JPH0345860B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0345860B2 JPH0345860B2 JP57130355A JP13035582A JPH0345860B2 JP H0345860 B2 JPH0345860 B2 JP H0345860B2 JP 57130355 A JP57130355 A JP 57130355A JP 13035582 A JP13035582 A JP 13035582A JP H0345860 B2 JPH0345860 B2 JP H0345860B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- memory
- output
- mass number
- digital signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 8
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 6
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 1
- 101710133576 Slit homolog 2 protein Proteins 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は入出力信号変換装置に係り、特に質量
分析装置において質量数に関連のある信号を質量
数値に変換するに好適な入出力信号変換装置に関
する。
分析装置において質量数に関連のある信号を質量
数値に変換するに好適な入出力信号変換装置に関
する。
従来の質量数変換装置としては、質量数に比例
したアナログ値例えば偏向磁場強度値、偏向磁場
用コイル電流値、イオンの加速電圧値をＡ／Ｄ変
換し、その結果得られるデジタル信号値あるいは
コイル電流を制御するための信号を与えるＤ／Ａ
変換器の入力デジタル値等質量数に関連のある入
力信号から、ある定められた換算式を用いて質量
数を演算して求める第１図に示す如きいわゆる逐
次換算方式が用いられていた。すわわち、イオン
源１で得られたイオンはスリツト２を通過後、偏
向磁場３によつて偏向を受け、スリツト４を通過
したイオンのみが検出器５で検出される。従つ
て、偏向磁場強度を連続的に変化する事によつて
一連の質量スペクトルが得られる。この時、ホー
ル素子６によつて磁場強度を検出し、Ａ／Ｄ変換
器７によつて磁場検出信号としてコンピユータに
送出される。このコンピユータ内には、予め質量
数の判明しているスペクトルを用いてこの磁場検
出信号と質量数の逐次補間テーブル８が設けられ
ている。すなわち、質量数m1，m2，m3に対応す
る磁場検出信号はB1，B2，B3であるというデー
タが質量数数十〜数百のポイントで格納されてい
る。そして測定中に磁場検出信号が例えばBXに
なると、そのBXが先の格納されたデータ中のい
ずれのポイント間（すなわち、B1 B2間か、B2
B3間か、B3 B4間かといつたいずれの数値間）に
存在するかを捜し、そのポイント間では直線近似
或いは他の関数式によつて質量数mXを演算し求
めている。このように、従来システムでは、逐一
演算によつて質量数を求めなければならないの
で、コンピユータの演算時間によつて測定速度が
制限されることになる。また、この方式では、質
量数の演算（通常コンピユータにて行う）に時間
を要し、高速で入力信号が変化する場合に対処不
可能となつている。例えば質量数１〜5000を１秒
で走査させるとき、0.1質量差毎に演算するとす
れば20μsの演算速度が必要であり、この複雑な計
算を要する質量数換算では不可能である。
したアナログ値例えば偏向磁場強度値、偏向磁場
用コイル電流値、イオンの加速電圧値をＡ／Ｄ変
換し、その結果得られるデジタル信号値あるいは
コイル電流を制御するための信号を与えるＤ／Ａ
変換器の入力デジタル値等質量数に関連のある入
力信号から、ある定められた換算式を用いて質量
数を演算して求める第１図に示す如きいわゆる逐
次換算方式が用いられていた。すわわち、イオン
源１で得られたイオンはスリツト２を通過後、偏
向磁場３によつて偏向を受け、スリツト４を通過
したイオンのみが検出器５で検出される。従つ
て、偏向磁場強度を連続的に変化する事によつて
一連の質量スペクトルが得られる。この時、ホー
ル素子６によつて磁場強度を検出し、Ａ／Ｄ変換
器７によつて磁場検出信号としてコンピユータに
送出される。このコンピユータ内には、予め質量
数の判明しているスペクトルを用いてこの磁場検
出信号と質量数の逐次補間テーブル８が設けられ
ている。すなわち、質量数m1，m2，m3に対応す
る磁場検出信号はB1，B2，B3であるというデー
タが質量数数十〜数百のポイントで格納されてい
る。そして測定中に磁場検出信号が例えばBXに
なると、そのBXが先の格納されたデータ中のい
ずれのポイント間（すなわち、B1 B2間か、B2
B3間か、B3 B4間かといつたいずれの数値間）に
存在するかを捜し、そのポイント間では直線近似
或いは他の関数式によつて質量数mXを演算し求
めている。このように、従来システムでは、逐一
演算によつて質量数を求めなければならないの
で、コンピユータの演算時間によつて測定速度が
制限されることになる。また、この方式では、質
量数の演算（通常コンピユータにて行う）に時間
を要し、高速で入力信号が変化する場合に対処不
可能となつている。例えば質量数１〜5000を１秒
で走査させるとき、0.1質量差毎に演算するとす
れば20μsの演算速度が必要であり、この複雑な計
算を要する質量数換算では不可能である。
本発明の目的は、高速で質量数値を出力するこ
とのできる入出力信号変換装置を提供することに
ある。
とのできる入出力信号変換装置を提供することに
ある。
本発明は、質量数に関連した入力信号をメモリ
のアドレス信号としてそのまま利用し、メモリ中
に格納されている前記アドレスに対応した質量数
値を直接データ出力させることにより高速で質量
数値を出力しようというものである。
のアドレス信号としてそのまま利用し、メモリ中
に格納されている前記アドレスに対応した質量数
値を直接データ出力させることにより高速で質量
数値を出力しようというものである。
以下、本発明の実施例について説明する。
第２図には、本発明の一実施例が示されてい
る。
る。
図において、コンピユータ（CPU）１１には
メモリ１４がバスによつて接続されている。ま
た、このコンピユータ１１には、磁場制御用レジ
スタ１３がバスによつて接続されており、この磁
場制御用レジスタ１３にはカウンタパルス発振器
１２から出力されるパルスが入力されるように構
成されている。この磁場制御用レジスタ１３は、
一種のカウンタであり、コンピユータ１１からの
出力値によつてカウンタパルス発振器１２から出
力されるパルスをカウントし、アドレス値として
メモリ１４と、Ｄ／Ａ変換器１５に入力する。
CPU１１には磁場制御レジスタからアドレス値
が出力されるのに合わせて読み出し信号をメモリ
１４に出力する。このＤ／Ａ変換器１５において
は、入力されたデジタル値をアナログ値に変換し
て偏向磁場電流電源１６に出力して偏向磁場に電
流を送出する。すなわち、コンピユータ
（CPU）、磁場制御用レジスタ１３およびパルス
発振器１４が電界および磁界を指示するデジタル
信号を出力する手段をなしている。一方、メモリ
１４は、磁場制御用レジスタ１３から出力される
アドレス信号によつて得られた質量数を質量数検
出装置１７に出力する。
メモリ１４がバスによつて接続されている。ま
た、このコンピユータ１１には、磁場制御用レジ
スタ１３がバスによつて接続されており、この磁
場制御用レジスタ１３にはカウンタパルス発振器
１２から出力されるパルスが入力されるように構
成されている。この磁場制御用レジスタ１３は、
一種のカウンタであり、コンピユータ１１からの
出力値によつてカウンタパルス発振器１２から出
力されるパルスをカウントし、アドレス値として
メモリ１４と、Ｄ／Ａ変換器１５に入力する。
CPU１１には磁場制御レジスタからアドレス値
が出力されるのに合わせて読み出し信号をメモリ
１４に出力する。このＤ／Ａ変換器１５において
は、入力されたデジタル値をアナログ値に変換し
て偏向磁場電流電源１６に出力して偏向磁場に電
流を送出する。すなわち、コンピユータ
（CPU）、磁場制御用レジスタ１３およびパルス
発振器１４が電界および磁界を指示するデジタル
信号を出力する手段をなしている。一方、メモリ
１４は、磁場制御用レジスタ１３から出力される
アドレス信号によつて得られた質量数を質量数検
出装置１７に出力する。
次に、本実施例の動作について説明する。すな
わち、コンピユータ１１は、第１図図示従来例で
示した磁場検出信号と質量数のかわりに、磁場制
御用レジスタ１３の出力と質量数の関係をメモリ
１４にあらかじめ格納する。この時データ格納
は、磁場制御用レジスタ１３の出力をアドレス信
号として行う。この信号は、同時に磁場制御用
Ｄ／Ａ変換器１５に送られ、その出力信号によつ
て偏向磁場電流電源１６が駆動される。
わち、コンピユータ１１は、第１図図示従来例で
示した磁場検出信号と質量数のかわりに、磁場制
御用レジスタ１３の出力と質量数の関係をメモリ
１４にあらかじめ格納する。この時データ格納
は、磁場制御用レジスタ１３の出力をアドレス信
号として行う。この信号は、同時に磁場制御用
Ｄ／Ａ変換器１５に送られ、その出力信号によつ
て偏向磁場電流電源１６が駆動される。
従つて、コンピユータ１１によつて、或いは独
自のカウンタパルス発生器１２によつて磁場制御
用レジスタ１３の出力が変化すると、磁場が変化
すると同時に、その信号がメモリ１４のアドレス
信号として送出され、直ちにメモリデータである
対応する質量数が出力され、質量数検知装置１７
に送られる事になる。
自のカウンタパルス発生器１２によつて磁場制御
用レジスタ１３の出力が変化すると、磁場が変化
すると同時に、その信号がメモリ１４のアドレス
信号として送出され、直ちにメモリデータである
対応する質量数が出力され、質量数検知装置１７
に送られる事になる。
したがつて、本実施例によれば、質量数へのデ
ータ変換速度はメモリの読出し速度のみで決ま
り、測定中での演算が不必要となる。
ータ変換速度はメモリの読出し速度のみで決ま
り、測定中での演算が不必要となる。
また、本実施例によれば、メモリ容量を大きく
するのみで速度に影響を与えず精度的にも向上を
期することができる。
するのみで速度に影響を与えず精度的にも向上を
期することができる。
以上説明したように、本発明によれば、質量数
が、メモリに電界および磁界を指示するデジタル
値をアドレス値として格納されており、装置運転
時は該デジタル値が電界および磁界を制御する手
段に入力されると同時にメモリに入力されるの
で、複雑な演算を行うことなく、高速で質量数値
を出力することができる。
が、メモリに電界および磁界を指示するデジタル
値をアドレス値として格納されており、装置運転
時は該デジタル値が電界および磁界を制御する手
段に入力されると同時にメモリに入力されるの
で、複雑な演算を行うことなく、高速で質量数値
を出力することができる。
第１図は従来の入出力信号変換装置のブロツク
図、第２図は本発明の実施例を示すブロツク図で
ある。 １１……コンピユータ、１３……磁場制御用レ
ジスタ、１４……メモリ、１７……質量数検知装
置。
図、第２図は本発明の実施例を示すブロツク図で
ある。 １１……コンピユータ、１３……磁場制御用レ
ジスタ、１４……メモリ、１７……質量数検知装
置。
Claims (1)
- １ 試料をイオン化する手段と、該イオン化され
た試料に電界及び磁界をかけ質量分離する手段
と、該電界及び磁界を指示するデジタル信号を出
力する手段と、該デジタル信号に基づいて前記電
界及び磁界を制御する手段と、質量数を前記電界
及び磁界の値に対応させて格納、出力するメモリ
とを備えてなる質量分析装置において、前記メモ
リは前記デジタル信号を出力する手段に接続して
該デジタル信号をアドレス入力とするように配置
されていることと、該メモリには質量数が前記デ
ジタル信号をアドレス値として格納されているこ
とと、前記デジタル信号を出力する手段はデジタ
ル信号を出力する都度前記メモリに読み出し信号
を出力するものであることとを特徴とする入出力
信号変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57130355A JPS5920851A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 入出力信号変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57130355A JPS5920851A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 入出力信号変換装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5920851A JPS5920851A (ja) | 1984-02-02 |
| JPH0345860B2 true JPH0345860B2 (ja) | 1991-07-12 |
Family
ID=15032399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57130355A Granted JPS5920851A (ja) | 1982-07-28 | 1982-07-28 | 入出力信号変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5920851A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61115183A (ja) * | 1984-11-09 | 1986-06-02 | Toshiba Corp | 濃淡画像処理における濃度階調変換方式 |
-
1982
- 1982-07-28 JP JP57130355A patent/JPS5920851A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5920851A (ja) | 1984-02-02 |
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