JPH0369095A - 2導体のデータカラムを有する記憶論理アレイに使用する記憶セル - Google Patents
2導体のデータカラムを有する記憶論理アレイに使用する記憶セルInfo
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- JPH0369095A JPH0369095A JP2099482A JP9948290A JPH0369095A JP H0369095 A JPH0369095 A JP H0369095A JP 2099482 A JP2099482 A JP 2099482A JP 9948290 A JP9948290 A JP 9948290A JP H0369095 A JPH0369095 A JP H0369095A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
兄」しど象ぶ
本発明はデジタル論理アレイに使用する記憶セルに関す
るもので、特にfJk積回路として実行され得る記憶論
理アレイに使用する記憶セルに関するものである。
るもので、特にfJk積回路として実行され得る記憶論
理アレイに使用する記憶セルに関するものである。
プログラムに作ることができる論理アレイは、半導体チ
ップ上に複雑な電子回路を備えることができる1つの方
法である。プログラムに作ることができる論理アレイは
、“半導体集積回路”として知られている広い分類のデ
バイスの1つのものである。半注文(ses+icus
Lom )の集積回路とは、所望を容易に゛個人化(p
ersonalize )”され得るデバイスである。
ップ上に複雑な電子回路を備えることができる1つの方
法である。プログラムに作ることができる論理アレイは
、“半導体集積回路”として知られている広い分類のデ
バイスの1つのものである。半注文(ses+icus
Lom )の集積回路とは、所望を容易に゛個人化(p
ersonalize )”され得るデバイスである。
基本片、アンコミッテッド論理アレイ、ゲートアレイ、
及びマクロセルアレイは、異なったタイプの半注文のS
&積回路である。
及びマクロセルアレイは、異なったタイプの半注文のS
&積回路である。
ゲートアレイが、典型的に特定の機能を実行する異なる
電子回路を形成するために相互に接続され得る多数のセ
ルから成る。
電子回路を形成するために相互に接続され得る多数のセ
ルから成る。
マクロセルアレイは、単純なゲートアレイに使用される
ものよりもより高度に複雑化されたセルから形成される
。これら“マクロセル”は完全な所期の機能を実行する
ことができる電子回路ta能を含んでいる。
ものよりもより高度に複雑化されたセルから形成される
。これら“マクロセル”は完全な所期の機能を実行する
ことができる電子回路ta能を含んでいる。
アンコミツブラド論理アレイ(“ULA”)がシリコン
チップ上に繰り返しパターンで配置されたトランジスタ
ーを含む、これらトランジスター間の実際の相互接続は
、最初はおこなわれない。
チップ上に繰り返しパターンで配置されたトランジスタ
ーを含む、これらトランジスター間の実際の相互接続は
、最初はおこなわれない。
かわりに、標準的なULA内の未接続のトランジスター
は、そのULAが実行する実際の回路機能を決定する最
後の処理工程の間に接続される。
は、そのULAが実行する実際の回路機能を決定する最
後の処理工程の間に接続される。
ULA)ランシスターは、随意にいろいろな論理機能を
形成するために接続され得る。これら論理機能は、より
複雑な回路機能を形成するために更に接続され得る。
形成するために接続され得る。これら論理機能は、より
複雑な回路機能を形成するために更に接続され得る。
対照的に、プラグラムに作ることができる論理アレイ(
”PLA”)は2つのアレイの形で通常構成される。A
NDアレイとして知られる1つのアレイが、すべての入
力データが適切なレベルであるときにあらかじめ定めら
れた出力を形成する。
”PLA”)は2つのアレイの形で通常構成される。A
NDアレイとして知られる1つのアレイが、すべての入
力データが適切なレベルであるときにあらかじめ定めら
れた出力を形成する。
他のアレイはORアレイとして知られ、出力を形成する
ために、選択されたANDアレイからの情報を結びつけ
る。PLAは、所期の入力ラインをANDアレイに接続
することによって、及び適当なAND及びORアレイを
相互接続することによってプラグラムが作られる。
ために、選択されたANDアレイからの情報を結びつけ
る。PLAは、所期の入力ラインをANDアレイに接続
することによって、及び適当なAND及びORアレイを
相互接続することによってプラグラムが作られる。
PLAの1つの欠点は、それらPLA内の有用な回路機
能の量が、標準的な集積回路のパッケージの中に配置さ
れ得る多数の入力及び出力ビンによって限定されること
である。ANDアレイへの入力が集積回路チップの外側
で生じるので、ビンはチップの外の信号をチップの内側
の回路機能に接続するために集積回路パッケージ上に備
えられなければならない、同様に、ビンは出力を集積回
路機能からチップの外の他回路機能に接続するために集
積回路パッケージ上に備えられなければならない、集積
回路パッケージの物理的な大きさの限度によって、備え
られるこのような入力及び出力ビンの数は決定される。
能の量が、標準的な集積回路のパッケージの中に配置さ
れ得る多数の入力及び出力ビンによって限定されること
である。ANDアレイへの入力が集積回路チップの外側
で生じるので、ビンはチップの外の信号をチップの内側
の回路機能に接続するために集積回路パッケージ上に備
えられなければならない、同様に、ビンは出力を集積回
路機能からチップの外の他回路機能に接続するために集
積回路パッケージ上に備えられなければならない、集積
回路パッケージの物理的な大きさの限度によって、備え
られるこのような入力及び出力ビンの数は決定される。
このビンの制限に対応して、記憶論理アレイ(SLA”
)として知られる特定の形のPLAが開発されてきた。
)として知られる特定の形のPLAが開発されてきた。
SLAにおいて、メモリー能力を有する°゛記憶セル”
が中間の計算を一時的に記憶するために備えられている
。このようにして、SLAの連続した動作に使用するた
めの、SLA内で生成されたデータがこの中に保有され
得る。
が中間の計算を一時的に記憶するために備えられている
。このようにして、SLAの連続した動作に使用するた
めの、SLA内で生成されたデータがこの中に保有され
得る。
入力及び出力ビンは、チップのこのようなデータ出力を
送る際に、そして再利用のためにそれを元に戻す際にむ
だに使用されない、そのデータは、もはや必要としなく
なるまで、チップ内に単純に保持される。
送る際に、そして再利用のためにそれを元に戻す際にむ
だに使用されない、そのデータは、もはや必要としなく
なるまで、チップ内に単純に保持される。
記憶論理アレイで、フリップフロップとして知られる特
定のタイプのメモリー要素が一般的に使用される。フリ
ップフロップとは、それらの出力状態、例えば所定の入
力信号に応答して高レベルから低レベルに変える電子回
路である。あるレベルで一度セットされたフリップフロ
ップの出力は、池の入力信号によってリセットされるま
で、そのレベルに保たれるだろう、従って、フリップフ
ロップが、その出力が一度あるレベルにセットされるこ
とからメモリー要素として機能し、それは、後の適当な
時点でリセットされるまで、その状態を記憶し保持する
。
定のタイプのメモリー要素が一般的に使用される。フリ
ップフロップとは、それらの出力状態、例えば所定の入
力信号に応答して高レベルから低レベルに変える電子回
路である。あるレベルで一度セットされたフリップフロ
ップの出力は、池の入力信号によってリセットされるま
で、そのレベルに保たれるだろう、従って、フリップフ
ロップが、その出力が一度あるレベルにセットされるこ
とからメモリー要素として機能し、それは、後の適当な
時点でリセットされるまで、その状態を記憶し保持する
。
記憶論理アレイの一般的な統計及び動作は、シュハス・
ニス・ベイテイル(Suhas S、 PaLi1)に
よる1978年1月10日に発行された米国特許第4.
068,214号に開示されている。SLAのすぐれた
説明もまた、ニス・ニス・ベイチル及びティ・エイ・ウ
エルチによる“プログラムに作ることができるVLS
I用の論理アプローチ”の論文(I E E E
T ransactions on
Con uters。
ニス・ベイテイル(Suhas S、 PaLi1)に
よる1978年1月10日に発行された米国特許第4.
068,214号に開示されている。SLAのすぐれた
説明もまた、ニス・ニス・ベイチル及びティ・エイ・ウ
エルチによる“プログラムに作ることができるVLS
I用の論理アプローチ”の論文(I E E E
T ransactions on
Con uters。
1979年9月 C−28巻No、 9,594から6
01ページまで〉に示されている。
01ページまで〉に示されている。
記憶論理アレイは、基本的に、そこで接続される“セル
”を有する多数の直交して配置されるカラム及びロー導
体から構成される。2組のセルが、SLAと共に使用さ
れる。記憶セルは、上述したようなフリップフロップの
ようなメモリー要素を含むもので、SLAカラム内に物
理的に配置されている。論理セルは、SLAのロー及び
カラム導体を相互に接続するために使用される、ブロッ
クに形成された比較的単純な電子回路である。
”を有する多数の直交して配置されるカラム及びロー導
体から構成される。2組のセルが、SLAと共に使用さ
れる。記憶セルは、上述したようなフリップフロップの
ようなメモリー要素を含むもので、SLAカラム内に物
理的に配置されている。論理セルは、SLAのロー及び
カラム導体を相互に接続するために使用される、ブロッ
クに形成された比較的単純な電子回路である。
1又はそれ以上の所定の論理機能に従ってカラムとロー
導体を相互に接続するために論理セルを配置することに
よって、SLAは所定の入力信号又は信号のセットに応
答して所定の出力信号を生成することができる。SLA
の1つの利点は、アレイの選択されたカラム及びローが
、それぞれが異なる役割を遂行する多数の独立したセク
ションに再分割され得ることである0例えば、アレイの
1つのセクションはレジスターとして知られる機能回路
を形成するために使用され得る。他のセクションは制御
回路機能として機能させるために形成され得る。第3の
独立セクションは、数を互いに加える電子加算器を形成
するために使用され得る。これら独立した機能セクショ
ンの各々の中にある特定のフリップフロップは、そのセ
クション内に生成されたデータを記憶するために使用さ
れる。
導体を相互に接続するために論理セルを配置することに
よって、SLAは所定の入力信号又は信号のセットに応
答して所定の出力信号を生成することができる。SLA
の1つの利点は、アレイの選択されたカラム及びローが
、それぞれが異なる役割を遂行する多数の独立したセク
ションに再分割され得ることである0例えば、アレイの
1つのセクションはレジスターとして知られる機能回路
を形成するために使用され得る。他のセクションは制御
回路機能として機能させるために形成され得る。第3の
独立セクションは、数を互いに加える電子加算器を形成
するために使用され得る。これら独立した機能セクショ
ンの各々の中にある特定のフリップフロップは、そのセ
クション内に生成されたデータを記憶するために使用さ
れる。
SLAが、カラム、ロー、選択されたカラム及びローを
相互接続する論理セル、及びカラム内の記憶セルから構
成されることがわかるだろう。
相互接続する論理セル、及びカラム内の記憶セルから構
成されることがわかるだろう。
以前のSLA設計は、データをフリップフロップに出し
入れするために4本の分離した導体を必要とするメモリ
ー要素を有する記憶セルを組み入れていた。これら従来
技術の配置では、分離した導体が、2つのフリップフロ
ップの入力(リセット(“R″)及びセット(“S”)
入力として知られる入力〉のそれぞれに対し、及び、2
つのフリップフロップの出力(“Q”及び”Q”出力と
して知られる出力)のそれぞれに対ルて使用される。デ
ータは、S及びR入力導体によってフリップフロップの
中に移される。データは、Q及びQ出力導体によってフ
リップフロップから移される。
入れするために4本の分離した導体を必要とするメモリ
ー要素を有する記憶セルを組み入れていた。これら従来
技術の配置では、分離した導体が、2つのフリップフロ
ップの入力(リセット(“R″)及びセット(“S”)
入力として知られる入力〉のそれぞれに対し、及び、2
つのフリップフロップの出力(“Q”及び”Q”出力と
して知られる出力)のそれぞれに対ルて使用される。デ
ータは、S及びR入力導体によってフリップフロップの
中に移される。データは、Q及びQ出力導体によってフ
リップフロップから移される。
L及旦旦皿j
本発明は、特別の記憶セルを有するSLAに関し、その
SLAのカラムが2本のデータ導体のみを使用して作動
できるものに関する。このような設計は、記憶セル内の
フリップフロップがデータを送り、受信するために1つ
のカラム内に2本のデータ導体を使用できるので、可能
である。
SLAのカラムが2本のデータ導体のみを使用して作動
できるものに関する。このような設計は、記憶セル内の
フリップフロップがデータを送り、受信するために1つ
のカラム内に2本のデータ導体を使用できるので、可能
である。
本発明は、データを移送するために1つのカラムに必要
な導体の数を減少させることにより、SLA回路機能を
ある大きさの集積回路チップにより圧縮することができ
る1回路機能を集積回路チップの中により配置すること
は、当業者では集積回路の密度を増加することであると
知らされている。
な導体の数を減少させることにより、SLA回路機能を
ある大きさの集積回路チップにより圧縮することができ
る1回路機能を集積回路チップの中により配置すること
は、当業者では集積回路の密度を増加することであると
知らされている。
本発明を利用したSLAの密度は、必要なカラムデータ
導体の数を減少するので、改良される。
導体の数を減少するので、改良される。
各カラムに4本の導体を使用した以前の設計は、集積回
路チップにこれらのデータ導体用の空間を与えなければ
ならない、アレイの各カラムのデータ導体の数を4本か
ら2本に減少させることによって、本発明に従って製造
されたSLAの各カラムはスペースがより減少する。従
って、カラムをSLA内により配置することが可能で、
あるチップの領域の中により多くの回路機能を与えられ
る。
路チップにこれらのデータ導体用の空間を与えなければ
ならない、アレイの各カラムのデータ導体の数を4本か
ら2本に減少させることによって、本発明に従って製造
されたSLAの各カラムはスペースがより減少する。従
って、カラムをSLA内により配置することが可能で、
あるチップの領域の中により多くの回路機能を与えられ
る。
本発明に従うと、2本のデータカラム導体を有する少な
くとも1つのデータカラムを有する集積回路記憶論理ア
レイが与えられる。多数のローは、典型的にデータカラ
ムに実質的に垂直に配置されている。各ローは1本のロ
ー導体を有する。記憶セルはデータカラムと連合して作
動し、メモリー要素及び入力/出力手段を有する。多数
の論理セルが選択されたカラムとローを相互接続する。
くとも1つのデータカラムを有する集積回路記憶論理ア
レイが与えられる。多数のローは、典型的にデータカラ
ムに実質的に垂直に配置されている。各ローは1本のロ
ー導体を有する。記憶セルはデータカラムと連合して作
動し、メモリー要素及び入力/出力手段を有する。多数
の論理セルが選択されたカラムとローを相互接続する。
クロック手段は、多数位相置換クロック信号を発生する
ために備えられている。
ために備えられている。
クロック手段は記憶セル入力/出力手段と連合して作動
し、データカラムへのメモリー要素とデータカラムから
のメモリー要素との間の信号移送をおこなうために、2
本のデータカラム導体の各々を時分割することができる
。データは多数の位相置換クロック信号の1つに応答し
てメモリー要素からデータカラムに移され、データは多
数の位相置換クロック信号の池のものに応答してデータ
カラムからメモリー要素に移される。
し、データカラムへのメモリー要素とデータカラムから
のメモリー要素との間の信号移送をおこなうために、2
本のデータカラム導体の各々を時分割することができる
。データは多数の位相置換クロック信号の1つに応答し
てメモリー要素からデータカラムに移され、データは多
数の位相置換クロック信号の池のものに応答してデータ
カラムからメモリー要素に移される。
炊査犬益舅
本発明は、メモリー要素と結びつけられる各カラム(c
olu* )内に2本のデータ導体のみを有する記憶論
理アレイを備えている。2本の導体のデータカラムを使
用できるということは、幾分は新規なセル設計から生じ
るものである。記憶論理アレイの従来の設計は、入力デ
ータ及びそこからの出力データ用に4本もの導体を必要
とした記憶セルを利用していた。このような従来の設計
において、各々の導体は、セル内のフリップフロップ(
flip−Hop )と結びつく2つの入力信号のそれ
ぞれと、2つの出力信号のそれぞれのために必要とされ
ていた。
olu* )内に2本のデータ導体のみを有する記憶論
理アレイを備えている。2本の導体のデータカラムを使
用できるということは、幾分は新規なセル設計から生じ
るものである。記憶論理アレイの従来の設計は、入力デ
ータ及びそこからの出力データ用に4本もの導体を必要
とした記憶セルを利用していた。このような従来の設計
において、各々の導体は、セル内のフリップフロップ(
flip−Hop )と結びつく2つの入力信号のそれ
ぞれと、2つの出力信号のそれぞれのために必要とされ
ていた。
一組のカラムデータ導体で作動するSLAの3つの異な
る実施例が以下に記載されている。各実施例は、位相置
換クロック信号と共に、2本のデータ導体の各々を時分
割する回路を利用し、その結果各々の導体は、フリップ
フロップから出力したデータを選択された論理セルに伝
えることにも、または選択された論理セルからのデータ
をそのフリップフロップの中に伝えることにも使用でき
る。
る実施例が以下に記載されている。各実施例は、位相置
換クロック信号と共に、2本のデータ導体の各々を時分
割する回路を利用し、その結果各々の導体は、フリップ
フロップから出力したデータを選択された論理セルに伝
えることにも、または選択された論理セルからのデータ
をそのフリップフロップの中に伝えることにも使用でき
る。
従って、データは2本のデータ導体を通って2方向に移
送され得る。
送され得る。
ここで開示される一つの実施例であるSLAの、2本導
体の記憶セルは、6位相クロックが使用されている。4
位相クロックを使用する異なる2本導体の記憶セルが他
の実施例で使用される。しかし、3つの実施例の各々に
共通ずることは、2本のデータ導体のみを有するSLA
データカラムの概念である。
体の記憶セルは、6位相クロックが使用されている。4
位相クロックを使用する異なる2本導体の記憶セルが他
の実施例で使用される。しかし、3つの実施例の各々に
共通ずることは、2本のデータ導体のみを有するSLA
データカラムの概念である。
記憶論理アレイが、第1図にブロック図形として一般的
に示されている。そのアレイは多くのカラム25.35
.45及び55を有している。完全なアレイでは、アレ
イによって戒し遂げられる機能に依存するより多くの、
またはより少ないカラムを使用できる。2本の導体は各
カラム内にある0例えば、カラム25は、導体20及び
22を含んでいる。同様に、カラム35は導体30.3
2を、カラム45は導体40.42を、カラム55は導
体50.52を含んでいる。
に示されている。そのアレイは多くのカラム25.35
.45及び55を有している。完全なアレイでは、アレ
イによって戒し遂げられる機能に依存するより多くの、
またはより少ないカラムを使用できる。2本の導体は各
カラム内にある0例えば、カラム25は、導体20及び
22を含んでいる。同様に、カラム35は導体30.3
2を、カラム45は導体40.42を、カラム55は導
体50.52を含んでいる。
カラム25は、記憶セル28及び多数の論理セル21.
23及び24から成る。記憶セル28はフリップフロッ
プのようなメモリー要素を含んでいる。以下で詳細に記
述するように、記憶セルのメモリー要素がフリップフロ
ップであるとき、カラム25の導体20はS(セット)
入力及びQ出力に接続されてもよい、カラム25の導体
22は、フリップフロップのR(リセット )入力及び
Q出力に接続されてもよい、カラム25のカラム導体2
0及び22における信号は、論理セル21.23及び/
又は24によって、ロー(rom )導体(例えば、第
1図の26.27.29〉のどの組合せへも移され得る
。
23及び24から成る。記憶セル28はフリップフロッ
プのようなメモリー要素を含んでいる。以下で詳細に記
述するように、記憶セルのメモリー要素がフリップフロ
ップであるとき、カラム25の導体20はS(セット)
入力及びQ出力に接続されてもよい、カラム25の導体
22は、フリップフロップのR(リセット )入力及び
Q出力に接続されてもよい、カラム25のカラム導体2
0及び22における信号は、論理セル21.23及び/
又は24によって、ロー(rom )導体(例えば、第
1図の26.27.29〉のどの組合せへも移され得る
。
好適な論理機能のステップを達成するために記憶論理ア
レイを設計する際に、多くの異なった論理セルが使用さ
れる。これら利用できるセルは、°゛1′1′セル″セ
ル、“R”セル、“OR″(“′+”)セル、“1+”
セル、及び“10+”セルとして知られている。
レイを設計する際に、多くの異なった論理セルが使用さ
れる。これら利用できるセルは、°゛1′1′セル″セ
ル、“R”セル、“OR″(“′+”)セル、“1+”
セル、及び“10+”セルとして知られている。
これらのタイプのセルの各々の動作を第1図を参照して
説明する。すでに示されているように、記憶セル28は
フリップフロップの形で、特に、S/Rフリップ゛フロ
ップの形でメモリー要素を含んでいる。この設計の目的
のために、論理セル21が1”セルと仮定する。“1″
セルの目的は、メモリー要素、例えば、記憶セル28内
のフリップフロップの状態を検知すること、及び1”セ
ルをフリップフロップの検知された状態に依存する2進
(binary )’レベルに接続するロー導体を動か
ずことである。従って、ブロック21の°1”セルがカ
ラム導体20の記憶セル28内のフリップフロップの出
力を検知するために形成されるならば、“1”セルが接
続されるロー導体26は適宜に働かされることになる。
説明する。すでに示されているように、記憶セル28は
フリップフロップの形で、特に、S/Rフリップ゛フロ
ップの形でメモリー要素を含んでいる。この設計の目的
のために、論理セル21が1”セルと仮定する。“1″
セルの目的は、メモリー要素、例えば、記憶セル28内
のフリップフロップの状態を検知すること、及び1”セ
ルをフリップフロップの検知された状態に依存する2進
(binary )’レベルに接続するロー導体を動か
ずことである。従って、ブロック21の°1”セルがカ
ラム導体20の記憶セル28内のフリップフロップの出
力を検知するために形成されるならば、“1”セルが接
続されるロー導体26は適宜に働かされることになる。
1つの実施例において、カラム導体20における検知さ
れたフリップフロップの出力が高いならば、1”セルは
ロー導体26を低く働かすことになる。一方、°“1”
セルがカラム導体20にフリップフロップの出力を検知
するならば、“1”セルがロー導体26のレベルを変え
ることを阻止される。
れたフリップフロップの出力が高いならば、1”セルは
ロー導体26を低く働かすことになる。一方、°“1”
セルがカラム導体20にフリップフロップの出力を検知
するならば、“1”セルがロー導体26のレベルを変え
ることを阻止される。
R″及び″S″セルの機能は、ロー導体の状態を検知す
ること、及び記憶セル28内のフリップフロップを適宜
にリセット又はセットすることである。論理セル23は
“S″セル含んでもよい、この例では、゛S″セルはロ
ー導体27の2進状態を検知するだろう、1つの実施例
において、ロー導体の2進状態が高いならば、“S”セ
ルはカラム導体20を低くし、従って記憶セル28内の
フリップフロップをセットする。ロー導体27の2進状
態カ低いならば、フリップフロップはS”セルによって
セットされない。
ること、及び記憶セル28内のフリップフロップを適宜
にリセット又はセットすることである。論理セル23は
“S″セル含んでもよい、この例では、゛S″セルはロ
ー導体27の2進状態を検知するだろう、1つの実施例
において、ロー導体の2進状態が高いならば、“S”セ
ルはカラム導体20を低くし、従って記憶セル28内の
フリップフロップをセットする。ロー導体27の2進状
態カ低いならば、フリップフロップはS”セルによって
セットされない。
結局、論理セル24は“R”セルを含み、このセルはロ
ー導体29の2進状態を検知するため、及び記憶セル2
8内のフリップフロップを適宜にリセッI・することで
ある0例えば、ロー導体29の2進状態が高いならば、
“R″セルはカラム導体22が低くなるようにし、従っ
て、記憶セル28内のフリップフロップをリセットする
。
ー導体29の2進状態を検知するため、及び記憶セル2
8内のフリップフロップを適宜にリセッI・することで
ある0例えば、ロー導体29の2進状態が高いならば、
“R″セルはカラム導体22が低くなるようにし、従っ
て、記憶セル28内のフリップフロップをリセットする
。
OR”(又は“1+”〉セル9、及び“l+”セル及び
IO+”セルの動作は、第1図のカラム35と共に記述
されるだろう0例えば、論理セルは“+”セルからなる
。“+”セルの目的は、対応するロー導体(論理セル3
1に対して、対応するロー導体は26である〉の2進レ
ベルを検知すること、及び対応するカラム導体を適宜に
働がすことである。第1図のブロック31の“+”セル
がカラム導体30とロー導体26との間を相互に接続す
るならば、ロー導体26における高信号を検知する際に
、そのセルはカラム導体3oが低論理レベルとなるよう
にする。他方、ロー導体26の2進状態が低いというこ
とを、そのセルが検知するならば、カラム導体30にお
いて何の効果も生じない。
IO+”セルの動作は、第1図のカラム35と共に記述
されるだろう0例えば、論理セルは“+”セルからなる
。“+”セルの目的は、対応するロー導体(論理セル3
1に対して、対応するロー導体は26である〉の2進レ
ベルを検知すること、及び対応するカラム導体を適宜に
働がすことである。第1図のブロック31の“+”セル
がカラム導体30とロー導体26との間を相互に接続す
るならば、ロー導体26における高信号を検知する際に
、そのセルはカラム導体3oが低論理レベルとなるよう
にする。他方、ロー導体26の2進状態が低いというこ
とを、そのセルが検知するならば、カラム導体30にお
いて何の効果も生じない。
第1図の論理セル33“10+”セルを含んでもよい、
このタイプのセルは、カラム導体の状況を検知するため
、及びロー導体を適宜に働かずために使用される。従っ
て、第1図のブロック33の’IO+”セルがカラム導
体3oに高い2進レベルを検知するならば、ロー導体2
7に何の効果も生じないだろう、しがし、そのセルがカ
ラム導体30において低い2進状態を検知するならば、
セルはロー導体27の2進状態低いレベルにする。
このタイプのセルは、カラム導体の状況を検知するため
、及びロー導体を適宜に働かずために使用される。従っ
て、第1図のブロック33の’IO+”セルがカラム導
体3oに高い2進レベルを検知するならば、ロー導体2
7に何の効果も生じないだろう、しがし、そのセルがカ
ラム導体30において低い2進状態を検知するならば、
セルはロー導体27の2進状態低いレベルにする。
°1+”セルは第1図のブロック34の中に含まれでも
よい、これは、カラム導体、例えばカラム導体30の状
態を検知しロー導体を適宜に働がす、カラム導体30が
高いならば、ロー導体29は低くされる。カラム導体3
oが低いならば、“1+”セルはロー導体29に何の効
果も生じさせない。
よい、これは、カラム導体、例えばカラム導体30の状
態を検知しロー導体を適宜に働がす、カラム導体30が
高いならば、ロー導体29は低くされる。カラム導体3
oが低いならば、“1+”セルはロー導体29に何の効
果も生じさせない。
記憶論理アレイ全体を通して異なったタイプのセルに置
き換えることも、どの所望の論理機能又は機能の組合せ
も得ることができることは、当業者であれば思いつくだ
ろう、従って、本発明の記憶論理アレイは、論理セルの
正しい置き換えにより、どの所望の論理組合せもできる
ように設計され得る。
き換えることも、どの所望の論理機能又は機能の組合せ
も得ることができることは、当業者であれば思いつくだ
ろう、従って、本発明の記憶論理アレイは、論理セルの
正しい置き換えにより、どの所望の論理組合せもできる
ように設計され得る。
いろいろなタイプの論理セルの上述した機能の記載で、
第1図の異なったブロックは異なったセルを表わすため
に使用された。記載されたこれらセルのレイアウトは第
2図に示されている。第2図は、当業者によって使用さ
れる標準的な記憶アレイプログラム表示法で表している
。第2図がられかるように、カラム25及び35が設え
られている。フリップフロップを有する記憶セル28が
カラム25内にある。論理セル21は“1”セルのタイ
プのセルを含んでいる。論理セル23は“S″セルタイ
プのセルを含んでいる。論理セル24は“R”セルのタ
イプのセルを含んでいる。
第1図の異なったブロックは異なったセルを表わすため
に使用された。記載されたこれらセルのレイアウトは第
2図に示されている。第2図は、当業者によって使用さ
れる標準的な記憶アレイプログラム表示法で表している
。第2図がられかるように、カラム25及び35が設え
られている。フリップフロップを有する記憶セル28が
カラム25内にある。論理セル21は“1”セルのタイ
プのセルを含んでいる。論理セル23は“S″セルタイ
プのセルを含んでいる。論理セル24は“R”セルのタ
イプのセルを含んでいる。
カラム35の内には、 “+”工0+“及び“l+”セ
ルをそれぞれ含む3個の論理セル31.33及び35が
ある。この残りの記載を通して、カラム25は“データ
カラム”として引用され、カラム35は”OR” (又
は“+”)カラムとして引用される。第2図に示されて
いる記憶論理アレイを実行するために使用され得る電子
回路の好辿実膝が、第3−第6図に関連して記載される
。
ルをそれぞれ含む3個の論理セル31.33及び35が
ある。この残りの記載を通して、カラム25は“データ
カラム”として引用され、カラム35は”OR” (又
は“+”)カラムとして引用される。第2図に示されて
いる記憶論理アレイを実行するために使用され得る電子
回路の好辿実膝が、第3−第6図に関連して記載される
。
第3図は、第2図のプログラムを成し遂げる6位相2ワ
イヤ動的記憶論理アレイの略示的電子回路である。その
回路は、S積回路に使用されるタイプのシリコンゲート
Nチャネルの酸化金属半導体電界効果トランジスターか
ら構成することができる。第3図の回路に使用された様
々な記憶論理アレイセルは破線内に示されている。
イヤ動的記憶論理アレイの略示的電子回路である。その
回路は、S積回路に使用されるタイプのシリコンゲート
Nチャネルの酸化金属半導体電界効果トランジスターか
ら構成することができる。第3図の回路に使用された様
々な記憶論理アレイセルは破線内に示されている。
記憶セル28は、トランジスター331.333.32
7及び329から構成される一対のクロスカップル静的
インバータを使用するフリップフロップを含んでいる。
7及び329から構成される一対のクロスカップル静的
インバータを使用するフリップフロップを含んでいる。
トランジスター331及び333はデイプリージョンタ
イプのデイバイスである。
イプのデイバイスである。
トランジスター309及び335は、フリップフロップ
が読み取られるときに、静的フリップフロ・y 7の出
力をデータカラム導体20及び22にそれぞれ切りかえ
るために使用される。トランジスター311及び337
は、データがフリップフロップの中へと書き込まれたと
きに、データカラム導体20及び22のそれぞれをフリ
ップフロップに接続するために使用されている。トラン
ジスター305は、データがトランジスター309によ
ってノードAでフリップフロップから読み出される時間
前にデータカラム導体20を前もって帯電させるために
使用される。同様に、トランジスター341は、データ
がトランジスター335によりノードBでフリップフロ
ップから読み出される時間前にデータカラム導体22を
前もって帯電させるために使用される。
が読み取られるときに、静的フリップフロ・y 7の出
力をデータカラム導体20及び22にそれぞれ切りかえ
るために使用される。トランジスター311及び337
は、データがフリップフロップの中へと書き込まれたと
きに、データカラム導体20及び22のそれぞれをフリ
ップフロップに接続するために使用されている。トラン
ジスター305は、データがトランジスター309によ
ってノードAでフリップフロップから読み出される時間
前にデータカラム導体20を前もって帯電させるために
使用される。同様に、トランジスター341は、データ
がトランジスター335によりノードBでフリップフロ
ップから読み出される時間前にデータカラム導体22を
前もって帯電させるために使用される。
l・ランシスター307及び339は、データがトラン
ジスター311を通してノードA及びトランジスター3
37を通してノードBでフリップフロップ内で書き込み
する前にデータカラム導体20及び22をそれぞれ前も
って帯電させるために使用される。データカラム導体2
0及び22は、トランジスター305.307.339
及び341に印加される電圧レベルVDDまで前もって
帯電される。
ジスター311を通してノードA及びトランジスター3
37を通してノードBでフリップフロップ内で書き込み
する前にデータカラム導体20及び22をそれぞれ前も
って帯電させるために使用される。データカラム導体2
0及び22は、トランジスター305.307.339
及び341に印加される電圧レベルVDDまで前もって
帯電される。
ロー導体26.27及び29は、トランジスター313
.315及び317を通してしきい値を引いた電圧レベ
ルVDDまで前もって帯電される。
.315及び317を通してしきい値を引いた電圧レベ
ルVDDまで前もって帯電される。
ロー導体を前もって帯電することは、カラム導体がフリ
ップフロップからのデータ読取りよりも前に前もって帯
電されると同時に生じる。
ップフロップからのデータ読取りよりも前に前もって帯
電されると同時に生じる。
第3図の“+”セル31は“+”セル(OR′)カラム
を前もって帯電するために使用されるトランジスターを
含んでいる。また、“+”セルの中には、トランジスタ
ー345及び347があり、それらトランジスターはそ
れらが接続されているロー導体(ロー導体26)の状態
を検知すること、及び“+”カラムを放電させるか又は
ロー導体26の2進状態に依存してそれを帯電させてお
くかのいずれかをおこなうために使用されている。
を前もって帯電するために使用されるトランジスターを
含んでいる。また、“+”セルの中には、トランジスタ
ー345及び347があり、それらトランジスターはそ
れらが接続されているロー導体(ロー導体26)の状態
を検知すること、及び“+”カラムを放電させるか又は
ロー導体26の2進状態に依存してそれを帯電させてお
くかのいずれかをおこなうために使用されている。
第3図に示されている回路の形状に対しては、ロー導体
26における高信号が“+”カラム30を低下させるだ
ろう、この回路の特定の動作は以下でより詳細に記載さ
れる。
26における高信号が“+”カラム30を低下させるだ
ろう、この回路の特定の動作は以下でより詳細に記載さ
れる。
“1”セルのトランジスター323及び325はデータ
カラム導体20を介してメモリセル28のフリップフロ
ップの状態を検知し、データカラム導体20の2進状態
に依存しながら、ロー導体26を放電し、またはそれを
帯電させたままにしておく。
カラム導体20を介してメモリセル28のフリップフロ
ップの状態を検知し、データカラム導体20の2進状態
に依存しながら、ロー導体26を放電し、またはそれを
帯電させたままにしておく。
S”セル及び“R″セルそれぞれ対をなすトランジスタ
ー319と321、及び361と363から構成されて
いる。これらのトランジスターは、これらの対応するロ
ー導体(”S”セルに対してはロー導体27、“R”セ
ルに対してはロー導体29 〉の状態を検知し、記憶セ
ル28内のフリップフロップを各データカラム20又は
22を低く動かすことによってセットするか、またはリ
セットする。
ー319と321、及び361と363から構成されて
いる。これらのトランジスターは、これらの対応するロ
ー導体(”S”セルに対してはロー導体27、“R”セ
ルに対してはロー導体29 〉の状態を検知し、記憶セ
ル28内のフリップフロップを各データカラム20又は
22を低く動かすことによってセットするか、またはリ
セットする。
“1+”セルは“十″カラム30の状況を検知するため
、及び“+1カラム30の状態に依存してロー29を放
電するか、またはそれを帯電させたままにしておくため
に、トランジスター357及び359を使用する。第3
図に示されているような“IO+“セルはトランジスタ
ー349及び353から構成されている静的インバータ
を含んでいる。その静的インバータは“+”カラム30
におけるデータを逆変換し、トランジスター351を働
かす、トランジスター351.355はノードIで逆変
換された“+”カラムの状況を検知し、ロー27を適宜
に働かす、従って、“+”カラム30が高いと、ノード
Iは低くなり、ロー27は帯電したままである。一方、
“+”カラム30が低いと、ノード■は高くなり、ロー
27は放電される。
、及び“+1カラム30の状態に依存してロー29を放
電するか、またはそれを帯電させたままにしておくため
に、トランジスター357及び359を使用する。第3
図に示されているような“IO+“セルはトランジスタ
ー349及び353から構成されている静的インバータ
を含んでいる。その静的インバータは“+”カラム30
におけるデータを逆変換し、トランジスター351を働
かす、トランジスター351.355はノードIで逆変
換された“+”カラムの状況を検知し、ロー27を適宜
に働かす、従って、“+”カラム30が高いと、ノード
Iは低くなり、ロー27は帯電したままである。一方、
“+”カラム30が低いと、ノード■は高くなり、ロー
27は放電される。
上述した論理セル、並びにロー及びカラムを前もって帯
電するトランジスターのすべてが6位相クロックにっよ
って動的モードで作動される。クロック信号に接続され
るゲートを有する第3図のトランジスターは、それらを
起動する特赦なタロツクの周期に従う表示φ1、φ2、
φ3、φ4、φ5又はφ6によって示されている。
電するトランジスターのすべてが6位相クロックにっよ
って動的モードで作動される。クロック信号に接続され
るゲートを有する第3図のトランジスターは、それらを
起動する特赦なタロツクの周期に従う表示φ1、φ2、
φ3、φ4、φ5又はφ6によって示されている。
本発明に従うと、2本の導体20及び22のみがデータ
カラム25に備えられている。これら2本のカラム導体
は、記憶セル28のフリップフロップから導体20及び
22を経てローへの経路、及びデータカラム導体20.
22をバックアップするローからフリップフロップへの
経路を与えるために時分割される。すでに示したように
、データはフリップフロップから、ノードA及びBで示
された相補入力/出力点(port >で出入りする。
カラム25に備えられている。これら2本のカラム導体
は、記憶セル28のフリップフロップから導体20及び
22を経てローへの経路、及びデータカラム導体20.
22をバックアップするローからフリップフロップへの
経路を与えるために時分割される。すでに示したように
、データはフリップフロップから、ノードA及びBで示
された相補入力/出力点(port >で出入りする。
第3図の“OR”カラムは一本の導体30、すなわち“
IO+”セル内でノードHからノードIに逆変換された
データを保有している。
IO+”セル内でノードHからノードIに逆変換された
データを保有している。
第4図は、第3図の回路を作動させるために必要な6ク
ロック位相を示している。第4図において、6クロック
位相の各々は同じ時間間隔であるが位相が重なり合って
はいない。
ロック位相を示している。第4図において、6クロック
位相の各々は同じ時間間隔であるが位相が重なり合って
はいない。
各クロック周期に関連して回路の動的動作を以下で詳細
に説明する。φ1の間で、ロー26.27及び29の各
々はトランジスター313.315及び317を通って
所定の電圧まで前もって帯電される。前もって帯電され
る電圧は、対応するトランジスター313.315又は
317のしきい値電圧を引いた電源の電圧VDDに等し
くなるだろう、φ1の間に、カラム導体の各々は前もっ
て帯電される。データカラム導体20はトランジスター
305を通って前もって帯電される。帯電される。デー
タカラム導体22はトランジスター341により周期φ
1に前もって帯電される。“+”カラム導体30はトラ
ンジスター343を通って周期φlで前もって帯電され
る。
に説明する。φ1の間で、ロー26.27及び29の各
々はトランジスター313.315及び317を通って
所定の電圧まで前もって帯電される。前もって帯電され
る電圧は、対応するトランジスター313.315又は
317のしきい値電圧を引いた電源の電圧VDDに等し
くなるだろう、φ1の間に、カラム導体の各々は前もっ
て帯電される。データカラム導体20はトランジスター
305を通って前もって帯電される。帯電される。デー
タカラム導体22はトランジスター341により周期φ
1に前もって帯電される。“+”カラム導体30はトラ
ンジスター343を通って周期φlで前もって帯電され
る。
φ2クロック周期の間で、データはトランジスター33
1.333.327及び329によって形成されるフリ
ップフロップからトランジスター309及び335を経
て各データカラム導体20及び22へと移される。従っ
て、フリップフロップのノードAからのデータは、 ト
ランジスター309を経て、ノードCのデータカラム導
体20に移され、一方フリップフロップのノードBから
のデータは、トランジスター335を経てノードDのデ
ータカラム導体22へと移されるだろう。
1.333.327及び329によって形成されるフリ
ップフロップからトランジスター309及び335を経
て各データカラム導体20及び22へと移される。従っ
て、フリップフロップのノードAからのデータは、 ト
ランジスター309を経て、ノードCのデータカラム導
体20に移され、一方フリップフロップのノードBから
のデータは、トランジスター335を経てノードDのデ
ータカラム導体22へと移されるだろう。
データがフリップフロップからデータカラム導体へと移
されるので、データ移転動作は“読み取りサイクル”と
して当業者に知られている。
されるので、データ移転動作は“読み取りサイクル”と
して当業者に知られている。
データはまた、クロック周期φ6の間に、ノードCのデ
ータカラム導体20からトランジスター311を経て接
続点Aのフリップフロップに“書き取られ”得る。同様
に、データはクロック周期φ6の間にデータカラム導体
22のノードDからトランジスター337を経てノード
Bのフリップフロップの中に書き取られ得る。フリップ
フロップに関して読み取りと書き取りの再動作をおこな
わしめるために、対になった平行なトランジスター30
9と311及び335と337を使用することによって
、必要なデータカラム導体は、2本のデータカラム導体
20.22だけとなることがわかるだろう、このことは
、より多くのデータカラム導体、典型的には4本を必要
とする従来の実施例を越えた重要な改良を示すものであ
る。
ータカラム導体20からトランジスター311を経て接
続点Aのフリップフロップに“書き取られ”得る。同様
に、データはクロック周期φ6の間にデータカラム導体
22のノードDからトランジスター337を経てノード
Bのフリップフロップの中に書き取られ得る。フリップ
フロップに関して読み取りと書き取りの再動作をおこな
わしめるために、対になった平行なトランジスター30
9と311及び335と337を使用することによって
、必要なデータカラム導体は、2本のデータカラム導体
20.22だけとなることがわかるだろう、このことは
、より多くのデータカラム導体、典型的には4本を必要
とする従来の実施例を越えた重要な改良を示すものであ
る。
クロック周期φ3の間に、データカラム導体20のデー
タはトランジスター323及び325の動作のためにロ
ー26において“A N D−ed”される、“A N
D−ed”という言葉は、回路の出力がすべての入力
が高いときにのみ高くなることを意味するために、デジ
タル論理回路設計で使用されるプール代数表示である。
タはトランジスター323及び325の動作のためにロ
ー26において“A N D−ed”される、“A N
D−ed”という言葉は、回路の出力がすべての入力
が高いときにのみ高くなることを意味するために、デジ
タル論理回路設計で使用されるプール代数表示である。
第3図かられがるように、クロック周期φ3の間で、ト
ランジスター323は作動する。従って、データカラム
導体20が高く、トランジスター325が作動するなら
ば、ロー26はアースさせられ、従って低い2進状態へ
と放電される。クロック周期φ3のような特定のクロッ
ク周期に応答する他の論理回路が特定のプール関数に従
って記憶論理アレイ全体を通しておきかえられることは
、当業者であれば思いつくであろう、そのアレイは、プ
ール関数に従って設計され実行するものである。
ランジスター323は作動する。従って、データカラム
導体20が高く、トランジスター325が作動するなら
ば、ロー26はアースさせられ、従って低い2進状態へ
と放電される。クロック周期φ3のような特定のクロッ
ク周期に応答する他の論理回路が特定のプール関数に従
って記憶論理アレイ全体を通しておきかえられることは
、当業者であれば思いつくであろう、そのアレイは、プ
ール関数に従って設計され実行するものである。
第3図の回路で、データカラム導体20及び22はクロ
ック周期φ4の間に2度目の帯電が前もっておこなわれ
る。2度目の前もっておこなわれる帯電によって、フリ
ップフロップが続くφ6の時間の間に不適当な状態に確
実にセットされない。
ック周期φ4の間に2度目の帯電が前もっておこなわれ
る。2度目の前もっておこなわれる帯電によって、フリ
ップフロップが続くφ6の時間の間に不適当な状態に確
実にセットされない。
フリップフロップがセットされるか又はリセットされ得
る唯一の方法がノードAか又はノードBのいずれかをア
ースに引っばることなので、クロック周期φ4の間中に
データカラム導体20及び22を前もって帯電させる工
程は、これらカラム導体において過度に生じる正常な放
電のために、フリップフロップが不適当に状態を変える
ことなく防ぐことになる。またφ4周期の間に、トラン
ジスタ345及び347はロー26から“十”カラム3
0にデータを移すことをおこなう。
る唯一の方法がノードAか又はノードBのいずれかをア
ースに引っばることなので、クロック周期φ4の間中に
データカラム導体20及び22を前もって帯電させる工
程は、これらカラム導体において過度に生じる正常な放
電のために、フリップフロップが不適当に状態を変える
ことなく防ぐことになる。またφ4周期の間に、トラン
ジスタ345及び347はロー26から“十”カラム3
0にデータを移すことをおこなう。
クロック周期φ5の間に、データは“+”カラムからロ
ー27に“IO+”セル33のトランジスタ349.3
53.351及び355によって移される。ノード■の
データはノードHのデータの逆変換された状態を表わし
ている。従って、“■0+”セルは、周期φ5の間で“
+”カラム導体30の逆変換された状態をロー27に移
す。
ー27に“IO+”セル33のトランジスタ349.3
53.351及び355によって移される。ノード■の
データはノードHのデータの逆変換された状態を表わし
ている。従って、“■0+”セルは、周期φ5の間で“
+”カラム導体30の逆変換された状態をロー27に移
す。
“1+”セルのトランジスター357及び359は、デ
ータを周期φ5の間で“+“カラム導体30からロー2
9に移す。
ータを周期φ5の間で“+“カラム導体30からロー2
9に移す。
ロー導体が“1”セル21のためにクロック周期φ3の
間に、そして“1+”セル34及び/又は“IO+”セ
ル33のためにクロック周期φ5の間に放電されること
になることがわかるだろう。
間に、そして“1+”セル34及び/又は“IO+”セ
ル33のためにクロック周期φ5の間に放電されること
になることがわかるだろう。
“0″セル〈図示されていない)もまた、セル21のよ
うな“1′セルを、図示されているようなデータカラム
導体20のかわりにデータカラム導体22に相互接続す
ることによって組み立てられる。
うな“1′セルを、図示されているようなデータカラム
導体20のかわりにデータカラム導体22に相互接続す
ることによって組み立てられる。
従って、クロック周期φ5の後に、ローのデータは特定
のローにおいて明示されたすべての“1”“0”
”1+“及び“IO+”の状況の論理“AND”である
、更に、データカラム導体20及び22におけるデータ
は、クロック周期φ6の終端で特定のカラムで明示され
たすべての“S″及び“R″の状況の論理“OR″を表
わしている。
のローにおいて明示されたすべての“1”“0”
”1+“及び“IO+”の状況の論理“AND”である
、更に、データカラム導体20及び22におけるデータ
は、クロック周期φ6の終端で特定のカラムで明示され
たすべての“S″及び“R″の状況の論理“OR″を表
わしている。
クロック周期φ6の間に、メモリーセル28のフリップ
フロップは、トランジスター311又は337を経てデ
ータカラム導体20か22のいずれかによってリセット
される。フリップフロップは、“S”セル(例えば、2
3)がデータカラム導体20を働かしたならばセットさ
れるだろう。
フロップは、トランジスター311又は337を経てデ
ータカラム導体20か22のいずれかによってリセット
される。フリップフロップは、“S”セル(例えば、2
3)がデータカラム導体20を働かしたならばセットさ
れるだろう。
フリップフロップは、“R”セル(例えば、24)がデ
ータカラム導体22を働かしたならば、リセットされる
だろう。
ータカラム導体22を働かしたならば、リセットされる
だろう。
前述した本発明の実施例は、一対の時分割されたデータ
カラム導体を有し、6位相クロックを実施する動的記憶
論理アレイに関するものでった。
カラム導体を有し、6位相クロックを実施する動的記憶
論理アレイに関するものでった。
本発明の他の実施例は、4位相クロックを利用し、一対
の時分裂データカラム導体をもまた利用したものである
。この実施例は、第6図に示された対応するクロック波
形とともに第5図に示されている。
の時分裂データカラム導体をもまた利用したものである
。この実施例は、第6図に示された対応するクロック波
形とともに第5図に示されている。
第5図に示されているように、メモリーセル28は、ト
ランジスター527.529.531及び533から成
るフリップフロップを含んでいる。
ランジスター527.529.531及び533から成
るフリップフロップを含んでいる。
トランジスタ531及び533はデイプリージョン型デ
イバイスである。フリップフロップのノードAはデータ
カラム導体20に接続されている。
イバイスである。フリップフロップのノードAはデータ
カラム導体20に接続されている。
ノードBはデータカラム導体22に接続されている。フ
リップフロップの状態はクロック周期φ3の間で読み出
される。ノードAからデータカラム導体20へとデータ
読み取る際に、トランジスタ509及び511が使用さ
れる。ノードBからデータカラム導体22へとデータを
読み取る際に、トランジスター535及び537が使用
される。
リップフロップの状態はクロック周期φ3の間で読み出
される。ノードAからデータカラム導体20へとデータ
読み取る際に、トランジスタ509及び511が使用さ
れる。ノードBからデータカラム導体22へとデータを
読み取る際に、トランジスター535及び537が使用
される。
データカラム導体20及び22からフリップフロップへ
とデータを書き込むことは、どの特定のクロック周期に
応答しておこることはない、むしろ、データは、カラム
20又は22のいずれかが低く下げられるときに、フリ
ップフロップの中に書き込まれる。データカラム導体2
0が低く下げられるときに、例えば、トランジスター5
07が働く。
とデータを書き込むことは、どの特定のクロック周期に
応答しておこることはない、むしろ、データは、カラム
20又は22のいずれかが低く下げられるときに、フリ
ップフロップの中に書き込まれる。データカラム導体2
0が低く下げられるときに、例えば、トランジスター5
07が働く。
したがって、トランジスター527のドレインは、もは
やトランジスター507によって零電位に保たれない、
このことによりノードAは高くなり、フリップフロップ
はセットされる。また、データカラム導体22が低くな
ると、トランジスタ539は切られ、フリップフロップ
のノードBは高くなり、フリップフロップがリセットさ
れる。第3図に示された実施例を超えるこの実施例の利
点は、データカラム導体20及び22に対して1つだけ
前もって帯電させることである。したがって、クロック
によって必要な発生されるべき位相の数は1つに減る。
やトランジスター507によって零電位に保たれない、
このことによりノードAは高くなり、フリップフロップ
はセットされる。また、データカラム導体22が低くな
ると、トランジスタ539は切られ、フリップフロップ
のノードBは高くなり、フリップフロップがリセットさ
れる。第3図に示された実施例を超えるこの実施例の利
点は、データカラム導体20及び22に対して1つだけ
前もって帯電させることである。したがって、クロック
によって必要な発生されるべき位相の数は1つに減る。
2番目のクロック位相が、φ1とφ2との間の空白の時
間間隔内で5番目のクロック位相を局部的に作ることに
よって省ける。その付加的なりロック位相はφAとして
第6図に示されている。
間間隔内で5番目のクロック位相を局部的に作ることに
よって省ける。その付加的なりロック位相はφAとして
第6図に示されている。
φAはトランジスター561及び563によって独立“
+”カラムごとに対して生成される。トランジスター5
61のソース及びドレインは、電源(VDD)とφAカ
ラム70との間に接続されている。クロック周期φ1の
間で、トランジスタ561は働き、φAカラム70を高
くする。トランジスター563はφAカラムとアースと
の間に接続されたソースとドレインを有している。クロ
ック周期φ2の間で、トランジスター563は働き、φ
Aカラム70を低くする。従って、クロック位相はクロ
ック周期φ1と共に始まり、クロック周期φ2の始まり
で終わる。
+”カラムごとに対して生成される。トランジスター5
61のソース及びドレインは、電源(VDD)とφAカ
ラム70との間に接続されている。クロック周期φ1の
間で、トランジスタ561は働き、φAカラム70を高
くする。トランジスター563はφAカラムとアースと
の間に接続されたソースとドレインを有している。クロ
ック周期φ2の間で、トランジスター563は働き、φ
Aカラム70を低くする。従って、クロック位相はクロ
ック周期φ1と共に始まり、クロック周期φ2の始まり
で終わる。
第5図の実施回路で、データカラム導体20及び22は
、クロック周期φ1に応答してトランジスター505及
び541のそれぞれによって前もって帯電される。デー
タカラム導体20及び22が前もって帯電されるときに
、ノードC及びDは高くなりトランジスター507及び
539のそれぞれは働く、これらトランジスターは、働
いたときに、フリップフロップを静的状態に保つ。
、クロック周期φ1に応答してトランジスター505及
び541のそれぞれによって前もって帯電される。デー
タカラム導体20及び22が前もって帯電されるときに
、ノードC及びDは高くなりトランジスター507及び
539のそれぞれは働く、これらトランジスターは、働
いたときに、フリップフロップを静的状態に保つ。
前のクロック周期φ4の間にセットされたローのデータ
は、トランジスター545及び547によってφ1の間
に“+”カラム30に移され得る。
は、トランジスター545及び547によってφ1の間
に“+”カラム30に移され得る。
第5図かられかるように、これらトランジスターは論理
セルを形成する。その論理セルはロー導体26からデー
タを取り、′+”カラム3oのノードHにそれに従って
2進状態を仮定させる。更に、“十”カラム30におけ
るデータがトランジスター549及び553によって逆
変換されるので、ノードIは“+”カラムのノードHで
のデータの逆を記憶する。ノード■が僅かに負荷される
ので、“+”カラム30からの逆変換されたデータは、
十”カラム30のデータが“1+”セル34に与えられ
ると同じ周期(φ1)の間に“IO+”セル33に与え
られ得る。“+”カラム3oのデータ及びノードIの逆
変換されたデータは、φAが高く、φ1が低いときにロ
ー導体29及び27のそれぞれに移される。この移動は
“IO+”セル33に対してトランジスター551及び
555によって、“1+”セル34に対してはトランジ
スター557及び559によっておこなわれる。
セルを形成する。その論理セルはロー導体26からデー
タを取り、′+”カラム3oのノードHにそれに従って
2進状態を仮定させる。更に、“十”カラム30におけ
るデータがトランジスター549及び553によって逆
変換されるので、ノードIは“+”カラムのノードHで
のデータの逆を記憶する。ノード■が僅かに負荷される
ので、“+”カラム30からの逆変換されたデータは、
十”カラム30のデータが“1+”セル34に与えられ
ると同じ周期(φ1)の間に“IO+”セル33に与え
られ得る。“+”カラム3oのデータ及びノードIの逆
変換されたデータは、φAが高く、φ1が低いときにロ
ー導体29及び27のそれぞれに移される。この移動は
“IO+”セル33に対してトランジスター551及び
555によって、“1+”セル34に対してはトランジ
スター557及び559によっておこなわれる。
それらロー導体はこの同じ時間間隔(φAが高く、φ1
が低いときの間)の間で心(true)になる。
が低いときの間)の間で心(true)になる。
というのは、データカラムの“1”又は“o″セルため
にロー導体におけるあらゆる動作も前のクロック周期φ
4の間ですでに生じ、OR”カラムの下での1+”及び
“0+”セルの動作は現時点の時間間隔の間で生じるか
らである。
にロー導体におけるあらゆる動作も前のクロック周期φ
4の間ですでに生じ、OR”カラムの下での1+”及び
“0+”セルの動作は現時点の時間間隔の間で生じるか
らである。
クロック周期φ2の間で、ロー導体からのデータは、“
S” セル23に対してトランジスター561及び56
3、“R″セル24対してはl・ランシスター561及
び563によってデータカラム導体20.22から取り
出される。データカラム導体20及び22の両方(ノー
ドC及びD)はφ1の間で高い状態に前もって帯電され
る。従って、データカラムのどの“S”又は“R″セル
よって何の動作も生じないならば、データカラム導体は
高く保たれ、フリップフロップは状態を変えない、ある
動作が“S”又は“R”セルによって生じるならば、適
当なカラムが低くされ、トランジスター507又は53
9はフリップフロップが状態を変えるようにスイッチを
切ることになる。 クロック周期φ2に続いて、クロッ
ク周期φ3の間に、ロー導体はトランジスター513.
515及び517のそれぞれによって前もって帯電され
る、同様に、φ3の間で、データは、メモリーセル28
のフリップフロップからデータカラム導体20及び22
に、データカラム導体20に対してはトランジスター5
09.511によって、データカラム導体22に対して
はトランジスター535.537によって移される。
S” セル23に対してトランジスター561及び56
3、“R″セル24対してはl・ランシスター561及
び563によってデータカラム導体20.22から取り
出される。データカラム導体20及び22の両方(ノー
ドC及びD)はφ1の間で高い状態に前もって帯電され
る。従って、データカラムのどの“S”又は“R″セル
よって何の動作も生じないならば、データカラム導体は
高く保たれ、フリップフロップは状態を変えない、ある
動作が“S”又は“R”セルによって生じるならば、適
当なカラムが低くされ、トランジスター507又は53
9はフリップフロップが状態を変えるようにスイッチを
切ることになる。 クロック周期φ2に続いて、クロッ
ク周期φ3の間に、ロー導体はトランジスター513.
515及び517のそれぞれによって前もって帯電され
る、同様に、φ3の間で、データは、メモリーセル28
のフリップフロップからデータカラム導体20及び22
に、データカラム導体20に対してはトランジスター5
09.511によって、データカラム導体22に対して
はトランジスター535.537によって移される。
クロック周期φ4の間に、データはデータカラム導体2
0及び22から“1”又は“0”論理セルで相互に接続
されたロー導体に移される。第5図で示された“1”セ
ル21に対しては、トランジスター523及び525は
、データクロック周期φ4の間でカラム導体20からロ
ー導体26へと移すのを助ける。
0及び22から“1”又は“0”論理セルで相互に接続
されたロー導体に移される。第5図で示された“1”セ
ル21に対しては、トランジスター523及び525は
、データクロック周期φ4の間でカラム導体20からロ
ー導体26へと移すのを助ける。
2導体データカラム記憶論理アレイの4位相の他の手段
が、第7−第9図に記載されている。第7図は、第8図
の回路で実行される記憶論理アレイのプログラムを示し
ている。このプログラムは、“OR”カラムのインバー
タセルが加えられた第2図に示されたものを同じもので
ある。第8図のトランジスター863によって示された
インバータは、“+”カラム30の逆のものである付加
カラム導体32を備えるために使用される。
が、第7−第9図に記載されている。第7図は、第8図
の回路で実行される記憶論理アレイのプログラムを示し
ている。このプログラムは、“OR”カラムのインバー
タセルが加えられた第2図に示されたものを同じもので
ある。第8図のトランジスター863によって示された
インバータは、“+”カラム30の逆のものである付加
カラム導体32を備えるために使用される。
第8図に示されている2本のデータカラム導体5を有す
る4位相動的−静的記憶論理アレイは、第5図の4位相
動的記憶論理アレイで使用されているものと同じ静的フ
リップフロップセルを使用している。第8図の回路もま
た、第5図に示された回路手段に使用されているものと
同一の“1”セル21、′S”セル23及び“R”セル
24を使用している。第8図の“+”セル31は、1つ
のトランジスター845から成り、そのトランジスター
845は、ロー導体、この場合ロー導体26からデータ
を取り出し、逆変換し、“+“カラム30にそれを与え
る。
る4位相動的−静的記憶論理アレイは、第5図の4位相
動的記憶論理アレイで使用されているものと同じ静的フ
リップフロップセルを使用している。第8図の回路もま
た、第5図に示された回路手段に使用されているものと
同一の“1”セル21、′S”セル23及び“R”セル
24を使用している。第8図の“+”セル31は、1つ
のトランジスター845から成り、そのトランジスター
845は、ロー導体、この場合ロー導体26からデータ
を取り出し、逆変換し、“+“カラム30にそれを与え
る。
従って、“+”カラムデータは、トランジスター843
.861及び863から成る“■”セル36で逆変換さ
れる。逆変換された“十”カラムデータは、ノード■の
逆変換された“+”カラム導体32上に現れる。この“
+”カラムの動作が静的であるので、“十”カラム導体
30及び逆変換された“+”カラム導体32からのデー
タは、第5図の4位相動的記憶論理アレイ回路でおこな
ったように、クロック周期φ1とφ2の間の時間間隔の
かわりに、クロック周期φ1の間で、相互に接続された
ロー導体に移される。
.861及び863から成る“■”セル36で逆変換さ
れる。逆変換された“十”カラムデータは、ノード■の
逆変換された“+”カラム導体32上に現れる。この“
+”カラムの動作が静的であるので、“十”カラム導体
30及び逆変換された“+”カラム導体32からのデー
タは、第5図の4位相動的記憶論理アレイ回路でおこな
ったように、クロック周期φ1とφ2の間の時間間隔の
かわりに、クロック周期φ1の間で、相互に接続された
ロー導体に移される。
第9図は、第8図の回路に使用された4位相クロック波
形の各々を示している。第8図の回路の実施例は、第5
図の示されている実施例と同様に作動する。これら2つ
の回路の間の違いは一1第5図の回路で必要とされた、
局部的に発生されたクロック位相、φAが第8図の回路
では必要とされない点である。しかし、第8図の回路は
、“+“カラム導体30及び逆変換された“+”カラム
導体32が静的プルアップ(puliup> トランジ
スター843及び861によって鋤がされることを必要
としていない、第5図の実施例で、動的プルアップトラ
ンジスター543及び561は“OR”カラム導体を前
もって帯電するために使用された。
形の各々を示している。第8図の回路の実施例は、第5
図の示されている実施例と同様に作動する。これら2つ
の回路の間の違いは一1第5図の回路で必要とされた、
局部的に発生されたクロック位相、φAが第8図の回路
では必要とされない点である。しかし、第8図の回路は
、“+“カラム導体30及び逆変換された“+”カラム
導体32が静的プルアップ(puliup> トランジ
スター843及び861によって鋤がされることを必要
としていない、第5図の実施例で、動的プルアップトラ
ンジスター543及び561は“OR”カラム導体を前
もって帯電するために使用された。
第8図の静的な実施例で、ノードH及びIはしっかりと
負荷される。従って、重要な量の電力が、第5図の動的
回路にある対応するノードと比較してこれらノードを働
かすために必要となるだろう。
負荷される。従って、重要な量の電力が、第5図の動的
回路にある対応するノードと比較してこれらノードを働
かすために必要となるだろう。
第5図に示された回路よりも第8図に示された回路のす
ぐれた点は、クロック機構がより単純であるところであ
る。第8図のクロック機構は、在来の4位相機構である
のに対し、第5図の4位相動的回路は、5番目の位相が
局部的に発生される事実上5位相機構であった。更に、
第8図の静的−動的記憶論理アレイの利点は、単純な構
成の“IO+”セル33にある。第8図に示されている
ように、論理セル33は2つのトランジスター851及
び855のみから構成される0、シかし、第5図に示さ
れた“IO+”セル33は4つのトランジスター549
.551.553及び555を必要とする。
ぐれた点は、クロック機構がより単純であるところであ
る。第8図のクロック機構は、在来の4位相機構である
のに対し、第5図の4位相動的回路は、5番目の位相が
局部的に発生される事実上5位相機構であった。更に、
第8図の静的−動的記憶論理アレイの利点は、単純な構
成の“IO+”セル33にある。第8図に示されている
ように、論理セル33は2つのトランジスター851及
び855のみから構成される0、シかし、第5図に示さ
れた“IO+”セル33は4つのトランジスター549
.551.553及び555を必要とする。
本発明のいくつかの実施例が、ここで記載されたけれど
も、いろいろな変形例を作れることはわかるだろう、こ
れらの変形例のすべては、特許請求の範囲によって示さ
れた本発明の範囲でカバーされるだろう。
も、いろいろな変形例を作れることはわかるだろう、こ
れらの変形例のすべては、特許請求の範囲によって示さ
れた本発明の範囲でカバーされるだろう。
第1図は、記憶論理アレイを一般的に示すブロック図で
ある。 第2図は、標準的な記憶論理アレイプログラムである。 第3図は、6位相2ワイヤ動的記憶論理アレイの略示電
子回路図である。 第4図は、第3図の回路を作動するのに必要な6位相を
示す図である。 第5図は、4位相クロックを使用した本発明の他の実施
例を示す電子回路図である。 第6図は、クロック波形図である。 第7図は記憶論理アレイプログラムである。 第8図は、静的−動的記憶論理アレイ回路図である。 第9図は、第8図の回路に使用した4位相クロック波形
図である。 〔主要符号の説明〕 20.22.30.32.40.42.50゜52・・
・カラム導体 26.27.29、・・・ロー導体 25.35.45.55・・・カラム 21.23.24.31.33.34.41.43.4
4.51.53.54・・・論理セル28.48・・・
記憶セル ASB、C,D、E、F%G、H,1,J・・・ノード
ある。 第2図は、標準的な記憶論理アレイプログラムである。 第3図は、6位相2ワイヤ動的記憶論理アレイの略示電
子回路図である。 第4図は、第3図の回路を作動するのに必要な6位相を
示す図である。 第5図は、4位相クロックを使用した本発明の他の実施
例を示す電子回路図である。 第6図は、クロック波形図である。 第7図は記憶論理アレイプログラムである。 第8図は、静的−動的記憶論理アレイ回路図である。 第9図は、第8図の回路に使用した4位相クロック波形
図である。 〔主要符号の説明〕 20.22.30.32.40.42.50゜52・・
・カラム導体 26.27.29、・・・ロー導体 25.35.45.55・・・カラム 21.23.24.31.33.34.41.43.4
4.51.53.54・・・論理セル28.48・・・
記憶セル ASB、C,D、E、F%G、H,1,J・・・ノード
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、複数のカラム、該カラム間を相互連結する複数のロ
ー、およびカラムを時分割するために複数のクロック信
号を発生するクロック手段を有する記憶論理アレイに使
用する記憶セルであって、 a)前記カラムにそれぞれ接続される一対のデータカラ
ム導体と、 b)一対の入力/出力接続口を有するメモリー要素であ
って、その接続口の各々が前記 データカラム導体のそれぞれに結合すると ころのメモリー要素と、 c)前記クロック手段からのクロック信号に起因してデ
ータを前記メモリー要素から前 記データカラム導体に移すための、前記接 続口に連結された手段と、 d)前記クロック手段からのクロック信号に起因してデ
ータを前記データカラム導体か ら前記メモリー要素に移すための、前記接 続口に連結された手段と、 から成る記憶セル。 2、特許請求の範囲第1項記載の記憶セルであつて、 前記メモリー要素がフリップフロップであ る、ところの記憶セル。 3、特許請求の範囲第2項に記載の記憶セルであつて、 前記フリップフロップにデータを移す手段 が、前記データカラム導体のそれぞれに対して、前記フ
リップフロップの接続口と前記データカラム導体との間
に連結され、データカラム導体の2進状態が低下したと
き、その各フリップフロップの接続口を高くさせるため
に調節された、少なくとの1つのトランジスターから成
る記憶セル。 4、複数のカラム、該カラム間を相互連結する複数のロ
ー、およびカラムを時分割するために複数のクロック信
号を発生するクロック手段を有する記憶論理アレイに使
用する記憶セルであって、 a)前記カラムにそれぞれ接続される一対のデータカラ
ム導体と、 b)第1および第2入力/出力ノードを有するメモリー
要素と、 c)一対の第1トランジスターであつて。 各トランジスターが制御電極並びに第1 および第2出力電極を有し、 前記両第1出力電極が前記第1入力/出 力ノードに接続され、前記両第2出力電極 が前記データカラム導体の1つと接続され る、ところのトランジスターと、 d)前記第1トランジスターの一方の制御電極を前記ク
ロック手段からの第1クロック 信号に結合させる手段と、 e)前記第1トランジスターの他方の制御電極を前記ク
ロック手段からの第2クロック 信号に結合させる手段と、 f)一対の第2トランジスターであつて、 各トランジスターが制御電極並びに第1 および第2出力電極を有し、 前記両第1出力電極が前記第2入力/出 力ノードに接続され、前記両第2出力電極 が前記データカラム導体の他方と接続され る、ところのトランジスターと、 g)前記第2トランジスターの一方の制御電極を前記ク
ロック手段からの第1クロック 信号に結合させる手段と、 h)前記第2トランジスターの他方の制御電極を前記ク
ロック手段からの第2クロック 信号に結合させる手段と、 から成る記憶セル。 5、特許請求の範囲第4項記載の記憶セルであって、 前記メモリー要素がフリップフロップであ る、ところの記憶セル。 6、特許請求の範囲第5項に記載の記憶セルであって、 前記フリップフロップが、 それぞれが制御電極および一対の出力電極を有する第1
、第2、第3および第4トランジスターから成り、前記
第1および第2トランジスターのそれぞれの1つの出力
電極が、前記第1ノードおよび前記第4トランジスター
の制御電極に接続され、前記第3および第4トランジス
ターのそれぞれの1つの出力電極が、前記第2ノードお
よび前記第2トランジスターの制御電極に接続され、前
記第1トランジスターの制御電極が、前記第1ノードに
接続され、前記第3トランジスターの制御電極が、前記
第2ノードに接続されるところのトランジスターと、 前記第1および第2トランジスターの残り の出力電極、並びに前記第3および第4トランジスター
の残りの出力電極に電源を接続する手段と、 から成る、ところの記憶セル。 7、複数のカラム、該カラム間を相互連結する複数のロ
ー、およびカラムを時分割するために周期的信号を発生
するクロック手段を有する記憶論理アレイに使用する記
憶セルであって、 a)前記カラムにそれぞれ接続される一対のデータカラ
ム導体と、 b)第1および第2入力ノード、並びに第1および第2
出力ノードを有するメモリー要 素と、 c)前記データカラム導体の1つに接続された制御電極
、前記第1入力ノードに接続さ れた第1出力電極、およびアースされた第 2出力電極を有する第1トランジスターと、d)前記第
1出力ノードに接続された制御電極、前記データカラム
導体の1つに接続さ れた第1出力電極、および第2出力電極を 有する第2トランジスターと、 e)前記第2トランジスターの第2出力電極を前記クロ
ック手段からの周期的な信号に 応答してアースする第1手段と、 f)前記第1トランジスターが接続されていない前記デ
ータカラム導体に接続された制 御電極、前記第2入力ノードに接続された 第1出力電極、およびアースされた第2出 力電極を有する第3トランジスターと、 g)前記第1出力ノードに接続された制御電極、前記デ
ータカラム導体の1つに接続さ れた第1出力電極、前記第2トランジスタ ーが接続されていないデータカラム導体に 接続された第1出力電極、および第2出力 電極を有する第4トランジスターと、 h)前記第4トランジスターの第2出力電極を前記クロ
ック手段からの周期的な信号に 応答してアースする第2手段と、 から成る記憶セル。 8、特許請求の範囲第7項に記載の記載のセルであつて
、 前記第2トランジスターの第2出力電極を 前記クロック手段からの周期的な信号に応答してアース
する第1手段が、前記クロック手段からの周期的な信号
に連結される制御電極、および前記第2トランジスター
の第2出力電極とアースとの間に連結される一対の出力
電極を有するトランジスターから成り、 前記第4トランジスターの第2出力電極を 前記クロック手段からの周期的な信号に応答してアース
する第2手段が、前記クロック手段からの周期的な信号
に連結される制御電極、および前記第4トランジスター
の第2出力電極とアースとの間に連結される一対の出力
電極を有するトランジスターから成る、 ところの記憶セル。 9、特許請求の範囲第8項に記載の記憶セルであって、 前記メモリー要素がフリップフロップであ る、ところの記憶セル。 10、特許請求の範囲第9項に記載の記憶セルであって
、 前記フリップフロップが、 それぞれが制御電極および一対の出力電極を有する第5
、第6、第7および第8トランジスターから成り、前記
第5および第6トランジスターのそれぞれの1つの出力
電極が、前記第1ノードおよび前記第8トランジスター
の制御電極に接続され、前記第7および第8トランジス
ターのそれぞれの1つの出力電極が、前記第2ノードお
よび前記第6トランジスターの制御電極に接続され、前
記第5トランジスターの制御電極が、前記第1ノードに
接続され、前記第7トランジスターの制御電極が、前記
第2ノードに接続され、前記第6トランジスターの残り
の出力電極が前記第1入力ノードに接続され、前記第8
トランジスターの残りの出力電極が、前記第2入力ノー
ドに接続される、ところのトランジスターと、前記第5
および第7トランジスターの残り の出力電極に電源を接続する手段と、 から成る、ところの記憶セル。
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