JPH0367137A - 表面温度制御装置 - Google Patents

表面温度制御装置

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JPH0367137A
JPH0367137A JP1203533A JP20353389A JPH0367137A JP H0367137 A JPH0367137 A JP H0367137A JP 1203533 A JP1203533 A JP 1203533A JP 20353389 A JP20353389 A JP 20353389A JP H0367137 A JPH0367137 A JP H0367137A
Authority
JP
Japan
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temp
measured
reference plate
detector
temperature
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Pending
Application number
JP1203533A
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English (en)
Inventor
Isao Hishikari
功 菱刈
Yukio Matsui
幸雄 松井
Kazuo Noda
野田 一生
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Chino Corp
Original Assignee
Chino Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、金属等の被測定物の表面温度制御装置に関
するものである。
[従来の技術1 金属等の被測定物を一定温度に加熱する場合、表面温度
測定が必要となり、従来、熱電対を用いて接触式で測温
する方法、あるいは放射温度計を用いて非接触で測温す
る方法がとられていた。
[この発明か解決しようとする課題] 熱な対を用いる方法では、熱電対を取り付けるのに煩雑
となり、また、放射温度計を用いる方法では、被測定物
の放射率等の影響を受けやすく、正確な測温、加熱制御
が困難だった。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、非接触で放射率の
影響を受けない被測定物の表面温度制御装置を提供する
ことである。
[課題を解決するための手段」 この発明は、目標温度とされた参照板を被測定物に近接
して設け、参照板の中央部に設けられた検出器の出力に
基き制御手段で、被測定物の温度を制御するようにした
′i1i、測定物の表面温度制御装置である。
[実施例コ 第1図は、この発明の一実艙例を示す構成説明図である
図において、1は、放射率εm、温度Tmの被測定物で
、この被測定物1に近接して放射率が1、温度Trとさ
れた参照板2が設けられている。参照板2の中央には被
測定物1からの放射エネルギーを検出する検出器3が設
けられ、参照板2のヒータI]を設定手段4により制御
して目標温度Trとしている、検出器3の出力は制御手
段5に入力され、制御手段5は被測定物1が目標温度T
rとなるよう雰囲気温度等を制御する。
つまり、参照板2を十分大きくして外乱光が入射しない
場合、温度Tの黒体相当の放射輝度をL(T)として、
検出器3の出力信号Eは次式で与えられる。
E=εmL (Tm) + (1−6m) L (Tr)      ”・(1
)ここで参照板2の温度を目標温度Trとしておき、検
出器3の出力に基き制御手段5により被測定物1につい
ての温度を制御してTrとなったとすれば、(1)式で
Tm=Trとおき、次式が成り立つ。
E=L(Tr)             ・・・(2
)つまり、被測定物1の温度を制御して検出器3の出力
がL(Tr)のときが、被測定物1の温度が参照板2の
目標温度Trと等しくなったときである。
このようにして、被測定物lの放射率に影響されること
なく被測定物1の温度を制御できる。
ここで、検出器3としてサーモパイル素子を用いると、
サーモパイルの性質上、その出力は、放射エネルギーE
が入射する温接点部と参照板2の温度Tr相当の冷接点
部との温度差に相当する出力であるので、入射エネルギ
ーがL(Tr)であれば、その出力はゼロとなる。
従って、被測定物1の温度を制御してサーモパイル素子
の出力がゼロのとき、被測定物1の温度が参照板2の温
度に等しくなったときである。この出力を利用して制御
を行えばよい。
[発明の効果] 以上により、被測定物の放射率に影響されることなく、
被測定物の温度を目標温度とすることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。 1・・・被測定物、2・・・参照板、3・・・検出器、
4・・・設定手段、5・・・制御手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、被測定物に近接して設けられ目標温度とされた参照
    板と、この参照板の中央部に設けられた検出器と、この
    検出器の出力に基き被測定物についての温度を制御する
    制御手段とを備えたことを特徴とする被測定物の表面温
    度制御装置。
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