JPH0367136A - 熱放射検出器及び熱放射検出システム - Google Patents
熱放射検出器及び熱放射検出システムInfo
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- JPH0367136A JPH0367136A JP2162543A JP16254390A JPH0367136A JP H0367136 A JPH0367136 A JP H0367136A JP 2162543 A JP2162543 A JP 2162543A JP 16254390 A JP16254390 A JP 16254390A JP H0367136 A JPH0367136 A JP H0367136A
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- Japan
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- detector
- substrate
- detector element
- grooves
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N15/00—Thermoelectric devices without a junction of dissimilar materials; Thermomagnetic devices, e.g. using the Nernst-Ettingshausen effect
- H10N15/10—Thermoelectric devices using thermal change of the dielectric constant, e.g. working above and below the Curie point
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/34—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using capacitors, e.g. pyroelectric capacitors
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は強誘電体および/またはパイロ電気物質からな
る赤外線検出器素子群を具える熱放射検出器に関するも
のであり、また、このような検出器と、検出器素子の前
方に設けた検出器素子への熱放射の伝導を周期的に変調
する変調手段(例えばチョッパ)とを具える熱放射検出
システムに関するものである。このような検出システム
は、例えば赤外線カメラや他の赤外線撮像装置に使用さ
れる。本発明は、またこのような検出器の製造方法に関
するものである。
る赤外線検出器素子群を具える熱放射検出器に関するも
のであり、また、このような検出器と、検出器素子の前
方に設けた検出器素子への熱放射の伝導を周期的に変調
する変調手段(例えばチョッパ)とを具える熱放射検出
システムに関するものである。このような検出システム
は、例えば赤外線カメラや他の赤外線撮像装置に使用さ
れる。本発明は、またこのような検出器の製造方法に関
するものである。
(従来の技術)
前方に変調手段を設けた赤外線検出器素子群を具える熱
放射検出システムは公知である。検出器素子の温度は入
射する熱放射に応じて変化する。
放射検出システムは公知である。検出器素子の温度は入
射する熱放射に応じて変化する。
この熱放射の検出器素子への伝導を変調することは、パ
イロ電気電荷は素子の温度か変化するときにのみ発生す
るため、パイロ電気素子にとっては特に重要なことであ
る。変調は、通常は均一な周波数で熱放射をチヨ・ソピ
ングして行われ、熱放射の伝導かチョッパブレードによ
って見ているシーンの側から遮られる間に、基準温度で
(チョッパブレード側からの)熱放射に素子が露出され
る。
イロ電気電荷は素子の温度か変化するときにのみ発生す
るため、パイロ電気素子にとっては特に重要なことであ
る。変調は、通常は均一な周波数で熱放射をチヨ・ソピ
ングして行われ、熱放射の伝導かチョッパブレードによ
って見ているシーンの側から遮られる間に、基準温度で
(チョッパブレード側からの)熱放射に素子が露出され
る。
したかっで、変調か検出器素子上に入射する熱放射に対
する伝送周波数を決定する。
する伝送周波数を決定する。
一般には、パイロ電気物質及び強誘電物質は圧電性でも
ある。したがっで、検出器素子は変化する応力(例えば
振動やショックなどの)を受ければ、電気的な出力を生
しる。この現象は、マイクロホニイと言われるものであ
り、熱放射の検出を妨げる望ましくないノイズを発生す
るものである。
ある。したがっで、検出器素子は変化する応力(例えば
振動やショックなどの)を受ければ、電気的な出力を生
しる。この現象は、マイクロホニイと言われるものであ
り、熱放射の検出を妨げる望ましくないノイズを発生す
るものである。
マイクロホニイを減少させるためには、相対向する第1
及び第2の面を有する熱絶縁性ポリマー物質(非常に薄
いポリイミドメンプレインなどの)からなる可撓性の基
板の第1の面に検出器素子を装着することか知られてい
る。この公知の基板の可撓性は、ポリイミド自体はあま
り可撓性か高くないないため、メンプレインの薄さによ
って生じるものである。このような装着の構成は、例え
ばヨーロッパ特許出願EP−A−0041297号公報
、英国特許出願GB−A−2100058号公報、19
85年11月フランス、カンタにおけるニー−1−−タ
ーンプル(A、A、 Turnbull) の論文゛
網状パイロ電気アレイの熱コレクタフィンへの適用“、
及びS P I E (Society of Pho
t。
及び第2の面を有する熱絶縁性ポリマー物質(非常に薄
いポリイミドメンプレインなどの)からなる可撓性の基
板の第1の面に検出器素子を装着することか知られてい
る。この公知の基板の可撓性は、ポリイミド自体はあま
り可撓性か高くないないため、メンプレインの薄さによ
って生じるものである。このような装着の構成は、例え
ばヨーロッパ特許出願EP−A−0041297号公報
、英国特許出願GB−A−2100058号公報、19
85年11月フランス、カンタにおけるニー−1−−タ
ーンプル(A、A、 Turnbull) の論文゛
網状パイロ電気アレイの熱コレクタフィンへの適用“、
及びS P I E (Society of Pho
t。
0ptical instrument Engine
ers、 U、S、A、)の会報第588巻の“赤外線
に対する物質及び検出器の最近の発展” (1985年
)第38〜40ページ等に記載されている。詳しくはこ
れらの試料を参照されたい。
ers、 U、S、A、)の会報第588巻の“赤外線
に対する物質及び検出器の最近の発展” (1985年
)第38〜40ページ等に記載されている。詳しくはこ
れらの試料を参照されたい。
1985年の5PIFの論文から、パイロ電気物質(例
えばセラミック製PLMZT−鉛・ランタン・マンガニ
ーズ・ジルコニウム・チタネイト)からなる本体を基板
上に装着し、独立した検出器素子とするために、その本
体の厚さ全体にわたって条溝を形成してパイロ電気物質
を網目状に構成し、全網目状の全アレイを一回の操作で
基板から底面電極パターンを有するポリイミドメンプレ
インへ写した後、表面電極接続体(例えば、第2ポリイ
ミドメンプレインで形成されているのか良く、好ましく
はヒートコレクタフィンも第2ポリイミドメンプレイン
で形成されているのかよい)を形成して製造した熱放射
検出装置の製造方法か知られている。このようにしで、
熱的に良好に絶縁され、かつマイクロホニイの低い高性
能パイロ電気検出器素子アレイか比較的簡単に製造てき
る。
えばセラミック製PLMZT−鉛・ランタン・マンガニ
ーズ・ジルコニウム・チタネイト)からなる本体を基板
上に装着し、独立した検出器素子とするために、その本
体の厚さ全体にわたって条溝を形成してパイロ電気物質
を網目状に構成し、全網目状の全アレイを一回の操作で
基板から底面電極パターンを有するポリイミドメンプレ
インへ写した後、表面電極接続体(例えば、第2ポリイ
ミドメンプレインで形成されているのか良く、好ましく
はヒートコレクタフィンも第2ポリイミドメンプレイン
で形成されているのかよい)を形成して製造した熱放射
検出装置の製造方法か知られている。このようにしで、
熱的に良好に絶縁され、かつマイクロホニイの低い高性
能パイロ電気検出器素子アレイか比較的簡単に製造てき
る。
(発明か解決しようとする課題)
本発明は、他の可撓性の装着装置として条溝を切った厚
い弾性物質からなる可撓性基板を提供するものであり、
これは基板の弾性と振動の減衰及び検出器素子間の増大
された音響通路長の結果としで、検出器素子に音響減結
合を供給できるものであり、また製造される検出器の製
造工程を減らし、したがっで、製造コストを下げること
かできるものである。更に、メンプレインに装着された
検出器素子間においても(非常に薄いプラスチックメン
プレインに沿った低い熱伝導力による)熱絶縁は良好で
あるが、本発明は、条溝を切ったより厚い基板構造を適
用することによっで、検出器素子同士の間隔は同様に狭
いにもかかわらず基板全体にわたるより良好な熱絶縁を
実現し得るものである。
い弾性物質からなる可撓性基板を提供するものであり、
これは基板の弾性と振動の減衰及び検出器素子間の増大
された音響通路長の結果としで、検出器素子に音響減結
合を供給できるものであり、また製造される検出器の製
造工程を減らし、したがっで、製造コストを下げること
かできるものである。更に、メンプレインに装着された
検出器素子間においても(非常に薄いプラスチックメン
プレインに沿った低い熱伝導力による)熱絶縁は良好で
あるが、本発明は、条溝を切ったより厚い基板構造を適
用することによっで、検出器素子同士の間隔は同様に狭
いにもかかわらず基板全体にわたるより良好な熱絶縁を
実現し得るものである。
(課題を解決するための手段及び作用)本願第1発明に
よると、本発明の熱放射検出器は、入射熱放射に応じて
温度が変化する強誘電物質及び/又はパイロ電気物質か
らなる赤外線検出器素子群と、相対向する第1及び第2
の面を有し第1の面に検出器素子を装着した電気及び熱
絶縁ポリマー物質からなる可撓性基板とを具える熱放射
検出器においで、前記基板が弾性物質を有し、前記基板
の第1面から基板内部へ条溝を延在させで、可撓性のプ
ラットフォーム領域群を形成し、これらプラットフォー
ム領域の各々の上に検出器素子かそれぞれ装着されてい
ることを特徴とするものである。弾性物質(例えばシリ
コンラバーや他のエラストマ)を使用することによっで
、基板か厚いにもかかわらず、マイクロホニイが低く非
常に可撓性の高い装着を実現することができる。
よると、本発明の熱放射検出器は、入射熱放射に応じて
温度が変化する強誘電物質及び/又はパイロ電気物質か
らなる赤外線検出器素子群と、相対向する第1及び第2
の面を有し第1の面に検出器素子を装着した電気及び熱
絶縁ポリマー物質からなる可撓性基板とを具える熱放射
検出器においで、前記基板が弾性物質を有し、前記基板
の第1面から基板内部へ条溝を延在させで、可撓性のプ
ラットフォーム領域群を形成し、これらプラットフォー
ム領域の各々の上に検出器素子かそれぞれ装着されてい
ることを特徴とするものである。弾性物質(例えばシリ
コンラバーや他のエラストマ)を使用することによっで
、基板か厚いにもかかわらず、マイクロホニイが低く非
常に可撓性の高い装着を実現することができる。
基板の弾性及び振動減衰特性によっで、これらの可撓性
のプラットフォーム領域上の検出器素子内のストレスか
低く保たれる。エラストマと検出器素子の材質との間に
は、ヤング率に大きな差かある。すなわち、典型的なエ
ラストマのヤング率は検出器素子のヤング率の100万
分の1以下である。ストレスは、弾性物質中の条溝(深
さd2幅W)の存在によって一層減少する。これらの条
溝は装着の可撓性及び検出器素子間の音響通路長(2d
+w)増大させるものである(したがって検出器素子間
の音響減結合を与える)。プラットフォーム領域の可撓
性が非常に高い場合は、抑制に欠けるため、プラットフ
ォーム領域の位置が互いに相対的に変動する恐れがある
。しかしながら、この極端な場合は、可撓性のプラット
フォーム領域の上に装着した検出器素子は、検出器素子
の前面に電極接続体を固着することによっで、互いに相
対的な位置の変動を抑制することができる。基板が湾曲
した場合、弾性物質中の条溝の存在は検出器素子を装着
する各プラットホーム領域の動きをより独立したものに
する(もしくは動きを抑制する)ので、基板を湾曲させ
た場合に検出器素子中に生じるストレスを条溝がない場
合よりも小さく保つことができる。このことは、圧電性
でもある強誘電体および/またはパイロ電気検出器素子
においてマイクロホニイを減少させるのに重要である。
のプラットフォーム領域上の検出器素子内のストレスか
低く保たれる。エラストマと検出器素子の材質との間に
は、ヤング率に大きな差かある。すなわち、典型的なエ
ラストマのヤング率は検出器素子のヤング率の100万
分の1以下である。ストレスは、弾性物質中の条溝(深
さd2幅W)の存在によって一層減少する。これらの条
溝は装着の可撓性及び検出器素子間の音響通路長(2d
+w)増大させるものである(したがって検出器素子間
の音響減結合を与える)。プラットフォーム領域の可撓
性が非常に高い場合は、抑制に欠けるため、プラットフ
ォーム領域の位置が互いに相対的に変動する恐れがある
。しかしながら、この極端な場合は、可撓性のプラット
フォーム領域の上に装着した検出器素子は、検出器素子
の前面に電極接続体を固着することによっで、互いに相
対的な位置の変動を抑制することができる。基板が湾曲
した場合、弾性物質中の条溝の存在は検出器素子を装着
する各プラットホーム領域の動きをより独立したものに
する(もしくは動きを抑制する)ので、基板を湾曲させ
た場合に検出器素子中に生じるストレスを条溝がない場
合よりも小さく保つことができる。このことは、圧電性
でもある強誘電体および/またはパイロ電気検出器素子
においてマイクロホニイを減少させるのに重要である。
本願の第2発明によると、本発明の熱放射検出システム
は、本願第1発明による検出器と、前記検出器素子の前
方に設けられ、前記検出器素子の熱放射への伝導を周期
的に変調しで、検出器素子上に入射する熱放射の伝送周
波数を決定する変調手段とを具える熱放射検出システム
であっで、基板中の条溝か十分な深さdと幅Wとを有し
ており、(2d+w)で表される距離が、検出器素子上
に入射する熱放射に対する伝送周波数で検出器素子から
基板の熱の流れに対する熱拡散距離と少なくとも同じに
なるように形成されていることを特徴とするものである
。
は、本願第1発明による検出器と、前記検出器素子の前
方に設けられ、前記検出器素子の熱放射への伝導を周期
的に変調しで、検出器素子上に入射する熱放射の伝送周
波数を決定する変調手段とを具える熱放射検出システム
であっで、基板中の条溝か十分な深さdと幅Wとを有し
ており、(2d+w)で表される距離が、検出器素子上
に入射する熱放射に対する伝送周波数で検出器素子から
基板の熱の流れに対する熱拡散距離と少なくとも同じに
なるように形成されていることを特徴とするものである
。
本願の第3発明によると、本発明の熱放射検出システム
は、入射する熱放射に応じて温度か変化する強誘電体お
よび/またはパイロ電気物質からなる赤外線検出器素子
群と、電気及び熱絶縁物質からなり、相対向する第1及
びだ2の面を有し、第1面に検出器素子を装着した基板
と、前記検出器素子の前方に設けられ、検出器素子への
熱放射の伝送を周期的に変調し、検出器素子上に入射す
る熱放射の伝送周波数を決定する熱放射検出システムに
おいで、前記基板の第1面が、幅d深さdの条溝によっ
てプラットフォーム領域群に分割され、これらプラット
フォーム領域の各々の上にそれぞれ検出器素子が装着さ
れており、(2d+w)で表される距離が検出器素子上
に入射する熱放射の伝送周波数においで、検出器素子か
ら基板中への熱の流れに対する熱拡散距離と少なくとも
同じ大きさになるように、十分な深さ及び幅であること
を特徴とするものである。
は、入射する熱放射に応じて温度か変化する強誘電体お
よび/またはパイロ電気物質からなる赤外線検出器素子
群と、電気及び熱絶縁物質からなり、相対向する第1及
びだ2の面を有し、第1面に検出器素子を装着した基板
と、前記検出器素子の前方に設けられ、検出器素子への
熱放射の伝送を周期的に変調し、検出器素子上に入射す
る熱放射の伝送周波数を決定する熱放射検出システムに
おいで、前記基板の第1面が、幅d深さdの条溝によっ
てプラットフォーム領域群に分割され、これらプラット
フォーム領域の各々の上にそれぞれ検出器素子が装着さ
れており、(2d+w)で表される距離が検出器素子上
に入射する熱放射の伝送周波数においで、検出器素子か
ら基板中への熱の流れに対する熱拡散距離と少なくとも
同じ大きさになるように、十分な深さ及び幅であること
を特徴とするものである。
検出器素子への熱放射の伝導が変調されるため、検出器
素子から基板中への熱の流れによる熱拡散距離(大きさ
は伝送周波数に依存する)がある。
素子から基板中への熱の流れによる熱拡散距離(大きさ
は伝送周波数に依存する)がある。
この距離を越えた部分の基板の温度は入射熱放射の変化
に応じた検出器素子の温度変化によって影響を受けない
。隣り合った検出器素子間の基板を介した距離(2d
+w)を、少なくとも熱拡散距離と同じにすることによ
っで、基板内における熱のクロストークが、メンプレイ
ンに沿って生じる熱のクロストークかに比較して減少す
る。基板内の条溝の深さdが例えば前記伝送周波数にお
ける熱拡散距離とほぼ同じ程度に大きければ、検出器素
子の信頼性(及び音響減結合)が改善される。
に応じた検出器素子の温度変化によって影響を受けない
。隣り合った検出器素子間の基板を介した距離(2d
+w)を、少なくとも熱拡散距離と同じにすることによ
っで、基板内における熱のクロストークが、メンプレイ
ンに沿って生じる熱のクロストークかに比較して減少す
る。基板内の条溝の深さdが例えば前記伝送周波数にお
ける熱拡散距離とほぼ同じ程度に大きければ、検出器素
子の信頼性(及び音響減結合)が改善される。
更に、本発明によれば、(薄いメンプレインの替わりに
)厚い基板を使用することができるため、条溝は鋸を使
って形成することかでき、このことは、(他の基板上に
網目状に形成し、それから転写するかわりに)検出器の
絶縁基板上の検出器素子を続いて網目状に切除すること
ができる。しかしながら、基板中の条溝は、例えば弾性
物質の第1面に型成型する等、他の方法で形成するよう
にしても良い。
)厚い基板を使用することができるため、条溝は鋸を使
って形成することかでき、このことは、(他の基板上に
網目状に形成し、それから転写するかわりに)検出器の
絶縁基板上の検出器素子を続いて網目状に切除すること
ができる。しかしながら、基板中の条溝は、例えば弾性
物質の第1面に型成型する等、他の方法で形成するよう
にしても良い。
本願の第4発明は、第1発明による検出器の製造方法を
提供するものであり、絶縁基板中の条溝、および/また
は検出器素子の分離および/または基板上の導電トラッ
クの分離が、絶縁基板上で鋸を用いて行われる。
提供するものであり、絶縁基板中の条溝、および/また
は検出器素子の分離および/または基板上の導電トラッ
クの分離が、絶縁基板上で鋸を用いて行われる。
弾性物質からなる基板は例えばガラス基板もしくは検出
器の容器の頭部あるいは台座などの剛固なベース上に支
持するようにしても良い。この剛固なマウントの頂部は
ほぼ平坦なものにする。しかしなから、少なくとも検出
器素子の下部においで、弾性物質の厚さが厚くなるよう
に、チャネルもしくは表面の条溝を剛固なマウントの表
面に形成するようにしても良い。この場合、弾性基板全
体をマウント表面の条溝の内部に位置させるようにして
も良く、または弾性基板をマウントの上側表面周囲の上
に前記マウント表面の条溝から横方向に延在させるよう
にしても良い。検出器素子か高度に集積された構造にお
いては、剛固なベースは、例えば回路基板や半導体信号
処理回路であっても良い。
器の容器の頭部あるいは台座などの剛固なベース上に支
持するようにしても良い。この剛固なマウントの頂部は
ほぼ平坦なものにする。しかしなから、少なくとも検出
器素子の下部においで、弾性物質の厚さが厚くなるよう
に、チャネルもしくは表面の条溝を剛固なマウントの表
面に形成するようにしても良い。この場合、弾性基板全
体をマウント表面の条溝の内部に位置させるようにして
も良く、または弾性基板をマウントの上側表面周囲の上
に前記マウント表面の条溝から横方向に延在させるよう
にしても良い。検出器素子か高度に集積された構造にお
いては、剛固なベースは、例えば回路基板や半導体信号
処理回路であっても良い。
しかしながら、剛固なマウントの少なくともひとつの開
口に基板を懸垂させるようにしても良く、この場合、弾
性物質の第2面の領域(反対側の面に検出器素子か装着
されている)の少なくとも大部分は、剛固な支持体に接
続しないようにしておくことかでき、したかっで、高い
可撓性をもつ基板か得られる。更に、基板の可撓性を増
大させるために、弾性物質を開口部内に埋めるようにし
ても良い。
口に基板を懸垂させるようにしても良く、この場合、弾
性物質の第2面の領域(反対側の面に検出器素子か装着
されている)の少なくとも大部分は、剛固な支持体に接
続しないようにしておくことかでき、したかっで、高い
可撓性をもつ基板か得られる。更に、基板の可撓性を増
大させるために、弾性物質を開口部内に埋めるようにし
ても良い。
また、弾性物質を表面の凹部または開口部の周辺の剛固
なマウントの上側表面にまで延在させることもてきる。
なマウントの上側表面にまで延在させることもてきる。
この構成は、表面の凹部または開口を設けた剛固なマウ
ントを切除したくない場合に、基板内に条溝を形成する
のに使う鋸を縦方向のにおいてより自由に使うために適
用することができる。しかしなから、剛固なマウントを
、弾性基板内に条溝を形成するのに使用する鋸を使って
容易に切断できる(例えばガラスのような)物質で構成
し、剛固なマウント内に継続して鋸で切除を行うように
しても良い。
ントを切除したくない場合に、基板内に条溝を形成する
のに使う鋸を縦方向のにおいてより自由に使うために適
用することができる。しかしなから、剛固なマウントを
、弾性基板内に条溝を形成するのに使用する鋸を使って
容易に切断できる(例えばガラスのような)物質で構成
し、剛固なマウント内に継続して鋸で切除を行うように
しても良い。
全プラットホーム領域は条溝によって横方向に互いに分
離するようにしても良い。例えば、弾性基板の周辺部が
、その群の検出器素子を形成する隣りのプラットホーム
領域と一体化されるようにしてもよい。この場合、検出
器素子から基板周辺部にまで存在する条溝の長さを前記
伝送周波数における熱拡散距離と少なくともほぼ同じ程
度にすることによって。、れらの検出器素子間の熱のク
ロストークを減少させることかできる。
離するようにしても良い。例えば、弾性基板の周辺部が
、その群の検出器素子を形成する隣りのプラットホーム
領域と一体化されるようにしてもよい。この場合、検出
器素子から基板周辺部にまで存在する条溝の長さを前記
伝送周波数における熱拡散距離と少なくともほぼ同じ程
度にすることによって。、れらの検出器素子間の熱のク
ロストークを減少させることかできる。
(実施例)
添付した図面は、線図的なものであり、縮尺されたもの
ではない。明確にするため、及び製図の都合上、関連す
る大きさ及びこれら図面の部分の割合(特に厚さ方向に
おいて)は誇張して示され、おるいは実際より小さく示
されている。また、の実施例で使用したのと同じ符号が
、他の実施例で対応するあるいは同様の部分を引用する
のに使われている。
ではない。明確にするため、及び製図の都合上、関連す
る大きさ及びこれら図面の部分の割合(特に厚さ方向に
おいて)は誇張して示され、おるいは実際より小さく示
されている。また、の実施例で使用したのと同じ符号が
、他の実施例で対応するあるいは同様の部分を引用する
のに使われている。
第1図から第4図に示されている熱放射検出システムは
、見ているシーンの側からの入射熱放射3に応じて温度
か変化する強誘電体および/またはパイロ電気物質から
なる赤外線検出器素子群20を有する検出器2を具えて
いる。検出器2は、相対向する第1面11及び第2面1
2を有し、電気及び熱絶縁ポリマー物質からなる可撓性
基板10を具えるものである。検出器素子20は第1面
lI上に装着されている。本システムは、また、前記検
出器素子20の前方に設けた、検出器素子20への熱放
射3の伝導を周期的に変調し、検出器素子20の上に入
射する熱放射3に対する伝送周波数を決定する変調手段
lを具えている。
、見ているシーンの側からの入射熱放射3に応じて温度
か変化する強誘電体および/またはパイロ電気物質から
なる赤外線検出器素子群20を有する検出器2を具えて
いる。検出器2は、相対向する第1面11及び第2面1
2を有し、電気及び熱絶縁ポリマー物質からなる可撓性
基板10を具えるものである。検出器素子20は第1面
lI上に装着されている。本システムは、また、前記検
出器素子20の前方に設けた、検出器素子20への熱放
射3の伝導を周期的に変調し、検出器素子20の上に入
射する熱放射3に対する伝送周波数を決定する変調手段
lを具えている。
本発明によれば、基板10は弾性物質からなり、条溝1
5及び16か基板10の第1面から基板10内に延在し
ている。条溝15及び16(幅W、深さd)は基板面1
1を、可撓性のプラットホーム領域に分割し、それぞれ
の領域上に検出器素子20を装着する。更に、本発明に
よれば、条溝15及び16は、距離(2d+w)が検出
器素子20上に入射する熱放射3の伝送周波数fにおい
で、検出器素子から基板10への熱の流れによる熱拡散
距離と少なくとも同じ程度になるように、十分に深く広
く形成されている。基板を構成する物質の弾性及び振動
の減衰特性は、検出器素子20に低マイクロホニイの装
着機能を提供し、この弾性物質中の条溝15及び16は
基板の所定の湾曲によって生じる検出器素子20内のス
トレスを軽減する。この条溝はまた、音響通路長(2d
+w)を増大させることによって検出器素子20間に音
響減結合を与えるものである。以下に本発明による弾性
物質lOの種々の装着構造を述べる。
5及び16か基板10の第1面から基板10内に延在し
ている。条溝15及び16(幅W、深さd)は基板面1
1を、可撓性のプラットホーム領域に分割し、それぞれ
の領域上に検出器素子20を装着する。更に、本発明に
よれば、条溝15及び16は、距離(2d+w)が検出
器素子20上に入射する熱放射3の伝送周波数fにおい
で、検出器素子から基板10への熱の流れによる熱拡散
距離と少なくとも同じ程度になるように、十分に深く広
く形成されている。基板を構成する物質の弾性及び振動
の減衰特性は、検出器素子20に低マイクロホニイの装
着機能を提供し、この弾性物質中の条溝15及び16は
基板の所定の湾曲によって生じる検出器素子20内のス
トレスを軽減する。この条溝はまた、音響通路長(2d
+w)を増大させることによって検出器素子20間に音
響減結合を与えるものである。以下に本発明による弾性
物質lOの種々の装着構造を述べる。
検出器2の構造かなければ、第1図のシステムか公知の
の方法で公知の部材を配置しで、例えば赤外線カメラを
形成することができる。したがっで、通常レンズ系と、
検出器素子20がリニアアレイの場合は可能であればス
キャナとを具える赤外線光学系4を介しで、検出器素子
20上に熱放射3が合焦するようにしても良い。伝送変
調手段lは、例えば40H2の周波数で周期的に熱放射
を遮断する機械的なチョッパで構成することもできる。
の方法で公知の部材を配置しで、例えば赤外線カメラを
形成することができる。したがっで、通常レンズ系と、
検出器素子20がリニアアレイの場合は可能であればス
キャナとを具える赤外線光学系4を介しで、検出器素子
20上に熱放射3が合焦するようにしても良い。伝送変
調手段lは、例えば40H2の周波数で周期的に熱放射
を遮断する機械的なチョッパで構成することもできる。
検出器素子20は電極接続体21及び22を有しており
、電極接続体によって検出器素子20が信号処理回路5
に接続されている。回路5はドライブ、読みだし及び、
例えばテレビモニタ等のデイスプレィ手段6に供給され
るビデオ信号を発生するビデオ処理用の電気回路網を具
えている。
、電極接続体によって検出器素子20が信号処理回路5
に接続されている。回路5はドライブ、読みだし及び、
例えばテレビモニタ等のデイスプレィ手段6に供給され
るビデオ信号を発生するビデオ処理用の電気回路網を具
えている。
タイミングコントロールユニット7は、チョッパ1に接
続されており、またテレビモニタによる表示用の所望の
フォーマットにおけるシーンのビデオ出力信号を発生す
るように、信号処理回路5にも接続している。
続されており、またテレビモニタによる表示用の所望の
フォーマットにおけるシーンのビデオ出力信号を発生す
るように、信号処理回路5にも接続している。
パイロ電気検出器2の詳細な構造を第2図〜第4図を参
照して述へる。例として示された実施例においで、2列
の検出器素子20が可撓性基板10の面11上に背中合
わせに形成されている。図中では、各列につき13個の
検出器素子が示されているが、典型的な熱画像検出装置
においては各列に64個または128個以上の検出器素
子20のリニアアレイを形成するのが通常である。検出
器素子20はパイロ電気物質の相対向する金属化された
面のそれぞれに表面電極接続体21及び底面電極接続体
22を有している。熱放射は検出器素子の頂面に入射し
、検出器素子がリニアアレイである場合は表面電極接続
体21は共通にしても良い。各検出器素子20は、各素
子の下部及び素子の一方の側部から離れる方向へ弾性基
板1o上に導電トラックとして延在する独立した底面電
極22を具えている。
照して述へる。例として示された実施例においで、2列
の検出器素子20が可撓性基板10の面11上に背中合
わせに形成されている。図中では、各列につき13個の
検出器素子が示されているが、典型的な熱画像検出装置
においては各列に64個または128個以上の検出器素
子20のリニアアレイを形成するのが通常である。検出
器素子20はパイロ電気物質の相対向する金属化された
面のそれぞれに表面電極接続体21及び底面電極接続体
22を有している。熱放射は検出器素子の頂面に入射し
、検出器素子がリニアアレイである場合は表面電極接続
体21は共通にしても良い。各検出器素子20は、各素
子の下部及び素子の一方の側部から離れる方向へ弾性基
板1o上に導電トラックとして延在する独立した底面電
極22を具えている。
第2図に示すように、弾性基板lOは剛固なマウント1
8.19の開口17に懸垂されれている。
8.19の開口17に懸垂されれている。
2列の背中合わせになったりニアアレイ2oを形成する
ために、開口部17は例えば幅約2mm長さ約1cmの
スロット形状であり、1罰当たり64個の検出器素子2
0が2列形成されている。マウント18.19はアルミ
ナやガラスからなるプレフォームで形威しても良く、あ
るいは表面にガラスフィルム19を形成したアルミナあ
るいは他のプレフォーム18で構成するようにしても良
い。
ために、開口部17は例えば幅約2mm長さ約1cmの
スロット形状であり、1罰当たり64個の検出器素子2
0が2列形成されている。マウント18.19はアルミ
ナやガラスからなるプレフォームで形威しても良く、あ
るいは表面にガラスフィルム19を形成したアルミナあ
るいは他のプレフォーム18で構成するようにしても良
い。
プレフォーム18は例えば厚さ約250μmに形威し、
ガラスフィルムの厚さを約100μmとする。可撓性基
板lOを構成する弾性物質は開口部17に型成型されて
いる。シリコンラバーは厚い可撓性基板10に使用する
のに都合の良いエラスl・マである。
ガラスフィルムの厚さを約100μmとする。可撓性基
板lOを構成する弾性物質は開口部17に型成型されて
いる。シリコンラバーは厚い可撓性基板10に使用する
のに都合の良いエラスl・マである。
シリコンラバーは機械的、熱的、電気的特性の組み合わ
せか特に良好であり、特に、耐久性のある弾性、振動吸
収特性、低熱伝導性を有している。
せか特に良好であり、特に、耐久性のある弾性、振動吸
収特性、低熱伝導性を有している。
適当な物質としての一例は、DOW Corning社
の商品名「シルガード(Sy Igard) Jの名で
入手可能なシリコンラバーかある。これは、2つの液状
物質(シリコンラバーとr8媒)を混合しで、開口17
にこの混合物をフローして形成する。好ましくは、シリ
コンラバー10でつなぐマウント18及び19の表面に
最初にプライマを塗布するのか良い。シルガード用のプ
ライマもDOW Corning社から入手できる。可
撓性を増強するために、シリコンラバー10を開口17
内に型成型されるため、シリコンラバーの面12(反対
側の面に検出器素子20か装着される)は、第3図、4
図及び6図に示すように、開口17の内側に凹状に形成
されている。
の商品名「シルガード(Sy Igard) Jの名で
入手可能なシリコンラバーかある。これは、2つの液状
物質(シリコンラバーとr8媒)を混合しで、開口17
にこの混合物をフローして形成する。好ましくは、シリ
コンラバー10でつなぐマウント18及び19の表面に
最初にプライマを塗布するのか良い。シルガード用のプ
ライマもDOW Corning社から入手できる。可
撓性を増強するために、シリコンラバー10を開口17
内に型成型されるため、シリコンラバーの面12(反対
側の面に検出器素子20か装着される)は、第3図、4
図及び6図に示すように、開口17の内側に凹状に形成
されている。
シリコンラバー10の上側筒は平滑かつ平坦に形成され
ており、開口17の周りの剛固なマウント18.19の
上側表面上に延在させるようにしても良い。マウント1
8.19の厚さは約350μmに、開口領域17内の可
撓性のシリコンラバー基板10は、例えば約150μm
の厚さに形成される。弾性基板10は、その平坦な面1
1内に型成型した条溝■5及び16によって形成するよ
うにしても良いし、条溝を後に形成するようにしてもよ
い。
ており、開口17の周りの剛固なマウント18.19の
上側表面上に延在させるようにしても良い。マウント1
8.19の厚さは約350μmに、開口領域17内の可
撓性のシリコンラバー基板10は、例えば約150μm
の厚さに形成される。弾性基板10は、その平坦な面1
1内に型成型した条溝■5及び16によって形成するよ
うにしても良いし、条溝を後に形成するようにしてもよ
い。
電極接続体22は、検出器素子20のパイロ電気物質の
本体を装着する前に、基板10の面11を金属化するこ
とによって公知の方法で形成するようにしても良い。し
たかっで、接続体22は例えばスパッタされたニッケル
クロムの薄いシード層のうえに例えば2〜20nmの厚
さに金を蒸着させて形成するようにしても良い。
本体を装着する前に、基板10の面11を金属化するこ
とによって公知の方法で形成するようにしても良い。し
たかっで、接続体22は例えばスパッタされたニッケル
クロムの薄いシード層のうえに例えば2〜20nmの厚
さに金を蒸着させて形成するようにしても良い。
接続体22の所望のパターン全体(少なくとも大部分)
は面11上に設けたステンシルマスクを介して金属化し
て形成することかできる。第2図に示されている例では
、この金属化されたパターン22は検出器素子20の下
部に拡張された領域を有し、剛固なマウント18上に拡
張された領域22aを有しており、その間は狭いトラッ
クとなっている。拡張された領域22aはポンドパッド
を形成しており、そこで例えば信号処理回路5内のそれ
ぞれの電界効果トランジスタのデー1〜等のワイヤ接続
体27と各検出器素子20とか接続される。ワイヤボン
ド27は第2図の平面図においては×印で示されている
。
は面11上に設けたステンシルマスクを介して金属化し
て形成することかできる。第2図に示されている例では
、この金属化されたパターン22は検出器素子20の下
部に拡張された領域を有し、剛固なマウント18上に拡
張された領域22aを有しており、その間は狭いトラッ
クとなっている。拡張された領域22aはポンドパッド
を形成しており、そこで例えば信号処理回路5内のそれ
ぞれの電界効果トランジスタのデー1〜等のワイヤ接続
体27と各検出器素子20とか接続される。ワイヤボン
ド27は第2図の平面図においては×印で示されている
。
検出器素子本体20は、鋸の歯を使って本体20を分離
している条溝を切除して厚い弥性基板lOの上に形成す
るようにしても良く、その後、基板lOまで続けて切除
して条溝15.16を形成する。この結果、第2図〜第
5図に示すように、検出器素子20間の条溝か基板10
内の条溝15.16と整列し、各検出器素子20の底面
か検出器素子が装着されている可撓性のプラットフォー
ムの大きさと同じ大きさになる。
している条溝を切除して厚い弥性基板lOの上に形成す
るようにしても良く、その後、基板lOまで続けて切除
して条溝15.16を形成する。この結果、第2図〜第
5図に示すように、検出器素子20間の条溝か基板10
内の条溝15.16と整列し、各検出器素子20の底面
か検出器素子が装着されている可撓性のプラットフォー
ムの大きさと同じ大きさになる。
金属化された弾性基板10の上に本体40を装着するこ
とによってその構造か得られ、検出器素子20か本体か
ら形成される。本体40は赤外線検出器素子を形成する
のに適している種々の強誘電体および/またはパイロ電
気物質で構成することかできる。特に好ましい例として
は、リード・ジルコネート・チタネー) (lead
zirconate titanate) (例えば
ランタナンをドープしたリード・ジルコネート・チタネ
ートやPLZT、 もしくはPLMZT) 、バリウ
ム・チタネー1− (bariumtitanate)
、タンタルニオブ酸カリウム(potassium t
antaloniobate)、リン酸カリウム(po
tassium dihydrogen phosph
ate)及び酒石酸ナトリウム(Rochell 5a
lt)などかある。本体を基板10に装着する前に、本
体40の表面及び底面を金属化しで、接続層21及び2
2との電気的接続を確実にする薄い電極を形成する。こ
の電極の金属化は例えばニッケルクロムのシード層のう
えに金を被覆して行っても良い。各列64個の検出器素
子20を装着する細長形状の本体40の典型的な大きさ
は、例えば幅300μm、長さ約7.7mm、厚さは約
10〜40μmである。薄い導電性の接着層を使って本
体40の金属化された底面を、絶縁弾性基板10の上に
設けた導電パターン22に取り付けで、底面に電極接続
体を形成するようにしても良い。第6図は弾性基板10
の上に装着された本体40を示すものである。ソーイン
グ工程に備えで、本体40を基板10に確実に固定する
ために、第6図に示すように、本体40の周辺に沿って
シリコンラバーを追加コーティングするかあるいは絶縁
性の接着剤を付けるようにしてもよい。
とによってその構造か得られ、検出器素子20か本体か
ら形成される。本体40は赤外線検出器素子を形成する
のに適している種々の強誘電体および/またはパイロ電
気物質で構成することかできる。特に好ましい例として
は、リード・ジルコネート・チタネー) (lead
zirconate titanate) (例えば
ランタナンをドープしたリード・ジルコネート・チタネ
ートやPLZT、 もしくはPLMZT) 、バリウ
ム・チタネー1− (bariumtitanate)
、タンタルニオブ酸カリウム(potassium t
antaloniobate)、リン酸カリウム(po
tassium dihydrogen phosph
ate)及び酒石酸ナトリウム(Rochell 5a
lt)などかある。本体を基板10に装着する前に、本
体40の表面及び底面を金属化しで、接続層21及び2
2との電気的接続を確実にする薄い電極を形成する。こ
の電極の金属化は例えばニッケルクロムのシード層のう
えに金を被覆して行っても良い。各列64個の検出器素
子20を装着する細長形状の本体40の典型的な大きさ
は、例えば幅300μm、長さ約7.7mm、厚さは約
10〜40μmである。薄い導電性の接着層を使って本
体40の金属化された底面を、絶縁弾性基板10の上に
設けた導電パターン22に取り付けで、底面に電極接続
体を形成するようにしても良い。第6図は弾性基板10
の上に装着された本体40を示すものである。ソーイン
グ工程に備えで、本体40を基板10に確実に固定する
ために、第6図に示すように、本体40の周辺に沿って
シリコンラバーを追加コーティングするかあるいは絶縁
性の接着剤を付けるようにしてもよい。
次いで、条溝15と16を形成しで、本体40を検出器
素子群20に分離し、基板lO内に深さdまで延在させ
る。条溝16は本体40の長さにそって切除され、一方
複数の平行な条溝16は条溝15に直交する方向に本体
40の幅方向に沿って形成する。条溝の幅は使用する鋸
によって異なるが、例えば条溝15は約20μm1条溝
16は約100μmである。このようにして本体40を
切除して形成したそれぞれの検出器素子20の面積は約
100μmX 100μm以下である。鋸を使って形成
した条溝15及び16は、本体40の下部に存在する金
属化部分22に連続した領域にわたって切除するように
しても良く、こうして底面電極接続体22のこの部分の
パターンを形成するようにしてもよい。条溝15及び1
6が弾性基板の面11内に既に型成型されている場合は
、本体40にわたって切除してこれらの延在している条
溝15及び16に整列させることかできる。基板10内
に条溝15及び16を切除する深さもしくは型成型する
深さdは、以下に第5図を参照して詳細に考察する。
素子群20に分離し、基板lO内に深さdまで延在させ
る。条溝16は本体40の長さにそって切除され、一方
複数の平行な条溝16は条溝15に直交する方向に本体
40の幅方向に沿って形成する。条溝の幅は使用する鋸
によって異なるが、例えば条溝15は約20μm1条溝
16は約100μmである。このようにして本体40を
切除して形成したそれぞれの検出器素子20の面積は約
100μmX 100μm以下である。鋸を使って形成
した条溝15及び16は、本体40の下部に存在する金
属化部分22に連続した領域にわたって切除するように
しても良く、こうして底面電極接続体22のこの部分の
パターンを形成するようにしてもよい。条溝15及び1
6が弾性基板の面11内に既に型成型されている場合は
、本体40にわたって切除してこれらの延在している条
溝15及び16に整列させることかできる。基板10内
に条溝15及び16を切除する深さもしくは型成型する
深さdは、以下に第5図を参照して詳細に考察する。
検出器素子20に例えば公知の方法で表面電極接続体2
1を形成する。接続体21は薄いプラスチックフィルム
25の下側表面に設けた少なくともひとつの金属導電体
で形成することかできる。
1を形成する。接続体21は薄いプラスチックフィルム
25の下側表面に設けた少なくともひとつの金属導電体
で形成することかできる。
フィルム25には例えば、ポリイミドメンプレインを使
っても良く、これは1985年の5PIEの論文に本発
明者によって熱コレクタフィンとして記載されている。
っても良く、これは1985年の5PIEの論文に本発
明者によって熱コレクタフィンとして記載されている。
所望する接続体によって異なるが、両列の検出器素子2
0か表面電極接続層21を共有するようにしても良く、
あるいは各列にそれぞれの表面電極接続トラックを設け
るようにしても良い。所望するのであれば、−列の検出
器素子20を能動赤外線感知素子として構成し、他方の
列の検出器素子は入射する放射線3から遮蔽しで、能動
素子上に公知の方法で温度変化とマイクロホニイの効果
とを信号補償する補償素子を設けるようにしても良い。
0か表面電極接続層21を共有するようにしても良く、
あるいは各列にそれぞれの表面電極接続トラックを設け
るようにしても良い。所望するのであれば、−列の検出
器素子20を能動赤外線感知素子として構成し、他方の
列の検出器素子は入射する放射線3から遮蔽しで、能動
素子上に公知の方法で温度変化とマイクロホニイの効果
とを信号補償する補償素子を設けるようにしても良い。
フィルム25の縁部は開口を設けた剛固なマウント28
(第2図に外側周辺か破線で示されている)に接着する
事ができる。
(第2図に外側周辺か破線で示されている)に接着する
事ができる。
マウント/フィルム構造体28及び25は第3図及び4
図に示すように、絶縁性接着剤を使って下側マウント1
8及び19に接着するようにしても良い。
図に示すように、絶縁性接着剤を使って下側マウント1
8及び19に接着するようにしても良い。
検出器素子20への熱放射3の伝導はチョッパ1にて変
調されるため、検出器素子20から基板への熱の流れに
よる熱拡散距離D(大きさは伝送周波数fに依存してい
る)で定義される制限距離かある。チョップされたパイ
ロ電気赤外線検出システムにおける熱拡散距離の概念は
パーガモン・プレス紙(英国)の赤外線物理学(197
3年)第13巻、91〜98ページにあるアール・エム
・ローガン(R,M、Logan )による°“パイロ
エレクトリックデテクタにおける温度分布と温度ノイズ
の計算−排出チューブと題する論文に述べられている。
調されるため、検出器素子20から基板への熱の流れに
よる熱拡散距離D(大きさは伝送周波数fに依存してい
る)で定義される制限距離かある。チョップされたパイ
ロ電気赤外線検出システムにおける熱拡散距離の概念は
パーガモン・プレス紙(英国)の赤外線物理学(197
3年)第13巻、91〜98ページにあるアール・エム
・ローガン(R,M、Logan )による°“パイロ
エレクトリックデテクタにおける温度分布と温度ノイズ
の計算−排出チューブと題する論文に述べられている。
この赤外線物理学の論文(全概念がここで具体化されて
いる)中で、その概念は検出器素子か存在するパイロエ
レクトリック層の周辺領域を介して検出器素子領域へそ
して検出器素子領域から横方向の熱の伝導のコンチクス
トに述べられている。
いる)中で、その概念は検出器素子か存在するパイロエ
レクトリック層の周辺領域を介して検出器素子領域へそ
して検出器素子領域から横方向の熱の伝導のコンチクス
トに述べられている。
本発明においては、入射する熱放射線3の変化に応じた
検出器素子20の温度変化がチョッパ変調によってパル
ス化されるので、検出器素子20から弾性基板内への熱
の流れもパルス化される。
検出器素子20の温度変化がチョッパ変調によってパル
ス化されるので、検出器素子20から弾性基板内への熱
の流れもパルス化される。
これらの熱パルス間に、基板10に伝導された熱は、熱
伝導率にと基板を構成する物質の体積比熱Cに応じた割
合で、基板を構成する物質内に伝導される。熱パルス間
に起こるこの拡散によっで、検出器素子20から熱拡散
距離り以上能れた位置にある基板の一部110は検出器
素子の温度変化によっても影響されない。したがっで、
表面11から距離り以上離れた基板10の一部110は
ヒートシンクとして効果的に作用する。伝送周波数fに
おける基板10内の熱拡散距離りはおよそ次式(1)で
与えられる。
伝導率にと基板を構成する物質の体積比熱Cに応じた割
合で、基板を構成する物質内に伝導される。熱パルス間
に起こるこの拡散によっで、検出器素子20から熱拡散
距離り以上能れた位置にある基板の一部110は検出器
素子の温度変化によっても影響されない。したがっで、
表面11から距離り以上離れた基板10の一部110は
ヒートシンクとして効果的に作用する。伝送周波数fに
おける基板10内の熱拡散距離りはおよそ次式(1)で
与えられる。
D = K l/2 (πcf)”2 (
1)ここで、Dの単位はcm、にはJ−cm−に−1,
S−1、CはJ−cm−”−に−’ fはS″′(H
z)である。この例では、シリコンラバーはKか約1,
5xlO−3J−cm−1・K−’−s−’、Cか約1
.7Jem−”K−’、Dの値は約1.67X10−2
・ (f)−””である。この実施例では、チョッパ周
波数か40I(zてDは約26μm110Hzで約53
μmである。
1)ここで、Dの単位はcm、にはJ−cm−に−1,
S−1、CはJ−cm−”−に−’ fはS″′(H
z)である。この例では、シリコンラバーはKか約1,
5xlO−3J−cm−1・K−’−s−’、Cか約1
.7Jem−”K−’、Dの値は約1.67X10−2
・ (f)−””である。この実施例では、チョッパ周
波数か40I(zてDは約26μm110Hzで約53
μmである。
弾性基板10内に幅W、深さdの条溝15及び16を形
成しで、(2d+w)かDより大きくなるようにすれば
、−のプラットフォーム領域上の一個の検出器素子(例
えば第5図の20a)の温度変化か基板10を介して隣
の検出器素子(例えば第5図の20b)に伝わることか
ない。このように構成すれば、基板として薄いメンプレ
インを使った場合よりも熱のクロストークをより一層減
少させることかできる。しかしなから、第2図〜第4図
に示す検出器においては、表面電極接続体21を形成し
ている表面のメンプレイン25に沿って素子20の間に
熱の伝導が生じる。
成しで、(2d+w)かDより大きくなるようにすれば
、−のプラットフォーム領域上の一個の検出器素子(例
えば第5図の20a)の温度変化か基板10を介して隣
の検出器素子(例えば第5図の20b)に伝わることか
ない。このように構成すれば、基板として薄いメンプレ
インを使った場合よりも熱のクロストークをより一層減
少させることかできる。しかしなから、第2図〜第4図
に示す検出器においては、表面電極接続体21を形成し
ている表面のメンプレイン25に沿って素子20の間に
熱の伝導が生じる。
条溝15及び16の深さdは熱拡散距離りより小さくな
るようにしてもよい。しかしなから、船釣には25〜5
0μmもしくはそれ以上の深さdまで条溝15及び16
を切除するのか好ましい。
るようにしてもよい。しかしなから、船釣には25〜5
0μmもしくはそれ以上の深さdまで条溝15及び16
を切除するのか好ましい。
したかっで、dを少なくともDとほぼ同じ大きさにする
ことによっで、各検出器素子20から有効なヒートシン
ク110までの熱損失は、検出器素子20のヒートシン
クの限界をブラフ1ヘフオーム支柱Ill内の領域Aに
位置付けることによっで、最小限に押さえることかでき
る。このようにして検出器素子の信頼性を改善すること
かできる。
ことによっで、各検出器素子20から有効なヒートシン
ク110までの熱損失は、検出器素子20のヒートシン
クの限界をブラフ1ヘフオーム支柱Ill内の領域Aに
位置付けることによっで、最小限に押さえることかでき
る。このようにして検出器素子の信頼性を改善すること
かできる。
このような深い条溝15と16を形成することにより、
検出器素子20を装着した可撓性のプラッ1−フオーム
領域を形成している弾性基板の支柱部分111の可撓性
を増大させ、またそれぞれの検出器素子に対する振動と
ストレスを(互いにほぼ独自に)吸収するそれらの役割
か増強される。
検出器素子20を装着した可撓性のプラッ1−フオーム
領域を形成している弾性基板の支柱部分111の可撓性
を増大させ、またそれぞれの検出器素子に対する振動と
ストレスを(互いにほぼ独自に)吸収するそれらの役割
か増強される。
増大された音響通路長(2d+w)をこえる弾性部材1
0の弾性及び振動吸収特性によっで、これらのプラット
フォーム領域上の検出器素子20間に良好な音響減結合
か得られる。検出器素子本体20とエクス1フ10間に
コンプライアンスに大きな違いかあり、振動の間に基板
10から検出器素子内に生しるストレスを大幅に減少さ
せる。したかっで、典型的なケースでは、エラストマの
ヤング率が検出器素子本体20のヤング率より約108
倍以下となる。例えば、鉛ジルコネート・チタネー1−
のヤング率8X 101ON−m−2に比しで、シリコ
ンラバーのヤング率は8X10”N・mである。弾性柱
状体111はその頂部でそれかなければ基板10から検
出器素子20へ伝えられ得るストレスか減少する。
0の弾性及び振動吸収特性によっで、これらのプラット
フォーム領域上の検出器素子20間に良好な音響減結合
か得られる。検出器素子本体20とエクス1フ10間に
コンプライアンスに大きな違いかあり、振動の間に基板
10から検出器素子内に生しるストレスを大幅に減少さ
せる。したかっで、典型的なケースでは、エラストマの
ヤング率が検出器素子本体20のヤング率より約108
倍以下となる。例えば、鉛ジルコネート・チタネー1−
のヤング率8X 101ON−m−2に比しで、シリコ
ンラバーのヤング率は8X10”N・mである。弾性柱
状体111はその頂部でそれかなければ基板10から検
出器素子20へ伝えられ得るストレスか減少する。
第2図〜第4図に示すとおり、弾性基板10は検出器素
子20を装着する隣のプラットフォーム領域と一体にな
った、条溝か切られていない周辺部112を具えている
。検出器素子20からこの周辺部112までの条溝15
及び16の長さは、周波数fにおける熱拡散距離りより
長く、したかっで、この周辺部112(よ検出器素子間
の熱のクロストークには寄与していない。しかしながら
、この後詳しく述べるように、条溝I5及びI6を、マ
ウント18.19の上側部分19内へ長手方向に延在さ
せるようにしてもよい。
子20を装着する隣のプラットフォーム領域と一体にな
った、条溝か切られていない周辺部112を具えている
。検出器素子20からこの周辺部112までの条溝15
及び16の長さは、周波数fにおける熱拡散距離りより
長く、したかっで、この周辺部112(よ検出器素子間
の熱のクロストークには寄与していない。しかしながら
、この後詳しく述べるように、条溝I5及びI6を、マ
ウント18.19の上側部分19内へ長手方向に延在さ
せるようにしてもよい。
厚い基板lOか存在するため、検出器2の信頼性かやや
減少する。基板の厚さかDとほぼ同じと仮定した場合、
信頼性における摩擦損失はおよそ以下の式で表される: R(%)=100tC,(k、c/4πf+t”C2)
−”’ (2) ここで、R(%)は基板10にわたって熱伝導かないも
のとした場合の検出器の信頼性を100としたとき検出
器の信頼度であり、tは検出器素子20の厚さ、Cは検
出器のパイロ電気物質の体積比熱である。検出器を適用
するほとんとの場合においで、90%以上の値かでる。
減少する。基板の厚さかDとほぼ同じと仮定した場合、
信頼性における摩擦損失はおよそ以下の式で表される: R(%)=100tC,(k、c/4πf+t”C2)
−”’ (2) ここで、R(%)は基板10にわたって熱伝導かないも
のとした場合の検出器の信頼性を100としたとき検出
器の信頼度であり、tは検出器素子20の厚さ、Cは検
出器のパイロ電気物質の体積比熱である。検出器を適用
するほとんとの場合においで、90%以上の値かでる。
シリコンラバー基板10と厚さ40μmのPLZT検出
器素子20で、7Hz以上のチョッパ周波数で少なくと
も90%のR(%)か達成される。このタイプの基板1
0と検出器素子20で、周波数40HzでR(%)は約
98%である。
器素子20で、7Hz以上のチョッパ周波数で少なくと
も90%のR(%)か達成される。このタイプの基板1
0と検出器素子20で、周波数40HzでR(%)は約
98%である。
第2図〜第4図は、条溝15および16がマウント18
.19の開口部17の領域内にとどめられている状態を
示している。第7図に示す変形例においては、条溝15
及び16が(幅W深さdで)マウント18及び19の上
側ガラス部分19内まで長手方向に延在するように形成
されている。このガラス部分19は、鋸を用いて切除で
きるガラス材でできており、条溝の深さを受は入れるの
に十分な厚さがある。この場合、底面電極接続体トラッ
ク22は、基板10とマウント部19の領域上に継続し
た導電層を堆積し、条溝15及び16を基板10および
マウント部19内に導電層を導電トラック22に分割す
る鋸を用いて形成することによって形成することができ
る。トラック22は検出器素子20の下部からワイヤ2
7をボンディングする領域へ長さ方向に同じ幅で伸びて
おり、導電層の厚さ及び抵抗を制御してトラック22に
そ沿って伝わる電気的伝導及び熱的伝導の値を所望の値
にする。トラック22間の分離は条溝15によって決ま
る。
.19の開口部17の領域内にとどめられている状態を
示している。第7図に示す変形例においては、条溝15
及び16が(幅W深さdで)マウント18及び19の上
側ガラス部分19内まで長手方向に延在するように形成
されている。このガラス部分19は、鋸を用いて切除で
きるガラス材でできており、条溝の深さを受は入れるの
に十分な厚さがある。この場合、底面電極接続体トラッ
ク22は、基板10とマウント部19の領域上に継続し
た導電層を堆積し、条溝15及び16を基板10および
マウント部19内に導電層を導電トラック22に分割す
る鋸を用いて形成することによって形成することができ
る。トラック22は検出器素子20の下部からワイヤ2
7をボンディングする領域へ長さ方向に同じ幅で伸びて
おり、導電層の厚さ及び抵抗を制御してトラック22に
そ沿って伝わる電気的伝導及び熱的伝導の値を所望の値
にする。トラック22間の分離は条溝15によって決ま
る。
上記述べたとおり、第2図〜第4図の2列に配置された
検出器素子のうちの一列を補償素子としても良い。この
場合、基板10中条溝16は、省略しても良く、条溝1
5で決まる各プラットフォーム領域が−の列の能動検出
器素子20と他の列の補償素子20の両方を有するする
ようにしてもよい(これらの二つの素子20は分離した
パイロ電気素子本体を有している)。このようにするこ
とはマイクロホニイの補償を増強する。同時係属出願中
の英国特許出願GB−A−2217442号において述
べたように、それ自身か補償素子20を有するリニアア
レイの検出器素子20に代えで、そのリニアアレイが単
に1又は2の補償素子を有するようにしても良く、その
補償素子は能動検出器素子と同じ列に配置することがで
き、その出力信号は好適に処理されて能動素子20に対
して温度補償するために使用されるものである。したが
っで、第2図〜第4図の装置は一列の素子20のみを有
するように変形しても良い。詳しくは、英国特許出願第
GB−A−2217442号を参照されたい。
検出器素子のうちの一列を補償素子としても良い。この
場合、基板10中条溝16は、省略しても良く、条溝1
5で決まる各プラットフォーム領域が−の列の能動検出
器素子20と他の列の補償素子20の両方を有するする
ようにしてもよい(これらの二つの素子20は分離した
パイロ電気素子本体を有している)。このようにするこ
とはマイクロホニイの補償を増強する。同時係属出願中
の英国特許出願GB−A−2217442号において述
べたように、それ自身か補償素子20を有するリニアア
レイの検出器素子20に代えで、そのリニアアレイが単
に1又は2の補償素子を有するようにしても良く、その
補償素子は能動検出器素子と同じ列に配置することがで
き、その出力信号は好適に処理されて能動素子20に対
して温度補償するために使用されるものである。したが
っで、第2図〜第4図の装置は一列の素子20のみを有
するように変形しても良い。詳しくは、英国特許出願第
GB−A−2217442号を参照されたい。
第2図〜第7図に示した実施例においては、シリコンラ
バー10はマウント18.19の上側表面上に延在して
いない。しかしながら、装置によってはシリコンラバー
10の一部13が数十あるいは100μm程度の厚さで
マウント18の上側表面に沿って延在しているものもあ
り、この領域では、シリコンラバーの一部13を比較的
厚く(例えば約50μm以上)形成しても良い。第8図
はこのような構成を示すものであり、ここでは、弾性基
板10が、弾性基板10の第1面11の領域内に、検出
器素子20の−の側部で埋め込まれている薄いガラスマ
ウント9を有している。導電トラック22はガラスマウ
ント9上及び検出器素子20の下のシリコンラバー10
の面11の上に延在している。第8図は単一列の検出器
素子20を具える検出器の断面図(第3図と位置におい
て同じである)である。この検出器の断面は、シリコン
ラバ一部分13がガラス部分19に置き換えられている
点を除けば、第4図と構成において同じである。したか
っで、第8図の装置の検出器素子20とトラック22は
シリコンラバー基板10及びその埋め込まれたガラスプ
レート9内に深さdまで延在している幅Wの平行な条溝
15によって分離するようにしても良い。ワイヤ接続体
27はガラスプレート9上の導電トラック22に接続す
ることができる。条溝15内にみられるプレート9の端
部は、第8図の断面図では断面がプレート9を通過して
いないが、第8図では理解を容易にするために2重ハツ
チングを施している。
バー10はマウント18.19の上側表面上に延在して
いない。しかしながら、装置によってはシリコンラバー
10の一部13が数十あるいは100μm程度の厚さで
マウント18の上側表面に沿って延在しているものもあ
り、この領域では、シリコンラバーの一部13を比較的
厚く(例えば約50μm以上)形成しても良い。第8図
はこのような構成を示すものであり、ここでは、弾性基
板10が、弾性基板10の第1面11の領域内に、検出
器素子20の−の側部で埋め込まれている薄いガラスマ
ウント9を有している。導電トラック22はガラスマウ
ント9上及び検出器素子20の下のシリコンラバー10
の面11の上に延在している。第8図は単一列の検出器
素子20を具える検出器の断面図(第3図と位置におい
て同じである)である。この検出器の断面は、シリコン
ラバ一部分13がガラス部分19に置き換えられている
点を除けば、第4図と構成において同じである。したか
っで、第8図の装置の検出器素子20とトラック22は
シリコンラバー基板10及びその埋め込まれたガラスプ
レート9内に深さdまで延在している幅Wの平行な条溝
15によって分離するようにしても良い。ワイヤ接続体
27はガラスプレート9上の導電トラック22に接続す
ることができる。条溝15内にみられるプレート9の端
部は、第8図の断面図では断面がプレート9を通過して
いないが、第8図では理解を容易にするために2重ハツ
チングを施している。
第8図に示す実施例では、検出器素子20は弾性基板1
0の金属化した面11の上に装着されている。しかしな
がら、検出器素子20をそれ自体はそれほど可撓性のな
い物質でできたプラットフォーム9の面11を金属化し
てその上に装着するようにしても良い。プラットフォー
ム9は例えば、ガラスプレー1〜、ポリイミド層、あり
はポリイミドより柔らかいプラスチック材で形成しても
良く、検出器素子20の装着構造においで、音響ダンピ
ングを与えるため、(たとえばシリコンラバー等の)弾
性基板lO上に支持されるように重畳してもよい。条溝
15(16)はガラスプレート9あるいはプラスチック
層9内に、ガラスプレートあるいはプラスチック層の厚
さより浅い深さdにしてもよいが、このましくは、下部
に横たわる弾性基盤10内にまて延在するようにより深
く切除するようにする。
0の金属化した面11の上に装着されている。しかしな
がら、検出器素子20をそれ自体はそれほど可撓性のな
い物質でできたプラットフォーム9の面11を金属化し
てその上に装着するようにしても良い。プラットフォー
ム9は例えば、ガラスプレー1〜、ポリイミド層、あり
はポリイミドより柔らかいプラスチック材で形成しても
良く、検出器素子20の装着構造においで、音響ダンピ
ングを与えるため、(たとえばシリコンラバー等の)弾
性基板lO上に支持されるように重畳してもよい。条溝
15(16)はガラスプレート9あるいはプラスチック
層9内に、ガラスプレートあるいはプラスチック層の厚
さより浅い深さdにしてもよいが、このましくは、下部
に横たわる弾性基盤10内にまて延在するようにより深
く切除するようにする。
第2図〜第4図および第6図〜第8図は、弾性基板10
の第2面12か検出器素子群20が位置している領域を
こえて剛固な支持体にほぼ接触しない構造を示す。しか
しながら、本発明による検出器においては、基板10の
第2面12の動きを制限するように、条溝を切った弾性
基板10を剛固なベース(たとえばガラスプレートやア
ルミナプレート)上におくようにしても良い。このよう
な検出器の構造の一例が、第8図の変形例として第9図
に示されている。
の第2面12か検出器素子群20が位置している領域を
こえて剛固な支持体にほぼ接触しない構造を示す。しか
しながら、本発明による検出器においては、基板10の
第2面12の動きを制限するように、条溝を切った弾性
基板10を剛固なベース(たとえばガラスプレートやア
ルミナプレート)上におくようにしても良い。このよう
な検出器の構造の一例が、第8図の変形例として第9図
に示されている。
同様の変形が、第2図〜第4図の検出器における装着構
造に可能である。各場合においで、剛固なマウント18
か検出器素子20の下部に延在する条溝を切った弾性基
板lOの一部分の下部に延在しており、基板10のこの
部分をより堅く支持している。第9図に示す構造におい
ては、基板lOのこの部分は、剛固なマウントの上側表
面内の表面条溝17に、部分的に装着しており、弾性部
材は条溝17の外側にも延在している。この表面条溝1
7はマウント18へのエラストマ基板10の接着を強化
するものである。第2図〜第4図及び第7図に示す変形
例としで、弾性基板lO全全体表面条溝17内に装着す
るようにしても良い。しかしなから、本発明による検出
器の構造においては、マウント18の上側面はほぼ平坦
である。単なる装着プレートの代わりに、剛固なマウン
ト18を、例えば検出器の容器の台座、ベース、ヘッダ
一部分、あるいは回路基板で構成してもよい。
造に可能である。各場合においで、剛固なマウント18
か検出器素子20の下部に延在する条溝を切った弾性基
板lOの一部分の下部に延在しており、基板10のこの
部分をより堅く支持している。第9図に示す構造におい
ては、基板lOのこの部分は、剛固なマウントの上側表
面内の表面条溝17に、部分的に装着しており、弾性部
材は条溝17の外側にも延在している。この表面条溝1
7はマウント18へのエラストマ基板10の接着を強化
するものである。第2図〜第4図及び第7図に示す変形
例としで、弾性基板lO全全体表面条溝17内に装着す
るようにしても良い。しかしなから、本発明による検出
器の構造においては、マウント18の上側面はほぼ平坦
である。単なる装着プレートの代わりに、剛固なマウン
ト18を、例えば検出器の容器の台座、ベース、ヘッダ
一部分、あるいは回路基板で構成してもよい。
これまでに述へてきた実施例は、検出器素子20かりニ
アアレイであるが、本発明は二次元アレイにも利用し得
る。本発明によるシステムは、ヨーロッパ特許出願第E
P−A−0284131号公報にも述へられているよう
な熱画像検出装置を、本発明による条溝を切った弾性ポ
リマ物質て回路基板覆うように変形して用いるようにし
ても良い。
アアレイであるが、本発明は二次元アレイにも利用し得
る。本発明によるシステムは、ヨーロッパ特許出願第E
P−A−0284131号公報にも述へられているよう
な熱画像検出装置を、本発明による条溝を切った弾性ポ
リマ物質て回路基板覆うように変形して用いるようにし
ても良い。
したかっで、EP−A−0284131号の第6図の変
形例においては、検出器素子を装着する層10を形成す
るために、半導体基板lを十分に厚いシリコンラバーで
被覆するようにしても良い。
形例においては、検出器素子を装着する層10を形成す
るために、半導体基板lを十分に厚いシリコンラバーで
被覆するようにしても良い。
検出器素子は、シリコンラバーの被覆lO内の金属化し
た穴に形成した底面電極接続体を有している。EP−A
−0284131号の第6図の新規な変形例においては
、層10の厚さ及び層lO内に形成された条溝36の深
さ及び幅は本発明によって選択される。詳しくはEP−
A−0284131号を参照されたい。しかしなから、
約10μmの厚さの検出器素子でてきた二次元アレイの
場合、信頼性は、例えば周波数40HzにおいてR(%
)か8006と、ある程度減少する。この信頼性におけ
るロスは穴の直径を大きくすること、および/または高
いチョッピング周波数を使い、USP4072863号
公報に記載されているのと同様に検出器素子からの出力
信号を集積することによって改善することかできる。
た穴に形成した底面電極接続体を有している。EP−A
−0284131号の第6図の新規な変形例においては
、層10の厚さ及び層lO内に形成された条溝36の深
さ及び幅は本発明によって選択される。詳しくはEP−
A−0284131号を参照されたい。しかしなから、
約10μmの厚さの検出器素子でてきた二次元アレイの
場合、信頼性は、例えば周波数40HzにおいてR(%
)か8006と、ある程度減少する。この信頼性におけ
るロスは穴の直径を大きくすること、および/または高
いチョッピング周波数を使い、USP4072863号
公報に記載されているのと同様に検出器素子からの出力
信号を集積することによって改善することかできる。
本発明の範囲内において幾多の変形、変更か可能である
。本発明のほとんどの適用分野においで、本体40の材
質、検出器素子20のデザイン及び回路動作を、自然偏
光を示す強磁性結晶化された物質内で温度変化か(例え
ば熱画像である入射赤外線放射3の吸収によって)温度
変化か起こり、強磁性結晶化された物質の反対側の表面
に電荷か生じるという従来のパイロ電気効果を利用する
ように、選択することかできる。パイロ電気性結晶物質
を公知の方法で適当な増幅回路内にキャパシタ(相対向
する面3と4に電極接続体21.22を設けた)として
配置することによっで、電流もしくは電圧信号を発生さ
せ、検出することかできる。有用なパイロ電気物質のほ
とんどはまた強誘電体でもあり、これらの物質はキュリ
ー点遷移温度以下で、パイロ電気位相でパイロ電気特性
を示している。しかしながら、誘電率が温度に伴って急
激に変化するキュリー点範囲内で動作する強誘電物質を
使っで、赤外線検出器を公知の方法で構成するようにし
ても良い。このような強誘電体赤外線検出器素子は、相
対向する面に電極接続体21と22を有するキャパシタ
として構成しても良い。
。本発明のほとんどの適用分野においで、本体40の材
質、検出器素子20のデザイン及び回路動作を、自然偏
光を示す強磁性結晶化された物質内で温度変化か(例え
ば熱画像である入射赤外線放射3の吸収によって)温度
変化か起こり、強磁性結晶化された物質の反対側の表面
に電荷か生じるという従来のパイロ電気効果を利用する
ように、選択することかできる。パイロ電気性結晶物質
を公知の方法で適当な増幅回路内にキャパシタ(相対向
する面3と4に電極接続体21.22を設けた)として
配置することによっで、電流もしくは電圧信号を発生さ
せ、検出することかできる。有用なパイロ電気物質のほ
とんどはまた強誘電体でもあり、これらの物質はキュリ
ー点遷移温度以下で、パイロ電気位相でパイロ電気特性
を示している。しかしながら、誘電率が温度に伴って急
激に変化するキュリー点範囲内で動作する強誘電物質を
使っで、赤外線検出器を公知の方法で構成するようにし
ても良い。このような強誘電体赤外線検出器素子は、相
対向する面に電極接続体21と22を有するキャパシタ
として構成しても良い。
パイロ電気タイプ及び強誘電体タイプの両タイプの検出
器素子は、弾性基板10の上に群にして製造することが
でき、また、双方とも同じ様に可撓性の支持体及び検出
器素子(及び底面電極接続体22)を支持する条溝を設
けたシリコンラバー10から利益を得ており、また基板
に設けられた条溝による熱的絶縁及び弾性基板の物質の
低い熱導電率から利益を受けている。
器素子は、弾性基板10の上に群にして製造することが
でき、また、双方とも同じ様に可撓性の支持体及び検出
器素子(及び底面電極接続体22)を支持する条溝を設
けたシリコンラバー10から利益を得ており、また基板
に設けられた条溝による熱的絶縁及び弾性基板の物質の
低い熱導電率から利益を受けている。
第1図は、本発明の熱放射検出システムの線図的ブロッ
ク図、 第2図は、第1図に示すシステムの熱放射検出器の一実
施例の平面図、 第3図は、第2図に示す検出器の■−■線に沿った断面
図、 第4図は第2図及び第7図に示す検出器の■−■線に沿
った断面図、 第5図は、第4図の断面における基板上の2個の検出器
素子の線図、 第6図は、第3図と同様の断面図であるが、第3図の構
造の検出器の初期の製造工程におけるものを示す図、 第7図は、第2図に示す実施例の変形例である第1図の
システム用の他の実施例を示す平面図、第8図及び第9
図は、本発明の他の実施例を示す(第3図と同様の)断
面図である。 l・・・変調手段 2・・・検出器3・・・熱
放射 4・・・赤外線光学系5・・・信号処
理回路 6・・・表示手段7・・・I/Cユニット エ0・・・基板 11・・・基板第1面12・
・−基板第2面 15.16・・・条溝17・・・凹
部 18.19・・・マウント 20・・・検出器素子 21・・・表面電極22・
・・底面電極 27・・・ワイヤポンディング 40・・・本体 110・・・ヒートシンク 111・・・プラットフォーム支柱 112・・・周辺部 2/3
ク図、 第2図は、第1図に示すシステムの熱放射検出器の一実
施例の平面図、 第3図は、第2図に示す検出器の■−■線に沿った断面
図、 第4図は第2図及び第7図に示す検出器の■−■線に沿
った断面図、 第5図は、第4図の断面における基板上の2個の検出器
素子の線図、 第6図は、第3図と同様の断面図であるが、第3図の構
造の検出器の初期の製造工程におけるものを示す図、 第7図は、第2図に示す実施例の変形例である第1図の
システム用の他の実施例を示す平面図、第8図及び第9
図は、本発明の他の実施例を示す(第3図と同様の)断
面図である。 l・・・変調手段 2・・・検出器3・・・熱
放射 4・・・赤外線光学系5・・・信号処
理回路 6・・・表示手段7・・・I/Cユニット エ0・・・基板 11・・・基板第1面12・
・−基板第2面 15.16・・・条溝17・・・凹
部 18.19・・・マウント 20・・・検出器素子 21・・・表面電極22・
・・底面電極 27・・・ワイヤポンディング 40・・・本体 110・・・ヒートシンク 111・・・プラットフォーム支柱 112・・・周辺部 2/3
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、入射する熱放射に応じて温度が変化する強誘電体及
びパイロ電気物質の双方またはい ずれか一方からなる赤外線検出器素子群と、第1及び第
2の相対向する面を具え、第1 面に前記検出器素子を装着した電気及び熱 絶縁ポリマ物質から成る可撓性基板とを具 える熱放射
検出装置において、前記基板が 弾性物質を有し、前記基板の内部に前記基 板の第1面から条溝を延在させて、可撓性 プラットフォーム領域群を形成し、これら プラットフォーム領域の各の上に検出器素 子がそれぞれ装着されていることを特徴と する熱放射検出器。 2、請求項1に記載の熱放射検出器において、前記弾性
ポリマ物質がシリコンラバーであることを特徴とする熱
放射検出器。 3、請求項1または2に記載の熱放射検出器において、
前記弾性物質が剛固なマウントの少なくともひとつの開
口内に懸垂されいることを特徴とする熱放射検出器。 4、請求項1または2に記載の熱放射検出器において、
前記弾性ポリマ物質が剛固なマウントの表面に支持され
ており、前記マウントが検出器素子が装着されている部
分の下に表面凹部を有していることを特徴とする熱放射
検出器。 5、請求項3又は4に記載の熱放射検出器において、前
記弾性ポリマ物質が前記開口もしくは表面凹部を囲む剛
固なマウントの上側表面上にも延在していることを特徴
とする熱放射検出器。 6、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の熱放射検出
器において、前記弾性基板が、検出器素子の一方の側部
で、前記第1の面の領域内に埋め込まれた薄いガラスマ
ウントを有しており、前記ガラスマウントの上と検出器
素子の下部にある前記弾性基板の第1面の上とに、導電
トラックのパターンを延在させて、検出器素子の底面電
極体を形成したことを特徴とする熱放射検出器。 7、請求項3乃至6のいずれか一項に記載の熱放射検出
器において、弾性基板の第1面上に前記検出器素子から
前記マウントまで導電性トラックのパターンを延在させ
、各トラックがそれぞれの検出器素子の下に延在して検
出器素子に対する底面電極を形成していることを特徴と
する熱放射検出器。 8、請求項6または7に記載の熱放射検出器において、
弾性基板内の条溝の少なくとも数本がマウント内に縦方
向に延在しており、前記導電トラック、が前記基板及び
マウント内に延在する前記条溝によって分離されている
ことを特徴とする熱放射検出器。 9、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の熱放射検出
器において、条溝が前記弾性部材の第1の面内で前記弾
性基板内に型成型で形成されていることを特徴とする熱
放射検出器。 10、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の熱放射検
出器において、前記検出器素子が基板内に形成された条
溝に整列している条溝で分離されていることを特徴とす
る熱放射検出器。 11、請求項1乃至10のいずれか一項に記載の熱放射
検出器と、熱放射検出器素子の前方に設けられ、検出器
素子への熱放射の伝導を周期的に変調して、検出器素子
上に入射する熱放射の伝送周波数を決定する変調手段と
を具える熱放射検出システムであって、前記基板中の条
溝が十分な深さd及び幅wを有しており、(2d+w)
で表される距離が検出器素子上に入射する熱放射に対す
る伝送周波数において、検出器素子から基板内への熱の
流れに対する熱拡散距離と少なくとも同じになるように
前記条溝が形成されていることを特徴とする熱放射検出
システム。 12、入射する熱放射に応じて温度が変化する物質であ
る強誘電体及びパイロ電気物質の双方またはいずれか一
方からなる赤外線検出器素子群と、相対向する第1面及
び第2面を有し、第1面上に検出器素子が装着されてい
る電気及び熱絶縁物質からなる基板と、前記検出器素子
の前方に設けられ、検出器素子への熱放射の伝導を周期
的に変調して、検出器素子上に入射する熱放射の伝送周
波数を決定する変調手段とを具える熱放射検出システム
において、前記基板の第1面が幅w深さdの条溝によっ
て、プラットフォーム領域の群に分割され、これらプラ
ットフォーム領域の各々の上にそれぞれ検出器素子が装
着されおり、前記条溝は、(2d+w)で表される距離
が検出器素子上に入射する熱放射の伝送周波数において
検出器素子から基板内への熱の流れに対する熱拡散距離
と少なくとも同じになるような十分な深さ及び幅である
ことを特徴とする熱放射検出システム。 13、請求項11又は12に記載の熱放射検出システム
において、前記条溝の深さdが、前記伝送周波数におけ
る前記熱拡散距離と少なくともほぼ同じであることを特
徴とする熱放射検出システム。 14、請求項11乃至13のいずれか一項に記載の熱放
射検出システムにおいて、前記基板が、これに隣接する
前記検出素子群の検出器素子用のプラットフォーム領域
と一体になった周辺部を具え、前記検出器素子から基板
の周辺部までの条溝の長さが少なくとも伝送周波数にお
ける熱拡散距離とすくなくともほぼ同じであることを特
徴とする熱放射検出システム。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB898914109A GB8914109D0 (en) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | Thermal-radiation detectors,detection systems and their manufacture |
| GB8914109.7 | 1989-06-20 | ||
| GB9007874A GB2233495A (en) | 1989-06-20 | 1990-04-06 | Thermal-radiation detectors, detection systems and their manufacture |
| GB9007874.2 | 1990-04-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0367136A true JPH0367136A (ja) | 1991-03-22 |
Family
ID=26295509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2162543A Pending JPH0367136A (ja) | 1989-06-20 | 1990-06-20 | 熱放射検出器及び熱放射検出システム |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5099120A (ja) |
| EP (1) | EP0405638A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0367136A (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2233493A (en) * | 1989-06-20 | 1991-01-09 | Philips Electronic Associated | Thermal-radiation detection device manufacture |
| US5293261A (en) * | 1992-12-31 | 1994-03-08 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Device for low electric-field induced switching of Langmuir-Blodgett ferroelecric liquid crystal polymer films |
| US5502307A (en) * | 1994-04-18 | 1996-03-26 | Servo Corporation Of America | Spun cast IR detector arrays and method of making the same |
| US5644838A (en) * | 1995-01-03 | 1997-07-08 | Texas Instruments Incorporated | Method of fabricating a focal plane array for hybrid thermal imaging system |
| US5653537A (en) * | 1995-03-17 | 1997-08-05 | Ircon, Inc. | Non-contacting infrared temperature thermometer detector apparatus |
| US5627112A (en) * | 1995-11-13 | 1997-05-06 | Rockwell International Corporation | Method of making suspended microstructures |
| US5812270A (en) * | 1997-09-17 | 1998-09-22 | Ircon, Inc. | Window contamination detector |
| US6100506A (en) * | 1999-07-26 | 2000-08-08 | International Business Machines Corporation | Hot plate with in situ surface temperature adjustment |
| JP3460810B2 (ja) * | 1999-07-26 | 2003-10-27 | 日本電気株式会社 | 熱分離構造を有する熱型赤外線検出器 |
| JP2004301744A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Denso Corp | 赤外線センサ |
| JP2007255929A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Kyoto Univ | 焦電型赤外線センサ |
| JP5772052B2 (ja) * | 2011-02-23 | 2015-09-02 | セイコーエプソン株式会社 | 焦電型検出器、焦電型検出装置及び電子機器 |
| US9413988B2 (en) * | 2012-07-24 | 2016-08-09 | Fluke Corporation | Thermal imaging camera with graphical temperature plot |
| US10054495B2 (en) | 2013-07-02 | 2018-08-21 | Exergen Corporation | Infrared contrasting color temperature measurement system |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2077034A (en) * | 1980-06-02 | 1981-12-09 | Philips Electronic Associated | Pyroelectric detector with reduced microphony |
| JPS58182523A (ja) * | 1982-04-20 | 1983-10-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 焦電型赤外線検出器の製造方法 |
| GB2206997A (en) * | 1987-07-10 | 1989-01-18 | Philips Electronic Associated | Arrays of pyroelectric or ferroelectric infrared detector elements |
| GB2233493A (en) * | 1989-06-20 | 1991-01-09 | Philips Electronic Associated | Thermal-radiation detection device manufacture |
-
1990
- 1990-06-14 EP EP19900201537 patent/EP0405638A3/en not_active Withdrawn
- 1990-06-19 US US07/540,080 patent/US5099120A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-06-20 JP JP2162543A patent/JPH0367136A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0405638A2 (en) | 1991-01-02 |
| US5099120A (en) | 1992-03-24 |
| EP0405638A3 (en) | 1991-10-23 |
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