JPH0343590B2 - - Google Patents
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- JPH0343590B2 JPH0343590B2 JP19055781A JP19055781A JPH0343590B2 JP H0343590 B2 JPH0343590 B2 JP H0343590B2 JP 19055781 A JP19055781 A JP 19055781A JP 19055781 A JP19055781 A JP 19055781A JP H0343590 B2 JPH0343590 B2 JP H0343590B2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 16
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、たとえばマルチバースト波形のよ
うなｎ個の異なつた周波数がそれぞれ振幅変調さ
れた波形を使つて、被測定系例えばテレビジヨン
回線などの振幅周波数特性を測定するための振幅
周波数特性測定装置に関するものである。
うなｎ個の異なつた周波数がそれぞれ振幅変調さ
れた波形を使つて、被測定系例えばテレビジヨン
回線などの振幅周波数特性を測定するための振幅
周波数特性測定装置に関するものである。
従来、たとえば第２図ａに示すマルチバースト
波形のようなｎ個の異なつた周波数がそれぞれ振
幅変調された波形によつてテレビジヨン回線など
（被測定系）における振幅周波数特性を測定する
場合は、それぞれの波形の振幅を一定にしたマル
チバースト波形を被測定系に出力し、そして被測
定系から出力されたマルチバースト波形をオシロ
スコープで直視観測し、それぞれのバースト波形
の振幅の相対比較により振幅周波数特性を求めて
いた。
波形のようなｎ個の異なつた周波数がそれぞれ振
幅変調された波形によつてテレビジヨン回線など
（被測定系）における振幅周波数特性を測定する
場合は、それぞれの波形の振幅を一定にしたマル
チバースト波形を被測定系に出力し、そして被測
定系から出力されたマルチバースト波形をオシロ
スコープで直視観測し、それぞれのバースト波形
の振幅の相対比較により振幅周波数特性を求めて
いた。
また、さらに測定精度を高めるためにはマルチ
バースト波形を拡大してそれぞれの周波数の波形
の上または下のピークを相対比較していた。
バースト波形を拡大してそれぞれの周波数の波形
の上または下のピークを相対比較していた。
しかしながら、テレビジヨン回線等を経由した
マルチバースト波形は回線等の非直線ひずみの影
響により、該マルチバースト波形の重畳正弦波の
平均値に変動が生じ、正規の重畳正弦波の平均値
に対して波形の振幅は非対称になることが多く、
特にその数ＭHz以上の高域周波数において顕著で
ある。このような場合、測定精度を高めるために
波形を拡大してそれぞれの波形のピークを相対比
較する方法では実際の伝送路の振幅周波数特性を
高い測定精度で測定することができなかつた。
マルチバースト波形は回線等の非直線ひずみの影
響により、該マルチバースト波形の重畳正弦波の
平均値に変動が生じ、正規の重畳正弦波の平均値
に対して波形の振幅は非対称になることが多く、
特にその数ＭHz以上の高域周波数において顕著で
ある。このような場合、測定精度を高めるために
波形を拡大してそれぞれの波形のピークを相対比
較する方法では実際の伝送路の振幅周波数特性を
高い測定精度で測定することができなかつた。
したがつて、このようなマルチバースト波形を
オシロスコープで観測する場合は波形の全振幅の
相対比較を行わなければならず高精度の測定は困
難であつた。また、直視観測によらず自動的に測
定する場合には、各周波数ごとに包絡線検波を行
いＡ−Ｄ変換してデイジタル処理する方法がある
が、各周波数ごとに検波時定数が異なる検波器を
必要とするので回路構成が大規模になる。また検
波器に多くの能動素子を使用するため温度変化の
影響を受けやすいなどの問題があつた。
オシロスコープで観測する場合は波形の全振幅の
相対比較を行わなければならず高精度の測定は困
難であつた。また、直視観測によらず自動的に測
定する場合には、各周波数ごとに包絡線検波を行
いＡ−Ｄ変換してデイジタル処理する方法がある
が、各周波数ごとに検波時定数が異なる検波器を
必要とするので回路構成が大規模になる。また検
波器に多くの能動素子を使用するため温度変化の
影響を受けやすいなどの問題があつた。
この発明は以上の問題にかんがみてなされたも
ので、振幅が一定で異なつた周波数を有するｎ個
のバースト波形を、被測定系を介して受信し、こ
の受信信号に含まれている前記ｎ個のバースト波
形の周波数がそれぞれ２倍となるように全波整流
波に変換し、それぞれの前記全波整流波の振幅の
平均値成分に比例したｎ個の平均値成分を検出
し、該ｎ個の平均値成分のレベルから前記被測定
系の振幅周波数特性を検知するようにした振幅周
波数特性測定装置を提供するものである。なお、
全波整流波は第３図の実線に示す如き波形をい
う。
ので、振幅が一定で異なつた周波数を有するｎ個
のバースト波形を、被測定系を介して受信し、こ
の受信信号に含まれている前記ｎ個のバースト波
形の周波数がそれぞれ２倍となるように全波整流
波に変換し、それぞれの前記全波整流波の振幅の
平均値成分に比例したｎ個の平均値成分を検出
し、該ｎ個の平均値成分のレベルから前記被測定
系の振幅周波数特性を検知するようにした振幅周
波数特性測定装置を提供するものである。なお、
全波整流波は第３図の実線に示す如き波形をい
う。
以下、この発明について説明する。第１図はこ
の発明の第１実施例のブロツク構成図を示す。こ
の図において、波形変換器１は被測定系からの信
号、たとえば６個の異なつた周波数からなるマル
チバースト波形を受信し、それぞれ２倍の周波数
となる全波整流波に変換するもので、波形分離器
１ａ，１ｂおよび波形合成器１ｃで構成されてい
る。
の発明の第１実施例のブロツク構成図を示す。こ
の図において、波形変換器１は被測定系からの信
号、たとえば６個の異なつた周波数からなるマル
チバースト波形を受信し、それぞれ２倍の周波数
となる全波整流波に変換するもので、波形分離器
１ａ，１ｂおよび波形合成器１ｃで構成されてい
る。
波形分離器１ａ，１ｂは、それぞれ前記マルチ
バースト波形から正極性の半波整流波を検出する
第１のクリツプ回路と前記マルチバースト波形か
ら負極性の半波整流波を検出する第２のクリツプ
回路とから構成されている。
バースト波形から正極性の半波整流波を検出する
第１のクリツプ回路と前記マルチバースト波形か
ら負極性の半波整流波を検出する第２のクリツプ
回路とから構成されている。
波形合成器１ｃは差動増幅器などで構成されて
おり、波形分離器１ａ，１ｂで正負に分離された
それぞれの半波整流波を受領して合成し、前記周
波数の２倍の周波数成分をそれぞれ有する全波整
流波を出力する。
おり、波形分離器１ａ，１ｂで正負に分離された
それぞれの半波整流波を受領して合成し、前記周
波数の２倍の周波数成分をそれぞれ有する全波整
流波を出力する。
検出器２はローパスフイルタなどで構成されて
おり、波形合成器１ｃの出力波形からそれぞれの
全波整流波の振幅に比例した６個の平均値成分を
検出する。標本化保持器３は検出器２から出力さ
れる６個の平均値成分のレベルをそれぞれ標本化
保持する。
おり、波形合成器１ｃの出力波形からそれぞれの
全波整流波の振幅に比例した６個の平均値成分を
検出する。標本化保持器３は検出器２から出力さ
れる６個の平均値成分のレベルをそれぞれ標本化
保持する。
Ａ−Ｄ変換器４は標本化保持器３で保持された
信号をデイジタル信号に変換する。演算装置５は
Ａ−Ｄ変換器４の出力を受領して前記マルチバー
スト波形のそれぞれの振幅の値を演算することに
より、被測定系の振幅周波数特性を出力する。表
示器６は演算装置５から出力された振幅周波数特
性の値をデイジタル表示する。
信号をデイジタル信号に変換する。演算装置５は
Ａ−Ｄ変換器４の出力を受領して前記マルチバー
スト波形のそれぞれの振幅の値を演算することに
より、被測定系の振幅周波数特性を出力する。表
示器６は演算装置５から出力された振幅周波数特
性の値をデイジタル表示する。
次にその動作について説明する。
入力端子７には被測定系から第２図ａに示すよ
うなマルチバースト波形が加えられる。マルチバ
ースト波形は６個の異なつた周波数を有し、それ
ぞれが第２図ｂに示すように振幅変調されてい
る。このマルチバースト波形を波形分離器１ａ，
１ｂに加え、第１のクリツプ回路１ａおよび第２
のクリツプ回路１ｂにより平均値Ａを基準として
正極性（第２図ｃ）と負極性（第２図ｅ）とに分
離する。第２図ｄは分離された１つの周波数の正
極性の半波整流波を示し、第２図ｆは負極性の半
波整流波を示す。波形分離器１ａ，１ｂで正負に
分離された半波整流波（第２図ｃ，ｅ）は波形合
成器１ｃで合成され、前記周波数の２倍の周波数
成分をそれぞれ有する第２図ｇに示す全波整流波
が出力される。第２図ｈは被測定系の低域を通過
した場合の低域周波数ｌの全波整流波を示し、点
線は平均値成分である。また第２図ｊは回線等の
高域における非直線ひずみの影響により第２図ａ
に示す高域周波数ｍの波形振幅イが非対称になつ
たときの全波整流波を示す。
うなマルチバースト波形が加えられる。マルチバ
ースト波形は６個の異なつた周波数を有し、それ
ぞれが第２図ｂに示すように振幅変調されてい
る。このマルチバースト波形を波形分離器１ａ，
１ｂに加え、第１のクリツプ回路１ａおよび第２
のクリツプ回路１ｂにより平均値Ａを基準として
正極性（第２図ｃ）と負極性（第２図ｅ）とに分
離する。第２図ｄは分離された１つの周波数の正
極性の半波整流波を示し、第２図ｆは負極性の半
波整流波を示す。波形分離器１ａ，１ｂで正負に
分離された半波整流波（第２図ｃ，ｅ）は波形合
成器１ｃで合成され、前記周波数の２倍の周波数
成分をそれぞれ有する第２図ｇに示す全波整流波
が出力される。第２図ｈは被測定系の低域を通過
した場合の低域周波数ｌの全波整流波を示し、点
線は平均値成分である。また第２図ｊは回線等の
高域における非直線ひずみの影響により第２図ａ
に示す高域周波数ｍの波形振幅イが非対称になつ
たときの全波整流波を示す。
波形合成器１ｃから出力される全波整流波（第
２図ｇ）はローパスフイルタで構成された検出器
２で、第２図ｋに示すようにそれぞれの全波整流
波の振幅に比例した６個の平均値成分を検出す
る。すなわち、第３図のように非直線ひずみの影
響を受けないときの低域周波数の全波整流波につ
いて考えてみるならば、この波形の展開式は ｅ（ωt）／Ｅ＝２／π＋４／π〔１／３c
os2ωt−１／15cos4ωt＋…＋（−１）n+1／4n2−１cos
2nωt＋…〕 である。したがつて、2ωtをカツトとするローパ
スフイルタに通すと2/πの成分のみが残り、ロー
パスフイルタの出力信号はｅ（ωt）＝２／πＥとな る。これは正弦波の平均を示しており、したがつ
てローパスフイルタは最低周波数の2ωtの成分を
除去できるものであればよい。また高域における
非対称の全波整流波の場合も同じである。こうし
て、検出器２で検出された６個の平均値成分のピ
ーク値は被測定系の振幅周波数特性を忠実に現し
ている。検出器２で検出された６個の平均値成分
のレベルは標本化保持器３、Ａ−Ｄ変換器４およ
び演算装置５でデイジタル処理される。デイジタ
ル処理された前記マルチバースト波形のそれぞれ
の振幅の値すなわち、被測定系の振幅周波数特性
は表示器６でデイジタル表示される。
２図ｇ）はローパスフイルタで構成された検出器
２で、第２図ｋに示すようにそれぞれの全波整流
波の振幅に比例した６個の平均値成分を検出す
る。すなわち、第３図のように非直線ひずみの影
響を受けないときの低域周波数の全波整流波につ
いて考えてみるならば、この波形の展開式は ｅ（ωt）／Ｅ＝２／π＋４／π〔１／３c
os2ωt−１／15cos4ωt＋…＋（−１）n+1／4n2−１cos
2nωt＋…〕 である。したがつて、2ωtをカツトとするローパ
スフイルタに通すと2/πの成分のみが残り、ロー
パスフイルタの出力信号はｅ（ωt）＝２／πＥとな る。これは正弦波の平均を示しており、したがつ
てローパスフイルタは最低周波数の2ωtの成分を
除去できるものであればよい。また高域における
非対称の全波整流波の場合も同じである。こうし
て、検出器２で検出された６個の平均値成分のピ
ーク値は被測定系の振幅周波数特性を忠実に現し
ている。検出器２で検出された６個の平均値成分
のレベルは標本化保持器３、Ａ−Ｄ変換器４およ
び演算装置５でデイジタル処理される。デイジタ
ル処理された前記マルチバースト波形のそれぞれ
の振幅の値すなわち、被測定系の振幅周波数特性
は表示器６でデイジタル表示される。
第４図はこの発明の第２実施例のブロツク構成
図を示し、１，２，７は第１図と同一である。
図を示し、１，２，７は第１図と同一である。
検出器２で検出された６個の平均値成分（第２
図ｋ）のレベルを直接、オシロスコープなどの直
視観測装置８に加えて直視観測し、相対的な偏差
などを測定する。
図ｋ）のレベルを直接、オシロスコープなどの直
視観測装置８に加えて直視観測し、相対的な偏差
などを測定する。
以上説明したようにこの発明は、振幅が一定の
異なつた周波数を有するｎ個のバースト波形を、
被測定系を介して受信し、この受信信号に含まれ
ている前記ｎ個のバースト波形の周波数がそれぞ
れ２倍となるように全波整流波に変換するための
波形変換器と、該変換器の出力波形からそれぞれ
の前記全波整流波の振幅に比例したｎ個の平均値
成分を検出するための検出器とを備えるようにし
たので、オシロスコープなどによる直視観測でも
拡大することによりたとえば相対的な周波数偏差
を高精度で読み取ることができる。また、デイジ
タル処理により自動測定する場合は各周波数につ
きそれぞれ一つのサンプリングデータを取り込む
だけでよいので回路構成が簡単になる。さらにサ
ンプリング点が少ないので測定の時間が短いなど
の効果を有する。
異なつた周波数を有するｎ個のバースト波形を、
被測定系を介して受信し、この受信信号に含まれ
ている前記ｎ個のバースト波形の周波数がそれぞ
れ２倍となるように全波整流波に変換するための
波形変換器と、該変換器の出力波形からそれぞれ
の前記全波整流波の振幅に比例したｎ個の平均値
成分を検出するための検出器とを備えるようにし
たので、オシロスコープなどによる直視観測でも
拡大することによりたとえば相対的な周波数偏差
を高精度で読み取ることができる。また、デイジ
タル処理により自動測定する場合は各周波数につ
きそれぞれ一つのサンプリングデータを取り込む
だけでよいので回路構成が簡単になる。さらにサ
ンプリング点が少ないので測定の時間が短いなど
の効果を有する。
なお、波形変換器および検出器は前述の実施例
に限定されるものではなく、要旨を変更しない範
囲で種々変形して実施することができる。
に限定されるものではなく、要旨を変更しない範
囲で種々変形して実施することができる。
第１図はこの発明の第１実施例、第２図はこの
発明の実施例を説明するための波形図、第３図は
全波の波形図、第４図はこの発明の第２実施例で
ある。 １は波形変換器、２は検出器、３は標本化保持
器、４はＡ−Ｄ変換器、５は演算装置、６は表示
器である。
発明の実施例を説明するための波形図、第３図は
全波の波形図、第４図はこの発明の第２実施例で
ある。 １は波形変換器、２は検出器、３は標本化保持
器、４はＡ−Ｄ変換器、５は演算装置、６は表示
器である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 振幅が一定で異なつた周波数を有するｎ個の
バースト波形を、被測定系を介して受信し、この
受信信号に含まれている前記ｎ個のバースト波形
の周波数がそれぞれ２倍となるように全波整流波
に変換するための波形変換器と；該波形変換器の
出力波形からそれぞれの前記全波整流波の振幅の
平均値成分に比例したｎ個の平均値成分を検出す
るための検出器とを備え、該ｎ個の平均値成分の
レベルから前記被測定系の振幅周波数特性を検知
するようにしたことを特徴とする振幅周波数特性
測定装置。 ２ 前記波形変換器は前記受信信号の振幅を正極
性と負極性に分離するための波形分離器と、該波
形分離器で正負に分離されて出力されたそれぞれ
の半波整流波を受領して合成し前記全波整流波を
出力するための波形合成器とを備えてなる特許請
求の範囲第１項記載の振幅周波数特性測定装置。 ３ 振幅一定で異なつた周波数を有するｎ個のバ
ースト波形を、被測定系を介して受信し、この受
信信号に含まれている前記ｎ個のバースト波形の
周波数がそれぞれ２倍となるように全波整流波に
変換するための波形変換器と；該波形変換器の出
力波形から、それぞれの前記全波整流波の振幅の
平均値成分に比例したｎ個の平均値成分を検出す
るための検出器と；該検出器から出力されるｎ個
の平均値成分のレベルをそれぞれ標本化保持する
ための標本化保持器と；該保持器に保持された信
号をデイジタル信号に変換するＡ−Ｄ変換器と；
該Ａ−Ｄ変換器の出力を受領して前記被測定系の
振幅周波数特性を演算するための演算装置とを備
えた振幅周波数特性測定装置。 ４ 前記波形変換器は前記受信信号の振幅を正極
性と負極性に分離するための波形分離器と、該波
形分離器で正負に分離されて出力されたそれぞれ
の半波整流波を受領して合成し前記全波整流波を
出力するための波形合成器とを備えてなる特許請
求の範囲第３項記載の振幅周波数特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055781A JPS5892964A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 振幅周波数特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055781A JPS5892964A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 振幅周波数特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5892964A JPS5892964A (ja) | 1983-06-02 |
| JPH0343590B2 true JPH0343590B2 (ja) | 1991-07-03 |
Family
ID=16260048
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19055781A Granted JPS5892964A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 振幅周波数特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5892964A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2473919C1 (ru) * | 2011-09-27 | 2013-01-27 | Российская Федерация, От Имени Которой Выступает Министерство Промышленности И Торговли Российской Федерации | Устройство для преобразования изменения сопротивления в напряжение |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP19055781A patent/JPS5892964A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5892964A (ja) | 1983-06-02 |
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