JPH036662B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH036662B2 JPH036662B2 JP56209255A JP20925581A JPH036662B2 JP H036662 B2 JPH036662 B2 JP H036662B2 JP 56209255 A JP56209255 A JP 56209255A JP 20925581 A JP20925581 A JP 20925581A JP H036662 B2 JPH036662 B2 JP H036662B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sleeve
- lead wire
- header
- electrodes
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W76/00—Containers; Fillings or auxiliary members therefor; Seals
- H10W76/10—Containers or parts thereof
- H10W76/12—Containers or parts thereof characterised by their shape
- H10W76/13—Containers comprising a conductive base serving as an interconnection
- H10W76/138—Containers comprising a conductive base serving as an interconnection having another interconnection being formed by a cover plate parallel to the conductive base, e.g. sandwich type
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
Landscapes
- Details Of Resistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子部品の封止構造に関し、特にス
リーブ体の両端開口から挿入された両電極のリー
ド線部間にダイオード等の半導体素子或いはその
他の電子部品素子を挾着保持して両電極とスリー
ブ体とを溶着した構造に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a sealing structure for electronic components, and in particular, a semiconductor element such as a diode or other electronic component element is sandwiched between the lead wire portions of both electrodes inserted through openings at both ends of a sleeve body. This relates to a structure in which both electrodes and a sleeve body are welded together while being attached and held.
円筒形リードレスタイプの封止構造をもつ電子
部品として第1図に示すものが知られている。第
1図は半導体ダイオードの構造に関するもので、
縦型の治具(図示せず)を用いて、ガラス製スリ
ーブ12の上下端開口5,6からT字型のFe−
Ni−Cu製電極3,4を夫々挿入し、この際これ
ら両電極の各リード線部(デユメツト線部)2間
にダイオードペレツト13を挾着した状態で加熱
処理し、各電極3,4に対しスリーブ12を溶着
して一体化する。第2図にはこの一体化構造を示
したが、ペレツト13の上面側のAgバンブ7が
電極3のリード線部2に固着され、またその裏面
側はろう材(図示せず)を介して電極4のリード
線部2に固着される一方、電極3,4自体はスリ
ーブ12の内周面及び上下各端面に固定される。
この円筒形リードレスダイオードは実装に当つて
は、プリンド基板上で横に寝かした状態で各ヘツ
ダ部とプリント基板の導電パターンとの間に半田
デイツプ等の技術により半田を選択的に付着さ
せ、両者間を電気的及び機械的に接続することが
できる。このプリント基板とダイオード電極との
半田付けによる接着強度をよくするために、上記
した治具による組立て時のスリーブ12の保護を
図る目的から、上記ヘツダ部1をリード線部2に
より充分に拡大し、スリーブ12の端面とほぼ同
一径に形成する必要がある。 An electronic component shown in FIG. 1 is known as an electronic component having a cylindrical leadless type sealing structure. Figure 1 shows the structure of a semiconductor diode.
Using a vertical jig (not shown), a T-shaped Fe-
Ni-Cu electrodes 3 and 4 are inserted, respectively, and at this time, a diode pellet 13 is clamped between each lead wire portion (dummet wire portion) 2 of both electrodes and heat treated, and each electrode 3 and 4 is heated. The sleeve 12 is welded and integrated with the sleeve 12. FIG. 2 shows this integrated structure, in which the Ag bump 7 on the upper surface side of the pellet 13 is fixed to the lead wire portion 2 of the electrode 3, and the back surface side is connected via a brazing material (not shown). While being fixed to the lead wire portion 2 of the electrode 4, the electrodes 3 and 4 themselves are fixed to the inner peripheral surface and upper and lower end surfaces of the sleeve 12.
When mounting this cylindrical leadless diode, it is placed horizontally on a printed circuit board, and solder is selectively applied between each header portion and the conductive pattern of the printed circuit board using a technique such as solder dip. Both can be electrically and mechanically connected. In order to improve the adhesive strength of the printed circuit board and the diode electrode by soldering, the header part 1 is sufficiently expanded by the lead wire part 2 in order to protect the sleeve 12 during assembly using the jig described above. , must be formed to have approximately the same diameter as the end surface of the sleeve 12.
このようなダイオード構造について、本発明者
が検討を加えた結果、リードレス部品としての特
長は備えているものの特にその組立て方法から生
じる重大の欠陥が存在することが判明した。 As a result of the inventor's study of such a diode structure, it has been found that although it has the features of a leadless component, there are serious defects particularly arising from its assembly method.
即ち、スリーブ12を電極3,4に溶着するた
めの上記熱処理後に、室温にまで冷却する場合、
特にヘツダ部1がスリーブ12より熱膨張率(又
は収縮率)が大きいためにスリーブ12よりも大
きく収縮してしまう。この結果、スリーブ12の
端面がそこに固着しているヘツダ部1から過度の
応力を受けることになり、歪が生じて第2図に示
す如きクラツク8が入つてしまう。この現象は特
に、スリーブ12の半径方向での熱膨張係数がヘ
ツダ部1のそれとかなりの差があることに起因す
るものである。なお、図面での一方の電極4にお
いてクラツク8が生じることを示したが、他方の
電極3においても同様の現象が生じる。 That is, when cooling the sleeve 12 to room temperature after the above heat treatment for welding the sleeve 12 to the electrodes 3 and 4,
In particular, since the header portion 1 has a higher coefficient of thermal expansion (or contraction rate) than the sleeve 12, it contracts more than the sleeve 12. As a result, the end surface of the sleeve 12 is subjected to excessive stress from the header portion 1 fixed thereto, resulting in distortion and the formation of a crack 8 as shown in FIG. This phenomenon is caused in particular by the fact that the coefficient of thermal expansion of the sleeve 12 in the radial direction differs considerably from that of the header part 1. Although the drawings show that the crack 8 occurs in one electrode 4, a similar phenomenon occurs in the other electrode 3 as well.
本発明は、ガラススリーブ封止するリードレス
タイプの電子部品の組立て構造において、クラツ
クの発生を防止して、機械的強度を向上させ、特
性の安定化及び信頼性の向上を図ることを目的と
するものである。 The present invention aims to prevent the occurrence of cracks, improve mechanical strength, stabilize characteristics, and improve reliability in the assembly structure of leadless type electronic components sealed in glass sleeves. It is something to do.
この目的を達成するために、本発明によれば、
ガラススリーブ内に挿入される両電極の一方のヘ
ツダ部とスリーブ端面との接触面積を小さくする
と共に、他方のヘツダ部とスリーブ端面とを接触
させないように構成したことを特徴としている。
従つて、本発明による構造では、溶着後の冷却時
にヘツダ部の収縮による影響がスリーブ側に及ば
ないようになすことができ、高歩留で信頼性の良
い製品を提供できることになる。 To achieve this objective, according to the invention:
It is characterized in that the contact area between the header part of one of the electrodes inserted into the glass sleeve and the end face of the sleeve is reduced, and the other header part and the end face of the sleeve are not brought into contact with each other.
Therefore, in the structure according to the present invention, it is possible to prevent the sleeve side from being affected by shrinkage of the header portion during cooling after welding, and it is possible to provide a product with high yield and high reliability.
以来、本発明のリードレスタイプの封止構造を
半導体ダイオードに適応した実施例について詳細
に説明する。なお、以下の実施例では、第1図及
び第2図と共通する部分には共通符号を付し、そ
の説明を省略している。 Hereinafter, an embodiment in which the leadless type sealing structure of the present invention is applied to a semiconductor diode will be described in detail. In the following embodiments, parts common to those in FIGS. 1 and 2 are designated by common reference numerals, and their explanations are omitted.
第3図は本発明の実施例を示す断面図にある。
第3図に示す例によれば、スリーブ12内に挿入
される両電極3,4の各ヘツダ部1の内側に、リ
ード線部2側へ直線的に高くなつた(傾斜した)
テーパー部9を夫々設け、かつスリーブ12自体
は第2図のものに比べてより短かくしていて上部
のヘツダ1(具体的にはテーパー部9)との間に
一定の間隙10が残されるようにしている。テー
パー部9はほぼ円錐台形状をなしており、その先
端においてリード線部2と一体化されている。な
お、スリーブ12は熱膨張係数が例えば91×
10-7/℃のSiO2−PbO−K2O系のガラスからなつ
ていてよく、軟化点が約650℃以下の例えばコー
ニング#8870(商品名)の如き軟質ガラスが採用
されてよい。また、電極3,4はジユメツト線と
して知られるCu被覆Fe−Niからなつていてよ
く、特にそのヘツダ部1の熱膨張係数はスリーブ
12とは長さの方向では合わせてあるが、半径方
向では相違していて例えば100×10-7/℃となつ
ている。第4図ではペレツト13部分が拡大図示
されているが、図中、11はリード線部2表面の
銅(Cu)被膜、11′はCu被膜を酸化処理するこ
とによつて形成されち亜酸化銅被膜、14はペレ
ツト13の表面絶縁膜、15はペレツト裏面に形
成されたAgなどのろう材である。ペレツトが載
置されるリード線部2の切断面には若干の銅被覆
が存在してもペレツトのリード線部に対する接着
は可能である。 FIG. 3 is a sectional view showing an embodiment of the invention.
According to the example shown in FIG. 3, on the inside of each header portion 1 of both electrodes 3 and 4 inserted into the sleeve 12, there is a linearly elevated (slanted) line toward the lead wire portion 2 side.
A tapered portion 9 is provided respectively, and the sleeve 12 itself is made shorter than that shown in FIG. 2 so that a certain gap 10 is left between the sleeve 12 and the upper header 1 (specifically, the tapered portion 9). ing. The tapered portion 9 has a substantially truncated conical shape, and is integrated with the lead wire portion 2 at its tip. Note that the sleeve 12 has a coefficient of thermal expansion of, for example, 91×
10 -7 /°C, and a soft glass such as Corning # 8870 (trade name) having a softening point of about 650 °C or less may be used. Further, the electrodes 3 and 4 may be made of Cu-coated Fe-Ni known as a composite wire, and in particular, the thermal expansion coefficient of the header portion 1 is the same as that of the sleeve 12 in the length direction, but in the radial direction. For example, it is 100×10 -7 /°C. In FIG. 4, the pellet 13 portion is shown in an enlarged view. In the figure, 11 is a copper (Cu) coating on the surface of the lead wire portion 2, and 11' is a suboxide formed by oxidizing the Cu coating. A copper coating, 14 is an insulating film on the surface of the pellet 13, and 15 is a brazing material such as Ag formed on the back surface of the pellet. Even if there is some copper coating on the cut surface of the lead wire portion 2 on which the pellet is placed, it is possible to adhere the pellet to the lead wire portion.
組立てに際しては、第1図で述べたと同様にし
て垂直方向に挿入可能な治具を用意し、治具内に
おいてペレツト13をスリーブ12内で挾着する
ように各リード線部2を挿入し、しかる後に所定
温度で所定時間加熱処理してスリーブ12と各リ
ード線部2との接合面(具体的にはスリーブ内
面)を互いに溶着し、同時にペレツト13をAg
バンプ7及びろう材15を介して各リード線部2
に固着する。この熱処理条件は種々選択できる
が、例えばN2又は空気中で約650℃、数10秒間で
あつてよい。 When assembling, prepare a jig that can be inserted vertically in the same manner as described in FIG. Thereafter, heat treatment is performed at a predetermined temperature for a predetermined time to weld the joint surfaces of the sleeve 12 and each lead wire portion 2 (specifically, the inner surface of the sleeve) to each other, and at the same time, the pellet 13 is made of Ag.
Each lead wire portion 2 is connected via the bump 7 and the brazing material 15.
sticks to. Various conditions can be selected for this heat treatment, but for example, it may be about 650° C. for several tens of seconds in N 2 or air.
熱処理後、全体を室温に冷却する。これによつ
てスリーブ12−リード線部2間、ペレツト13
−リード線部2間が相互に固定される。 After heat treatment, the whole is cooled to room temperature. As a result, the pellet 13 is formed between the sleeve 12 and the lead wire portion 2.
- The lead wire portions 2 are fixed to each other.
この冷却時に、既述した如くヘツダ部1の収縮
が生じるが、第3図に示したようにその内側面は
テーパー部9の存在によつてスリーブ12の下端
面に対してその内周エツジにおいてのみ接触して
いるだけであるから、ヘツダ部1の収縮の影響は
スリーブ12側へは殆んど及ぼされない。これに
よつて、スリーブ12の端部では既述した如きク
ラツクが全く生じることがない。言い換えれば、
スリーブ12の端面とヘツダ部1とは実質的に溶
着されていないから、ヘツダ部1の応力はスリー
ブ12に伝わらず、従つて熱歪が生じることがな
いのである。また、スリーブ12の上端側におい
ては、上記と同様のテーパー部9をヘツダ部1に
設けると共にスリーブ12との間に間隙10を形
成しているために、ヘツダ部1とスリーブ12の
上端面とは殆んど若しくは全く接し合うことがな
く、間隙10がスリーブ12の長さ方向への熱膨
張を効果的に吸収している。従つて、上端側にお
いてもクラツクの問題が全くなく、しかも熱処理
を効果的に行なえる構造になつている。電極3,
4に対するスリーブ12の固定は実質的にリード
線部2の外周面に行なわれるが、これは充分な機
械的強度を示し、安定な密封構造を達成できる。 During this cooling, the header portion 1 contracts as described above, but as shown in FIG. Since the sleeve 12 is only in contact with the sleeve 12, the contraction of the header portion 1 has almost no effect on the sleeve 12 side. This prevents any cracks from occurring at the ends of the sleeve 12 as described above. In other words,
Since the end face of the sleeve 12 and the header portion 1 are not substantially welded, stress in the header portion 1 is not transmitted to the sleeve 12, and therefore no thermal strain occurs. Further, on the upper end side of the sleeve 12, since a taper part 9 similar to the above is provided in the header part 1 and a gap 10 is formed between the sleeve 12 and the upper end surface of the header part 1 and the sleeve 12. have little or no contact, and the gap 10 effectively absorbs thermal expansion along the length of the sleeve 12. Therefore, there is no problem of cracks on the upper end side, and the structure is such that heat treatment can be carried out effectively. electrode 3,
The sleeve 12 is fixed to the lead wire portion 2 substantially on the outer peripheral surface of the lead wire portion 2, which exhibits sufficient mechanical strength and can achieve a stable sealing structure.
ヘツダ部1のテーパー部9はこのように重要な
役割を果しているが、その傾斜角度θは10〜20°
がよく、また傾斜量tは0.1〜0.2mmであるのが適
当である。 The tapered part 9 of the header part 1 plays an important role in this way, and its inclination angle θ is 10 to 20°.
It is appropriate that the amount of inclination t is 0.1 to 0.2 mm.
また、本実施例で注目すべきもう1つの点は、
上記した組立て時にスリーブ12内に各電極を挿
入した際、下側のヘツダ部1のテーパー部9に対
しスリーブ12の下端面(内周エツジ)が当接し
て位置決めされるが、このときテーパー部9が円
錐面であるからスリーブ12の位置(即ちスリー
ブ12とヘツダ部1との芯合せ)を正確に行なえ
ることである。この結果、スリーブ12の内周エ
ツジがテーパー部9の全周に亘つて均一に当接す
るから、組立てを安定に行なうことができ、ひい
てはスリーブ12内面−リード線部2間の溶着を
全周において均一に行なうこともできる。 Another point to note in this example is that
When each electrode is inserted into the sleeve 12 during the above-described assembly, the lower end surface (inner peripheral edge) of the sleeve 12 comes into contact with the tapered part 9 of the lower header part 1 and is positioned. Since 9 is a conical surface, the position of the sleeve 12 (that is, the alignment of the sleeve 12 and the header portion 1) can be accurately performed. As a result, the inner circumferential edge of the sleeve 12 contacts the tapered portion 9 uniformly over the entire circumference, making it possible to perform the assembly stably, and furthermore, the welding between the inner surface of the sleeve 12 and the lead wire portion 2 can be achieved over the entire circumference. It can also be done uniformly.
さらに、このような電子部品によれば、一方の
ヘツダ部とスリーブ端面との接触面積を小さくす
ると共に、他方のヘツダ部とスリーブ本体とは完
全に接触させない構成になつているため、従来封
止工程において、スリーブの寸法誤差によつて生
じていたペレツトとリード線部との非接触からな
る電気的不良の問題を防止することができる。 Furthermore, according to such an electronic component, the contact area between one header part and the sleeve end face is reduced, and the other header part and the sleeve body are configured to not come in complete contact with each other, so that conventional sealing is not possible. In the process, it is possible to prevent the problem of electrical failure caused by non-contact between the pellet and the lead wire portion, which was caused by dimensional errors in the sleeve.
第5図は、本発明の他の実施例による密封構造
を示すものである。 FIG. 5 shows a sealing structure according to another embodiment of the present invention.
この例では、各電極3,4のヘツダ部1の内側
面に同心状の段部19を設けている点が、上述し
た実施例と相違している。この段部19のサイズ
(面積)は、スリーブ12の端面との接触面積が
ガラススリーブの端面面積に比して小さくなるよ
うに設定されている。スリーブ12の端面とのそ
の接触面積が小さいほど大きな効果を得ることが
できる。 This example differs from the above-described embodiments in that a concentric stepped portion 19 is provided on the inner surface of the header portion 1 of each electrode 3, 4. The size (area) of this stepped portion 19 is set such that the contact area with the end surface of the sleeve 12 is smaller than the end surface area of the glass sleeve. The smaller the contact area with the end surface of the sleeve 12, the greater the effect can be obtained.
このように構成すれば、ヘツダ部1とスリーブ
12との接触は段部19においてのみ行なわれる
から、第2図に示した場合より両者間の接触又は
溶着面積を大幅に減らすことができる。従つてこ
の場合も、熱処理後の冷却時にスリーブ12がク
ラツクを生じることを防止できる。なお、段部1
9の高さはtは上述のテーパー部9と同様の0.1
〜0.2mm程度であつてよい。 With this configuration, since the header portion 1 and the sleeve 12 come into contact only at the stepped portion 19, the area of contact or welding between them can be significantly reduced compared to the case shown in FIG. Therefore, in this case as well, it is possible to prevent the sleeve 12 from cracking during cooling after heat treatment. In addition, step part 1
The height of 9 is 0.1, which is the same as the taper part 9 described above.
It may be about 0.2 mm.
第6図は、本発明のさらに他の実施例を示し、
上述した部分と同一部分は同一符号が付されてい
る。この実施例では、従来と同一形状の電極3お
よび4を使用し、垂直方向での組立時、下側電極
4とガラススリーブ12との間に金属のリング2
0を挾んで溶着のための熱処理を行なつたもので
ある。このリング20はヘツダ部1と同一金属材
料を使用することができ、または、Cuなどの他
の金属材料を使用することもできる。 FIG. 6 shows still another embodiment of the present invention,
The same parts as those described above are given the same reference numerals. In this embodiment, electrodes 3 and 4 having the same shape as the conventional one are used, and a metal ring 2 is inserted between the lower electrode 4 and the glass sleeve 12 when assembled in the vertical direction.
0 was sandwiched and heat treated for welding. This ring 20 can be made of the same metal material as the header part 1, or can be made of other metal materials such as Cu.
第6図に示した実施例において、ガラススリー
ブ12は、その上側端面が上部ヘツダ部1(電極
3のスタツド部)に接触しないように短かく形成
され、それによつてそれらの間に間隙t′を設けて
いる。これによつて、ガラススリーブの上側端面
はヘツダ部1に溶着されることはなく、ガラスス
リーブの上側端部でのクラツクの発生は防止され
ている。また、この間隙t′は、下側のガラススリ
ーブと金属リングをもつヘツダ部との間の間隙t
に対して大きな距離(t′>t)とすることによつ
てダイオードのアノード側を示すなどの極性表示
とすることができる。実施例の場合、t′>tとし
て視覚的にt′の方が大きい間隙であると判定でき
るようにし、上側電極をアノード側とした。 In the embodiment shown in FIG. 6, the glass sleeve 12 is formed short so that its upper end surface does not come into contact with the upper header part 1 (stud part of the electrode 3), thereby leaving a gap t' between them. has been established. As a result, the upper end surface of the glass sleeve is not welded to the header portion 1, and the occurrence of cracks at the upper end of the glass sleeve is prevented. Also, this gap t' is the gap t between the lower glass sleeve and the header part with the metal ring.
By setting a large distance (t'>t) to the polarity, it is possible to display polarity such as indicating the anode side of a diode. In the case of the example, t'>t was set so that it could be visually determined that t' was a larger gap, and the upper electrode was set on the anode side.
第7図は、本発明のさらに他の実施例を示す部
分的な断面図を示す。上述した同一する部分は同
一符号が付され、その説明を省略する。この実施
例においては、ヘツダ部1′は、リード線部2と
異なる金属材料で形成されている。上述した第3
図および第5図に示した実施例においては、金型
にFe−Ni−Cuの金属材料をプレスする、所謂、
ヘツデイング加工によつてヘツダ部1の形状はリ
ード線部2と一体に同一金属材料で形成したもの
であるが、この第7図に示す実施例においては、
ヘツダ部1′にCu、しんちゆう等のリード線部の
ジユメツト線と異なる金属材料を使用したもので
ある。この場合、ヘツダ部1′は、溶接技術によ
つてジユメツト線2に溶接されたもので、溶接時
にヘツダ部1′とリード線部2との接合部に形成
されるナゲツト(溶接変形部)21をスペーサと
して利用し、間隙tを得ている。このようにヘツ
ダ部がナゲツトをもつことによつて、ガラススリ
ーブ12は、ヘツダ部1に溶着されることはな
く、上述の場合と同様な効果を得ることができ
る。金属ヘツダ部1は、ジユメツト線(リード線
部)2とは別の材料を溶接するので、ジユメツト
線によつてヘツダ部を形成する場合、半田メツキ
時に必要とされた亜酸化銅被膜除去のための酸処
理(薄い塩酸液などによる洗じよう)を省略させ
ることができる。すなわち、ヘツダ部1′に直接
に半田メツキすることができる。 FIG. 7 shows a partial cross-sectional view showing yet another embodiment of the invention. The same parts mentioned above are given the same reference numerals, and the explanation thereof will be omitted. In this embodiment, the header portion 1' is made of a different metal material than the lead wire portion 2. The third mentioned above
In the embodiment shown in FIG. 5 and FIG.
The shape of the header part 1 is formed integrally with the lead wire part 2 from the same metal material by the hedging process, but in the embodiment shown in FIG.
The header portion 1' is made of a metal material such as Cu or steel, which is different from that of the lead wire portion. In this case, the header part 1' is welded to the composite wire 2 by welding technology, and a nugget (weld deformation part) 21 is formed at the joint between the header part 1' and the lead wire part 2 during welding. is used as a spacer to obtain a gap t. Since the header portion has a nugget in this manner, the glass sleeve 12 is not welded to the header portion 1, and the same effect as described above can be obtained. The metal header part 1 is made of a different material from the composite wire (lead wire part) 2 by welding, so when forming the header part with a composite wire, it is necessary to remove the cuprous oxide film required during soldering. The acid treatment (washing with dilute hydrochloric acid solution, etc.) can be omitted. That is, solder plating can be performed directly on the header portion 1'.
以上、本発明を例示したが、上述の実施例は本
発明の技術的思想に基いて更に変形が可能であ
る。例えば、上述の密封構造においては、両電極
3,4の形状はその互喚性を考慮すれば同一形状
であるのがよいが、上述した縦型治具と使用時に
はスリーブ12が常に下部の電極4のヘツダ部1
に接するから、上部の電極3のテーパー部9又は
段部19は必ずしも必要ではない。また、上部の
電極4とスリーブ12との間隙10のサイズは任
意に決めることができ、例えば上述のテーパー部
9又は段部19にスリーブ12が接するようにし
てもよい。また、テーパー部9や段部19の形状
は種々変更してよく、それらの加工方法又は形成
方法は様々であつてよい。各電極3,4のスリー
ブ12に対する挿入方向も上述の縦方向に限ら
ず、斜め方向等にしてよい。上述の構造の各構成
部分の材質、形状、寸法を変更することが可能で
ある。 Although the present invention has been illustrated above, the embodiments described above can be further modified based on the technical idea of the present invention. For example, in the above-mentioned sealed structure, it is preferable that the shapes of both electrodes 3 and 4 are the same in consideration of their compatibility, but when used with the above-mentioned vertical jig, the sleeve 12 is always connected to the lower electrode. Header part 1 of 4
, the tapered portion 9 or step portion 19 of the upper electrode 3 is not necessarily necessary. Further, the size of the gap 10 between the upper electrode 4 and the sleeve 12 can be arbitrarily determined, and for example, the sleeve 12 may be in contact with the above-mentioned taper part 9 or step part 19. Furthermore, the shapes of the tapered portion 9 and the step portion 19 may be changed in various ways, and the processing or forming methods thereof may be various. The direction in which each electrode 3, 4 is inserted into the sleeve 12 is not limited to the above-mentioned vertical direction, but may also be in an oblique direction. It is possible to change the material, shape, and dimensions of each component of the structure described above.
さらに、上述した実施例は半導体ダイオードの
場合を示したが、本発明は半導体ダイオード以外
に2電極を有する抵抗、コンデンサ等の他の電子
部品をリードレスタイプに形成する場合に適用す
ることができる。 Furthermore, although the above-described embodiments have shown the case of semiconductor diodes, the present invention can be applied to the case where other electronic components such as resistors and capacitors having two electrodes are formed into leadless types in addition to semiconductor diodes. .
図面は本発明を説明するためのものであつて、
第1図は従来の円筒形リードレス部品の組立て時
における各構成部分を分離して示す斜視図、第2
図は組立てられた同部品の断面図、第3図は本発
明の実施例による円筒形リードレス部品の断面
図、第4図は第3図におけるペレツト部分の拡大
図、第5図乃至第7図は他の実施例による円筒形
リードレス部品の断面図である。
なお、図面に示された符号において、1はヘツ
ダ部、2はリード線部、3及び4は電極、7はバ
ンプ、8はクラツク、9はテーパー部、12はガ
ラススリーブ、13は半導体素子(ペレツト)、
19は段部、20は金属リング、21は溶接部の
ナゲツトである。
The drawings are for explaining the present invention, and
Fig. 1 is a perspective view showing each component separated when assembling a conventional cylindrical leadless part;
3 is a sectional view of a cylindrical leadless component according to an embodiment of the present invention, FIG. 4 is an enlarged view of the pellet portion in FIG. 3, and FIGS. The figure is a cross-sectional view of a cylindrical leadless component according to another embodiment. In addition, in the symbols shown in the drawings, 1 is a header part, 2 is a lead wire part, 3 and 4 are electrodes, 7 is a bump, 8 is a crack, 9 is a taper part, 12 is a glass sleeve, and 13 is a semiconductor element ( pellets),
19 is a stepped portion, 20 is a metal ring, and 21 is a nugget of a welded portion.
Claims (1)
からなる第1及び第2の電極の各リード線部がガ
ラススリーブ体の両端開口からその内部に夫々挿
入され、前記スリーブ体の内部において前記第1
及び第2電極の各リード線部間に半導体素子を挾
着保持した状態で前記スリーブ体が前記第1及び
第2の電極と溶着されている電子部品において、
前記第1及び第2の電極の一方のヘツダ部と前記
スリーブ体の開口側端面との接触面積がその開口
側端面の面積よりも小さくすると共に、前記第1
及び第2の電極の他方のヘツダ部と前記スリーブ
体とは接触しないことを特徴とする電子部品。1. Lead wire portions of the first and second electrodes each consisting of a lead wire portion and a header portion enlarged from the lead wire portion are respectively inserted into the inside of the glass sleeve body through openings at both ends thereof, 1
and an electronic component in which the sleeve body is welded to the first and second electrodes while holding a semiconductor element between each lead wire portion of the second electrode,
The contact area between the header portion of one of the first and second electrodes and the opening side end surface of the sleeve body is smaller than the area of the opening side end surface, and the first
and an electronic component characterized in that the other header portion of the second electrode and the sleeve body do not come into contact with each other.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56209255A JPS58111348A (en) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | Electronic component parts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56209255A JPS58111348A (en) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | Electronic component parts |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58111348A JPS58111348A (en) | 1983-07-02 |
| JPH036662B2 true JPH036662B2 (en) | 1991-01-30 |
Family
ID=16569922
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56209255A Granted JPS58111348A (en) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | Electronic component parts |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58111348A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01185954A (en) * | 1988-01-20 | 1989-07-25 | Nec Corp | Leadless diode |
-
1981
- 1981-12-25 JP JP56209255A patent/JPS58111348A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58111348A (en) | 1983-07-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0245969A (en) | Lead frame and semiconductor device consisting of lead frame therefor and manufacture thereof | |
| JPH01238148A (en) | Semiconductor device | |
| JPH0332912B2 (en) | ||
| JP3356649B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
| GB2123609A (en) | Termination of hermetically sealed glass-encapsulated ceramic capacitors | |
| JP4557804B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
| JPH036662B2 (en) | ||
| JP2001060759A (en) | Ball terminal connection structure for electronic components | |
| CN115770972A (en) | CGA soft solder cylinder and preparation method thereof | |
| KR100659534B1 (en) | Sealing ring for hermetically sealing semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device using same | |
| JP3325755B2 (en) | Semiconductor device, method of mounting the same, and method of inspecting the mounted portion | |
| JPS5828859A (en) | Leadless glass sealing diode | |
| JPH02270303A (en) | Manufacturing method of glass-sealed thermistor | |
| JP5036280B2 (en) | Hermetic terminal and manufacturing method thereof | |
| JP2748180B2 (en) | Manufacturing method of integrated circuit package | |
| JPH03177033A (en) | Semiconductor device and manufacture thereof | |
| JP3942596B2 (en) | Semiconductor device mounting method and semiconductor device repair method | |
| JP2918676B2 (en) | Manufacturing method of stem for hermetic sealing | |
| JPH1140716A (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
| JPH0572751B2 (en) | ||
| US4196309A (en) | Semiconductor device subassembly and manufacture thereof | |
| JPH02244530A (en) | Base board type thermo-fuse and manufacture thereof | |
| JPH0442933Y2 (en) | ||
| JPH02181941A (en) | Bonding method and apparatus therefor | |
| JPS6225899Y2 (en) |