JPH0368457B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光デイスクおよびこの光デイスクに
レーザーを照射して各種情報を記録再生する方法
に関するものであり、特に高密度記録に適したア
ドレスを記録した光デイスクおよびそのアドレス
の再生方法に関するものである。

従来の技術 近年、各種情報をデイスクにレーザー光を用い
て記録再生する光デイスクメモリが多く提案され
ている。その中で、記録密度および転送レートを
向上させる記録再生方法として、光デイスクの表
面に、デイスク半径方向の断面がＶ字形となる溝
を形成し、このＶ溝の斜面をトラツクとして信号
の記録再生を行なう方法を提案した。（特願昭58
−175259号） 第２図にＶ溝を持つ光デイスクの半径方向の断
面を示す。第２図のＡとＢ、或いは、ＣとＤ等の
互いに隣り合う２つの斜面に、第３図に示す様に
２つのレーザースポツト１および２を照射する。
これらのレーザーを互いに独立に駆動することに
より、２つの斜面をトラツクとして独立な信号を
記録することができる。記録薄膜３は、例えば
TeOx（ｘ1.1）を用い、レーザーパワーの変化
に従つて反射率を変化させることにより信号の記
録を行なう。

以上のように記録した信号を再生する場合、記
録時と同様に隣り合う２つの斜面にレーザーを再
生パワーとして照射し、２トラツクの信号を同時
に再生する。この再生方式については、前記特許
出願に詳しく示されている様に、Ｖ溝の形状を最
適化すれば、デイスクからの反射光のうち±１次
回折光を中心として受光することにより、隣接斜
面からのクロストークを十分抑制し、１つのトラ
ツクの信号をそれぞれ再生することができる。

また、デイスク上の目的とするトラツクを検索
するため、トラツク上にアドレスを予め記録して
いる。アドレス信号は、第４図に示す様に、溝の
深さを変化させたピツト４を形成することにより
記録する。Ｖ溝を持つデイスクは、Ｖ字形状を持
つカツテイング針で金属原盤をカツテイングし、
この金属原盤からスタンパをとり、スタンパで基
材樹脂を成形して作る。アドレスピツトは、金属
原盤のカツテイング時にカツテイング針をピツト
位置に対応して振動させることにより作成する。

アドレス信号の再生は、ピツトによるＶ溝の深
さの変化で、デイスクから反射した回折光の強度
が変化することを利用して行なうことができる。

発明が解決しようとする問題点 以上のような従来のアドレス記録方式では、第
４図に示す様に、１本のＶ溝にあるトラツクＣ，
Ｄにアドレスピツトを記録しても、隣接するトラ
ツクＢおよびＥとそれぞれ共有する山の稜線αお
よびβが変調されているため、トラツクＢおよび
Ｅの再生信号にクロストークが発生する。

Ｖ溝デイスクの断面を第５図に示す。トラツク
ピツチをPt，Ｖ溝の深さをｄ，Ｖ溝の角度をθ
とする。Ｖ溝形状の一例として次のような形を用
いる。

｛Pt＝λ（λ：レーザー波長） ｄ＝λ／4n（ｎ：基材の屈折率） このとき、tan（θ／２）＝Pt／ｄ＝4n ここで、アドレスピツトのため、Ｖ溝の深さを
Δd変化させた場合、トラツク幅がΔPt変化する
とすれば、上式より、 ΔPt＝１／２Δd tan（θ／２） ＝2n・Δd ……(1) となる。基材の屈折率がｎ＝1.5の場合、(1)式よ
り、ピツトの深さの変化Δdの３倍、トラツク幅
が変化し、稜線はΔPtの２倍変化することにな
る。例えば、Δd＝0.02μmの場合 ２・ΔPt＝0.12μmとなり、トラツクピツチPt
は1μm程度のため、この稜線の変動は、クロスト
ークの大きな要因となる。特に第６図に示す様に
隣接するＶ溝でアドレスが重なるような場合に
は、隣接するアドレス信号の影響により、アドレ
ス信号を読み誤る可能性が高くなる。

本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、ア
ドレス信号間のクロストークをなくし、アドレス
信号を誤りなく再生することができる光デイスク
およびアドレスの記録再生方法を提供することを
目的としている。

問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するため、光デイス
ク上のＶ溝の１本おきに溝の深さを変調してアド
レス信号を記録している。またこの光デイスクの
アドレス信号の再生は、Ｖ溝上の隣接するトラツ
クに２つのレーザースポツトをそれぞれ照射し、
光デイスクからの反射光を２つの光検出器でそれ
ぞれ受光し、各光検出器で再生したアドレス信号
を用いて、補間を行なう。

作 用 本発明による光デイスクでは、上記のように１
本おきの溝にアドレス信号を記録しているため、
アドレス信号間のクロストークは発生しない。

また、この光デイスクのアドレス信号の再生に
おいて、アドレスを記録したＶ溝のトラツクを再
生する場合、前記２つの光検出器は、それぞれ同
じアドレス値のアドレス信号を再生し、アドレス
を記録していないＶ溝のトラツクを再生する場
合、各光検出器は、隣接するＶ溝のアドレス信号
をクロストークにより再生することができ、この
各光検出器の出力から両隣のＶ溝のアドレス値を
求め、これらのアドレス値から補間することによ
り該当するＶ溝のアドレス値を得ることができ
る。

実施例 以下本発明の一実施例について、図面を参照し
ながら説明する。

第７図に本実施例におけるデイスクのフオーマ
ツトを示す。第７図において、５はデイスクの最
外周、６はデイスクの最内周、７は中心穴を表わ
す。最外周５と最内周６に囲まれた部分（図中ａ
で示した範囲）にＶ溝が、同心円状あるいはスパ
イラル状に形成されている。また、ｂ部分はアド
レス領域を表わしている。アドレス領域では、Ｖ
溝の１本おきに溝の深さを変調してアドレス信号
を記録している。アドレス信号は、各Ｖ溝を示す
アドレス値のコード信号、アドレス領域の始点を
示すアドレスマーク信号、コード信号の再生時に
発生したエラーを検出、訂正するためのエラー訂
正符号、クロツク同期信号などで構成する。

以上のような光デイスクのアドレス領域の拡大
図を第１図に示す。第１図において、Ｖ溝イ（ト
ラツクＡ，Ｂ）およびＶ溝ハ（トラツクＥ，Ｆ）
は、Ｖ溝の深さを深くしたアドレスピツトPiでア
ドレス信号を記録している。Ｖ溝ロ（トラツク
Ｃ，Ｄ）にはアドレス信号は記録していない。

まず、Ｖ溝イのアドレス信号を再生する場合に
ついて説明する。レーザースポツト１がトラツク
Ａに、レーザースポツト２がトラツクＢに照射さ
れているとする。各レーザースポツトの反射光
は、光検出器Ｄ１，Ｄ２（第８図に示す）で受光
する。デイスクからの反射光は、トラツク上のア
ドレスピツトにより回折される。そのため、アド
レスピツトの有無により光検出器で受光する反射
光の強度が変化する。この強度変化によりアドレ
ス信号を再生することができる。この場合、２つ
の光検出器Ｄ１，Ｄ２から再生したアドレス信号
は同じアドレス値となる。Ｖ溝ハのアドレス信号
を再生する場合も同様にして行なうことができ
る。

つぎに、Ｖ溝ロのアドレス信号を再生する場合
について説明する。第１図のように、トラツクＣ
にレーザースポツト１を、トラツクＤにレーザー
スポツト２を照射する。トラツクＣは、第１図に
示すようにＶ溝イのアドレスピツトにより稜線α
が削られ、トラツク巾が狭くなる。トラツク巾
（トラツクピツチPt）の変化は、(1)式で示したよ
うにアドレスピツトの深さΔdに比べて大きくな
る。そのため、このアドレスピツトの深さΔdを
ある程度大きくすれば、トラツクＣ上のレーザー
スポツト１でも隣りのＶ溝イのアドレスピツトを
十分に検出することができる。同様に、トラツク
Ｄ上のレーザースポツト２でＶ溝ハのアドレスピ
ツトを検出することができる。この場合、光検出
器Ｄ１ではＶ溝イのアドレス信号が、光検出器Ｄ
２ではＶ溝ハのアドレス信号がそれぞれ再生さ
れ、２つの光検出器で再生したアドレス値は一致
しない。Ｖ溝ロのアドレス値は、再生したＶ溝イ
のアドレス値とＶ溝ハのアドレス値を用いて、補
間により求めることができる。

第８図に本実施例におけるアドレス信号の再生
回路のブロツク図を示す。第８図において、１０
は光検出器Ｄ１，１５は光検出器Ｄ２，１１，１
６はプリアンプ、１２，１７はアドレス領域検出
回路、１３，１８はアドレス復調回路、１４は補
間回路、１９は出力端子である。第１図で説明し
たように、光検出器Ｄ１にはレーザースポツト１
の反射光が入射する。光検出器Ｄ１は、その反射
光を電気信号に変換して出力する。プリアンプ１
１は、光検出器Ｄ１の出力信号を増幅し再生信号
ｐを得る。アドレス領域検出回路１２は再生信号
ｐからアドレス信号内のアドレスマーク信号を検
出し、アドレス領域を示すアドレスゲート信号ｑ
を送出する。アドレス復調回路１３はアドレスゲ
ート信号ｑに従い、再生信号ｐからアドレスコー
ド信号およびエラー訂正符号を検出し、アドレス
コードのエラーを検出および訂正し、該当するト
ラツクのアドレス値ｒを再生する。レーザースポ
ツト２に対しても、以上と同様にして、光検出器
Ｄ２で反射光を受光し、プリアンプ１６で再生信
号ｓを得、アドレス領域検出回路１７は再生信号
ｓからアドレスゲート信号ｔを発生し、この信号
を用いてアドレス復調回路１８は該当するトラツ
クのアドレス値ｕを再生する。補間回路１４は、
入力するアドレス値ｒおよびアドレス値ｕが一致
するかどうかを判定する。一致する場合、その値
を２つのレーザービーム１，２で照射しているＶ
溝のアドレス値ｖとして出力端１９より送出す
る。また、一致しない場合、予め決められた補間
方法に従い、アドレス値ｒおよびアドレス値ｕか
ら該当するＶ溝のアドレス値ｖを求め、これを出
力端１９より送出する。

なお、第８図において、２つのトラツクの再生
信号ｐおよび再生信号ｓは、アドレス信号の再生
以外に記録したデータ信号の再生にも用いるた
め、信号再生回路（図示せず）に送出される。

つぎに、アドレスの補間方法について説明す
る。補間方法はデイスクへのアドレス値の記録方
法に依存する。一例として、デイスクのＶ溝ごと
に１番地ずつ順にアドレス値を割り当てるとす
る。このとき、第１図において、Ｖ溝イのアドレ
ス値をｎ番地（ｎ：整数）とすれば、Ｖ溝ハのア
ドレス値をｎ＋２番地とし、番地ずつ増減させ
る。この場合の補間回路の実施例を第９図に示
す。第９図において、１３，１８はアドレス復調
回路、１４は補間回路、１９は出力端子であり、
これらは第８図で説明した回路と同じものであ
る。２０は加算回路、２１は除算回路である。第
８図で説明したように、アドレス復調回路１３
は、レーザースポツト１が照射するトラツクのア
ドレス値ｒを再生し、アドレス復調回路１８は、
レーザースポツト２が照射するトラツクのアドレ
ス値ｕを再生する。加算回路２０は、アドレス値
ｒとアドレス値ｕの加算を行なう。除算回路２１
は、この加算結果を２で割り、その値を求めるＶ
溝のアドレス値ｖとして出力端子１９より送出す
る。一般に、これらの演算は２進コードで行なう
ため、除算回路２１は、加算結果を１ビツト
LSB側へシフトするだけでよい。この補間回路
で、Ｖ溝イのアドレス信号を再生した場合は、ア
ドレス値ｒ、アドレス値ｕともｎ番地となる。そ
のため、補間処理後のアドレス値ｖもｎ番地とな
る。Ｖ溝ハを再生する場合も同様にしてアドレス
値ｖはｎ＋２番地となる。つぎに、Ｖ溝ロを再生
する場合は、アドレス値ｒはｎ番地となり、アド
レス値ｕはｎ＋２番地となる。補間回路１４で、
これらのアドレス値の加算平均をとることによ
り、Ｖ溝ロのアドレス値ｖはｎ＋１番地として求
めることができる。

アドレス値の記録方法は、デイスクのフオーマ
ツトにより変化する。第１０図にデイスクフオー
マツトの他の例を示す。第１０図において、５は
デイスクの最外周、６はデイスクの最内周、７は
中心穴であり、これらは第７図に示したものと同
じである。第１０図に示すように、デイスクはＫ
個（図ではＫ＝８）のセクタに分割されている。
Ciはｉ番目のセクタセパレータである。データ信
号等の記録再生や検索などにはセクタごとに管理
するのが便利である。そのため、各セクタにアド
レスを割り当てる。この場合、１つのセクタセパ
レータ内で隣接するＶ溝のアドレス値は、ｋ番地
ずつ変化している。このとき、アドレス信号を記
録するＶ溝には2k番地ごと、つまり、ｎ番地の
つぎはｎ＋2k番地となるようにアドレス信号を
記録すれば、第９図で示した補間回路により、各
Ｖ溝のアドレス値を同様にして求めることができ
る。

また、各Ｖ溝のアドレス値が以上のような等差
数列になつていない場合には、第９図に示した補
間回路は使用できない。一般的には、第８図にお
いて補間回路１４をROMで構成することができ
る。予め決められたアドレス値をこのROMに書
き込んでおく。アドレス再生時には、再生したア
ドレス値ｒおよびアドレス値ｕをROMのアドレ
スとして、書き込んだデータを読み出し、これを
求めるべきＶ溝のアドレス値ｖとすればよい。

発明の効果 以上述べてきたように、本発明によれば、Ｖ溝
の１本おきにアドレス信号を記録することによ
り、Ｖ溝間のアドレス信号の干渉を無くすること
ができる。また、アドレス信号の再生時には、隣
接するトラツクからのアドレス信号のクロストー
クを積極的に利用することにより、アドレス信号
を記録していないＶ溝のアドレス値を補間により
求めることができる。このような光デイスクおよ
びアドレスの再生方法を用いることにより、各溝
のアドレス値をより正確に再生することが可能と
なり、実用的にきわめて有用である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例における光デイスク
のアドレス領域を示す図、第２図はＶ溝を持つ光
デイスクの断面を示す図、第３図はＶ溝デイスク
へのレーザースポツトの照射方法を示す図、第４
図および第６図は従来の光デイスクのアドレス領
域を示す図、第５図はＶ溝の断面を示す図、第７
図は本発明の一実施例における光デイスクのフオ
ーマツトを示す図、第８図は本発明の一実施例に
おけるアドレス再生回路を示すブロツク図、第９
図は本発明の一実施例におけるアドレスの補間回
路を示すブロツク図、第１０図は本発明の他の実
施例における光デイスクのフオーマツトを示す図
である。 イ，ロ，ハ……Ｖ溝、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ
……トラツク、Pi……アドレスピツト、１，２…
…レーザースポツト、１０，１５……光検出器、
１３，１８……アドレス復調回路、１４……補間
回路、２０……加算回路、２１……除算回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ デイスク半径方向の断面がＶ字状となるＶ溝
   を有し、前記Ｖ溝の斜面をトラツクとして情報が
   記録され、一本おきのＶ溝に深さを変調してアド
   レスが記録され、アドレスの記録されない隣接Ｖ
   溝のトラツク幅が前記深さ変調により幅変調され
   ていることを特徴とする光デイスク。 ２ 光デイスクのＶ溝に記録されるアドレス値が
   偶数番地ずつ変化して記録されていることを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載の光デイスク。 ３ デイスク半径方向の断面がＶ字状となるＶ溝
   を有し、前記Ｖ溝の斜面をトラツクとして情報が
   記録される光デイスクを用い、記録動作において
   一本おきのＶ溝に深さを変調してアドレスを記録
   するとともに、アドレスの記録されない隣接Ｖ溝
   のトラツク幅を前記深さ変調で幅変調し、再生動
   作において、Ｖ溝の相対するトラツクにそれぞれ
   レーザースポツトを照射し、その反射光を受光器
   でトラツクごとに分離して受光し、前記情報に対
   応する信号を再生するとともに、アドレスが深さ
   変調で記録されたＶ溝では、深さ変化による受光
   量変化からアドレスを再生し、アドレスが深さ変
   調で記録されていないＶ溝では、相対するトラツ
   クのそれぞれにおいて、トラツク幅変化による受
   光量変化からそのトラツクが隣接するＶ溝のアド
   レスを検出し、検出した２つの隣接アドレス値を
   補間することにより該当するＶ溝上のアドレス値
   を得ることを特徴とする光デイスクのアドレス記
   録再生方法。 ４ ２つの光検出器で検出したそれぞれのアドレ
   ス値を加算して２で除算することにより、各Ｖ溝
   のアドレス値を検出することを特徴とする特許請
   求の範囲第３項記載の光デイスクのアドレス記録
   再生方法。