JPH03500577A - 回転物体の均一性測定改善装置及び方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 回転物体の均−性測定改善装置及び方法る技術に関する。より詳細には、本発明 はこのような測定の精度及び反復性を改善する装置及び方法に関する。

ずけるために使用されるある糧の測定全行うために使用される。これは、タイヤ 表面の選定位置におけるふれを測定するだけでなく荷重下でタイヤが表面に沿っ て転動する時に発生するさまざまな方向の反力の性質を測定することにより一部 達成される。

代表的なタイヤ均一性検査機では、テストは全自動で行われる。タイヤはコンベ アでテストステーションへ送られそこで各タイヤはチャック上にｗＬ直され、所 定の圧力で膨張されそのトレッド面をロードホイールの局面と強制的に接触させ ながら標準速度で回転駆動される。ロードホイールにはその関心ある方向に作用 するタイヤによる力を６１１Ｊ足するロードセルが装備されている。タイヤの各 回転は回転軸エンコーダにより一連の１２８個の公称等角間隔点へ分割される。

各点にお−て、各データサンプルがタイヤ上の特定位置に対応するようにロード セル及びふれ感知装置のアナログ出力がサンプルされる。次に、データサンプル は最大、最小もしくはピーク開力変動及びふれ等のさまざまな量の計算に使用さ れる。ここで使用する、１ビ一ク間′力変動もしくはふれという用語は振幅を決 定する最大及び最小点が互いに隣接しているかどうかに無関係に１回転にわたっ て生じる最大全力もしくは寸法振＠をいう。

発明の要約 このような測定における一つの重要な誤差の原因は被測定パラメータの瞬時値を 表わすアナログ波形はタイヤの回転ごとに精密には繰返されないことであること を発見した。しばしば、波形は時間と共にある数学関数に従って変動する。比較 的少一回転につ騒て見た場合この関数はほぼ線型であることが多いが、多数の回 転について見た場合には指数関数に見えることがある。タイヤ自体の実際の均一 性はこのような変動に対してそれほど敏感ではないため、この現象は測定誤差を 表わすものと考へなげればならない。

この誤差はテスト条件の小さいがＸ要な変化によるものと考えられる。一つの可 能性はタイヤの自己加熱、転動摩擦もしくは外部理化等の熱効果によりタイヤの 膨張圧やタイヤサイズもしくはその両者が熱膨張により変化することである。し かしながら、この種の測定誤差を有効に補償する本発明の能力はなぜ誤差が生じ るかを知ることに依存しない。

本発明が対処する別の種類の誤差は、デジタルサンプリング技術を使用する時に アナログ波形の最大、最小及びピーク間の値を正確に決定する問題に関連してい る。パラメータのピーク開催を最大及び最小データサンプル値間の差として近似 することはタイヤ均一性テストにおいて広〈実施されている。この技術は重大な 誤差を生じる。

アナログ波形の極大及び極小値がどこで生じるかを前もって決定する方法がない ため、正確にこれらの点でデータサンプルを取ることを保証できない。通常、デ ータサンプルはこれらの極大及び極小値のいずれかの側に来る。従って、計算さ れるピーク開催はほとんど常に実際値よりも小さい。

理論上、７一リエ分析を使用して後者の誤差を克服することができる。公知のナ イキスト理論に従い、ＡＣ成分を有する波形に対して、サンプリングレートは存 在する最高周波数成分の少くとも２倍でなければならない。この条件が満される と、フーリエ分析及び正確に決定された最大、最小もしくはピーク開催を使用し て元の波形を再構成することができる。しかしながら、この方法は複雑でありテ スト装置のデータ処理能力を効率的に使用することができない。

この問題を克服するもう一つの方法はオーバサンプリングに頼ることである。す なわち、ナイキストレートを充分上層るレートでサンプリングを行って、各極大 及び極小値そのものではなくともそれに非常に近因サンプルを取って誤差を小さ く維持することである。

さらに多くのサンプルを取って記憶しいずれが最大でいずれが最小かを決定する 必要があるため、この方法もシステムコンビエータに過度の負荷を加える。また 、軸エンコーダの最大分解能により最大サンプリングレート従って本方法の有効 性が制限される。

従って、繰返し連続的なもしくはサンプルされるデータフィールド内の非反復性 成分を補償することによりタイヤ等の物体の均一性測定値の精度及び反復性を改 善する装置及び方法を提供することが本発明の目的である。

サンプルされた波形の最大、最小及びピーク間借を迅速且つ正確に近似すること によりタイヤ等の物体の均一性測定値の精度及び反復性を改善する、計算が効率 的でオーバサンプリングに依存しない装置及び方法を提供することが本発明のも う一つの目的である。

タイヤ等の均一性と相関するパラメータを表わすデータフィールド内の非反復性 成分を補償し且つサンプルされた波形の最大、最小及びピーク間借を正確に近似 することにより、タイヤ等の物体の均一性測定値の精度及び反復性を改善する、 計算が効率的でオーバサンプリングに依存しない装置及び方法を提供することが 本発明のさらにもう一つの目的である。

本発明の第一の局面に従って、タイヤ等の均一性測定値の精度を改善する装置及 び方法が提供され＼それによって関心のあるパラメータを表わすアナログ波形が 、各々がタイヤの所与の回転位置と相関している複数、Ｒ１−の点でサンプルさ れる。Ｎ点の中の一点、好ましくは一連の点の中の第１の点、が２度サンダルさ れ、第１及び第２のサンプリング間の差りが計算される。この差、Ｄｌは１回転 にわたって生じる非反復性成分の総量を表わす。次に、所定の数学関数に従って 一連のＮ個のサンプルの各々に対して総量りの小数が計算査れ、データフィール ドから非反復性成分を除々するために各サンプルに割当てられる小数がそこから 減じられる。最も単純な形式において、数学関数は各データサンプルからＤのｌ Ａが減じられるような線型関数である。しかしながら所望により、指数関数等の 他の関数を使用することもできる。

本発明の第２の局面により、サンプルされたデータに基いて波形の最大、最小及 びピーク間借を迅速且つ正確に近似する装置及び方法が提供される。本発明に従 って、サンプルされるデータの極大及び極小点が選定される。波形の最大もしく は最小近似値はこの点とそれにすぐ隣接する２つのサンプル点間に多項式関数を 適合し、その臨界点においてこの関数の大きさを解くことにより決定される。こ こで使用する１臨界点′とｂう用語は関数の１次導関数がゼロになる点である。

多項式関数の次数は所望の精度に従って選定され、特定応用により要求される場 合には高次の関数により長連の所与のサンプルにわたって最大及び最小値が前記 の方法で近似されその差が計算される。タイヤ、ホイール等のテストにおいて、 テスト中の物理的物体の少くとも１回の全回転を表わす一連の所望サンプルが選 定される。効率的な計算法により、精度及び反復性が著しく増大する。例えば、 多項式関数が２次関数であるここに記載する一実施例にお−て、各最大もしくは 最小近似値は一つの乗算もしくは除算のみにより計算される。

本発明のさらにもう一つの局面に従って、本発明の第１及び第２の局面を互いに 関連して使用して最良の全体測定精度及び反復性が提供される。これを行う場合 、第１の局面の方法を最初に実施してデータフィールドから非反復成分を除去す る。その後、サンプルされたままのデータフィールドではなく修正されたデータ フィールドから開始して、本発明の第２の局面が適用される。

同業者であれば、添付図に関連した本発明の以下の詳細説明を読めば本発明の他 の目的及び利点及びさまざまな局面の特徴が自ずから明らかになるものと思われ る。

図面の簡単な説明 第１図はタイヤ均一性検査機の略部分側面図及び本発明の実施例を示す略ブロッ ク図、 第２図は本発明に従って処理される代表的波形を示す図である。

発明の詳細説明 第１図に示すように、本発明を実施したタイヤ均一性検査機１０は被検査タイヤ １４をテストステーション１５へ送る複数個のローラ１３を有するコンベア１２ を支持するフレーム１１を含んでいる。コンベア１２はタイヤの落下を防止する のに充分小さく且つ垂直に引込可能な下部タイヤ＠２２上に回転可能に載置され た下部半チャック２１を通すのに充分大きな開口２０を含んでいる。上部半チャ ック２５は上部タイヤ軸２６により７レーム１１の上部に回転可能に載置されて いる。上部半チャック２５は下部半チャック２１０反対側に配置されており、上 下チャック２Ｌ　２５は協働して下部半チャック２１が図示する延長位置にある 時にテスト中のタイヤ１４を支持するリムとして機能する。上部タイヤ軸２６は 下部半チャンク２５内のオリフィス２９と連絡されてタイヤ１４ｔ−所定のテス ト圧へ膨張させることができる軸方向空気径路２８を含んでいる。

タイヤ１４を所望のテスト速度で回転させるために、上部タイヤ軸２６にはタイ ミングベルト３７によりモ−タ３６を駆動するよ５に接続された駆動プーリ３５ が嵌合されている。回転軸エンコーダ４０が上部タイヤ軸２６従ってタイヤ１４ と同期回転するようにチェーン３８及びスプロケット３９もしくはベルト及びプ ーリにより接続されている。軸エンコーダ４０は公称上等角間隔の１２８個の一 連の回転パスス４２を線４３上に発生し、各回転パルス４２が位置基準パルス４ ５に関するその位置に従って識別することのできるタイヤ１４の特定回転位置を 指定する。

周面５１を有するロードホイール５０がロードホイール軸５２により支持されて 、テスト中のタイヤ１４の軸に平行な軸の周りを自由に回転する。次に、ロード ホイール軸５２は一つもしくはい（つかの方法５６によりタイヤ１４に対して半 径方向に移動可能にフレーム１１へ滑動可能に固定されたキャリッジ５５により 支持され、所望の平均半径方向荷Ｘをタイヤ１４に加えて測定データを取る前に 標準テスト状態を確立することができる。キャリッジ５５がタイヤ１４に対して ロードホイール５０を半径方向内向き（第１図において左へ）に付勢すると、タ イヤ１４の半径方向荷重が増大する。同様に、キャリッジ５５を半径方向外向き （第１図において右へ）に移動させると、タイヤ１４の半径方向力が低減する。

キャリッジ５５はフレーム１１に固定された直流可逆モータ５８により半径方向 前後に移動される。モータ５８はギアボックス５９を駆動し、その出力によりチ ェーン及びスプロケットリフケージ６０カー駆動されて（図示せぬ）雌ねじのみ のボールスクリュー回転を行５゜キャリッジ５５に固定されたスクリュー軸６２ は雌ねじ内に受容さ瓢雌ねじの回転時にキャリッジ５５を半径方向に連通させる 。タイヤ１４上に所望の平均半径方向荷重を確立するだめの好ましい装置及び方 法が、参照としてその全体をここに明白に組入れた、１９８６年８月１９日付米 国特許出願第０６／８９７，９２４号に詳記されてしる。

ロードホイール５０には一対の歪計ロードセル６４が装備され、その一方が各ロ ードホイール軸５２上に載置すれている。ロードセル６４は互に並列配線さねテ スト中のタイヤ１４によりロードホイール５０へ伝達される半径方向瞬時力と相 関するアナログ半径方向力信号ｆ（ｔ）を線６６ａ上に発生する。

第１図に示すように、半径方向力アナログ信号ｆ（ｔ）はタイヤ均一性検査機１ ０に関連する複数の並列アナログ入力チャネルの中の一つであり増幅器６８ａ１ フイルタ７０ａ及びＡ／Ｄ変換器７２ａを含むＡチャネルへ入力される。

−くつかのパラメータを実質的に同時に測定するために、機械１０はまた関心の ある他のパラメータを表わす他のいくつかのアナログ入力も発生する。これら他 の入力の各々は第１図に任意に符号Ｂ−Ｘで示す複数のアナログ入力チャネルの 中の類似の１チヤネルにより処理される。例えば、タイヤ均一性検査機にお因て 、信号、ｆ（ｔ）で示される半径方向力の変動の他に、横方向及び接線方向の力 を感知するような向きとされている点を除けばロードセル６４の場合と同様にロ ードホイール５０に載置された（図示せぬ）他の２対のロードセルを使用して、 横方向及び接線方向の力の変動も感知される。また、タイヤ１４の表面に沿った さまざまな軌跡（２つの横方向及び６つの半径方向）におけるふれを示す５チヤ ンネルも使用される。従って、合計８チヤンネルが一般的にタイヤ均一性機械で 使用されるが、特定応用の要求に従ってそれよりも多いもしくは少いチャネルを 使用することもできる。アナログふれ信号は公知の適切な接触もしくは非接触測 距装置により引出される。Ａチャネルは本発明に関する他の各チャネルを代表す るため、このチャンネルを説明することにより不要な繰返しを避ける。

Ａチャネルにおいて、アナログ力信号ｆ（ｔ）は公知の方法による任意所望の利 得、校正もしくはオフセット調整だけでなく分離も行う計装増幅器６Ｂ＆へ憩６ ６ａを介して運ばれる。増幅器６８ａのアナログ出力は線６９ａｔ介してフィル タ７０ａへ接続される。フィルタ７０ａは好ましくは１６Ｈｚにその３　ｄＢダ ウン点を有スルローパス、３極、バターワースアクティブフィルタである。フィ ルタ７０の通過帯域は線６６ａ上のアナログ入力信号の性質に従って、有意情報 を含む周波数成分だけを通すように経験的に決定される。例えば、半径方向力の 変動に関して、１６Ｈｚｋ越える有意信号は殆んど無−ことが判っている。従っ て、Ａチャネルの通過帯域はこの値よりも低い周波数に制限するコトカできる。

フィルタ７０ａのアナログ出力は、好マシ＜は１台のマイクロコンピュータ７５ 内に含まれる複数個のＡ、／’Ｄ変換器の中の１個である、アナログデジタル変 換器（Ａ／”　）　７２　ａへ線７１を介して接続される。好ましくは、マイク ロコンピュータ７５は３２のアナログ人力チャネルを有するインテル８８／４０ シングルボード、１６ビツトマイクロコンピユータであり、複数個のＡρ変換器 ７２の他に、１６ビツト中央処理ユニツ）（ＣＰＵ）７７、双方向データバス７ ９、及びデータメモリ８０を含んで因る。さらに、ＣＰＵ７Ｑは後記するように プログラムされた持久ゾログラムメモリ、タイムベース、入出力（Ｉｌｏ　）デ バイス、アドレスバス等（図示せず）の適切な動作に必要な他の全ての要素を含 んでいる。また、回転軸エンコーダ４０から出される回転パルス信号４２も線４ ３ｔ−介してＣＰＵ７７のアナログ入力ボートに接続される。マイクロコンピュ ータ７５はまた、適切な出力ポート８２を介してＣＲＴ等のディスプレイ装置８ ３に接続されている。

動作上、ロードホイール５０を搭載するキャリッジ５５が最初に引込められる。

被検査タイヤ１４がコンベア１２によりテストステーション１５へ運ばれる。

次に、下半チャック２１が伸長してタイヤ１４をテストステーションへ持ち上げ 、タイヤ１４は下半チャック２１と回転する上半チャック２５との間にクランプ される。軸方向空気径路２８及びオリフィス２９を介して圧力の元で空気を流す ことにより、タイヤ１４は所望のテスト圧まで膨張される。好ましくは交流同期 モータもしくは交流サーボモータである、駆動モータ３６により、タイヤ１４は ６Ｑ　Ｒ，Ｐ、Ｍ、の公称定テスト速度で回転される。次に、キャリッジ５５は 線１４に向って半径方向内向きに駆動され、前記米国特許出願第０６／８９７， ９２４号に記載された方法でタイヤ上の平均半径方向荷重は所望値に確立される 。

前記したように、タイヤ１４の各回転に対して、軸エンコーダ４０は１２８個の 公称等角間隔回転パルス４２を発生する。エンコーダ４０の回転はタイヤ１４０ 回転と同期化されるため、各回転パルス４２の立上り縁はタイヤ１４上の特定角 位置を表わす。ＣＰＵ　７７とＡργ２ａは協働して１７１ａ上の濾波されたア ナログ信号を各回転パルス４２の立上り緑においてデジタルにサンプルし、その 点におけるアナログ波形の値がデジタルデータサンプルに変換されるようにする 。

１３０個のこれらのデータサンプルからなるデータフィールドがＣＰＵ　７７に よりデータメモリ８０内に連続アレイとして記憶される。

メモリ８０内に記憶されたデータフィールドはファーストイン／ファーストアラ ）　（Ｉ’工ＦＯ）ベースで各人データサンプルにより連続的に更新され、デー タフィールドがタイヤ１４の少くとも最終完全回転を表わすようにする。説明の 都合上、これらのサンプルをデータサンプル１〜１２８と呼ぶことができる。こ れら１２８個の他に、メモリ８０内には１最初の“サンプルにすぐ先行するデー タサンプルも記憶される。このサンプルは′０番′サンプルと呼ばれる００番サ ンプルはタイヤ１４のすぐ先行する回転中に取り出される点を除けば、１２８番 サンプルと同様なタイヤ１４の角付ｆＩｉを表わすことをお判り願いたい。後記 するように、データフィールドの非反復成分が有効にキャンセルされる本発明の 第１の局面は、タイヤ上の少くとも１点を異なる回転中に２回測定することを必 要とする。

従って、０番サンプルが必要となる。

０番サンプルは本発明の第２の局面にとっても必要であり、それは後記するよう に、好ましくは１回転に対応する各データサンプルが先行及び後続サンプルを有 することを必要とする。０番サンプルは第１のサンプルの先行サンプルとして働 く。１２８番サンプルに後続サンプルを提供するために、ＣＰＵ　７７は１２９ 番サンプルも記憶する。これは、タイヤ１４の完全な１回転に対応する１２８個 のサンプルの最大もしくは最小サンプルがたまたま最初もしくは１２８番サンプ ルとなる場合であることをお判り願−たい。本発明の両局面が実施される好まし い場合におりで、データメモリ８０内に記憶されるデータフィールドは、タイヤ １４の完全な１回転プラスさらに２つのサンプルを表わす、最近取り出された１ ３０個のサンプルからなつＲＲＡＤ　ＷＡＶＥＦＯＲＭとｂう名称のソフトウェ アサブルーチンが付録に記載されている。このサブルーチンはエンコーダ４０か ら出され線４３ｔ−介してｃｐｔｙ　７７のアナログ入力の一つに現れる回転パ ルス４２の立上り緑において、φ変換器７２ａから１３０個のデータサンプルを サンプルして記憶するためにＣＰＵ　７７　’ｉプログラムする命令の詳細を示 す。

次に、図示する波形がデータサンプリングを行う前のロードセル６４のアナログ 出力を表わす第２図を参照として、本発明の第１の局面をさらに理解することが できる。この波形はタイヤ１４０１回転から次の回転までの周期関数として繰返 され、タイヤ１４の所与の回転位置に対する測定値は引続く回転に対して殆んど 同じであると思われるかも知れない。しかしながら、アナログ波形、従ってサン プルされたデータフィールドは第２図に示すように少くともテストシーケンスの 持続時間にわたってほぼＭ型である数学関数に従って後続する回転にわたって上 昇することが判った。最初に測定される完全な回転に対するピーク間値はｖｌの 値であり、タイヤ１４上の異なる回転位置から測定されるそれに続く完全な１回 転に対しては、幾分大きな値、ｖ２となる。本発明のこの局面に従って、前記し た方法でアナログ波形をサンプルした後、ＣＰＵ７７はタイヤ１４の引続く回転 間で生じる非反復成分すなわち誤差の総量を決定する。一度決定されると、１回 転当り総誤差は波形を変化させる観察された数学関数に従いその回転に応じて記 憶された各データサンプル間で配分される。

ここに記載する実施例において、これはサンプルされたデータフィールドのサン プル＃１２８からサンプル＃０を減じて行われる。これらのデータサンプルは共 に、タイヤ１４の１回転だけ離れて測定される点を除けば、ロードホイール５０ の表面５１に関してテスト中のタイヤ１４の同じ回転位置に対応することを思い 出していただきたい。従って、これら２つのサンプル間の差、Ｄは回転ごとに生 じる非反復成分による総誤差を表わす。

！１Ｊ７１ａ上に生じるアナログ波形はテストシーケンスにわたって線型に上昇 することが観察されているため、総誤差りは各サンプルに線型に配分されそこか ら減じられて修正されたデータフィールドを生じる。すなわち、Ｎがサンプル数 に対応する、総誤差りのＶ１２８に等しい量がサンプルされたままのデータフィ ールド内の各データ点から減じられて修正されたデータフイ−ルドを生じる。す なわち、各サンプルに対して総量りが１２８番サンプルから減じられＤの１２７ ／１２８が１２７番サンプルから減じられ、以下同様にしてＤの１／１２８が最 初のサンプＡから減じられるようにする。こうして発生される修正データフィー ルドはメモリ８０内に記憶されてさらに処理される。付録に示すサブルーチンＣ ＬＯ８Ｅ　ＷＡＶＥＦＯＲＭはこれらのステップを実施するようにＣＰＵ　７γ をプログラムする命令を示す。

特定の測定プロセスで観察される＃ｉｌ型上昇関数を参照として本発明を説明し てきたが、同業者であれば本発明がそれに制約されないことがお判りと思う。本 発明のこの局面は、さもなくば一般的に周期的である波形が線型である必要のな いある種の数学関数に従って少くともおおむね上昇もしくは降下するように観察 される他の測定プロセスに応用することができる。例えば、指数関数等の他の時 間に関する数学関数に従ってアナログ波形がおおむね上昇して観察される場合、 その関数は各サンプルから減じて修正データフィールドを生じる総誤差の小数を 決定するのに使用される。

本発明の第２の局面に従って、前記したように引出される修正データフィールド 等のサンプルされたデータフィールドの最大、最小及び／もしくはピーク間値は 通常データテンプルがアナログ波形の正確な極大及び極小値におりて取り出され ることはないという事実を償うために近似される。一般的に、これはデータフィ ールドの極大もしくは極小にすぐ先行もしくは後続するデータサンプルを少くと も２次の多項式関数に適合させて行われる。多項式はその最高臨界点に対して解 かれ、次に元の波形のほぼ真の臨界点として使用することができる。

多項式の次数は少くとも２で所望の精度を与えるのに必要なだけ高く選定され、 同時に所要計算量を低減し従って本方法の実施速度を高めるには、多項式の次数 はなるべく低く維持しなければならない。前記したタイプのタイヤテストに対し て、一般的に２次式と呼ばれる２次多項式関数が適切であることが判った。従っ て、ここでの説明には２次式を使用する。

２次式は一般的に次のような形式である。

１式　Ｙ　＝　ＡＸ２＋ＢＸ　十Ｃ 好ましくは、選定する多項式は偶次数であり、極太もしくは極小点及びそれに先 行もしくは後続する同数のデータサンプル点を使用するようにする。タイヤ１４ の完全な１回転を表わす一連のサンプルの最初のサンプルに先行し最後のサンプ ルに後続して取り出されるデータサンプルの総数は、サンプルされたままの最大 もしくは最小データ点がたまたま１番もしくは１２８番サンプルである場合にそ れぞれ本方法を実施するのに充分な数の先行及び後続サンプルがあることを保証 するのに充分なものでなければならない。前記したように、２次多項式関数に対 しては、１３０個の総データサンプルに対して１個の先行及び後続サンプルで充 分である。例えば４次多項式に対しては、計１３２個のサンプルが必要であり、 タイヤ１４の完全な１回転を表わす１２８個のサンプルセットの最初及び最後の データサンプルにそれぞれすぐ先行する２つのサンプルとすぐ後続する２つのサ ンプルが、含まれる。

適切な次数の多項式が選定されると、サンプルされた極大もしくは極小データ点 及びこの点にすぐ先行もしくは後続する一つ以上の点を表わす変数及びこれらの サンプルが取り出される各時間が多項式の一式的形式を表わす式へ代入されて、 多項式の次数よりも一つ多い数の１組の式が得られる。もう一度、２次式を使用 した例に戻って、次のことが判る。

２式　Ｒ−Ｙ　ここに、Ｘ諧０はフィールドＸ＝Ｑ　の（最大値を近似する際の ） 最大もしくは（最小値を近似 する際の）ｉ＆小データサンプ ル只の位置、 ３式　Ｐ−Ｙ　ここに、Ｘ＝−１はＲにすぐｘ＝−１先行するデータサンプルＰ の 位置、 ４式　Ｓ−Ｙ　ここに、ｘ＝＋１はＲにすぐｘ＝＋１　後続するデータサンプル Ｓの位置、 この一連の等式は次のように代入されたデータサンプルにより一般的形式の多項 式（１式）の係数を解くのに使用される。

２式を１式に代入すると、 ５式　Ｃ千Ｒ（ｘ＝Ｑにおいて） ３式を１式に代入すると、 ６式　Ａ−Ｂ＋Ｃ＝Ｐ　（Ｘ＝−１において）４式を１式に代入すると、 ７式　Ａ＋Ｂ＋Ｃ＝Ｓ　（Ｘ＝＋ｉにおいて）７式を６式に代入すると、 ８式　−２Ｂ＝Ｐ−８ Ｂについて解くと、 ９式　Ｂ＝（Ｓ−Ｐ）／２ ９式を７式に代入し、Ａについて解くと、１０式　Ａ−（Ｐ−２Ｒ＋Ｓ）／２ 次に、１次導関数をめてその値を０に設定することにより多項式の臨界点が決定 される。１式の１次導関数をめて０に設定すると、 １１式　２ＡＩ＋Ｂ−０ これをＸについて解くと、 １２式　！−−Ｂ／２Ａ １２式を１式に代入して簡単化すると、１６式　Ｙ−Ａ（−Ｂ／２Ａ）　２十Ｂ （−Ｂ／２Ａ）＋０１４式　Ｙ繻Ｂ２／４Ａ−Ｂ２／２Ａ＋Ｃ１５式　ＹオＣＢ ２／４Ａ 次に、多項式をその導関数が０となる点において評価することにより、近似され た最大もしくは最小値に対する等式が決定される。

Ｙ−Ｖに設定し、（ここにＶは臨界点における２次式の値）５．９．１０式を１ ３式へ代入する。

１６式　ｖ−ｕ−（（Ｓ−Ｐ）／２）　２／４Ｃ（Ｐ−２１＋Ｓ）／２）１７式 　Ｖ−Ｒ−［：（Ｓ−Ｐ）２／８（Ｐ−２Ｒ＋８）：１次式に注目し、 １８式　（＋９−Ｐ）　２−（Ｐ−８）　２１８式を１７式へ代入すると、 １９式　Ｖ−Ｒ＋［（Ｐ＋Ｓ）　２／８　（２Ｒ−Ｐ−８）　）こうして、１９ 式は最大もしくは最小データサンプルＲ及びそれにすぐ先行もしくは後続するサ ンプルＰ、Ｓで示す２次式の臨界点における値ｖ′に表わす。

タイヤ１４の１回転にわたって測定される力信号６５等のアナログ波形の近似最 大値をより正確に決定するために、ＣＰＵ　７７はメモリ８０内に記憶されたデ ータフィールドから最大データサンプルを見つケ出ス。

この値は１８式のＲに代入され、メモリ８０からのすぐ先行及び後続するデータ サンプルがそれぞれＰ及びＳに代入される。次に、１８式が解かれ値Ｖが近似最 大値として使用され、それは後記する方法でディスプレイ８３により表示される かもしくは後のピーク間借の計算のために記憶される。２次よりも高次の多項式 の場合には、１９式と類似の複数の等式が得られる。

その場合には、適切なデータサンプル値がこのような各等式に代入され、次にそ れが解かれる。太きが最大の解答が選定され近似最大値として使用される。デー タフィールド内の最小データサンプルがＲに代入さねそれに先行及び後続するサ ンプルがそれぞれＰ及びＳに代入される点を除けば、近似最小値も同様に決定さ れる。

近似ピーク開催をより正確に決定するために、近似最小及び近似最大値が前記し た方法で決定され、前者が後者から減じられる。次に、計算された最大、最小も しくはピーク間借をＣＰＵ　７７の出力ボート８２へｒ−トシて人間が知覚でき る形式でディプレイ８３により表示し且つ／もしくはこれらの−２以上のパラメ ータの測定値に従って測定値を所定の許容眼界と比較することによりタイヤの自 動等級付けもしくは選別に使用することができる。

次の付録に示すコンピュータプログラムは、ここに記載した本発明の一実施例を 実施するために第１図のＣＰｏ　７７１にプログラミングすることができるソフ トウェア命令を示す。プログラムはインテル８０８６／　８０８８アセンブリ語 で記載されており、本開示を照らし合せてみれば、このプログラミング語になじ みがあり本技術の通常の技能を有する人であれば理解可能と思われる。

ＰＥＲＦＯＲＭ　ＡＮＡＬＹＳ工Ｓという名称の主ルーチンはさまざまなサブル ーチンを呼び出して、これらのサブルーチンが要求する呼出前提条件にレジスタ を初期化する。

また、ＣＯＭＰＵＴＥ　Ｍ工ＮＭＡＸサブルーチンから得られる近似最大及び最 小値から近似ピーク開催も計算される。

前記したように、ＲＥＡＤ　ＷＡＶＥＦＯＲＭサブルーチンはエンコーダパルス ４２の立上り緑において〜角変換器７２から１３０個のデータサンプル点を読み 取つ、て、それらをメモリ８０内に記憶する。

サブｋ　−ｆ　ンＣＬＯ８ＲＷＡＶＥＦＯＲＭは本発明の第１の局面に従って作 動して、ＲＩＩＡＤ　ＷＡＶＥＦＯＲＭサブルーチンにより記憶されるサンプル されたままのデータフィールドから非反復誤差成分を実質的に除去する。

ＦＩＮＤ　ＭＡＩ　ＬＯＣサブルーチンはそこに記憶されたデータフィールドの 最大値データサンプルを含むａ１アレイ内のアドレスヲ捜し出し、ＦＩＮＤ　Ｍ ＩＮ　ＬＯＣサブルーチンは記憶されたデータフィールド内の最小値データサン プルを見つげ出す。

ＣＯＭＰＵＴＥ　Ｍ工ＮＭＡＸサブルーチンは多項式関数を使用して本発明の第 ２の局面に従って作動して、サンプルされたデータに基すき尤の波形のより正確 な近似最大もしくは最小値を計算する。少くとも２次の任意の多項式関数を使用 することができるが、図示するソフトウェアは２次関数を使用する。

付録 このルーチンはサブルーチンを呼び出し、サブルーチンが要求する呼出前提条件 にレジスタを初期化する。

ＰＥＲＦＯＲＭ　ＡＮＡＬＹＳ工Ｓ ｍｏｖ　Ｓｉ　ｏｆｆｓｅｔ　ａｉ　データバッファのアドレスをレジスタＳエ ヘ入れる。

ｃａｌｌ　ＲＥＡＤ　ＷＡＶＥＦＯＲＭ　波形をデータバッファへ読み込む。

ｍｏｖ　Ｓｉ、　ｏｆｆｓｅｔ　ａｉ　データバッファのアドレスをレジスタＳ 工へ戻す。

ｃａｌｌ　ＣＬＯ８Ｅ　ＷＡＶＥＦＯＲＭクロージャアルゴリズムを実施する。

リターン時に波形は クロージャエラーに対して修 正されており、後記するよう にハーモニック分析やピーク 分析に使用できる。

ｍｏｖ　Ｓｉ、　ｏｆｆｓｅｔ　ａｉ　データバッファのアｆレスをレジスタＳ 工に戻す。

ｃａｌｌ　Ｆ工ＮＤＭ工ＮＬＯＣ最小値のアドレスを見つける。

ｃａｌｌ　ＣＯＭＰＵＴＥ　Ｍ工凋■　修正値を児つげるアルゴリズムを実施す る。

ｍｏｖ　ＭＩＮ　ＶＡＬＵＥ、　ＡＩ　修正された最小値を記憶する。

ｃａｌｌ　ＦＩＮＤ　ＭＡＸＬＯＧ　最大値のアドレスを見つける。

ｃａｌｌＣＯＭＰＵＴＩＣＭＩＮＭ■　修正値を見つけるアルゴリズムを実施す る。

ｍＯＶ　ＭＡＸ　ＶＡＬＵＩＣ，ＡＩ　修正された最大値を記憶する。

ｓｕｂ　ａｘ、　ＭＩＮ　ＶＡＬＵＥ　ピーク間借を計算する。

ｍｏｖ　ＰＥＡＸ　ｔｏ　ＰＥＡＫ、　ＥＬＸ　ピーク間値をメモリ内に記憶す る。

ｒθｔｃａｌｌｅｒ　ヘ戻る。

このサブルーチンはエンコーダの立上り緑においてＡ／１）変換器から１３［］ 点を読み取る。詳細仕様は−・−ドウエア環境により異るーこのフジグメントは インテル８８／４０ボード上に組み込まれたＡカ変換器に作用する。１回転デー タは１２８点を表わすが、アルゴリズムの要求により１２８点の各々に先行及び 後続があることを保証するために余分な先行点及び後続点が取り出される。

サブルーチンはレジスタＳＩ内のデータのアドレスを予期する。

ＲＥＡＤ　ＷＡＶＫＦＯＲＭ ｍＯＶ　ｂｌ、　１３０　１２８点プラス２点を取り出す。

ｂ１０１０ ｉｎａｌ、エンコーダ　エンコーダ状ｕｔｉる。

ｓｈｒ　ａＬ　１　テスト ｊｃ　１ｂ１０１０　ローとなるまで待つ。

ｉｎ　ａｉ、エンコーダ　エンコーダ状ｕ’ｔ−ａる。

ｓｈｒ　ａｉｒ　１　テスト ｊ（！　１ｂ１０２０　）・イとなるまで待つ。

（先縁を検出する） ＸＯｒａＸ、ａＸ例 ０チヤネルに対してセントス る。

ｏｕｔ　ａ２ｄ、　ａｉ　チャネル上の変換開始１　ｂ１０３０ ｉｎａｉ、ａｘ　Ｖ″Ｄから状態を読み取る。

ｓｈｒ　ａｉ、　１ＥＯＣピントをキャリーにシフトする。

ｊｃ　１ｂ１０３０　Ｅｏｃでなければ、テストｔｉける。

ｉｎ　ＩＬｘ、　ａ２ｄ　結果データを得るｍｏｖ　ｃｉ、　４ θａｒ　ａｘ、　ｃｉ　右ヘシフトして値を一致させる。

ｘｏｒ　ａｈ、　Ｑｆ３ｈ　ゼロカウントが０ボルトとなるように符号ビットを フリッ プする。

ｎｏｖ　（Ｓｉ）、　ｈｘ　ａｉアレイに記憶する。

ｉｎｃ　５ｉ ｉｎｃ　Ｓｌ　次のエントリ点へ調整する。

ｅｃ　ｂｌ ｊｎｚ　１ｂ１０１０　１３０点を取り出すまでループする。

ｒｅｔ　ｃａｌｌｅｒへ戻る。

このサブルーチンは前のステップで取り出した波形から非反復成分を除去する。

エントリされると、レジスタＳ工は１回転データ（１２８点ンプラス２を表わｔ １３０個の２バイト整数値バツフアのアドレスを含むものとする。

速度に関しては、クロージャエラーは±１２７　Ａ／Ｄカウントを越えないもの と仮定する。ルーチンは８ビツト小数部及び８ピット整数部を有する固定点２進 小数を使用する。レジスタＤＩ及びＤ工に含まれる数は共にこのフォーマットで 使用される。

ＣＬＯ８ＥＷＡＶＩＩＣＦＯＲＭ ｍｏｖ　ｃｘ、　１３０　１３０点を処理する。

ｍｏｖ　ａｉ、　（”１）（２５６１）　１２８点を得る。

ｓｕｂ　ｄｉ、　（８１３０点を減じる。

レジスタフ工は１回転当りり θｈ１ａｉ、１２進小数フォーマットｔ″２倍にして想定する（２５６によ る除算を表わす）。

レジスタフ工は１２８番回転 当’）クロージャニジ−を含む ことになる。

ｍｏｖ　ｄｙ−１１２８半ラウンドに対してシンニングクロージャサムを°０． ５°に 初期化する。

ｉ　ｂｉ　ｉ　ｉ　。

ａｄｄ　ｄｘ、　ｄｉ　シンニングクロージャサムを更新する。

ｍｏｖ　ａＬ　ｄｈ　ランニングクロージャの整数部を得る。

ｃｂｗ　符号を１６ビントに拡張 ｓｕｂ　（Ｓｉ）、　ａＸ　波形データを修正する。

’ｉｎｃ　５ｉ ｉｎｃ　Ｓｉ　次の値を指示する。

１００１）　１ｂｉｉｉｏ　全データを修正するまでループする。

ｒａｔ　ｃａｌｌｅｒ　ヘ戻る。

このサブルーチンはプレイの最小値を含むａ１アレイ内のアドレスを捜し出す。

サブルーチンはレジスタＳＩ内の７レイの開始アドレスを予期し、最大値を含む アドレスをレジスタＳ工へ戻す。

Ｆ工ＮＤ　Ｍ工ＮＬＯＯＰ ａｄ＋ｉ　Ｓｉ、　２　アレイの第２のエントリを指示する。

ｍｏｖ　ｄｉ、　Ｓｉ　最小値位値を初期化する。

ｍｏｖ　！ＬＸ＋　（Ｓｉ）　最小値を初期化する。

ｍｏｖ　ｃｘ、　１２７　最初の点の後の１２７点をテストする（１回転）。

１　ｂｌ　３１０ ｉｎｃ　Ｓｉ ｉｎｃ　Ｓｌ　次のエントリを指示する。

ｃｍｐ　［Ｓｉ）＋　ｔｈｘ　Ａを最小値と比較する。

ｊａｅ　１　ｂｌ　３２０　最小値より下（もしくは等しい） 次の点を試す。

ｍｏｖ　ａｌ、　ｓｓ　最小値位置を更新する。

ｍｏｖ　ａｘ、　（Ｓｉｌｌ　最小値を更新スル。

１　ｂｉ　３２０ １００１）　１ｂ１３１０　１２８点をテストするまでループする。

ｍｏｖ　Ｓｉ、　ｄｉ　最小値位ｆｉｔｔ−８エヘコビーする。

ｒｅｔ　ｃａｌｌｅｒへ戻る。

このサブルーチンはアレイの最大値を含むａ１アレイ内のアドレスヲ捜し出す。

サブルーチンはレジスタＳ工内のプレイの開始アドレスを予期し、最大値を含む アドレスをレジスタＳエヘ戻す。

Ｆ工ＮＤ　ＭＡＩＬＯＣ ａ＋ｌ　Ｓｉ、　２　アレイ内の第２のエントリを指示する。

ｍｏｖ　ｄｉ、　Ｓｉ　最大値位ｆＩｔを初期化する。

ｍｏｖ　ｈｘ、　［：Ｓｉ、ｌ　最大値を初期化する。

ｎｏｖ　ＣＸＩ　１２７　最初の点の後の１２７点をテストする。（１回転）。

１　ｂｌ　３１　Ｄ ｉｎｃ　Ｓｌ　次のエントリを指示する。

Ｃｍｐ　（Ｓｉｎ、　ａｘ　点を最大値と比較する。

、ｉａｅ　１ｂ１３２０　最大値より下（もしくは等しい）。

次の点を試みる。

ｍｏｖ　ｄｉ、　Ｓｉ　最大値位置を更新する。

ｍｏｖ　ａｘ、　（Ｓｉ）　最大値１’ｂ１３２０　ｔ−更新する。

１００１）　１ｂ１３１０　１２８点をテストするまでループする。

ｍｏｖ　Ｓｉ、　ｄｉ　最大値位置ｉｓＩにコピーする。

ｒｅｔ　ｃａｌｌｅｒへ戻す。

このサブルーチンはテキストに説明されてｂる２次適合を使用して極値（極小も しくは極大）を計算する。

レジスタＳｌが極サンプル値を含むメモリ内の２バイト整数を指示し、前のサン プルがすぐ前の２バイト位置にあり後続するサンプルはすぐ後の２バイト位置に あることを予期する。計算された値はレジスタＡＸへ戻される。

ＣＯＭＰＵＴＥ　Ｍ工ＩＪＭＡＸ ｍｏｖ　ｄｉ、　（Ｓｉ〕ｄｉ　＝　’Ｒ’ｍｏｖ　ｃｘ、　ｄｉ ａｄｄ　ａｘ、　ａｘ　ｃｘ　ｙ　’２Ｒ’ｄｅｃ　５ｉ ｄｅｃ　Ｓｉ ｍｏｖ　ｈｘｔ　（Ｓｉ）　＆Ｘ！　’　Ｐ　’ｓｕｂ　ｃｘ、ａｘ　ＣＸ−’ ２Ｒ−Ｐ’ａｄ４　Ｓｉ、４ ｍｏｖ　ｂｘ、（Ｓｉ）　ｂｘｘ　’　Ｓ　’ｓｕｂ　ａｘ、　ｂｘ　ｃｘｔ＝ 　’　２Ｒ−Ｐ−８’ｓｕｂ　＊ｘ、ｂｘ　ａｘ＝’Ｐ−８’ｉｍｕｌ　ａｘ　 ｄｘｈｘ−’（Ｐ−８）２’１＋ｉｉｖ　ｃｘ　ａｘ−’（Ｐ−８）２／（２Ｒ −Ｐ−８）’ａａｒ　Ａ！、１ ｓａｒ　＆！、１ ｅａｒ　ａｘ、　１　８で割る。

ａｄｃ　！ＬＸ、　ｄｉ　半ｙ４整 ＡＸ−゛Ｒ−（ｐ−ｓ）２／（８（２Ｒ−Ｐ−ｓ））’ｒａｔ　Ｃａ１１ｅｒに 戻る。

ここに記載した装置及び方法は本発明の実施例を構成しているが、本発明はそれ に制約されず同莱者ならば本開示を照し合せればさまざまな別の実施側力を明白 と思われる。従って、特許請求の範囲で特に指摘し明確に請求する本発明の範囲 から逸脱することなく変更を行えることを認識願いたい。

浄薔（同各に変更なし） 手続補正書（自発） 平成２年　７月δ日

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．物体の均一性を測定する方法において、該方法は次のステップ、すなわち、 （ａ）瞬時値が前記物体の均一性に関連するアナログ波形を発生し、 （ｂ）．前記波形をサンプリングして一連のデータサンプルを得、前記各サンプ ルは前記物体上の各物理的位置と相関しており、前記一連のデータサンプルは一 つの時点における前記位置の中の一つの所与位置における前記波形の値を示す少 くとも一つのデータサンプル及びもう一つの時点における前記位置の中の前記所 与位置における前記波形の値を示すもう一つのデータサンプルを含み、 （ｃ）．前記一つのデータサンプルと前記もう一つのデータサンプル間の差を決 定し、 （ｄ）．所定の数学関数に従って前記一連のデータサンプルの各々について前記 差の小数を計算し、前記一連のデータサンプルの各々から前記データサンプルに 対して計算された前記差の小数を減じて一連の修正されたデータサンプルを発生 する、 からなる物体の均一性測定法。 ２．請求項１記載の方法において、前記所定の数学関数は少くとも近似的に前記 波形の非反復成分を表わす、物体の均一性測定法。 ３．請求項２記載の方法において、前記所定の数学関数は線型関数である、物体 の均一性測定法。 ４．請求項２記載の方法において、前記所定の数学関数は指数関数である、物体 の均一性測定法。 ５．請求項１記載の方法において、前記物体はタイヤである、物体の均一性測定 法。 ６．請求項１記載の方法において、前記物体はホイールである、物体の均一性測 定法。 ７．請求項１記載の方法において、前記物体はホイール上に搭載されたタイヤで ある、物体の均一性測定法。 ８．請求項１記載の方法において、さらに前記修正された一連のデータサンプル を使用して前記修正された一連のデータサンプルの最大値、最小値及びピーク値 間からなる群から選定された少くとも一つのパラメータの値を決定するステツプ からなる、物体の均一性測定法。 ９．請求項８記載の方法において、さらに前記パうメータの前記値を人間が知覚 できる形式で表示するステップからなる、物体の均一性測定法。 ｌ０．請求項８記載の方法において、さらに前記パラメータの前記値に従って前 記物体の等級付けを行うステップからなる、物体の均一性測定法。 １１．物体の均一性を測定する装置において、修正された一連のデータサンプル を発生する手段は、（ａ）．瞬時値が前記物体の均一性と関連しているアナログ 波形を発生する感知手段と、 （ｂ）．前記感知手段に接続され前記波形をサンプリングして各々が前記物体上 の各物理的位置と相関している一連のデータサンプルを得るサンプリング手段で あって、前記一連のデータサンプルは一つの時点における前記位置の中の一つの 所与位置における前記波形の値を示す少くとも一つのデータサンプルともう一つ の時点における前記位置の中の前記一つの所与位置における前記波形の値を示す もう一つのデータサンプルを含んでいる、前記サンプリング手段と、（ｃ）．前 記サンプリング手段に接続されて前記一連のデータサンプルを記憶する記憶手段 と、（ｄ）．前記記憶手段に接続され、前記一つのデータサンプルと前記もう一 つのデータサンプルとの差を決定し、所定の数学関数に従つて前記一連のデータ サンプルの各々について前記差の小数を計算し且つ前記一連のデータサンプルの 各々から前記データサンプルに対して計算された前計差の小数を減じて一連の修 正されたデータサンプルを発生するように作動する計算手段、とを具備する物体 の均一性測定装置。 １２．請求項１１記載の装置において、前記サンプリング手段は前記データサン プルを前記物体上の各物理的位置と相関させる信号を出力する回転エンコーダを 含む、物体の均一性測定装置。 １３．請求項１１記載の装置において、さらに前記感知手段と前記サンプリング 手段との間に接続されてサンプリングを行う前に前記波形の周波数成分を制限す るフィルタ手段を具備する、物体の均一性測定装置。 １４．請求項１１記載の装置において、前記所定の数学関数は少くとも近似的に 前記波形の非反復成分を表わす、物体の均一性測定装置。 １５．請求項１１記載の装置において、前記物体はタイヤである物体の均一性測 定装置。 １６．請求項１１記載の装置において、前記物体はホイールである物体の均一性 測定装置。 １７．請求項１１記載の装置において、前記物体はホイールに搭載されたタイヤ である物体の均一性測定装置。 １８．物体の均一性測定法において、前記方法は次のステップ、すなわち、 （ａ）．瞬時値が前記物体の均一性と関連しているアナログ波形を発生し、 （ｂ）．前記波形をサンプリングして一連のデータサンプルを得、 （ｃ）．極値を表わす前記データサンプルの中の特定の１サンプル及び前記特定 のデータサンプルに先行する少くとも一つのデータサンプル及び前記特定のデー タサンプルに後続する少くとも一つのデータサンプルを前記一連のデータサンプ ルから選定し、ａ）．前記特定のデータサンプル及び前記先行及び後続サンプル の各々を少くとも２次の多項式と関連ずけ、（ｅ）．１次導関数が０となる位置 において前記多項式を評価することにより近似極大値を決定する、からなる物体 の均一性測定法。 １９．請求項１８記載の方法において、前記多項式は２次式である、物体の均一 性測定法。 ２０．請求項１８記載の方法において、前記物体はタイヤである物体の均一性測 定法。 ２１．請求項１８記載の方法において、前記極値は前記一連のデータサンプルの 中の最大データサンプルを表わす、物体の均一性測定法。 ２２．請求項１８記載の方法において、前記極値は前記一連のデータサンプルの 中の最小データサンプルを表わす、物体の均一性測定法。 ２３．物体の均一性測定装置において、近似極値を決定する手段は、 （ａ）．瞬時値が前記物体の均一性と関連しているアナログ波形を発生する感知 手段と、 （ｂ）．前記感知手段に接続され前記波形をサンプリングして一連のデータサン プルを得るサンプリング手段と、 （ｃ）．前記サンプリング手段に接続されて前記一連のデータサンプルを記憶す る記憶手段と、（ｄ）．前記記憶手段に接続され、極値を表わす前記データサン プルの中の特定の１データサンプル及び前記特定のデータサンプルに先行する少 くとも一つのデータサンプル及び前記特定のデータサンプルに後続する少くとも 一つのデータサンプルを前記一連のデータサンプルから選定し、且つ前記特定の データサンプル及び前記先行及び後続データサンプルの各々を少くとも２次の多 項式と関連ずけるように作動し、その１次導関数が０に等しくなる位置において 前記多項式を評価することにより近似極値を決定する計算手段、とを具備する物 体の均一性測定装置。 ２４．請求項２３記載の装置において、前記多項式は２次式である物体の均一性 測定装置。 ２５．請求項２３記載の装置において、さらに前記近似極値を人間が知覚できる 形式で表示するディスプレイを貝偏する、物体の均一性測定装置。 ２６．請求項２３記載の装置において、前記物体はタイヤである物体の均一性測 定装置。 ２７．請求項２３記載の装置において、前記計算手段はさらに前記近似極値に基 いて前記一連のデータサンプルのピーク間値を決定するように作動する、物体の 均一性測定装置。 ２８．物体の均一性測定法において、該方法は次のステップ、すなわち、 （ａ）．瞬時値が前記物体の均一性と関連しているアナログ波形を発生し、 （ｂ）．前記波形をサンプリングして一連のデータサンプルを得、前記各サンプ ルは前記物体上の各物理的位置と相関しており、前記一連のデータサンプルは一 つの時点における前記位置の中の一つの所与位置における前記波形の値を示す少 くとも一つのデータサンプルともう一つの時点における前記位置の中の前記一つ の所与位置における前記波形の値を示すもう一つのデータサンプルを含み、 （ｃ）．前記一つのデータサンプルと前記もう一つのデータサンプルとの差を決 定し、 （ｄ）．所定の数学関数に従って前記一連のデータサンプルの各々について前記 差の小数を計算し、且つ前記一連のデータサンプルの各々から前記データサンプ ルについて計算された前記差の小数を減じて一連の修正されたデータサンプルを 発生し、 （ｅ）．極値を表わす前記一連の修正データサンプルの中の特定の１サンプル及 び前記特定の修正されたデータサンプルに先行する少くとも一つの修正されたデ ータサンプル及び前記特定のデータサンプルに後続する少くとも一つの修正され たデータサンプルを前記一連の修正されたデータサンプルから選定し、（ｆ）． 前記特定の修正されたデータサンプル及び前記先行及び後続する修正されたデー タサンプルの各々を少くとも２次の多項式と関連ずけ、 （ｇ）．その１次導関数が０に等しい位置において前記多項式を評価することに より近似極値を決定する、からなる、物体の均一性測定法。 ２９．請求項２８記載の方法において、前記多項式は２次式である物体の均一性 測定法。 ３０．請求項２８記載の方法において、前記物体はタイヤである物体の均一性測 定法。 ３１．請求項２８記載の方法において、さらに前記近似極値に基いて前記修正さ れた一連のデータサンプルのピーク間値を決定するステップからなる、物体の均 一性測定法。 ３２．請求項３１記載の方法において、さらに前記ピーク間値に従って前記物体 を等級付けするステップからなる、物体の均一性測定法。 ３３．改良型物体均一性測定装置において、該装置は、（ａ）．瞬時値が前記物 体の均一性と関連しているアナログ波形を発生する感知手段と、 （ｂ）．前記感知手段に接続されて前記波形をサンプリングし各々が前記物体上 の各物理的位置と相関している一連のデータサンプルを得、前記一連のデータサ ンプルは一つの時点における前記位置の中の一つの所与位置における前記波形の 値を示す少くとも一つのデータサンプル及びもう一つの時点における前記位置の 中の前記一つの所与位置における前記波形の値を示すもう一つのデータサンプル を合む、サンプリング手段と、（ｃ）．前記サンプリング手段に接続されて前記 一連のデータサンプルを記憶する記憶手段と、（ｄ）．前記記憶手段に接続され 、前記一つのデータサンプルと前記もう一つのデータサンプルとの差を決定し所 定の数学関数に従って前記一連のデータサンプルの各々について前記差の小数を 計算し、前記一連のデータサンプルの各々から前記データサンプルについて計算 された前記差の小数を減じて一連の修正されたデータサンプルを発生し、前記一 連の修正されたデータサンプルから極値を表わす前記修正されたデータサンプル の中の特定データサンプル及び前記特定の修正されたデータサンプルに先行する 少くとも一つの修正されたデータサンプル及び前記特定の修正されたデータサン プルに後続する少くとも一つの修正されたデータサンプルを選定するように作動 し、且つ前記特定の修正されたデータサンプル及び前記先行及び後続する修正さ れたデータサンプルの各々を少くとも２次の多項式と関連ずけ、その１次導関数 が０に等しい位置において前記多項式を評価することにより近似極値を決定する ように作動する計算手段、 とを具備する改良型物体均一性測定装置。 ３４．請求項３３記載の装置において、前記計算手段はさらに前記近似極値に基 いて前記修正された一連のデータサンプルのピーク間値を決定するように作動す る、改良型物体均一性測定装置。 ３５．物体の均一性測定法において、該方法は次のステツプ、すなわち、 （ａ）．瞬時値が前記物体の均一性と関連しているアナログ波形を発生し、 （ｂ）．前記波形をサンプリングして一連のデータサンプルを得、 （ｃ）．前記一連のサンプルから、その中の最大サンプルＲＭＡＸを選定し、 （ｄ）．次式に従つて、前記波形の近似最大値ＶＭＡＸを決定する、 ＶＭＡＸ＝ＲＭＡＸ＋〔（ＰＭＡＸ−ＭＡＸ）２／８（２ＲＭＡＸ−ＰＭＡＸ− ＳＭＡＸ）〕ここに、ＰＭＡＸは前記一連のサンプルの中のＲＭＡＸにすぐ続く サンプル、ＳＭＡＸは前記一連のサンプルの中のＲＭＡＸにすぐ後続するサンプ ル、 からなる、物体の均一性測定法。 ３６．請求項３５記載の方法において、さらに前記近似最大値、ＶＭＡＸ、を人 間が知覚可能な形式に表示するステップからなる、物体の均一性測定法。 ３７．物体の均一性測定法において、該方法は次のステツプ、すたわち、 （ａ）．瞬時値が前記物体の均一性と関連しているアナログ波形を発生し、 （ｂ）．前記波形をサンプリングして一連のデータサンプルを得、 （ｃ）．前記一連のサンプルから、その中の最小サンプルＲＭＩＮを選定し、 （ｄ）．次式に従つて、前記波形の近似最小値、ＶＭＩＮ、を決定する、 ＶＭＩＮ＝ＲＭＩＮ＋〔（ＰＭＩＮ−ＳＭＩＮ）２／８（２ＲＭＩＮ−ＰＭＩＮ −ＳＭＩＮ）〕ここに、ＰＭＩＮは前記一連のサンプルの中のＲＭＩＮにすぐ先 行するサンプル、ＳＭＩＮは前記一連のサンプルの中のＲＭＩＮにすぐ後続する サンプル、からなる、物体の均一性測定法。 ３８．請求項３７記載の方法において、さらに前記近似最小値、ＶＭＩＮ、を人 間が知覚可能な形式で表示するステップからなる、物体の均一性測定法。 ３９．物体の均一性測定法において、該方法は次のステップ、すなわち、 （ａ）．瞬時値が前記物体の均一性に関連しているアナログ波形を発生し、 （ｂ）．波形をサンプリングして一連のデータサンプルを得、 （ｃ）．前記一連のサンプルから、その中の最大サンプル、ＲＭＡＸ、及びその 中の最小サンプル、ＲＭＡＸ、を選定し、 （ｄ）．次式に従つて、波形の近似最大値、ＶＭＡＸ、を決定し、 ＶＭＡＸ＝ＲＭＡＸ＋〔（ＰＭＡＸ−ＳＭＡＸ）２／８（２ＲＭＡＸ−ＰＭＡＸ −ＳＭＡＸ）〕ここに、ＰＭＡＸは前記一連のサンプルの中のＲＭＡＸにすぐ先 行するサンプルの値、ＳＭＡＸは前記一連のサンプルの中のＲＭＡＸにすぐ後続 するサンプルの値、（ｅ）．次式に従つて、波形の近似最小値、ＶＭＩＮ、を決 定し、 ＶＭＩＮ＝ＲＭＩＮ＋〔（ＰＭＩＮ−ＳＭＩＮ）２／８（２ＲＭＩＮ−ＰＭＩＮ −ＳＭＩＮ）〕ここに、ＰＭＩＮは前記一連のサンプルの中のＲＭＩＮにすぐ先 行するサンプルの値、ＳＭＩＮは前記一連のサンプルの中のＲＭＩＮにすぐ後続 するサンプルの値、（ｆ）．ＶＭＡＸとＶＭＩＮとの差に従つて、波形の近似ピ ーク間値、Ｖｐｋ−ＰＫ′、を決定する、ことからなる、物体の均一性測定法。 ４０．請求項３９記載の方法において、さらに前記ピーク間値、Ｖｐｋ−ＰＫ′ 、を人間が知覚可能な形式で表示するステツプからなる、物体の均一性測定法。 ４１．請求項３９記載の方法において、前記波形はタイヤの力変動と相関してい る、物体の均一性測定法。 ４２．請求項３９記載の方法において、前記一連のサンプルは前記タイヤの少く とも１回転を表わす、物体の均一性測定法。 ４３．請求項３９記載の方法において、前記波形は前記物体上の点の軌跡に沿つ て測定されたふれと相関している、物体の均一性測定法。 ４４．請求項３９記載の方法において、前記物理的物体はタイヤである、物体の 均一性測定法。 ４５．請求項３９記載の方法において、前記物理的物体はホイールである、物体 の均一性測定法。 ４６．請求項３９記載の方法において、前記物理的物体はホイール上に搭載され たタイヤである、物体の均一性測定法。 ４７．物体の均一性測定装置において、該装置は、（ａ）．瞬時値が前記物体の 均一性と関連しているアナログ波形を発生する感知手段と、 （ｂ）前記感知手段に接続され、前記波形をサンプリングして一連のデータサン プルを得るサンプリング手段と、 （ｃ）．前記サンプリング手段に接続されて前記一連のサンプルを記憶する記憶 手段と、 （ｄ）．動作上前記記憶手段に接続され、前記一連のサンプルからその中の最大 サンプル、ＲＭＡＸ、を選定し、次式に従つて、波形の近似最大値、ＶＭＡＸ、 を決定する計算手段、 ＶＭＡＸ＝ＲＭＡＸ＋〔（ＰＭＡＸ−ＳＭＡＸ）２／８（２ＲＭＡＸ−ＰＭＡＸ −ＳＭＡＸ）〕ここに、ＰＭＡＸは前記一連のサンプルの中のＲＭＡＸにすぐ先 行するサンプル、ＳＭＡＸは前記一連のサンプルの中のＲＭＡＸにすぐ後続する サンプル、とを具備する、物体の均一性測定装置。 ４８．請求項４７記載の装置において、さらに動作上前記記憶手段に接続されて 前記近似最大値、ＶＭＡＸ、を人間が知覚できる形式で表示するデイスプレイ手 段を具備する、物体の均一性測定装置。 ４９．波形の大きさのピーク間値、ＶＰＫ−ＰＫ′、を近似する装置において、 前記装置は、 （ａ）．波形を受信し、前記波形を時間間隔でサンプリングして一連の連続サン プルを得る、サンプリング手段と、 （ｂ）．動作上前記サンプリング手段に接続され、前記一連のサンプルを記憶す る第１の記憶手段と、（ｃ）．動作上前記第１の記憶手段に接続され、（ｉ）． 前記一連のサンプルから最大サンプル、ＲＭＡＸ、及び最小サンプル、ＲＭＩＮ 、を選定し、（ｉｉ）．次式に従つて、波形の近似最大値を決定し、ＶＭＡＸ＝ ＲＭＡＸ＋〔（ＰＭＡＸ−ＳＭＡＸ）２／８（２ＲＭＡＸ−ＰＭＡＸ−ＳＭＡＸ ）〕にすぐ先行するサンプル　ＳＭＡＸ ここに、ＰＭＡＸは前記一連のサンプルの中のＰＭＡＸ前記一連のサンプルの中 のＲＭＡＸにすぐ後続するサンプル、 （ｉｉｉ）．次式に従つて、波形の近似最小値を決定し、ＶＭＩＮ＝ＲＭＩＮ＋ 〔（ＰＭＩＮ−ＳＭＩＮ）２／８（２ＲＭＩＮ−ＰＭＩＮ−ＳＭＩＮ）〕ここに 、ＰＭＩＮは前記一連のサンプルの中のＲＭＩＮにすぐ先行するサンプル、ＳＭ ＩＮは前記一連のサンプルの中のＲＭＩＮにすぐ後続するサンプル、（ｉｖ）． ＶＭＡＸとＶＭＩＮとの差に従つて波形の近似ピーク間値、ＶＰＫ−ＰＫ、を決 定する、計算手段、とを具備する、波形の大きさのピーク間値近似装置。 ５０．請求項４９記載の装置において、さらに、動作上前記第２の記憶手段に接 続され、前記近似ピーク間値、ＶＰＫ−ＰＫ、を人間が知覚可能な形式で表示す るディスプレイ手段を具備する、波形の大きさのピーク間値近似装置。