JPH0365636A - 空気汚染度検出装置 - Google Patents
空気汚染度検出装置Info
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- JPH0365636A JPH0365636A JP2143248A JP14324890A JPH0365636A JP H0365636 A JPH0365636 A JP H0365636A JP 2143248 A JP2143248 A JP 2143248A JP 14324890 A JP14324890 A JP 14324890A JP H0365636 A JPH0365636 A JP H0365636A
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- pulses
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- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60H—ARRANGEMENTS OF HEATING, COOLING, VENTILATING OR OTHER AIR-TREATING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR PASSENGER OR GOODS SPACES OF VEHICLES
- B60H3/00—Other air-treating devices
- B60H3/0085—Smell or pollution preventing arrangements
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60H—ARRANGEMENTS OF HEATING, COOLING, VENTILATING OR OTHER AIR-TREATING DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR PASSENGER OR GOODS SPACES OF VEHICLES
- B60H1/00—Heating, cooling or ventilating devices
- B60H1/00642—Control systems or circuits; Control members or indication devices for heating, cooling or ventilating devices
- B60H1/00735—Control systems or circuits characterised by their input, i.e. by the detection, measurement or calculation of particular conditions, e.g. signal treatment, dynamic models
- B60H1/008—Control systems or circuits characterised by their input, i.e. by the detection, measurement or calculation of particular conditions, e.g. signal treatment, dynamic models the input being air quality
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/075—Investigating concentration of particle suspensions by optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、空気汚染度検出装置に係り、特に、吸排機関
における吸気中の汚れの度合いが予め定められた許容レ
ベルを越えたときに、警告信号を発するように図られた
空気汚染度検出装置に関する。
における吸気中の汚れの度合いが予め定められた許容レ
ベルを越えたときに、警告信号を発するように図られた
空気汚染度検出装置に関する。
〔従来の技術１
従来、吸排機関、例えば、内燃機関等の吸気中の汚れが
過度になったとき、汚れていることを表示する、比較的
安価な装置が求められている。
過度になったとき、汚れていることを表示する、比較的
安価な装置が求められている。
けれども、空気の汚れはさまざまな物質および形状で微
小サイズの分布からなるので、吸気中の汚れと関連した
単一の要素を正確に定義することは困難である。
小サイズの分布からなるので、吸気中の汚れと関連した
単一の要素を正確に定義することは困難である。
エンジン摩耗の度合にかなり関連がある一つの要素は、
吸気中の単位量当たりの最小サイズの粒子よりも大きな
粒子数を選択することにより空気汚染度を知ることがで
きる。気流中の粒子数を数える技術はすでに存在する。
吸気中の単位量当たりの最小サイズの粒子よりも大きな
粒子数を選択することにより空気汚染度を知ることがで
きる。気流中の粒子数を数える技術はすでに存在する。
このような方式では、光線に気流を通り抜けさせ、気流
中の粒子からの光線の散乱光が、パルスを発生する光検
出器によって検出され、単位時間当りの粒子数を数えて
表示させることができる。
中の粒子からの光線の散乱光が、パルスを発生する光検
出器によって検出され、単位時間当りの粒子数を数えて
表示させることができる。
〔発明が解決しようとする課題Ｊ
しかしながら、このような従来の空気汚染度検出装置に
あっては、単位時間当りのパルス数を数えるという構成
となっていたため、以下に述べるような問題点があった
。
あっては、単位時間当りのパルス数を数えるという構成
となっていたため、以下に述べるような問題点があった
。
すなわち、この技術に用いられるセンサは異なるサイズ
の粒子や形状および物質に応じて異なる検出方法をとら
ねばならない、その他にも、光線を通り抜ける粒子の位
置の変化が検出応答の変化の原因となる。その結果、こ
のようなセンサの検出応答の全てを解析することはかな
り複雑なものとなる。なおその上に、内燃機関中の吸気
は広範囲にわたってまちまちのまばらな速度で流れてお
り、このため、単位時間当りのパルス数を数えるだけで
は、通常の操作状態以下の吸気中の単位量当たりの粒子
数を表示することにはならないという問題点があった。
の粒子や形状および物質に応じて異なる検出方法をとら
ねばならない、その他にも、光線を通り抜ける粒子の位
置の変化が検出応答の変化の原因となる。その結果、こ
のようなセンサの検出応答の全てを解析することはかな
り複雑なものとなる。なおその上に、内燃機関中の吸気
は広範囲にわたってまちまちのまばらな速度で流れてお
り、このため、単位時間当りのパルス数を数えるだけで
は、通常の操作状態以下の吸気中の単位量当たりの粒子
数を表示することにはならないという問題点があった。
そこで本発明は、吸気中の汚れの度合いを正確に検出す
ることのできる空気汚染度検出装置を提供することを目
的としている。
ることのできる空気汚染度検出装置を提供することを目
的としている。
本発明による空気汚染度検出装置は上記目的達成のため
、気流の汚れが予め定められた最大限度を越えたときを
決定する空気汚染度検出装置であって、前記気流中の粒
子に応じてパルスをパルス列として発生する手段と、前
記パルスのデユーティサイクルを検出し、該パルスのデ
ユーティサイクルが、所定の選択値以上であるときに、
出力信号を発生する手段と、を備え、前記気流中の種々
の粒子に応じてそれぞれのパルスを発生し、それぞれの
パルスの持続時間を気流の速度とともに変化させるよう
に構成している。
、気流の汚れが予め定められた最大限度を越えたときを
決定する空気汚染度検出装置であって、前記気流中の粒
子に応じてパルスをパルス列として発生する手段と、前
記パルスのデユーティサイクルを検出し、該パルスのデ
ユーティサイクルが、所定の選択値以上であるときに、
出力信号を発生する手段と、を備え、前記気流中の種々
の粒子に応じてそれぞれのパルスを発生し、それぞれの
パルスの持続時間を気流の速度とともに変化させるよう
に構成している。
［作用］
本発明では、気流中の粒子に応じてパルスがパルス列と
して発生され、このパルスのデユーティサイクルが検出
される。
して発生され、このパルスのデユーティサイクルが検出
される。
したがって、吸気中の汚れの度合いが正確に検出される
。
。
〔実施例Ｊ
以下９本発明を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明に係る空気汚染度検出装置の一実施例を
示し、空気汚染度検出装置はレーザダイオード１１を備
え、レーザダイオード１１は管形レンズ支持枠（以下、
レンズホルダという）１３に固定された、光を平行にす
る光学素子を有している。
示し、空気汚染度検出装置はレーザダイオード１１を備
え、レーザダイオード１１は管形レンズ支持枠（以下、
レンズホルダという）１３に固定された、光を平行にす
る光学素子を有している。
ミラー１５は、レーザ光線を受は取り、レンズ１９を透
過させるために、レンズホルダ１３の中央の柱１７に固
定され、レンズ１９は、レンズホルダ１３に固定されて
いる。レンズ１９を通過するレーザ光線は、吸排機関の
吸気が導入されるダクト２１に入る。レンズ１９でダク
ト２１の内側にレーザ光線を細い光線に集中すると、光
線の密度分布は光線の中央で高密度または熱点となり、
光線の端に行けば行くほど低密度となって減っていく、
柱１７は、レンズホルダ１３を通過する孔内の雌ネジ山
に噛み合わせが一致するようにネジ山が形成され、レン
ズホルダ１３の中央のミラー１５の位置を調整できるよ
うになっている。柱１７の端部にねじ込まれたナツト２
３は、柱１７を所定の位置に固定する。レンズホルダ１
７の後方の外面側部にはネジ山が形成され、このネジ山
と対になるように内面側部にネジ山が形成されたカップ
形状のマウント２５にフォトダイオード２７が固定され
、フォトダイオード２７はレンズホルダ１３の軸上に取
り付けられている。マウント２５とレンズホルダ１３と
の間のネジ結合によってフォトダイオード２７の軸上の
位置を精密に調整することができる。２番目のレンズ２
９は、レンズ１９からミラー１５の軸方向反対側のレン
ズホルダ１３内に嵌め込まれて設けられている。レンズ
１９．２９は、フォトダイオード２７の上へダクト２１
の内側の熱点からの散乱させられた光を集中させるよう
に作用する。
過させるために、レンズホルダ１３の中央の柱１７に固
定され、レンズ１９は、レンズホルダ１３に固定されて
いる。レンズ１９を通過するレーザ光線は、吸排機関の
吸気が導入されるダクト２１に入る。レンズ１９でダク
ト２１の内側にレーザ光線を細い光線に集中すると、光
線の密度分布は光線の中央で高密度または熱点となり、
光線の端に行けば行くほど低密度となって減っていく、
柱１７は、レンズホルダ１３を通過する孔内の雌ネジ山
に噛み合わせが一致するようにネジ山が形成され、レン
ズホルダ１３の中央のミラー１５の位置を調整できるよ
うになっている。柱１７の端部にねじ込まれたナツト２
３は、柱１７を所定の位置に固定する。レンズホルダ１
７の後方の外面側部にはネジ山が形成され、このネジ山
と対になるように内面側部にネジ山が形成されたカップ
形状のマウント２５にフォトダイオード２７が固定され
、フォトダイオード２７はレンズホルダ１３の軸上に取
り付けられている。マウント２５とレンズホルダ１３と
の間のネジ結合によってフォトダイオード２７の軸上の
位置を精密に調整することができる。２番目のレンズ２
９は、レンズ１９からミラー１５の軸方向反対側のレン
ズホルダ１３内に嵌め込まれて設けられている。レンズ
１９．２９は、フォトダイオード２７の上へダクト２１
の内側の熱点からの散乱させられた光を集中させるよう
に作用する。
レンズホルダ１３、マウント２５、およびレーザダイオ
ード１１、また、回路板３２上に取り付けられたシステ
ムのエレクトロニクス装置もハウジング３１内に全て収
められる。
ード１１、また、回路板３２上に取り付けられたシステ
ムのエレクトロニクス装置もハウジング３１内に全て収
められる。
動作は、レーザ光線の熱点に出会う粒子は全ての方向に
光を散乱する。熱点からの後方散乱光は、レンズ１９．
２９によって集中され、フォトダイオード２７上に集め
られる。その結果、ダクト２１内のレーザ光線の熱点を
通過している各粒子によってフォトダイオード２７がパ
ルスを発生する。粒子に応じてフォトダイオード２７に
よって発生したパルスは増幅器５８によって増幅される
。増幅器５８の出力は負のパルスである。第２図に示す
ように、この負のパルスは差動比較器３３の負の側に加
えられ、正の側には電位差計２８のタップが結合され、
電位差計２８が差動比較器３３に加えて操作する閾電圧
な０から一１ｖまで変化させることができる。その結果
、差動比較器３３では加えられたパルスから閾電圧を差
し引き、閾電圧よりも大きな振幅を有するパルスのみを
アンドゲート３５に出力し、発振器３６からの１メガヘ
ルツのパルスを受は取るために、発振器３６の出力もま
たアンドゲート３５に接続されている。結果として、閾
電圧よりも大きな振幅を有する負のパルスは、差動増幅
器として働く差動比較器３３から加えられるパルスの所
要時間の間、発振器３６からアンドゲート３５に通す１
メガヘルツのパルスによってアンドゲート３５をイネー
ブル状態にする。アンドゲート３５を通るパルスは計数
器３７によって数えられ、その最大カウント数はデイツ
プスイッチ３９によって制御される。計数器３７のカウ
ントがいっばいになり、計数器３７がＯに再循環される
毎に、計数器４１にパルスが加えられ、計数選択のデイ
ツプスイッチ４３を通って単安定リトリガマルチバイブ
レータ４５に接続される。計数器４１はデイツプスイッ
チ４３によって選択されたカウントに達すると、計数器
４１は単安定リトリガマルチバイブレータ４５にパルス
を出力し、それが単安定リトリガマルチバイブレーク４
５が出力パルスを１秒間発生させることとなる。その単
安定リトリガマルチバイプレーク４５からの出力パルス
は、増幅器４７によって増幅されて、リレーをなすコイ
ル４９に加えられ、増幅器４７からのパルスを受は取る
のに応じて警告ライトに電気を通じるスイッチ５１が閉
じる０発振器３６から出力された１メガヘルツのパルス
は、計数器５３によって数えられ、計数器５３は再循環
して、出力パルスを約６４ミリ秒毎に発生させる。計数
器５３によって発生された出力パルスは計数器５４によ
って数えられ、計数器５４は計数選択のデイツプスイッ
チ５５を通って単安定マルチバイブレーク５７に接続さ
れる。デイツプスイッチ５５は、計数器５４が再循環し
て単安定マルチバイブレータ５７にパルスを与えるとき
のカウントを選択する。デイツプスイッチ５５の手段に
より、計数器５４は１２８ミリ秒から１６秒の範囲内で
再循環するように時間を調節することができる。計数器
５４が出力パルスを発生するとき、それは単安定マルチ
バイブレーク５７をトリガーし、単安定マルチバイブレ
ーク５７は、計数器３７．４１をリセットするために、
計数器３７．４１に与える１マイクロ秒の出力パルスを
発生させる。その結果、この回路は、再循環している計
数器５４に応じて計数器４１がリセットされる前にオー
バーフローするのに十分なパルスを受けると、単安定リ
トリガマルチバイブレーク４５が警告ライトを発するよ
うにトリガーする。この配置により、差動比較器３３の
出力パルスのデユーティサイクルが、予めデイツプスイ
ッチ３９，４３．５５によって選択されたデユーティサ
イクル量より以上のとき、コイル４９（リレー）は必ず
警告ライトをつける。このように、光検出器２７の出力
パルスのデユーティサイクルが電位差計２８で設定され
た閾電圧よりも十分に大きく、予め設定されたデユーテ
ィサイクル量よりも大きな場合、警告ライトが発せられ
る。与えられた大きさを越える粒子によって発生したパ
ルスのデユーティサイクルに応答することにより、シス
テムは、吸気ダクト２１を通る空気のスピードに関わら
ず、最小サイズ以上の単位量当りの粒子数が予め定めら
れた量を越えたとき、警告ライトに電気を通す、吸気が
比較的低い速度のとき、例えば、エンジンがアイドリン
ク状態にあるとき、粒子はレーザ光線に長くさらされ、
このようにして、光検出器２７によって発生するパルス
も長くなる。このように、光検出器２７から与えられた
出力パルスにおいて発振器３６からの多数のサイクルが
、計数器３７によって数えられる。
光を散乱する。熱点からの後方散乱光は、レンズ１９．
２９によって集中され、フォトダイオード２７上に集め
られる。その結果、ダクト２１内のレーザ光線の熱点を
通過している各粒子によってフォトダイオード２７がパ
ルスを発生する。粒子に応じてフォトダイオード２７に
よって発生したパルスは増幅器５８によって増幅される
。増幅器５８の出力は負のパルスである。第２図に示す
ように、この負のパルスは差動比較器３３の負の側に加
えられ、正の側には電位差計２８のタップが結合され、
電位差計２８が差動比較器３３に加えて操作する閾電圧
な０から一１ｖまで変化させることができる。その結果
、差動比較器３３では加えられたパルスから閾電圧を差
し引き、閾電圧よりも大きな振幅を有するパルスのみを
アンドゲート３５に出力し、発振器３６からの１メガヘ
ルツのパルスを受は取るために、発振器３６の出力もま
たアンドゲート３５に接続されている。結果として、閾
電圧よりも大きな振幅を有する負のパルスは、差動増幅
器として働く差動比較器３３から加えられるパルスの所
要時間の間、発振器３６からアンドゲート３５に通す１
メガヘルツのパルスによってアンドゲート３５をイネー
ブル状態にする。アンドゲート３５を通るパルスは計数
器３７によって数えられ、その最大カウント数はデイツ
プスイッチ３９によって制御される。計数器３７のカウ
ントがいっばいになり、計数器３７がＯに再循環される
毎に、計数器４１にパルスが加えられ、計数選択のデイ
ツプスイッチ４３を通って単安定リトリガマルチバイブ
レータ４５に接続される。計数器４１はデイツプスイッ
チ４３によって選択されたカウントに達すると、計数器
４１は単安定リトリガマルチバイブレータ４５にパルス
を出力し、それが単安定リトリガマルチバイブレーク４
５が出力パルスを１秒間発生させることとなる。その単
安定リトリガマルチバイプレーク４５からの出力パルス
は、増幅器４７によって増幅されて、リレーをなすコイ
ル４９に加えられ、増幅器４７からのパルスを受は取る
のに応じて警告ライトに電気を通じるスイッチ５１が閉
じる０発振器３６から出力された１メガヘルツのパルス
は、計数器５３によって数えられ、計数器５３は再循環
して、出力パルスを約６４ミリ秒毎に発生させる。計数
器５３によって発生された出力パルスは計数器５４によ
って数えられ、計数器５４は計数選択のデイツプスイッ
チ５５を通って単安定マルチバイブレーク５７に接続さ
れる。デイツプスイッチ５５は、計数器５４が再循環し
て単安定マルチバイブレータ５７にパルスを与えるとき
のカウントを選択する。デイツプスイッチ５５の手段に
より、計数器５４は１２８ミリ秒から１６秒の範囲内で
再循環するように時間を調節することができる。計数器
５４が出力パルスを発生するとき、それは単安定マルチ
バイブレーク５７をトリガーし、単安定マルチバイブレ
ーク５７は、計数器３７．４１をリセットするために、
計数器３７．４１に与える１マイクロ秒の出力パルスを
発生させる。その結果、この回路は、再循環している計
数器５４に応じて計数器４１がリセットされる前にオー
バーフローするのに十分なパルスを受けると、単安定リ
トリガマルチバイブレーク４５が警告ライトを発するよ
うにトリガーする。この配置により、差動比較器３３の
出力パルスのデユーティサイクルが、予めデイツプスイ
ッチ３９，４３．５５によって選択されたデユーティサ
イクル量より以上のとき、コイル４９（リレー）は必ず
警告ライトをつける。このように、光検出器２７の出力
パルスのデユーティサイクルが電位差計２８で設定され
た閾電圧よりも十分に大きく、予め設定されたデユーテ
ィサイクル量よりも大きな場合、警告ライトが発せられ
る。与えられた大きさを越える粒子によって発生したパ
ルスのデユーティサイクルに応答することにより、シス
テムは、吸気ダクト２１を通る空気のスピードに関わら
ず、最小サイズ以上の単位量当りの粒子数が予め定めら
れた量を越えたとき、警告ライトに電気を通す、吸気が
比較的低い速度のとき、例えば、エンジンがアイドリン
ク状態にあるとき、粒子はレーザ光線に長くさらされ、
このようにして、光検出器２７によって発生するパルス
も長くなる。このように、光検出器２７から与えられた
出力パルスにおいて発振器３６からの多数のサイクルが
、計数器３７によって数えられる。
一方、吸気が比較的速い速度のとき、光検出器２７から
のパルスが短くなるが、光検出器２７からの単位時間当
りに多数のパルスが、出力パルス列中に発生する。結果
として、与えられた単位時間にわたって計数器３７．４
１に蓄積されたカウントは、吸気の速度に関わらず同じ
であり、レーザ光線を通る単位時間当りのパルス数によ
らず、しかしその代わりに、単安定マルチバイブレータ
のの出力によってリセットされるときに、蓄積されたカ
ウントが、パルスのデユーティサイクルとともに変化す
る。このデユーティサイクルは、単位量当りの大きな粒
子の数とともに変化し、このようにして、吸気ダクトを
通る空気の汚なさを正しく表示する。
のパルスが短くなるが、光検出器２７からの単位時間当
りに多数のパルスが、出力パルス列中に発生する。結果
として、与えられた単位時間にわたって計数器３７．４
１に蓄積されたカウントは、吸気の速度に関わらず同じ
であり、レーザ光線を通る単位時間当りのパルス数によ
らず、しかしその代わりに、単安定マルチバイブレータ
のの出力によってリセットされるときに、蓄積されたカ
ウントが、パルスのデユーティサイクルとともに変化す
る。このデユーティサイクルは、単位量当りの大きな粒
子の数とともに変化し、このようにして、吸気ダクトを
通る空気の汚なさを正しく表示する。
このようにして、オペレータにはエンジンによって受け
られる空気が過度に汚れ、かつ、調整が必要であるとき
の正しい表示が与えられる０例えば、エアフィルターが
破れてしまったり、あるいは、設置が悪い場合に吸気が
汚くなる。
られる空気が過度に汚れ、かつ、調整が必要であるとき
の正しい表示が与えられる０例えば、エアフィルターが
破れてしまったり、あるいは、設置が悪い場合に吸気が
汚くなる。
〔発明の効果］
本発明では、吸気中の汚れの度合いを正確に検出でき、
吸気中の汚れの度合いが予め定められた許容レベルを越
えたときに、正しく警告信号を発することができる。
吸気中の汚れの度合いが予め定められた許容レベルを越
えたときに、正しく警告信号を発することができる。
第１図は本発明の空気汚染度検出装置を示し、その粒子
検出室を説明する図、 第２図は本発明のシステム構成を示し、その回路構成の
ブロック図である。 １１−−−−−レーザダイオード、 １３・・・・・・レンズホルダ、 １５−−−−−・ミラー １７・・・・・・柱、 １９−・・・・・レンズ、 ２１・・・・・・タクト、 ２３・・・・・・ナツト、 ２５・・・・・・マウント、 ２７・・・・・・フォトダイオード、 ２８・・・・・・電位差計、 ３１・・・・・・ハウジング、 ３２−・・・・・回路板、 ３３・・・・・・差動比較器、 ３５・・・・・・アンドゲート、 ３６・・・・・・発振器、 ３７・・・・・・計数器、 ３９・・・・・・デイツプスイッチ、 ４１・・・・・・計数器、 ４３・・・・・・デイツプスイッチ、 ４５・・・・・・単安定リトリガマルチバイブレーク、
４７・・・・・・増幅器、 ４９・・・・・・コイル（リレー）、 ５１・・・・・・スイッチ、 ５３・・・・・・計数器、 ５４・・・・・・計数器、 ５５・・・・・・デイツプスイッチ、 ５７・・・・・・単安定マルチバイブレータ、５日・・
・・・・増幅器。
検出室を説明する図、 第２図は本発明のシステム構成を示し、その回路構成の
ブロック図である。 １１−−−−−レーザダイオード、 １３・・・・・・レンズホルダ、 １５−−−−−・ミラー １７・・・・・・柱、 １９−・・・・・レンズ、 ２１・・・・・・タクト、 ２３・・・・・・ナツト、 ２５・・・・・・マウント、 ２７・・・・・・フォトダイオード、 ２８・・・・・・電位差計、 ３１・・・・・・ハウジング、 ３２−・・・・・回路板、 ３３・・・・・・差動比較器、 ３５・・・・・・アンドゲート、 ３６・・・・・・発振器、 ３７・・・・・・計数器、 ３９・・・・・・デイツプスイッチ、 ４１・・・・・・計数器、 ４３・・・・・・デイツプスイッチ、 ４５・・・・・・単安定リトリガマルチバイブレーク、
４７・・・・・・増幅器、 ４９・・・・・・コイル（リレー）、 ５１・・・・・・スイッチ、 ５３・・・・・・計数器、 ５４・・・・・・計数器、 ５５・・・・・・デイツプスイッチ、 ５７・・・・・・単安定マルチバイブレータ、５日・・
・・・・増幅器。
Claims (6)
- （１）気流の汚れが予め定められた最大限度を越えたと
きを決定する空気汚染度検出装置であって、 前記気流中の粒子に応じてパルスをパルス列として発生
する手段と、 前記パルスのデューティサイクルを検出し、該パルスの
デューティサイクルが、所定の選択値以上であるときに
、出力信号を発生する手段と、を備え、 前記気流中の種々の粒子に応じてそれぞれのパルスを発
生し、それぞれのパルスの持続時間を気流の速度ととも
に変化させることを特徴とする空気汚染度検出装置。 - （２）前記デューティサイクルを検出する手段は、高周
波パルス源と、 前記パルス列中にパルスが存在するとき、該高周波パル
スを計数できるように連結された計数器と、 該計数器を周期的にリセットする手段と、 該計数器が予め選択された大きさに達したとき、前記出
力信号を発生する手段と、 を有することを特徴とする請求項１記載の空気汚染度検
出装置。 - （３）前記気流は、内燃機関の吸気であることを特徴と
する請求項１記載の空気汚染度検出装置。 - （４）前記パルス列を発生する手段は、前記気流中に光
線を直接照射する手段と、 前記光線からの光散乱を検出し、前記気流中の粒子に応
じて前記パルスを発生する光検出手段と、を有すること
を特徴とする請求項１記載の空気汚染度検出装置。 - （５）前記気流中に光線を直接照射する手段は、該気流
中に該光線を反射するように位置されたミラーと、 前記ミラーからの反射光を該気流の中央部に集光させる
ように位置したレンズと、 前記レンズを含み、該気流中の粒子によって該光線から
の散乱光を集めて、該散乱光を前記光検出手段上に導く
手段と、 を有することを特徴とする請求項４記載の空気汚染度検
出装置。 - （６）前記パルス列中のパルスの振幅は、前記気流中の
粒子の大きさにしたがって変わり、 該パルスのデューティサイクルとパルス列を検出する手
段が、所定値より大きな振幅を有するパルスにのみ応答
することを特徴とする請求項１記載の空気汚染度検出装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/358,637 US4934183A (en) | 1989-05-30 | 1989-05-30 | Excess air contamination level indicator |
| US358,637 | 1989-05-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0365636A true JPH0365636A (ja) | 1991-03-20 |
| JP2832071B2 JP2832071B2 (ja) | 1998-12-02 |
Family
ID=23410460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2143248A Expired - Lifetime JP2832071B2 (ja) | 1989-05-30 | 1990-05-30 | 空気汚染度検出装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4934183A (ja) |
| EP (1) | EP0402656A3 (ja) |
| JP (1) | JP2832071B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003071710A (ja) * | 2001-08-28 | 2003-03-12 | Nagase Integrex Co Ltd | 研削盤 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5796472A (en) * | 1996-09-10 | 1998-08-18 | Wirthlin; Alvin R. | Optical translucency indicator for measurement of air filter dirtiness, liquid level, thickness, and other parameters |
| US5939727A (en) * | 1997-12-22 | 1999-08-17 | Caterpillar Inc. | Contamination sensor |
| US7253743B2 (en) * | 2005-02-07 | 2007-08-07 | Cisco Technology, Inc. | Techniques for identifying when to change an air filter |
| FR3060748B1 (fr) * | 2016-12-20 | 2019-10-11 | Valeo Systemes Thermiques | Dispositif de detection de matiere particulaire dans un flux d'air pour vehicule automobile |
| JP7056178B2 (ja) * | 2018-01-30 | 2022-04-19 | 富士通株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2040443B (en) * | 1978-12-07 | 1983-01-12 | English Electric Co Ltd | Optical particle size analyser |
| US4302754A (en) * | 1979-02-12 | 1981-11-24 | Technical Development Co. | Wear particle disintegrator monitor |
| JPS56118641A (en) * | 1980-02-22 | 1981-09-17 | Nippon Soken Inc | Fine particle discharge amount measuring apparatus for vehicle |
| JPS57179728A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-05 | Toa Medical Electronics Co Ltd | Apparatus for analyzing particle |
| AT375469B (de) * | 1981-11-09 | 1984-08-10 | List Hans | Verfahren zur kontinuierlichen messung der masse von aerosolteilchen in gasfoermigen proben sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
| US4441513A (en) * | 1982-07-30 | 1984-04-10 | Allis-Chalmers Corp. | Tailings monitor for combine harvester |
| US4677426A (en) * | 1983-01-28 | 1987-06-30 | Electronic Dust Detection, Inc. | Dust detecting ring assembly |
| US4531486A (en) * | 1983-05-02 | 1985-07-30 | Battelle Development Corporation | Apparatus and method for measuring the concentration of particles in a gas |
-
1989
- 1989-05-30 US US07/358,637 patent/US4934183A/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-05-18 EP EP19900109453 patent/EP0402656A3/en not_active Withdrawn
- 1990-05-30 JP JP2143248A patent/JP2832071B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003071710A (ja) * | 2001-08-28 | 2003-03-12 | Nagase Integrex Co Ltd | 研削盤 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0402656A2 (en) | 1990-12-19 |
| EP0402656A3 (en) | 1991-11-06 |
| US4934183A (en) | 1990-06-19 |
| JP2832071B2 (ja) | 1998-12-02 |
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