JPH0353846U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0353846U JPH0353846U JP11450889U JP11450889U JPH0353846U JP H0353846 U JPH0353846 U JP H0353846U JP 11450889 U JP11450889 U JP 11450889U JP 11450889 U JP11450889 U JP 11450889U JP H0353846 U JPH0353846 U JP H0353846U
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- JP
- Japan
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- tip
- cable
- actual
- data
- probe
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案のプローブの逆差し防止表示で
ある。第２図は従来のプローブの逆差し防止表示
である。
ある。第２図は従来のプローブの逆差し防止表示
である。
Claims (1)
- 被測定機器に接続してデータを採取する先端部
と、先端部からのデータを伝送するケーブルと、
データを測定する測定機器に前記ケーブルを接続
する接続部からなるプローブにおいて、前記先端
部は、実際のＩＣと同等の形状を有し、かつ実際
のＩＣと同等で同一方向の捺印表示を有すること
を特徴とするプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11450889U JPH0353846U (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11450889U JPH0353846U (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0353846U true JPH0353846U (ja) | 1991-05-24 |
Family
ID=31662873
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11450889U Pending JPH0353846U (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0353846U (ja) |
-
1989
- 1989-09-29 JP JP11450889U patent/JPH0353846U/ja active Pending
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