JPH0357909A - パラボラ反射鏡の面精度検査装置 - Google Patents
パラボラ反射鏡の面精度検査装置Info
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- JPH0357909A JPH0357909A JP19454089A JP19454089A JPH0357909A JP H0357909 A JPH0357909 A JP H0357909A JP 19454089 A JP19454089 A JP 19454089A JP 19454089 A JP19454089 A JP 19454089A JP H0357909 A JPH0357909 A JP H0357909A
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Aerials With Secondary Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、製造されたパラボラ反射鏡の反射面が設計通
り製造されているか否か検査する装置に関する。
り製造されているか否か検査する装置に関する。
［従来の技術］
パラボラ反射鏡の反射面の精度は、パラボラアンテナの
特性・性能に大きく影響し、例えば衛星放送等が行なわ
れている１２ＧｌｌＺ帯受信用のパラボラアンテナに用
いる反射鏡では、その受信波長である約２５ｍｍの数％
以内にハラツキを抑えた精度が求められる．このような
精度をパラボラ反射鏡か有するか否か検査する従来の検
査装置としては、三次元測定が必要であるので、検査対
象のパラボラ反射鏡の反射面の１ポイントずつ三次元距
離を測って、検査対象のパラボラ反射鏡の凹凸を知るか
、あるいは光学式の三次元測定機を用いて，検査対象の
パラボラ反射鏡の反射面をくまなく走査し、反射面の凹
凸を知るかしていた。
特性・性能に大きく影響し、例えば衛星放送等が行なわ
れている１２ＧｌｌＺ帯受信用のパラボラアンテナに用
いる反射鏡では、その受信波長である約２５ｍｍの数％
以内にハラツキを抑えた精度が求められる．このような
精度をパラボラ反射鏡か有するか否か検査する従来の検
査装置としては、三次元測定が必要であるので、検査対
象のパラボラ反射鏡の反射面の１ポイントずつ三次元距
離を測って、検査対象のパラボラ反射鏡の凹凸を知るか
、あるいは光学式の三次元測定機を用いて，検査対象の
パラボラ反射鏡の反射面をくまなく走査し、反射面の凹
凸を知るかしていた。
［発明が解決しようとする課題］
しかし、１ポイントずつ三次元距離を測るものては、そ
の測定に長時間を要し、大量生産されるパラボラ反射鏡
それぞれについて，その面精度を測定しなければならな
い場合には，不向きであるという問題点があった。また
、三次元測定機を用いるものでは，この三次元測定機が
高価であり，パラボラ反射鏡の面精度の検査に費用がか
かりすぎるという問題点があった。
の測定に長時間を要し、大量生産されるパラボラ反射鏡
それぞれについて，その面精度を測定しなければならな
い場合には，不向きであるという問題点があった。また
、三次元測定機を用いるものでは，この三次元測定機が
高価であり，パラボラ反射鏡の面精度の検査に費用がか
かりすぎるという問題点があった。
本発明は，上記の各問題点を解決したパラボラ反射鏡の
面精度検査装置を提供することを目的とする。
面精度検査装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］
上記の目的を達成するために、本発明は、固定台上に基
準パラボラ反射鏡を，その反射面が固定台側を向く状態
に配置した際に、基準パラボラ反射鏡の反射面の種々の
位置に当接するように配置され、その当接状態を基準状
態とし、固定台上に検査対象のパラボラ反射鏡を基準パ
ラボラ反射鏡と同一状態に配置した際に，基準状態から
の変位に応じた出力を生威する複数の検出器と、これら
検出器からの出力を入力し、検査対象の反射鏡の基準パ
ラボラ反射鏡に対するバラツキ度を演算する演算手段゛
と、この演算されたバラツキ度を予め定めたバラツキ度
評価値と比較して、検査対象の反射鏡の合否を判定する
Ｉ定手段と、この判定結果を視認可能に出力する出力手
段とを，具備するものである． ［作用］ 本発明によれば、固定台上に検査対象のパラボラ反射鏡
を、基準パラボラ反射鏡と同一状態に配置すると、各検
出器はそれぞれ出力を発生する．これら出力は，各検出
器が基準パラボラ反射鏡に接触していたときを基準状態
とし、この基準状態からの変位に応じた出力である．従
って、各検出器の出力は、検査対象のパラボラ反射鏡の
各部における基準パラボラ反射鏡の対応する部分に対す
る偏差をそれぞれ表わしている．これら検出器の出力は
、バラツキ度演算手段に入力され、基準パラボラ反射鏡
に対する検査対象のパラボラ反射鏡のバラツキ度が演算
される。そして、このハラツキ度は、予め定めたバラツ
キ度評価値と比較さ？、検査対象の反射鏡の合否が判定
され、この判定結果は視認可能に出力■手段に出力され
る．［実施例］ この実施例は、第３図に示すように、矩形に形威された
固定台２を有し，この固定台２の上面には，検査対象の
パラボラ反射鏡４を、その反射面か固定台２の上面側を
向いた状態で固定台２の上面の所定位置に位置決めする
ための位置決め部材６、６、６が設けられている． この固定台２の上面におけるパラボラ反射鏡４が被さる
位置には、第４図に示すように円形の凹所８が設けられ
、この凹所８の底部中央には円形の突出部ｌＯが設けら
れている．この凹所８の底部及び突出部ｌＯの上面には
、スピンドル型の検出器ｌ２が複数個設けられている。
準パラボラ反射鏡を，その反射面が固定台側を向く状態
に配置した際に、基準パラボラ反射鏡の反射面の種々の
位置に当接するように配置され、その当接状態を基準状
態とし、固定台上に検査対象のパラボラ反射鏡を基準パ
ラボラ反射鏡と同一状態に配置した際に，基準状態から
の変位に応じた出力を生威する複数の検出器と、これら
検出器からの出力を入力し、検査対象の反射鏡の基準パ
ラボラ反射鏡に対するバラツキ度を演算する演算手段゛
と、この演算されたバラツキ度を予め定めたバラツキ度
評価値と比較して、検査対象の反射鏡の合否を判定する
Ｉ定手段と、この判定結果を視認可能に出力する出力手
段とを，具備するものである． ［作用］ 本発明によれば、固定台上に検査対象のパラボラ反射鏡
を、基準パラボラ反射鏡と同一状態に配置すると、各検
出器はそれぞれ出力を発生する．これら出力は，各検出
器が基準パラボラ反射鏡に接触していたときを基準状態
とし、この基準状態からの変位に応じた出力である．従
って、各検出器の出力は、検査対象のパラボラ反射鏡の
各部における基準パラボラ反射鏡の対応する部分に対す
る偏差をそれぞれ表わしている．これら検出器の出力は
、バラツキ度演算手段に入力され、基準パラボラ反射鏡
に対する検査対象のパラボラ反射鏡のバラツキ度が演算
される。そして、このハラツキ度は、予め定めたバラツ
キ度評価値と比較さ？、検査対象の反射鏡の合否が判定
され、この判定結果は視認可能に出力■手段に出力され
る．［実施例］ この実施例は、第３図に示すように、矩形に形威された
固定台２を有し，この固定台２の上面には，検査対象の
パラボラ反射鏡４を、その反射面か固定台２の上面側を
向いた状態で固定台２の上面の所定位置に位置決めする
ための位置決め部材６、６、６が設けられている． この固定台２の上面におけるパラボラ反射鏡４が被さる
位置には、第４図に示すように円形の凹所８が設けられ
、この凹所８の底部中央には円形の突出部ｌＯが設けら
れている．この凹所８の底部及び突出部ｌＯの上面には
、スピンドル型の検出器ｌ２が複数個設けられている。
これら検出器ｌ２は、検査対象のパラボラ反射鏡４と同
じように基準パラボラ反射鏡を固定台２の上面に配置し
た状態において、この基準パラボラ反射鏡の反射面の各
部に接触するように配置されている．そして、この基準
パラボラ反射鏡の反射面に接触した状態において、これ
ら各検出器１２からの出力を実質的に零とするために、
第７図に示すように調整ナットｌ４、ロックナットｌ６
によって各検出器１２の取付け位置を調整する．なお、
これら各検出器１２は，その先端部が物体に接触するこ
とによって進退し、出力が零となる状態（基準状態）か
ら±３■の範囲内（検出器の測定範囲）における基準状
態からの長さを検出することができるものである．なお
，第４図に示すｌ８は、検出器ｌ２の取付け孔で，例え
ば検査するパラボラ反射鏡４のタイプが別のものとなり
、現在取付けている検出器１２だけでは、その別のパラ
ボラ反射鏡４の各部のバラツキ度を求める．には不充分
な場合に、検出器１２を追加するために事前に穿設され
ている．なお、別のタイプのパラボラ反射鏡を検査する
場合には、各検出器ｌ２の取付けは再調整される． 各検出器ｌ２の出力は、第２図に示すように、検出器切
換器２０を介して、順次ディジタル電子マイクロメータ
２２に供給される。このディ゛ジタル電子マイクロメー
タ２２は、入力された検出器１２の出力をディジタル化
して、ディジタル電子マイクロメータ２２に付属してい
る表示器にディジタル表示すると共に、そのディシタル
値をコントロールコンピュータ２４に供給する。
じように基準パラボラ反射鏡を固定台２の上面に配置し
た状態において、この基準パラボラ反射鏡の反射面の各
部に接触するように配置されている．そして、この基準
パラボラ反射鏡の反射面に接触した状態において、これ
ら各検出器１２からの出力を実質的に零とするために、
第７図に示すように調整ナットｌ４、ロックナットｌ６
によって各検出器１２の取付け位置を調整する．なお、
これら各検出器１２は，その先端部が物体に接触するこ
とによって進退し、出力が零となる状態（基準状態）か
ら±３■の範囲内（検出器の測定範囲）における基準状
態からの長さを検出することができるものである．なお
，第４図に示すｌ８は、検出器ｌ２の取付け孔で，例え
ば検査するパラボラ反射鏡４のタイプが別のものとなり
、現在取付けている検出器１２だけでは、その別のパラ
ボラ反射鏡４の各部のバラツキ度を求める．には不充分
な場合に、検出器１２を追加するために事前に穿設され
ている．なお、別のタイプのパラボラ反射鏡を検査する
場合には、各検出器ｌ２の取付けは再調整される． 各検出器ｌ２の出力は、第２図に示すように、検出器切
換器２０を介して、順次ディジタル電子マイクロメータ
２２に供給される。このディ゛ジタル電子マイクロメー
タ２２は、入力された検出器１２の出力をディジタル化
して、ディジタル電子マイクロメータ２２に付属してい
る表示器にディジタル表示すると共に、そのディシタル
値をコントロールコンピュータ２４に供給する。
コントロールコンピュータ２４は、入力された各検出器
ｌ２の出力のデータテーブルを作威しながら、バラッキ
度の演算を行ない、この演算結果を予め定めたハラツキ
度評価値と比較して，合否を判定し、その判定結果等を
ＣＲＴ２Ｂに表示すると共に、プリンタ２８によって印
刷する．なお，このコントロールコンピュータ２４は、
この他に検出器切換器２０及びディジタル電子マイクロ
メータ２２の制御も行なう．この制御は、ＧＰ− Ｉ
Ｐバスインターフェース３０を介して行なわれ、またデ
ィジタル電子マイクロメータ２２からのディジタル信号
（検出器１２の出力のディシタル信号）も、ＧＰ一ＩＰ
ハスインターフェース３０を介してコントロールコンピ
ュータ２４に供給される．そのため、検出器切換器２ロ
及びディジタル電子マイクロメータ２２には、それぞれ
ＧＰ− Ｉ Ｐハスインターフェース部３２、３４か設
けられている。
ｌ２の出力のデータテーブルを作威しながら、バラッキ
度の演算を行ない、この演算結果を予め定めたハラツキ
度評価値と比較して，合否を判定し、その判定結果等を
ＣＲＴ２Ｂに表示すると共に、プリンタ２８によって印
刷する．なお，このコントロールコンピュータ２４は、
この他に検出器切換器２０及びディジタル電子マイクロ
メータ２２の制御も行なう．この制御は、ＧＰ− Ｉ
Ｐバスインターフェース３０を介して行なわれ、またデ
ィジタル電子マイクロメータ２２からのディジタル信号
（検出器１２の出力のディシタル信号）も、ＧＰ一ＩＰ
ハスインターフェース３０を介してコントロールコンピ
ュータ２４に供給される．そのため、検出器切換器２ロ
及びディジタル電子マイクロメータ２２には、それぞれ
ＧＰ− Ｉ Ｐハスインターフェース部３２、３４か設
けられている。
このように構成された面精度検査装置の動作を、第１図
に示すコントロールコンピュータ２４のプログラムをフ
ローチャートで示したものに基いて説明する．このプロ
グラムか実行される前に、第３図に示すように検査対象
のパラボラ反射鏡４が固体台２上に配置され、各検出器
１２は、第５図及び第６図に示すように、それぞれ検査
対象のパラボラ反射鏡４の反射面に接触し、その各接触
位置が基準パラボラ反射鏡における対応位置よりもどれ
だけ凹凸しているかを表わす出力信号をそれぞれ発生し
ているとする． この状態において、まずコントロールコンピュータ２４
に付属しているキーボード（図示せず）を操作して、，
検査を行なう日付，検査の対象であるパラボラ反射鏡４
のタイプ、ロフト番号、製造番号、担当者名等を設定す
る（ステップＳ２）．そして、この設定されたデータを
ＣＲ丁２６に表示する（ステップＳ４）．そして、間違
いなくキーボードによる設定が行なわれたことを表わす
信号が、例えばキーボードを操作することによって入力
されているか判断し（ステップＳ６）、この答がＮｏで
あると，ステップＳ２に戻り設定をやりなおす。
に示すコントロールコンピュータ２４のプログラムをフ
ローチャートで示したものに基いて説明する．このプロ
グラムか実行される前に、第３図に示すように検査対象
のパラボラ反射鏡４が固体台２上に配置され、各検出器
１２は、第５図及び第６図に示すように、それぞれ検査
対象のパラボラ反射鏡４の反射面に接触し、その各接触
位置が基準パラボラ反射鏡における対応位置よりもどれ
だけ凹凸しているかを表わす出力信号をそれぞれ発生し
ているとする． この状態において、まずコントロールコンピュータ２４
に付属しているキーボード（図示せず）を操作して、，
検査を行なう日付，検査の対象であるパラボラ反射鏡４
のタイプ、ロフト番号、製造番号、担当者名等を設定す
る（ステップＳ２）．そして、この設定されたデータを
ＣＲ丁２６に表示する（ステップＳ４）．そして、間違
いなくキーボードによる設定が行なわれたことを表わす
信号が、例えばキーボードを操作することによって入力
されているか判断し（ステップＳ６）、この答がＮｏで
あると，ステップＳ２に戻り設定をやりなおす。
ステップＳ６の答かＹＥＳであると、検出器切換器２０
に対し或る検出器ｌ２の出力をディジタル電子マイクロ
メータ２２に供給するように制御信号を供給する（ステ
ップＳ８）。これに続いてディジタル電子マイクロメー
タ２２に対し、入力された検出器ｌ２の出力をサンプリ
ングしてディジタル化させるように制御信号を供給する
（ステップＳｌＯ）．これによってディジタル電子マイ
クロメータ２２は、入力された検出器ｌ２の出力をディ
ジタル化し、付属する表示器に、そのディジタル値を表
示すると共に，コントロールコンピュータ２４に供給す
る。
に対し或る検出器ｌ２の出力をディジタル電子マイクロ
メータ２２に供給するように制御信号を供給する（ステ
ップＳ８）。これに続いてディジタル電子マイクロメー
タ２２に対し、入力された検出器ｌ２の出力をサンプリ
ングしてディジタル化させるように制御信号を供給する
（ステップＳｌＯ）．これによってディジタル電子マイ
クロメータ２２は、入力された検出器ｌ２の出力をディ
ジタル化し、付属する表示器に、そのディジタル値を表
示すると共に，コントロールコンピュータ２４に供給す
る。
ステップＳＩＯに続いて、コントロールコンピュータ２
４は、ディジタル電子マイクロメータ２２からのディジ
タル信号を入力し（ステップＳＩ２）．その値が検出器
１２の最大測定範囲±３■内か判断する（ステップＳ
１４）。この答がＮｏであると、データが正しくないの
で，ステップＳ６に戻り，検出器１２の出力のディジタ
ル電子マイクロメータ２２への入力からやりなおす。ス
テップＳ１４の答かＹＥＳであると、その入力したデー
タをデータテーブルに入力し（ステップＳ１６）．バラ
ツキ度の演算を行ない（ステップＳ＋８）．その演算し
たハラツキ度をＣＲＴ２６に表示する（ステップＳ２０
），そして、今入力した検出器１２のデータか最後の検
出器１２のデータであるか判断し（ステップＳ２２）、
その答がＮＯであると、ステップＳ８に戻り，次の検出
器１２のデータを入力し、ステップＳＩＯ乃至Ｓ２２ま
でを繰返す．即ち、コントロールコンピュータ２４は、
データテーブルに検査対象のパラボラ反射ｆｉ４の反射
面の各部の基準状態からの変位データを入力しながら、
それらを用いたバラツキ度の演算を行なう．なお、バラ
ツキ度の演算としては、例えば最大値，最小値、平均値
、標準偏差、二乗平均平方根の算出を行なう． ステップＳ２２の答かＹＥＳになると、即ち、最後の検
出器１２の出力が入力されて、最終的に最大値、最小値
、平均値，標準偏差、二乗平均平方根のバラツキ度の演
算か行なわれると、予め検査対象のパラボラ反射鏡４の
タイプに応じて決定してあった合否判定比較値（ハラツ
キ度評価値）と演算されたバラツキ度とを比較し、この
ハラツキ度なら製品として合格か判断する（ステップＳ
２４）。この答がＹＥＳであると，ＣＲＴ２６に合格で
ある旨の表示と、日付、反射鏡のタイプ、ロット番号、
製造番号、担当者名、反射面の複数の計測位置（各検出
器ｌ２か接触した位置）に対応じた形状図、各検出器ｌ
２の出力、バラツキ度を表示し（ステップＳ２６）．さ
らにプリンタ２８に上記のＣＲ Ｔ ２６の表示と同じ
ものを印刷させる（ステップ３２８），ステップＳ２４
の答かＮｏであると，即ち不合格であると、ＣＲＴ２６
に不合格である旨の表示と、日付、反射鏡のタイプ，ロ
ット番号、製造番号、担当者名，反射面の複数の計測位
置に対応じた形状図，各検出器ｌ２の出力、バラツキ度
を表示し（ステップＳ３０）．さらにプリンタ２８に上
記のＣＲＴ２６の表示と同しものを印刷させる（ステッ
プＳ：ｌ２）， ステップＳ２８またはＳ３２に続いて、検査の最後のパ
ラボラ反射鏡４であるか判断し（ステップＳ３４），そ
の答がＮｏであると、次のパラボラ反射鏡の番号を設定
し（ステップＳ３６），ステップＳ４に戻り、上述した
のと同様な検査を行なう．ステップＳ３４の答かＹＥＳ
であると、検査は終了であるので、停止する。
４は、ディジタル電子マイクロメータ２２からのディジ
タル信号を入力し（ステップＳＩ２）．その値が検出器
１２の最大測定範囲±３■内か判断する（ステップＳ
１４）。この答がＮｏであると、データが正しくないの
で，ステップＳ６に戻り，検出器１２の出力のディジタ
ル電子マイクロメータ２２への入力からやりなおす。ス
テップＳ１４の答かＹＥＳであると、その入力したデー
タをデータテーブルに入力し（ステップＳ１６）．バラ
ツキ度の演算を行ない（ステップＳ＋８）．その演算し
たハラツキ度をＣＲＴ２６に表示する（ステップＳ２０
），そして、今入力した検出器１２のデータか最後の検
出器１２のデータであるか判断し（ステップＳ２２）、
その答がＮＯであると、ステップＳ８に戻り，次の検出
器１２のデータを入力し、ステップＳＩＯ乃至Ｓ２２ま
でを繰返す．即ち、コントロールコンピュータ２４は、
データテーブルに検査対象のパラボラ反射ｆｉ４の反射
面の各部の基準状態からの変位データを入力しながら、
それらを用いたバラツキ度の演算を行なう．なお、バラ
ツキ度の演算としては、例えば最大値，最小値、平均値
、標準偏差、二乗平均平方根の算出を行なう． ステップＳ２２の答かＹＥＳになると、即ち、最後の検
出器１２の出力が入力されて、最終的に最大値、最小値
、平均値，標準偏差、二乗平均平方根のバラツキ度の演
算か行なわれると、予め検査対象のパラボラ反射鏡４の
タイプに応じて決定してあった合否判定比較値（ハラツ
キ度評価値）と演算されたバラツキ度とを比較し、この
ハラツキ度なら製品として合格か判断する（ステップＳ
２４）。この答がＹＥＳであると，ＣＲＴ２６に合格で
ある旨の表示と、日付、反射鏡のタイプ、ロット番号、
製造番号、担当者名、反射面の複数の計測位置（各検出
器ｌ２か接触した位置）に対応じた形状図、各検出器ｌ
２の出力、バラツキ度を表示し（ステップＳ２６）．さ
らにプリンタ２８に上記のＣＲ Ｔ ２６の表示と同じ
ものを印刷させる（ステップ３２８），ステップＳ２４
の答かＮｏであると，即ち不合格であると、ＣＲＴ２６
に不合格である旨の表示と、日付、反射鏡のタイプ，ロ
ット番号、製造番号、担当者名，反射面の複数の計測位
置に対応じた形状図，各検出器ｌ２の出力、バラツキ度
を表示し（ステップＳ３０）．さらにプリンタ２８に上
記のＣＲＴ２６の表示と同しものを印刷させる（ステッ
プＳ：ｌ２）， ステップＳ２８またはＳ３２に続いて、検査の最後のパ
ラボラ反射鏡４であるか判断し（ステップＳ３４），そ
の答がＮｏであると、次のパラボラ反射鏡の番号を設定
し（ステップＳ３６），ステップＳ４に戻り、上述した
のと同様な検査を行なう．ステップＳ３４の答かＹＥＳ
であると、検査は終了であるので、停止する。
上記の実施例では、検出器切換器２０、ディジタル電子
マイクロメータ２２には、ＧＰ−ＩＰインターフェース
部３２、３４がそれぞれ付属しているものを用いたが、
これらが付属していないものを使用することもできる．
また，上記の実施例では、検出器切換器２０，ディジタ
ル電子マイクロメータ２２は、ＱＢ− Ｉ Ｂ八スイン
ターフェースを介してコントロールコンピュータ２４に
よって制御されるように構威したが、検出器切換器２０
専用の切換信号発生部を設けたり、ディジタル電子マイ
クロメータ２２専用のＡ／Ｄ変換指令信号発生部と、デ
ィジタル電子マイクロメータ２２からのディジタル信号
をコントロールコンピュータ２４に伝送する伝送部を専
用に設けてもよい． ［発明の効果］ 以上のように，本発明によれば、検査対象のパラボラ反
射鏡を，検出器が設けられている固体台上に配置するだ
けで、検査対象のパラボラ反射鏡の面精度の合否を自動
的に判定することができるので、検査に要する時間が非
常に短くなる。従って、大量に生産されるパラボラ反射
鏡をそれぞれ検査する場合に、効率よく検査することが
できる．さらに、本発明は、価格が比較的安価である検
出器と、通常にはコントロールコンピュータによって構
威されるバラツキ度演算手段と、合否判定手段とからな
るものであるので、そのコストが安価であり、パラボラ
反射鏡の面精度検査に要するコストを引き下げることが
゛できる．しかも，上記の実施例では，検出器切換器，
ディジタル電子マイクロメータへのコントロールコンピ
ュータからの制御信号及びディジタル電子マイクロメー
タからコントロールコンピュータへの計測データは！！
準化されたＧＰ−ＩＢバスインターフェースを用いて送
受されるので、例えば異なるタイプのパラボラ反射鏡を
検査するために、検出器の数を増減させた場合にも、増
減させた検出器の数に応じたものに検出器切換器を変更
すれば、速やかに適応することができる．
マイクロメータ２２には、ＧＰ−ＩＰインターフェース
部３２、３４がそれぞれ付属しているものを用いたが、
これらが付属していないものを使用することもできる．
また，上記の実施例では、検出器切換器２０，ディジタ
ル電子マイクロメータ２２は、ＱＢ− Ｉ Ｂ八スイン
ターフェースを介してコントロールコンピュータ２４に
よって制御されるように構威したが、検出器切換器２０
専用の切換信号発生部を設けたり、ディジタル電子マイ
クロメータ２２専用のＡ／Ｄ変換指令信号発生部と、デ
ィジタル電子マイクロメータ２２からのディジタル信号
をコントロールコンピュータ２４に伝送する伝送部を専
用に設けてもよい． ［発明の効果］ 以上のように，本発明によれば、検査対象のパラボラ反
射鏡を，検出器が設けられている固体台上に配置するだ
けで、検査対象のパラボラ反射鏡の面精度の合否を自動
的に判定することができるので、検査に要する時間が非
常に短くなる。従って、大量に生産されるパラボラ反射
鏡をそれぞれ検査する場合に、効率よく検査することが
できる．さらに、本発明は、価格が比較的安価である検
出器と、通常にはコントロールコンピュータによって構
威されるバラツキ度演算手段と、合否判定手段とからな
るものであるので、そのコストが安価であり、パラボラ
反射鏡の面精度検査に要するコストを引き下げることが
゛できる．しかも，上記の実施例では，検出器切換器，
ディジタル電子マイクロメータへのコントロールコンピ
ュータからの制御信号及びディジタル電子マイクロメー
タからコントロールコンピュータへの計測データは！！
準化されたＧＰ−ＩＢバスインターフェースを用いて送
受されるので、例えば異なるタイプのパラボラ反射鏡を
検査するために、検出器の数を増減させた場合にも、増
減させた検出器の数に応じたものに検出器切換器を変更
すれば、速やかに適応することができる．
第１図は本発明による面精度検査装置の一実施例に用い
るコントロールコンピュータのプログラムを示すフロー
チャート，第２図は同実施例のブロック図、第３図は同
実施例においてパラボラ反射鏡の面精度を検査している
状態を示す斜視図，第４図は同実施例における固定台へ
の検出器の取付け状態を示す斜視図，第５図は第３図の
Ａ−Ａ線に沿う断面図、第６図は第３図のＢ−Ｂ線に沿
う断面図，第７図は本実施例における検出器の取付け状
態を示す図である。 ２・・・・固定台． １２−・・・検出器、２４・・・
・コントロールコンピュータ（バラッキ度演算手段、判
定手段） ２６・・・・ＣＲＴ （出力手段） ２８・・・・プリン タ （出力手段）
るコントロールコンピュータのプログラムを示すフロー
チャート，第２図は同実施例のブロック図、第３図は同
実施例においてパラボラ反射鏡の面精度を検査している
状態を示す斜視図，第４図は同実施例における固定台へ
の検出器の取付け状態を示す斜視図，第５図は第３図の
Ａ−Ａ線に沿う断面図、第６図は第３図のＢ−Ｂ線に沿
う断面図，第７図は本実施例における検出器の取付け状
態を示す図である。 ２・・・・固定台． １２−・・・検出器、２４・・・
・コントロールコンピュータ（バラッキ度演算手段、判
定手段） ２６・・・・ＣＲＴ （出力手段） ２８・・・・プリン タ （出力手段）
Claims (1)
- （１）固定台上に基準パラボラ反射鏡をその反射面が上
記固定台側を向く状態に配置した際に、上記基準パラボ
ラ反射鏡の反射面の種々の位置に当接するように配置さ
れ、その当接状態を基準状態とし、上記固定台上に検査
対象のパラボラ反射鏡を上記基準パラボラ反射鏡と同一
状態に配置した際に上記基準状態からの変位に応じた出
力を生成する複数の検出器と、これら検出器からの出力
を入力し上記検査対象の反射鏡の上記基準パラボラ反射
鏡に対するバラツキ度を演算する演算手段と、この演算
されたバラツキ度を予め定めたバラツキ度評価値と比較
して上記検査対象の反射鏡の合否を判定する判定手段と
、この判定結果を視認可能に出力する出力手段とを、具
備するパラボラ反射鏡の面精度検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1194540A JP2597191B2 (ja) | 1989-07-26 | 1989-07-26 | パラボラ反射鏡の面精度検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1194540A JP2597191B2 (ja) | 1989-07-26 | 1989-07-26 | パラボラ反射鏡の面精度検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0357909A true JPH0357909A (ja) | 1991-03-13 |
| JP2597191B2 JP2597191B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=16326234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1194540A Expired - Lifetime JP2597191B2 (ja) | 1989-07-26 | 1989-07-26 | パラボラ反射鏡の面精度検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2597191B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57112909U (ja) * | 1980-12-29 | 1982-07-13 | ||
| JPS6044801A (ja) * | 1983-08-23 | 1985-03-11 | Fujitsu Ltd | アンテナ鏡面測定装置とその測定方法 |
-
1989
- 1989-07-26 JP JP1194540A patent/JP2597191B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57112909U (ja) * | 1980-12-29 | 1982-07-13 | ||
| JPS6044801A (ja) * | 1983-08-23 | 1985-03-11 | Fujitsu Ltd | アンテナ鏡面測定装置とその測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2597191B2 (ja) | 1997-04-02 |
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