JPH0362005A - 光ファイバ接続時の適正加熱条件検索方法 - Google Patents
光ファイバ接続時の適正加熱条件検索方法Info
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- JPH0362005A JPH0362005A JP1198753A JP19875389A JPH0362005A JP H0362005 A JPH0362005 A JP H0362005A JP 1198753 A JP1198753 A JP 1198753A JP 19875389 A JP19875389 A JP 19875389A JP H0362005 A JPH0362005 A JP H0362005A
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- discharge
- distance
- heating conditions
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/255—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding
- G02B6/2551—Splicing of light guides, e.g. by fusion or bonding using thermal methods, e.g. fusion welding by arc discharge, laser beam, plasma torch
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- Optics & Photonics (AREA)
- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ファイバ同士を相互に融着接続する場合に
おいて、光ファイバの適正加熱条件を検索する方法に関
する。
おいて、光ファイバの適正加熱条件を検索する方法に関
する。
光ファイバの融着接続は、相互に接続される光ファイバ
の端部が放電加熱により溶融されて行なわれる。
の端部が放電加熱により溶融されて行なわれる。
このとき、放電加熱温度が所定の適正温度範囲内にない
場合には、接続された光ファイバ相互間における接続損
失が大きくなってしまう。例えば、放電加熱温度が適正
温度範囲を超え、與常に高かった場合には、光ファイバ
の端面同士が接する前にこれに加えられる熱量により過
度の溶融を起こし、結果として、第６図に示したように
、光ファイバ１のコア２が接続部付近で変形してしまい
、接続損失が大きくなる。
場合には、接続された光ファイバ相互間における接続損
失が大きくなってしまう。例えば、放電加熱温度が適正
温度範囲を超え、與常に高かった場合には、光ファイバ
の端面同士が接する前にこれに加えられる熱量により過
度の溶融を起こし、結果として、第６図に示したように
、光ファイバ１のコア２が接続部付近で変形してしまい
、接続損失が大きくなる。
従って、光ファイバの放電加熱温度を適正温度範囲内で
制御することが要求される。
制御することが要求される。
放電電極相互間に流れる放電電流値と放電加熱温度との
間に所定の関係があることに着目し、放電加熱温度を制
御するための目安として、この放電電流値を計測するこ
とが知られている（例えば、昭和６３年電子情報通信学
会春季全国大会資料、井出貴史氏らによるＢ−６１３ｒ
ＳＭ多心−括融着における融着条件の最適化」と題する
論文参照）。
間に所定の関係があることに着目し、放電加熱温度を制
御するための目安として、この放電電流値を計測するこ
とが知られている（例えば、昭和６３年電子情報通信学
会春季全国大会資料、井出貴史氏らによるＢ−６１３ｒ
ＳＭ多心−括融着における融着条件の最適化」と題する
論文参照）。
しかし、放電加熱温度を制御するための目安として、放
電電極間の放電電流値を用いても、放電を繰り返すうち
に、放電電極は付着物や酸化によって劣化する。放電電
極が劣化すると、これに伴い、放電電流値が一定である
にも拘らず、放電加熱温度が上昇することが経験的に知
られている。
電電極間の放電電流値を用いても、放電を繰り返すうち
に、放電電極は付着物や酸化によって劣化する。放電電
極が劣化すると、これに伴い、放電電流値が一定である
にも拘らず、放電加熱温度が上昇することが経験的に知
られている。
このため、第７図に示したように、放電を繰り返すうち
に光ファイバの接続損失が徐々に増加することとなる。
に光ファイバの接続損失が徐々に増加することとなる。
かかる事情から、放電電流を目安に放電加熱温度を制御
する場合には、放電回数の増加に伴い放電電流値を下げ
る等の調整が必要となる。ところが、このような放電電
流値の調整をするには、厳密には、電流計、パワーメー
タ等の測定機器を駆使して、放電電流値と接続損失との
関係を調べ、第８図の如きグラフを作製し、作製したグ
ラフから放電加熱温度が適正温度範囲内におさまるよう
な放電電流値を求めざるを得ない。実際に、光ファイバ
の融着接続を行なう工事現場において、このような作業
を行なうことは困難であり、また、作業時間が長くなる
という不具合があった。
する場合には、放電回数の増加に伴い放電電流値を下げ
る等の調整が必要となる。ところが、このような放電電
流値の調整をするには、厳密には、電流計、パワーメー
タ等の測定機器を駆使して、放電電流値と接続損失との
関係を調べ、第８図の如きグラフを作製し、作製したグ
ラフから放電加熱温度が適正温度範囲内におさまるよう
な放電電流値を求めざるを得ない。実際に、光ファイバ
の融着接続を行なう工事現場において、このような作業
を行なうことは困難であり、また、作業時間が長くなる
という不具合があった。
そこで、上述の事情に鑑み、本発明は、放電加熱温度が
適正温度範囲内におさまり得る適正加熱条件を、容易に
求めることができる光ファイバ接続部の適正加熱条件検
索方法を堤供することを目的としている。
適正温度範囲内におさまり得る適正加熱条件を、容易に
求めることができる光ファイバ接続部の適正加熱条件検
索方法を堤供することを目的としている。
上述の目的を達成するため、本発明による光ファイバ接
続時の適正加熱条件検索方法においては、互いに離間し
て設けられた一対の放電電極の相互間に光ファイバの端
面を位置決めし、この光ファイバの端部を放電加熱によ
り溶融させ、溶融前後における光ファイバ端面の位置か
らその端面が溶融により後退した距離を求め、この後退
距離に基づいて、光ファイバ端部を放電加熱したときの
光ファイバの放電加熱条件が光ファイバ融着接続時の放
電加熱条件として適しているか否かが判別されるように
なっている。
続時の適正加熱条件検索方法においては、互いに離間し
て設けられた一対の放電電極の相互間に光ファイバの端
面を位置決めし、この光ファイバの端部を放電加熱によ
り溶融させ、溶融前後における光ファイバ端面の位置か
らその端面が溶融により後退した距離を求め、この後退
距離に基づいて、光ファイバ端部を放電加熱したときの
光ファイバの放電加熱条件が光ファイバ融着接続時の放
電加熱条件として適しているか否かが判別されるように
なっている。
このようにすることによって、光ファイバ端部の溶けぐ
あいから、光ファイバの放電加熱温度が適正温度範囲に
納まり得る適正加熱条件が求められる。
あいから、光ファイバの放電加熱温度が適正温度範囲に
納まり得る適正加熱条件が求められる。
また、放電電極間に、対をなす光ファイバ端面を相互に
対向させて位置決めし、これら光ファイバ端部の溶けぐ
あいを観察することにより、対をなす先ファイバ端部の
溶けぐあいを平均化して適正加熱条件を求めることがで
きる。
対向させて位置決めし、これら光ファイバ端部の溶けぐ
あいを観察することにより、対をなす先ファイバ端部の
溶けぐあいを平均化して適正加熱条件を求めることがで
きる。
以下、本発明の実施例について第１図〜第５図を参照し
つつ、説明する。
つつ、説明する。
第１図は、本発明を実施する場合の工程を順に示してい
る。
る。
第１図（ａ）に示したように、まず、光ファイバの融着
接続装置に光ファイバ１を装着する。融着接続装置には
、互いに離間して一対の放電電極３が設けられており、
放電電極３の相互間に、先ファイバ１の端部が位置決め
される。この位置決めの後、位置決めされた光ファイバ
端面の位置（初期位置）が計７１１１される。この計測
は、例えば、融着接続装置に設けられた図示しない顕微
鏡、ＣＣＤカメラ、画像処理装置等からなる観察手段に
よって光ファイバ１の端部が撮像され、得られたファイ
バ像の輝度分布に基づいて画像処理が行なわれることに
よってなされる。
接続装置に光ファイバ１を装着する。融着接続装置には
、互いに離間して一対の放電電極３が設けられており、
放電電極３の相互間に、先ファイバ１の端部が位置決め
される。この位置決めの後、位置決めされた光ファイバ
端面の位置（初期位置）が計７１１１される。この計測
は、例えば、融着接続装置に設けられた図示しない顕微
鏡、ＣＣＤカメラ、画像処理装置等からなる観察手段に
よって光ファイバ１の端部が撮像され、得られたファイ
バ像の輝度分布に基づいて画像処理が行なわれることに
よってなされる。
光ファイバ１の端面の初期位置が計測された後、同図（
ｂ）に示したように、一対の放電電極３相互間に所定時
間、放電電圧が印加され、光ファイバ１の端部が放電に
より加熱溶融される。光ファイバ１が加熱される時間は
、光ファイバ１の端部が溶融するに十分な時間が必要で
あり、かつ、光ファイバ１の端部以外に変形が生じない
ような時間であることが望ましく、例えば、０．５秒以
上５．０秒以下の範囲内から適当に選定される。
ｂ）に示したように、一対の放電電極３相互間に所定時
間、放電電圧が印加され、光ファイバ１の端部が放電に
より加熱溶融される。光ファイバ１が加熱される時間は
、光ファイバ１の端部が溶融するに十分な時間が必要で
あり、かつ、光ファイバ１の端部以外に変形が生じない
ような時間であることが望ましく、例えば、０．５秒以
上５．０秒以下の範囲内から適当に選定される。
この放電加熱により、同図（ｃ）に示したように、光フ
ァイバ１の端部は溶融し、その表面張力によって丸まり
、その端面ば後退する。そして、この後退後の光ファイ
バ１の端面位置（溶融後位置）が、溶融前の初期位置と
同様にして計測される。上述のようにして、計測された
光ファイバ１端面の初期位置と溶融後位置とに基づき、
光ファイバ１の端面が溶融して後退した距離ΔＬ１が求
められる。この後退距離ΔＬ１は、光ファイバ端部の溶
けぐあいに応じた値となり、放電加熱により光ファイバ
に与えられた熱量あるいは放電加熱温度に応じた値とな
る。それゆえ、後退距離ΔＬ１は、放電加熱時間が変わ
らなくても放電電流値が変化することにより変化するし
、放電電流値が変わらなくても放電電極の劣化の程度に
応じて変化する。
ァイバ１の端部は溶融し、その表面張力によって丸まり
、その端面ば後退する。そして、この後退後の光ファイ
バ１の端面位置（溶融後位置）が、溶融前の初期位置と
同様にして計測される。上述のようにして、計測された
光ファイバ１端面の初期位置と溶融後位置とに基づき、
光ファイバ１の端面が溶融して後退した距離ΔＬ１が求
められる。この後退距離ΔＬ１は、光ファイバ端部の溶
けぐあいに応じた値となり、放電加熱により光ファイバ
に与えられた熱量あるいは放電加熱温度に応じた値とな
る。それゆえ、後退距離ΔＬ１は、放電加熱時間が変わ
らなくても放電電流値が変化することにより変化するし
、放電電流値が変わらなくても放電電極の劣化の程度に
応じて変化する。
従って、この後退距離ΔＬ１を計測すれば、これに払づ
いて、光ファイバの放電加熱状態を評価することができ
る。すなわち、光ファイバの融着接続を行なって、許容
し得る程度に十分に低い接続損失が得られたときと同一
の放電加熱条件で光ファイバ端部を加熱溶融し、そのと
きの後退距離ΔＬ１を予め求めておく。この作業を繰り
返して行ない、求められた後退距離ΔＬ１のうち最大の
ものをΔＬ １最小のものをΔＬ とする。
いて、光ファイバの放電加熱状態を評価することができ
る。すなわち、光ファイバの融着接続を行なって、許容
し得る程度に十分に低い接続損失が得られたときと同一
の放電加熱条件で光ファイバ端部を加熱溶融し、そのと
きの後退距離ΔＬ１を予め求めておく。この作業を繰り
返して行ない、求められた後退距離ΔＬ１のうち最大の
ものをΔＬ １最小のものをΔＬ とする。
ｗａｘ ｓｉｎ
そして、光ファイバの融着接続の前に、光ファイバ端部
を上述したようにして溶融し、光ファイバ端面の後退距
離ΔＬ１を求め、この後退距離ΔＬ１が予め求められて
いる適正範囲内（ΔＬ１□以上ΔＬ 以下）に納まる
ように、放電電流値ａｘ が相対的に調整される。例えば、ここで求められた後退
距離ΔＬ が、ΔＬ より小さい場合にｌ
ａｉｎ は、熱量不足の場合であるので、放電電流値を高くし、
逆に、後退距離ΔＬ が、ΔＬ より大ｌ
ｗａｘ きい場合には、熱量過多の場合であるので、放電電流値
を低くする。このようにして、後退距離ΔＬ が適正範
囲内（ΔＬ ０以上ΔＬ 以下）１
１１１１＋
１ａＸに納まるように放電電流値が相対的に調整される
。
を上述したようにして溶融し、光ファイバ端面の後退距
離ΔＬ１を求め、この後退距離ΔＬ１が予め求められて
いる適正範囲内（ΔＬ１□以上ΔＬ 以下）に納まる
ように、放電電流値ａｘ が相対的に調整される。例えば、ここで求められた後退
距離ΔＬ が、ΔＬ より小さい場合にｌ
ａｉｎ は、熱量不足の場合であるので、放電電流値を高くし、
逆に、後退距離ΔＬ が、ΔＬ より大ｌ
ｗａｘ きい場合には、熱量過多の場合であるので、放電電流値
を低くする。このようにして、後退距離ΔＬ が適正範
囲内（ΔＬ ０以上ΔＬ 以下）１
１１１１＋
１ａＸに納まるように放電電流値が相対的に調整される
。
ΔＬ 、及びΔＬ は、次のようにして求め＋１１１
ｎ ＩｕａＸられる。まず、光
ファイバ端部を加熱溶融してΔＬ を求める。そして、
この後退距離ΔＬ１が得られたときの光ファイバの放電
加熱条件を固定し、これと同一の放電加熱条件下（加熱
０開は具なっていてもよい）で、先ファイバ同士のＦｉ
Ａ着接続を行ない、その接続部の接続損失を計ａｌｌｌ
する。この後退距離ΔＬ１と接続損失の計測を、放電電
流値を変えて繰り返し行ない、後退距離ΔＬ１と接続損
失との関係を、第２図に示したグラフとして予め求めて
おく。そして、このグラフから接続損失が許容できる程
度に十分に低くなる範囲の後退距離ΔＬ を求め、求め
られた後退距離ΔＬ１のうち、最大の後退距離をΔＬ
とし、最少のものＩｕａＸ をΔＬ 、 とする。なお、ΔＬ 及びΔＬ１ｎ巾＋
ｎ
ｍａｘは、融着接続装置のＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等
からなる中央制御部に記憶される。これにより、光ファ
イバの融着接続前に求められた後退距離ΔＬ が、ΔＬ
、より小さい場合には、「放電１ ｍ＋ｎ 弱い」と融着接続装置の表示部に表示し、後退距離ΔＬ
がΔＬ より大きい場合には、「放電ｌ
ｍａｘ 強い」と表示し、後退距離ΔＬ１が適正範囲内（ΔＬ
以上ΔＬ 以下）に納まっている場ｌ１ｉｎ
ａａｘ 合には、「放電ＯＫＪと表示することができるようにな
っている。
ｎ ＩｕａＸられる。まず、光
ファイバ端部を加熱溶融してΔＬ を求める。そして、
この後退距離ΔＬ１が得られたときの光ファイバの放電
加熱条件を固定し、これと同一の放電加熱条件下（加熱
０開は具なっていてもよい）で、先ファイバ同士のＦｉ
Ａ着接続を行ない、その接続部の接続損失を計ａｌｌｌ
する。この後退距離ΔＬ１と接続損失の計測を、放電電
流値を変えて繰り返し行ない、後退距離ΔＬ１と接続損
失との関係を、第２図に示したグラフとして予め求めて
おく。そして、このグラフから接続損失が許容できる程
度に十分に低くなる範囲の後退距離ΔＬ を求め、求め
られた後退距離ΔＬ１のうち、最大の後退距離をΔＬ
とし、最少のものＩｕａＸ をΔＬ 、 とする。なお、ΔＬ 及びΔＬ１ｎ巾＋
ｎ
ｍａｘは、融着接続装置のＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等
からなる中央制御部に記憶される。これにより、光ファ
イバの融着接続前に求められた後退距離ΔＬ が、ΔＬ
、より小さい場合には、「放電１ ｍ＋ｎ 弱い」と融着接続装置の表示部に表示し、後退距離ΔＬ
がΔＬ より大きい場合には、「放電ｌ
ｍａｘ 強い」と表示し、後退距離ΔＬ１が適正範囲内（ΔＬ
以上ΔＬ 以下）に納まっている場ｌ１ｉｎ
ａａｘ 合には、「放電ＯＫＪと表示することができるようにな
っている。
なお、上述の実施例においては、一対の放電電極３に対
して一方の側に、光ファイバ１の端部が位置決めされ、
この光ファイバ端面の後退距離から放電加熱状態の適否
を判断しているが、第３図に示したように、一対の族７
Ｉｉ電極３に対して両側に、対をなす光ファイバ１の端
部を互いに向かい合わせて放電電極３相互間に位置決め
し、放電加熱を行なって、これらの後退距離に基づいて
放電加熱状態の適否を判断することもできる。この場合
には、光ファイバの端部が放電電極３から離れ過ぎない
ように、対をなす先ファイバの端面相互間隔は１００μ
Ｉｎ以下とされ、放電加熱前における一対の光ファイバ
端面の相互間隔（初期間隔）Ｌｏが計７ＩＰ＋される（
第３図（ａ））と共に、放電加熱後の間隔（溶融後間隔
）Ｌｔが計測され（第３図（ｂ））、計３１された初期
間隔と溶融後間隔とに址づき、対をなす光ファイバの端
面がそれぞれ後退した距離の和としてΔＬ（−Ｌ −
Ｌｏ）が求められる。
して一方の側に、光ファイバ１の端部が位置決めされ、
この光ファイバ端面の後退距離から放電加熱状態の適否
を判断しているが、第３図に示したように、一対の族７
Ｉｉ電極３に対して両側に、対をなす光ファイバ１の端
部を互いに向かい合わせて放電電極３相互間に位置決め
し、放電加熱を行なって、これらの後退距離に基づいて
放電加熱状態の適否を判断することもできる。この場合
には、光ファイバの端部が放電電極３から離れ過ぎない
ように、対をなす先ファイバの端面相互間隔は１００μ
Ｉｎ以下とされ、放電加熱前における一対の光ファイバ
端面の相互間隔（初期間隔）Ｌｏが計７ＩＰ＋される（
第３図（ａ））と共に、放電加熱後の間隔（溶融後間隔
）Ｌｔが計測され（第３図（ｂ））、計３１された初期
間隔と溶融後間隔とに址づき、対をなす光ファイバの端
面がそれぞれ後退した距離の和としてΔＬ（−Ｌ −
Ｌｏ）が求められる。
そして、この後退距離の和ΔＬと接続損失との関係につ
いて、第２図に示したグラフと同様のグラフを作製し、
接続損失が許容し得る範囲となる後辺距離の和ΔＬの範
囲（ΔＬ 以上ΔＬｆｆｉａｘｉｎ 以下）を求め、この範囲内に、後退距離の和ΔＬが納ま
るように放電電流値を相対的に調整することによって、
放電電流値を求めずとも、接続損失の低い適正な放電加
熱条件が求められる。
いて、第２図に示したグラフと同様のグラフを作製し、
接続損失が許容し得る範囲となる後辺距離の和ΔＬの範
囲（ΔＬ 以上ΔＬｆｆｉａｘｉｎ 以下）を求め、この範囲内に、後退距離の和ΔＬが納ま
るように放電電流値を相対的に調整することによって、
放電電流値を求めずとも、接続損失の低い適正な放電加
熱条件が求められる。
ところで、放電電極３に対して一方の側に、光ファイバ
１の端部を位置決めする場合には、放電電流値等の放電
加熱条件が変らなくとも、一対の放電電極３の先端を相
互に結ぶ仮想線から光ファイバ１の端面位置までの距離
（位置決め位置）が変ると、光ファイバ端部の溶けぐあ
いが変化する。
１の端部を位置決めする場合には、放電電流値等の放電
加熱条件が変らなくとも、一対の放電電極３の先端を相
互に結ぶ仮想線から光ファイバ１の端面位置までの距離
（位置決め位置）が変ると、光ファイバ端部の溶けぐあ
いが変化する。
従って、この距離が一定となるように正確に位置決めす
る必要がある。もし、正確な位置決めができない場合に
は、適正加熱条件の検索精度が低下する。また、放電電
極３の劣化によって放電火花が飛ぶ位置が変ることもあ
り、放電電極３の劣化に伴い、適正加熱条件の検索精度
が低下することがある。これに対し、対をなす先ファイ
バ端部を放電電極３の両側に位置決めした場合には、放
電電極３に対する先ファイバ１の相対的な位置決め精度
が、光ファイバ１を放電電極３の一方側に位置決めする
場合に比べ低くても、対をなす光ファイバの端面相互の
相対的位置決めが正確になされていれば、対をなす光フ
ァイバ端部の溶けぐあい双方が考慮されるので、対をな
す光ファイバ端部の溶けぐあいを平均化したと同様とな
り、検索精度の低下を抑制できる。なお、対をなす光フ
ァイバ端面相互間の相対的位置決めは、ＣＣＤカメラに
よりその双方を認識できるので、高い精度で位置決めが
可能である。
る必要がある。もし、正確な位置決めができない場合に
は、適正加熱条件の検索精度が低下する。また、放電電
極３の劣化によって放電火花が飛ぶ位置が変ることもあ
り、放電電極３の劣化に伴い、適正加熱条件の検索精度
が低下することがある。これに対し、対をなす先ファイ
バ端部を放電電極３の両側に位置決めした場合には、放
電電極３に対する先ファイバ１の相対的な位置決め精度
が、光ファイバ１を放電電極３の一方側に位置決めする
場合に比べ低くても、対をなす光ファイバの端面相互の
相対的位置決めが正確になされていれば、対をなす光フ
ァイバ端部の溶けぐあい双方が考慮されるので、対をな
す光ファイバ端部の溶けぐあいを平均化したと同様とな
り、検索精度の低下を抑制できる。なお、対をなす光フ
ァイバ端面相互間の相対的位置決めは、ＣＣＤカメラに
よりその双方を認識できるので、高い精度で位置決めが
可能である。
第４図に、対をなす光ファイバの端部を、その端面相互
間が１０μｍとなるように位置決めし、放電電流値を一
定とし、放電時間を３．０秒として、先ファイバ端部を
放電加熱した場合における放電回数と端面間隔の広がり
（後退距離の和ΔＬ）との関係をグラフとして示す。こ
のグラフから、放電電流値が一定となっていても、放電
回数が増加するにつれ、後退距離の和ΔＬが増加し、放
電回数が所定回数ｎ。を越えた場合に、ΔＬが接続損失
の許容し得る適正範囲（ΔＬ ０以上１１ｎ ΔＬ 以下）を越えることが判明した。放電量ａｘ 数が所定回数ｎ。を越えた場合の接続損失とその発生度
数との関係を第５図に示す。同図（ａ）は放電電流値ｉ
を一定（ｉ−ｉｏ）としたまま融着接続を行なった場合
を示し、同図（ｂ）はΔＬが適正範囲（ΔＬ 以上Δ
Ｌ 以下）内に納まｌ１ｉｎ ａ＋
ａｘ るように放電電流値ｉを１１に下げて融着接続を行なっ
た場合を示している。この結果からも明らかなように、
ΔＬが適正範囲内に納まるように放電電流ｆＵｉを；Ｘ
Ｊ整することによって、良好な接続時性が得られた。
間が１０μｍとなるように位置決めし、放電電流値を一
定とし、放電時間を３．０秒として、先ファイバ端部を
放電加熱した場合における放電回数と端面間隔の広がり
（後退距離の和ΔＬ）との関係をグラフとして示す。こ
のグラフから、放電電流値が一定となっていても、放電
回数が増加するにつれ、後退距離の和ΔＬが増加し、放
電回数が所定回数ｎ。を越えた場合に、ΔＬが接続損失
の許容し得る適正範囲（ΔＬ ０以上１１ｎ ΔＬ 以下）を越えることが判明した。放電量ａｘ 数が所定回数ｎ。を越えた場合の接続損失とその発生度
数との関係を第５図に示す。同図（ａ）は放電電流値ｉ
を一定（ｉ−ｉｏ）としたまま融着接続を行なった場合
を示し、同図（ｂ）はΔＬが適正範囲（ΔＬ 以上Δ
Ｌ 以下）内に納まｌ１ｉｎ ａ＋
ａｘ るように放電電流値ｉを１１に下げて融着接続を行なっ
た場合を示している。この結果からも明らかなように、
ΔＬが適正範囲内に納まるように放電電流ｆＵｉを；Ｘ
Ｊ整することによって、良好な接続時性が得られた。
以上説明したように、本発明による光ファイバ接続時の
適１Ｅ加熱条件検索方法によれは、光ファイバ端部の溶
けぐあいに基づいて、放電電流を…対向に調整すること
などにより、光ファイバの適正加熱条件を容易に求める
ことができる。従ってＮ放電電流値を求める必要もない
し放電電極の劣化を考慮する必要もないので、野外等で
の先ファイバの接続作業においても容易に適正加熱条件
が求められる。殊に、標高が高い地域における光ファイ
バの融着接続作業では、気圧の低下に１↑う放電電極相
互間の電気抵抗の低下により、放電加熱温度が低下する
が、この場合にも、容易に適正加熱条件を求めることが
できる。
適１Ｅ加熱条件検索方法によれは、光ファイバ端部の溶
けぐあいに基づいて、放電電流を…対向に調整すること
などにより、光ファイバの適正加熱条件を容易に求める
ことができる。従ってＮ放電電流値を求める必要もない
し放電電極の劣化を考慮する必要もないので、野外等で
の先ファイバの接続作業においても容易に適正加熱条件
が求められる。殊に、標高が高い地域における光ファイ
バの融着接続作業では、気圧の低下に１↑う放電電極相
互間の電気抵抗の低下により、放電加熱温度が低下する
が、この場合にも、容易に適正加熱条件を求めることが
できる。
また、光ファイバの溶けぐあいから、適正加熱条件を求
めているので、作業対象たる先ファイバの種類が変って
、その溶融温度が変った場合にも、先ファイバの適正加
熱条件を容易に求めることができる。
めているので、作業対象たる先ファイバの種類が変って
、その溶融温度が変った場合にも、先ファイバの適正加
熱条件を容易に求めることができる。
更に、放電電極間に、！Ｉ４をなす光ファイバ端面を相
互に対向させて位置決めし、これら光ファイバ端部の溶
けぐあいを観察することにより、対をなす先ファイバ端
部の溶けぐあいを平均化したと同様となり、先ファイバ
の位置決め誤差による適正加熱条件の検索誤差が抑制さ
れる。
互に対向させて位置決めし、これら光ファイバ端部の溶
けぐあいを観察することにより、対をなす先ファイバ端
部の溶けぐあいを平均化したと同様となり、先ファイバ
の位置決め誤差による適正加熱条件の検索誤差が抑制さ
れる。
第１図は本発明の実施例を示した図、第２図は後退距離
と接続損失の関係を示したグラフ、第３図は第１図に示
した実施例と異なる本発明の実施例を示した図、第４図
は放電回数と後追距離の和との関係を示したグラフ、第
５図は接続損失の分布を示したグラフ、第６図は光ファ
イバの接続不良例を示した図、第７図は放電回数と接続
損失の関係を示したグラフ、第８図は放電電流と接続損
失の関係を示したグラフである。 １・・・光ファイバ、２・・・コア、３・・・放電電極
。
と接続損失の関係を示したグラフ、第３図は第１図に示
した実施例と異なる本発明の実施例を示した図、第４図
は放電回数と後追距離の和との関係を示したグラフ、第
５図は接続損失の分布を示したグラフ、第６図は光ファ
イバの接続不良例を示した図、第７図は放電回数と接続
損失の関係を示したグラフ、第８図は放電電流と接続損
失の関係を示したグラフである。 １・・・光ファイバ、２・・・コア、３・・・放電電極
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、互いに離間して設けられた一対の放電電極の相互間
に光ファイバの端面が位置決めされ、位置決めされた光
ファイバ端面の初期位置が計測される工程と、 前記一対の放電電極相互間に放電電圧が印加され、前記
光ファイバの端部が加熱溶融される加熱工程と、 前記光ファイバ端面の溶融後位置が計測される工程と、 前記初期位置及び前記溶融後位置に基づき、前記光ファ
イバ端面が前記初期位置から後退した距離が求められ、
この後退距離に基づき、前記加熱工程における光ファイ
バの放電加熱条件が光ファイバ融着接続時の放電加熱条
件として適しているか否かが判別される工程とを備えて
いることを特徴とする光ファイバ接続時の適正加熱条件
検索方法。 ２、互いに離間して設けられた一対の放電電極の相互間
に、対をなす光ファイバの端面が互いに対向して位置決
めされ、位置決めされた光ファイバ端面相互間の初期間
隔が計測される工程と、前記一対の放電電極相互間に放
電電圧が印加され、前記光ファイバの端部が加熱溶融さ
れる加熱工程と、 前記光ファイバ端面相互間の溶融後間隔が計測される工
程と、 前記初期間隔及び前記溶融後間隔に基づき、前記光ファ
イバ端面がそれぞれ溶融して後退した距離の和が求めら
れ、この後退距離の和に基づき、前記加熱工程における
光ファイバの放電加熱条件が光ファイバ融着接続時の放
電加熱条件として適しているか否かを判別する工程とを
備えていることを特徴とする光ファイバ接続時の適正加
熱条件検索方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1198753A JP2786682B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 光ファイバ接続時の適正加熱条件検索方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1198753A JP2786682B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 光ファイバ接続時の適正加熱条件検索方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0362005A true JPH0362005A (ja) | 1991-03-18 |
| JP2786682B2 JP2786682B2 (ja) | 1998-08-13 |
Family
ID=16396390
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1198753A Expired - Lifetime JP2786682B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 光ファイバ接続時の適正加熱条件検索方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2786682B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01169331A (ja) * | 1987-12-16 | 1989-07-04 | Fujikura Ltd | 光ファイバの加熱測定法 |
-
1989
- 1989-07-31 JP JP1198753A patent/JP2786682B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01169331A (ja) * | 1987-12-16 | 1989-07-04 | Fujikura Ltd | 光ファイバの加熱測定法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2786682B2 (ja) | 1998-08-13 |
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