JPH0367137A - 表面温度制御装置 - Google Patents
表面温度制御装置Info
- Publication number
- JPH0367137A JPH0367137A JP1203533A JP20353389A JPH0367137A JP H0367137 A JPH0367137 A JP H0367137A JP 1203533 A JP1203533 A JP 1203533A JP 20353389 A JP20353389 A JP 20353389A JP H0367137 A JPH0367137 A JP H0367137A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、金属等の被測定物の表面温度制御装置に関
するものである。
するものである。
[従来の技術1
金属等の被測定物を一定温度に加熱する場合、表面温度
測定が必要となり、従来、熱電対を用いて接触式で測温
する方法、あるいは放射温度計を用いて非接触で測温す
る方法がとられていた。
測定が必要となり、従来、熱電対を用いて接触式で測温
する方法、あるいは放射温度計を用いて非接触で測温す
る方法がとられていた。
[この発明か解決しようとする課題]
熱な対を用いる方法では、熱電対を取り付けるのに煩雑
となり、また、放射温度計を用いる方法では、被測定物
の放射率等の影響を受けやすく、正確な測温、加熱制御
が困難だった。
となり、また、放射温度計を用いる方法では、被測定物
の放射率等の影響を受けやすく、正確な測温、加熱制御
が困難だった。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、非接触で放射率の
影響を受けない被測定物の表面温度制御装置を提供する
ことである。
影響を受けない被測定物の表面温度制御装置を提供する
ことである。
[課題を解決するための手段」
この発明は、目標温度とされた参照板を被測定物に近接
して設け、参照板の中央部に設けられた検出器の出力に
基き制御手段で、被測定物の温度を制御するようにした
′i1i、測定物の表面温度制御装置である。
して設け、参照板の中央部に設けられた検出器の出力に
基き制御手段で、被測定物の温度を制御するようにした
′i1i、測定物の表面温度制御装置である。
[実施例コ
第1図は、この発明の一実艙例を示す構成説明図である
。
。
図において、1は、放射率εm、温度Tmの被測定物で
、この被測定物1に近接して放射率が1、温度Trとさ
れた参照板2が設けられている。参照板2の中央には被
測定物1からの放射エネルギーを検出する検出器3が設
けられ、参照板2のヒータI]を設定手段4により制御
して目標温度Trとしている、検出器3の出力は制御手
段5に入力され、制御手段5は被測定物1が目標温度T
rとなるよう雰囲気温度等を制御する。
、この被測定物1に近接して放射率が1、温度Trとさ
れた参照板2が設けられている。参照板2の中央には被
測定物1からの放射エネルギーを検出する検出器3が設
けられ、参照板2のヒータI]を設定手段4により制御
して目標温度Trとしている、検出器3の出力は制御手
段5に入力され、制御手段5は被測定物1が目標温度T
rとなるよう雰囲気温度等を制御する。
つまり、参照板2を十分大きくして外乱光が入射しない
場合、温度Tの黒体相当の放射輝度をL(T)として、
検出器3の出力信号Eは次式で与えられる。
場合、温度Tの黒体相当の放射輝度をL(T)として、
検出器3の出力信号Eは次式で与えられる。
E=εmL (Tm)
+ (1−6m) L (Tr) ”・(1
)ここで参照板2の温度を目標温度Trとしておき、検
出器3の出力に基き制御手段5により被測定物1につい
ての温度を制御してTrとなったとすれば、(1)式で
Tm=Trとおき、次式が成り立つ。
)ここで参照板2の温度を目標温度Trとしておき、検
出器3の出力に基き制御手段5により被測定物1につい
ての温度を制御してTrとなったとすれば、(1)式で
Tm=Trとおき、次式が成り立つ。
E=L(Tr) ・・・(2
)つまり、被測定物1の温度を制御して検出器3の出力
がL(Tr)のときが、被測定物1の温度が参照板2の
目標温度Trと等しくなったときである。
)つまり、被測定物1の温度を制御して検出器3の出力
がL(Tr)のときが、被測定物1の温度が参照板2の
目標温度Trと等しくなったときである。
このようにして、被測定物lの放射率に影響されること
なく被測定物1の温度を制御できる。
なく被測定物1の温度を制御できる。
ここで、検出器3としてサーモパイル素子を用いると、
サーモパイルの性質上、その出力は、放射エネルギーE
が入射する温接点部と参照板2の温度Tr相当の冷接点
部との温度差に相当する出力であるので、入射エネルギ
ーがL(Tr)であれば、その出力はゼロとなる。
サーモパイルの性質上、その出力は、放射エネルギーE
が入射する温接点部と参照板2の温度Tr相当の冷接点
部との温度差に相当する出力であるので、入射エネルギ
ーがL(Tr)であれば、その出力はゼロとなる。
従って、被測定物1の温度を制御してサーモパイル素子
の出力がゼロのとき、被測定物1の温度が参照板2の温
度に等しくなったときである。この出力を利用して制御
を行えばよい。
の出力がゼロのとき、被測定物1の温度が参照板2の温
度に等しくなったときである。この出力を利用して制御
を行えばよい。
[発明の効果]
以上により、被測定物の放射率に影響されることなく、
被測定物の温度を目標温度とすることかできる。
被測定物の温度を目標温度とすることかできる。
第1図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。 1・・・被測定物、2・・・参照板、3・・・検出器、
4・・・設定手段、5・・・制御手段
。 1・・・被測定物、2・・・参照板、3・・・検出器、
4・・・設定手段、5・・・制御手段
Claims (1)
- 1、被測定物に近接して設けられ目標温度とされた参照
板と、この参照板の中央部に設けられた検出器と、この
検出器の出力に基き被測定物についての温度を制御する
制御手段とを備えたことを特徴とする被測定物の表面温
度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1203533A JPH0367137A (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 表面温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1203533A JPH0367137A (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 表面温度制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0367137A true JPH0367137A (ja) | 1991-03-22 |
Family
ID=16475729
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1203533A Pending JPH0367137A (ja) | 1989-08-04 | 1989-08-04 | 表面温度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0367137A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03221821A (ja) * | 1990-01-26 | 1991-09-30 | Chugai Ro Co Ltd | 物体表面の温度制御方法 |
| EP1744133A1 (de) * | 2005-07-13 | 2007-01-17 | Raytek GmbH | Referenztemperaturvorrichtung |
| WO2008013004A1 (fr) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Procédé de mesure de température et dispositif de mesure de température de plaques d'acier, et procédé de contrôle de température de plaques d'acier |
| JP2008032486A (ja) * | 2006-07-27 | 2008-02-14 | Kobe Steel Ltd | 鋼板の温度測定方法および温度測定装置、ならびに鋼板の温度制御方法 |
| JP2011214979A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Kobe Steel Ltd | 金属板の温度測定装置における参照板の温度制御方法 |
| JP2012229925A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Panasonic Corp | 放射率測定方法、放射率測定装置、検査方法、及び、検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4733722U (ja) * | 1971-05-08 | 1972-12-15 | ||
| JPS5359479A (en) * | 1976-11-09 | 1978-05-29 | Toshiba Corp | Temperature detector |
-
1989
- 1989-08-04 JP JP1203533A patent/JPH0367137A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4733722U (ja) * | 1971-05-08 | 1972-12-15 | ||
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US8812168B2 (en) | 2006-07-27 | 2014-08-19 | Kobe Steel, Ltd. | Temperature measuring method and temperature measuring device of steel plate, and temperature control method of steel plate |
| JP2011214979A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Kobe Steel Ltd | 金属板の温度測定装置における参照板の温度制御方法 |
| JP2012229925A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Panasonic Corp | 放射率測定方法、放射率測定装置、検査方法、及び、検査装置 |
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