JPH0350179A - 結晶育成装置 - Google Patents
結晶育成装置Info
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- JPH0350179A JPH0350179A JP18450189A JP18450189A JPH0350179A JP H0350179 A JPH0350179 A JP H0350179A JP 18450189 A JP18450189 A JP 18450189A JP 18450189 A JP18450189 A JP 18450189A JP H0350179 A JPH0350179 A JP H0350179A
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- melt
- spiral heater
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- crystal
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- Pending
Links
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は結晶育成装置に関し、ざらに詳しくは、育成炉
外部の漏洩磁束が低減化された結晶育成装置に関するも
のである。
外部の漏洩磁束が低減化された結晶育成装置に関するも
のである。
[従来の技術およびその課題]
従来、チョクラルスキー法において結晶育成する場合に
、原料である融体の温度変動を抑制する目的で融体に磁
場を印加する工夫がなされてぎており、この方法によれ
ば融体の温度変動が抑制されることが実験的に明らかに
されている。
、原料である融体の温度変動を抑制する目的で融体に磁
場を印加する工夫がなされてぎており、この方法によれ
ば融体の温度変動が抑制されることが実験的に明らかに
されている。
しかし従来技術における磁場印加の方法は、外部より印
加するために、つまり磁石の中心から融体までの距離が
大きいために磁場発生装置が巨大になるという欠点があ
った。このために漏洩磁束が大きくなり、周辺の測定機
や回転機等に悪影響を与え、育成装置の制御システムの
誤動作を引き起こしていた。また、磁石が巨大化するた
めに、その値段は高価なものとなっていた。
加するために、つまり磁石の中心から融体までの距離が
大きいために磁場発生装置が巨大になるという欠点があ
った。このために漏洩磁束が大きくなり、周辺の測定機
や回転機等に悪影響を与え、育成装置の制御システムの
誤動作を引き起こしていた。また、磁石が巨大化するた
めに、その値段は高価なものとなっていた。
本発明は以上述べたような従来の課題を解決するために
なされたもので、融体に局所的に磁場を印加し、育成炉
本体の外部には漏洩磁束が発生しにくい構造を持つ結晶
育成装置を提供することを目的とする。
なされたもので、融体に局所的に磁場を印加し、育成炉
本体の外部には漏洩磁束が発生しにくい構造を持つ結晶
育成装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、チョクラルスキー法により電気伝導性のある
融体から結晶育成を行う結晶育成Ribにおいて、加熱
源を螺旋状ヒータとし、かつ該螺旋状ヒータから磁場を
印加することを特徴とする結晶育成装置である。
融体から結晶育成を行う結晶育成Ribにおいて、加熱
源を螺旋状ヒータとし、かつ該螺旋状ヒータから磁場を
印加することを特徴とする結晶育成装置である。
[作用]
本発明では、螺旋状のヒータを加熱源として使用するこ
とにより、融体の加熱と同時に磁場を印加することが可
能でおり、結果として融体の温度変動を抑制し、同時に
育成炉外部の印加部における漏洩磁場を減少させること
が可能である。
とにより、融体の加熱と同時に磁場を印加することが可
能でおり、結果として融体の温度変動を抑制し、同時に
育成炉外部の印加部における漏洩磁場を減少させること
が可能である。
[実施例]
次に本発明の実施例について、図面を参照して詳細に説
明する。
明する。
第1図は本発明の一実施例にあける螺旋状ヒタ部の構成
を模式的に示す概略構成図で、螺旋状ヒータ1、電流導
入端子2、絶縁保持具3から構成されている。螺旋状ヒ
ータ1は高純度炭素製であり、その抵抗値は0.5オー
ムであった。また、絶縁保持具はピロリチックボロンナ
イトライド(p−BN)を用いた。加熱時の電流は70
0アンペアであり、その時の温度は約1500度でめっ
た。
を模式的に示す概略構成図で、螺旋状ヒータ1、電流導
入端子2、絶縁保持具3から構成されている。螺旋状ヒ
ータ1は高純度炭素製であり、その抵抗値は0.5オー
ムであった。また、絶縁保持具はピロリチックボロンナ
イトライド(p−BN)を用いた。加熱時の電流は70
0アンペアであり、その時の温度は約1500度でめっ
た。
本発明を用いてシリコン結晶を育成したところ、磁場の
効果が認められ、ストリエーションが消滅して融体の温
度変動は小さくなり、従来の磁場印加装置と何等遜色の
ないものとなった。
効果が認められ、ストリエーションが消滅して融体の温
度変動は小さくなり、従来の磁場印加装置と何等遜色の
ないものとなった。
また、育成炉外部の漏洩磁束についても実際に漏洩磁場
を測定したところ、成長装置から1メトル離れたところ
で従来の磁場印加装置の場合は約800ガウスであった
のに対して、本発明においては約1ガウスと約3桁の減
少を達成することが可能となった。このために、育成炉
周辺の測定機や回転機等には影響を与えず、しかも育成
装置の制御システムの誤動作を誘因しなくなり、システ
ムの安全性が向上した。また、ヒータの作製費用のみ必
要であるために、従来の装置の約20分の1の費用です
み、作製費の而からも利点が大きい。
を測定したところ、成長装置から1メトル離れたところ
で従来の磁場印加装置の場合は約800ガウスであった
のに対して、本発明においては約1ガウスと約3桁の減
少を達成することが可能となった。このために、育成炉
周辺の測定機や回転機等には影響を与えず、しかも育成
装置の制御システムの誤動作を誘因しなくなり、システ
ムの安全性が向上した。また、ヒータの作製費用のみ必
要であるために、従来の装置の約20分の1の費用です
み、作製費の而からも利点が大きい。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、融体への磁場の
印加を簡便な装置で行うことができ、かつ育成炉外部の
漏洩磁束が従来に比べて大幅に低減化された結晶育成装
置が提供される。
印加を簡便な装置で行うことができ、かつ育成炉外部の
漏洩磁束が従来に比べて大幅に低減化された結晶育成装
置が提供される。
第1図は本発明の一実施例における螺旋状ヒータ部の概
略構成図である。 1・・・螺旋状ヒータ 2・・・電流力入端子 3・・・絶縁保持具
略構成図である。 1・・・螺旋状ヒータ 2・・・電流力入端子 3・・・絶縁保持具
Claims (1)
- (1)チョクラルスキー法により電気伝導性のある融体
から結晶育成を行う結晶育成装置において、加熱源を螺
旋状ヒータとし、かつ該螺旋状ヒータから磁場を印加す
ることを特徴とする結晶育成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18450189A JPH0350179A (ja) | 1989-07-19 | 1989-07-19 | 結晶育成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18450189A JPH0350179A (ja) | 1989-07-19 | 1989-07-19 | 結晶育成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0350179A true JPH0350179A (ja) | 1991-03-04 |
Family
ID=16154294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18450189A Pending JPH0350179A (ja) | 1989-07-19 | 1989-07-19 | 結晶育成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0350179A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0628645A1 (en) * | 1993-06-01 | 1994-12-14 | Texas Instruments Incorporated | Spiral heater for use in Czochralski crystal pullers |
| JP2008196256A (ja) * | 2007-02-15 | 2008-08-28 | Nitto Kohki Co Ltd | ドアクローザ |
-
1989
- 1989-07-19 JP JP18450189A patent/JPH0350179A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0628645A1 (en) * | 1993-06-01 | 1994-12-14 | Texas Instruments Incorporated | Spiral heater for use in Czochralski crystal pullers |
| JP2008196256A (ja) * | 2007-02-15 | 2008-08-28 | Nitto Kohki Co Ltd | ドアクローザ |
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