JPH03705B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH03705B2 JPH03705B2 JP58087462A JP8746283A JPH03705B2 JP H03705 B2 JPH03705 B2 JP H03705B2 JP 58087462 A JP58087462 A JP 58087462A JP 8746283 A JP8746283 A JP 8746283A JP H03705 B2 JPH03705 B2 JP H03705B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- pulse
- detection
- circuit
- defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/76—Television signal recording
- H04N5/91—Television signal processing therefor
- H04N5/93—Regeneration of the television signal or of selected parts thereof
- H04N5/94—Signal drop-out compensation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はビデオデイスクの製造工程中における
画像情報円盤欠陥検出装置に関する。
画像情報円盤欠陥検出装置に関する。
近年、映像の記録再生システムとして、画像情
報円盤が用いられるようになつた。これには光読
取り方式、針読取り方式などがあるが、いずれも
従来からあるVTR装置に比べて画像源となる円
盤がプレスによつて安価に大量生産でき、また高
速な画像アクセスができるなどの点で優れたもの
となつている。しかし、いずれも円盤表面や反射
面に凹凸の形状を付ける方法により情報と記録し
ているため、記録面にある形状の欠陥は画質を大
きく悪化させる。そのために記録面に発生した欠
陥を検出する事は特にその製造工程においては重
要となる。
報円盤が用いられるようになつた。これには光読
取り方式、針読取り方式などがあるが、いずれも
従来からあるVTR装置に比べて画像源となる円
盤がプレスによつて安価に大量生産でき、また高
速な画像アクセスができるなどの点で優れたもの
となつている。しかし、いずれも円盤表面や反射
面に凹凸の形状を付ける方法により情報と記録し
ているため、記録面にある形状の欠陥は画質を大
きく悪化させる。そのために記録面に発生した欠
陥を検出する事は特にその製造工程においては重
要となる。
従来、画像情報円盤の欠陥の検出方法として
は、通常の画面再生と同様に１トラツクづつ再生
しその再生信号がFM変調されていることから信
号の包絡線を検出し、それが低下した時点を検知
する方法等が用いられる。しかしこの方法では１
トラツクづつ検査するため検査時間が長くなる欠
点を持つ。そこで数トラツクの情報を例えば円盤
に光ビームを当てるなどの方法により一度に取り
出し、短時間で欠陥を検査する方法が取られる。
しかしこの場合には数トラツクを一度に検出する
ため、検出信号は１トラツクのみを検出した時に
得られるFM変調された信号とは異なり、同期信
号やトラツキングのための制御信号などが欠陥信
号と同様なパルス状信号として現われる。このた
め同期信号や制御信号まで欠陥として誤まつて検
出してしまう欠点があつた。これを改善する方法
として例えば同期信号部では検出を行なわない方
法が考えられる。この場合には同期信号部以外の
欠陥信号は検出可能であるが、同期信号と混在し
て現われる欠陥信号の検出は不可能であつた。ま
た一般には欠陥検出を周波数弁別で行う方法が用
いられるが、画像情報円盤においては同期信号や
制御信号は欠陥信号と非常に近い周波数帯域にあ
るので単に周波数弁別の方法などにより欠陥信号
のみを検出する事も困難であつた。
は、通常の画面再生と同様に１トラツクづつ再生
しその再生信号がFM変調されていることから信
号の包絡線を検出し、それが低下した時点を検知
する方法等が用いられる。しかしこの方法では１
トラツクづつ検査するため検査時間が長くなる欠
点を持つ。そこで数トラツクの情報を例えば円盤
に光ビームを当てるなどの方法により一度に取り
出し、短時間で欠陥を検査する方法が取られる。
しかしこの場合には数トラツクを一度に検出する
ため、検出信号は１トラツクのみを検出した時に
得られるFM変調された信号とは異なり、同期信
号やトラツキングのための制御信号などが欠陥信
号と同様なパルス状信号として現われる。このた
め同期信号や制御信号まで欠陥として誤まつて検
出してしまう欠点があつた。これを改善する方法
として例えば同期信号部では検出を行なわない方
法が考えられる。この場合には同期信号部以外の
欠陥信号は検出可能であるが、同期信号と混在し
て現われる欠陥信号の検出は不可能であつた。ま
た一般には欠陥検出を周波数弁別で行う方法が用
いられるが、画像情報円盤においては同期信号や
制御信号は欠陥信号と非常に近い周波数帯域にあ
るので単に周波数弁別の方法などにより欠陥信号
のみを検出する事も困難であつた。
本発明の目的は画像情報円盤面上にある欠陥信
号および画像信号中に混在する欠陥信号を短時間
で安定に検出できる画像情報円盤欠陥検出装置を
提供するものである。
号および画像信号中に混在する欠陥信号を短時間
で安定に検出できる画像情報円盤欠陥検出装置を
提供するものである。
本発明は画像情報を記録した円盤から得られる
反射ビームよりパルス状欠陥信号を含む検出信号
を取り出し、この検出信号を包絡線検出回路に入
力してその包絡線信号を取り出し、その出力を微
分して比較器に入力して包絡線の立ち上がりを検
出する信号を得る。この包絡線の立ち上がり検出
信号により単安定マルチバイブレータを同期信号
期間より短く欠陥信号期間より長い時間反転させ
る。一方微分信号は別の比較器に入力させ、包絡
線の立ち下がりを検出する信号を得る。この立ち
下がり検出信号と単安定マルチバイブレータの出
力はアンド回路に入力される。通常欠陥信号は同
期信号より短いパルス状の信号である。よつて立
ち上がりの検出信号により反転した単安定マルチ
バイブレータが反転している時間中に得られる立
ち下がり検出信号をアンド回路で選択すると欠陥
を検出できる。
反射ビームよりパルス状欠陥信号を含む検出信号
を取り出し、この検出信号を包絡線検出回路に入
力してその包絡線信号を取り出し、その出力を微
分して比較器に入力して包絡線の立ち上がりを検
出する信号を得る。この包絡線の立ち上がり検出
信号により単安定マルチバイブレータを同期信号
期間より短く欠陥信号期間より長い時間反転させ
る。一方微分信号は別の比較器に入力させ、包絡
線の立ち下がりを検出する信号を得る。この立ち
下がり検出信号と単安定マルチバイブレータの出
力はアンド回路に入力される。通常欠陥信号は同
期信号より短いパルス状の信号である。よつて立
ち上がりの検出信号により反転した単安定マルチ
バイブレータが反転している時間中に得られる立
ち下がり検出信号をアンド回路で選択すると欠陥
を検出できる。
本発明により画像情報円盤の記録面上の欠陥を
短時間に且つ安定に検出可能となり、特に同期信
号や制御信号上にある欠陥も検出する事が出来る
ので、画像情報円盤、及びその製造工程中に得ら
れる画像情報原盤の欠陥検査を効率良く行なえ
る。
短時間に且つ安定に検出可能となり、特に同期信
号や制御信号上にある欠陥も検出する事が出来る
ので、画像情報円盤、及びその製造工程中に得ら
れる画像情報原盤の欠陥検査を効率良く行なえ
る。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細に
説明する。
説明する。
第１図は画像情報円盤の反射光から再生信号を
得るまでの光学系を示した図である。レーザ発振
装置１１より出力されたレーザビームはビームス
プリツタ１２を経てレンズ１３により画像円盤１
４上に小さな光スポツトを結ぶ。この時、円盤１
４はモータ１５により回転している。短時間で検
査を行なうために光スポツトは円盤１４上の記録
ビツトおよびトラツクに対して十分大きく集光さ
せ、数トラツク（例えば５本程度）を一度に再生
している。この円盤１４面で反射され画像信号や
欠陥の情報を含んだ反射ビームは再度レンズ１３
を通りビームスプリツタ１２で反射され光検出器
１６で受光される。ここで光信号は電気信号とな
り出力端子１７に出力される。また常に盤面の光
スポツトの形状が最適な大きさになる様に焦点調
節器１８は光検出器１６から信号を得てレンズ１
３を動作させる。
得るまでの光学系を示した図である。レーザ発振
装置１１より出力されたレーザビームはビームス
プリツタ１２を経てレンズ１３により画像円盤１
４上に小さな光スポツトを結ぶ。この時、円盤１
４はモータ１５により回転している。短時間で検
査を行なうために光スポツトは円盤１４上の記録
ビツトおよびトラツクに対して十分大きく集光さ
せ、数トラツク（例えば５本程度）を一度に再生
している。この円盤１４面で反射され画像信号や
欠陥の情報を含んだ反射ビームは再度レンズ１３
を通りビームスプリツタ１２で反射され光検出器
１６で受光される。ここで光信号は電気信号とな
り出力端子１７に出力される。また常に盤面の光
スポツトの形状が最適な大きさになる様に焦点調
節器１８は光検出器１６から信号を得てレンズ１
３を動作させる。
第２図は本発明に係る欠陥検出回路の一実施例
であり、第３図は第２図の各部波形を示す図であ
る。第２図の再生信号入力端子２１には第１図に
示した光学的検出装置からの再生信号が供給され
る。この再生信号の波形を示した図が第３図ａで
ある。円盤１４の数トラツクを一度に再生すると
同期信号部では常に隣接トラツクに同一信号が記
録されているため同位相で加算されて第３図ａの
a1の様な信号が現われる。又、映像信号部では隣
接トラツク間で信号の相関がないため、数トラツ
ク間で平均化され大きな振幅変化は現われない。
更に数トラツクに渡り欠陥が存在すると反射ビー
ム光量が低下したり、増大したりすることにより
第３図ａのa2やa3の様な振幅の大きい信号が現わ
れる。この再生信号は包絡線検出回路２２で包絡
線検波されるが、この波形を示した図が第３図ｂ
であり、第３図ａの上側の包絡線のみ検出され、
下向きの欠陥信号a3は取り除かれる。この包絡線
検出回路２２の出力は微分回路２３に入力され
る。この微分回路の出力波形は第３図ｃに示され
る。この出力が比較器２４に入力される。比較器
２４は第３図ｃに示す微分回路２３の出力とレベ
ルC1を比較し、第３図ｄに示す様な包絡線の立
ち上がりを検出するパルス列を作る。この比較器
２４の出力は単安定マルチバイブレータ２５に入
力し、その出力は第３図ｅに示す巾τsecのパルス
列となる。ここでτは同期信号の長さより短く、
欠陥信号の長さより長くする。一方、微分回路２
３の出力は比較器２６にも入力し、第３図ｃに示
すレベルC2と比較され、第３図ｆに示す包絡線
の立ち下がりパルスを検出する。この比較器２６
の出力は、単安定マルチバイブレータ２５の出力
と共にアンド回路２７に入力する。このアンド回
路では、包絡線の立ち上がりからτsec以内に立ち
下がりパルスがあつたときのみ、第３図ｇに示す
信号を出力する。この様にして、第３図ａに示す
再生信号上の上向き欠陥信号a2とa4が第３図ｇに
示す様に検出される。また入力端子２１に供給さ
れた再生信号は反転回路２８で欠陥パルスの極性
を逆にして、下向き欠陥検出回路２９に入力す
る。この下向き欠陥パルス検出回路２９は前記包
絡線検出回路、微分回路、２つの比較器、単安定
マルチバイブレータ、アンド回路で構成された回
路３０と同様の回路である。この様にして第３図
ｈに示される再生信号の下向き欠陥パルスa3を検
出する。再生信号の上向きと下向きの欠陥検出信
号はオア回路３１で加算され、欠陥検出信号３２
を第３図ｉに示す様に出力する。
であり、第３図は第２図の各部波形を示す図であ
る。第２図の再生信号入力端子２１には第１図に
示した光学的検出装置からの再生信号が供給され
る。この再生信号の波形を示した図が第３図ａで
ある。円盤１４の数トラツクを一度に再生すると
同期信号部では常に隣接トラツクに同一信号が記
録されているため同位相で加算されて第３図ａの
a1の様な信号が現われる。又、映像信号部では隣
接トラツク間で信号の相関がないため、数トラツ
ク間で平均化され大きな振幅変化は現われない。
更に数トラツクに渡り欠陥が存在すると反射ビー
ム光量が低下したり、増大したりすることにより
第３図ａのa2やa3の様な振幅の大きい信号が現わ
れる。この再生信号は包絡線検出回路２２で包絡
線検波されるが、この波形を示した図が第３図ｂ
であり、第３図ａの上側の包絡線のみ検出され、
下向きの欠陥信号a3は取り除かれる。この包絡線
検出回路２２の出力は微分回路２３に入力され
る。この微分回路の出力波形は第３図ｃに示され
る。この出力が比較器２４に入力される。比較器
２４は第３図ｃに示す微分回路２３の出力とレベ
ルC1を比較し、第３図ｄに示す様な包絡線の立
ち上がりを検出するパルス列を作る。この比較器
２４の出力は単安定マルチバイブレータ２５に入
力し、その出力は第３図ｅに示す巾τsecのパルス
列となる。ここでτは同期信号の長さより短く、
欠陥信号の長さより長くする。一方、微分回路２
３の出力は比較器２６にも入力し、第３図ｃに示
すレベルC2と比較され、第３図ｆに示す包絡線
の立ち下がりパルスを検出する。この比較器２６
の出力は、単安定マルチバイブレータ２５の出力
と共にアンド回路２７に入力する。このアンド回
路では、包絡線の立ち上がりからτsec以内に立ち
下がりパルスがあつたときのみ、第３図ｇに示す
信号を出力する。この様にして、第３図ａに示す
再生信号上の上向き欠陥信号a2とa4が第３図ｇに
示す様に検出される。また入力端子２１に供給さ
れた再生信号は反転回路２８で欠陥パルスの極性
を逆にして、下向き欠陥検出回路２９に入力す
る。この下向き欠陥パルス検出回路２９は前記包
絡線検出回路、微分回路、２つの比較器、単安定
マルチバイブレータ、アンド回路で構成された回
路３０と同様の回路である。この様にして第３図
ｈに示される再生信号の下向き欠陥パルスa3を検
出する。再生信号の上向きと下向きの欠陥検出信
号はオア回路３１で加算され、欠陥検出信号３２
を第３図ｉに示す様に出力する。
以上述べた様に本実施例に依れば、微分回路以
降の出力信号をデジタル処理出来るので検出能力
の安定性に優れておりアナログ回路に比べ回路の
製作調整が容易である。また欠陥検出信号が再生
信号の欠陥位置に対しほぼ時間遅れなく出力され
るので実用上都合が良い。
降の出力信号をデジタル処理出来るので検出能力
の安定性に優れておりアナログ回路に比べ回路の
製作調整が容易である。また欠陥検出信号が再生
信号の欠陥位置に対しほぼ時間遅れなく出力され
るので実用上都合が良い。
尚、上記実施例に依れば光学的に数トラツクづ
つの情報を読み取る方法を示したが、接触式でも
数トラツクにまたがる大きさの針を用して再生信
号を得ることも出来る。また第２図に於て再生信
号を反転回路で反転することなしに下側の包絡線
を検出する回路を用いて、下向きの欠陥信号のみ
を検出することも出来る。
つの情報を読み取る方法を示したが、接触式でも
数トラツクにまたがる大きさの針を用して再生信
号を得ることも出来る。また第２図に於て再生信
号を反転回路で反転することなしに下側の包絡線
を検出する回路を用いて、下向きの欠陥信号のみ
を検出することも出来る。
第１図は再生信号を得るまでの光学系を示す
図、第２図は本発明の一実施例を示す図、第３図
は第２図における各部の波形を示した図である。 １１……レーザ発振装置、１２……ビームスプ
リツタ、１３……レンズ、１４……画像円盤、１
５……モータ、１６……光検出器、１７……出力
端子、１８……焦点調節器、２１……再生信号入
力端子、２２……包絡線検出回路、２３……微分
回路、２４，２６……比較器、２５……単安定マ
ルチバイブレータ、２７……アンド回路、２８…
…反転回路、２９……下向き欠陥パルス検出回
路、３０……上向き欠陥パルス検出回路、３１…
…オア回路、３２……欠陥検出信号。
図、第２図は本発明の一実施例を示す図、第３図
は第２図における各部の波形を示した図である。 １１……レーザ発振装置、１２……ビームスプ
リツタ、１３……レンズ、１４……画像円盤、１
５……モータ、１６……光検出器、１７……出力
端子、１８……焦点調節器、２１……再生信号入
力端子、２２……包絡線検出回路、２３……微分
回路、２４，２６……比較器、２５……単安定マ
ルチバイブレータ、２７……アンド回路、２８…
…反転回路、２９……下向き欠陥パルス検出回
路、３０……上向き欠陥パルス検出回路、３１…
…オア回路、３２……欠陥検出信号。
Claims (1)
- １ 画像情報を記載した記録媒体から得られるパ
ルス状欠陥信号を含む再生信号の包絡線を検出す
る第１の検出手段と、この第１の検出手段から得
られる包絡線信号を微分する手段と、この微分手
段から得られる微分信号の定められた一方の極性
のパルスを検出する第２の検出手段と、この第２
の検出手段により得られた検出信号により所定の
パルス幅の信号を発生するパルス発生手段と、前
記微分信号の他方の極性のパルスを検出する第３
の検出手段と、前記パルス発生手段から得られる
出力と前記第３の検出手段から得られる出力との
論理積をとるアンド回路とを具備したことを特徴
とする画像情報円盤欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8746283A JPS59215040A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 画像情報円盤欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8746283A JPS59215040A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 画像情報円盤欠陥検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59215040A JPS59215040A (ja) | 1984-12-04 |
| JPH03705B2 true JPH03705B2 (ja) | 1991-01-08 |
Family
ID=13915543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8746283A Granted JPS59215040A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 画像情報円盤欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59215040A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2810592B2 (ja) * | 1992-07-06 | 1998-10-15 | シャープ株式会社 | ディジタル情報再生装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5832146A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ドロップアウト評価装置 |
-
1983
- 1983-05-20 JP JP8746283A patent/JPS59215040A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59215040A (ja) | 1984-12-04 |
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