JPH0352835B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0352835B2 JPH0352835B2 JP59061299A JP6129984A JPH0352835B2 JP H0352835 B2 JPH0352835 B2 JP H0352835B2 JP 59061299 A JP59061299 A JP 59061299A JP 6129984 A JP6129984 A JP 6129984A JP H0352835 B2 JPH0352835 B2 JP H0352835B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- housing
- radiation detector
- stiffening plate
- detector
- resonant frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J47/00—Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
- H01J47/02—Ionisation chambers
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
この発明はX線及びガンマ線の様な電離性放射
を検出する放射検出器に関する。更に具体的に云
えば、この発明は計算機式断層写真法(CT)走
査器の様な医療診断装置に使われる形式の多重セ
ルX線検出器に関する。
を検出する放射検出器に関する。更に具体的に云
えば、この発明は計算機式断層写真法(CT)走
査器の様な医療診断装置に使われる形式の多重セ
ルX線検出器に関する。
米国再特許第30644号及び米国特許第4119853号
には、CT走査器に使うのに適した種類の多重セ
ルX線検出器が記載されている。一般的に云う
と、この検出器は、1対の平行なセラミツク基板
の間に支持された、放射に対して不透明な電極板
によつて定められた複数個の検出セルで構成され
ており、基板が検出器配列を構成する集成体の上
側及び下側の金属枠部材に固定されている。検出
器はキセノンの様な加圧した電離性ガスを収容し
た検出器ハウジング内に配置される。動作中、1
つおきの電極板(バイアス電極)が約500ボルト
の電圧源に接続され、残りの電極(信号電極)は
大地電位に保たれる。被検体を通過することによ
つて強度変調されたX線又はガンマ線が検出セル
に入ると、キセノン・ガスを電離して、光電子/
イオンの対を作り出し、これらが信号電極によつ
て収集され、電離性放射の強度に比例する電流を
誘起する。こうして各々の信号電極に誘起された
電流がデイジタル計算機手段を含む外部の計装に
結合され、被検体の横方向の図を再生する為に周
知の形で処理される。
には、CT走査器に使うのに適した種類の多重セ
ルX線検出器が記載されている。一般的に云う
と、この検出器は、1対の平行なセラミツク基板
の間に支持された、放射に対して不透明な電極板
によつて定められた複数個の検出セルで構成され
ており、基板が検出器配列を構成する集成体の上
側及び下側の金属枠部材に固定されている。検出
器はキセノンの様な加圧した電離性ガスを収容し
た検出器ハウジング内に配置される。動作中、1
つおきの電極板(バイアス電極)が約500ボルト
の電圧源に接続され、残りの電極(信号電極)は
大地電位に保たれる。被検体を通過することによ
つて強度変調されたX線又はガンマ線が検出セル
に入ると、キセノン・ガスを電離して、光電子/
イオンの対を作り出し、これらが信号電極によつ
て収集され、電離性放射の強度に比例する電流を
誘起する。こうして各々の信号電極に誘起された
電流がデイジタル計算機手段を含む外部の計装に
結合され、被検体の横方向の図を再生する為に周
知の形で処理される。
再出像で像の質をよくする為、特に計算機式断
層写真法では、検出器は効率よく且つ高い解像度
をもつてX線の光子を測定しなければならない。
検出器の全長にわたつて電極板を密な一様な間隔
にすることにより、良好な空間的な解像度が得ら
れる。各々のセルが同一で安定した検出特性を持
つことも重要である。或る検出セルからの出力信
号が、電離性イオンによる信号のみで構成される
のが理想的である。然し、実際には、所望の信号
に擬似出力信号が重畳される場合が多い。この擬
似信号は、一般的にマイクロホニツク雑音を呼ば
れるが、その発生原因をたどると、検出器の構造
によることが判る。電極は薄い金属板をその間に
比較的大きな電位差を持たせて互いに密な間隔で
配置することによつて製造される。これらの板に
機械的な振動が伝達されると、電極の間の静電容
量が目立つて変化するし、こうして信号電極に擬
似電流を導入することがある。こういう擬似電流
は走査活動の間に発生されて、電流を感知する電
子回路によつて所望の電流と共に検出され、X線
強度の測定値に誤差を招く。擬似電流は(ピコア
ンペア程度と)小さいが、それでもX線によつて
誘起された信号に較べて有意であり、再生像に、
像の劣化を招く人為効果(アーテイフアクト)と
なつて現われる。
層写真法では、検出器は効率よく且つ高い解像度
をもつてX線の光子を測定しなければならない。
検出器の全長にわたつて電極板を密な一様な間隔
にすることにより、良好な空間的な解像度が得ら
れる。各々のセルが同一で安定した検出特性を持
つことも重要である。或る検出セルからの出力信
号が、電離性イオンによる信号のみで構成される
のが理想的である。然し、実際には、所望の信号
に擬似出力信号が重畳される場合が多い。この擬
似信号は、一般的にマイクロホニツク雑音を呼ば
れるが、その発生原因をたどると、検出器の構造
によることが判る。電極は薄い金属板をその間に
比較的大きな電位差を持たせて互いに密な間隔で
配置することによつて製造される。これらの板に
機械的な振動が伝達されると、電極の間の静電容
量が目立つて変化するし、こうして信号電極に擬
似電流を導入することがある。こういう擬似電流
は走査活動の間に発生されて、電流を感知する電
子回路によつて所望の電流と共に検出され、X線
強度の測定値に誤差を招く。擬似電流は(ピコア
ンペア程度と)小さいが、それでもX線によつて
誘起された信号に較べて有意であり、再生像に、
像の劣化を招く人為効果(アーテイフアクト)と
なつて現われる。
従つて、この発明の目的は、機械的な振動に対
する感度を目立つて低下させた多重セル形電離性
放射検出器を提供することである。
する感度を目立つて低下させた多重セル形電離性
放射検出器を提供することである。
この発明の別の目的は、容易に着脱自在並びに
交換自在であつて、検出器のいろいろな設計に容
易に合せることの出来る様な手段によつて、マイ
クロホニツク雑音に対する検出器の感度を下げる
ことである。
交換自在であつて、検出器のいろいろな設計に容
易に合せることの出来る様な手段によつて、マイ
クロホニツク雑音に対する検出器の感度を下げる
ことである。
この発明の別の目的は、容易に交換自在の手段
によつて、機械的な振動に対する検出器の感度を
下げ、像の質に対する影響を最小限に抑えて、検
出器のパラメータの変化に合せてその設計を変え
ることが出来る様にすることである。
によつて、機械的な振動に対する検出器の感度を
下げ、像の質に対する影響を最小限に抑えて、検
出器のパラメータの変化に合せてその設計を変え
ることが出来る様にすることである。
この発明の別の目的は、検出器の設計並びに作
り易さに対する影響を最小限に抑えて交換するこ
とが出来る様に、容易に交換自在の手段により、
マイクロホニツク雑音による干渉に対する検出器
の感度を下げることである。
り易さに対する影響を最小限に抑えて交換するこ
とが出来る様に、容易に交換自在の手段により、
マイクロホニツク雑音による干渉に対する検出器
の感度を下げることである。
発明の概要
この発明の放射検出器は、ハウジングと、該ハ
ウジング内に支持されていて、ハウジングに送込
まれた放射を検出すると共に、それに応答して或
る周波数帯内にある複数個の電気信号を発生する
検出手段とを含む。電気信号との干渉を避ける様
に、ハウジングの共振振動数を実質的に電気信号
の周波数帯の外側にする様に、共振振動数を変更
する手段も設ける。
ウジング内に支持されていて、ハウジングに送込
まれた放射を検出すると共に、それに応答して或
る周波数帯内にある複数個の電気信号を発生する
検出手段とを含む。電気信号との干渉を避ける様
に、ハウジングの共振振動数を実質的に電気信号
の周波数帯の外側にする様に、共振振動数を変更
する手段も設ける。
この発明に特有と考えられる特徴は特許請求の
範囲に具体的に記載してあるが、この発明自体の
構成、作用並びにその他の目的及び利点は、以下
図面について説明する所から、最もよく理解され
よう。
範囲に具体的に記載してあるが、この発明自体の
構成、作用並びにその他の目的及び利点は、以下
図面について説明する所から、最もよく理解され
よう。
発明の詳細な記載
第1図は計算機式断層写真装置に設けられるX
線源及び放射検出器の略図であり、この発明の好
ましい実施例をこの場合について説明する。被検
体1がX線源3と検出器ハウジング7内に支持さ
れている全体を5で示したX線検出器の配列との
間に配置される。典型的な装置では、検出器ハウ
ジングは、例えばキセノンの様な電離性ガスが約
10気圧乃至100気圧の圧力で充填されることがあ
る。典型的にはX線源3がコリメーシヨン手段9
を含み、これは源から出て来るX線エネルギを略
平面状の扇形ビーム11に局限する様に作用す
る。X線ビーム11の中心の扇形部分が被検体1
を照射し、それを透過して、配列5の中心にある
1群の電離室セル13に入る。X線ビームの角度
は被検体1を見込む角度より大きく、この為、ビ
ーム11の内の2つの周辺扇形部分15は実質的
に減衰されずに被検体を透過して、配列5の周辺
にある2群の基準電離室セル17に入る。典型的
な配列では、中心の1群のセル13は、例えば
730個もの多くの別々の電離室セルで構成するこ
とが出来、周辺の検出セルの群17の各々は6個
1群の独立した電離室セルで構成することが出来
る。
線源及び放射検出器の略図であり、この発明の好
ましい実施例をこの場合について説明する。被検
体1がX線源3と検出器ハウジング7内に支持さ
れている全体を5で示したX線検出器の配列との
間に配置される。典型的な装置では、検出器ハウ
ジングは、例えばキセノンの様な電離性ガスが約
10気圧乃至100気圧の圧力で充填されることがあ
る。典型的にはX線源3がコリメーシヨン手段9
を含み、これは源から出て来るX線エネルギを略
平面状の扇形ビーム11に局限する様に作用す
る。X線ビーム11の中心の扇形部分が被検体1
を照射し、それを透過して、配列5の中心にある
1群の電離室セル13に入る。X線ビームの角度
は被検体1を見込む角度より大きく、この為、ビ
ーム11の内の2つの周辺扇形部分15は実質的
に減衰されずに被検体を透過して、配列5の周辺
にある2群の基準電離室セル17に入る。典型的
な配列では、中心の1群のセル13は、例えば
730個もの多くの別々の電離室セルで構成するこ
とが出来、周辺の検出セルの群17の各々は6個
1群の独立した電離室セルで構成することが出来
る。
配列内の各セルが1対の正に帯電した陽極板1
9とその間に介在配置されていて電離室を形成す
る負に帯電した陰極板21とで構成される。作動
中、電離室に入つたX線光子がキセノン・ガスと
相互作用して、光電子/イオンの対を発生する。
正に帯電したイオンが信号電極21に集められ、
X線強度を表わす信号電流を誘起し、これに対し
て光電子は陽極19に収集される。陽極及び陰極
がタンタル又はタングステンの様にX線に不透明
な材料で構成されていることにより、隣接セルの
間のX線の漏話が少なくなつている。各々の信号
電極21に得られる電気信号は、1個の検出セル
に入るX線エネルギのみによつて発生される。
9とその間に介在配置されていて電離室を形成す
る負に帯電した陰極板21とで構成される。作動
中、電離室に入つたX線光子がキセノン・ガスと
相互作用して、光電子/イオンの対を発生する。
正に帯電したイオンが信号電極21に集められ、
X線強度を表わす信号電流を誘起し、これに対し
て光電子は陽極19に収集される。陽極及び陰極
がタンタル又はタングステンの様にX線に不透明
な材料で構成されていることにより、隣接セルの
間のX線の漏話が少なくなつている。各々の信号
電極21に得られる電気信号は、1個の検出セル
に入るX線エネルギのみによつて発生される。
(CT断画像を再生するのに必要な)相異なる
いろいろな角度からのX線減衰データを得る為、
1つの走査形式では、X線源及び検出器配列を、
第1図の矢印A及びBで示す様に、被検体の周り
を時計廻り又は反時計廻りに一緒に回転させる。
いろいろな角度からのX線減衰データを得る為、
1つの走査形式では、X線源及び検出器配列を、
第1図の矢印A及びBで示す様に、被検体の周り
を時計廻り又は反時計廻りに一緒に回転させる。
計算機式断層写真装置に使うのに適した検出器
配列の好ましい実施例が、米国特許第4277680号
に記載されている。この構成(図に示してない)
では、検出器配列が複数個の検出器モジユールで
構成され、各モジユールは、その間に陽極板及び
陰極板を支持する上側及び下側のセラミツク基板
を持つている。検出器モジユールがねじつき結合
部材によつて検出器配列の枠に堅固に且つ解放自
在に結合され、必要に応じてモジユールを素早く
且つ容易に取外し且つ交換することが出来る様に
している。
配列の好ましい実施例が、米国特許第4277680号
に記載されている。この構成(図に示してない)
では、検出器配列が複数個の検出器モジユールで
構成され、各モジユールは、その間に陽極板及び
陰極板を支持する上側及び下側のセラミツク基板
を持つている。検出器モジユールがねじつき結合
部材によつて検出器配列の枠に堅固に且つ解放自
在に結合され、必要に応じてモジユールを素早く
且つ容易に取外し且つ交換することが出来る様に
している。
第1図の中心の群13及び周辺の群17にある
各々の検出セルからの信号が、全体的に23で示す
様な別々のデータ収集チヤンネルに送られ、周知
の方法を用いて被検体1の断面像を作成する為に
デイジタル計算機27によつて処理する為、アナ
ログ・デイジタル変換器25によつてデイジタル
形式に変換される。再生像は例えばテレビジヨ
ン・モニタ29に表示することが出来る。周辺の
検出セルによつて発生された信号を利用して、検
出器配列の較正を行なう。これらの信号は、米国
特許第4068306号及び同第4070707号に記載されて
いる様に、X線源3の強度変動を補償する為にも
利用することが出来る。
各々の検出セルからの信号が、全体的に23で示す
様な別々のデータ収集チヤンネルに送られ、周知
の方法を用いて被検体1の断面像を作成する為に
デイジタル計算機27によつて処理する為、アナ
ログ・デイジタル変換器25によつてデイジタル
形式に変換される。再生像は例えばテレビジヨ
ン・モニタ29に表示することが出来る。周辺の
検出セルによつて発生された信号を利用して、検
出器配列の較正を行なう。これらの信号は、米国
特許第4068306号及び同第4070707号に記載されて
いる様に、X線源3の強度変動を補償する為にも
利用することが出来る。
X線減衰データの強度に対応する信号の信号対
雑音比(従つて像の質)を改善する為に、装置の
電子回路は、作像信号に関連した限られた周波数
帯だけを通過させる様に設計されている。これが
第2図のグラフに示されている。第2図で、装置
の通過帯が曲線31で示されている。作像信号は
全体的に参照数字33で示した曲線によつて限定
されている。曲線31は、横軸に沿つて示す様
に、大体380Hzの所にロールオフを持ち、この為
(所望の作像信号の様な)約380Hzより低い周波数
を持つ信号は実質的な減衰なしに通過するが、周
波数が380乃至500Hzの信号は次第に減衰が強くな
る。約500Hzより高い信号は全く通過しない。然
し、マイクロホニツク雑音の様に、380Hzより低
い周波数を持つ望ましくない信号も通過し、像の
質を劣化させる様に作用する。約250Hzの所で発
生するこの様な1つの信号35は、検出器ハウジ
ング7とこのハウジング内に配置された検出器配
列5の自然の共振の結果として発生されるマイク
ロホニツク雑音によるものであることが判つた。
この共振は検出器ハウジングの機械的な振動によ
つて誘起され、検出器配列の薄い板に伝達される
ことにより、これらの板が同じ振動数で振動し、
前に述べたマイクロホニツク電流を発生する。こ
の発明では、共振振動数が所望の作像信号に関連
する周波数帯の外側に移行する様に、検出器ハウ
ジングの固有共振振動数を変更する。1実施例で
は、共振ピーク35を250Hzから460Hz(第2図の
ピーク37)へ振動数を上向きに移行させ、380
Hzより低い周波数を持つ所望の信号との干渉を大
幅に減少する。
雑音比(従つて像の質)を改善する為に、装置の
電子回路は、作像信号に関連した限られた周波数
帯だけを通過させる様に設計されている。これが
第2図のグラフに示されている。第2図で、装置
の通過帯が曲線31で示されている。作像信号は
全体的に参照数字33で示した曲線によつて限定
されている。曲線31は、横軸に沿つて示す様
に、大体380Hzの所にロールオフを持ち、この為
(所望の作像信号の様な)約380Hzより低い周波数
を持つ信号は実質的な減衰なしに通過するが、周
波数が380乃至500Hzの信号は次第に減衰が強くな
る。約500Hzより高い信号は全く通過しない。然
し、マイクロホニツク雑音の様に、380Hzより低
い周波数を持つ望ましくない信号も通過し、像の
質を劣化させる様に作用する。約250Hzの所で発
生するこの様な1つの信号35は、検出器ハウジ
ング7とこのハウジング内に配置された検出器配
列5の自然の共振の結果として発生されるマイク
ロホニツク雑音によるものであることが判つた。
この共振は検出器ハウジングの機械的な振動によ
つて誘起され、検出器配列の薄い板に伝達される
ことにより、これらの板が同じ振動数で振動し、
前に述べたマイクロホニツク電流を発生する。こ
の発明では、共振振動数が所望の作像信号に関連
する周波数帯の外側に移行する様に、検出器ハウ
ジングの固有共振振動数を変更する。1実施例で
は、共振ピーク35を250Hzから460Hz(第2図の
ピーク37)へ振動数を上向きに移行させ、380
Hzより低い周波数を持つ所望の信号との干渉を大
幅に減少する。
この発明に従つて検出器ハウジングの共振振動
数を変更するやり方は、第3図並びに第3図の線
4−4で切つたその断面図である第4図を見れ
ば、最もよく理解されよう。次に第3図及び第4
図について説明すると、ハウジング7(これはア
ルミニウムで製造することが好ましい)が下半分
7aと、ねじつき結合部材45の様な複数個の結
合部材によつて下半分に結合された上半分又はカ
バー7bとで構成されていて、こうして電離性ガ
スをその中に保有する空所47を形成する。空所
47が加圧されているから、1対の封じリング4
9a,49bをハウジング部材7a,7bの間に
介在配置して、気密封じにする。検出器配列5が
51に示す様な位置ぎめピンを用いて、放射を受
入れる窓60に密に近接して空所7内に位置ぎめ
される。窓60はアルミニウムで作られていて、
X線放射に対して実質的に透明である。検出器
は、この検出器をハウジングから機械的並びに電
気的に絶縁するマイラーの様な材料料の層53に
より、ハウジング内で下側から支持される。ばね
55の様な板ばねがハウジングのカバー7bに設
けられた押え棒57に当てゝ偏在され、検出器を
しつかりと所定位置に保持する。
数を変更するやり方は、第3図並びに第3図の線
4−4で切つたその断面図である第4図を見れ
ば、最もよく理解されよう。次に第3図及び第4
図について説明すると、ハウジング7(これはア
ルミニウムで製造することが好ましい)が下半分
7aと、ねじつき結合部材45の様な複数個の結
合部材によつて下半分に結合された上半分又はカ
バー7bとで構成されていて、こうして電離性ガ
スをその中に保有する空所47を形成する。空所
47が加圧されているから、1対の封じリング4
9a,49bをハウジング部材7a,7bの間に
介在配置して、気密封じにする。検出器配列5が
51に示す様な位置ぎめピンを用いて、放射を受
入れる窓60に密に近接して空所7内に位置ぎめ
される。窓60はアルミニウムで作られていて、
X線放射に対して実質的に透明である。検出器
は、この検出器をハウジングから機械的並びに電
気的に絶縁するマイラーの様な材料料の層53に
より、ハウジング内で下側から支持される。ばね
55の様な板ばねがハウジングのカバー7bに設
けられた押え棒57に当てゝ偏在され、検出器を
しつかりと所定位置に保持する。
例えば第4図の信号電極21の様な、検出器を
構成する電極が、夫々ステンレス鋼の枠部材6
3,65に結合されたセラミツクの基板59,6
1の間に支持される。各々の信号電極が封じ49
a,49bの間にある印刷配線板67に細線の導
線69によつて接続される。導線69は、絶縁基
板59に固定された溝孔つき部材70内の所定位
置に保持されると共に、印刷配線板67に固定さ
れた同じ様な溝孔つき部材71によつて所定位置
に保持される。部材70,71が導線69をしつ
かりと所定位置に保持し、互いに引離しておく、
詳しいことは米国特許第4119853号に記載されて
いるが、個々の信号電極がアナログ・デイジタル
変換器25(第1図)の様な外部の信号処理装置
に接続される。
構成する電極が、夫々ステンレス鋼の枠部材6
3,65に結合されたセラミツクの基板59,6
1の間に支持される。各々の信号電極が封じ49
a,49bの間にある印刷配線板67に細線の導
線69によつて接続される。導線69は、絶縁基
板59に固定された溝孔つき部材70内の所定位
置に保持されると共に、印刷配線板67に固定さ
れた同じ様な溝孔つき部材71によつて所定位置
に保持される。部材70,71が導線69をしつ
かりと所定位置に保持し、互いに引離しておく、
詳しいことは米国特許第4119853号に記載されて
いるが、個々の信号電極がアナログ・デイジタル
変換器25(第1図)の様な外部の信号処理装置
に接続される。
検出器の中を減衰されずに通過する放射がある
場合、それを吸収する為に、ハウジングの後壁に
随意選択によつて鉛板73(第4図)を設けるこ
とが出来る。第3図に見られる様に、検出器ハウ
ジングは計算機式断層写真装置の回転ガントリー
(図に示してない)の緩衝台(図に示してない)
に検出器を固定する為の開口39をも備えてい
る。ガントリーの構成の細部は米国特許第
4112303号及び同第4115695号を参照されたい。
場合、それを吸収する為に、ハウジングの後壁に
随意選択によつて鉛板73(第4図)を設けるこ
とが出来る。第3図に見られる様に、検出器ハウ
ジングは計算機式断層写真装置の回転ガントリー
(図に示してない)の緩衝台(図に示してない)
に検出器を固定する為の開口39をも備えてい
る。ガントリーの構成の細部は米国特許第
4112303号及び同第4115695号を参照されたい。
第3図で、ハウジングの共振振動数を変更する
為の補剛板41が、ねじつき結合部材43(第4
図)の様な複数個の結合部材により、カバー板7
bに固定される。好ましい実施例では、結合部材
は補剛板の全長に沿つて大体等間隔に設けられ、
補剛板をハウジングにしつかりと結合して、両者
が機械的な振動に対して一体の集成体として作用
する様にする。この代りに、節(ハウジングが共
振する時の変位が最小の点)は比較的動かない
まゝでいるから、補剛板は腹(変位が最大の点)
でだけ、ハウジングに結合してもよい。補剛板が
検出器ハウジングの質量及び剛性を変え、こうし
てその共振振動数を変える。補剛板はアルミニウ
ムで製造することが好ましいが、検出器ハウジン
グに使う材料と釣合う熱膨張係数を持つ他の頑丈
な材料で製造してもよい。
為の補剛板41が、ねじつき結合部材43(第4
図)の様な複数個の結合部材により、カバー板7
bに固定される。好ましい実施例では、結合部材
は補剛板の全長に沿つて大体等間隔に設けられ、
補剛板をハウジングにしつかりと結合して、両者
が機械的な振動に対して一体の集成体として作用
する様にする。この代りに、節(ハウジングが共
振する時の変位が最小の点)は比較的動かない
まゝでいるから、補剛板は腹(変位が最大の点)
でだけ、ハウジングに結合してもよい。補剛板が
検出器ハウジングの質量及び剛性を変え、こうし
てその共振振動数を変える。補剛板はアルミニウ
ムで製造することが好ましいが、検出器ハウジン
グに使う材料と釣合う熱膨張係数を持つ他の頑丈
な材料で製造してもよい。
次に述べる方針を守れば、この発明に従つてハ
ウジングの共振振動数を変換する為に、補剛板の
幾何学的な形がどうであるかは問題ではない。補
剛板の設計は、ハウジングを何等変更することな
く、それを検出器ハウジングに取付けることが出
来る様にすることが好ましい。更に補剛板は、回
転ガントリーが自由に回転出来る様に、あらゆる
隣接部品に触れない様にすべきである。一般的
に、ハウジングの共振振動数は補剛板の剛性が強
くなると共に高くなる。然し、補剛板の質量が増
加すると共に、共振振動数が下がる。ハウジング
の共振振動数を例えば作像信号の周波数帯の外側
に来る様に高くする為には、補剛構造は剛性を最
大にすると共に質量を小さくすることが必要であ
つた。この目的の為、好ましい実施例では、第4
図に一番よく示されている様に、補剛体はI形鋼
の半分として構成される。これが平坦な頂部75
と、剛性を持たせる為に、下向きに曲げて、その
全長に沿つて伸びる垂下する前側及び後側フラン
ジ77,79とを持つている。前に第2図につい
て述べた様に、補剛板41の作用は、ハウジング
共振振動数を250Hzから、作像信号に関連する周
波数帯の外側にある約460Hzへ移行させることで
ある。こうして電極の振動によつて発生されるマ
イクロホニツク雑音の悪影響が著しく減少する。
ウジングの共振振動数を変換する為に、補剛板の
幾何学的な形がどうであるかは問題ではない。補
剛板の設計は、ハウジングを何等変更することな
く、それを検出器ハウジングに取付けることが出
来る様にすることが好ましい。更に補剛板は、回
転ガントリーが自由に回転出来る様に、あらゆる
隣接部品に触れない様にすべきである。一般的
に、ハウジングの共振振動数は補剛板の剛性が強
くなると共に高くなる。然し、補剛板の質量が増
加すると共に、共振振動数が下がる。ハウジング
の共振振動数を例えば作像信号の周波数帯の外側
に来る様に高くする為には、補剛構造は剛性を最
大にすると共に質量を小さくすることが必要であ
つた。この目的の為、好ましい実施例では、第4
図に一番よく示されている様に、補剛体はI形鋼
の半分として構成される。これが平坦な頂部75
と、剛性を持たせる為に、下向きに曲げて、その
全長に沿つて伸びる垂下する前側及び後側フラン
ジ77,79とを持つている。前に第2図につい
て述べた様に、補剛板41の作用は、ハウジング
共振振動数を250Hzから、作像信号に関連する周
波数帯の外側にある約460Hzへ移行させることで
ある。こうして電極の振動によつて発生されるマ
イクロホニツク雑音の悪影響が著しく減少する。
以上述べた所から、検出器ハウジングの共振振
動数を変換する手段の目立つた特徴は、それが着
脱自在であつて、検出器ハウジングのパラメータ
のどんな変更があつても、それに合せて補剛体の
設計を変えることが出来ることである。補剛体と
ハウジングの組合せは、像の質に対する影響を最
小にする為の最善の振動数に容易に微細同調させ
ることが出来る。更に、ボルト留めが出来ること
により、検出器の設計並びに製造のし易さに対す
る影響を最小限にして、補剛体の設計を変えるこ
とが出来る。
動数を変換する手段の目立つた特徴は、それが着
脱自在であつて、検出器ハウジングのパラメータ
のどんな変更があつても、それに合せて補剛体の
設計を変えることが出来ることである。補剛体と
ハウジングの組合せは、像の質に対する影響を最
小にする為の最善の振動数に容易に微細同調させ
ることが出来る。更に、ボルト留めが出来ること
により、検出器の設計並びに製造のし易さに対す
る影響を最小限にして、補剛体の設計を変えるこ
とが出来る。
この発明を特定の実施例について説明したが、
当業者であれば、以上の説明からいろいろな変更
が考えられよう。従つて、この発明の範囲は特許
請求の範囲の記載のみによつて限定されることを
承知されたい。
当業者であれば、以上の説明からいろいろな変更
が考えられよう。従つて、この発明の範囲は特許
請求の範囲の記載のみによつて限定されることを
承知されたい。
第1図はこの発明の好ましい実施例を用いる計
算機式断層写真装置の略図、第2図は擬似的なマ
イクロホニツク雑音信号と所望の作像信号の干渉
を示すグラフ、第3図はハウジングの共振振動数
を変更する為のこの発明の手段を含む検出器ハウ
ジングの側面図、第4図は第3図の線4−4で切
つた検出器の断面図である。 主な符号の説明、5:検出器配列、7:ハウジ
ング、41:補剛板。
算機式断層写真装置の略図、第2図は擬似的なマ
イクロホニツク雑音信号と所望の作像信号の干渉
を示すグラフ、第3図はハウジングの共振振動数
を変更する為のこの発明の手段を含む検出器ハウ
ジングの側面図、第4図は第3図の線4−4で切
つた検出器の断面図である。 主な符号の説明、5:検出器配列、7:ハウジ
ング、41:補剛板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ハウジングと、 該ハウジング内に支持されていて、該ハウジン
グに送込まれた電離性放射を検出すると共に、そ
れに応答して或る周波数帯内にある複数個の電気
信号を発生する検出手段とを有し、前記ハウジン
グ及び該検出手段は予定の振動数で共振し、更
に、 前記ハウジングに固定されていて、前記周波数
帯との干渉を避ける為に、実質的に前記電気信号
の周波数帯の外側に来る様に、前記共振振動数を
変更する手段を有し、該共振振動数を変更する手
段が、前記共振振動数を変更する様に前記ハウジ
ングに固定された補剛板で構成される放射検出
器。 2 特許請求の範囲第1に記載した放射検出器に
於て、前記検出手段が、 前記ハウジング内に保持された電離性ガスと、 該電離性ガス内に浸漬された複数個の検出セル
とで構成されている放射検出器。 3 特許請求の範囲2に記載した放射検出器に於
て、前記電離性ガスがキセノン・ガスで構成され
る放射検出器。 4 特許請求の範囲1に記載した放射検出器に於
て、前記補剛板が前記ハウジングの剛性及び質量
を変更し、こうして共振振動数を変更する様に選
ばれいる放射検出器。 5 特許請求の範囲1に記載した放射検出器に於
て、前記ハウジング及び補剛板が釣合う熱膨張係
数を持つ材料で製造される放射検出器。 6 特許請求の範囲5に記載した放射検出器に於
て、前記ハウジング及び補剛板がアルミニウムで
製造される放射検出器。 7 特許請求の範囲1に記載した放射検出器に於
て、前記補剛板が前記ハウジングに堅固に且つ解
放自在に固定されている放射検出器。 8 特許請求の範囲7に記載した放射検出器に於
て、前記補剛板がねじつき結合部材によつて前記
ハウジングに固定されている放射検出器。 9 特許請求の範囲1に記載した放射検出器に於
て、前記補剛板が、平坦な頂部、及び剛性を持た
せる為にその長さに沿つて伸びる垂下する前側及
び後側フランジを持つ様な形であり、前記補剛板
がその平坦な頂部に沿つて前記ハウジングに結合
される放射検出器。 10 特許請求の範囲9に記載した放射検出器に
於て、前記補剛板が前記ハウジングに堅固に且つ
解放自在に固定される放射検出器。 11 特許請求の範囲10に記載した放射検出器
に於て、前記補剛板がねじつき結合部材によつて
前記ハウジングに固定される放射検出器。 12 特許請求の範囲9に記載した放射検出器に
於て、前記ハウジング及び補剛板がアルミニウム
で製造される放射検出器。 13 特許請求の範囲9に記載した放射検出器に
於て、前記ハウジング及び前記補剛板が釣合う熱
膨張係数を持つ材料で製造される放射検出器。 14 特許請求の範囲9に記載した放射検出器に
於て、前記補剛板が、前記ハウジングの剛性及び
質量を変えて、前記共振振動数を変更する様に選
ばれている放射検出器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US481420 | 1983-04-01 | ||
| US06/481,420 US4496841A (en) | 1983-04-01 | 1983-04-01 | Radiation detector with resonant frequency translator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59206792A JPS59206792A (ja) | 1984-11-22 |
| JPH0352835B2 true JPH0352835B2 (ja) | 1991-08-13 |
Family
ID=23911871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59061299A Granted JPS59206792A (ja) | 1983-04-01 | 1984-03-30 | 放射検出器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4496841A (ja) |
| JP (1) | JPS59206792A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5205395A (en) * | 1991-06-10 | 1993-04-27 | Electro Scientific Industries, Inc. | Vibratory movement and manipulation apparatus and method |
| DE4340389C1 (de) * | 1993-11-26 | 1994-11-03 | Siemens Ag | Gasdetektor für die Computertomographie |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3991312A (en) * | 1975-11-25 | 1976-11-09 | General Electric Company | Ionization chamber |
| US4200794A (en) * | 1978-11-08 | 1980-04-29 | Control Data Corporation | Micro lens array and micro deflector assembly for fly's eye electron beam tubes using silicon components and techniques of fabrication and assembly |
| NL7904923A (nl) * | 1979-06-25 | 1980-12-30 | Philips Nv | Microfonie compensatie voor gasionisatie detektor. |
| JPS5847279A (ja) * | 1981-09-16 | 1983-03-18 | Hitachi Medical Corp | 電離箱型放射線検出器 |
| US4405863A (en) * | 1981-10-19 | 1983-09-20 | General Electric Company | Detector array retaining and positioning system |
-
1983
- 1983-04-01 US US06/481,420 patent/US4496841A/en not_active Expired - Fee Related
-
1984
- 1984-03-30 JP JP59061299A patent/JPS59206792A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59206792A (ja) | 1984-11-22 |
| US4496841A (en) | 1985-01-29 |
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