JPH0350421B2 - - Google Patents
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- JPH0350421B2 JPH0350421B2 JP61299798A JP29979886A JPH0350421B2 JP H0350421 B2 JPH0350421 B2 JP H0350421B2 JP 61299798 A JP61299798 A JP 61299798A JP 29979886 A JP29979886 A JP 29979886A JP H0350421 B2 JPH0350421 B2 JP H0350421B2
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- Japan
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- capacitance
- capacitor
- capacitors
- trim
- primary
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1009—Calibration
- H03M1/1033—Calibration over the full range of the converter, e.g. for correcting differential non-linearity
- H03M1/1057—Calibration over the full range of the converter, e.g. for correcting differential non-linearity by trimming, i.e. by individually adjusting at least part of the quantisation value generators or stages to their nominal values
- H03M1/1061—Calibration over the full range of the converter, e.g. for correcting differential non-linearity by trimming, i.e. by individually adjusting at least part of the quantisation value generators or stages to their nominal values using digitally programmable trimming circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/02—Arrangements in which the value to be measured is automatically compared with a reference value
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
- H03M1/46—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
- H03M1/466—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter using switched capacitors
- H03M1/468—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter using switched capacitors in which the input S/H circuit is merged with the feedback DAC array
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/66—Digital/analogue converters
- H03M1/74—Simultaneous conversion
- H03M1/80—Simultaneous conversion using weighted impedances
- H03M1/802—Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices
- H03M1/804—Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices with charge redistribution
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子回路に関し、より具体的には、モ
ノリシツク集積回路に於て2値のウエイトづけさ
れたキヤパシタンス値を較正したアレイを提供す
る方法に関する。
ノリシツク集積回路に於て2値のウエイトづけさ
れたキヤパシタンス値を較正したアレイを提供す
る方法に関する。
逐次比較型のアナログ−デジタルコンバータ
は、一般的に2値でウエイトづけされた
(binarily weighted)プレシジヨン抵抗器又はキ
ヤパシター要素のアレイを含んでいる。この様な
2値のウエイトづけされたアレレイにあつては、
該アレイの各要素の抵抗値又はキヤパシタンス値
はアレイのもう1つの要素の値のちようど2分の
1であることが理想的である。ビツト数が14より
も多いアナログ−デジタルコンバータに於て、今
まで正確さが要求される要素を非常に精密に作る
ことは困難であり、且つ費用の掛かることであつ
た。
は、一般的に2値でウエイトづけされた
(binarily weighted)プレシジヨン抵抗器又はキ
ヤパシター要素のアレイを含んでいる。この様な
2値のウエイトづけされたアレレイにあつては、
該アレイの各要素の抵抗値又はキヤパシタンス値
はアレイのもう1つの要素の値のちようど2分の
1であることが理想的である。ビツト数が14より
も多いアナログ−デジタルコンバータに於て、今
まで正確さが要求される要素を非常に精密に作る
ことは困難であり、且つ費用の掛かることであつ
た。
アナログ−デジタルコンバータと結合して使用
される要素のこの様なアレイを提供するのに用い
られてきた1つの方法として、ニクロム抵抗器の
レーザトリミング(leser trimming)がある。
しかし乍ら、2値でウエイトづけされた要素を最
初にどんなに正確に作つたとしても、温度変化及
び要素の値の長期間のドリフトによつて変換エラ
ーが常に生ずる。それ故、要素の値のアレイは
時々較正することが望ましい。アナログ−デジタ
ルコンバータは初期製造の後に較正することがで
き、外部要素を用いないで較正するものを自己較
正回路と称するものとする。大きさ、信頼性及び
経済性を満足させるために、自己較正回路は、現
在の処理技術を用いてモノリシツク集積回路の中
で作るのに適当な要素だけを用いることが望まし
い。
される要素のこの様なアレイを提供するのに用い
られてきた1つの方法として、ニクロム抵抗器の
レーザトリミング(leser trimming)がある。
しかし乍ら、2値でウエイトづけされた要素を最
初にどんなに正確に作つたとしても、温度変化及
び要素の値の長期間のドリフトによつて変換エラ
ーが常に生ずる。それ故、要素の値のアレイは
時々較正することが望ましい。アナログ−デジタ
ルコンバータは初期製造の後に較正することがで
き、外部要素を用いないで較正するものを自己較
正回路と称するものとする。大きさ、信頼性及び
経済性を満足させるために、自己較正回路は、現
在の処理技術を用いてモノリシツク集積回路の中
で作るのに適当な要素だけを用いることが望まし
い。
1つの自己較正回路が提案されているが、これ
は、2値がウエイトづけされた理想的な値に出来
るだけ近付けて初期製造されたMOSキヤパシタ
ーのアレイを利用している。提案されている回路
は標準のCMOS又はNMOS技術を用いて実行す
ることが出来る。較正している間、キヤパシタン
ス値のエラーは測定され、デジタルコードとして
メモリーの中に記憶される。これ等のデジタルコ
ードは演算処理され、アナログ電圧を発生させる
のに用いられる。アナログ電圧はデジタルからア
ナログへの変換器を用いて前記エラーが訂正され
る。提案された回路は可成り複雑であり、又、ア
ナログ電圧を発生させ、それを利用して判明した
エラーを訂正するプロセスはそれ自身がエラーな
しという訳にはいかない。
は、2値がウエイトづけされた理想的な値に出来
るだけ近付けて初期製造されたMOSキヤパシタ
ーのアレイを利用している。提案されている回路
は標準のCMOS又はNMOS技術を用いて実行す
ることが出来る。較正している間、キヤパシタン
ス値のエラーは測定され、デジタルコードとして
メモリーの中に記憶される。これ等のデジタルコ
ードは演算処理され、アナログ電圧を発生させる
のに用いられる。アナログ電圧はデジタルからア
ナログへの変換器を用いて前記エラーが訂正され
る。提案された回路は可成り複雑であり、又、ア
ナログ電圧を発生させ、それを利用して判明した
エラーを訂正するプロセスはそれ自身がエラーな
しという訳にはいかない。
従つて、モノリシツク集積回路の中で複数のキ
ヤパシタンスの値を調節し、複数のキヤパシタン
スが非常に高い精度で2値のウエイトづけがされ
たシーケンスを形成出来る方法が必要とされる。
この様な方法はキヤパシタンス値のアレイを連続
的に較正することが出来るように、時々繰り返し
行なわれることが更に望ましい。
ヤパシタンスの値を調節し、複数のキヤパシタン
スが非常に高い精度で2値のウエイトづけがされ
たシーケンスを形成出来る方法が必要とされる。
この様な方法はキヤパシタンス値のアレイを連続
的に較正することが出来るように、時々繰り返し
行なわれることが更に望ましい。
本発明のもう1つの目的に於ては、アナログ−
デジタルコンバータにおけるキヤパシタンスを2
値でウエイトづけされたアレイとするために自己
較正処理を連続的に行ない、アナログ−デジタル
コンバータの使用者に対してトランスペアレント
(transparent)であることが望ましい。
デジタルコンバータにおけるキヤパシタンスを2
値でウエイトづけされたアレイとするために自己
較正処理を連続的に行ない、アナログ−デジタル
コンバータの使用者に対してトランスペアレント
(transparent)であることが望ましい。
本発明は、キヤパシタンスの2値がウエイトづ
けされたアレイとするため、キヤパシタンスを自
己較正する方法を明らかにするものである。この
方法は現在のMOS処理技術を用いて容易に且つ
経済的に作ることの出来る回路と結合して用いる
ことにより、モノリシツク集積回路に実施するこ
とが出来る。自己較正方法はマルチステツプ式の
手続であつて、これはアナログ−デジタルコンバ
ータの変換動作のような他の回路動作でインター
リーブされ連続的に行なうことが出来る。
けされたアレイとするため、キヤパシタンスを自
己較正する方法を明らかにするものである。この
方法は現在のMOS処理技術を用いて容易に且つ
経済的に作ることの出来る回路と結合して用いる
ことにより、モノリシツク集積回路に実施するこ
とが出来る。自己較正方法はマルチステツプ式の
手続であつて、これはアナログ−デジタルコンバ
ータの変換動作のような他の回路動作でインター
リーブされ連続的に行なうことが出来る。
本発明の望ましい実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
第1A図は、本発明の方法に基づいて、キヤパ
シタンス値を2値で重みづけするシーケンスを形
成するのに用いられる回路を示している。第1A
図の回路全体を引用符号10で示す。回路10は
電圧コンパレータ12、CREFで表した基準(リ
フアレンス)キヤパシター、キヤパシター14,
16,18から構成される一次キヤパシターのセ
ツト、キヤパシター20,22,24から較正さ
れるトリムキヤパシターの第1のセツト、キヤパ
シター26,28,30,32から較正されるト
リムキヤパシターの第2のセツト、キヤパシター
34,36,38,40,42から較正されるト
リムキヤパシターの第3のセツトを含んでいる。
シタンス値を2値で重みづけするシーケンスを形
成するのに用いられる回路を示している。第1A
図の回路全体を引用符号10で示す。回路10は
電圧コンパレータ12、CREFで表した基準(リ
フアレンス)キヤパシター、キヤパシター14,
16,18から構成される一次キヤパシターのセ
ツト、キヤパシター20,22,24から較正さ
れるトリムキヤパシターの第1のセツト、キヤパ
シター26,28,30,32から較正されるト
リムキヤパシターの第2のセツト、キヤパシター
34,36,38,40,42から較正されるト
リムキヤパシターの第3のセツトを含んでいる。
回路10のキヤパシターは各々の1端子がフロ
ーチングノード44に接続される。リフアレンス
キヤパシターCREFはスイツチ46を通じて接地
ノード(GND)又はリフアレンス電圧(VREF)
の何れかに接続される。
ーチングノード44に接続される。リフアレンス
キヤパシターCREFはスイツチ46を通じて接地
ノード(GND)又はリフアレンス電圧(VREF)
の何れかに接続される。
トリムキヤパシターの第1のセツトのトリムキ
ヤパシター20,22,24は各々が一次キヤパ
シター14と繋がり、一次キヤパシター14と並
列に接続してもよく、或は又夫々スイツチ48,
50,52を通じて接地してもよい。同様に、ト
リムキヤパシター26,28,30,32の各々
は一次キヤパシター16と繋がり、一次キヤパシ
ター16と並列に接続してもよく、或は又、夫々
スイツチ54,56,58,60を通じてアース
に接続してもよい。同じようにして、トリムキヤ
パシター34,36,38,40,42は各々が
一次キヤパシター18と繋がり、一次キヤパシタ
ー18と並列に接続してもよく、或は又夫々スイ
ツチ62,64,66,68,70を通じて接地
してもよい。
ヤパシター20,22,24は各々が一次キヤパ
シター14と繋がり、一次キヤパシター14と並
列に接続してもよく、或は又夫々スイツチ48,
50,52を通じて接地してもよい。同様に、ト
リムキヤパシター26,28,30,32の各々
は一次キヤパシター16と繋がり、一次キヤパシ
ター16と並列に接続してもよく、或は又、夫々
スイツチ54,56,58,60を通じてアース
に接続してもよい。同じようにして、トリムキヤ
パシター34,36,38,40,42は各々が
一次キヤパシター18と繋がり、一次キヤパシタ
ー18と並列に接続してもよく、或は又夫々スイ
ツチ62,64,66,68,70を通じて接地
してもよい。
電圧コンパレータ12の正の入力はアースに接
続され、負の入力はフローチングノード44に繋
がつている。電圧コンパレータ12は、合成され
た出力を供給する。合成出力(Result Output)
はスイツチ72を通じてフローチングノード44
に接続することが出来る。
続され、負の入力はフローチングノード44に繋
がつている。電圧コンパレータ12は、合成され
た出力を供給する。合成出力(Result Output)
はスイツチ72を通じてフローチングノード44
に接続することが出来る。
一次キヤパシター14とトリムキヤパシターの
第1のセツトを並列に接続して得られるキヤパシ
タンスはメインスイツチ74を通じてリフアレン
ス電圧VREF又はアースの何れにも接続できるよ
うにする。同じように、一次キヤパシター16と
トリムキヤパシターの第2のセツトを並列に接続
して得られるキヤパシタンスはメインスイツチ7
6を通じてリフアレンス電圧VREFに接続しても
又はアースの何れにも接続できるようにする。
第1のセツトを並列に接続して得られるキヤパシ
タンスはメインスイツチ74を通じてリフアレン
ス電圧VREF又はアースの何れにも接続できるよ
うにする。同じように、一次キヤパシター16と
トリムキヤパシターの第2のセツトを並列に接続
して得られるキヤパシタンスはメインスイツチ7
6を通じてリフアレンス電圧VREFに接続しても
又はアースの何れにも接続できるようにする。
第1A図の実施例の回路は、キヤパシタンス値
の2値がウエイトづけされたシーケンスを形成す
るためのものであつて、一次キヤパシター14の
合成キヤパシタンスは一次キヤパシター16の合
成キヤパシタンスの2分の1であつて、一次キヤ
パシター18の合成キヤパシタンスの4分の1で
ある。
の2値がウエイトづけされたシーケンスを形成す
るためのものであつて、一次キヤパシター14の
合成キヤパシタンスは一次キヤパシター16の合
成キヤパシタンスの2分の1であつて、一次キヤ
パシター18の合成キヤパシタンスの4分の1で
ある。
ターゲツトとするキヤパシタンス値は、回路1
0の2値がウエイトづけされたシーケンスを形成
するという目的と適合させるため、回路10のキ
ヤパシターの各々に対して選択されねばならな
い。最初に、リフアレンスキヤパシターCREFに
対する適当な名目上のターゲツト値が選択され
る。MOSモノリシツク集積回路の中で都合よく
実施するために、リフアレンスキヤパシター
CREFの名目上のターゲツト値が選択される。
MOSモノリシツク集積回路の中で都合よく実施
するために、基準キヤパシターCREFの名目上の
ターゲツト値は、例えば1.0pFである。一次キヤ
パシター14はリフアレンスキヤパシターCREF
の約95%の名目上のキヤパシタンスを持つように
一応設計される。
0の2値がウエイトづけされたシーケンスを形成
するという目的と適合させるため、回路10のキ
ヤパシターの各々に対して選択されねばならな
い。最初に、リフアレンスキヤパシターCREFに
対する適当な名目上のターゲツト値が選択され
る。MOSモノリシツク集積回路の中で都合よく
実施するために、リフアレンスキヤパシター
CREFの名目上のターゲツト値が選択される。
MOSモノリシツク集積回路の中で都合よく実施
するために、基準キヤパシターCREFの名目上の
ターゲツト値は、例えば1.0pFである。一次キヤ
パシター14はリフアレンスキヤパシターCREF
の約95%の名目上のキヤパシタンスを持つように
一応設計される。
トリムキヤパシター20,22,24の第1の
セツトは、キヤパシタンス値が一次キヤパシター
14の約10%の範囲内で調節可能となるように設
計する。トリムキヤパシター20,22,24
は、2値の重みづけがされて一連の値を有する名
目上のキヤパシタンス値としてもよく、キヤパシ
タンスが互いに等しくなるように設計することも
出来るし、或は又、順次形成される値の各々が先
行する値の2分の1乃至1倍のノンインクルーシ
ブ(non−inclusive)の範囲内になるような名目
上のキヤパシタンス値を持つように設計すること
も出来る。同じようにして、一次キヤパシター1
6は名目上のキヤパシタンス値が較正されていな
い回路における理想キヤパシタンス値の約95%と
なるように設計することが出来る。リフアレンス
キヤパシターCREFが1.0pFの場合、一次キヤパ
シター14と繋がつた最終の合成キヤパシタンス
の理想的な値は1.0pFであつて、一次キヤパシタ
ー16に繋がつた最終の合成キヤパシタンスの理
想的な値は2.0pFである。
セツトは、キヤパシタンス値が一次キヤパシター
14の約10%の範囲内で調節可能となるように設
計する。トリムキヤパシター20,22,24
は、2値の重みづけがされて一連の値を有する名
目上のキヤパシタンス値としてもよく、キヤパシ
タンスが互いに等しくなるように設計することも
出来るし、或は又、順次形成される値の各々が先
行する値の2分の1乃至1倍のノンインクルーシ
ブ(non−inclusive)の範囲内になるような名目
上のキヤパシタンス値を持つように設計すること
も出来る。同じようにして、一次キヤパシター1
6は名目上のキヤパシタンス値が較正されていな
い回路における理想キヤパシタンス値の約95%と
なるように設計することが出来る。リフアレンス
キヤパシターCREFが1.0pFの場合、一次キヤパ
シター14と繋がつた最終の合成キヤパシタンス
の理想的な値は1.0pFであつて、一次キヤパシタ
ー16に繋がつた最終の合成キヤパシタンスの理
想的な値は2.0pFである。
トリムキヤパシター26,28,30,32の
第2のセツトは、第1のキヤパシター16と繋が
つた最終の合成キヤパシタンスの理想値の約10%
の調節可能な範囲をもつように設計される。
第2のセツトは、第1のキヤパシター16と繋が
つた最終の合成キヤパシタンスの理想値の約10%
の調節可能な範囲をもつように設計される。
同じようにして、一次キヤパシター18は、名
目上のキヤパシタンス値が2値でウエイトづけが
された理想的な最終の合成キヤパシタンス値(例
えば4.0pF)の約95%となるように設計され、そ
れと関連したトリムキヤパシター34,36,3
8,40,42の第3のセツトは、キヤパシタン
スの名目上のトリミング範囲が係る理想値の約10
%となるように設計される。
目上のキヤパシタンス値が2値でウエイトづけが
された理想的な最終の合成キヤパシタンス値(例
えば4.0pF)の約95%となるように設計され、そ
れと関連したトリムキヤパシター34,36,3
8,40,42の第3のセツトは、キヤパシタン
スの名目上のトリミング範囲が係る理想値の約10
%となるように設計される。
トリムキヤパシターの第1のセツトと同じ要領
にて、トリムキヤパシターの第2のセツトとトリ
ムキヤパシターの第3のセツトは、各キヤパシタ
ーは2値でウエイトづけされた値を順次形成する
ように設計される。各値は先行する値の2分の1
乃至1倍のノンインクルーシブの範囲内となるよ
うに設計してもよく、或は又等しいキヤパシタン
ス値となるように設計することも出来る。
にて、トリムキヤパシターの第2のセツトとトリ
ムキヤパシターの第3のセツトは、各キヤパシタ
ーは2値でウエイトづけされた値を順次形成する
ように設計される。各値は先行する値の2分の1
乃至1倍のノンインクルーシブの範囲内となるよ
うに設計してもよく、或は又等しいキヤパシタン
ス値となるように設計することも出来る。
第1B図は第1A図のスイツチのMOSの実施
例を示している。電圧コンパレータ12と回路1
0のキヤパシターの各々は、現在のMOS処理技
術を用いて、簡単に且つうまくモノリシツク集積
回路の中に集積化することが出来る。
例を示している。電圧コンパレータ12と回路1
0のキヤパシターの各々は、現在のMOS処理技
術を用いて、簡単に且つうまくモノリシツク集積
回路の中に集積化することが出来る。
第2図に回路10のキヤパシタンスの調節を行
なう手順を示している。
なう手順を示している。
先ず、キヤパシタンスがリフアレンスキヤパシ
ターCREFよりも僅かに小さい一次キヤパシター
が選択されて調節が行なわれる。回路10に於て
このキヤパシターは一次キヤパシター14であ
る。選択された一次キヤパシターはそれに繋がれ
たトリムキヤパシターのセツトの中の最も大きい
ものと並列に接続されて合成キヤパシタンス
(resultant capacitance)を形成する。次に、こ
の合成キヤパシタンスの値はリフアレンスキヤパ
シタンスと比較される。
ターCREFよりも僅かに小さい一次キヤパシター
が選択されて調節が行なわれる。回路10に於て
このキヤパシターは一次キヤパシター14であ
る。選択された一次キヤパシターはそれに繋がれ
たトリムキヤパシターのセツトの中の最も大きい
ものと並列に接続されて合成キヤパシタンス
(resultant capacitance)を形成する。次に、こ
の合成キヤパシタンスの値はリフアレンスキヤパ
シタンスと比較される。
リフアレンスキヤパシタンスを合成キヤパシタ
ンスと比較するための簡単な手段を第3A図及び
第3B図にしめしている。第3A図において、ス
イツチ72が閉じると、リフアレンスキヤパシタ
ーCREFの1端子がリフアレンス電圧VREFと接
続され、一方合成キヤパシタンス
CRESULTANTの1端子はアースに接続され
る。電圧コンパレータ12によつてフローチング
ノード44は略アースポテンシヤルとなる。従つ
て、リフアレンスキヤパシターCREFはリフアレ
ンス電圧VREFに電荷が与えられ、合成キヤパシ
タンスCRESULTANTはアースに電荷が与えら
れる。キヤパシタンスを比較する次のステツプを
第3B図に示している。先ず、スイツチ72が開
かれる。次にリフアレンスキヤパシターCREFは
アースに接続され、一方合成キヤパシタンス
CRESULTANTは電圧リフアレンスVREFに接
続され。電圧リフアレンスVREFが正の電圧であ
ると仮定すると、フローチングノード44は、合
成キヤパシタンスCRESULTANTがリフアレン
スキヤパシターCREFの値よりも大きい場合、ア
ースよりもプラス側の電圧に移行する。逆に、フ
ローチングノード44は、もしリフアレンスキヤ
パシターCREFのキヤパシタンスが合成キヤパシ
タンスCRESULTANTよりも大きい場合、アー
スよりもマイナス側の電圧に移行することにな
る。電圧コンパレータ12は、キヤパシタンスが
より大きいかどうかに応じて論理0又は論理1の
何れかを合成出力として供給する。
ンスと比較するための簡単な手段を第3A図及び
第3B図にしめしている。第3A図において、ス
イツチ72が閉じると、リフアレンスキヤパシタ
ーCREFの1端子がリフアレンス電圧VREFと接
続され、一方合成キヤパシタンス
CRESULTANTの1端子はアースに接続され
る。電圧コンパレータ12によつてフローチング
ノード44は略アースポテンシヤルとなる。従つ
て、リフアレンスキヤパシターCREFはリフアレ
ンス電圧VREFに電荷が与えられ、合成キヤパシ
タンスCRESULTANTはアースに電荷が与えら
れる。キヤパシタンスを比較する次のステツプを
第3B図に示している。先ず、スイツチ72が開
かれる。次にリフアレンスキヤパシターCREFは
アースに接続され、一方合成キヤパシタンス
CRESULTANTは電圧リフアレンスVREFに接
続され。電圧リフアレンスVREFが正の電圧であ
ると仮定すると、フローチングノード44は、合
成キヤパシタンスCRESULTANTがリフアレン
スキヤパシターCREFの値よりも大きい場合、ア
ースよりもプラス側の電圧に移行する。逆に、フ
ローチングノード44は、もしリフアレンスキヤ
パシターCREFのキヤパシタンスが合成キヤパシ
タンスCRESULTANTよりも大きい場合、アー
スよりもマイナス側の電圧に移行することにな
る。電圧コンパレータ12は、キヤパシタンスが
より大きいかどうかに応じて論理0又は論理1の
何れかを合成出力として供給する。
第2図に於て、合成キヤパシタンスがリフアレ
ンスキヤパシタンスよりも大きい場合、最も大き
いトリムキヤパシターの接続が解かれる。もし合
成キヤパシタンスがリフアレンスキヤパシタンス
よりも大きくなかつた場合、最も大きいトリムキ
ヤパシターはそれに連繋する一次キヤパシターと
並列に接続された状態が維持される。何れの場合
も、次のステツプとして、新たな合成キヤパシタ
ンスを形成するために、トリムキヤパシターの第
1のセツトの中の次に大きなトリムキヤパシター
が接続される。前述と同じようにして、新たな合
成キヤパシタンスはリフアレンスキヤパシタンス
と比較される。そして、もし新たな合成キヤパシ
タンスがリフアレンスキヤパシタンスよりも大き
い場合、最も新しく接続されたトリムキヤパシタ
ーの接続が解除される。しかし、もしそうでなけ
れば第1のキヤパシターと並列に接続された状態
が保たれる。この様にして、2番目に大きなトリ
ムキヤパシターとの接続がトライされる。充分な
数のトリムキヤパシターを用いるこによつて、最
終的にトリミングされて得られた一次キヤパシタ
ー14に関するキヤパシタンスは、リフアレンス
キヤパシターCREFのキヤパシタンスと略正確に
等しくさせることが出来る。
ンスキヤパシタンスよりも大きい場合、最も大き
いトリムキヤパシターの接続が解かれる。もし合
成キヤパシタンスがリフアレンスキヤパシタンス
よりも大きくなかつた場合、最も大きいトリムキ
ヤパシターはそれに連繋する一次キヤパシターと
並列に接続された状態が維持される。何れの場合
も、次のステツプとして、新たな合成キヤパシタ
ンスを形成するために、トリムキヤパシターの第
1のセツトの中の次に大きなトリムキヤパシター
が接続される。前述と同じようにして、新たな合
成キヤパシタンスはリフアレンスキヤパシタンス
と比較される。そして、もし新たな合成キヤパシ
タンスがリフアレンスキヤパシタンスよりも大き
い場合、最も新しく接続されたトリムキヤパシタ
ーの接続が解除される。しかし、もしそうでなけ
れば第1のキヤパシターと並列に接続された状態
が保たれる。この様にして、2番目に大きなトリ
ムキヤパシターとの接続がトライされる。充分な
数のトリムキヤパシターを用いるこによつて、最
終的にトリミングされて得られた一次キヤパシタ
ー14に関するキヤパシタンスは、リフアレンス
キヤパシターCREFのキヤパシタンスと略正確に
等しくさせることが出来る。
一次キヤパシター14に関連する最終的な合成
キヤパシタンスが決められた後、そのキヤパシタ
ンスはリフアレンスキヤパシタンスCREFと並列
に接続されて、新たなリフアレンスキヤパシタン
スを形成する。この新たなリフアレンスキヤパシ
タンスはリフアレンスキヤパシタンスCREFの略
ちようど2倍の値である。一次キヤパシター14
に関する最終的な合成キヤパシタンスをリフアレ
ンスキヤパシターCREFと並列に接続するには、
スイツチ74と46を同時に同じ電圧に切り替え
るだけでよい。
キヤパシタンスが決められた後、そのキヤパシタ
ンスはリフアレンスキヤパシタンスCREFと並列
に接続されて、新たなリフアレンスキヤパシタン
スを形成する。この新たなリフアレンスキヤパシ
タンスはリフアレンスキヤパシタンスCREFの略
ちようど2倍の値である。一次キヤパシター14
に関する最終的な合成キヤパシタンスをリフアレ
ンスキヤパシターCREFと並列に接続するには、
スイツチ74と46を同時に同じ電圧に切り替え
るだけでよい。
次に新たなリフアレンスキヤパシタンスは、2
番目に大きな一次キヤパシター(回路10では一
次キヤパシター16である)に繋がる合成キヤパ
シタンスをトリミングするための基準として用い
られる。前述した手続きが一次キヤパシター16
とそのトリムキヤパシターのセツトに対して繰り
返されると、キヤパシター16に繋がつた最終的
な合成キヤパシタンスが得られ、これは一次キヤ
パシター14の最終的な合成キヤパシタンスの値
の略ちようど2倍の値である。
番目に大きな一次キヤパシター(回路10では一
次キヤパシター16である)に繋がる合成キヤパ
シタンスをトリミングするための基準として用い
られる。前述した手続きが一次キヤパシター16
とそのトリムキヤパシターのセツトに対して繰り
返されると、キヤパシター16に繋がつた最終的
な合成キヤパシタンスが得られ、これは一次キヤ
パシター14の最終的な合成キヤパシタンスの値
の略ちようど2倍の値である。
前述の手続きは、全ての一次キヤパシターのト
リミングが行なわれるまで一回にトリムキヤパシ
ターが1つづつ繰り返される。全ての一次キヤパ
シターのトリミングが行なわれた時点で較正手続
きは完了する。回路10は3つの一次キヤパシタ
ーを含み、2値のウエイトづけがされた3つの値
を供給するだけであるが、回路は更に、2値の重
みづけがされたもつと大きなシーケンスにまで拡
大することが出来る。
リミングが行なわれるまで一回にトリムキヤパシ
ターが1つづつ繰り返される。全ての一次キヤパ
シターのトリミングが行なわれた時点で較正手続
きは完了する。回路10は3つの一次キヤパシタ
ーを含み、2値のウエイトづけがされた3つの値
を供給するだけであるが、回路は更に、2値の重
みづけがされたもつと大きなシーケンスにまで拡
大することが出来る。
第4図は、第2図の方法によつて作動させるこ
との出来るアナログ−デジタルコンバータの一部
を示している。アナログ−デジタルコンバータは
AINで示されるアナログインプツトノード、制
御論理80、メインスイツチ82,84,86,
88、及び較正RAM90を含んでいる。
との出来るアナログ−デジタルコンバータの一部
を示している。アナログ−デジタルコンバータは
AINで示されるアナログインプツトノード、制
御論理80、メインスイツチ82,84,86,
88、及び較正RAM90を含んでいる。
制御論理80は電圧コンパレータ12から合成
出力を受け、コントロール信号をメインスイツ
チ、スイツチ72及び較正RAM90に送る。
出力を受け、コントロール信号をメインスイツ
チ、スイツチ72及び較正RAM90に送る。
自己較正を行なうために制御論理80は、第2
図に示す方法に基づいてスイツチを作動させる。
前述の如く、較正には多くのステツプからなる手
順を経て、各トリムキヤパシターに対してキープ
又はドロツプの決定が順次成される。これ等キー
プ又はドロツプの決定の各々を、マルチステツプ
式の較正手続きの中の分離したキヤパシタンス調
節ステツプであると考えると都合よい。制御論理
80はRAMコントロール信号を較正ラム90に
送り、具体的なトリムキヤパシターがその一次キ
ヤパシターと並列に接続されるかどうかについて
の情報を記憶させる。較正RAM90はトリムキ
ヤパシターのコンフイギユレーシヨン
(configuration)を適切なものとするために、各
トリムキヤパシターに対して1つづつトリムスイ
ツチコントロール信号を送る。
図に示す方法に基づいてスイツチを作動させる。
前述の如く、較正には多くのステツプからなる手
順を経て、各トリムキヤパシターに対してキープ
又はドロツプの決定が順次成される。これ等キー
プ又はドロツプの決定の各々を、マルチステツプ
式の較正手続きの中の分離したキヤパシタンス調
節ステツプであると考えると都合よい。制御論理
80はRAMコントロール信号を較正ラム90に
送り、具体的なトリムキヤパシターがその一次キ
ヤパシターと並列に接続されるかどうかについて
の情報を記憶させる。較正RAM90はトリムキ
ヤパシターのコンフイギユレーシヨン
(configuration)を適切なものとするために、各
トリムキヤパシターに対して1つづつトリムスイ
ツチコントロール信号を送る。
制御論理80はメインスイツチ82,84,8
6,88を作動させるためにメインスイツチコン
トロール信号を送る。
6,88を作動させるためにメインスイツチコン
トロール信号を送る。
第4図のアナログ−デジタル回路を3つの異な
るモードで作動させることについて第5図を基に
説明する。
るモードで作動させることについて第5図を基に
説明する。
第5図において、一番上の時間棒線は、アナロ
グ−デジタルコンバータの作動を示しており、そ
の間、アナログからデジタルへの変換だけが行な
われる。完全な変換サイクルには2つの動作が必
要であつて、この動作はトラツクのTとコンバー
トのCで表している。トラツクの間、電圧コンパ
レータ12のスイツチ72は閉じており、フロー
チングモード44を略アース電圧にする。キヤパ
シターアレイの中の各一次キヤパシターのスイツ
チ式端子はメインスイツチ84,86,88を通
じてアナログ−インプツトAINに接続される。
キヤパシターCREFは同じようにして、メインス
イツチ82を通じてアナログインプツトAINに
接続される。サイクルがコンバート部分にあると
き、スイツチ72は開かれ、逐次比較型のアナロ
グ−デジタルコンバータに対して従来より行なわ
れているように、回路はアナログのインプツト信
号を表わすデジタルコードを発生させる。キヤパ
シタンスの2値を順次ウエイトづけする作業は、
アナログ入力電圧の全範囲に亘つて要求される精
度を満たすために非常に正確なものでなければな
らない。
グ−デジタルコンバータの作動を示しており、そ
の間、アナログからデジタルへの変換だけが行な
われる。完全な変換サイクルには2つの動作が必
要であつて、この動作はトラツクのTとコンバー
トのCで表している。トラツクの間、電圧コンパ
レータ12のスイツチ72は閉じており、フロー
チングモード44を略アース電圧にする。キヤパ
シターアレイの中の各一次キヤパシターのスイツ
チ式端子はメインスイツチ84,86,88を通
じてアナログ−インプツトAINに接続される。
キヤパシターCREFは同じようにして、メインス
イツチ82を通じてアナログインプツトAINに
接続される。サイクルがコンバート部分にあると
き、スイツチ72は開かれ、逐次比較型のアナロ
グ−デジタルコンバータに対して従来より行なわ
れているように、回路はアナログのインプツト信
号を表わすデジタルコードを発生させる。キヤパ
シタンスの2値を順次ウエイトづけする作業は、
アナログ入力電圧の全範囲に亘つて要求される精
度を満たすために非常に正確なものでなければな
らない。
第5図のまん中の時間棒線は較正だけのモード
の動作を示している。特定のトリムキヤパシター
をキープするか、又はドロツプするかの決定は、
AZで表わされるオートゼロオペレーシヨンと、
その後の星印で表わされる測定オペレーシヨンか
らなるステツプによつて行なわれる。14ビツトよ
りも多い精密なアナログ−デジタルコンバータの
ようにキヤパシタンスのアレイが大きい場合、ア
レイの中に含まれた各トリムキヤパシターに対し
て1つづつの非常に多くのステツプが必要とされ
る。
の動作を示している。特定のトリムキヤパシター
をキープするか、又はドロツプするかの決定は、
AZで表わされるオートゼロオペレーシヨンと、
その後の星印で表わされる測定オペレーシヨンか
らなるステツプによつて行なわれる。14ビツトよ
りも多い精密なアナログ−デジタルコンバータの
ようにキヤパシタンスのアレイが大きい場合、ア
レイの中に含まれた各トリムキヤパシターに対し
て1つづつの非常に多くのステツプが必要とされ
る。
第5図の上から3番目の時間棒線はインターリ
ーブされたモードを示しており、逆サイクルと1
つの較正キヤパシタンスー調節ステツプが較正手
続きを連続的に且つ使用者に対してトランスペア
レントとなるようにインターリーブされる。この
インターリーブされたモードでは、較正手続きの
中、キヤパシタンスの調節ステツプが分離してア
ナログ−デジタル変換サイクルと共にインターリ
ーブされる。この様な動作に対しては、較正
RAM90は、最も新たに較正動作が完了したも
のからの情報のセツトと、較正が行なわれている
ものからの情報の別のセツトと、2セツトの情報
を記憶出来る充分な容量をもつていることが望ま
しい。
ーブされたモードを示しており、逆サイクルと1
つの較正キヤパシタンスー調節ステツプが較正手
続きを連続的に且つ使用者に対してトランスペア
レントとなるようにインターリーブされる。この
インターリーブされたモードでは、較正手続きの
中、キヤパシタンスの調節ステツプが分離してア
ナログ−デジタル変換サイクルと共にインターリ
ーブされる。この様な動作に対しては、較正
RAM90は、最も新たに較正動作が完了したも
のからの情報のセツトと、較正が行なわれている
ものからの情報の別のセツトと、2セツトの情報
を記憶出来る充分な容量をもつていることが望ま
しい。
集積回路内のキヤパシターの較正方法と係る方
法をアナログ−デジタルコンバータに適用するこ
とは前述の記載から容易に理解されるであろう。
本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、本
発明に種々の変更を成すことは明白であろう。
法をアナログ−デジタルコンバータに適用するこ
とは前述の記載から容易に理解されるであろう。
本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、本
発明に種々の変更を成すことは明白であろう。
第1A図は本発明に基づいて順次キヤパシタン
スを2値でウエイトづけするのに用いられる電気
回路図、第1B図は第1A図のスイツチのMOS
トランジスターの実施例を示す電気回路図、第2
図は本発明に基づいて複数のキヤパシタンスの調
節を行ないキヤパシタンスを2値で順次ウエイト
づけする方法を示すフローチヤート図、第3A図
及び第3B図は一方のキヤパシタンスが他方のキ
ヤパシタンスよりも大きいか小さいかを決める方
法を示す電気回路図、第4図は本発明による自己
較正回路を用いたアナログ−デジタルコンバータ
の一部を示す電気回路図、及び第5図は本発明に
基づく方法であつて第4図のアナログ−デジタル
コンバータの中のキヤパシターアレイのインター
リーブされた較正をするためのタイミングダイヤ
グラムである。 10……回路、12……電圧コンパレータ、1
4,16,18……一次キヤパシター、20,2
2,24……トリムキヤパシターの第1のセツ
ト、26,28,30,32……トリムキヤパシ
ターの第2のセツト、34,36,38,40,
42……トリムキヤパシターの第3のセツト、4
4……フローチングノード、80……制御論理、
90……較正ラム。
スを2値でウエイトづけするのに用いられる電気
回路図、第1B図は第1A図のスイツチのMOS
トランジスターの実施例を示す電気回路図、第2
図は本発明に基づいて複数のキヤパシタンスの調
節を行ないキヤパシタンスを2値で順次ウエイト
づけする方法を示すフローチヤート図、第3A図
及び第3B図は一方のキヤパシタンスが他方のキ
ヤパシタンスよりも大きいか小さいかを決める方
法を示す電気回路図、第4図は本発明による自己
較正回路を用いたアナログ−デジタルコンバータ
の一部を示す電気回路図、及び第5図は本発明に
基づく方法であつて第4図のアナログ−デジタル
コンバータの中のキヤパシターアレイのインター
リーブされた較正をするためのタイミングダイヤ
グラムである。 10……回路、12……電圧コンパレータ、1
4,16,18……一次キヤパシター、20,2
2,24……トリムキヤパシターの第1のセツ
ト、26,28,30,32……トリムキヤパシ
ターの第2のセツト、34,36,38,40,
42……トリムキヤパシターの第3のセツト、4
4……フローチングノード、80……制御論理、
90……較正ラム。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 二進法でウエイトづけしたシーケンス値を複
数のキヤパシタンスによつて形成することが望ま
しいモノリシツク集積回路の複数のキヤパシタン
スを調節する方法において、モノリシツク集積回
路は、電圧コンパレータ12と、該電圧コンパレ
ータ12の出力側及び反転入力側の間に接続され
たスイツチ72と、リフアレンスキヤパシタンス
を有する基準容量性要素(CREF)と、複数個で
1つの組を構成する一次キヤパシター14,1
6,18の一組と、複数個で1つの組を構成する
トリムキヤパシターを複数組含んでおり、トリム
キヤパシターは組毎に1個の一次キヤパシターに
繋がつており、基準容量性要素(CREF)及び各
一次キヤパシター14,16,18は第1端子が
電圧コンパレータ12の反転入力側に連結されて
おり、 (a) 一次キヤパシターの組を構成する中の1つの
一次キヤパシターを、一次キヤパシターに接続
されたトリムキヤパシター組の中の1つのトリ
ムキヤパシターと並列に接続して、合成キヤパ
シタンスを有する合成容量性要素
(CRESULTANT)を形成する工程、 (b) 合成キヤパシタンスの値がリフアレンスキヤ
パシタンスの値よりも大きいか小さいかを決定
する工程であつて、その決定は、 (ア) 電圧コンパレータ12の出力側と反転入力
側との間のスイツチ72を低インピーダンス
にして、基準容量性要素(CREF)の第2端
子を第1基準電圧(VREF)に接続し、合成
容量性要素の第2端子を第2基準電圧
(GND)に接続し、 (イ) 電圧コンパレータ12の出力側と反転入力
側との間のスイツチ72を高インピーダンス
にし、 (ウ) 基準容量性要素(CREF)の第2端子を第
2基準電圧(GND)に接続し、合成容量性
要素(CRESULTANT)の第2端子を第1
基準電圧(VREF)に接続し、 (エ) 電圧コンパレータ12の出力側の電圧は合
成キヤパシタンスの値が基準キヤパシタンス
の値よりも大きいか小さいかを示すことをモ
ニターしてなされ、 (c) 合成キヤパシタンスの値がリフアレンスキヤ
パシタンスの値よりも大きい場合、トリムキヤ
パシターと一次キヤパシターの接続を解除する
工程、 (d) 一次キヤパシターに接続されているトリムキ
ヤパシター組の中の、他のトリムキヤパシター
を、一次キヤパシターと並列に接続して新たな
合成キヤパシタンスを形成し、前記の合成キヤ
パシタンスと取り替える工程、 (e) 新たな合成キヤパシタンスの値が、リフアレ
ンスキヤパシタンスよりも大きいか小さいか
を、前記の工程(b)(ア)乃至(エ)の手順によつて決定
する工程、 (f) 新たな合成キヤパシタンスの値がリフアレン
スキヤパシタンスの値よりも大きい場合、他の
トリムキヤパシターと一次キヤパシターとの接
続を解除する工程、 (g) 工程(d)乃至(f)を繰り返して実行することによ
り、一次キヤパシターに接続されていた組のト
リムキヤパシターの中の各トリムキヤパシター
が一次キヤパシターに並列に接続し、その後、
各トリムキヤパシターと一次キヤパシターとの
接続を解除すべきかどうかの決定を行ない、一
次キヤパシターのキヤパシタンスを含む最終的
な合成キヤパシタンスを形成する工程、 (h) 最終的な合成キヤパシタンスをリフアレンス
キヤパシタンスと並列に接続して新たなリフア
レンスキヤパシタンスを形成する工程、 (i) 他の一次キヤパシターについて、(a)乃至(h)の
工程を繰り返し実行する工程、 から構成されるモノリシツク集積回路に於ける複
数のキヤパシタンスの調節方法。 2 (a) トリムキヤパシターの各組は、複数のキ
ヤパシターを備え、そのキヤパシタンス値は一
連の値を形成し、各値は先後する値の2分の1
乃至1倍のノンインクルーシブの範囲内であ
り、 (b) トリムキヤパシターは、繋がつている一次キ
ヤパシターに対して、最大のキヤパシタンスか
ら最小のキヤパシタンスの順番に接続される、 特許請求の範囲第1項に記載の方法。 3 (a) トリムキヤパシターの各組は、複数のキ
ヤパシターを備え、そのキヤパシタンス値は二
進法でウエイトづけされた一連の値を形成し、 (b) トリムキヤパシターは、繋がつている一次キ
ヤパシターに対して、最大のキヤパシタンスか
ら最小のキヤパシタンスの順番に接続される、 特許請求の範囲第1項に記載の方法。 4 連続近似式電荷再分配型のアナログ−デジタ
ル変換器をインターリーブ動作及び較正する方法
において、アナログ−デジタル変換器は、一組の
一次キヤパシター14,16,18と、少なくと
も一組のトリムキヤパシター20,22,24を
含んでおり、トリムキヤパシターは組毎に一次キ
ヤパシターの1つと接続可能であり、 (a) トリムキヤパシターのうち、予め選択された
1つのトリムキヤパシターを、一次キヤパシタ
ーと並列に接続して、一次キヤパシターのキヤ
パシタンスを較正し、トリムキヤパシターを接
続するかどうかを決定する工程、 (b) アナログ−デジタル変換サイクルを実行する
ことにより、アナログ入力信号を表わすデジタ
ルコードを作る工程、 (c) トリムキヤパシターの他の1つに対して(a)及
び(b)の工程を繰り返して実行し、トリムキヤパ
シター毎に接続又は非接続の決定を行なう工
程、 を有している連続近似式電荷再分配型のアナログ
−デジタル変換器のインターリーブ動作及び較正
方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US809530 | 1985-12-16 | ||
| US06/809,530 US4709225A (en) | 1985-12-16 | 1985-12-16 | Self-calibration method for capacitors in a monolithic integrated circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62145854A JPS62145854A (ja) | 1987-06-29 |
| JPH0350421B2 true JPH0350421B2 (ja) | 1991-08-01 |
Family
ID=25201542
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61299798A Granted JPS62145854A (ja) | 1985-12-16 | 1986-12-15 | モノリシック集積回路に於ける複数のキャパシタンスの調節方法及びアナログ―デジタル変換器のインターリーブ動作及び較正方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4709225A (ja) |
| JP (1) | JPS62145854A (ja) |
| DE (1) | DE3642070A1 (ja) |
| FR (1) | FR2591753B1 (ja) |
Families Citing this family (57)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4903024A (en) * | 1987-10-23 | 1990-02-20 | Westinghouse Electric Corp. | A/D converter system with error correction and calibration apparatus and method |
| DE3850879D1 (de) * | 1988-09-30 | 1994-09-01 | Siemens Ag | Selbstkalibrierender A/D- und D/A-Wandler. |
| DE3941323C2 (de) * | 1988-12-14 | 1994-04-21 | Fraunhofer Ges Forschung | Halbleiterelement mit einer integrierten Induktivität und Verfahren zu seiner Herstellung |
| DE3922977A1 (de) * | 1989-07-12 | 1991-01-24 | Texas Instruments Deutschland | Trimmschaltung und unter verwendung einer solchen trimmschaltung ausfuehrbares abgleichverfahren |
| US4989002A (en) * | 1990-02-12 | 1991-01-29 | Texas Instruments Incorporated | Common-mode error self-calibration circuit and method of operation |
| US5235335A (en) * | 1992-06-02 | 1993-08-10 | Texas Instruments Incorporated | Circuit and method for tuning capacitor arrays |
| US5319370A (en) * | 1992-08-31 | 1994-06-07 | Crystal Semiconductor, Inc. | Analog-to-digital converter with a continuously calibrated voltage reference |
| DE4313745A1 (de) * | 1993-04-27 | 1994-11-03 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Kompensation von Bauteiletoleranzen in Analog-Digital-Konvertern |
| US5446420A (en) * | 1993-08-25 | 1995-08-29 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for reducing jitter and improving testability of an oscillator |
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