JPH0369914A - 液晶ディスプレイの修正装置 - Google Patents
液晶ディスプレイの修正装置Info
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- JPH0369914A JPH0369914A JP20475789A JP20475789A JPH0369914A JP H0369914 A JPH0369914 A JP H0369914A JP 20475789 A JP20475789 A JP 20475789A JP 20475789 A JP20475789 A JP 20475789A JP H0369914 A JPH0369914 A JP H0369914A
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- Japan
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- liquid crystal
- crystal display
- optical system
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- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は液晶ディスプレイの修正装置に関する。
(従来の技術)
第゛8図は液晶ディスプレイの構成図であって、このデ
ィスプレイはスペーサ1を支持体として透光性基板とし
ての平板状の各ガラス基板2.3を対向配置し、これら
スペーサ1とガラス基板2との間を通して共通電極4を
ガラス基板2.3の間に導入し、かつガラス基板3上に
複数の画素電極5−1.5−2・・・を平面状に配置し
て共通電極4と各画素電極5−1.5−2・・・とが対
向配置されるようになっている。そして、共通電極4と
ガラス基板2との間における各画素電極5−1.5−2
・・・と対応する部位にはそれぞれ光の3原色の各単色
のカラーフィルタ6−1.6−2・・・が配置されてい
る。そうして、共通電極4と各画素電極5−1.5−2
・・・との間にそれぞれ配向膜7,8が配置され、これ
ら配向膜7,8の間に液晶9が封入されている。なお、
10−1.10−2・・・は薄膜トランジスタである。
ィスプレイはスペーサ1を支持体として透光性基板とし
ての平板状の各ガラス基板2.3を対向配置し、これら
スペーサ1とガラス基板2との間を通して共通電極4を
ガラス基板2.3の間に導入し、かつガラス基板3上に
複数の画素電極5−1.5−2・・・を平面状に配置し
て共通電極4と各画素電極5−1.5−2・・・とが対
向配置されるようになっている。そして、共通電極4と
ガラス基板2との間における各画素電極5−1.5−2
・・・と対応する部位にはそれぞれ光の3原色の各単色
のカラーフィルタ6−1.6−2・・・が配置されてい
る。そうして、共通電極4と各画素電極5−1.5−2
・・・との間にそれぞれ配向膜7,8が配置され、これ
ら配向膜7,8の間に液晶9が封入されている。なお、
10−1.10−2・・・は薄膜トランジスタである。
かかる構成のディスプレイにおいてカラー表示する場合
は、図示しない光源からの光Qをガラス基板3を通して
液晶9内に照射する。この状態に共通電極4と所定の画
素電極5−1.5−2・・・との間に電圧を印加すると
、その画素部位においてカラーフィルタ6−1.6−2
・・・の波長の光が通過することになる。
は、図示しない光源からの光Qをガラス基板3を通して
液晶9内に照射する。この状態に共通電極4と所定の画
素電極5−1.5−2・・・との間に電圧を印加すると
、その画素部位においてカラーフィルタ6−1.6−2
・・・の波長の光が通過することになる。
ところで、このような液晶ディスプレイの製造工程にお
いては、液晶9の封入する際に第9図に示すように導電
性の異物11が混入する場合がある。このように異物1
1が混入すると、例えば共通電極4と画素電極5−2と
の間を短絡し、トランジスタ10−2のオン・オフによ
る制御ができなくなって常に画素電極5−2の部位で光
Qが透過してしまう。
いては、液晶9の封入する際に第9図に示すように導電
性の異物11が混入する場合がある。このように異物1
1が混入すると、例えば共通電極4と画素電極5−2と
の間を短絡し、トランジスタ10−2のオン・オフによ
る制御ができなくなって常に画素電極5−2の部位で光
Qが透過してしまう。
ところで、このような状態は液晶ディスプレイとして不
良品として除外されるものである。このため、このよう
な不良品を除外するために検査が行なわれるが、この検
査は液晶ディスプレイの製造の最終工程が終了してから
行なわれている。従って、異物11による欠陥が検出さ
れた場合にはその液晶ディスプレイを不良品とすること
になり、その発生量は数%にも及んでいる。
良品として除外されるものである。このため、このよう
な不良品を除外するために検査が行なわれるが、この検
査は液晶ディスプレイの製造の最終工程が終了してから
行なわれている。従って、異物11による欠陥が検出さ
れた場合にはその液晶ディスプレイを不良品とすること
になり、その発生量は数%にも及んでいる。
そこで、以上のような液晶ディスプレイの欠陥を救済し
て良品とすることが行なわれており、この救済方法はレ
ーザ光を直接異物11に照射して異物11を破壊して細
かく分解するものである。
て良品とすることが行なわれており、この救済方法はレ
ーザ光を直接異物11に照射して異物11を破壊して細
かく分解するものである。
ところが、このような救済方法では異物11が破壊せず
に別の場所に移動してそこで各電極4と5−1.5−2
との間を短絡したり、又破壊された異物11の破片が散
乱してかえって欠陥箇所を増加することもある。
に別の場所に移動してそこで各電極4と5−1.5−2
との間を短絡したり、又破壊された異物11の破片が散
乱してかえって欠陥箇所を増加することもある。
(発明が解決しようとする課8)
以上のように異物11により短絡の欠陥を救済する方法
が行なわれているが、異物11が破壊されずに他の箇所
で新たに欠陥を作ったり、又異物11の破片が散乱して
欠陥箇所を増加するものであった。従って、欠陥を確実
に修復できるものではなかった。
が行なわれているが、異物11が破壊されずに他の箇所
で新たに欠陥を作ったり、又異物11の破片が散乱して
欠陥箇所を増加するものであった。従って、欠陥を確実
に修復できるものではなかった。
そこで本発明は、導電性の異物による各電極間の短絡の
欠陥を確実に修復できる液晶ディスプレイの修正装置を
提供することを目的とする。
欠陥を確実に修復できる液晶ディスプレイの修正装置を
提供することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、レーザ発振器と、このレーザ発振器から出力
されるレーザ光のアライメント光を放射するアライメン
ト用光源と、レーザ発振器から出力されたレーザ光及び
アライメント用光源から放射されたアライメント光の照
射軌跡をそれぞれ閉曲線に形成する照射形成光学系と、
液晶ディスプレイを載置しXY平面上を移動自在なXY
テーブルと、液晶ディスプレイを駆動する駆動手段と、
照射形成光学系で閉曲線に形成されたレーザ光及びアラ
イメント光を液晶ディスプレイの所定位置に結像する結
像光学系と、この結像光学系を通して液晶ディスプレイ
を照明する落射照明と、結像光学系を通して液晶ディス
プレイを撮像する撮像装置と、この撮像装置からの画像
信号を受けて画像化して液晶ディスプレイにおける導電
性異物の入り込んだ電極を検出するためのモニタとを備
えて上記目的を達成しようとする液晶ディスプレイの修
正装置である。
されるレーザ光のアライメント光を放射するアライメン
ト用光源と、レーザ発振器から出力されたレーザ光及び
アライメント用光源から放射されたアライメント光の照
射軌跡をそれぞれ閉曲線に形成する照射形成光学系と、
液晶ディスプレイを載置しXY平面上を移動自在なXY
テーブルと、液晶ディスプレイを駆動する駆動手段と、
照射形成光学系で閉曲線に形成されたレーザ光及びアラ
イメント光を液晶ディスプレイの所定位置に結像する結
像光学系と、この結像光学系を通して液晶ディスプレイ
を照明する落射照明と、結像光学系を通して液晶ディス
プレイを撮像する撮像装置と、この撮像装置からの画像
信号を受けて画像化して液晶ディスプレイにおける導電
性異物の入り込んだ電極を検出するためのモニタとを備
えて上記目的を達成しようとする液晶ディスプレイの修
正装置である。
(作用)
このような手段を備えたことにより、アライメント用光
源からのアライメント光は照射形成光学系により閉曲線
の照射軌跡となるように形成されて結像光学系を通して
液晶ディスプレイに照射され、この状態に撮像装置によ
り撮像された液晶ディスプレイ像をモニタテレビジョン
に映し出してアライメント光を液晶ディスプレイの導電
性異物が入り込んだ各電極のうち画素電極において異物
を囲むように位置決めする。この後にレーザ発振器から
出力されたレーザ光がアライメント光と同一光路を通っ
て液晶ディスプレイに照射され、異物が接触する閉曲線
内の部分と外の部分とが電気的に絶縁される。
源からのアライメント光は照射形成光学系により閉曲線
の照射軌跡となるように形成されて結像光学系を通して
液晶ディスプレイに照射され、この状態に撮像装置によ
り撮像された液晶ディスプレイ像をモニタテレビジョン
に映し出してアライメント光を液晶ディスプレイの導電
性異物が入り込んだ各電極のうち画素電極において異物
を囲むように位置決めする。この後にレーザ発振器から
出力されたレーザ光がアライメント光と同一光路を通っ
て液晶ディスプレイに照射され、異物が接触する閉曲線
内の部分と外の部分とが電気的に絶縁される。
(実施例)
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は液晶ディスプレイの修正装置の構成図である。
同図において20はXYテーブルであって、このXYテ
ーブル20上には液晶ディスプレイ21が載置されてい
る。このXYテーブル20は中央部に中空孔22が形成
されており、XYテーブル20の下方に配置されている
透過照明ユニット23から放射される白色光P、を液晶
ディスプレイ21に導くようになっている。なお、液晶
ディスプレイ21は液晶ディスプレイ駆動装置24によ
って各薄膜トランジスタ10−1.10−2・・・がオ
ン・オフ制御されるようになっている。
ーブル20上には液晶ディスプレイ21が載置されてい
る。このXYテーブル20は中央部に中空孔22が形成
されており、XYテーブル20の下方に配置されている
透過照明ユニット23から放射される白色光P、を液晶
ディスプレイ21に導くようになっている。なお、液晶
ディスプレイ21は液晶ディスプレイ駆動装置24によ
って各薄膜トランジスタ10−1.10−2・・・がオ
ン・オフ制御されるようになっている。
一方、30は加工用のレーザ光Rを出力するレーザ発振
器であって、このレーザ発振器30はレーザ電源31か
ら電力が供給されている。このレーザ発振器30から出
力されるレーザ光Rの光路上には光学レンズ系32が配
置されている。この光学レンズ系32は入射したレーザ
光Rの径の大きい平行光のレーザ光Raに変換する機能
を有するもので、この光学系32で変換されたレーザ光
Rはミラー33で反射してビームスプリッタ34に導か
れるようになっている。
器であって、このレーザ発振器30はレーザ電源31か
ら電力が供給されている。このレーザ発振器30から出
力されるレーザ光Rの光路上には光学レンズ系32が配
置されている。この光学レンズ系32は入射したレーザ
光Rの径の大きい平行光のレーザ光Raに変換する機能
を有するもので、この光学系32で変換されたレーザ光
Rはミラー33で反射してビームスプリッタ34に導か
れるようになっている。
又、35は白色光Hを放射するアライメント用光源であ
って、この光?R35から放射された白色光Hは光学レ
ンズ36で径の大きな平行光に変換されてビームスプリ
ッタ34に導かれるようになっている。このビームスプ
リッタ34はレーザ光R−及び白色光Hを同一の光路に
導くもので、このビームスプリッタ34で導かれたレー
ザ光Ra及び白色光Hの光路上にはスリット板37が配
置されている。このスリット板37は第2図に示すよう
にリングスリット38が形成されたものである。具体的
にスリット板37はガラス基板3つに金属40をコーテ
ィングして形成したもので、金属40をコーティングす
る際にリングスリット38が形成される。なお、このス
リット板37はそれぞれ径の異なる各リングスリットの
ものが複数枚用意されている。
って、この光?R35から放射された白色光Hは光学レ
ンズ36で径の大きな平行光に変換されてビームスプリ
ッタ34に導かれるようになっている。このビームスプ
リッタ34はレーザ光R−及び白色光Hを同一の光路に
導くもので、このビームスプリッタ34で導かれたレー
ザ光Ra及び白色光Hの光路上にはスリット板37が配
置されている。このスリット板37は第2図に示すよう
にリングスリット38が形成されたものである。具体的
にスリット板37はガラス基板3つに金属40をコーテ
ィングして形成したもので、金属40をコーティングす
る際にリングスリット38が形成される。なお、このス
リット板37はそれぞれ径の異なる各リングスリットの
ものが複数枚用意されている。
スリット板37のリングスリット38を通過したレーザ
光R及び白色光Hは結像光学系41に送られるようにな
っている。この結像光学系41はレーザ光R及び白色光
Hを集光して液晶ディスプレイ21上にリング状の光を
同一箇所に結像させる機能を有するものである。具体的
には顕微鏡が使用されており、その構成はダイクロイッ
クミラー42及び集光レンズ43を有し、レーザ光R及
び白色光Hはダイクロイックミラー42で反射し、次の
集光レンズ43で結像されるようになっている。又、結
像光学系41のダイクロイックミラー42と集光レンズ
43とを結ぶ光路上にはビームスプリッタ44及び結像
レンズ45が配置されるとともに、ビームスプリッタ4
4の分岐方向には落射照明46が設けられている。しか
るに、落射照明46から放射された光P2はビームスプ
リッタ44で反射してダイクロイックミラー42、集光
レンズ43を通して液晶ディスプレイ21に照射され、
かつ液晶ディスプレイ21からの反射光が集光レンズ、
ダイクロイックミラー42、ビームスプリッタ44を通
って結像レンズ45に送られるようになっている。
光R及び白色光Hは結像光学系41に送られるようにな
っている。この結像光学系41はレーザ光R及び白色光
Hを集光して液晶ディスプレイ21上にリング状の光を
同一箇所に結像させる機能を有するものである。具体的
には顕微鏡が使用されており、その構成はダイクロイッ
クミラー42及び集光レンズ43を有し、レーザ光R及
び白色光Hはダイクロイックミラー42で反射し、次の
集光レンズ43で結像されるようになっている。又、結
像光学系41のダイクロイックミラー42と集光レンズ
43とを結ぶ光路上にはビームスプリッタ44及び結像
レンズ45が配置されるとともに、ビームスプリッタ4
4の分岐方向には落射照明46が設けられている。しか
るに、落射照明46から放射された光P2はビームスプ
リッタ44で反射してダイクロイックミラー42、集光
レンズ43を通して液晶ディスプレイ21に照射され、
かつ液晶ディスプレイ21からの反射光が集光レンズ、
ダイクロイックミラー42、ビームスプリッタ44を通
って結像レンズ45に送られるようになっている。
この結像レンズ45で生ずる結像位置にはCOD (固
体撮像素子)カメラ47が配置され、このCCDカメラ
47から出力される画像信号がモニタテレビジョン48
に送られるようになっている。
体撮像素子)カメラ47が配置され、このCCDカメラ
47から出力される画像信号がモニタテレビジョン48
に送られるようになっている。
又、49は位置決め駆動装置であって、これはXYテー
ブル20及び結像光学系41を相対的に移動させて結像
光学系41から出力されるレーザ光R及び白色光Hの結
像位置を液晶デイスプレイス1の欠陥の存在する位置に
位置決めするためのちのである。
ブル20及び結像光学系41を相対的に移動させて結像
光学系41から出力されるレーザ光R及び白色光Hの結
像位置を液晶デイスプレイス1の欠陥の存在する位置に
位置決めするためのちのである。
次に上記の如く構成された装置での修正作用について説
明する。
明する。
液晶ディスプレイ21が製造されて検査が行なわれ、こ
の検査において異物による欠陥が検出されると、この液
晶ディスプレイ21は結像光学系41の下方に配置され
る。そして、落射照明46から光P2が放射されると、
この先P2はビームスプリッタ44、ダイクロイックミ
ラー42、集光レンズ43を通って液晶ディスプレイ2
1に照射される。又、このときCCDカメラ47は集光
レンズ43、ダイクロイックミラー42、ビームスプリ
ッタ44、結像レンズ45を通して液晶ディスプレイ2
1を撮像してその画像信号を出力する。この画像信号は
モニタテレビジョン48に送られ、このモニタテレビジ
ョン48は画像信号を映像化して映し出す。
の検査において異物による欠陥が検出されると、この液
晶ディスプレイ21は結像光学系41の下方に配置され
る。そして、落射照明46から光P2が放射されると、
この先P2はビームスプリッタ44、ダイクロイックミ
ラー42、集光レンズ43を通って液晶ディスプレイ2
1に照射される。又、このときCCDカメラ47は集光
レンズ43、ダイクロイックミラー42、ビームスプリ
ッタ44、結像レンズ45を通して液晶ディスプレイ2
1を撮像してその画像信号を出力する。この画像信号は
モニタテレビジョン48に送られ、このモニタテレビジ
ョン48は画像信号を映像化して映し出す。
一方、液晶ディスプレイ21は透過照明ユニット23か
らの白色光Plで照明されるとともに液晶ディスプレイ
駆動装置24により駆動されている。
らの白色光Plで照明されるとともに液晶ディスプレイ
駆動装置24により駆動されている。
従って、モニタテレビジョン48には液晶ディスプレイ
21が映し出されており、この状態にXYテーブル20
のXY平面への移動により液晶ディスプレイ21上の欠
陥が検出される。そうして、欠陥が検出されると、光源
35が点灯されてアライメント用の白色光Hが放射され
る。この白色光Hは光学レンズ36で径の大きな平行光
に変換され、さらにビームスプリッタ34を通ってスリ
ット板37に送られる。これにより、白色光Hはリング
スリット38のみ通過してリング状の光となって結像光
学系41に送られる。しかるに、この結像光学系41は
リング状の白色光Hをダイクロイックミラー42で反射
し、さらに集光レンズ43で集光して液晶ディスプレイ
21上に照射する。
21が映し出されており、この状態にXYテーブル20
のXY平面への移動により液晶ディスプレイ21上の欠
陥が検出される。そうして、欠陥が検出されると、光源
35が点灯されてアライメント用の白色光Hが放射され
る。この白色光Hは光学レンズ36で径の大きな平行光
に変換され、さらにビームスプリッタ34を通ってスリ
ット板37に送られる。これにより、白色光Hはリング
スリット38のみ通過してリング状の光となって結像光
学系41に送られる。しかるに、この結像光学系41は
リング状の白色光Hをダイクロイックミラー42で反射
し、さらに集光レンズ43で集光して液晶ディスプレイ
21上に照射する。
この状態に液晶ディスプレイ21はXYテーブル20に
よりXY平面上に移動され、この移動によりリング状の
白色光Hが第3図に示すようにその中心に異物50が配
置されるように位置決めされる。なお、このとき、リン
グ状の白色光Hのリング径がスリット板37を交換する
ことにより適切なものに設定される。
よりXY平面上に移動され、この移動によりリング状の
白色光Hが第3図に示すようにその中心に異物50が配
置されるように位置決めされる。なお、このとき、リン
グ状の白色光Hのリング径がスリット板37を交換する
ことにより適切なものに設定される。
次にレーザ発振器30からレーザ光Rが出力される。こ
のレーザ光Rは光学レンズ系32で径の大きな平行光の
レーザ光Rに変換され、この後ミラー33及びビームス
プリッタ34で反射してスリット板37に導かれる。し
かるに、レーザ光Rはスリット板37でリング状のレー
ザ光に変換されて結像光学系41に送られ、この結像光
学系41で集光されて液晶ディスプレイ21上に照射さ
れる。この場合、リング状のレーザ光は第3図に示すア
ライメント用のリング状の白色光Hと同一位置に照射さ
れる。ところで、このときレーザ光の照射状態を拡大し
て示すと第4図に示す如くとなる。つまり、リング状の
レーザ光は液晶ディスプレイ21の画素電極5−2にお
いて結像される。これにより、レーザ光が照射されたリ
ング状の部分51は除去される。この結果、画素電極5
−2のリング状に除去された内側の小部分52と画素電
極5−2の他の部分とは電気的に絶縁された状態となる
。従って、共通電極4と画素電極5−2との間に液晶デ
ィスプレイ駆動装置24により電圧が印加されない状態
にあっても画素電極5−2の小部分52と共通電極4と
の間には電圧が印加された状態となって透過照明ユニッ
ト23からの白色光P、がカラーフィルタ6−2を透過
して発光するが、小部分52は極めて小面積となるので
欠陥として判定されることがなくなる。例えば、リング
状の内部で形成される小部分52の面積は1画素の面積
の10分の1以下となっている。
のレーザ光Rは光学レンズ系32で径の大きな平行光の
レーザ光Rに変換され、この後ミラー33及びビームス
プリッタ34で反射してスリット板37に導かれる。し
かるに、レーザ光Rはスリット板37でリング状のレー
ザ光に変換されて結像光学系41に送られ、この結像光
学系41で集光されて液晶ディスプレイ21上に照射さ
れる。この場合、リング状のレーザ光は第3図に示すア
ライメント用のリング状の白色光Hと同一位置に照射さ
れる。ところで、このときレーザ光の照射状態を拡大し
て示すと第4図に示す如くとなる。つまり、リング状の
レーザ光は液晶ディスプレイ21の画素電極5−2にお
いて結像される。これにより、レーザ光が照射されたリ
ング状の部分51は除去される。この結果、画素電極5
−2のリング状に除去された内側の小部分52と画素電
極5−2の他の部分とは電気的に絶縁された状態となる
。従って、共通電極4と画素電極5−2との間に液晶デ
ィスプレイ駆動装置24により電圧が印加されない状態
にあっても画素電極5−2の小部分52と共通電極4と
の間には電圧が印加された状態となって透過照明ユニッ
ト23からの白色光P、がカラーフィルタ6−2を透過
して発光するが、小部分52は極めて小面積となるので
欠陥として判定されることがなくなる。例えば、リング
状の内部で形成される小部分52の面積は1画素の面積
の10分の1以下となっている。
このように上記一実施例においては、画素電極5−2に
おける異物50と接触する周囲をスリット板37で形成
したリング状のレーザ光で照射して画素電極5−2の小
部分52と画素電極5−2の他の部分とを電気的に絶縁
するように構成したので、異物50が液晶9に混入した
としてもこの異物50で欠陥となる部分を非常に小面積
とすることができる。従って、異物50により不良品と
された液晶ディスプレイ21を良品に救済して製品とし
て使用することができ、液晶ディスプレイ21を製造す
る際の歩留りを向上できる。
おける異物50と接触する周囲をスリット板37で形成
したリング状のレーザ光で照射して画素電極5−2の小
部分52と画素電極5−2の他の部分とを電気的に絶縁
するように構成したので、異物50が液晶9に混入した
としてもこの異物50で欠陥となる部分を非常に小面積
とすることができる。従って、異物50により不良品と
された液晶ディスプレイ21を良品に救済して製品とし
て使用することができ、液晶ディスプレイ21を製造す
る際の歩留りを向上できる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で形成してもよい。例えば、レ
ーザ光で異物の周囲の電極を除去する場合、スリット板
37でリング状のレーザ光を形成するのでなく第5図に
示すようにスポット状のレーザ光60を矢印(イ)方向
に走査して異物61と導電状態となっている部分の電気
的絶縁を行なってもよい。この場合、レーザ光60を矢
印(イ)方向に走査する手段としては第6図に示すもの
がある。すなわち、ベース62にはベアリング63を介
してハウジング64が回転自在に設けられており、この
ハウジング64にはプリズム65が保持されている。又
、ハウジング64にはプーリ66が固設されるとともに
、プーリ67が回転軸に設けられたモータ68が設けら
れている。
の主旨を逸脱しない範囲で形成してもよい。例えば、レ
ーザ光で異物の周囲の電極を除去する場合、スリット板
37でリング状のレーザ光を形成するのでなく第5図に
示すようにスポット状のレーザ光60を矢印(イ)方向
に走査して異物61と導電状態となっている部分の電気
的絶縁を行なってもよい。この場合、レーザ光60を矢
印(イ)方向に走査する手段としては第6図に示すもの
がある。すなわち、ベース62にはベアリング63を介
してハウジング64が回転自在に設けられており、この
ハウジング64にはプリズム65が保持されている。又
、ハウジング64にはプーリ66が固設されるとともに
、プーリ67が回転軸に設けられたモータ68が設けら
れている。
モして各プーリ66.67間にはベルト6つが掛けられ
ている。
ている。
かかる構成であれば、モータ68の回転がベルト6つを
介してハウジング64に伝達し、これによりプリズム6
5は回転する。このプリズム65の回転によりレーザ光
60は角度θで屈折して出力される。
介してハウジング64に伝達し、これによりプリズム6
5は回転する。このプリズム65の回転によりレーザ光
60は角度θで屈折して出力される。
しかるに、この手段をスリット板37に代えて配置する
ことにより第5図に示すレーザ光60の軌跡が得られる
。
ことにより第5図に示すレーザ光60の軌跡が得られる
。
又、リング状のレーザ光を形成する手段としては第7図
に示すように4分の1円の円弧の各スリット70.71
を形成したスリット板72を使用してもよい。この場合
、先ず同図(a)に示す状態からスリット板72を90
”回動させて同図(b)に示す状態とする。これにより
、リング状のレーザ光が形成される。
に示すように4分の1円の円弧の各スリット70.71
を形成したスリット板72を使用してもよい。この場合
、先ず同図(a)に示す状態からスリット板72を90
”回動させて同図(b)に示す状態とする。これにより
、リング状のレーザ光が形成される。
さらにアライメント用の白色光Hはビームスプリッタ3
4からレーザ光と同一光路を伝播させるようにしている
が、別経路を通して液晶ディスプレイ21に照射しても
良い。
4からレーザ光と同一光路を伝播させるようにしている
が、別経路を通して液晶ディスプレイ21に照射しても
良い。
[発明の効果]
以上詳記したように本発明によれば、導電性の異物によ
る各電極間の短絡の欠陥を確実に修復できる液晶ディス
プレイの修正装置を提供できる。
る各電極間の短絡の欠陥を確実に修復できる液晶ディス
プレイの修正装置を提供できる。
第1図乃至m4図は本発明の液晶ディスプレイの修正装
置の一実施例を説明するための図であって、第1図は構
成図、第2図はスリット板の構成図、ff13図は電極
の除去位置を示す図、第4図は電極の除去作用を説明す
るための図、第5図乃至第7図は変形例を示す図、第8
図は液晶ディスプレイの構成図、第9図は異物が混入し
た状態を示す図である。 20・・・XYテーブル、21・・・液晶ディスプレイ
、23・・・透過照明ユニット、24・・・液晶ディス
プレイ駆動装置、30・・・レーザ発振器、32・・・
光学レンズ系、33・・・ミラー 34・・・ビームス
プリッタ、35・・・アライメント用光源、36・・・
光学レンズ、37・・・スリット板、41・・・結像光
学系、42・・・グイクロイックミラー 43・・・集
光レンズ、44・・・ビームスプリッタ、45・・・結
像レンズ、46・・・落射照明、47・・・CCDカメ
ラ、48・・・モニタテレビジョン。
置の一実施例を説明するための図であって、第1図は構
成図、第2図はスリット板の構成図、ff13図は電極
の除去位置を示す図、第4図は電極の除去作用を説明す
るための図、第5図乃至第7図は変形例を示す図、第8
図は液晶ディスプレイの構成図、第9図は異物が混入し
た状態を示す図である。 20・・・XYテーブル、21・・・液晶ディスプレイ
、23・・・透過照明ユニット、24・・・液晶ディス
プレイ駆動装置、30・・・レーザ発振器、32・・・
光学レンズ系、33・・・ミラー 34・・・ビームス
プリッタ、35・・・アライメント用光源、36・・・
光学レンズ、37・・・スリット板、41・・・結像光
学系、42・・・グイクロイックミラー 43・・・集
光レンズ、44・・・ビームスプリッタ、45・・・結
像レンズ、46・・・落射照明、47・・・CCDカメ
ラ、48・・・モニタテレビジョン。
Claims (1)
- レーザ発振器と、このレーザ発振器から出力されるレー
ザ光のアライメント光を放射するアライメント用光源と
、前記レーザ発振器から出力されたレーザ光及び前記ア
ライメント用光源から放射されたアライメント光の照射
軌跡をそれぞれ閉曲線に形成する照射形成光学系と、液
晶ディスプレイを載置しXY平面上を移動自在なXYテ
ーブルと、前記液晶ディスプレイを駆動する駆動手段と
、前記照射形成光学系で閉曲線に形成された前記レーザ
光及び前記アライメント光を前記液晶ディスプレイの所
定位置に結像する結像光学系と、この結像光学系を通し
て前記液晶ディスプレイを照明する落射照明と、前記結
像光学系を通して前記液晶ディスプレイを撮像する撮像
装置と、この撮像装置からの画像信号を受けて画像化し
て前記液晶ディスプレイにおける導電性異物の入り込ん
だ電極を検出するためのモニタとを具備したことを特徴
とする液晶ディスプレイの修正装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20475789A JPH0369914A (ja) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | 液晶ディスプレイの修正装置 |
| US07/424,695 US5017755A (en) | 1988-10-26 | 1989-10-20 | Method of repairing liquid crystal display and apparatus using the method |
| EP89311040A EP0366459B1 (en) | 1988-10-26 | 1989-10-26 | Method of repairing liquid crystal display and apparatus using the method |
| DE68915115T DE68915115T2 (de) | 1988-10-26 | 1989-10-26 | Verfahren zur Reparatur einer Flüssigkristallanzeige und Gerät für die Verwendung dieses Verfahrens. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20475789A JPH0369914A (ja) | 1989-08-09 | 1989-08-09 | 液晶ディスプレイの修正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0369914A true JPH0369914A (ja) | 1991-03-26 |
Family
ID=16495845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20475789A Pending JPH0369914A (ja) | 1988-10-26 | 1989-08-09 | 液晶ディスプレイの修正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0369914A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001147649A (ja) * | 1999-11-19 | 2001-05-29 | Fujitsu Ltd | 表示装置及びその欠陥修復方法 |
| JP2006337842A (ja) * | 2005-06-03 | 2006-12-14 | Toshiba Corp | 液晶パネルのリペア方法及びリペア装置 |
| JP2011203710A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-10-13 | Olympus Corp | 欠陥修正装置、欠陥追跡方法および欠陥追跡プログラム |
| WO2012166292A1 (en) * | 2011-05-27 | 2012-12-06 | Sage Electrochromics, Inc. | Apparatus and method for repair of defects in an electronic energy control or display device |
-
1989
- 1989-08-09 JP JP20475789A patent/JPH0369914A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001147649A (ja) * | 1999-11-19 | 2001-05-29 | Fujitsu Ltd | 表示装置及びその欠陥修復方法 |
| JP2006337842A (ja) * | 2005-06-03 | 2006-12-14 | Toshiba Corp | 液晶パネルのリペア方法及びリペア装置 |
| US8045132B2 (en) | 2005-06-03 | 2011-10-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method and apparatus for repairing a liquid crystal panel |
| JP2011203710A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-10-13 | Olympus Corp | 欠陥修正装置、欠陥追跡方法および欠陥追跡プログラム |
| WO2012166292A1 (en) * | 2011-05-27 | 2012-12-06 | Sage Electrochromics, Inc. | Apparatus and method for repair of defects in an electronic energy control or display device |
| US8430707B2 (en) | 2011-05-27 | 2013-04-30 | Sage Electrochromics, Inc. | Apparatus and method for repair of defects in an electronic energy control or display device |
| US8784149B2 (en) | 2011-05-27 | 2014-07-22 | Sage Electrochromics, Inc. | Apparatus and method for repair of defects in an electronic energy control or display device |
| JP2014522319A (ja) * | 2011-05-27 | 2014-09-04 | セイジ・エレクトロクロミクス,インコーポレイテッド | 電子エネルギー制御または表示デバイスの欠陥を修理する装置および方法 |
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