JPH037069B2 - - Google Patents
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- JPH037069B2 JPH037069B2 JP4288282A JP4288282A JPH037069B2 JP H037069 B2 JPH037069 B2 JP H037069B2 JP 4288282 A JP4288282 A JP 4288282A JP 4288282 A JP4288282 A JP 4288282A JP H037069 B2 JPH037069 B2 JP H037069B2
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- sample container
- rack
- specific
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 3
- 241000270295 Serpentes Species 0.000 description 2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 210000002966 serum Anatomy 0.000 description 2
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 210000002700 urine Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/0092—Scheduling
- G01N35/0095—Scheduling introducing urgent samples with priority, e.g. Short Turn Around Time Samples [STATS]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/021—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a flexible chain, e.g. "cartridge belt", conveyor for reaction cells or cuvettes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/04—Details of the conveyor system
- G01N2035/0439—Rotary sample carriers, i.e. carousels
- G01N2035/0458—Multiple concentric rows of wells
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は血清や尿等の検体中に含まれる成分を
分析する自動分析装置に関するものである。
分析する自動分析装置に関するものである。
かゝる自動分析装置においては、一般に分析す
べき試料をそれぞれ収容する多数の試料容器をサ
ンプラにセツトし、これらを所定の試料吸引位置
に順次搬送位置出しして試料分注装置により順次
の反応管に分注するようにしている。このような
自動分析装置においては、サンプラに多数の試料
容器をセツトして所要の分析を行なつている期間
中に、緊急検体を割込み分析したい場合とか、コ
ントロール血清等の標準試料を割込み分析して
種々の補正を行ないたい場合等がある。このよう
な場合、従来の自動分析装置においては、サンプ
ラにセツトした或る試料容器を抜き出し、その位
置に緊急検体や標準試料を収容する特定の試料容
器をセツトして分析するようにしている。しか
し、このような試料容器の交換は操作が極めて面
倒であると共に、抜き出した試料容器をサンプラ
の別の位置にセツトする必要があるため、予じめ
セツトした試料の分析順序が狂う場合がある。ま
た、かゝる特定試料容器は、試料吸引位置には試
料分注装置のプローブ等があり、その近傍では手
作業による試料容器の交換装置がしにくいため、
通常は試料吸引位置から多数個、例えば10個以上
の試料容器を置いた位置にセツトされていた。こ
のため、分析までに時間がかゝり、特に上記特定
試料容器をセツトした位置から試料吸引位置まで
にある各試料についての分析項目が多項目のとき
はより長時間を要していた。
べき試料をそれぞれ収容する多数の試料容器をサ
ンプラにセツトし、これらを所定の試料吸引位置
に順次搬送位置出しして試料分注装置により順次
の反応管に分注するようにしている。このような
自動分析装置においては、サンプラに多数の試料
容器をセツトして所要の分析を行なつている期間
中に、緊急検体を割込み分析したい場合とか、コ
ントロール血清等の標準試料を割込み分析して
種々の補正を行ないたい場合等がある。このよう
な場合、従来の自動分析装置においては、サンプ
ラにセツトした或る試料容器を抜き出し、その位
置に緊急検体や標準試料を収容する特定の試料容
器をセツトして分析するようにしている。しか
し、このような試料容器の交換は操作が極めて面
倒であると共に、抜き出した試料容器をサンプラ
の別の位置にセツトする必要があるため、予じめ
セツトした試料の分析順序が狂う場合がある。ま
た、かゝる特定試料容器は、試料吸引位置には試
料分注装置のプローブ等があり、その近傍では手
作業による試料容器の交換装置がしにくいため、
通常は試料吸引位置から多数個、例えば10個以上
の試料容器を置いた位置にセツトされていた。こ
のため、分析までに時間がかゝり、特に上記特定
試料容器をセツトした位置から試料吸引位置まで
にある各試料についての分析項目が多項目のとき
はより長時間を要していた。
本発明の目的は上述した種々の不具合を解決
し、サンプラにセツトされた多数の試料に対する
分析期間中に、緊急検体や標準試料等の特定試料
を迅速に分析し得るよう適切に構成配置した自動
分析装置を提供しようとするものである。
し、サンプラにセツトされた多数の試料に対する
分析期間中に、緊急検体や標準試料等の特定試料
を迅速に分析し得るよう適切に構成配置した自動
分析装置を提供しようとするものである。
本発明は、サンプラ内の多数の試料容器を所定
の試料吸引装置に順次搬送して、該試料吸引位置
において昇降自在なプローブを有する試料吸引装
置により試料容器内の試料を吸引するようにした
自動分析装置において、前記試料吸引位置の上方
に、前記プローブが通過できる貫通孔を有する基
板と、前記貫通孔の真上において特定の試料容器
を挿脱自在に保持する手段とを有する特定試料容
器保持装置を設けたことを特徴とするものであ
る。
の試料吸引装置に順次搬送して、該試料吸引位置
において昇降自在なプローブを有する試料吸引装
置により試料容器内の試料を吸引するようにした
自動分析装置において、前記試料吸引位置の上方
に、前記プローブが通過できる貫通孔を有する基
板と、前記貫通孔の真上において特定の試料容器
を挿脱自在に保持する手段とを有する特定試料容
器保持装置を設けたことを特徴とするものであ
る。
以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第１図は本発明の自動分析装置の要部の一例の
構成を示す線図である。スネークチエーン方式の
サンプラ１に保持された多数個の試料容器２はス
プロケツト３の間欠的回動により所定の試料吸引
位置４に順次に搬送位置出しされ、この試料吸引
位置４において試料容器２内に収容された試料
が、昇降および回動自在に保持されたプローブ５
を有する公知の試料分注装置により吸引されて図
示しない反応容器に分注される。本例では、試料
吸引位置４においてサンプラ１の上方に、サンプ
ラ１とは別の特定試料容器保持装置６を設ける。
この特定試料容器保持装置６は基板としてのベー
ス７を具え、このベース７には試料吸引位置４に
おいてサンプラ１に保持された試料容器２内にプ
ローブ５が侵入するための貫通孔８を形成すると
共に、第２図ＡおよびＢに示すように緊急検体や
標準試料等の割込み分析試料を収容する特定試料
容器９を挿脱自在に保持するラツク１０を位置決
めするためのガイド１１を設ける。
構成を示す線図である。スネークチエーン方式の
サンプラ１に保持された多数個の試料容器２はス
プロケツト３の間欠的回動により所定の試料吸引
位置４に順次に搬送位置出しされ、この試料吸引
位置４において試料容器２内に収容された試料
が、昇降および回動自在に保持されたプローブ５
を有する公知の試料分注装置により吸引されて図
示しない反応容器に分注される。本例では、試料
吸引位置４においてサンプラ１の上方に、サンプ
ラ１とは別の特定試料容器保持装置６を設ける。
この特定試料容器保持装置６は基板としてのベー
ス７を具え、このベース７には試料吸引位置４に
おいてサンプラ１に保持された試料容器２内にプ
ローブ５が侵入するための貫通孔８を形成すると
共に、第２図ＡおよびＢに示すように緊急検体や
標準試料等の割込み分析試料を収容する特定試料
容器９を挿脱自在に保持するラツク１０を位置決
めするためのガイド１１を設ける。
本例では、特定試料容器９を保持したラツク１
０をガイド１１に沿つて差込み、押え１２によつ
てラツク１０が移動しないようにベース７上に装
着して試料吸引位置４に特定試料容器９を位置出
しする。また、ベース７にラツク１０が装着され
たか否かを検出するために、ベース７のラツク装
着部にラツク検出スイツチ（図示せず）を設ける
と共に、装着されたラツク１０に特定試料容器９
がセツトされているか否かを検出するためにスイ
ツチ１３を設け、このスイツチ１３の作動片１３
ａをラツク１０に形成した切欠き１０ａを介して
特定試料容器９に当接し得るよう延在させる。
０をガイド１１に沿つて差込み、押え１２によつ
てラツク１０が移動しないようにベース７上に装
着して試料吸引位置４に特定試料容器９を位置出
しする。また、ベース７にラツク１０が装着され
たか否かを検出するために、ベース７のラツク装
着部にラツク検出スイツチ（図示せず）を設ける
と共に、装着されたラツク１０に特定試料容器９
がセツトされているか否かを検出するためにスイ
ツチ１３を設け、このスイツチ１３の作動片１３
ａをラツク１０に形成した切欠き１０ａを介して
特定試料容器９に当接し得るよう延在させる。
本実施例において、サンプラ１に保持した多数
個の試料容器２に対する通常ルーチンにおいて
は、プローブ５はベース７に形成した貫通孔８を
通してサンプラ１に保持された試料吸引位置４に
ある試料容器２内に挿入する。このような通常ル
ーチン中に、緊急検体等の特定試料を割込み分析
する場合には、先ず図示しない操作コントロール
パネルの割込み用スイツチを押し、現在分注され
ているまたは分注しようとする試料に対する分注
操作を完了させて割込み待機状態とする。この割
込み待機状態は、操作コントロールパネルまたは
アナライザーにより公知の方法で知ることができ
る。次に割込み分析すべき試料を収容する特定試
料容器９を保持したラツク１０をベース７にセツ
トし、特定試料容器９を試料吸引位置４に位置出
しし、このラツク１０がセツトされたのを検出す
る図示しないラツク検出スイツチの信号に基いて
試料分注装置を作動させ、特定試料容器９内の試
料をプローブ５により吸引して図示しない反応容
器に分注する。特定試料容器９内の試料の取引
は、プローブ５を下降させてその先端部を特定試
料容器９内の試料中に浸漬させるが、この際のプ
ローブ５の下降量は予じめ定めておくか、あるい
は試料の液面を検出することにより制御すること
ができる。なお、ベース７にセツトしたラツク１
０に特定試料容器９が装着されていないときは、
スイツチ１３の信号により警報を発するようにす
ると共に、装置が作動しないようにする。割込み
試料の分注操作の終了を公知の方法により検知し
た後ラツク１０をベース７から外し、通常ルーチ
ンに戻る。なお、通常ルーチンに入る場合は、操
作コントロールパネルに通常ルーチン用のスター
トスイツチを設け、これを操作することにより開
始することができる。
個の試料容器２に対する通常ルーチンにおいて
は、プローブ５はベース７に形成した貫通孔８を
通してサンプラ１に保持された試料吸引位置４に
ある試料容器２内に挿入する。このような通常ル
ーチン中に、緊急検体等の特定試料を割込み分析
する場合には、先ず図示しない操作コントロール
パネルの割込み用スイツチを押し、現在分注され
ているまたは分注しようとする試料に対する分注
操作を完了させて割込み待機状態とする。この割
込み待機状態は、操作コントロールパネルまたは
アナライザーにより公知の方法で知ることができ
る。次に割込み分析すべき試料を収容する特定試
料容器９を保持したラツク１０をベース７にセツ
トし、特定試料容器９を試料吸引位置４に位置出
しし、このラツク１０がセツトされたのを検出す
る図示しないラツク検出スイツチの信号に基いて
試料分注装置を作動させ、特定試料容器９内の試
料をプローブ５により吸引して図示しない反応容
器に分注する。特定試料容器９内の試料の取引
は、プローブ５を下降させてその先端部を特定試
料容器９内の試料中に浸漬させるが、この際のプ
ローブ５の下降量は予じめ定めておくか、あるい
は試料の液面を検出することにより制御すること
ができる。なお、ベース７にセツトしたラツク１
０に特定試料容器９が装着されていないときは、
スイツチ１３の信号により警報を発するようにす
ると共に、装置が作動しないようにする。割込み
試料の分注操作の終了を公知の方法により検知し
た後ラツク１０をベース７から外し、通常ルーチ
ンに戻る。なお、通常ルーチンに入る場合は、操
作コントロールパネルに通常ルーチン用のスター
トスイツチを設け、これを操作することにより開
始することができる。
このように、本実施例によれば通常ルーチン中
に緊急検体等の特定試料を収容する特定試料容器
９を、試料吸引位置４にあるサンプラ１に保持さ
れた試料容器２の所定の分注操作終了後に割込ま
せることができるから、特定試料を迅速に分析す
ることができる。なお、本実施例では特例試料容
器９をラツク１０ごとベース７に装脱するように
したが、ラツク１０をベース７に固定し、特定試
料容器９のみを挿脱するようにしてもよい。ま
た、割込み試料が複数ある場合には、操作コント
ロールパネルより個数を入力し、特定試料容器９
を入れ換えて行なうか、１個ずつ割込みスイツチ
の操作と特定試料容器９のセツトとを交互に行な
つて割込ませることができる。
に緊急検体等の特定試料を収容する特定試料容器
９を、試料吸引位置４にあるサンプラ１に保持さ
れた試料容器２の所定の分注操作終了後に割込ま
せることができるから、特定試料を迅速に分析す
ることができる。なお、本実施例では特例試料容
器９をラツク１０ごとベース７に装脱するように
したが、ラツク１０をベース７に固定し、特定試
料容器９のみを挿脱するようにしてもよい。ま
た、割込み試料が複数ある場合には、操作コント
ロールパネルより個数を入力し、特定試料容器９
を入れ換えて行なうか、１個ずつ割込みスイツチ
の操作と特定試料容器９のセツトとを交互に行な
つて割込ませることができる。
第３図は上述した特定試料容器保持機構の他の
例の構成を示すもので、第３図Ａは平面図を、第
３図Ｂは側面図を第３図Ｃは同図ＢのＡ−Ａ線断
面を表わす。この特定試料容器保持機構２０は特
定試料容器２１を試料吸引位置に直接セツトする
のではなく別の所でセツトし、操作コントロール
パネルの割込みスイツチの操作によりセツトした
特定試料容器２１を試料吸引位置に自動的に位置
出しするものである。特定試料容器２１はラツク
２２の一端部に挿脱自在に保持し、このラツク２
２をその他端部においてベース２３を貫通して取
付けた軸２４を中心に軸受け２５を介してベース
２３に回動自在に取付ける。ベース２３の下方に
おいて軸２４にはアーム２６を取付け、このアー
ム２６の一端部を軸２７を中心に回動自在に設け
たレバー２８に係合させると共に、他端部にはベ
ース２３との間に引張りばね２９を設けて、ラツ
ク２２を試料吸引装置側に回動偏倚する。レバー
２８にはソレノイド３０のプランジヤ３０ａを取
付けると共にベース２３との間に引張りばね３１
を設け、ソレノイド３０の滅勢下においてアーム
２６の一端部を係合させることによりラツク２２
の引張りばね２９による回動を阻止し、ソレノイ
ド３０の附勢下において引張りばね３１の力に抗
してレバー２８を回動させることによりアーム２
６との係合を解除し、ラツク２２を引張りばね２
９により試料吸引位置側に回動させるよう構成す
る。また、ベース２３の下側にはアーム２６と係
合するストツパ３２を植設し、アーム２６が引張
りばね２９により回動してストツパ３２に当接す
る位置において、ラツク２２の一端部に保持した
特定試料容器２１が試料吸引位置に位置出しされ
るようにする。また、ベース２３の上側にはラツ
ク２２の位置を検出する２個のセンサ３３ａ，３
３ｂを設け、ラツク２２が第３図Ａに実線で示す
待機位置にあるのをセンサ３３ａで検出し、ラツ
ク２２が第３図Ａに仮想線で示す試料吸引位置側
にあるのをセンサ３３ｂで検出する。更に、ラツ
ク２２の一端部には特定試料容器２１の有無を検
出するためのスイツチ３４を設ける。
例の構成を示すもので、第３図Ａは平面図を、第
３図Ｂは側面図を第３図Ｃは同図ＢのＡ−Ａ線断
面を表わす。この特定試料容器保持機構２０は特
定試料容器２１を試料吸引位置に直接セツトする
のではなく別の所でセツトし、操作コントロール
パネルの割込みスイツチの操作によりセツトした
特定試料容器２１を試料吸引位置に自動的に位置
出しするものである。特定試料容器２１はラツク
２２の一端部に挿脱自在に保持し、このラツク２
２をその他端部においてベース２３を貫通して取
付けた軸２４を中心に軸受け２５を介してベース
２３に回動自在に取付ける。ベース２３の下方に
おいて軸２４にはアーム２６を取付け、このアー
ム２６の一端部を軸２７を中心に回動自在に設け
たレバー２８に係合させると共に、他端部にはベ
ース２３との間に引張りばね２９を設けて、ラツ
ク２２を試料吸引装置側に回動偏倚する。レバー
２８にはソレノイド３０のプランジヤ３０ａを取
付けると共にベース２３との間に引張りばね３１
を設け、ソレノイド３０の滅勢下においてアーム
２６の一端部を係合させることによりラツク２２
の引張りばね２９による回動を阻止し、ソレノイ
ド３０の附勢下において引張りばね３１の力に抗
してレバー２８を回動させることによりアーム２
６との係合を解除し、ラツク２２を引張りばね２
９により試料吸引位置側に回動させるよう構成す
る。また、ベース２３の下側にはアーム２６と係
合するストツパ３２を植設し、アーム２６が引張
りばね２９により回動してストツパ３２に当接す
る位置において、ラツク２２の一端部に保持した
特定試料容器２１が試料吸引位置に位置出しされ
るようにする。また、ベース２３の上側にはラツ
ク２２の位置を検出する２個のセンサ３３ａ，３
３ｂを設け、ラツク２２が第３図Ａに実線で示す
待機位置にあるのをセンサ３３ａで検出し、ラツ
ク２２が第３図Ａに仮想線で示す試料吸引位置側
にあるのをセンサ３３ｂで検出する。更に、ラツ
ク２２の一端部には特定試料容器２１の有無を検
出するためのスイツチ３４を設ける。
本実施例においては、通常ルーチン中はソレノ
イド３０を滅勢状態にしてラツク２２を第３図Ａ
に実線で示す待機位置に位置させ、ベース２３の
試料吸引位置に形成した貫通孔３５を通して試料
分注装置のプローブをサンプラに保持された試料
容器内に侵入させて試料の分注操作を行なう。こ
のような通常ルーチン中に、緊急検体等の特定試
料を割込み分析する場合には、かゝる試料を収容
する特定試料容器２１をラツク２２にセツトし、
上述した実施例と同様に、図示しない操作コント
ロールパネルの割込み用スイツチを押し、現在分
注されているまたは分注しようとするサンプラ内
の試料に対する分注操作を完了させる。本実施例
ではその分注操作の完了に同期してソレノイド３
０を附勢させる。ソレノイド３０が附勢すると、
アーム２６とレバー２８との係合が解除されラツ
ク２２は引張りばね２９により回動し、アーム２
６がストツパ３２に当接して特定試料容器２１が
試料吸引位置に位置出しされる。この状態で、上
述した実施例と同様に試料分注装置のプローブを
特定試料容器２１内に侵入させて特定試料の分注
操作を行なう。なお、ラツク２２に特定試料容器
２１がセツトされていないときは、スイツチ３４
の信号により警報を発するようにすると共に、ラ
ツク２２が試料吸引位置側に回動しないようにソ
レノイド３０を滅勢させておくようにする。割込
み試料の分注操作の終了に同期してソレノイド３
０を滅勢し、ラツク２２を引張りばね２９の力に
抗して手動により待機位置に戻してアーム２６と
レバー２８とを係合させる。なお、ラツク２２の
待機位置への復帰は、手動によらず公知のモータ
駆動やベルト騒動により自動的に行なうこともで
きる。
イド３０を滅勢状態にしてラツク２２を第３図Ａ
に実線で示す待機位置に位置させ、ベース２３の
試料吸引位置に形成した貫通孔３５を通して試料
分注装置のプローブをサンプラに保持された試料
容器内に侵入させて試料の分注操作を行なう。こ
のような通常ルーチン中に、緊急検体等の特定試
料を割込み分析する場合には、かゝる試料を収容
する特定試料容器２１をラツク２２にセツトし、
上述した実施例と同様に、図示しない操作コント
ロールパネルの割込み用スイツチを押し、現在分
注されているまたは分注しようとするサンプラ内
の試料に対する分注操作を完了させる。本実施例
ではその分注操作の完了に同期してソレノイド３
０を附勢させる。ソレノイド３０が附勢すると、
アーム２６とレバー２８との係合が解除されラツ
ク２２は引張りばね２９により回動し、アーム２
６がストツパ３２に当接して特定試料容器２１が
試料吸引位置に位置出しされる。この状態で、上
述した実施例と同様に試料分注装置のプローブを
特定試料容器２１内に侵入させて特定試料の分注
操作を行なう。なお、ラツク２２に特定試料容器
２１がセツトされていないときは、スイツチ３４
の信号により警報を発するようにすると共に、ラ
ツク２２が試料吸引位置側に回動しないようにソ
レノイド３０を滅勢させておくようにする。割込
み試料の分注操作の終了に同期してソレノイド３
０を滅勢し、ラツク２２を引張りばね２９の力に
抗して手動により待機位置に戻してアーム２６と
レバー２８とを係合させる。なお、ラツク２２の
待機位置への復帰は、手動によらず公知のモータ
駆動やベルト騒動により自動的に行なうこともで
きる。
第４図ＡおよびＢは上述した特定試料容器保持
機構の更に他の例の構成を示す平面図および一部
断面で示す側面図である。この特定試料容器保持
機構４０は特定試料容器４１をターンテーブル４
２にセツトするものである。ターンテーブル４２
は同一同周上に複数個の特定試料容器４１を挿脱
自在に保持する容器保持部４３ａ〜４３ｇと、試
料分注装置のプローブが通る貫通孔４４とを具
え、ベース４５を貫通して取付けた軸４６を中心
に軸受４７を介してベース４５に回動自在に取付
ける。ベース４５の下方に延在する軸４６にはプ
ーリ４８を取り付け、このプーリ４８をタイミン
グベルト４９を介してモータ５０の出力軸に連結
すると共に、このモータ５０の出力軸には更にド
ツク５１を設け、このドツク５１をセンサ５２で
検出することにより、ターンテーブル４２を容器
保持部４３ａ〜４３ｇおよび貫通孔４４に対応し
てモータ５０により所定角度回転させる。また、
試料吸引位置の近傍には試料吸引位置に位置出し
された特定試料容器４１の有無を検出するための
スイツチ５３を設ける。更にターンテーブル４２
には突起５４を設け、この突起５４をセンサ５５
で検出することにより貫通孔４４を試料吸引位置
に位置出しするよう構成する。
機構の更に他の例の構成を示す平面図および一部
断面で示す側面図である。この特定試料容器保持
機構４０は特定試料容器４１をターンテーブル４
２にセツトするものである。ターンテーブル４２
は同一同周上に複数個の特定試料容器４１を挿脱
自在に保持する容器保持部４３ａ〜４３ｇと、試
料分注装置のプローブが通る貫通孔４４とを具
え、ベース４５を貫通して取付けた軸４６を中心
に軸受４７を介してベース４５に回動自在に取付
ける。ベース４５の下方に延在する軸４６にはプ
ーリ４８を取り付け、このプーリ４８をタイミン
グベルト４９を介してモータ５０の出力軸に連結
すると共に、このモータ５０の出力軸には更にド
ツク５１を設け、このドツク５１をセンサ５２で
検出することにより、ターンテーブル４２を容器
保持部４３ａ〜４３ｇおよび貫通孔４４に対応し
てモータ５０により所定角度回転させる。また、
試料吸引位置の近傍には試料吸引位置に位置出し
された特定試料容器４１の有無を検出するための
スイツチ５３を設ける。更にターンテーブル４２
には突起５４を設け、この突起５４をセンサ５５
で検出することにより貫通孔４４を試料吸引位置
に位置出しするよう構成する。
本実施例においては、通常ルーチン中はターン
テーブル４２に設けた突起５４をセンサ５５で検
出して、ターンテーブル４２の貫通孔４４を試料
吸引位置に位置出しし、この貫通孔４４およびベ
ース４５に形成した貫通孔５６を通して試料分注
装置のプローブを、サンプラに保持された試料容
器内に侵入させて試料の分注操作を行なう。この
ような通常ルーチン中に緊急検体等の複数の特定
試料を割込み分析する場合には、これら試料をそ
れぞれ収容する複数の特定試料容器４１をターン
テーブル４２の容器保持部４３ａ〜４３ｇの任意
の位置にセツトし、上述した実施例と同様に図示
しない操作コントロールパネルの割込み用スイツ
チを押し、試料吸引位置にあるサンプラ内の試料
容器に対する分注操作を完了させる。本実施例で
はこの分注操作の完了に同期してモータ５０を駆
動してターンテーブル４２を回動させ、センサ５
２およびスイツチ５３の出力信号に基いてターン
テーブル４２に保持した特定試料容器４１を試料
吸引位置に順次に位置出しし、これら各特定試料
をサンプラに保持された試料を分注する試料分注
装置により上述した実施例と同様にして分注す
る。ターンテーブル４２にセツトした全ての特定
試料に対する分注操作の終了後は、センサ５５が
ターンテーブル４２に設けた突起５４を検出した
位置でターンテーブル４２の回動を停止させ、こ
れにより試料吸引位置に貫通孔４４を位置させて
通常ルーチンに戻る。本実施例によれば、複数個
の特定試料容器４１を一度にセツトできる利点が
ある。
テーブル４２に設けた突起５４をセンサ５５で検
出して、ターンテーブル４２の貫通孔４４を試料
吸引位置に位置出しし、この貫通孔４４およびベ
ース４５に形成した貫通孔５６を通して試料分注
装置のプローブを、サンプラに保持された試料容
器内に侵入させて試料の分注操作を行なう。この
ような通常ルーチン中に緊急検体等の複数の特定
試料を割込み分析する場合には、これら試料をそ
れぞれ収容する複数の特定試料容器４１をターン
テーブル４２の容器保持部４３ａ〜４３ｇの任意
の位置にセツトし、上述した実施例と同様に図示
しない操作コントロールパネルの割込み用スイツ
チを押し、試料吸引位置にあるサンプラ内の試料
容器に対する分注操作を完了させる。本実施例で
はこの分注操作の完了に同期してモータ５０を駆
動してターンテーブル４２を回動させ、センサ５
２およびスイツチ５３の出力信号に基いてターン
テーブル４２に保持した特定試料容器４１を試料
吸引位置に順次に位置出しし、これら各特定試料
をサンプラに保持された試料を分注する試料分注
装置により上述した実施例と同様にして分注す
る。ターンテーブル４２にセツトした全ての特定
試料に対する分注操作の終了後は、センサ５５が
ターンテーブル４２に設けた突起５４を検出した
位置でターンテーブル４２の回動を停止させ、こ
れにより試料吸引位置に貫通孔４４を位置させて
通常ルーチンに戻る。本実施例によれば、複数個
の特定試料容器４１を一度にセツトできる利点が
ある。
以上述べたように、本発明によれば通常ルーチ
ン中に緊急検体等の特定試料を収容する特定試料
容器を、試料吸引位置にあるサンプラに保持され
た試料容器の所定の分注操作終了後に割込ませる
ことができるから、特定試料を迅速に分析するこ
とができる。
ン中に緊急検体等の特定試料を収容する特定試料
容器を、試料吸引位置にあるサンプラに保持され
た試料容器の所定の分注操作終了後に割込ませる
ことができるから、特定試料を迅速に分析するこ
とができる。
なお、本発明は上述した例にのみ限定されるも
のではなく幾多の変形または変更が可能である。
例えば上述した例ではサンプラとしてスネークチ
エーン方式のものを用いたが、本発明はサンプラ
としてターンテーブルの同一円周上に多数の試料
容器を保持し、ターンテーブルを間欠的に回動し
て順次の試料容器を所定の試料吸引位置に位置出
しするターンテーブル方式のものや、それぞれ複
数個を試料容器を保持する複数のラツクをラツク
カセツト内に収納し、これらラツクを所定の搬送
通路に順次移送して搬送通路に移送されたラツク
に保持された複数の試料容器を試料吸引位置に順
次位置出しするラツク方式のもの等にも有効に適
用することができる。
のではなく幾多の変形または変更が可能である。
例えば上述した例ではサンプラとしてスネークチ
エーン方式のものを用いたが、本発明はサンプラ
としてターンテーブルの同一円周上に多数の試料
容器を保持し、ターンテーブルを間欠的に回動し
て順次の試料容器を所定の試料吸引位置に位置出
しするターンテーブル方式のものや、それぞれ複
数個を試料容器を保持する複数のラツクをラツク
カセツト内に収納し、これらラツクを所定の搬送
通路に順次移送して搬送通路に移送されたラツク
に保持された複数の試料容器を試料吸引位置に順
次位置出しするラツク方式のもの等にも有効に適
用することができる。
第１図は本発明の自動分析装置の要部の一例の
構成を示す線図、第２図ＡおよびＢは第１図に示
す特定試料容器保持機構の斜視図および断面図、
第３図Ａ，ＢおよびＣは本発明に係る特定試料容
器保持機構の他の例の構成を示す平面図、側面図
および断面図、第４図ＡおよびＢは同じく更に他
の例の構成を示す平面図および側面図である。 １……サンプラ、２……試料容器、３……スプ
ロケツト、４……試料吸引位置、５……プロー
ブ、６……特定試料容器保持機構、７……ベー
ス、８……貫通孔、９……特定試料容器、１０…
…ラツク、１１……ガイド、１２……押え、１３
……スイツチ、２０……特定試料容器保持機構、
２１……特定試料容器、２２……ラツク、２３…
…ベース、２４……軸、２５……軸受、２６……
アーム、２７……軸、２８……レバー、２９，３
１……引張りばね、３０……ソレノイド、３２…
…ストツパ、３３ａ，３３ｂ……センサ、３４…
…スイツチ、３５……貫通孔、４０……特定試料
容器保持機構、４１……特定試料容器、４２……
ターンテーブル、４３ａ〜４３ｇ……容器保持
部、４４……貫通孔、４５……ベース、４６……
軸、４７……軸受、４８……プーリ、４９……タ
イミングベルト、５０……モータ、５１……ドツ
ク、５２，５５……センサ、５３……スイツチ、
５４……突起、５６……貫通孔。
構成を示す線図、第２図ＡおよびＢは第１図に示
す特定試料容器保持機構の斜視図および断面図、
第３図Ａ，ＢおよびＣは本発明に係る特定試料容
器保持機構の他の例の構成を示す平面図、側面図
および断面図、第４図ＡおよびＢは同じく更に他
の例の構成を示す平面図および側面図である。 １……サンプラ、２……試料容器、３……スプ
ロケツト、４……試料吸引位置、５……プロー
ブ、６……特定試料容器保持機構、７……ベー
ス、８……貫通孔、９……特定試料容器、１０…
…ラツク、１１……ガイド、１２……押え、１３
……スイツチ、２０……特定試料容器保持機構、
２１……特定試料容器、２２……ラツク、２３…
…ベース、２４……軸、２５……軸受、２６……
アーム、２７……軸、２８……レバー、２９，３
１……引張りばね、３０……ソレノイド、３２…
…ストツパ、３３ａ，３３ｂ……センサ、３４…
…スイツチ、３５……貫通孔、４０……特定試料
容器保持機構、４１……特定試料容器、４２……
ターンテーブル、４３ａ〜４３ｇ……容器保持
部、４４……貫通孔、４５……ベース、４６……
軸、４７……軸受、４８……プーリ、４９……タ
イミングベルト、５０……モータ、５１……ドツ
ク、５２，５５……センサ、５３……スイツチ、
５４……突起、５６……貫通孔。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ サンプラ内の多数の試料容器を所定の試料吸
引位置に順次搬送して、該試料吸引位置において
昇降自在なプローブを有する試料吸引装置により
試料容器内の試料を吸引するようにした自動分析
装置において、 前記試料吸引位置の上方に、前記プローブが通
過できる貫通孔を有する基板と、前記貫通孔の真
上において特定の試料容器を挿脱自在に保持する
手段とを有する特定試料容器保持装置を設けたこ
とを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4288282A JPS58161865A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 自動分析装置 |
| US06/467,788 US4699767A (en) | 1982-02-24 | 1983-02-18 | Liquid transfer apparatus for automatic analyzers |
| DE19833306491 DE3306491A1 (de) | 1982-02-24 | 1983-02-24 | Vorrichtung zum transferieren von fluessigkeit fuer automatische analysiergeraete |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4288282A JPS58161865A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58161865A JPS58161865A (ja) | 1983-09-26 |
| JPH037069B2 true JPH037069B2 (ja) | 1991-01-31 |
Family
ID=12648403
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4288282A Granted JPS58161865A (ja) | 1982-02-24 | 1982-03-19 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58161865A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019002822A (ja) * | 2017-06-16 | 2019-01-10 | アークレイ株式会社 | 分析装置 |
-
1982
- 1982-03-19 JP JP4288282A patent/JPS58161865A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58161865A (ja) | 1983-09-26 |
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