JPH0365932U - - Google Patents

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JPH0365932U
JPH0365932U JP12630489U JP12630489U JPH0365932U JP H0365932 U JPH0365932 U JP H0365932U JP 12630489 U JP12630489 U JP 12630489U JP 12630489 U JP12630489 U JP 12630489U JP H0365932 U JPH0365932 U JP H0365932U
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JP
Japan
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lever
piezoelectric ceramic
spindle
rotation
beam interferometer
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JP12630489U
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JPH088426Y2 (ja
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Priority to DE69016576T priority patent/DE69016576T2/de
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Description

【図面の簡単な説明】
第１〜７図は本考案の実施例を示し、第１図は
第１実施例の平面図、第２図は第２実施例の平面
図、第３図は第３実施例の平面図、第４図は第４
実施例の平面図、第５図は第５実施例の平面図、
第６図は第６実施例の平面図、第７図は第７実施
例の平面図、第８図と第９図はそれぞれ異なつた
従来例の二光束干渉計の平面図である。 １……レバー、１ａ……第１レバー、２……支
軸、３……圧電体セラミツクス、６……ばね、１
１……第２レバー、１２……支軸、１５……板状
連結片、１５ａ……第１板状連結片、１６……第
２板状連結片。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 支軸と共に回動するレバーと、支軸から離
    れた位置で、レバーをその回動方向側で支持した
    圧電体セラミツクスと、レバーを圧電体セラミツ
    クスの方に付勢する付勢手段とからなり、前記圧
    電体セラミツクスの伸縮による支軸の回動で、二
    光束干渉計の可動体を駆動する二光束干渉計の駆
    動装置。 (2) 端部が支軸で支持された第１レバーと、支
    軸から離れた位置で、第１レバーをその回動方向
    側で支持した圧電体セラミツクスと、支軸と共に
    回動可能で、その支軸から離れた位置が前記第１
    レバーの作用点で支持された第２レバーと、この
    第２レバーを圧電体セラミツクスの収縮方向に付
    勢する付勢手段とからなり、前記圧電体セラミツ
    クスの伸縮による第２レバーの支軸の回動で、二
    光束干渉計の可動体を駆動する二光束干渉計の駆
    動装置。 (3) 支軸と共に回動するレバーと、このレバー
    の回動方向側で、支軸から離れた位置に配置され
    た圧電体セラミツクスと、レバーと圧電体セラミ
    ツクスとを連結するために、これらに各端部が固
    着された弾性変形が可能な板状連結片とからなり
    、かつ前記板状連結片が、その面を支持の軸線と
    平行にして固着され、前記圧電体セラミツクスの
    伸縮による支軸の回動で、二光束干渉計の可動体
    を駆動する二光束干渉計の駆動装置。 (4) 端部が支軸で支持された第１レバーと、こ
    の第１レバーの回動方向側で、支軸から離れた位
    置に配置された圧電体セラミツクスと、第１レバ
    ーと同方向に支軸と共に回動する第２レバーと、
    第１レバーと圧電体セラミツクスを連結するため
    に、これらに各端部が固着された弾性変形が可能
    な第１板状連結片と第１レバーの作用点と第２レ
    バーを連結するために、これらに各端部が固着さ
    れた弾性変形が可能な第２板状連結片とからなり
    、かつ前記第１、第２の各板状連結片が、その面
    を支軸の軸線と平行にして固着され、前記第２レ
    バーの支軸の回動で、二光束干渉計の可動体を駆
    動する二光束干渉計の駆動装置。 (5) 基部が支軸で支持されたレバーと、支軸か
    ら離れた位置で、レバーをその回動方向側で支持
    した圧電体セラミツクスと、レバーを圧電体セラ
    ミツクスの方に付勢する付勢手段とからなり、前
    記圧電体セラミツクスの伸縮によるレバーの回動
    で二光束干渉計の可動体を駆動する二光束干渉計
    の駆動装置。 (6) 基部が支軸で支持されたレバーと、このレ
    バーの回動方向側で、支軸から離れた位置に配置
    された圧電体セラミツクスと、レバーと圧電体セ
    ラミツクスとを連結するために、それらに各端部
    が固着された弾性変形可能な板状連結片とからな
    り、かつ前記板状連結片が、その面を支軸の軸線
    と平行にして固着され、圧電体セラミツクスの伸
    縮によるレバーの回動で、二光束干渉計の可動体
    を駆動する二光束干渉計の駆動装置。
JP1989126304U 1989-10-28 1989-10-28 二光束干渉計の駆動装置 Expired - Lifetime JPH088426Y2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1989126304U JPH088426Y2 (ja) 1989-10-28 1989-10-28 二光束干渉計の駆動装置
US07/602,858 US5159405A (en) 1989-10-28 1990-10-24 Multibeam interferometer for use in a fourier transform spectrometer and a driving device for moving the mirrors used therein
EP90120497A EP0426011B1 (en) 1989-10-28 1990-10-25 Two-beam interferometer for use in fourier transform spectrometer and driving device for movable flat mirror of same
DE69016576T DE69016576T2 (de) 1989-10-28 1990-10-25 Zweistrahl-Interferometer für ein Fourier-Spektrometer sowie Antriebsvorrichtung für einen beweglichen Planspiegel dafür.

Applications Claiming Priority (1)

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JP1989126304U JPH088426Y2 (ja) 1989-10-28 1989-10-28 二光束干渉計の駆動装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0365932U true JPH0365932U (ja) 1991-06-26
JPH088426Y2 JPH088426Y2 (ja) 1996-03-06

Family

ID=31674120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1989126304U Expired - Lifetime JPH088426Y2 (ja) 1989-10-28 1989-10-28 二光束干渉計の駆動装置

Country Status (1)

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JP (1) JPH088426Y2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01238759A (ja) * 1988-03-16 1989-09-22 Nec Corp ６自由度精密微動台

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01238759A (ja) * 1988-03-16 1989-09-22 Nec Corp ６自由度精密微動台

Also Published As

Publication number Publication date
JPH088426Y2 (ja) 1996-03-06

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