JPH0360966A - 小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具 - Google Patents
小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具Info
- Publication number
- JPH0360966A JPH0360966A JP19352489A JP19352489A JPH0360966A JP H0360966 A JPH0360966 A JP H0360966A JP 19352489 A JP19352489 A JP 19352489A JP 19352489 A JP19352489 A JP 19352489A JP H0360966 A JPH0360966 A JP H0360966A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test piece
- small punch
- punch test
- magnet
- support jig
- Prior art date
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- Pending
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、原子力発電プラントあるいは火力発電プラ
ント等に使用される鋼材の供用中に生じる脆性破壊特性
の評価をするために、小型パンチ試験用の極薄板からな
る試験片を鏡面仕上げするときの試験片支持治具に関す
る。
ント等に使用される鋼材の供用中に生じる脆性破壊特性
の評価をするために、小型パンチ試験用の極薄板からな
る試験片を鏡面仕上げするときの試験片支持治具に関す
る。
原子力発電プラントに使用される鋼材では放射能による
経年的な照射脆化、火力発電用プラント用鋼材では高温
長時間の使用による経年的な脆化が進行し、各々プラン
トの安全性を確保する上で供用中の鋼材の脆性破壊特性
の評価が行われる。 その試験法の１つとして小型パンチ試験がある。 供用中の鋼材の脆性破壊特性の評価には、通常実機内に
挿入したモニタリング用サンプルあるいは供用中の鋼材
の一部から切り取ったサンプル等によって行われるが、
いずれにしてもサンプルの大きさには制約があり、大き
いサンプルを利用することはできない。種々ある脆性破
壊特性の試験法の中でも、大きなサンプルを必要としな
いという点で、小型パンチ試験は供用中の鋼材の特性評
価に適した破壊試験法である。
経年的な照射脆化、火力発電用プラント用鋼材では高温
長時間の使用による経年的な脆化が進行し、各々プラン
トの安全性を確保する上で供用中の鋼材の脆性破壊特性
の評価が行われる。 その試験法の１つとして小型パンチ試験がある。 供用中の鋼材の脆性破壊特性の評価には、通常実機内に
挿入したモニタリング用サンプルあるいは供用中の鋼材
の一部から切り取ったサンプル等によって行われるが、
いずれにしてもサンプルの大きさには制約があり、大き
いサンプルを利用することはできない。種々ある脆性破
壊特性の試験法の中でも、大きなサンプルを必要としな
いという点で、小型パンチ試験は供用中の鋼材の特性評
価に適した破壊試験法である。
小型パンチ試験には、厚さ０．５ ｍｍ、 １０ｍｍ
角の極薄板状の小型試験片が用いられ、ダイスを用いて
薄板面を打抜き、そのときの打抜き強さから脆性破壊特
性を求める試験法である。その特性に対しては薄板表面
の仕上げ精度の影響を大きく受けるため、極めて滑らか
な精度が要求される。そのため、バフ研磨による鏡面仕
上げを施す必要がある。 しかしながら、小型パンチ試験片は極薄板状の試験片に
よるものであるから、鏡面研磨を行うに際して、試験片
を容易に支持できる支持治具がなく、その支持治具が要
望されていた。 この発明は、小型パンチ試験片の鏡面研磨をするときに
、この小型パンチ試験片を容易に支持できる支持治具を
提供することを目的とする。
角の極薄板状の小型試験片が用いられ、ダイスを用いて
薄板面を打抜き、そのときの打抜き強さから脆性破壊特
性を求める試験法である。その特性に対しては薄板表面
の仕上げ精度の影響を大きく受けるため、極めて滑らか
な精度が要求される。そのため、バフ研磨による鏡面仕
上げを施す必要がある。 しかしながら、小型パンチ試験片は極薄板状の試験片に
よるものであるから、鏡面研磨を行うに際して、試験片
を容易に支持できる支持治具がなく、その支持治具が要
望されていた。 この発明は、小型パンチ試験片の鏡面研磨をするときに
、この小型パンチ試験片を容易に支持できる支持治具を
提供することを目的とする。
上記目的は、棒状磁石と、この棒状磁石の一方の端面に
取り付けられ前記小型パンチ試験片の厚さより薄くかつ
前記小型パンチ試験片を収める角穴を有する薄板と、前
記棒状磁石の外周及び前記薄板に接着した非磁性リング
と、この非磁性リングの外径側に位置し前記棒状磁石薄
板及び非磁性リングを収納して上下に案内するガイドリ
ングと、このガイドリングの側面を貫通して前記非磁性
リングの外径側を押圧し、前記非磁性リングを前記ガイ
ドリングに固定する固定ねじとからなる小型パンチ試験
片鏡面研磨支持治具によって達成される。
取り付けられ前記小型パンチ試験片の厚さより薄くかつ
前記小型パンチ試験片を収める角穴を有する薄板と、前
記棒状磁石の外周及び前記薄板に接着した非磁性リング
と、この非磁性リングの外径側に位置し前記棒状磁石薄
板及び非磁性リングを収納して上下に案内するガイドリ
ングと、このガイドリングの側面を貫通して前記非磁性
リングの外径側を押圧し、前記非磁性リングを前記ガイ
ドリングに固定する固定ねじとからなる小型パンチ試験
片鏡面研磨支持治具によって達成される。
この発明による小型パンチ試験片鏡面支持治具は、棒状
磁石の一方の端面に、小型パンチ試験片の厚さより薄く
かつこの試験片を収める角穴を有する薄板を取り付けて
いるので、この角穴に試験片を入れると試験片は、前記
棒状磁石に吸着固定される。棒状磁石の外径側は非磁性
リングに接着していて、この非磁性リングをガイドリン
グ内で上下させて小型パンチ試験片の厚さに応じて高さ
を調節し、固定ねじで固定し、小型パンチ試験片を所定
の高さに支持できる。さらに、前記小型パンチ試験片鏡
面支持治具を手で保持してバフ研磨盤に押し当て前記小
型パンチ試験片を鏡面研磨することができる。
磁石の一方の端面に、小型パンチ試験片の厚さより薄く
かつこの試験片を収める角穴を有する薄板を取り付けて
いるので、この角穴に試験片を入れると試験片は、前記
棒状磁石に吸着固定される。棒状磁石の外径側は非磁性
リングに接着していて、この非磁性リングをガイドリン
グ内で上下させて小型パンチ試験片の厚さに応じて高さ
を調節し、固定ねじで固定し、小型パンチ試験片を所定
の高さに支持できる。さらに、前記小型パンチ試験片鏡
面支持治具を手で保持してバフ研磨盤に押し当て前記小
型パンチ試験片を鏡面研磨することができる。
以下図面に基づいてこの発明の詳細な説明する。第１図
はこの発明の実施例による小型パンチ試験片鏡面研磨支
持治具の構成を示す断面図である。棒状磁石１とこの棒
状磁石１の一方の端面に取り付けられ、研磨すべき小型
パンチ試験片６の厚さより薄くかつ小型パンチ試験片６
を収める角穴を有する薄板３と、棒状磁石１の外周及び
薄板３に接着する非磁性リング２と、非磁性リング２の
外径側に位置し棒状磁石１．非磁性リング２及び薄板３
を収納して上下に案内するガイドリング４と、ガイドリ
ング４の側面を貫通して非磁性リング２の外径側を押圧
し、非磁性リング２をガイドリング４に固定する固定ね
じ５とから小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具８を構成
していた。 小型パンチ試験片６を薄板３の角穴に入れると、小型パ
ンチ試験片６は棒状磁石１に吸着される。 非磁性リング２を上下にスライドさせて小型パンチ試験
片６の面がわずかに出るように固定ねじ５で非磁性リン
グ２をガイドリング４に固定する。 その後、小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具８を手で持
ち、バフ研磨盤７の面に押し当て、バフ研磨盤７を回転
させて小型パンチ試験片６を鏡面研磨する。研磨に際し
ては、荒仕上げ、中仕上げ。 仕上げと順次バフを取り換えて小型パンチ試験片６を研
磨する。例えば厚さ０．７ ｔｒｔｙ＋の小型パンチ試
験片の一方の面を順次バフを取り換えて先ず０．１飾研
磨し、次に小型パンチ試験片６を裏返して他方の面を同
様に０．１ ｍｍ研磨し、厚さ０．５±０．０５ｎ＋＋
ｎの小型パンチ試験片を得る。 小型パンチ試験片６は、棒状磁石ｌに接着して角穴に納
まっているので、バフ研磨中にはずれることはない。ま
た、手で容易に小型パンチ試験片６を棒状磁石１からは
ずすことができる。
はこの発明の実施例による小型パンチ試験片鏡面研磨支
持治具の構成を示す断面図である。棒状磁石１とこの棒
状磁石１の一方の端面に取り付けられ、研磨すべき小型
パンチ試験片６の厚さより薄くかつ小型パンチ試験片６
を収める角穴を有する薄板３と、棒状磁石１の外周及び
薄板３に接着する非磁性リング２と、非磁性リング２の
外径側に位置し棒状磁石１．非磁性リング２及び薄板３
を収納して上下に案内するガイドリング４と、ガイドリ
ング４の側面を貫通して非磁性リング２の外径側を押圧
し、非磁性リング２をガイドリング４に固定する固定ね
じ５とから小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具８を構成
していた。 小型パンチ試験片６を薄板３の角穴に入れると、小型パ
ンチ試験片６は棒状磁石１に吸着される。 非磁性リング２を上下にスライドさせて小型パンチ試験
片６の面がわずかに出るように固定ねじ５で非磁性リン
グ２をガイドリング４に固定する。 その後、小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具８を手で持
ち、バフ研磨盤７の面に押し当て、バフ研磨盤７を回転
させて小型パンチ試験片６を鏡面研磨する。研磨に際し
ては、荒仕上げ、中仕上げ。 仕上げと順次バフを取り換えて小型パンチ試験片６を研
磨する。例えば厚さ０．７ ｔｒｔｙ＋の小型パンチ試
験片の一方の面を順次バフを取り換えて先ず０．１飾研
磨し、次に小型パンチ試験片６を裏返して他方の面を同
様に０．１ ｍｍ研磨し、厚さ０．５±０．０５ｎ＋＋
ｎの小型パンチ試験片を得る。 小型パンチ試験片６は、棒状磁石ｌに接着して角穴に納
まっているので、バフ研磨中にはずれることはない。ま
た、手で容易に小型パンチ試験片６を棒状磁石１からは
ずすことができる。
この発明によれば、棒状磁石とこの棒状磁石の一方の端
面に取り付けられ小型パンチ試験片の厚さより薄くかつ
前記小型パンチ試験片を収める角穴を有する薄板と、前
記棒状磁石の外周及び前記薄板に接着した非磁性リング
と、この非磁性リングの外径側に位置し前記棒状磁石薄
板及び非磁性リングを収納して上下に案内するガイドリ
ングと、このガイドリングの側面を貫通して前記非磁性
リングの外径側を押圧し、前記非磁性リングを前記ガイ
ドリングに固定する固定ねじとから小型パンチ試験片鏡
面研磨支持治具を構成したので、小型パンチ試験片は棒
状磁石に吸着固定され、着脱が容易で、かつ非磁性リン
グの端面に接着した薄板の角穴に納まってガイド固定さ
れ、鏡面バフ研磨の時の回転力によってもはずれること
はない。小型パンチ試験片とその薄板との間には板厚差
をもたせであるので、小型パンチ試験片を案内している
薄板が、研磨の際に邪魔になることはない。さらに、ガ
イドリングを小型パンチ試験片の研磨表面とほぼ同じ高
さに調節し、この支持治具を手で保持してバフ研磨盤の
面に押し当てることにより、試験片の表面を傾けて研磨
することがないので、均一な厚さの鏡面研磨面が得られ
る。従ってこの発明による支持治具は取扱が容易で、小
型パンチ試験片に精度の高い鏡面研磨を施すことができ
る。
面に取り付けられ小型パンチ試験片の厚さより薄くかつ
前記小型パンチ試験片を収める角穴を有する薄板と、前
記棒状磁石の外周及び前記薄板に接着した非磁性リング
と、この非磁性リングの外径側に位置し前記棒状磁石薄
板及び非磁性リングを収納して上下に案内するガイドリ
ングと、このガイドリングの側面を貫通して前記非磁性
リングの外径側を押圧し、前記非磁性リングを前記ガイ
ドリングに固定する固定ねじとから小型パンチ試験片鏡
面研磨支持治具を構成したので、小型パンチ試験片は棒
状磁石に吸着固定され、着脱が容易で、かつ非磁性リン
グの端面に接着した薄板の角穴に納まってガイド固定さ
れ、鏡面バフ研磨の時の回転力によってもはずれること
はない。小型パンチ試験片とその薄板との間には板厚差
をもたせであるので、小型パンチ試験片を案内している
薄板が、研磨の際に邪魔になることはない。さらに、ガ
イドリングを小型パンチ試験片の研磨表面とほぼ同じ高
さに調節し、この支持治具を手で保持してバフ研磨盤の
面に押し当てることにより、試験片の表面を傾けて研磨
することがないので、均一な厚さの鏡面研磨面が得られ
る。従ってこの発明による支持治具は取扱が容易で、小
型パンチ試験片に精度の高い鏡面研磨を施すことができ
る。
第１図はこの発明の実施例による小型パンチ試験片鏡面
研磨支持治具の構成を示す断面図である。 １：棒状磁石、２：非磁性リング、３：薄板、４ニガイ
ドリング、５：固定ねじ、６：小型パンチ試験片、７：
バフ研磨板、８：小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具。
研磨支持治具の構成を示す断面図である。 １：棒状磁石、２：非磁性リング、３：薄板、４ニガイ
ドリング、５：固定ねじ、６：小型パンチ試験片、７：
バフ研磨板、８：小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具。
Claims (1)
- １）鋼材の脆性破壊特性試験に用いる極薄板状の小型パ
ンチ試験片を鏡面バフ研磨するとき、この小型パンチ試
験片を支持する支持治具であつて、棒状磁石と、この棒
状磁石の一方の端面に取り付けられ前記小型パンチ試験
片の厚さより薄くかつ前記小型パンチ試験片を収める角
穴を有する薄板と、前記棒状磁石の外周及び前記薄板に
接着した非磁性リングと、この非磁性リングの外径側に
位置し前記棒状磁石、薄板及び非磁性リングを収納して
上下に案内するガイドリングと、このガイドリングの側
面を貫通して前記非磁性リングの外径側を押圧し、前記
非磁性リングを前記ガイドリングに固定する固定ねじと
からなることを特徴とする小型パンチ試験片鏡面研磨支
持治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19352489A JPH0360966A (ja) | 1989-07-26 | 1989-07-26 | 小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19352489A JPH0360966A (ja) | 1989-07-26 | 1989-07-26 | 小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0360966A true JPH0360966A (ja) | 1991-03-15 |
Family
ID=16309507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19352489A Pending JPH0360966A (ja) | 1989-07-26 | 1989-07-26 | 小型パンチ試験片鏡面研磨支持治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0360966A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102528642A (zh) * | 2010-12-07 | 2012-07-04 | 贵州航天精工制造有限公司 | 一种无磁性薄片零件的研磨方法及装置 |
-
1989
- 1989-07-26 JP JP19352489A patent/JPH0360966A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102528642A (zh) * | 2010-12-07 | 2012-07-04 | 贵州航天精工制造有限公司 | 一种无磁性薄片零件的研磨方法及装置 |
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