JPH0363081B2 - - Google Patents

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JPH0363081B2
JPH0363081B2 JP52092537A JP9253777A JPH0363081B2 JP H0363081 B2 JPH0363081 B2 JP H0363081B2 JP 52092537 A JP52092537 A JP 52092537A JP 9253777 A JP9253777 A JP 9253777A JP H0363081 B2 JPH0363081 B2 JP H0363081B2
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Maruchin Sanchesu Juan
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Publication of JPH0363081B2 publication Critical patent/JPH0363081B2/ja
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01D—SEPARATION
    • B01D3/00—Distillation or related exchange processes in which liquids are contacted with gaseous media, e.g. stripping
    • B01D3/42—Regulation; Control
    • B01D3/4211—Regulation; Control of columns
    • B01D3/425—Head-, bottom- and feed stream
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B13/00—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
    • G05B13/02—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
    • G05B13/04—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric involving the use of models or simulators
    • G05B13/048—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric involving the use of models or simulators using a predictor

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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、複数のサンプリング時点ごとに制御
ベクトルを生成し、該制御ベクトルをプロセス実
効装置に印加することで、プロセス制御を行う方
法および装置に関する。
本発明は、例えば航空、電子、化学各工学等の
多岐に渡るシステムに適用できることから、その
適用分野は際限がない。
具体例としては、昇降舵の位置によつてピツチ
角を制御する航空機の単一入力単一出力制御、及
び還流並びに水蒸気の流量によつて頂・底部の組
成を制御する蒸留塔の多変数制御がある。
[従来の技術及びその課題] 制御構造を有するシステムの制御性能は、プロ
セスのダイナミツク・パラメータの不測の変化に
起因する恒久パラメータの劣化に左右されるが、
これらの劣化は直接的にも間接的にも測定するこ
とはできない。
近年この問題を解決しようとする制御技術が開
発された来た。これらの技術の中で最も注目され
るのは、モデル参照適応制御システムであり、こ
れは基本的には次の手順の一つに従つて動作す
る。
(1) プロセスのパラメータ及び状態変数の実時間
アダプテイブ推定を行い、その結果からアダプ
テイブ・レギユレータがプロセスに印加すべき
制御を計算するか、或は (2) プロセス出力をモデル参照出力に追随させる
ために、適応制御機構を介してプロセスに印加
すべき制御を計算する。
一般に、上記の両手順とも制御構造は修正器の
設計を必要とし、この集積のパラメータの計算は
プロセスの次数が増すにつれて困難となるので、
これらの技術の適用分野は極めて限定されたもの
となる。
[課題を解決するための手段] 本発明は、未来のサンプリング時点においてモ
デルにより予測された予測プロセス出力ベクトル
を同じく未来のサンプリング時点で到達すべき所
望プロセス出力ベクトルに等しくさせるように、
プロセス実行装置へ印加する制御ベクトルをサン
プリング時点kごとに生成することを特徴とす
る。
[実施例] 以下、本発明の実施例について一般的に説明
し、その後で本制御方法の具体的適用例を示す。
第1図は、本発明による制御方法の一実施例の
概略的構成図である。
同図において、制御対象部3は、プロセスを実
行する装置10、その出力を検出するセンサ1
2、センサ12によつて検出されたプロセス出力
ypの増分を算出する演算ブロツク13より構成
される。装置10は制御ベクトルuによつて動作
が調整され、その結果であるプロセス出力ypが
センサ12によつて検出される。
アイデンテイフイケーシヨン・ブロツク4(以
下、「同定ブロツク4」という。)は、遅延ブロツ
ク11と演算ブロツク5とから構成される。
遅延ブロツク11はプロセスの遅れを考慮して
設けられている。すなわち、制御ベクトルu(k)は
時点(k+r+1)までプロセス出力に作用しな
いために、時点kでのプロセス出力y(k)はその前
の時点(k−r−1)での制御ベクトルu(k−
r−1)によつて定まつてくる。ここで、rはプ
ロセスにおいて観測される遅れ、又は便宜上考慮
された遅れを表わす。
演算ブロツク5は適応予測モデルを有し、この
モデルを用いて時点(k−r−1)での制御ベク
トルu(k−r−1)の値から時点kでのプロセ
ス出力y(k)の推定値を演算する。
更に、適応予測モデルは、誤差eに基きアダプ
テイブ・フイードバツク機構6によつて、パラメ
ータの更新が行われる。
なお、後述する同定モードでは、制御ベクトル
u(k)は通路1を通してオペレータ2によつて与え
られる。
一方、通路7には、駆動ブロツク9および制御
ブロツク8が設けられ、本発明の特徴となる制御
が行われる。制御ブロツク8は、演算ブロツク5
の適応予測モデルを利用して制御ベクトルu(k)を
算出する。
以下、本実施例について更に詳しく説明する。
まず、u(k)、yp(k)等はベクトルとして取り扱
われる。例えば、プロセス出力変数が1個であれ
ばypは一次元ベクトル、n個であればn次元ベ
クトルとなる。また、u(k)等のkは、サンプリン
グ時点を意味する。
任意のサンプリング時点kにおいて、本制御シ
ステムは、同定モードおよび制御モードという二
つの動作モードが可能である。どの動作モードを
採用するかは、人間又は自動のオペレータ2によ
つて決定される。すなわち、オペレータ2が通路
1を選択すれば同定モード、通路7を選択すれば
制御モードとなる。以下、両動作モードを第1図
を用いて説明する。
(1) 同定モード このモードにおいて、制御ベクトル(より正
確には増分制御ベクトル)u(k)は、通路1で表
わされるように、オペレータ2から制御される
プロセスを実行する装置10と、同定ブロツク
4との双方に直接印加される。
同定ブロツク4は、演算ブロツク5に格納さ
れた適応予測モデルを用いて、推定増分プロセ
ス出力ベクトルd(k)、すなわちプロセス出力の
推定値を算出する。
この推定増分プロセス出力ベクトルd(k)と、
演算ブロツク13で算出された実増分プロセス
出力ベクトルy(k)、すなわちプロセス出力の検
出値との差を表わす誤差ベクトルe(k)は、アダ
プテイブ・フイードバツク機構6を通して上述
の適応予測モデルのパラメータを更新するため
に使用される。制御ベクトルu(k)は遅延ブロツ
ク11でr+1サンプリング期間だけ遅延して
演算ブロツク5に入力し、適応予測モデルを利
用して上記推定増分プロセス出力d(k)を算出す
る。
すなわち、同定モードではモデル参照適応シ
ステムの動作によつて、演算ブロツク5の適応
予測モデルのパラメータが同定される。
(2) 制御モード オペレータ2が通路7を選択することで、シ
ステムは制御モードで動作する。このモードに
おいても、適応予測モデルのパラメータは上述
のようにして更新される。
これに加えて、制御される装置10に印加さ
れるべき制御ベクトルu(k)は、制御ブロツク8
において、次のように計算される。
まず、駆動ブロツク9から未来のサンプリン
グ時点(k+r+1)におけるプロセスの所望
増分出力ベクトルd 1(k+r+1)を入力し、
また、現時点の制御ベクトル等から未来時点
(k+r+1)における予測増分プロセス出力
ベクトルを算出する。
そして、この予測増分プロセス出力ベクトル
と前記d 1(k+r+1)とが等しくなるよう
に、制御ベクトルu(k)が計算される。その際、
制御ブロツク8は、演算ブロツク5と同じ更新
された適応予測モデルを用いて計算を行う。
一方、駆動ブロツク9では、オペレータ2に
よつてプロセスの出力の所望セツトポイント
(主目標値)Vが設定される。そして、駆動ブ
ロツク9は、後述するように、主目標値Vに連
続的に近づく仕方を示すプロセス出力の軌跡
(トラジエクトリ)の形を決定する。
駆動ブロツク9から出力する上記d 1(k+r
+1)は、未来の時点(k+r+1)における
軌跡(トラジエクトリ)に沿つたプロセス出力
の値である(詳細は、後述の動作(ヘ)への項参
照)。
なお、装置10によつて実行されるプロセス
の制御を正しく行うために、本システムは常に
プロセスの出力、入力および測定可能な外乱ベ
クトルの増分値を用い、加えて制御ベクトルの
限界をチエツクすることができる。制御モード
中のサンプリング時点k毎にデジタル計算機の
援助を受けて本制御システムが遂行する特定動
作は以下のようになる。
(イ) センサ12による検出 センサ12によつてプロセス出力ベクトル
yp(k)を測定する。もし、好都合ならば、プ
ロセスの出力変数をフイルタリングしてyp
(k)を求める。ベクトルypの次元はnとする。
(ロ) 演算ブロツク13の増分計算 演算ブロツク13は、センサ12からプロ
セス出力yp(k)を入力し、次式によつてその
増分ベクトルy(k)を算出する。
y(k)=yp(k)−yp(k−γ) ……(式1) ここでγは任意に選択された整数である。
すなわち、γだけ過去のプロセス出力yp(k
−γ)との差を計算している。y(k)は、実際
のプロセス出力から算出しているから、以
下、実増分プロセス出力ベクトルという。
(ハ) 演算ブロツク5のプロセス出力の推定適応
予測モデルを格納した演算ブロツク5は、実
増分プロセス出力ベクトルy、増分制御ベク
トルuおよび増分外乱ベクトルwを入力し、
適応予測モデルを用いて次式により推定増分
プロセス出力ベクトルd(k)を計算する。
d(K)=h 〓i=1 Ai(k−1)y(k−i−r1)+f 〓i=1 Bi(k−1)u(k−i−r) +g 〓i=1 Ci(k−1)w(k−i−r2) ……(式2) なお、制御ベクトルuおよび外乱ベクトルwに
ついては、 u(k-i-r)=up(k−i−r) −up(k−i−r−γ) ……(式3) w(k-i-r2)=wp(k−i−r2) −wp(k−i−r2−γ) ……(式4) である。ここで、up(k−i−r)およびwp
(k−i−r2)は各々サンプリング時点(k
−i−r)および(k−i−r2)における制
御ベクトルおよび測定可能な外乱ベクトルで
あり、次元は各々n1およびmである。式2に
おいて、整数h、fおよびgは適宜選択する
ことができ、同様に整数r1およびr2は出力ベ
クトルおよび外乱ベクトルの利用可能な或は
予測される測定を考慮して適宜選択すること
ができる。
適応予測モデルのマトリクスAi(k−1)、
Bi(k−1)およびCi(k−1)は、適切な
次元を有しており、それらの値は時点kに更
新される前の過去の値に一致している。
もし、制御ベクトルの次元が出力ベクトル
の次元よりも大きければ、ほとんどの場合、
独特の制御解を得るために補助条件を加える
か、或は単に若干の制御ベクトル成分を外乱
ベクトル内に含ませるだけでよい。特定の場
合としてn1=nが考えられる。
(ニ) 推定誤差ベクトルe(k)の計算 演算ブロツク13によつて計算された実増
分プロセス出力ベクトルy(k)と演算ブロツク
5によつて計算された推定増分プロセス出力
ベクトルd(k)との差をとつて、推定誤差ベク
トルを算出し、アダプテイブ・フイードバツ
ク機構6へ出力する。
e(k)=y(k)−d(k) ……(式5) (ホ) 適応予測モデルのパラメータ更新 アダプテイブ・フイードバツク機構6は、
次のアルゴリズムによつて、適応予測モデル
のパタメータの更新を行う。
適応予測モデルのマトリクスAi(k)、Bi(k)
およびCi(k)のj行q列の成分であるパラメー
タをaijq(k)、bijq(k)およびcijq(k)とすると、 aijq(k)=βaijqαj(k)ej(k)yq (k−i−r1)+aijq(k−1)……(式6) bijq(k)=βbijqαj(k)ej(k)uq (k−i−r)+bijq(k−1)……(式7) cijq(k)=βcijqαj(k)ej(k)wq (k−i−r2)+cijq(k−1)……(式8) である。
ここでe(k)、yq(k−i−r1)、uq(k−i−
r)およびwq(k−i−r2)は、それぞれベ
クトルe(k)、y(k−i−r1)、u(k−i−
r)およびw(k−i−r2)の対応成分であ
る。βaijq、βbijqおよびβcijqは適宜調整可能
な係数であり、αj(k)(j=1、n)は公知の
グラジエント・パラメータ・アイデンテイフ
イケーシヨン技術で許容される広範囲な可能
性の中から容易に選択可能な可変利得であ
る。これらの可変利得は次のようにして特定
的に選択することができる。
aj(k)=1/〔1+h 〓i=1 o 〓g=1 βaijqyq(k−i−r1)2+f 〓i=1 o 〓g=1 βbijquq(k−i−r)2 +g 〓i=1 n 〓 〓g=1 βcijqwq(k−i−r2)2〕(j=1、n)……(式
9) 以上式6〜式9によつて、更新されたパラメ
ータaijq(k)、bijq(k)およびcijq(k)を得ること
ができる。
このようにして、同定モードにおいて適応
予測モデルのパラメータ同定が行われる。
(ヘ) 駆動ブロツク9による所望増分プロセス出
力ベクトルd1(k+r+1)の計算。
まず、未来の時点(k+r+1)で到達す
べき所望プロセス出力ベクトルdp(k+r+
1)を算出する。
n次元の所望プロセス出力ベクトルdp
(k+r+1)の計算。
この計算は種々の方法で行うことが可能
である。例えば所望のダイナミクスを有す
るモデル参照を用いるが、或は所望のダイ
ナンクス及び先に測定した或は予測したプ
ロセス出力を考慮した他のデザインを用い
て計算できる。例えば、この最後の型のデ
ザインは次式によつて限定することができ
る。
dp(k+r+1)=t 〓i=1 Fiyp(k+r+1−r1−i)+s 〓i=1 Hiv(k+1−i) ……(式10) ここにyp(k+r+1−r1−i)およびv
(k+1−i)は各々サンプリング時点k
+r+1−r1−1及びk+1−iにおける
プロセス出力ベクトル及び駆動ブロツク9
への入力ベクトルである。v(k+1−i)
は次元nのベクトルで、オペレータ2によ
つて直接与えられる所望の主目標値に相当
する。
また、マトリクスFiおよびHiは、整数
tおよびsと共に、プロセス出力が目標値
に到達するまでの軌跡(トラジエクトリ)
を考慮して自由に選択することができる。
すなわち、このプロセス出力の軌跡(トラ
ジエクトリ)の形が、特に主目標値に収束
するように、式10のマトリクスFiおよび
Hiの値によつて設定される。
式10によつて、未来の時点k+r+1で
到達すべき所望プロセス出力ベクトルdp
(k+r+1)が計算されると、所望増分
プロセス出力ベクトルd1(k+r+1)は
種々の方法で容易に計算することができ
る。その中で、プロセスの遅れを表わすr
と増分計算のために設定されたγとがγ>
rの場合には、次式で計算される。
d1(k+r+1)=dp(k+r+1) −yp(k+r+1−γ) ……(式11) 必要ならばd1(k+r+1)の限界チエツ
クを行うことができる。
このように、所望増分プロセス出力d1
(k+r+1)は、プロセス出力ypから式
10を用いて駆動ブロツク9によつて計算さ
れる。この所望出力d1(k+r+1)は、
時点kでのプロセス出力yp(k)から主目標
値(セツトポイント)へ連続的に接近する
仕方の変化を表わす軌跡(トラジエクト
リ)に沿つた未来時点(k+r+1)での
プロセス出力の到達すべき出力値である。
(ト) 制御ブロツク8による増分制御ベクトルu
(k)の計算。
制御ブロツク8での概略的動作は、まず未
来の時点(k+r+1)で予測されるプロセ
ス出力の増分d′1(k+r+1)を計算した
後、駆動ブロツク9から入力した所望増分プ
ロセス出力d1(k+r+1)と比較し、両者
が等しくなるように増分制御ベクトルu(k)を
調整する。以下、詳述する。
予測増分プロセス出力ベクトルd′1(k+
r+1)の計算。
制御ブロツク8は、上述した適応予測モ
デルを用いて、次式によりプロセス出力の
増分を予測する。
d′1(k+r+1)=h 〓i=1 Ai(k)y(k+r+1−r1−i)+f 〓i=1 Bi(k)u(k+1−i) +g 〓i=1 Ciw=(k+r+1−r2−i) ……(式12) ここで、マトリクスAi、BiおよびCiは、時
点kでの更新された適応予測モデルに対応
し、またyは演算ブロツク13により算出さ
れた実増分プロセス出力ベクトル、uは増分
制御ベクトル、wは増分外乱ベクトルであ
る。
続いて、制御ブロツク8は、駆動ブロツク
9から入力した未来の時点(k+r+1)で
軌跡(トラジエクトリ)に沿つて到達すべき
所望増分プロセス出力ベクトルd1(k+r+
1)と、算出した予測増分プロセス出力ベク
トルd′1(k+r+1)とが未来の時点(k+
r+1)において等しくなるように増分制御
ベクトルu(k)を次式によつて算出する。
i(k)=B1 -1d1(k+r+1)−B1 -1 h 〓i=2 Bi(k)u(k+1−i)−B1 -1 h 〓i=1 Ai(k) y(k+r+1−r1−i)−B1 -1 g 〓i=1 Ci(k)w(k+r+1−r2−i)……(式13) このu(k)を計算する際、マトリクスB1(k)を
反転させなければならないことは明白であろ
う。マトリクスB1(k)が特異解となる恐れは、
入力及び出力プロセスベクトルの成分に時間
遅れを加え、そして合成プロセスを制御する
ことによつて実際的にはほとんど常に避ける
ことが可能である。このような手順の実際例
は後述する。
u(k)から制御ベクトルは次のように計算
される。
up(k)=u(k)+up(k−γ)
……(式14) (チ) 望むならば制御ベクトルup(k)はプロセス
に印加する前に限界チエツクすることができ
る。
以上、(イ)〜(チ)の動作を説明したが、同定モード
で動作している場合には(イ)〜(ホ)の動作だけを遂行
すればよく、この同定モード動作は実時間或はオ
フ・ラインで、またサンプリング間隔の間にでさ
えも遂行させることが可能である。
また、(ヘ)〜(チ)の動作は、駆動ブロツク9および
制御ブロツク8によつて行われ、本発明の特徴を
示している。すなわち、プロセス出力yp(k)とオ
ペレータ2から入力した主目標値V(k)とから式10
によつて、プロセス出力の主目標値V(k)へ到達す
るまでの軌跡(トラジエクトリ)を決定し、この
軌跡に沿つて未来時点(k+r+1)で到達すべ
き所望プロセス出力d1を計算する。続いて、適応
予測モデルを用いて未来時点(k+r+1)で到
達するであろう予測プロセス出力d′1を算出し、
この予測プロセス出力d′1と前記所望プロセス出
力d1とが等しくなるように制御ベクトルu(k)を調
整する。
このような制御ベクトルu(k)が各サンプリング
時点ごとに行われるために、当初の軌跡(トラジ
エクトリ)に沿つてプロセス出力を主目標値Vへ
到達、特に収束させることができる。更に、目標
値を変更すれば同様にして追随させることができ
る。
また、本実施例における制御モードでは、適応
予測モデルを更新するための(イ)〜(ホ)の動作も行わ
れている。この動作は、プロセスの不測の特性変
動に対応するために重要である。
(イ)〜(ホ)の動作は、サンプリング時点(k+r+
1)における実際のプロセス出力と予測されたプ
ロセス出力との差をゼロにするように予測モデル
のパラメータを更新するものである。また、制御
ベクトルu(k)は、サンプリング時点(k+r+
1)での予測されたプロセス出力を所望プロセス
出力と等しくするように算出されるために、この
予測の正確さは、制御ベクトルu(k)の正確な計算
にとつて重要である。上記動作(イ)〜(ホ)は、この予
測を正確なものとし、制御システムの性能を向上
させるものである。
さらに、(イ)〜(ホ)の動作は、大きな予測エラーを
結果するプロセスのパラメータ変動が存在する場
合に特に重要となる。すなわち、(イ)〜(ホ)の動作に
よつて予測モデルのパラメータが更新され、それ
により予測エラーをなくすことができるからであ
る。
なお、本制御システムは、上述したように増分
入力、出力、および外乱ベクトルを使用すること
も可能である。しかし、別の実施方法では増分入
力、出力および外乱ベクトルを便宜選択した若干
の定ベクトルの対して計算することもできる。こ
の算出方法に従えば、式1、3、4、11および14
を次のように変更する必要がある。
y(k)=yp(k)−ypc (式15) u(k-i-r)=up(k-i-r)−upc (式16) w(k-i-r2)=wp(k-i-r2)−wpc (式17) d1(k+r+1)=dp(k+r+1)−ypc (式18) up(k)=u(k)+upc (式19) 同様に、例えばプロセスに関してある知識が得
られたために、若干の適応予測モデルのパラメー
タに特定の値を与えることが好都合であると考え
られる場合には、これらの値を特定のパラメータ
に与え、対応するβ係数を0にセツトすることが
できる。また、適応予測モデルのパラメータ更新
動作を停止して制御を行うことも勿論可能であ
り、そうすることが望ましい場合も考えられる。
適応予測モDルのパラメータ更新の方法には、
本実施例とは別の方法を採用してもよい。たとえ
ば、同定ブロツク4の出力であるベクトルd(k)を
制御対象3の出力ベクトルy(k)の推定としてでは
なく、他のいずれかの出力或は先行サンプリング
時点における入力ベクトルの推定として算出し、
その推定誤差によつて適応予測モデルを更新する
方法である。
若干の場合には、本制御システムの応用として
本システムを1組の単一出力、多入力システムに
分解し、各システムに毎サンプリング時点に制御
ベクトルの成分によつて照合される条件を負担さ
せ、対応するn個の一次式の組から毎サンプリン
グ時点における制御ベクトルを計算させることが
できる。
最後に、プロセスの静的利得は、その出力、入
力及び外乱ベクトル或は増分ベクトルの成分にス
カラー利得を乗ずることによつて変更することが
できる。また、プロセスのダイナミツクスは同様
にして変更することができる。この場合の制御シ
ステムは、変更されたプロセスの制御を通してプ
ロセスを制御する。
すなわち、静的利得は、プロセスが定常状態の
時、すなわちシステムが安定状態にある時の出
力、入力及び外乱ベクトルの異なる成分間の利得
を意味する。したがつて、これらの成分の一つに
スカラー利得を乗ずることで、対応する静的利得
が変化させる。
実施例 2元蒸留塔の多変数制御 第2図は、本実施例の具体的応用例の概略的構
成図である。
ここでは、カナダ国アルバータ州エドモントン
のアルバータ大学化学工業化において、本制御シ
ステムにより2元蒸留塔の頂・底部組成(メタノ
ールの重量パーセントによる)の多変数制御を行
つた。
同図に示すように、供給流110は第4のアツ
シユトレイから蒸留塔100内に入り、頂部製品
は凝縮器120内において冷却水によつて凝縮さ
れ、容器130に落下する。そして、組成記録器
20によつて頂部組成の測定が行われる。
また、還流流量16は流れ記録器制御器22に
よつて調整される。
一方、底部製品15の組成は、ガス・クロマト
グラフ装置21によつて測定される。また、塔の
底部の再熱器18を加熱する蒸気流量17は、流
れ記録器制御器23によつて調整される。
この実験の目的は、蒸留塔の頂部および底部か
ら取り出される製品の組成を制御することである
から、この組成がプロセス出力ypの各成分に相
当する。従つて、組成記録器20およびガス・ク
ロマトグラフ装置21がypを検出するセンサ1
2に相当する。
また、還流流量16および蒸気流量17が制御
変数として用いられ、第1図における制御ベクト
ルの各成分に相当する。
デジタル計算器19は、頂・底部組成の測定値
であるプロセス出力ypを入力し、既に述べたパ
ラメータ更新、所望又は予測増分プロセス出力ベ
クトル等の算出などの演算を行い、その結果とし
ての操作量を流れ記録器制御器22および23へ
出力する。
更に、塔は次の設備も備えている。すなわち、
2つの液面指示器制御器24、2つの流れ記録器
25、圧力指示器制御器26、2つの温度記録器
制御器27、および流れ記録器制御器28であ
る。
上記のように制御変数は還流および蒸気の流量
16および17であり、サンプリング周期は256
秒である。この長いサンプリング周期のために頂
部組成と還流および水蒸気流量との間の時間遅れ
はない。底部組成を測定するのに要する分析時間
のために、底部組成と蒸気流量との間には1サン
プリング期間の測定時間遅れが存在し、底部組成
と還流流量との間の時間遅れは2サンプリング期
間であつた。プロセスは重大な外乱は作用しなか
つた。
式13におけるB1(k)の特異性の問題を避けるた
めに頂部組成測定に1サンプリング期間の遅れが
加えられる。したがつて、サンプリング時点kに
おける頂部組成に関するプロセス出力ベクトルの
成分は時点k−1における頂部組成の測定値であ
り、同様に時点k+1におけるプロセス出力ベク
トルの前記成分は時点kで既に知られている。
このような構成において、サンプリング時点k
ごとに、本制御システムが制御モードで遂行する
動作シーケンスは次の通りである。
1 プロセス出力ベクトルyp(k)を求めるための
頂部および底部組成の測定。
プロセス出力ベクトルyp(k)の成分は、時点
k−1にすでに測定された頂部組成yp1(k)およ
び時点kに測定された底部組成yp2(k)である。
2 プロセスの遅れを表わす数rは、この場合1
に等しく、増分を求めるための整数γは2に等
しく選ばれている。したがつて、演算ブロツク
13によつて計算される実増分プロセス出力ベ
クトルy(k)は、式1より、 y(k)=yp(k)−yp(k−2) ……(式20) となる。
3 式2における適応予測モデルにおける整数
h、fおよびr1はそれぞれ3、4、および0に
等しく選ばれ、外乱は考慮されなかつた。した
がつて、推定増分プロセス出力ベクトルd(k)
は、 d1(k) d2(k)=ΣAi(k−1)y1(k−i) y2(k−i)+Σi(k−1)u1(k−i−1) u2(k−i−1) ……(式21) で計算される。
ただし、d1およびy1は頂部組成に関する成分で
あり、d2およびy2は底部組成に関する成分であ
る。u1およびu2はそれぞれ増分還流および蒸気流
量である。増分制御ベクトルu(k−i−1)は、 u(k−i−1)=up(k−i−1) −up(k−i−3) ……(式22) よつて求められる。ここにup(k−i−1)は
時刻k−i−1に印加される制御ベクトクであ
る。
また、マトリクスAi(k−1)(i=1、3)
およびBi(k−1)(i=1、4)は、次によ
うに選ばれた。
A1(k−1)=a111(k−1) 0 0 0; A2(k−1)=a211(k−1) 0 0 a222(k−1); A3(k−1)=0 0 0 a322(k−1); B1(k−1)= b111(k−1) 0 b112(k−1) b122(k−1); B2(k−1)= b211(k−1) b212(k−1) b221(k−1) b222(k−1); B3(k−1) =0 b321(k−1) 0 b322(k−1); B4(k−1)=0 b421(k−1) 0 0 4 続いて、式5に示すように、増分推定誤差ベ
クトルe(k)を計算する。
5 増分推定誤差ベクトルe(k)に基き、式6、7
および9に従て、マトリクスAi(k)およびBi(k)
のパラメータの時点kにおける更新値を計算す
る。その際、外乱は考慮されず、また頂部およ
び底部列における非0パラメータに対応する係
数βの値は、各々1および0.1に設定され、残
りの0パラメータに対応する係数βに設定され
る。
6 時点k+2における所望プロセス出力ベクト
ルdp(k+2)の成分dp1(k+2)およびdp2
(k+2)はそれぞれ次のスカラー式によつて
駆動ブロツク9で計算される。これらは式10の
特定のケースである。
dp1(k+2)=2 〓i=1 f1iy1(k+2−i)+3 〓i=1 h1iv1(k+1−i) ……(式23) dp2(k+2)=2 〓i=1 f2iy2(k+1−i)+3 〓i=1 h2iv2(k+1−i) ……(式24) 但し、v1(k+1−i)およびv2(k+1−
i)はそれぞれ時点(k+1−i)における駆
動ブロツク9の入力ベクトルv(k+1−i)
の頂部および底部組成に関連する成分である。
式23および24のパラメータはそれぞれ0.0056
ラジアン/秒の自然周波数のサンプリング時間
遅れを与えない場合と与えた場合の2次モデル
のパラメータと等しくなるように選ばれ、ダン
ピング比および静的利得は1に等しくしてあ
る。静的利得の値を1にすると、成分v1(k+
1−i)およびv2(k+1−i)はそれぞれ時
点k(k+1−i)における頂部および底部組
成に対する設定点の値を物理的に意味するよう
になる。
式23において値y1(k+1)は、 y1(k+1)=yp1(k+1) −yp1(k−1) ……(式25) によつて予め計算されており、yp1(k+1)は
時点kにおいて測定された頂部組成の値である
ことに注意されたい。
dp(k+2)から、所望の増分プロセス出力
ベクトルd1(k+2)は、 d1(k+2)=dp(k+2)−yp(k) ……(式26) によつて求められる。
所望増分プロセス出力ベクトルd1(k+2)
は、駆動ブロツク9で計算され、制御ブロツク
8へ出力される。
d1(k+2)の頂部および底部組成に関連す
る成分d11(k+2)およびd12(k+2)は絶対
値をそれぞれ0.3および0.6%に制限されてい
た。
7 制御ブロツク8によつて増分制御ベクトルu
(k)の計算が次式により行われる。これも式13の
特定の場合である。
u(k)=B1 -1d1(k+2)−B1 -1 4 〓i=2 Bi(k)u(k+1−i) −B1 -1 3 〓i=1 Ai(k)y(k+2−i) ……(式27) up(k)=u(k)+up(k−2) ……(式28) 8 up(k)の絶対値および増分値は、プロセスに
印加する前に限界チエツクを行つた。
第3図は、蒸留塔の本制御システムの実験結果
を示すグラフである。
ここでは、蒸留塔の制御実験の制御操作の始め
から6時間24分後までの結果を示している。
同図のA、B、CおよびDにおいて、縦軸はそ
れぞれ頂部組成(%)、底部組成(%)、還流流量
(g/s)および蒸気流量(g/s)を表わし、
横軸はサンプリング時点による時間を表わしてい
る。
適応予測モデルのパラメータの初期値は有利的
に選択され、制御システムは制御操作を開始する
前の2サンプリング期間を同定モードで作動させ
た。
制御操作が開始すると、制御システムは、頂部
組成が96.5%ないし96%、底部組成が1%ないし
3%になるようにプロセス制御を行つた。その
後、時点29において、頂部組成が3%に保たれ
たまま頂部組成は97%に駆動され、時点55には
底部組成が3%から5%に駆動されたが頂部組成
は97%に保たれた。
本制御システムが見事に解決した2元蒸留塔の
多変数制御問題は、長期間にわたつて且つしばし
ば、相互に作用し合う多変数化学システムにおけ
る難事の好例であつたことに注目されたい。
[発明の効果] 以上詳細に説明したように、本発明は、未来の
サンプリング時点においてモデルにより予測され
た予測プロセス出力ベクトルを同じく未来のサン
プリング時点で到達すべき所望プロセス出力ベク
トルに等しくさせるように、プロセス実行装置へ
印加する制御ベクトルをサンプリング時点kごと
に生成することを特徴とする。これによつて所望
の主目標値に到達するまでの過程をも精度良く安
定して制御することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による制御方法の一実施例の
概略的構成図である。第2図は、本実施例の具体
的応用例の概略的構成図である。第3図は蒸留塔
の本制御システムの実験結果を示すグラフであ
る。 1……同定モード通路、2……オペレータ、3
……制御対象部、4……同定ブロツク、5……演
算ブロツク、6……アダプテイブ・フイードバツ
ク機構、7……制御モード通路、8……制御ブロ
ツク、9……駆動ブロツク、10……プロセス実
行装置、11……遅延ブロツク、12……セン
サ、13……演算ブロツク、100……蒸留塔、
110……供給流、120……凝縮器、130…
…容器、14……頂部製品、15……底部製品、
16……還流流量、17……蒸気流量、18……
再熱器、19……デジタル計算機、20……組成
記録器、21……ガスクロマトグラフ装置、2
2,23……流れ記録器制御器、24……液面指
示器制御器、25……流れ記録器、26……圧力
指示器制御器、27……温度記録器制御器、28
……流れ記録器制御器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 少なくとも一つの入力変数および少なくとも
    一つの出力変数を有し該入力変数の少なくとも一
    つがプロセス入力ベクトルを定めるプロセスを実
    行する装置に、複数のサンプリング時点kの各々
    の間で生成する制御ベクトルを印加し、該制御ベ
    クトルの値に従つて前記装置が前記プロセス入力
    ベクトルを変化させる制御方法において、 (A) 未来のサンプリング時点k+r+1(rは前
    記プロセスの遅れに応じた数)で、前記プロセ
    ス出力変数の少なくとも一つから成るプロセス
    出力ベクトルのダイナミツク値を、前記制御ベ
    クトルの関数として予測し得るモデルを格納
    し、 (B) 所望の目標を考慮して、前記未来のサンプリ
    ング時点k+r+1における前記プロセス出力
    ベクトルの所望される値を表す所望ダイナミツ
    クプロセス出力ベクトルを前記サンプリング時
    点kごとに生成し、 (C) 前記未来のサンプリング時点k+r+1にお
    いて前記ダイナミツクプロセス出力ベクトルを
    前記所望ダイナミツクプロセス出力ベクトルに
    等しくさせるように、前記モデルによつて予測
    される前記制御ベクトルを前記サンプリング時
    点kごとに生成する、 ことを特徴とする制御方法。 2 上記所望ダイナミツクプロセス出力ベクトル
    は前記プロセスにとつての所望変化を考慮し、所
    望目標ベクトルと上記ダイナミツクプロセス出力
    ベクトルとの双方の関数として生成されることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の制御方
    法。 3 上記所望ダイナミツクプロセス出力ベクトル
    を生成するステツプは、上記所望ダイナミツクプ
    ロセス出力ベクトルと上記ダイナミツクプロセス
    出力ベクトルとの増分差を示す増分所望ダイナミ
    ツク出力ベクトルを生成するステツプを含むこと
    を特徴とする特許請求の範囲第2項記載の制御方
    法。 4 上記制御ベクトルは、上記プロセスの入力ベ
    クトルにおける増分変化を示し上記モデルによつ
    て予測される増分制御ベクトルであり、未来のサ
    ンプリング時点k+r+1において上記ダイナミ
    ツク出力ベクトルを上記所望ダイナミツク出力ベ
    クトルと等しくさせることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の制御方法。 5 上記制御ベクトルは、上記プロセスの入力ベ
    クトルにおける増分変化を示し上記モデルによつ
    て予測される増分制御ベクトルであり、未来のサ
    ンプリング時点k+r+1において上記ダイナミ
    ツク出力ベクトルを上記所望ダイナミツク出力ベ
    クトルと等しくさせることを特徴とする特許請求
    の範囲第3項記載の制御方法。 6 サンプリング時点k+r+1における実ダイ
    ナミツクプロセス出力ベクトルと、上記モデルに
    よつて予測されたサンプリング時点k+r+1で
    のダイナミツクプロセス出力ベクトルとの差がゼ
    ロに向けて減少するように、前記モデルのパラメ
    ータを周期的に更新するステツプを更に含むこと
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の制御方
    法。 7 上記パラメータを更新するステツプは、次の
    ステツプ(A)、(B)および(C)から成ることを特徴とす
    る特許請求の範囲第6項記載の制御方法。 (A) 前のサンプリング時点k−r−1における上
    記制御ベクトルの生成の結果としてサンプリン
    グ時点kにおいて生じたはずであり、第1の定
    められた前のサンプリング時点の間に更新され
    た上記モデルによつて推定されるダイナミツク
    プロセス出力ベクトルを示す推定プロセス出力
    ベクトルを周期的に生成し、 (B) 上記サンプリング時点kにおける前記推定プ
    ロセス出力ベクトルと、前記サンプリング時点
    kにおける前記ダイナミツクプロセス出力ベク
    トルとの差を示す推定誤差ベクトルを周期的に
    生成し、 (C) 前記推定誤差ベクトルの関数として前記モデ
    ルのパラメータを周期的に修正する。 8 サンプリング時点kにおける実ダイナミツク
    プロセス出力ベクトルと、第二の前のサンプリン
    グ時点における実ダイナミツクプロセス出力ベク
    トルとの差を示す増分プロセス出力ベクトルを生
    成するステツプを更に含むことを特徴とする特許
    請求の範囲第7項記載の制御方法。 9 上記推定プロセス出力ベクトルは、増分ダイ
    ナミツクプロセス出力ベクトルの、上記第一の前
    のサンプリング時点で更新された上記モデルによ
    つて推定された値であることを特徴とする特許請
    求の範囲第8項記載の制御方法。 10 推定誤差ベクトルの生成ステツプは、上記
    増分プロセス出力ベクトルと上記推定プロセス出
    力ベクトルとの差を決定するステツプからなるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第9項記載の制御
    方法。 11 前記装置が前記制御ベクトルに従つて前記
    プロセス入力ベクトルを変化させるという仕方で
    前記装置へ該制御ベクトルを印加するステツプを
    更に含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の制御方法。 12 少なくとも1つの入力変数と少なくとも1
    つの出力変数とを有するプロセスを制御する制御
    装置において、 主目標値ベクトルv(k)と瞬時的プロセス出力ベ
    クトルyp(k)とに反応し、サンプリング時点kと
    k+r+1との間での前記プロセスの出力ベクト
    ルの所望増分変化に対応する所望増分プロセス出
    力ベクトルd1(k+r+1)を複数のサンプリン
    グ時点kの各々で生成する駆動ブロツクと、 前記所望増分プロセス出力ベクトルd1(k+r
    +1)に反応し、適応予測モデルに従つてプロセ
    ス出力ベクトルを予測しサンプリング時点k+r
    +1で前記予測されたプロセス出力ベクトルを前
    記所望プロセス出力ベクトルと等しくさせるよう
    にサンプリング時点kで前記プロセスに印加する
    増分制御ベクトルu(k)をサンプリング時点kごと
    に生成する制御ブロツクと、 前記増分制御ベクトルu(k)および増分プロセス
    出力ベクトルy(k)に反応し、サンプリング時点k
    より前の時点で更新された適応予測モデルに従つ
    て予測されサンプリング時点k−r−1で生成さ
    れた増分制御ベクトルu(k−r−1)によつて
    サンプリング時点kで生ずるべき増分プロセス出
    力を表す推定増分プロセス出力ベクトルd(k)をサ
    ンプリング時点kごとに生成する同定ブロツク
    と、 前記推定増分プロセス出力ベクトルd(k)と前記
    増分プロセス出力ベクトルy(k)との間の差を表す
    推定誤差ベクトルe(k)をサンプリング時点kごと
    に生成する手段と、 前記推定誤差ベクトルe(k)に反応し、前記推定
    誤差ベクトルe(k)をゼロへ向けて縮小させるよう
    に前記適応予測モデルのパラメータをサンプリン
    グ時点kごとに修正する適応機構と、 を設けたことを特徴とする制御装置。
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