1〜RBoの所定の抵抗
とコンデンサCBにより第３図Ｄに示すtwの時間幅
を有する出力信号CLDwを上記Ｍ／MC１１の一
方の入力端子へ出力する。
御信号に基づきセレクタＡ１３により選択される
Ra1〜Raoの所定抵抗とコンデンサCaにより第３
図ｂに示すtaの時間幅を有する出力信号CLToを
出力する。Ｍ／MC１２はＭ／MA１０の出力信
号CLToに同期し、周波数設定手段７で設定され
た制御信号に基づきセレクタＣ１５により選択さ
れるRc1〜Rcoの所定の抵抗とコンデンサCcにより
第３図ｂに示すtwの時間幅を有する出力信号
CLTWnoを出力する。Ｍ／MB１１はＭ／MC１
２の一方の出力信号CLTWnoに同期し周波数設
定手段７で設定された制御信号に基づきセレクタ
Ｂ１４により選択されるRB1〜RBoの所定の抵抗
とコンデンサCBにより第３図Ｄに示すtwの時間幅
を有する出力信号CLDwを上記Ｍ／MC１１の一
方の入力端子へ出力する。
以上のように波数可変回路８、周波数可変回路
６は構成されているので送信周波数と送信波数を
可変し得る信号を送信部２へ出力出来る。
６は構成されているので送信周波数と送信波数を
可変し得る信号を送信部２へ出力出来る。
送信部２は上記周波数可変回路６の出力信号
CLTWno（第２図に示すCLTW1.1、CLTW1.2、
……CLTWno）に基づき送信信号を発生する。
探触子３は上記送信部２の送信信号に基づき送信
波数ｎ及び送信周波数ｍを可変し被検材へ超音波
を入射する為、表示器５上に表示されるエコーを
上記波数設定手段９及び周波数設定手段７で設定
される設定値毎に監視することにより被検材に対
し最もＳ／Ｎの良い波数設定手段９及び周波数設
定手段７の設定値を知る事が出来るとともに設定
する事も出来る。
CLTWno（第２図に示すCLTW1.1、CLTW1.2、
……CLTWno）に基づき送信信号を発生する。
探触子３は上記送信部２の送信信号に基づき送信
波数ｎ及び送信周波数ｍを可変し被検材へ超音波
を入射する為、表示器５上に表示されるエコーを
上記波数設定手段９及び周波数設定手段７で設定
される設定値毎に監視することにより被検材に対
し最もＳ／Ｎの良い波数設定手段９及び周波数設
定手段７の設定値を知る事が出来るとともに設定
する事も出来る。
以上のようにこの発明によれば探触子や超音波
探傷装置本体を選択することなく被検材に最適な
送信周波数と送信波数を設定出来る。これにより
被検材に対して最もＳ／Ｎの良い周波数及び波数
により探傷出来る他、探触子近傍（近距離音場）
における位相 渉をも知る事が出来るとともに周
波数を可変させることによりさける事も可能にな
る等の特徴を有する。
探傷装置本体を選択することなく被検材に最適な
送信周波数と送信波数を設定出来る。これにより
被検材に対して最もＳ／Ｎの良い周波数及び波数
により探傷出来る他、探触子近傍（近距離音場）
における位相 渉をも知る事が出来るとともに周
波数を可変させることによりさける事も可能にな
る等の特徴を有する。
第１図はこの発明による超音波探傷装置のブロ
ツク図、第２図はこの発明の動作タイミング図、
第３図はこの発明による波数可変回路から周波数
可変回路の説明図、第４図は従来の超音波探傷器
のブロツク図である。 図において１は同期部、２は送信部、３は探触
子、４は受信部、５は表示器、６は周波数可変回
路、７は周波数設定手段、８は波数可変回路、９
は波数設定手段、１０〜１２はモノマルチバイブ
レータ、１３〜１５はセレクターである。なお図
中同一符号は同一又は相当部分を示す。
ツク図、第２図はこの発明の動作タイミング図、
第３図はこの発明による波数可変回路から周波数
可変回路の説明図、第４図は従来の超音波探傷器
のブロツク図である。 図において１は同期部、２は送信部、３は探触
子、４は受信部、５は表示器、６は周波数可変回
路、７は周波数設定手段、８は波数可変回路、９
は波数設定手段、１０〜１２はモノマルチバイブ
レータ、１３〜１５はセレクターである。なお図
中同一符号は同一又は相当部分を示す。
Claims (1)
- １ 所定の繰り返し周波数を発生する同期部と、
この同期部からの出力信号にもとずき送信信号を
発生する送信部と、上記同期部の出力信号に同期
して上記送信部の送信波数を可変する波数可変回
路と、上記波数可変回路へ波数を設定する波数設
定手段と、上記波数可変回路の出力信号にもとづ
き上記送信部の送信周波数を可変する周波数可変
回路と、上記周波数可変回路へ周波数を設定する
周波数設定手段と、上記送信部から生ずる送信信
号を超音波信号に変換して被検材に超音波を入射
させるとともに上記被検材からの反射波を電気信
号に変換する探触子と、上記探触子からの電気信
号を増巾する受信部と、上記受信部の波形を表示
する表示器とを備えたことを特徴とする超音波探
傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61023250A JPS62180267A (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61023250A JPS62180267A (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62180267A JPS62180267A (ja) | 1987-08-07 |
| JPH0343586B2 true JPH0343586B2 (ja) | 1991-07-03 |
Family
ID=12105348
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61023250A Granted JPS62180267A (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62180267A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04348275A (ja) * | 1990-11-14 | 1992-12-03 | Nkk Corp | 超音波探傷方法 |
| JP3327129B2 (ja) * | 1996-07-22 | 2002-09-24 | 松下電器産業株式会社 | 超音波診断装置 |
-
1986
- 1986-02-05 JP JP61023250A patent/JPS62180267A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62180267A (ja) | 1987-08-07 |
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