JPH0357964A - 電子部品の抵抗値計測法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、チップ状電子部品が複数個並列状に整列され
た短冊状のものの各部品の抵抗値を計測する方法に関す
るものである。

従来の技術 従来、この種の抵抗値測定法は第３図に示すようにして
行われていた。第３図にかいて，１は電気絶縁性の基板
で、その上面には、対向する１対の電極２と．この電極
２間に電極２に端部が重なるように形成される抵抗体３
とが複数個並設させて形威している。１た，この抵抗体
３を保護する帯状の保護膜４が形戒されている。前記電
極２と抵抗体３とからなる電子部品が並列状に整列され
た部品の各素片間にはプレーク用溝６が設けられている
。これら複数個整列された電子部品の抵抗値を計測する
場合，プローブ６を一対の電極２の上面に接触させて計
測を行なっていた。

発明が解決しようとする課題 このような従来の構戒では、保護膜の印刷精度．電子部
品自体の位置決め精度の要因による位置ずれが発生した
場合、位置ずれした方の電極面積が微小になるため、プ
ローブが保護膜上に接触し抵抗値を計測しないという問
題点があった。

本発明はこのような問題点を解決するもので、保護膜の
印刷位置筐たは電子部品自体の位置決め精度が悪い場合
でもグローブを電極に正確に接触させ各素片の抵抗値を
正確に計測することを目的とするものである。

課題を解決するための手段 この問題点を解決するために本発明は、基板上の電極面
に対して傾斜しかづ基板の端面角部上の電極と接する接
触面を持つプローブを用い、電極の角部上方から接触さ
せるようにしたものである。

作用 この構戊により保護膜の位置ずれ、電子部品自体の位置
決め精度の悪さの影響を受けずに正確な計測が可能とな
る。

実施例 第１図，第２図に本発明の一実施例による抵抗値計測法
を実施している状態を示してかり、図において、第３図
に示す部分と同一部分については同一番号を付している
。

１１ぱ電子部品が複数個並列に整列された部品連の抵抗
値を計測するためのプローブで、先端に，基板１上の電
極２面に対して傾斜し、かつ基板１の端面角部上の電極
２と接する接触面１２が設けられておシ，電極２の角部
上方から接触している。

この構或のブロープ１１を用いて抵抗値を計測すること
により、電子部品の位置ずれや保護膜４を形戒した時の
位置ずれに対してもグローブ１１と電極２との電気的な
接触状態に悪影響を受けることがなく，正確な計測を行
うことができる。

発明の効果 以上のように本発明によれば，電子部品が複数個並列に
整列された各素片の抵抗値を計測する場合、抵抗体を保
護する保護膜の位置ずれ、１たは，電子部品自体の位置
ずれの影響を受けることなく常に正確な計測が可能とな
り、計測値に対する信頼性が向上し、生産工程に訟いて
計測に費す時間（工数）も短縮され、歩留，生産性とも
に向上することとなる。

【図面の簡単な説明】

第１図，第２図は本発明の一実施例による抵抗計測法を
示す斜視図ならびに断面図、第３図はチップ状電子部品
の従来の計測方法を示す斜視図である。 １・・・・・・電気絶縁性の基板、２・・・・・・電極
、３・・・・・・抵抗体，４・・・・・・保護膜、１１
・・・・・・ブロープ，１２・・・・・・接触面。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 電気絶縁性の基板上に形成された膜状の抵抗素子および
   この抵抗素子の両側に形成された膜状の電極を有する電
   子部品が複数個並列状に整列されている部品連の抵抗値
   を計測する際に、前記基板上の電極面に対して傾斜しか
   つ基板の端面角部上の電極と接する接触面を持つプロー
   ブを用いた電子部品の抵抗値計測法。