JPH0355767B2 - - Google Patents
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- JPH0355767B2 JPH0355767B2 JP28385688A JP28385688A JPH0355767B2 JP H0355767 B2 JPH0355767 B2 JP H0355767B2 JP 28385688 A JP28385688 A JP 28385688A JP 28385688 A JP28385688 A JP 28385688A JP H0355767 B2 JPH0355767 B2 JP H0355767B2
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- JP
- Japan
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- optical
- optical signal
- optical waveguide
- waveguide
- sensor device
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 144
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 7
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、光信号を用いて物理量の測定を行な
う光応用センサ装置の改良に関する。
う光応用センサ装置の改良に関する。
[発明の技術的背景とその問題点]
第1図および第2図は従来における光応用セン
サ装置の構成図である。先ず第1図に示す光応用
センサ装置について説明する。1は光信号発信部
であり、この発光素子1aの発行により光信号が
送り側光導波路2を伝送して検出部3へ送られ
る。この検出部3では、光信号を被測定物理量
(例えば圧力)により(イ)方向に変位する反射板3
aにより物理量に対応した光強度にして反射し、
その1部を受け側光導波路4に入射する。ここ
で、受け側光導波路4に入射する光信号は検出部
3における送り側および受け側光導波路2,4の
端面と反射板3aとの距離の関数の光量となる。
受け側光導波路4に入射した光信号は光信号受信
部5に送られ、光信号受信部5は、受光素子5a
により電気信号に変換された光信号を測定する。
このようにして反射板3aの変位(イ)の関数として
の電気信号が得られ、ひいては物理量が測定でき
るのである。次に第2図に示す光応用センサ装置
について説明する。この光応用センサ装置は、検
出部6が被測定物理量によつて(ロ)方向に変位する
しや光板6a、送り側光導波路7からの光信号を
しや光板6aに当てる第1の光学レンズ6bおよ
びしや光板6aを介して送られてくる光信号を受
け側光導波路8へ入射する第2の光学レンズ6c
から構成されている。本第2図に示す光応用セン
サ装置には図示していないが第1図と同様に送り
側7には光信号発振部1、発光素子1a及び送り
側光導波路2が設けられ、また受け側8には光信
号受信部5、受光素子5a及び受け側光導波路4
が設けられており、受け側8で受光した光信号の
光量によつて物理量を測定するものである。
サ装置の構成図である。先ず第1図に示す光応用
センサ装置について説明する。1は光信号発信部
であり、この発光素子1aの発行により光信号が
送り側光導波路2を伝送して検出部3へ送られ
る。この検出部3では、光信号を被測定物理量
(例えば圧力)により(イ)方向に変位する反射板3
aにより物理量に対応した光強度にして反射し、
その1部を受け側光導波路4に入射する。ここ
で、受け側光導波路4に入射する光信号は検出部
3における送り側および受け側光導波路2,4の
端面と反射板3aとの距離の関数の光量となる。
受け側光導波路4に入射した光信号は光信号受信
部5に送られ、光信号受信部5は、受光素子5a
により電気信号に変換された光信号を測定する。
このようにして反射板3aの変位(イ)の関数として
の電気信号が得られ、ひいては物理量が測定でき
るのである。次に第2図に示す光応用センサ装置
について説明する。この光応用センサ装置は、検
出部6が被測定物理量によつて(ロ)方向に変位する
しや光板6a、送り側光導波路7からの光信号を
しや光板6aに当てる第1の光学レンズ6bおよ
びしや光板6aを介して送られてくる光信号を受
け側光導波路8へ入射する第2の光学レンズ6c
から構成されている。本第2図に示す光応用セン
サ装置には図示していないが第1図と同様に送り
側7には光信号発振部1、発光素子1a及び送り
側光導波路2が設けられ、また受け側8には光信
号受信部5、受光素子5a及び受け側光導波路4
が設けられており、受け側8で受光した光信号の
光量によつて物理量を測定するものである。
このような光応用センサ装置においては、光信
号発信部1の発光パワーの安定化、また送り側お
よび受け側光導波路2,4,7,8の損失変化の
補償を行い光信号の安定化をはかつている。しか
し、発光パワーの安定化と損失変化の補償だけで
は常に安定した光信号が得られない場合があり、
特に光導波路の湾曲あるいは発光源と光導波路と
を接続するコネクタの着脱により光信号に大きな
変動が生じてしまう。
号発信部1の発光パワーの安定化、また送り側お
よび受け側光導波路2,4,7,8の損失変化の
補償を行い光信号の安定化をはかつている。しか
し、発光パワーの安定化と損失変化の補償だけで
は常に安定した光信号が得られない場合があり、
特に光導波路の湾曲あるいは発光源と光導波路と
を接続するコネクタの着脱により光信号に大きな
変動が生じてしまう。
そこで、光導波路の湾曲および着脱により光信
号が変動する原因について説明する。第3図a,
bは光導波路として光フアイバーを用いた場合の
光導波路の構造およびこの光導波路からの出射パ
ターンを示した図である。ここで、9が光導波路
のクラツドであり、10がコアであり、その屈折
率分布はステツプ状でコア10の屈折率がクラツ
ド9のそれより少し大きく設定されている。この
ため、光信号はコア10からクラツド9へ向う時
に全反射し、コア10内に導波モードが存在する
ようになる。このような光信号が送り側7の光導
波路2から出射されると第3図bのような出射パ
ターンSとなる。この出射パターンSは、送り側
光導波路2における複数の導波モードが一様に励
起された場合のものである。そして光導波路出射
端面におけるパターン(アフイールドパターン)
は屈折率分布と同じステツプ状分布となるが、端
面から距離rだけ離れた位置での出射パターンS
は第3図bに示すようにほぼ台形に近似される。
ここで、光信号の光導波路端面における出射角θ
は低次モードから高次モードになるに従つて大き
くなる。また、この出射パターンSは、光導波路
の複数の導波モードから構成されており、導波モ
ードの状態、モード間のパワー比の影響を大きく
受ける。周知のように光導波路を所定の曲率半径
以上に曲げた場合には、高次の導波モードが放射
モードとなつてリークしたり、またモード変換が
起こるので、出射角θが小さくなり出射パターン
Sが変化することになる。第4図は光導波路を曲
げた場合における出射パターン変化図を示す。第
4図に示すように高次モードがリークすると出射
パターンSは出射パターンS1から出射パターン
S2になる。このように送り側光導波路2及び受
け側光導波路4の曲げの度合いに応じて光信号受
信部5で測定する光信号の光量が変化するので、
反射板3aおよびしや光板6aが変位せずとも見
かけ上の変位として測定されてしまう。
号が変動する原因について説明する。第3図a,
bは光導波路として光フアイバーを用いた場合の
光導波路の構造およびこの光導波路からの出射パ
ターンを示した図である。ここで、9が光導波路
のクラツドであり、10がコアであり、その屈折
率分布はステツプ状でコア10の屈折率がクラツ
ド9のそれより少し大きく設定されている。この
ため、光信号はコア10からクラツド9へ向う時
に全反射し、コア10内に導波モードが存在する
ようになる。このような光信号が送り側7の光導
波路2から出射されると第3図bのような出射パ
ターンSとなる。この出射パターンSは、送り側
光導波路2における複数の導波モードが一様に励
起された場合のものである。そして光導波路出射
端面におけるパターン(アフイールドパターン)
は屈折率分布と同じステツプ状分布となるが、端
面から距離rだけ離れた位置での出射パターンS
は第3図bに示すようにほぼ台形に近似される。
ここで、光信号の光導波路端面における出射角θ
は低次モードから高次モードになるに従つて大き
くなる。また、この出射パターンSは、光導波路
の複数の導波モードから構成されており、導波モ
ードの状態、モード間のパワー比の影響を大きく
受ける。周知のように光導波路を所定の曲率半径
以上に曲げた場合には、高次の導波モードが放射
モードとなつてリークしたり、またモード変換が
起こるので、出射角θが小さくなり出射パターン
Sが変化することになる。第4図は光導波路を曲
げた場合における出射パターン変化図を示す。第
4図に示すように高次モードがリークすると出射
パターンSは出射パターンS1から出射パターン
S2になる。このように送り側光導波路2及び受
け側光導波路4の曲げの度合いに応じて光信号受
信部5で測定する光信号の光量が変化するので、
反射板3aおよびしや光板6aが変位せずとも見
かけ上の変位として測定されてしまう。
また、送り側光導波路2及び受け側光導波路4
の曲りによる影響は光信号受信部5で測定する光
量の減少だけでなく、光信号における出力特性に
も影響を与える。第5図a,bは光信号の出力特
性を示し、aは正常な場合の出力特性図、bはリ
ークが生じた場合の特性図である。第5図a,b
に示すように光導波路にリークが生じると、その
出力特性における信号の立ち上がり位置および最
大ピーク位置が変化してしまう。このため特に最
初の立ち上がり特性を使用して物理量の測定を行
なう場合、感度が変化したり、ゼロ点ドリフトが
生じてしまう。したがつて、物理量の測定におい
て正確な測定値が得られなくなつてしまう。この
ことは、送り側光導波路2及び受け側光導波路4
がステツプインデツクスでない例えば屈折率分布
が放物線状をしたグレーテツドインデツクス光導
波路でも同様である。さらに、第2図に示す光応
用センサ装置においても感度の変化およびゼロ点
ドリフトが生じる。
の曲りによる影響は光信号受信部5で測定する光
量の減少だけでなく、光信号における出力特性に
も影響を与える。第5図a,bは光信号の出力特
性を示し、aは正常な場合の出力特性図、bはリ
ークが生じた場合の特性図である。第5図a,b
に示すように光導波路にリークが生じると、その
出力特性における信号の立ち上がり位置および最
大ピーク位置が変化してしまう。このため特に最
初の立ち上がり特性を使用して物理量の測定を行
なう場合、感度が変化したり、ゼロ点ドリフトが
生じてしまう。したがつて、物理量の測定におい
て正確な測定値が得られなくなつてしまう。この
ことは、送り側光導波路2及び受け側光導波路4
がステツプインデツクスでない例えば屈折率分布
が放物線状をしたグレーテツドインデツクス光導
波路でも同様である。さらに、第2図に示す光応
用センサ装置においても感度の変化およびゼロ点
ドリフトが生じる。
[発明の目的]
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、光
導波路の曲げあるいは光信号の伝送路上の接続部
の着脱によつても安定した出射パターンの光信号
を得、感度の変化およびゼロ点ドリフトの生じな
い光応用センサ装置を提供することを目的とす
る。
導波路の曲げあるいは光信号の伝送路上の接続部
の着脱によつても安定した出射パターンの光信号
を得、感度の変化およびゼロ点ドリフトの生じな
い光応用センサ装置を提供することを目的とす
る。
[発明の概要]
本発明は、光通信を用いて物理量の測定を行う
光応用センサ装置において、前記光応用センサ装
置に置ける信号発振部及び光信号受信部と検出部
との間の光信号を伝送する光導波路に、屈折率分
布が段階的に変化するステツプインデツクス光導
波路と、屈折率分布が連続的に変化するグレーテ
ツドインデツクス光導波路とを複数交互に設けて
上記目的を達成しようとする光応用センサ装置で
ある。
光応用センサ装置において、前記光応用センサ装
置に置ける信号発振部及び光信号受信部と検出部
との間の光信号を伝送する光導波路に、屈折率分
布が段階的に変化するステツプインデツクス光導
波路と、屈折率分布が連続的に変化するグレーテ
ツドインデツクス光導波路とを複数交互に設けて
上記目的を達成しようとする光応用センサ装置で
ある。
[発明の実施例]
以下、本発明の実施例について第6図および第
7図を参照して説明する。なお、第1図と同一部
分には同一符号を付して詳しい説明は省略する。
第6図は本実施例における構成図である。第6図
に示す光応用センサ装置は、第1の実施例と同様
に検出部3と光導波路2,4との接続部分に出射
パターン安定手段30を設けたものである。この
出射パターン安定手段30は、屈折率分布が放射
線状をしたグレーテツドインデツクス光導波路3
1,32および屈折率分布がステツプ上のスタツ
プインデツクス光導波路33,34を交互に例え
ば融着によつて接続したものである。
7図を参照して説明する。なお、第1図と同一部
分には同一符号を付して詳しい説明は省略する。
第6図は本実施例における構成図である。第6図
に示す光応用センサ装置は、第1の実施例と同様
に検出部3と光導波路2,4との接続部分に出射
パターン安定手段30を設けたものである。この
出射パターン安定手段30は、屈折率分布が放射
線状をしたグレーテツドインデツクス光導波路3
1,32および屈折率分布がステツプ上のスタツ
プインデツクス光導波路33,34を交互に例え
ば融着によつて接続したものである。
次に示す如く構成された装置の動作について説
明する。第7図は出射パターン安定手段30にお
ける光信号の伝送を示す図である。第7図におい
て33Kはステツプインデツクス光導波路33の
コアであり、31Kはグレーテツドインデツクス
光導波路31のコアである。ここで、光信号の導
波モードは、ステツプインデツクス光導波路33
では光信号がいかなる角度で全反射を繰返してい
るかで決定し、グレーテツドインデツクス光導波
路31ではいかなる位置でいかなる角度でもつて
入射されたかで決定される。このようなことか
ら、ステツプインデツクス光導波路33において
は、光信号C1,C2は第7図に示すように平行
となる。つまり同じ導波モードとなつている。一
方、グレーテツドインデツクス光導波路31にお
いては、光信号C1,C2の入射位置が異なるの
で光信号C1は高次モードで光信号C2は低次モ
ードで伝送するようになる。すなわち、グレーテ
ツドインデツクス光導波路31では、光信号C
1,C2の入射角が等しくても入射位置が異なる
ことによりそれぞれ異なつた導波モードとなつて
伝送するようになる。したがつて、ステツプイン
デツクス光導波路33において、同じ角度で反射
し伝送してきた1つの導波モードの光信号C1,
C2がグレーテツドインデツクス光導波路31に
入射することによつて複数の導波モードに分散さ
れる。このような出射パターン安定手段30を伝
送した光信号発信部1からの光信号は、検出部3
における反射板3aに一様化された出射パターン
となつて出射される。
明する。第7図は出射パターン安定手段30にお
ける光信号の伝送を示す図である。第7図におい
て33Kはステツプインデツクス光導波路33の
コアであり、31Kはグレーテツドインデツクス
光導波路31のコアである。ここで、光信号の導
波モードは、ステツプインデツクス光導波路33
では光信号がいかなる角度で全反射を繰返してい
るかで決定し、グレーテツドインデツクス光導波
路31ではいかなる位置でいかなる角度でもつて
入射されたかで決定される。このようなことか
ら、ステツプインデツクス光導波路33において
は、光信号C1,C2は第7図に示すように平行
となる。つまり同じ導波モードとなつている。一
方、グレーテツドインデツクス光導波路31にお
いては、光信号C1,C2の入射位置が異なるの
で光信号C1は高次モードで光信号C2は低次モ
ードで伝送するようになる。すなわち、グレーテ
ツドインデツクス光導波路31では、光信号C
1,C2の入射角が等しくても入射位置が異なる
ことによりそれぞれ異なつた導波モードとなつて
伝送するようになる。したがつて、ステツプイン
デツクス光導波路33において、同じ角度で反射
し伝送してきた1つの導波モードの光信号C1,
C2がグレーテツドインデツクス光導波路31に
入射することによつて複数の導波モードに分散さ
れる。このような出射パターン安定手段30を伝
送した光信号発信部1からの光信号は、検出部3
における反射板3aに一様化された出射パターン
となつて出射される。
したがつて第6図に示すような装置によれば、
検出部3と光導波路2,4との接続部分に屈折率
分布の異なるグレーテツドインデツクス光導波路
31,32とステツプインデツクス光導波路3
3,34とを設けたので、送り側光導波路2およ
び受け側光導波路4の曲がり等で導波モードの変
換またはかたよりが生じても、各導波モードが分
散され一様化されることにより安定化された出射
パターンを得ることができる。
検出部3と光導波路2,4との接続部分に屈折率
分布の異なるグレーテツドインデツクス光導波路
31,32とステツプインデツクス光導波路3
3,34とを設けたので、送り側光導波路2およ
び受け側光導波路4の曲がり等で導波モードの変
換またはかたよりが生じても、各導波モードが分
散され一様化されることにより安定化された出射
パターンを得ることができる。
[発明の効果]
本発明によれば、検出部と光導波路との接続部
分の光導波路を所定の曲率半径をもつて曲げるあ
るいは屈折率分布の異なる光導波路を交互に設け
たので、光導波路の曲げあるいは光信号の伝送路
上の接続部の着脱によつても安定した出射パター
ンの光信号を得、感度の変化およびゼロ点ドリフ
トの生じない光応用センサ装置を提供できる。
分の光導波路を所定の曲率半径をもつて曲げるあ
るいは屈折率分布の異なる光導波路を交互に設け
たので、光導波路の曲げあるいは光信号の伝送路
上の接続部の着脱によつても安定した出射パター
ンの光信号を得、感度の変化およびゼロ点ドリフ
トの生じない光応用センサ装置を提供できる。
第1図および第2図は従来における光応用セン
サ装置の構成図、第3図a,bは光導波路の構成
とその出射パターンを示す図、第4図は出射パタ
ーンの変化を示す図、第5図a,bは従来におけ
る光応用センサ装置の出力特性図、第6図は本装
置における実施例を示す構成図、第7図は実施例
における作用を説明するための図である 1……光信号発信部、2……送り側光導波路、
3……検出部、4……受け側光導波路、5……光
信号受信部、30……出射パターン安定手段、3
1,32……グレーテツドインデツクス光導波
路、33,34……ステツプインデツクス光導波
路。
サ装置の構成図、第3図a,bは光導波路の構成
とその出射パターンを示す図、第4図は出射パタ
ーンの変化を示す図、第5図a,bは従来におけ
る光応用センサ装置の出力特性図、第6図は本装
置における実施例を示す構成図、第7図は実施例
における作用を説明するための図である 1……光信号発信部、2……送り側光導波路、
3……検出部、4……受け側光導波路、5……光
信号受信部、30……出射パターン安定手段、3
1,32……グレーテツドインデツクス光導波
路、33,34……ステツプインデツクス光導波
路。
Claims (1)
- 1 光信号を発生する光信号発生手段と、この光
信号発生手段からの光信号を光信号伝播媒体中に
屈折させることにより伝送する光導波路と、この
光導波路を伝送してきた光信号を前記物理量の変
化に応じた光強度に変換して前記物理量を検出す
る検出手段と、この検出手段により変換された前
記光信号を再び前記光導波路に伝送させこの伝送
してきた前記光信号の光量を測定して前記物理量
を検出する光信号受信手段とを備えた光応用セン
サ装置において、前記光信号発生手段と前記検出
手段との間の前記光導波路に屈折率分布が段階的
に変化するステツプインデツクス光導波路と屈折
率分布が連続的に変化するグレーテツドインデツ
クス光導波路とを複数交互に備えたことを特徴と
する光応用センサ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28385688A JPH01158312A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | 光応用センサ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28385688A JPH01158312A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | 光応用センサ装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57233505A Division JPS59122902A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 光応用センサ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01158312A JPH01158312A (ja) | 1989-06-21 |
| JPH0355767B2 true JPH0355767B2 (ja) | 1991-08-26 |
Family
ID=17671053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28385688A Granted JPH01158312A (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | 光応用センサ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01158312A (ja) |
-
1988
- 1988-11-11 JP JP28385688A patent/JPH01158312A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01158312A (ja) | 1989-06-21 |
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