JPH03500105A - デュアルフィードバックループを有する同期装置 - Google Patents

デュアルフィードバックループを有する同期装置

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JPH03500105A JP1507997A JP50799789A JPH03500105A JP H03500105 A JPH03500105 A JP H03500105A JP 1507997 A JP1507997 A JP 1507997A JP 50799789 A JP50799789 A JP 50799789A JP H03500105 A JPH03500105 A JP H03500105A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 デュアルフィードバックループを有する同期装置背景 この開示は、同期回路に関するものであり、さらに詳述すると、クロックにより 非同期デジタル入力信号をサンプルし、低誤り率で動作する同期装置に関するも のである。
この発明の関係するタイプの同期装置は、互いに非同期的に動作する2つのデジ タルモジュールの間をデジタル情報が転送されるときにいつも必要となる。たと えば、デジタルコンピュータは、通常、その内部動作が同期化されるそれら自身 の内部クロックを有し、かつ、したがって、1つのコンビエータがもう1つのコ ンピュータへ情報を送るとき、その情報はその内部クロックに関し、非同期的に そのもう1つのコンピュータに到着する。同様に、情報がオペレータによってキ ーボードを通してコンビ二一夕の中に入力されるとき、キーはコンビエータの内 部クロックに関し、非同期的に押される。
上記の場合、同期回路は受信コンピュータによってそれが受取られるまで入力デ ータをサンプルホールドするためにしばしば使用される。しかしながら、入力デ ータは非同期的であるので、それがサンプルされているのと同時にデータが変化 するといういくらかの可能性がある。そして、それが起こるとき、取られたサン プルは完全な“1′と完全な“0°との間に位置する中間電圧レベルにあり得る 。
そして、もし、受信コンピュータによって中間電圧が作動され続ければ、エラー が発生し得る。これは、中間電圧はそれが実際に“O′だったときに、コンピュ ータによって“1゛と解釈され得るからであり、その逆の場合も同じである。結 果的には、同期回路がそのような中間電圧エラーが発生する可能性を低減させる ように設計されることが重要である。
この発明に関係した先行技術の同期回路の1つがカワゴ工に対して1976年に 発行された米国特許第3,953゜744号に記載されている。しかしながら、 この゛744同期装置では、中間電圧エラーの発生する可能性が高すぎ、かつ、 このことは第10図に関連して、詳細な説明の中で詳細に説明されるであろう。
したがって、この発明の主たる目的は、中間電圧エラーを大いに低減する改良さ れた同期回路を提供することである。
図面の簡単な説明 ここで、添付図面と関連して、この発明の様々な特徴および利点が説明される。
第1図は、この発明の好ましい実施例を図示し、第2図は、第1図の実施例の全 体の動作を図示し、第3図は、第1図の実施例の1つの形の詳細な回路図であり 、 第4図は、第3図の回路におけるフィードバックループの1つを解析するために 使用される第3図の回路の変形例であり、 第5図は、第4図の回路の過渡的動作を説明する一連の方程式であり、 第6図は、第3図の回路における第2のフィードバックループを解析するために 使用される第3図の回路の変形例であり、 第7図は、第6図の回路の過渡的動作を説明する一連の方程式であり、 第8図は、第3図の回路における両方のフィードバックループの過渡的応答を図 示し、 第9図は、第3図の回路のMTBFを計算する一連の方程式であり、かつ、第1 0図は、先行技術の回路のMTBFを計算する一連の方程式である。
詳細な説明 次に、第1図を参照すると、この発明の好ましい実施例の詳細が説明されるであ ろう。゛この実施例は、シュミットトリガ10と、インバータ11と、抵抗器1 2とを含む。
これらの構成要素のすべてが図示されているように、ループに相互接続される。
また、シュミットトリガ10の入力端子に結合されるトランジスタ13と、シュ ミットトリガ10の出力端子に結合されたトランジスタ14とが含まれる。
動作において、同期されるべきデジタル入力電圧V、はトランジスタ13のソー スに印加され、かつ、デジタルクロックCK、はトランジスタ13のゲートに印 加される。
クロックCK、がハイのとき、電圧V、のサンプルはシュミットトリガ10の入 力端子に転送される。このサンプルは、電圧v2として示される。そして、構成 要素10・11および12は、電圧v2で動作し、シュミットトリガの出力端子 に電圧v3を発生させる。その後は、デシタルク。ツクcK2は、トランジスタ 14のゲートに印加され、電圧■3を電圧V4としてトランジスタ14のドレイ ンへ転送する。
次に、上記の動作において、電圧Vlはクロック信号CK1に関していつでも変 化し得る。このことは、第2図に図示される。そこでは、電圧V、は第1のクロ ックパルス20の前に変化し、クロックパルスの間中安定し続けているのに対し 、第2のクロックパルス210間中電圧V、は状態を変化させる。電圧V、がC K、クロックパルスの間中安定し続けるとき、他方の電圧v2およびV、はCK 。
クロックの立上がり端縁のすぐ後に安定化する。これは、第2図中の遷移20B と20bとによって示される。しかし、電圧V、がCK、クロックパルスの間中 状態を変化させるとき、第2図中の遷移21gと21bとによって示されている ように、電圧v2とV、とが安定するのには、より長い時間がかかる。
最悪の場合、電圧V、は、タロツクCK、がローになる直前に変化する。たとえ ば、完全な“1′電圧が5ボルトで、完全な“0”電圧が0ボルトと仮定し、か つ、さらに、電圧V、がクロックCK、がローになる直前に変化すると仮定する 。その場合、電圧サンプルv2はゼロボルトと5ボルトとの間のどんな大きさも 有することができる。そして、この中間電圧は、構成要素10と11と12とに よって作動し続けられ、完全な“1′電圧として、電圧V、を発生させ、完全な “0”電圧として電圧v2を再生させ、または、逆もまた同様である。
上記再生工程をさらに説明するために、次は第3図に関連して、構成要素10と 11との1つの好ましいものの詳細なトランジスタ構成が説明されるであろう。
そこでは、シュミットトリガ10は、1個のPチャネルトランジスタ10aと3 個のNチャネルトランジスタ10b、10cおよび10dとによって構成される 。また、インバータ11は、1個のPチャネルトランジスタllaと1個のNチ ャネルトランジスタ11bとからなる。これらすべてのトランジスタは、抵抗器 12とともに、図示されているように相互接続される。
第3図の回路の検査は、それが2個の別々のフィードバックループを含んでいる ということを示す。1個のフィードバックループは、トランジスタ11aと11 bとともに抵抗器12を含み、かつ、それらは示されているように、シュミット トリガ10の出力端子からシュミットトリガの入力端子へ結合される。動作にお いて、このフィードバックは、電圧V、に反比例してシュミットトリガ10の入 力端子に電圧v2をゆっくりと再生させる機能をする。このことは、トランジス タ13が与えるv2電圧サンプルが漏れに起因して消散するのを防ぐ。
比較すると、他のフィードバックループはトランジスタ10Cおよび10dを含 む。そして、それらは示されているように、シュミットトリガ10の出力端子か らトランジスタlObのドレインへ結合される。動作において、このフィードバ ックは、電圧サンプルv2が成る予め定められたレベル以下のときに、電圧V、 を急速に上昇させる機能をし、そして、逆の場合もまた同様であり、入力端子の 電圧サンプルV2の大きさを変えることはない。
たとえば、電圧サンプルが完全な“0”電圧と完全な“12電圧との間の中間値 付近にある中間低電圧にあると仮定する。その場合、トランジスタ10a、lo bおよび10dはすべて同程度の電流を導通させ、かつ、トランジスタ10cは ちょうどオンとなり始めるであろう。トランジスタ10cが導通し始めるとき、 それにかかる電圧は降下するであろう。そして、結果的に、トランジスタ10d にかかるソース−ドレイン電圧は上昇するであろう。順に、そのことは、トラン ジスタ10bのゲート−ソース電圧を低し、かつ、したがって、トランジスタ1 0bは、より少なく導通するようになるだろう。トランジスタ10bのコンダク タンスを低くすることは、電圧v5を上昇させ、そして、それは、順にトランジ スタlOcにより多く導通させることとなるであろう。このように、このフィー ドバック作用を繰返すことによって、トランジスタ10bはオフとなり、電圧V 、は完全な“1ルベルに達するであろう。
次に、上記のフィードバック作用が起きる速度の分析式は、第4図および第5図 に関連して抽出されるであろう。
第4図は、トランジスタllaおよびllbが削除された第3図の修正されたも のであり、ある寄生キャパシタC3とC3aとC′とが追加されている。トラン ジスタllaとllbとを削除することは、トランジスタ10cフイードバツク のスピードが、他のフィードバックと別々に分析されるのを可能とする。また、 寄生キャパシタは、それらが固有にトランジスタの、ゲートの入力とトランジス タのソースおよびドレインの出力とに存在するので追加される。
第4図の検査は、トランジスタ10aを通る電流i、は、寄生キャパシタC3を 充電し、それによって、電圧V、を上昇させるであろうことを示す。同様に、ト ランジスタ10Cを通る電流isQは、寄生キャパシタC3aを充電し、それに よって、トランジスタ10dにかかる電圧VsQを上昇させるであろう。この充 電作用は微分方程式1および2によって第5図において数学的に記述される。そ こでは、記号gxは、そのゲート電圧が完全“1′電圧と完全“0′電圧との中 間にあるときに、Nチャネルトランジスタのトランスコンダクタンスを表わす。
方程式1および2は、ラプラス変換のような様々な方法によりて解かれることが でき、そして、それらの解答は方程式3をもたらす。それは、電圧v2が完全“ 1′電圧と完全“0”電圧との間の中点値付近であるとき、電圧V。
は指数関数としてのトランジスタ10cフイードバツクに起因して変化するであ ろう。この指数関数は時定数7.を有し、ここに、τ、は寄生キャパシタC3お よびC3aならびにトランスコンダクタンスg11の関数である。
キャパシタC3は、電圧V、を上昇させるために電流i、が充電しなくてはなら ないキャパシタである。第4図の検査はキャパシタC3が2個のトランジスタ( トランジスタ10aおよび10b)の出力接合容量と1個のトランジスタ(トラ ンジスタ10C)のゲート容量とに等しいということを示す。このことは、方程 式4によって記述される。
典型的に、トランジスタのゲート容量は、トランジスタの出力接合容量のおよそ 3倍であり、それゆえ、方程式4は、方程式5として書き直すことができる。同 様に、第4図の検査は、キャパシタC3aが3個のトランジスタ(トランジスタ 10b、IOCおよび10d)の出力接合容量に等しいということを示す。この ことは、方程式6によって記述される。方程式5および6を方程式3に代入する ことは、時定数τ、のための方程式70表現をもたらす。
上記の分析において、寄生キャパシタC’ (これはトランジスタllaおよび llbのゲート容量に等しい)が無視されていることが指摘されるべきである。
しかしながら、そのことはこの分析を不正確にはしない、なぜならばキャパシタ C′は抵抗器12とともにローパスフィルタを形成するからである。結果的に、 電圧V、はキャパシタC′にかかる電圧を変化させる必要なしに、急速に変わる ことができる。
次に、第6図と第7図では、第3図の回路において、第2のフィードバックルー プが動作する速度が分析されるであろう。第6図は、その中で、トランジスタ1 0cを通るフィードバックが遮断される第3図の回路の変形例である。
これによって、トランジスタllaと11bとを通るフィードバックの動作は、 トランジスタ10cが与えるフィードバックから独立して分析されることができ る。また、第6図では、抵抗器12は、短絡している。これは、この分析を簡単 にするためにされる。短絡抵抗器は、より速い応答時間を生ずる。しかし、この より速い応答でさえ、第4図ループの応答よりは遅いであろう。さらに、第6図 において、寄生キャパシタC2とC′が追加される。
M6図の検査は、トランジスタ10aを流れる電流i。
′は電圧V、を上昇させるために寄生キャパシタC′を充電するということを示 す。同様に、トランジスタllbを流れる電流12は電圧v2を低くするために キャパシタC2を放電する。このことは、第7図の方程式10と11とによりて 数学的に記述されている。そこでは、gNは、Nチャネルトランジスタのトラン スコンダクタンスであり、gPは、そのゲート電圧が完全な°1′電圧と完全な “0′電圧との間の中点値にあるときのPチャネルトランジスタのトランスコン ダクタンスである。
方程式10と11とを解くことは方程式12をもたらす。
これは、電圧サンプルv2は完全な“1′電圧と完全な“0′電圧の間の中点値 付近にあるのだが、それが、キャパシタC2上に置かれるとき、出力電圧V、は 、トランジスタllaと11bとを通って起こるフィードバックに起因する指数 関数として変化するであろう、ということを記述している。そして、その指数関 数は、C2とC′とgwとgPとの関数である時定数72を有する。
時定数τ2は方程式13と14と15とを使用することによって簡略化すること ができる。方程式13は、Nチャネルトランジスタのトランスコンダクタンスは Pチャネルトランジスタのトランスコンダクタンスのおよそ2倍であることを記 述する。方程式14は寄生キャパシタC′は、3個のトランジスタ(トランジス タ10cおよびllaおよび11b)のゲート容量と、2個のトランジスタ(ト ランジスタ10aおよび10b)の出力接合容量とを足したものに等しいことを 記述する。同様に、方程式15は寄生キャパシタC2が3個のトランジスタ(ト ランジスタ10aおよび10bおよび10d)のゲート容量と2個のトランジス タ(トランジスタ11aおよび11b)の出力接合容量とに等しいことを記述す る。
方程式13と14と15とを方程式12に代入することは方程式16をもたらす 。それは、接合容量とNチャネルトランスコンダクタンスとの項で、時定数τ2 のだめの式を与える。方程式16を方程式7と比較して、方程式17が得られ、 それは時定数τ2は時定数τ1よりもずっと大きいことを示す。この結果は、第 8図中にグラフによって図示される。そこでは、曲線31はトランジスタ10c を通過するフィードバックループの過渡的な応答を示し、かつ、曲線32はトラ ンジスタllaとllbとを通過するフィードバックループの過渡的な応答を示 す。
開示された同期回路において第1に重要であるのは電圧V、が変化する速度であ る。特に同期装置を使用する外部回路における論理エラーを低減させるために、 “0″電圧レベルと“1′電圧レベルとの間に位置する中間電圧に電圧V、があ まり長く留まらないということが重大である。
比べてみると、“02電圧レベルと“12電圧レベルとの間の電圧v2によって 費やされた時間は、その電圧がどの外部回路にも行かないことから比較的重要で ない。
どのような同期装置の時定数τ、をもそのMTBF(平均故障間隔)と数学的に 関係させる方程式が第9図において方程式20として与えられる。この方程式は 、1985年にアディスンーウエスリ−(Add i s on −We s  1ey)によって発行されたグラーサはか(G 1 a s s e ret  al)によるrVLs1回路の設計と分析」 (”The Design an d Analysis 。
f VLSL C1rcuits”)と題する文献の361〜363頁より抽出 されたものである。方程式2oの中で、fcKlは、クロックCK、の周波数で あり、filは、信号V、における遷移の周波数であり、Δは入力信号が“0° と“1′との間に位置する中間電圧を通って遷移するのにかかる時間であり、T は、同期装置の入力端子上へ電圧サンプルを置くことと、同期装置出力電圧の外 部回路1こよる使用との間に起こる時間遅延であり、かつτ、は、その同期装置 の時定数である。
たとえば、fc K +−10MHz、f、、−10MI(z。
Δ−1ナノ秒、およびT−30ナノ秒と仮定する。これは、方程式21によって 記述される。そして、方程式21を方程式20に代入すると、方程式22が得ら れる。そこで残る碓−のパラメータは、同期装置時定数τ、である。
開示された同期装置において、第4図と第6図との2個のフィードバックループ は並列に動作する。結果的に、総括して開示された同期装置の時定数は個々の時 定数τ、と72との各々よりも小さくなるであろう。このことは方程式23によ って記述される。しかしながら、この分析を簡単にするために結合された時定数 はτ、に等しいにすぎないと仮定する。そして、方程式22に71を代入すると 、方程式24が得られる。
次に、方程式24において、パラメータgN とパラメータC1のための成る合 理的な値を仮定する。そのような値は方程式25によって与えられる。それらは 、1ミクロンのゲート長と16ミクロンのゲート幅とを有するトランジスタを表 わす。方程式25を方程式24に代入すると方程式26が得られ、そして、それ は、開示された同期装置のMTBFが20000年以上であるということを記述 する。
比較して、次に、各々の出力端子と入力端子とがループに接続される2個の反転 する論理ゲートからなるグラーサはかの同期装置の結果として生じるであろうM TBFを考える。そのような同期装置は第6図を振返って参照し、そこでトラン ジスタ10cと106とを除去し、トランジスタ10bのドレインを接地するこ とによって分析されることができる。
それら変形したもので、方程式10.11.12および13の分析のすべてが奏 だなお適用される。しかし、キャパシタC′は今度は第10図の方程式30とし て表示され、かつ、キャパシタC2は方程式31として表示されるであろう。方 程式30において、2個のゲート容量はトランジスタllaと11bとに起因し 、2個の接合キャパシタはトランジスタ10aと10bとに起因する。方程式1 3と同様方程式30と31を方程式12に代入すると方程式32が得られる。
次に、方程式32は方程式22に代入され、それによって2個のインバータから なる同期装置のλITBFの式を得ることができる。この結果は方程式33によ って得られる。
そして、方程式25によって与えられたようなgNと01の前の値は方程式33 に代入されることができる。これは、方程式34をもたらし、それは、2個のイ ンバータの同期装置のMTBFはわずか0.5年であることを記述する。
さらなる比較として、米国特許第3.953.744号に記載された同期装置を 考える。それは、(ちょうどグラーサほかによる同期装置のように)各々の出力 端子と入力端子がループ状に接続される2個の反転論理ゲートを含み、かつ、そ の上、シュミットトリガが含まれており、それは、その2個の反転論理ゲートに 同期されるべき入力信号を通過させる。これは特許第“744号の第1図に示さ れる。
次に、第°744号同期装置において、シュミットトリガの唯一の効果は、交差 結合された論理ゲートに送られる信号の立上がり時間および立下がり時間を短く するということである。換言すれば、シュミットトリガは単に、第8にすぎない 。第゛744号シュミットトリガは、交差結合された論理ゲートの時定数に影響 を及ぼすこともなく、そして、及ぼすこともできない、なぜなら、それは、それ らが形成するループの外側にあるからである。
開示された同期装置およびグラーサほかによる同期装置の上記分析において、Δ は、1ナノ秒に等しいと仮定された(方程式21参照)。シュミットトリガに1 ナノ秒の立上がり時間および立下がり時間でもって信号を送り込むことは、その 立上がり時間および立下がり時間がおよそ10〜0.1ナノ秒のファクタ分だけ 多くとも減少させられる出力信号を生じさせる。このように、特許第°744号 同期装置のMTBFは10〜5.0年の同じファクタ分だけ増加させられるにす ぎない。
この発明の好ましい実施例がこれで詳細に記述された。
しかし、さらに、発明の性質および精神を逸脱することなく、これらの詳細に対 し多くの変化や変更がなされることができる。たとえば第3図の実施例において 、シュミットトリガ10およびインバータ11はCMOS)ランジスタから作ら れる。しかし、代替物として、シュミットトリガ10およびインバータ11はバ イポーラトランジスタから、または、Nチャネルトランジスタのみから作られる こともできる。
第3図の実施例においても、2個のフィードバックループのための特定の回路配 置が修正されることができる。一般に、必要とされることは、電圧サンプルv2 が予め定められたレベル以下のとき、およびその逆の場合のときに、電圧サンプ ルv2を変化させることなく、第1のフィードバックループが急速に出力電圧V 、を上昇させるように動作すること、および第2のフィードバックループが出力 端子電圧に反比例して電圧サンプルv2を修正するように緩やかに動作すること 、のみである。好ましくは、第1ツイードバツクルーブの応答時定数が第2フイ ードバツクループの時定数より少なくとも20%小さい状態でそれらフィードバ ックループの両方が入力端子の電圧サンプルに指定関数的に応答する。また好ま しくは、時定数のこの差は、第1フイードバツクループの容量を第2フイードバ ツクループの容量より実質的に小さくすることによって達成される。
したがって、この発明は上記詳細に制限されているのでなく、添付の請求の範囲 によって規定されることが理解されるべきである。
ン 国際調査報告 国際調査報告 LIS 8902697 S^ 29909

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.デジタル入力信号をクロックで同期する回路であって、前記デジタル入力信 号が前記クロックに関し、非同期的に変化し、前記回路は、 インバータと結合したシュミットトリガを備え、前記シュミットトリガは抵抗器 を介して前記インバータ上の入力端子に結合される出力端子を有し、かつ前記イ ンバータは、前記シュミットトリが上の入力端子に直接結合される出力端子を有 し、 前記シュミットトリガの前記入力端子に結合される出力端子を有し、かつ、前記 クロックおよび前記入力信号をそれぞれ受ける2個の入力端子を有し、前記クロ ックに応答して前記入力信号のサンプルを前記シュミットトリが入力端子へ通す ためのトランジスタ手段を備え、前記シュミットトリガは前記インバータととも に前記サンプルで動作し、前記シュミットトリガの出力端子上に信号を発生させ 、この信号は、前記入力信号を表わし、かつ前記クロックと同期される、回路。
  2. 2.入力端子および出力端子を有するシュミットトリガと、 上記入力端子に結合され、クロックと入力信号とを同時に受け、前記クロックに 応答して、前記入力信号のサンプルを前記入力端子へ通すためのサンプリング手 段と、外部フィードバック経路として前記出力端子から前記入力端子に結合され る論理ゲートとを含み、かつ前記シュミットトリガは前記出力端子から前記シュ ミットトリガ内の接続点へ結合され、前記入力信号のサンプルに応答して、前記 外部フィードバックより速く前記出力端子上の電圧を切換えるための内部フィー ドバック手段を含む、同期装置。
  3. 3.前記シュミットトリガ出力端子が、抵抗器を介して、前記論理ゲート上の入 力端子に結合される、請求の範囲第2項記載の同期装置。
  4. 4.論理ゲート上の出力が、抵抗器を介して、前記シュミットトリガ入力端子に 結合される、請求の範囲第2項記載の同期装置。
  5. 5.電圧サンプルを受取るための入力端子を有し、かつ、前記入力端子上の電圧 に反比例する出力電圧を発生させるための出力端子を有する電圧増幅器手段と、 前記出力端子を前記増幅器の内部の制御手段に結合させる第1のフィードバック 手段とを備え、それによって前記第1フィードバック手段と前記制御手段はとも に第1の完全なループを形成し、かつ、前記出力端子を前記入力端子に結合して 第2の完全なループを形成する第2のフィードバック手段とをさらに備え、 前記第1のフィードバック手段は前記制御手段とともに前記第2のフィードバッ ク手段に比べ速い応答時間を有し、かつ、前記サンプルが予め定められたレベル 以下のとき、かつその逆の場合のときに、前記入力端子の上の前記電圧サンプル を変化させることなく、前記出力電圧を急速に上昇させるように動作し、かつ、 前記第2のフィードバック手段は前記出力端子電圧に反比例して前記入力端子の 上の前記電圧サンプルを緩やかに修正するように動作する、同期装置。
  6. 6.前記第1のフィードバック手段は、前記増幅器とともに形式K2EXPの前 記の予め定められたレベル付近の電圧サンプルに応答し、かつ、前記第2のフィ ードバック手段は、前記増幅器とともに、形式K2EXPの応答を有し、ここに K1とK2とτ1とτ2とが定数で、かつ、τ1は少なくともτ2より20%小 さい、請求の範囲第5項記載の同期装置。
  7. 7.前記制御手段は、前記第2のフィードバック手段からのフィードバック電圧 と同様に、前記入力端子上の前記電圧サンプルを受けるように結合されるゲート と、前記第1のフィードバック手段からの別のフィードバック電圧を受けるよう に結合されたドレインとを有する電界効果トランジスタを含む、請求の範囲第5 項記載の同期装置。
  8. 8.前記制御手段は、前記第2のフィードバック手段からのフィードバック電圧 と同様に、前記入力端子上の前記電圧サンプルを受けるように結合されたベース と、前記第1のフィードバック手段からの別のフィードバック電圧を受けるよう に結合されたエミッタとを有する、バイポーラトランジスタを含む、請求の範囲 第5項記載の同期装置。
  9. 9.前記第1のフィードバック手段が、前記増幅器とともに低容量の再生ループ を形成し、かつ、前記第2のフィードバック手段が、前記増幅器とともに高容量 の別の再生ループを形成する、請求の範囲第5項記載の同期装置。
  10. 10.前記増幅器が、前記第1のフィードバック手段とともにシュミットトリガ を含む、請求の範囲第5項記載の同期装置。
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