JPH0363008B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0363008B2 JPH0363008B2 JP16751382A JP16751382A JPH0363008B2 JP H0363008 B2 JPH0363008 B2 JP H0363008B2 JP 16751382 A JP16751382 A JP 16751382A JP 16751382 A JP16751382 A JP 16751382A JP H0363008 B2 JPH0363008 B2 JP H0363008B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light source
- noise
- fiber
- light
- etalon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明はフアイバチユーナブルエタロンを用い
た、光源のAM・FM雑音の特性評価方法に関す
る。
た、光源のAM・FM雑音の特性評価方法に関す
る。
(2) 従来技術と問題点
従来、レーザダイオード等を用いた光源の光源
波長測定装置としてはスペクトラムアナライザが
用いられている。すなわち光源からの光を光検出
器において検出し、電気信号に変換し、変換され
た電気信号をスペクトラムアナライザにより周波
数分析し、その結果、被測定光源の波長が測定さ
れる。被測定光源の中心波長のゆらぎについて
も、上述のスペクトラムアナライザを用いる方法
で測定が可能であるが、その測定感度において必
ずしも満足する結果が得られていない実状であ
る。
波長測定装置としてはスペクトラムアナライザが
用いられている。すなわち光源からの光を光検出
器において検出し、電気信号に変換し、変換され
た電気信号をスペクトラムアナライザにより周波
数分析し、その結果、被測定光源の波長が測定さ
れる。被測定光源の中心波長のゆらぎについて
も、上述のスペクトラムアナライザを用いる方法
で測定が可能であるが、その測定感度において必
ずしも満足する結果が得られていない実状であ
る。
(3) 発明の目的
本発明の目的は、前述の従来の方法における実
状にかんがみ、帯域制限効果のあるフアイバチユ
ーナブルエタロンを測定系に用いるという着想に
基づき、光源のAM・FM雑音を高感度で測定で
きるようにし、より詳細な光源の特性評価ができ
るようにすることにある。
状にかんがみ、帯域制限効果のあるフアイバチユ
ーナブルエタロンを測定系に用いるという着想に
基づき、光源のAM・FM雑音を高感度で測定で
きるようにし、より詳細な光源の特性評価ができ
るようにすることにある。
(4) 発明の構成
本発明においては特定発明として、被測定光源
よりの光を帯域制限効果のあるフアイバチユーナ
ブルエタロン中を通過させることにより、該光源
の中心波長のゆらぎを振幅変調に変換し、前記振
幅変調された光を光検出器に加えて検出し、電力
信号に変換し、該変換された電力信号により、光
源のAM・FM雑音の特性評価を行うことを特徴
とする光源のAM・FM雑音の特性評価方法が提
供される。
よりの光を帯域制限効果のあるフアイバチユーナ
ブルエタロン中を通過させることにより、該光源
の中心波長のゆらぎを振幅変調に変換し、前記振
幅変調された光を光検出器に加えて検出し、電力
信号に変換し、該変換された電力信号により、光
源のAM・FM雑音の特性評価を行うことを特徴
とする光源のAM・FM雑音の特性評価方法が提
供される。
(5) 発明の実施例
本発明の一実施例としての光源のAM・FM雑
音の特性評価方法を行う測定装置のブロツク図が
第１図に示される。図において光源（LD）１１
からの光は伝送路を介してフアイバチユーナブル
エタロン１２に加えられ、フアイバチユーナブル
エタロン１２を通過した後、光検出器１３に加え
られる。光検出器１３の出力は狭帯域レベルメー
タ、パワーメータまたはスペクトラムアナライザ
等の測定器（MA）１４に供給される。
音の特性評価方法を行う測定装置のブロツク図が
第１図に示される。図において光源（LD）１１
からの光は伝送路を介してフアイバチユーナブル
エタロン１２に加えられ、フアイバチユーナブル
エタロン１２を通過した後、光検出器１３に加え
られる。光検出器１３の出力は狭帯域レベルメー
タ、パワーメータまたはスペクトラムアナライザ
等の測定器（MA）１４に供給される。
次に上述の装置の動作を第２図を参照して説明
する。第２図１は光源からの光のスペクトラム
（本例ではレーザスペクトラム）を示し、横軸は
波長λを、縦軸は光パワー（LP）を表わす。中
心波長はλ0で表わされる。第２図２はフアイバチ
ユーナブルエタロン１２の特性を示し、横軸は波
長λを、縦軸は透過率（TF）を表わす。第２図
１に示されるようなスペクトラムを有する光がフ
アイバチユーナブルエタロン１２を通過すると、
光の中心波長λ0がエタロン特性における最大透過
率を示す波長と一致していれば、第２図３に破線
２１で示すような出力となる。第２図３におい
て、横軸および縦軸は第２図２と同様であり、実
線は第２図２のエタロン特性が転記されたもので
ある。一方光源からの光の波長にゆらぎがある場
合は第２図３における破線２２のように振幅が帯
域制限効果を有するエタロン特性により制限され
る。すなわち波長の変化が振幅の変化に変換され
て出力される。変換された出力は光検出器１３に
おいて検出され、空気信号に変換される。該電気
信号は狭帯域レベルメータ、パワーメータ、およ
びスペクトラムアナライザ等でその電力が測定さ
れ、その結果により、光源からの光のAM・FM
雑音特性（中心波長のゆらぎ）が評価される。
する。第２図１は光源からの光のスペクトラム
（本例ではレーザスペクトラム）を示し、横軸は
波長λを、縦軸は光パワー（LP）を表わす。中
心波長はλ0で表わされる。第２図２はフアイバチ
ユーナブルエタロン１２の特性を示し、横軸は波
長λを、縦軸は透過率（TF）を表わす。第２図
１に示されるようなスペクトラムを有する光がフ
アイバチユーナブルエタロン１２を通過すると、
光の中心波長λ0がエタロン特性における最大透過
率を示す波長と一致していれば、第２図３に破線
２１で示すような出力となる。第２図３におい
て、横軸および縦軸は第２図２と同様であり、実
線は第２図２のエタロン特性が転記されたもので
ある。一方光源からの光の波長にゆらぎがある場
合は第２図３における破線２２のように振幅が帯
域制限効果を有するエタロン特性により制限され
る。すなわち波長の変化が振幅の変化に変換され
て出力される。変換された出力は光検出器１３に
おいて検出され、空気信号に変換される。該電気
信号は狭帯域レベルメータ、パワーメータ、およ
びスペクトラムアナライザ等でその電力が測定さ
れ、その結果により、光源からの光のAM・FM
雑音特性（中心波長のゆらぎ）が評価される。
第３図は本装置に用いられるフアイバチユーナ
ブルエタロンの一例の外観を示す斜視図である。
図において、光フアイバ３３は途中で中断されて
おり、エアギヤツプ３４を有する。両端部の接続
部分はフエルール３２であり、外周はアダプタ３
１で囲まれている。図における矢印方向の圧力Ｐ
が加えられるとフエルール３２が伸縮し、共振波
長が変化する。第４図には、上述のフアイバチユ
ーナブルエタロンの長さの変化Ｌに対する減衰率
ATTが示される。本例では波長λが1.3マイクロ
メートルの場合である。
ブルエタロンの一例の外観を示す斜視図である。
図において、光フアイバ３３は途中で中断されて
おり、エアギヤツプ３４を有する。両端部の接続
部分はフエルール３２であり、外周はアダプタ３
１で囲まれている。図における矢印方向の圧力Ｐ
が加えられるとフエルール３２が伸縮し、共振波
長が変化する。第４図には、上述のフアイバチユ
ーナブルエタロンの長さの変化Ｌに対する減衰率
ATTが示される。本例では波長λが1.3マイクロ
メートルの場合である。
第５図には、本発明の他の実施例を行う測定装
置が示される。この測定装置においては、光源１
１とフアイバチユーナブルエタロン１２の間に局
部発振器（OSC）５２の出力により振幅変調を
行う光変調器５１を設け、かつ局部発振器５２の
発振周波数と同期のとれたロツクイン増幅器５３
を設け、その出力を前述の光信号から変換された
電気信号を測定する測定器に該電気信号と同時に
供給し、該測定器の測定機能の援助を行う。上述
した以外は第１図の装置と同様である。この実施
例によれば光源の静特性のみでなく、振幅変調時
の動特性も測定評価できる。
置が示される。この測定装置においては、光源１
１とフアイバチユーナブルエタロン１２の間に局
部発振器（OSC）５２の出力により振幅変調を
行う光変調器５１を設け、かつ局部発振器５２の
発振周波数と同期のとれたロツクイン増幅器５３
を設け、その出力を前述の光信号から変換された
電気信号を測定する測定器に該電気信号と同時に
供給し、該測定器の測定機能の援助を行う。上述
した以外は第１図の装置と同様である。この実施
例によれば光源の静特性のみでなく、振幅変調時
の動特性も測定評価できる。
(6) 発明の効果
本発明によれば、光源のAM・FM雑音を高感
度で測定することができ、より詳細な光源の特性
評価をすることができる。またフアイバチユーナ
ブルエタロンを用いることは、小杉、軽量、低価
格であるほか、レンズ等が不要である等多くの利
点を有する。
度で測定することができ、より詳細な光源の特性
評価をすることができる。またフアイバチユーナ
ブルエタロンを用いることは、小杉、軽量、低価
格であるほか、レンズ等が不要である等多くの利
点を有する。
第１図は本発明の一実施例としての光源の
AM・FM雑音の特性評価方法を行う測定装置の
ブロツク図、第２図は第１図の装置の動作を説明
するための特性図、第３図は第１図の装置に用い
られるフアイバチユーナブルエタロンの概略的な
外観を示す斜視図、第４図は第３図のフアイバチ
ユーナブルエタロンの特性を示す特性図、および
第５図は本発明の他の実施例を行う測定装置を示
すブロツク図である。 １１…光源、１２…フアイバチユーナブルエタ
ロン、１３…光検出器、１４…測定器、３１…ア
ダプタ、３２…フエルール、３３…光フアイバ、
３４…エアギヤツプ、５１…光変調器、５２…局
部発振器、５３…ロツクイン増幅器。
AM・FM雑音の特性評価方法を行う測定装置の
ブロツク図、第２図は第１図の装置の動作を説明
するための特性図、第３図は第１図の装置に用い
られるフアイバチユーナブルエタロンの概略的な
外観を示す斜視図、第４図は第３図のフアイバチ
ユーナブルエタロンの特性を示す特性図、および
第５図は本発明の他の実施例を行う測定装置を示
すブロツク図である。 １１…光源、１２…フアイバチユーナブルエタ
ロン、１３…光検出器、１４…測定器、３１…ア
ダプタ、３２…フエルール、３３…光フアイバ、
３４…エアギヤツプ、５１…光変調器、５２…局
部発振器、５３…ロツクイン増幅器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定光源よりの光を帯域制限効果のあるフ
アイバチユーナブルエタロン中を通過させること
により、該光源の中心波長のゆらぎを振幅変調に
変換し、前記振幅変調された光を光検出器に加え
て検出し、電力信号に変換し、該変換された電力
信号により、光源のAM・FM雑音の特性評価を
行うことを特徴とする光源のAM・FM雑音の特
性評価方法。 ２ 被測定光源よりの光を変調用発振器の出力で
振幅変調して帯域制限効果のあるフアイバチユー
ナブルエタロン中を通過させ、該変調用発振器の
発振周波数と同期のとれたロツクイン増幅器から
の出力と該変換された電力信号により、光源の
AM・FM雑音の特性評価を行うことを特徴とす
る光源のAM・FM雑音の特性評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16751382A JPS5957136A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16751382A JPS5957136A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5957136A JPS5957136A (ja) | 1984-04-02 |
| JPH0363008B2 true JPH0363008B2 (ja) | 1991-09-27 |
Family
ID=15851072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16751382A Granted JPS5957136A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5957136A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2507790B2 (ja) * | 1988-12-20 | 1996-06-19 | 富士通株式会社 | 半導体レ―ザのｆｍ変調特性測定装置 |
| JP2802390B2 (ja) * | 1989-06-02 | 1998-09-24 | 日本電信電話株式会社 | 光周波数変調特性の測定装置 |
| JPH0359428A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-14 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザの周波数変調特性測定方法及び装置 |
| JPH0620333U (ja) * | 1992-06-12 | 1994-03-15 | 有限会社九州生技研 | チェーンガイドレール構造 |
-
1982
- 1982-09-28 JP JP16751382A patent/JPS5957136A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5957136A (ja) | 1984-04-02 |
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