JPH0353402Y2 - - Google Patents
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- JPH0353402Y2 JPH0353402Y2 JP1987058775U JP5877587U JPH0353402Y2 JP H0353402 Y2 JPH0353402 Y2 JP H0353402Y2 JP 1987058775 U JP1987058775 U JP 1987058775U JP 5877587 U JP5877587 U JP 5877587U JP H0353402 Y2 JPH0353402 Y2 JP H0353402Y2
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- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、例えばイオン注入用装置に好適なイ
オンビーム発生装置に関するものである。
オンビーム発生装置に関するものである。
周知のごとく、半導体製造技術の一つにイオン
注入技術があり、かかるイオン注入技術は半導体
基板に硼素、リン、砒素等の不純物原子をイオン
化してこれに高いエネルギーを与え半導体基板に
打ち込み、これらの不純物をドービングするもの
である。
注入技術があり、かかるイオン注入技術は半導体
基板に硼素、リン、砒素等の不純物原子をイオン
化してこれに高いエネルギーを与え半導体基板に
打ち込み、これらの不純物をドービングするもの
である。
すなわち、かかるイオン注入用装置は、周知の
ごとく、1)イオン源系A、2)引き出し電極系
B、3)質量分析系、4)収束偏向系、5)試量
系の5の要素から構成されている。したがつて、
先ず、前記アノードを兼ねたイオン源系Aにおい
て、生成されたイオンは、イオン源系Aと引き出
し電極Bの間で印加された高電圧によつて引き出
され、後段の質量分析系に導入される。
ごとく、1)イオン源系A、2)引き出し電極系
B、3)質量分析系、4)収束偏向系、5)試量
系の5の要素から構成されている。したがつて、
先ず、前記アノードを兼ねたイオン源系Aにおい
て、生成されたイオンは、イオン源系Aと引き出
し電極Bの間で印加された高電圧によつて引き出
され、後段の質量分析系に導入される。
一方、周知のごとく、一般のイオン源系には、
種類が多いが(特公昭47−15880号公報参照)、帯
状の大イオン電流ビームを生成する、いわゆるフ
リーマン型イオン源系が半導体基板のイオン注入
用として最も広く用いられている。
種類が多いが(特公昭47−15880号公報参照)、帯
状の大イオン電流ビームを生成する、いわゆるフ
リーマン型イオン源系が半導体基板のイオン注入
用として最も広く用いられている。
かかるイオン源系Aは、第4図および第5図に
示すごとく、アノードを兼ねたアークチヤンバー
1の側壁に設けられたイオン引き出しスリツトの
すぐ後で、かつ、円筒状もしくは角筒状のアーク
チヤンバー1の軸芯からずれた位置に、棒状のフ
イラメント5(直径1〜2mm)が設置され、ま
た、外部より該フイラメント5に平行な方向に弱
い磁界をかけてアーク放電が行われている。な
お、6はプラズマ、7はイオンビーム、8はガス
導入孔、9はスリツト開口部を示す。
示すごとく、アノードを兼ねたアークチヤンバー
1の側壁に設けられたイオン引き出しスリツトの
すぐ後で、かつ、円筒状もしくは角筒状のアーク
チヤンバー1の軸芯からずれた位置に、棒状のフ
イラメント5(直径1〜2mm)が設置され、ま
た、外部より該フイラメント5に平行な方向に弱
い磁界をかけてアーク放電が行われている。な
お、6はプラズマ、7はイオンビーム、8はガス
導入孔、9はスリツト開口部を示す。
また、3は加速用の引き出し電極、4は減速用
の接地電極で、これらで引き出し電極系Bを構成
している。
の接地電極で、これらで引き出し電極系Bを構成
している。
ところで、前記のごとく、イオン源系Aで生成
されたイオンは正の電荷をもつていることから、
イオンビーム7が発散して長いビーム輸送系(図
示せず)を通じて当該イオンビーム7を伝達する
ことが難しい。
されたイオンは正の電荷をもつていることから、
イオンビーム7が発散して長いビーム輸送系(図
示せず)を通じて当該イオンビーム7を伝達する
ことが難しい。
そのため、前記のフリーマン型のイオン源系A
では、イオンビーム7の発散はイオンビーム7の
内に電子を取り込むことで抑えることができる、
という原理にもとづいて、例えばイオン源系Aで
20〜30kv、加速電極(3)で1.5〜2.0kv、減速電極(4)
で接地電位とするごとく、引き出し電極系Bに負
電圧を印加し、空間電荷によるイオンビーム7の
拡がりを防止するとともに、下流の電子が引き出
しスリツト2に逆流するのを防止してイオンビー
ム7中に多くの電子を蓄え、イオンビーム7の発
散を抑えている。
では、イオンビーム7の発散はイオンビーム7の
内に電子を取り込むことで抑えることができる、
という原理にもとづいて、例えばイオン源系Aで
20〜30kv、加速電極(3)で1.5〜2.0kv、減速電極(4)
で接地電位とするごとく、引き出し電極系Bに負
電圧を印加し、空間電荷によるイオンビーム7の
拡がりを防止するとともに、下流の電子が引き出
しスリツト2に逆流するのを防止してイオンビー
ム7中に多くの電子を蓄え、イオンビーム7の発
散を抑えている。
しかしながら、かかる従来の引き出し電極系B
では、引き出しスリツト2と引き出し電極3を近
接させることにより、引き出しスリツト2と引き
出し電極3間の放電を抑え、引き出しスリツト2
のスリツト開口部9の周辺のみで電界が集中する
ようにするため、引き出し電極3を引き出しスリ
ツト2側へ突出させているものの、接地電極4を
平板状にしているため、引き出し電極3と接地電
極4との間隔C′が広く、この間隔C′における空間
電荷によるイオンビーム7が拡がりが大きく、し
たがつて、かかる間隔C′を出たときの発散角Φが
大きいと、例えば質量分析系や試料系等の後段へ
のイオンビーム7の効率的輸送が難しい。
では、引き出しスリツト2と引き出し電極3を近
接させることにより、引き出しスリツト2と引き
出し電極3間の放電を抑え、引き出しスリツト2
のスリツト開口部9の周辺のみで電界が集中する
ようにするため、引き出し電極3を引き出しスリ
ツト2側へ突出させているものの、接地電極4を
平板状にしているため、引き出し電極3と接地電
極4との間隔C′が広く、この間隔C′における空間
電荷によるイオンビーム7が拡がりが大きく、し
たがつて、かかる間隔C′を出たときの発散角Φが
大きいと、例えば質量分析系や試料系等の後段へ
のイオンビーム7の効率的輸送が難しい。
また、前記の引き出しスリツト2は、スリツト
前面溝10が深く、低エネルギーのビームの引き
出しでは、引き出しスリツト2とその開口部9、
つまりプラズマ境界面での電界を十分強くするこ
とができず、大量のイオンを生成するのに十分な
高温のプラズマ6を適切な位置に閉じ込められな
い。もつとも、プラズマ温度をあげるとプラズマ
6が、引き出しスリツト2から吹き出し安定した
イオンビーム7が得られない。
前面溝10が深く、低エネルギーのビームの引き
出しでは、引き出しスリツト2とその開口部9、
つまりプラズマ境界面での電界を十分強くするこ
とができず、大量のイオンを生成するのに十分な
高温のプラズマ6を適切な位置に閉じ込められな
い。もつとも、プラズマ温度をあげるとプラズマ
6が、引き出しスリツト2から吹き出し安定した
イオンビーム7が得られない。
更に、前記の引き出しスリツト2では、スリツ
ト前面溝10が深いことから、プラズマ温度を低
くせざるを得なく、その結果、引き出せるイオン
量が少なく、必要なイオンビーム7が出ない。
ト前面溝10が深いことから、プラズマ温度を低
くせざるを得なく、その結果、引き出せるイオン
量が少なく、必要なイオンビーム7が出ない。
そこで本考案は、従来例のかかる問題点を全面
的に解決するために創作されたもので、その要旨
とするところは、アノードを兼ねたアークチヤン
バー、該アークチヤンバーの側壁に設けた引き出
しスリツト、該引き出しスリツトの近傍に設けた
フイラメントなどからなるイオン源系の前面部
と、該引き出しスリツトの前面に設けられた引き
出し電極、該引き出し電極の前面に設けられた接
地電極からなる引き出し電極系と、を備えた3電
極型イオンビーム発生装置において、前記引き出
し電極をドーム状に形成し、該引き出し電極のイ
オンビーム通過部肉厚を薄くするとともに、前記
接地電極を該引き出し電極へ突出させ、その突出
部を該引き出し電極のドーム状内部に入れるよう
にしたイオンビーム発生装置にある。
的に解決するために創作されたもので、その要旨
とするところは、アノードを兼ねたアークチヤン
バー、該アークチヤンバーの側壁に設けた引き出
しスリツト、該引き出しスリツトの近傍に設けた
フイラメントなどからなるイオン源系の前面部
と、該引き出しスリツトの前面に設けられた引き
出し電極、該引き出し電極の前面に設けられた接
地電極からなる引き出し電極系と、を備えた3電
極型イオンビーム発生装置において、前記引き出
し電極をドーム状に形成し、該引き出し電極のイ
オンビーム通過部肉厚を薄くするとともに、前記
接地電極を該引き出し電極へ突出させ、その突出
部を該引き出し電極のドーム状内部に入れるよう
にしたイオンビーム発生装置にある。
本考案の構成を作用とともに、添付図面に示す
実施例により詳細に説明する。
実施例により詳細に説明する。
本実施例は半導体基板のイオン注入用装置に好
適なイオン源系Aおよび引き出し電極系Bであつ
て、第1図および第2において、1はアノードを
兼ねたアークチヤンバー、2は引き出しスリツ
ト、5はフイラメントで、これらでイオン発生装
置のイオン源系Aの前面部を構成している。ま
た、3は引き出し電極、4は接地電極で、これら
で引き出し電極系Bを構成している。また、ガス
導入孔8からアークチヤンバー1に供給された、
例えば3フツ化硼素などのイオン化用のガスは、
高温に熱せられたフイラメント5から出る熱電子
によりイオン化され、プラズマ6となる。したが
つて、イオンはこのプラズマ6から引き出しスリ
ツト2とスリツト電極3との間に形成される引き
出し電界によつてスリツト開口部9を通じて引き
出される。
適なイオン源系Aおよび引き出し電極系Bであつ
て、第1図および第2において、1はアノードを
兼ねたアークチヤンバー、2は引き出しスリツ
ト、5はフイラメントで、これらでイオン発生装
置のイオン源系Aの前面部を構成している。ま
た、3は引き出し電極、4は接地電極で、これら
で引き出し電極系Bを構成している。また、ガス
導入孔8からアークチヤンバー1に供給された、
例えば3フツ化硼素などのイオン化用のガスは、
高温に熱せられたフイラメント5から出る熱電子
によりイオン化され、プラズマ6となる。したが
つて、イオンはこのプラズマ6から引き出しスリ
ツト2とスリツト電極3との間に形成される引き
出し電界によつてスリツト開口部9を通じて引き
出される。
ここにおいて、本実施例では、引き出し電極3
をドーム状に形成し、該引き出し電極3のイオン
ビーム通過部の肉厚を薄くするとともに、接地電
極4を引き出し電極3側へ突出させ、その突出部
を引き出し電極3の内部に入れ子状に構成し、両
電極3,4間の間隙Cを従来のものより1/3程
度に縮めている。
をドーム状に形成し、該引き出し電極3のイオン
ビーム通過部の肉厚を薄くするとともに、接地電
極4を引き出し電極3側へ突出させ、その突出部
を引き出し電極3の内部に入れ子状に構成し、両
電極3,4間の間隙Cを従来のものより1/3程
度に縮めている。
また、本実施例では、スリツト前面溝10を浅
くして、低エネルギーでもスリツト開口部9で十
分な電界が得られるようにし、プラズマ境界面を
安定に保持し、良質のイオンを多量に安定して引
き出すことができるようにしている。
くして、低エネルギーでもスリツト開口部9で十
分な電界が得られるようにし、プラズマ境界面を
安定に保持し、良質のイオンを多量に安定して引
き出すことができるようにしている。
なお、スリツト前面溝10を浅くするために、
引き出しスリツト2を薄くしても同等の効果が得
られることを確認できたが、引き出しスリツト2
が薄い場合、プラズマ6から受ける熱の伝導性が
低下してスリツト開口部9が高温となり損耗が大
となる。
引き出しスリツト2を薄くしても同等の効果が得
られることを確認できたが、引き出しスリツト2
が薄い場合、プラズマ6から受ける熱の伝導性が
低下してスリツト開口部9が高温となり損耗が大
となる。
そのため、本実施例の他の変形例として、引き
出しスリツト2のフイラメント5側を削除して凹
部11を形成することにより、引き出しスリツト
2の肉厚tを十分確保し、熱の伝導性を良くし、
スリツト開口部9の過加熱による損耗を防いでい
る。なお、かかる場合、スリツト前面溝10を第
1図のごとく円弧状にせず、第3図のV字状、ま
たは折れ線状にしてもよい。
出しスリツト2のフイラメント5側を削除して凹
部11を形成することにより、引き出しスリツト
2の肉厚tを十分確保し、熱の伝導性を良くし、
スリツト開口部9の過加熱による損耗を防いでい
る。なお、かかる場合、スリツト前面溝10を第
1図のごとく円弧状にせず、第3図のV字状、ま
たは折れ線状にしてもよい。
更に、スリツト開口部9の細長方向には、従来
より、引き出しスリツト2、引き出し電極3に同
一の曲線半径をもたせて、細長方向のビームの収
束性をあげているが、本実施例では、第1図に示
すごとく、引き出しスリツト2の曲率半径R1を
引き出し電極3の曲率半径R2よりも大きくし、
引き出しスリツト2と引き出し電極3とを近接さ
せたときでも、その上下に間隙が形成できるよう
にして、両者2,3間の放電を防止している。
より、引き出しスリツト2、引き出し電極3に同
一の曲線半径をもたせて、細長方向のビームの収
束性をあげているが、本実施例では、第1図に示
すごとく、引き出しスリツト2の曲率半径R1を
引き出し電極3の曲率半径R2よりも大きくし、
引き出しスリツト2と引き出し電極3とを近接さ
せたときでも、その上下に間隙が形成できるよう
にして、両者2,3間の放電を防止している。
なお、引き出し電極3の開口幅L1、接地電極
4の開口幅L2,L3、引き出し電極3と接地電極
4との距離C、引き出しスリツト開口部9の深さ
T、引き出しスリツト2の曲率半径R1、引き出
し電極の曲率半径R2の計7個の要素の組合せが
あるが、本考案ではこれらを適宜選定した組合せ
により、各ビームの増大などの調整ができるもの
である。
4の開口幅L2,L3、引き出し電極3と接地電極
4との距離C、引き出しスリツト開口部9の深さ
T、引き出しスリツト2の曲率半径R1、引き出
し電極の曲率半径R2の計7個の要素の組合せが
あるが、本考案ではこれらを適宜選定した組合せ
により、各ビームの増大などの調整ができるもの
である。
なお、本実施例は半導体基板に対するイオン注
入用のイオン源系Aおよびイオン引き出し電極系
Bで説明したが、本考案はこれに限らず、同位体
分離装置にも適用でき、更には、イオン加速器に
も適用できるものである。
入用のイオン源系Aおよびイオン引き出し電極系
Bで説明したが、本考案はこれに限らず、同位体
分離装置にも適用でき、更には、イオン加速器に
も適用できるものである。
本考案によれば、引き出し電極と接地電極との
間隙を縮めることができ、ひいては、引き出しス
リツトと接地電極との間隙を縮めることができ、
かかる間隙における空間電荷によるイオンビーム
の発散が防止でき、その結果イオンビームの効率
的な輸送ができる。
間隙を縮めることができ、ひいては、引き出しス
リツトと接地電極との間隙を縮めることができ、
かかる間隙における空間電荷によるイオンビーム
の発散が防止でき、その結果イオンビームの効率
的な輸送ができる。
また、引き出しスリツトの耐久性を損わず、前
面溝を浅くすることができ、低エネルギーでも安
定な高電流のイオンビームをイオン源系のプラズ
マから引き出すことができる。
面溝を浅くすることができ、低エネルギーでも安
定な高電流のイオンビームをイオン源系のプラズ
マから引き出すことができる。
第1図は本考案の実施例の縦断面図、第2図は
第1図のX〜X断面図、第3図は第1図の変形
例、第4図は従来例の縦断面図、第5図は第4図
のY〜Y断面図を示す。 1……アークチヤンバー、2……引き出しスリ
ツト、3……引き出し電極、4……接地電極、5
……フイラメント。
第1図のX〜X断面図、第3図は第1図の変形
例、第4図は従来例の縦断面図、第5図は第4図
のY〜Y断面図を示す。 1……アークチヤンバー、2……引き出しスリ
ツト、3……引き出し電極、4……接地電極、5
……フイラメント。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 アノードを兼ねたアークチヤンバー、該アーク
チヤンバーの側壁に設けた引き出しスリツト、該
引き出しスリツトの近傍に設けたフイラメントな
どからなるイオン源系の前面部と、 該引き出しスリツトの前面に設けられた引き出
し電極、該引き出し電極の前面に設けられた接地
電極からなる引き出し電極系と、 を備えた3電極型イオンビーム発生装置におい
て、 前記引き出し電極をドーム状に形成し、該引き
出し電極のイオンビーム通過部肉厚を薄くすると
ともに、前記接地電極を該引き出し電極へ突出さ
せ、その突出部を該引き出し電極のドーム状内部
に入れるようにしたイオンビーム発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987058775U JPH0353402Y2 (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987058775U JPH0353402Y2 (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63165750U JPS63165750U (ja) | 1988-10-28 |
| JPH0353402Y2 true JPH0353402Y2 (ja) | 1991-11-21 |
Family
ID=30889648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987058775U Expired JPH0353402Y2 (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0353402Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9281160B2 (en) | 2013-05-31 | 2016-03-08 | Sumitomo Heavy Industries Ion Technology Co., Ltd. | Insulation structure and insulation method |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1683163B1 (en) * | 2003-10-17 | 2012-02-22 | Fei Company | Charged particle extraction device and method |
| JP6388520B2 (ja) * | 2014-10-17 | 2018-09-12 | 住友重機械イオンテクノロジー株式会社 | ビーム引出スリット構造、イオン源、及びイオン注入装置 |
| US11810746B2 (en) * | 2021-09-13 | 2023-11-07 | Applied Materials, Inc. | Variable thickness ion source extraction plate |
-
1987
- 1987-04-20 JP JP1987058775U patent/JPH0353402Y2/ja not_active Expired
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL ION ENGINEERING CONGRESS=1983 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9281160B2 (en) | 2013-05-31 | 2016-03-08 | Sumitomo Heavy Industries Ion Technology Co., Ltd. | Insulation structure and insulation method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63165750U (ja) | 1988-10-28 |
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