JPH0359417A - 光学式エンコーダ及びその光学スケール - Google Patents

光学式エンコーダ及びその光学スケール

Info

Publication number
JPH0359417A
JPH0359417A JP19557689A JP19557689A JPH0359417A JP H0359417 A JPH0359417 A JP H0359417A JP 19557689 A JP19557689 A JP 19557689A JP 19557689 A JP19557689 A JP 19557689A JP H0359417 A JPH0359417 A JP H0359417A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
grating
window
diffracted
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP19557689A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0810145B2 (ja
Inventor
Atsushi Yashiro
淳 家城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Okuma Corp
Original Assignee
Okuma Machinery Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Okuma Machinery Works Ltd filed Critical Okuma Machinery Works Ltd
Priority to JP1195576A priority Critical patent/JPH0810145B2/ja
Publication of JPH0359417A publication Critical patent/JPH0359417A/ja
Publication of JPH0810145B2 publication Critical patent/JPH0810145B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Transform (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、例えば旋盤、フライス盤等の工作機械や、半
導体製造装置の位置計測に利用することができる光学式
エンコーダ及びその光学スケールに関する。
(従来の技術) 第9図は、従来の光学式アブソリュート型エンコーダの
光学系の一例を示す斜視構造図であり、測定光Laを発
する、例えばLED (Light Emitting
D10de)やランプ等の発光素子11と、発光素子1
1によって照射された測定光Laを平行光Lbにするコ
リメータレンズ12と、コリメータレンズ12を透過し
て来た平行光Lbを透過させる部分(以下、透過部とい
う) 13八及び透過させない部分(以下、非透過部と
いう) 13Bが所定の長さ(以下、格子ピッチという
)で繰返されている格子トラックt。
t7.・・・・・・、toが表面にn本(nは整数〉平
行に並設されている第1スケール13と、透過部13^
を透過して来た光(図示せず)を透過させる透過窓14
A1.14A2.・・・・・・、14^。が第1スケー
ル13の各格子トラックj、[2+・・・・・・+jn
に対応して設けられている第2スケール14と、第2ス
ケール14の各透過窓14A、、14^2.・・・・・
・、14^。に対応して設けられ、各透過窓14A1.
14A2.・・・・・・、14^。を透過して来た光L
cl。
Lc2.・・・・・・、Lcnの強度に応じた電気信号
に変換する光電変換素子1s−1,15−2,・・・・
・・、15−nとで構成されている。
このような構成の光学式アブソリュート型エンコーダの
光学系lOに用いられる第1スケール13には、第10
図に示すような隣り合った格子トラック1、.1.、及
びt2 、 t3及び・・・・・・1n−、,1oの格
子ピッチP1.P2.P3.−・・・、Pn−t、Pn
が互いに1:2の関係になっている交番2進符合(ダレ
イコード)が設けられている。従って、この第1スケー
ル13の各格子トラックt1.t3.t3.・・・・・
・、1n−、,1,の透過部13A 、及び第1スケー
ル13の各格子トラックt1゜t2. j3.・・・・
・・+jn−1+tnに対応した第2スケール14の各
透過窓14八1,14A2,14^、、 −・・・・、
14An−、,14^。
を透過して、各透過窓14A、、14^2,14^0.
・・・・・・’4An−+、14Anに対応した各光電
変換素子15−1゜15−2.15−3.・−= 、1
5−n−1,15−nに入射する光]5c。
L(2,Lc、、m++ 、Lcn−、、Lcnの強度
が、第1スケール13の長手方向の移動(図示矢印X)
に伴ってそれぞれ周期的に変化するので、この変化に応
じて各光電変換素子1s−1,15−2,15−3,・
”−,15−n−1,15−nで変換される各電気信号
もそれぞれ周期的に変化する。第11図は、横軸に第1
スケール13の長手方向の移動変位量tallを、縦軸
に各光電変換素子15−1.15−2.f5−3. =
−・−,15−n−1,15,−nで変換された電気信
号51.52.S3、−・−、S、−、、Snを示すも
ので、各電気信号51.S2,53.−・・・・・、 
So−、、Snがそれぞれ周期的に変化していることが
わかる。そして、これら電気信号51.52,53.−
= 、 5n−1+Snは、第12図の光学式アブソリ
ュート型エンコーダのブロック図に示すようにそれぞれ
コンパレータ20によってデジタル化d++’2.d3
.+*+++、 ’n−1dnされ、さらにデコーダ3
0によって交番2進符合から純2進符合やBCD符合等
の所望の形式の絶対位置データDに変換される。
(発明が解決しようとする課題) 位置計測に利用される光学式アブソリュート型エンコー
ダは、その位置検出分解能を高めてより微小な変位量を
検出可能にすること、及び同時により長いストロークに
わたってその絶対位置を検出可能にすることが求められ
ている。しかし、上述したような光学式アブソリュート
型エンコーダにおいては、最小位置検出分解能は最小分
割された格子トラックtnにおける格子ピッチPnと同
程度であり、絶対位置検出ストローク長は最大分割され
た格子トラックtlにおc−する格子ピッチP、と同程
度であるので、位置検出分解能を高め、かつ絶対位置検
出ストローク長を長くしようとすると、格子トラック数
nが増加して光学式アブソリュート型エンコーダが大型
化したり、その部品である光電変換素子、コンパレータ
等の数が増加してしまうという欠点があった。
本発明は上述のような事情からなされたものであり、本
発明の目的は、位置検出分解能が高く、かつ絶対位置検
出ストローク長が長い小型の光学式エンコーダ及びその
光学スケールを提供することにある。
(課題を解決するための手段) 本発明は、例えば旋盤、フライス盤等の工作機械や、半
導体製造装置の位置計測に利用される光学式エンコーダ
及びその光学スケールに間するものであり、本発明の上
記目的は、光学式エンコーダにおいては、光を固有の角
度、方向又は強度に回折する回折格子から成る格子窓が
適宜配置されている光学スケールと、可干渉性を有する
平行光を発し、その光束内に1つ以上の前記格子窓を含
む光源装置と、前記格子窓にて回折された回折光を受光
し、各回折光の光点位置を検出して電気信号に変換する
光点位置検出装置と、前記電気信号により前記光学スケ
ールの位置データを求めて出力する読取装置とを具備す
ることによって、または光を所定の角度、方向又は強度
に回折する回折格子から成る格子窓を2つ以上含み、こ
の2つ以上の格子窓において回折される光の角度、方向
又は強度が固有の組合せとなっている格子窓群が適宜配
置されている光学スケールと、可干渉性を有する平行光
を発し、その光束内に1つ以上の前記格子窓群を含む光
源装置と、前記格子窓群にて回折された回折光を受光し
、各回折光の光点位置を検出して電気信号に変換する光
点位置検出装置と、前記電気信号により前記光学スケー
ルの位置データを求めて出力する読取装置とを具備する
ことによって達成される。また、光学スケールにおいて
は、光を固有の角度、方向又は強度に回折する回折格子
から成る格子窓を適宜配置することによって、または光
を所定の角度、方向又は強度に回折する回折格子窓から
成る格子窓を2つ以上含み、この2つ以上の格子窓にお
いて回折される光の角度、方向又は1強度が固有の組合
せとなっている格子窓群を適宜配置することによって達
成される。
(作用) 本発明の光学式エンコーダ及びその光学スケールは、格
子窓の変位により回折光の位置が移動することと、格子
窓での回折の仕方により格子窓を特定することができる
こととを利用したものであり、長ストロークにわたって
分解能の高い位置データを正確に得ることができる。
(実施例) 第1図は本発明の光学式アブソリュート型エンコーダの
光学系の一例を示す斜視構造図であり、可干渉性の測定
光Llを発する、例えばl[l (laserD 1o
de)等の発光素子301 と、この発光素子301に
よって照射された測定光Llを平行光LJにするコリメ
ータレンズ302 と、このコリメータレンズ302で
平行にされた平行光LJを部分的に透過させて所定幅の
光束LHにするスリット303と、回折格子を有する格
子窓Tが一定間隔Wで配置され、各回折格子は光の透過
部、非透過部の比及び格子線方向が同一であってピッチ
が異なり、スリット303からの光束LHを回折する長
形状のスケール304と、このスケール304の格子窓
Tで回折された複数の回折光をそれぞれ集光するシリン
ドリカルレンズ305と、このシリンドリカルレンズ3
05からの各回折光LLO,LL±1・・・・・・、 
11士、・・・・・・の光点LPo。
LI’±1・・・・・・、LPf、、・・・・・・の位
置を検出して電気信号に変換する、例えばイメージセン
サ等の光点位置検出素子306とで構成されている。な
お、直線上に固定して配設されている発光素子301.
コリメータレンズ302.スリット303.シリンドリ
カルレンズ305はスケール304に対して相対的に移
動できればよいが、この例ではスケール304が長平方
向く図示矢印X〉に直線的に移動するようになっている
このような構成の光学式アブソリュート型エンコーダの
光学系300において、シリンドリカルレンズ305か
らの各回折光t、to、t、t±1・・・・・・LLf
: n・・・・・・のうちO次回折光LLoと正負のn
次回折光LLfnとがなす角(以下、回折角という)±
00は、スケール304の格子窓Tの回折格子のピッチ
PPとスリット303からの光束LHの波長λとにより
次式(1)で表わされる。
±θ、=±sin”” (nλ/PP)       
−・−−−・(1)そして、正負のn次回行光の光点位
置検出素子306上の光点LP、、、 LP−、は、ス
ケール304と光点位置検出素子306 との距離をS
Sとすると次式(2)で表わされる距11ddnを隔て
て位置する。
dd、= 25Stan(5in−’(nλ/PP))
   −・−・(2)例えば第2図に示すように、スケ
ール304が同図示左方に移動してスリット303から
の光束LKの照射範囲がa −4bと変化した場合、光
点位置検出素子306上の0次回折光の光点LP+to
+LPzto。
LPstoと1次回折光の光点LPIT±1.LP2T
±1゜LP3.±、は同図示のようになり、各1次回折
光の光点開路111dd+T、dd2丁、dd、Tは次
式(3) 、 (4) 、 (5)で表わされる。
dd、T= 25Stan(5in−’ (λ/PPI
T))−−−−−−(3)dd27= 25Stan(
sin”” (λ/I)P2T))  −・−・−(4
)dd、7= 25Stan(5in−’ (λ/PP
3T) )  = ・・・(5)従って、光点位置検出
素子306上の正負の1次回折光の光点t、pnt±1
の位置からそれらの光点間圧ill ddn?を求め、
この光点間圧@ ddn、から回折格子のピッチPPn
Tを求めてスケール304上の格子窓TnTを特定し、
また光点位置検出素子306上のO次回行光の光点LP
ntoの位置から格子窓の間隔W内の絶対位置を求める
ことで、スケール304上の絶対位置データを求めるこ
とができる。
第3図は本発明の光学式アブソリュート型エンコーダの
一例を示すブロック図であり、上述した光学系300と
第1変換部320.第2変換部330及び演算部340
で成る読取装置310とで構成されている。
回折判定部322は、光点位置検出素子306上の例え
ば1次回折光の光点t、pnv±1の位置を表わす第4
図に示すような座標値(XnT□+ynT+1)+(x
nアー++ynt−+)を人力し、次式(6)Cより光
点間圧@ ddn、を求めて前式(2)により回折格子
のピッチPPntを求める。
記憶部321にはスケール304上の各格子窓” l 
T *”2T+”” * TnT+”’の位置データ’
05旧* P O!iH2* ””pos、□・・・と
回折格子のピッチPP、〒+ pp、T、・・・PP、
↑、・・・とが対応付けられて記憶されており、照合部
323は回折判定部322からの回折格子のピッチpp
t+te対応する格子窓TnTの位置データP。S□。
を記憶部321から読出して演算部340に送出する。
一方、第2変換部330は、光点位置検出素子306上
のO次回行光の光点LPnToの位置を表わす第4図に
示すような座標値(Xnto、ynto)を入力し、ス
ケール304上の格子窓Tnアの間隙W内の絶対位置P
。SLnを求めて演算11340に送出する。なお、O
次回行光の光点LPn、。の座標値(Xnyo、Vnア
0)の代りに、1次回折光の光点LPnア±8の中間点
の座標値((Xnt*+−Xr+t−+)/L(ynア
□−ynt−+)/2)を用いて上記絶対位置PO3L
nを求めることも可能である。
上述した位置データPO3Hn及び絶対位置P。ヨしn
はスケール304の変位に対して第5図に示すように変
化するので、演算部340は位置データP。!Hnと絶
対位置PO8Lnを加算してスケール304上の絶対位
置データP。snを求めて出力する。
第6図は第1図に示す光学式アブソリュート型エンコー
ダの光学系のスケール304に設けられる格子窓の別の
パターン例を示す図であり、回折格子を有する一対の格
子窓T。AlTnBが一定間隙WWで配置されており、
各回折格子は光の透過部、非透過部の比及び格子線方向
が同一であってピッチが異なっている。このような構成
によれば格子窓の特定を格子窓の組合せ分増加させるこ
とができるので、スケール304を長尺化することがで
きる。
このスケール304上の絶対位置データを求める読取装
置は第3図に示す読取装置310の第1変換部320を
第7図に示すように変更すればよい。すなわち、2つの
回折判定部322は、光点位置検出素子306上の例え
ば2つの1次回折光の光点LPoA±、及びLPnB±
1の位置を表わす座標値(xnA◆++VnA*+) 
+ (Xn^−+ ・3’n^−I)及び(Xnel*
I 、Vna++) l (XnB−11yllB−1
)をそれぞれ入力し、求めた光点間圧111ddnA及
びddoBにより回折格子のピッチPPnA及びppn
aをそれぞれ求める。
組合せ判定部324は、各回折判定部322からのピッ
チPPn^及びPPnl1lの組合せを判定し、その結
果PPnAaを照合部323に送出する。
記憶部321にはスケール304上の一対の格子窓T+
A、T+a;TzA、Tza;”’ ;Tna+Tna
;・・・の位置データPO3HI +Pos□2.・・
・、 pos□、・・・と回折格子のピッチの組合せP
P+Ae、PPzAl”・l ”nAl1+”・とが対
応付けられて記憶されており、照合部323は組合せ判
定部324からの回折格子のピッチの組合せPPnAl
1に対応する格子窓T。A、Tnllの位置データP。
3Hnを記憶部321から読出して送出する。
なお、上述した各実施例においてはスケール304上の
格子窓の回折格子のピッチが格子窓毎に異なる場合を示
したが、透過部及び非透過部の比が格子窓毎に異なるス
ケールや、格子線方向が格子窓毎に異なるスケールを用
いてもスケール上の絶対位置データを得ることができる
。すなわち、透過部及び非透過部の比を変えた場合は、
異なる次数の回折光の強度比が透過部及び非透過部の比
により変化することを利用するものであり、この原理に
基づく判定基準を回折判定部322が持つことで格子窓
を特定することができる。また、格子線方向を変えた場
合は、同次数の正負の回折光の光点位置が格子線方向に
より移動(回転)することを利用するものであり、この
原理に基づく判定基準を回折判定部322が持つことで
格子窓を特定することができる。
また、例えば第2図示す又は第6図示Cのように光束り
にの照射範囲内に2組の格子窓が含まれる場合には、読
取装置310において各格子窓毎にスケール304上の
絶対位置データを求めて平均化するようにしてもよい。
この平均化処理を行なう際、各絶対位置データに重み付
けを行なえば格子窓の間1(WW又はWWを周期とする
誤差成分を低減することができる。
さらに、発光素子から照射された可干渉光をスケールに
透過させて回折光を得ているが、透過光と反射光とは性
質上差がないのでスケールで反射させて回折光を得るよ
うにすることも可能である。反射式とした場合、発光素
子、コリメータレンズ、スリットとシリンドリカルレン
ズ、光点位置検出素子とはスケールに対して同一側に配
設され、スケールは光反射部と先非反射部とで形成され
る。
そして、第8図に示すようにスケールを円板307にし
て、その表面に本発明の格子窓Tを円環状に設け、円板
307の中心を回転軸にして回転させれば、角度の検出
をアブソリュートで行なうことも可能である。
(発明の効果)゛ 以上のように本発明の光学式エンコーダによれば、従来
複数本の格子トラックが必要であった長ストロークの絶
対位置検出が直線状に配設された格子窓で可能となるの
で、部品が小さくなって光学式エンコーダを小型化する
ことができると共に、光学式エンコーダの製造コストダ
ウンや製品コストダ、ウンを図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光学式エンコーダの光学系の一例を示
す斜視構造図、第2図はその光学スケールの一例を示す
図、第3図はその読取装置、の−例を示すブロック図、
第4図及び第5図はそれぞれ本発明の光学式エンコーダ
による読取を説明する図、第6図は本発明の光学スケー
ルの別の一例を示す図、第7図はその読取装置の主要部
を示すブロック図、第8図は本発明の光学スケールのさ
らに別の一例を示す図、第9図は従来の光学式エンコー
ダの光学系の一例を示す斜視構造図、第1O図はその格
子トラックの一例を・示す図、第11図はその電気信号
の一例を示す図、第12図はその読取装置の一例を示す
図である。 10.300・・・光学式アブソリュート型エンコーダ
の光学系、11,301・・・発光素子、12,302
−・・コリメータレンズ、13,14,304,307
・・・スケール、303・・・スリット、305・・・
シリンドリカルレンズ、15・・・光電変換素子、20
・・・コンパレータ、30・・・デコーダ、306・・
・光点位置稜出素子、310・・・読取装置、320・
・・第1変換部、321・・・記憶部、322・・・回
折判定部、323・・・照合部、324・・・組合せ判
定部、330・・・第2変換部、340・・・演算部。 1秒 諺 ! 薯 図 χ 第 θ 図 薯 回

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光を固有の角度、方向又は強度に回折する回折格子
    から成る格子窓が適宜配置されている光学スケールと、
    可干渉性を有する平行光を発し、その光束内に1つ以上
    の前記格子窓を含む光源装置と、前記格子窓にて回折さ
    れた回折光を受光し、各回折光の光点位置を検出して電
    気信号に変換する光点位置検出装置と、前記電気信号に
    より前記光学スケールの位置データを求めて出力する読
    取装置とを備えて成ることを特徴とする光学式エンコー
    ダ。 2、前記格子窓を構成する回折格子が格子窓毎に光を固
    有の角度、方向又は強度で回折するように設けられてお
    り、前記読取装置が、前記光点位置検出装置から出力さ
    れる電気信号により1次以上の同次数の正負の回折光の
    光点位置を読取つてこの回折光を回折した前記格子窓を
    特定する第1の変換手段と、前記光点位置検出装置から
    出力される電気信号により0次の回折光の光点位置を読
    取って前記格子窓の間隔内での位置を求める第2の変換
    手段と、前記第1の変換手段及び前記第2の変換手段か
    らの出力により前記光学スケールの位置データを求める
    演算手段とで成る請求項1に記載の光学式エンコーダ。 3、前記格子窓を構成する回折格子が格子窓毎に光の透
    過部と非透過部の比及び格子線方向が同一であって格子
    ピッチが異なっており、前記第1の変換手段が、前記光
    点位置検出装置から出力される電気信号により1次以上
    の同次数の正負の回折光の光点間距離を求めてこの回折
    光を回折した前記格子窓を特定するようになっている請
    求項2に記載の光学式エンコーダ。 4、前記格子窓を構成する回折格子が格子窓毎に光の透
    過部と非透過部の比及び格子ピッチが同一であって格子
    線方向が異なっており、前記第1の変換手段が、前記光
    点位置検出装置から出力される電気信号により1次以上
    の同次数の正負の回折光の光点の回転角度を求めてこの
    回折光を回折した前記格子窓を特定するようになってい
    る請求項2に記載の光学式エンコーダ。 5、前記格子窓を構成する回折格子が格子窓毎に格子ピ
    ッチ及び格子線方向が同一であって光の透過部と比透過
    部の比が異なっており、前記第1の変換手段が、前記光
    点位置検出装置から出力される回折光の強度に応じた電
    気信号により各電気信号の比を求めて前記回折光を回折
    した前記格子窓を特定するようになっている請求項2に
    記載の光学式エンコーダ。 6、光を所定の角度、方向又は強度に回折する回折格子
    から成る格子窓を2つ以上含み、この2つ以上の格子窓
    において回折される光の角度、方向又は強度が固有の組
    合せとなっている格子窓群が適宜配置されている光学ス
    ケールと、可干渉性を有する平行光を発し、その光束内
    に1つ以上の前記格子窓群を含む光源装置と、前記格子
    窓群にて回折された回折光を受光し、各回折光の光点位
    置を検出して電気信号に変換する光点位置検出装置と、
    前記電気信号により前記光学スケールの位置データを求
    めて出力する読取装置とを備えて成ることを特徴とする
    光学式エンコーダ。 7、前記読取装置が、前記光点位置検出装置から出力さ
    れる電気信号により前記格子窓群に含まれる各格子窓の
    1次以上の同次数の正負の回折光の光点位置を読取って
    この回折光を回折した格子窓の組合せを求めて前記格子
    窓群を特定する第3の変換手段と、前記光点位置検出装
    置から出力される電気信号により0次の回折光の光点位
    置を読取って前記格子窓群の間隔内での位置を求める第
    2の変換手段と、前記第3の変換手段及び前記第2の変
    換手段からの出力により前記光学スケールの位置データ
    を求める演算手段とで成る請求項6に記載の光学式エン
    コーダ。 8、前記光学スケールと前記光源装置、前記光点位置検
    出装置との相対的移動が、前記光学スケールが前記光源
    装置、前記光点位置検出装置に対して移動するようにな
    っている請求項1に記載の光学式エンコーダ。 9、前記光学スケールと前記光源装置、前記光点位置検
    出装置との相対的移動が、前記光源装置、前記光点位置
    検出装置が一緒に前記光学スケールに対して移動するよ
    うになっている請求項1に記載の光学式エンコーダ。 10、前記光学スケールが直線状に格子窓が設けられて
    いる平板であり、前記相対的移動が直線である請求項1
    に記載の光学式エンコーダ。 11、前記光学スケールが円環状に格子窓が設けられて
    いる円板であり、前記相対的移動が回転である請求項1
    に記載の光学式エンコーダ。 12、前記光源装置が、可干渉光を発する光源と、この
    光源によって照射された前記可干渉光を平行光にするコ
    リメータレンズと、このコリメータレンズで平行化され
    た前記平行光を所定幅に制限するスリットとで成る請求
    項1に記載の光学式エンコーダ。 13、前記光源がレーザ光を発するレーザ発振素子であ
    る請求項12に記載の光学式エンコーダ。 14、前記光点位置検出装置が、前記光学スケールによ
    って回折された回折光を集光する集光レンズと、集光さ
    れた前記回折光の光点位置を検出して電気信号に変換す
    る光点位置検出素子とで成る請求項1に記載の光学式エ
    ンコーダ。 15、前記光点位置検出素子が光点位置を電気信号に変
    換するイメージセンサである請求項14に記載の光学式
    エンコーダ。 16、前記光源装置及び光点位置検出装置が前記光学ス
    ケールに対して反対側にあり、前記光学スケールの格子
    窓の透過部が前記光源装置によって照射された前記平行
    光を透過して回折するようになっている請求項1に記載
    の光学式エンコーダ。 17、前記光源装置及び光点位置検出装置が前記光学ス
    ケールに対して同一側にあり、前記光学スケールの格子
    窓の透過部が前記光源装置によって照射された前記平行
    光を反射して回折するようになっている請求項1に記載
    の光学式エンコーダ。 18、移動体の変位の検出等に使用される光学スケール
    において、光を固有の角度、方向又は強度に回折する回
    折格子から成る格子窓が適宜配置されていることを特徴
    とする光学スケール。 19、前記格子窓を構成する回折格子が格子窓毎に光の
    透過部と非透過部の比及び格子線方向が同一であって格
    子ピッチが異なっている請求項18に記載の光学スケー
    ル。 20、前記格子窓を構成する回折格子が格子窓毎に光の
    透過部と非透過部の比及び格子ピッチが同一であって格
    子線方向が異なっている請求項18に記載の光学スケー
    ル。 21、前記格子窓を構成する回折格子が格子窓毎に格子
    ピッチ及び格子線方向が同一であって光の透過部と非透
    過部の比が異なっている請求項18に記載の光学スケー
    ル。 22、前記格子窓を構成する回折格子の格子線方向が前
    記移動体の変位方向と同一方向に設けられている請求項
    19又は21に記載の光学スケール。 23、移動体の変位の検出等に使用される光学スケール
    において、光を所定の角度、方向又は強度に回折する回
    折格子から成る格子窓を2つ以上含み、この2つ以上の
    格子窓において回折される光の角度、方向又は強度が固
    有の組合せとなっている格子窓群が適宜配置されている
    ことを特徴とする光学スケール。
JP1195576A 1989-07-28 1989-07-28 光学式エンコーダ及びその光学スケール Expired - Lifetime JPH0810145B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1195576A JPH0810145B2 (ja) 1989-07-28 1989-07-28 光学式エンコーダ及びその光学スケール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1195576A JPH0810145B2 (ja) 1989-07-28 1989-07-28 光学式エンコーダ及びその光学スケール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0359417A true JPH0359417A (ja) 1991-03-14
JPH0810145B2 JPH0810145B2 (ja) 1996-01-31

Family

ID=16343431

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1195576A Expired - Lifetime JPH0810145B2 (ja) 1989-07-28 1989-07-28 光学式エンコーダ及びその光学スケール

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0810145B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6232593B1 (en) 1998-04-01 2001-05-15 Fanuc Ltd. Optical encoder
EP1767904A4 (en) * 2004-07-12 2008-04-30 Hamamatsu Photonics Kk CODER

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5973773B2 (ja) * 2012-04-26 2016-08-23 株式会社トプコン 回転角検出装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60243515A (ja) * 1984-05-09 1985-12-03 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミト・ベシユレンクテル・ハフツング 光電的測定装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60243515A (ja) * 1984-05-09 1985-12-03 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミト・ベシユレンクテル・ハフツング 光電的測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6232593B1 (en) 1998-04-01 2001-05-15 Fanuc Ltd. Optical encoder
EP1767904A4 (en) * 2004-07-12 2008-04-30 Hamamatsu Photonics Kk CODER
US7687765B2 (en) 2004-07-12 2010-03-30 Hamamatsu Photonics K.K. Encoder including a two dimensional photo-detector having two signal processing sections for pixels in a first and a second direction

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0810145B2 (ja) 1996-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5260568A (en) Absolute position detector with diffraction grating windows and spot position detection
US6617572B2 (en) Displacement information detection apparatus
US20020179826A1 (en) Absolute position moire type encoder for use in a control system
JP5804899B2 (ja) 光学式角度測定装置
JP4381671B2 (ja) 変位検出装置
NL8502679A (nl) Optisch omzetelement en verplaatsingsmeter voorzien van dit element.
CN105606033A (zh) 绝对式光栅尺、其主光栅及其测量方法
JPS58191907A (ja) 移動量測定方法
US10190893B2 (en) Encoder
JP2000230803A (ja) 光学的位置測定装置
KR101434925B1 (ko) 정점 검출 장치 및 변위 측정 장치
JPH0359417A (ja) 光学式エンコーダ及びその光学スケール
JPH0835859A (ja) エンコーダ装置
US10088341B2 (en) Photoelectric encoder
JP2006071535A (ja) 変位検出装置
JP3198789B2 (ja) 光学式エンコーダ
JPS58191906A (ja) 基準尺を用いた測長方法
JP6250525B2 (ja) エンコーダ
JP2718440B2 (ja) 測長または測角装置
JP2021193354A (ja) 光学式エンコーダ及び制御装置
US7184149B2 (en) Methods and apparatus for reducing error in interferometric imaging measurements
JP7130472B2 (ja) 光学式角度センサ
JP2575931B2 (ja) 絶対位置エンコーダ
US7196319B2 (en) Position-measuring device
JPH05647B2 (ja)