JPH0370860B2 - - Google Patents
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- JPH0370860B2 JPH0370860B2 JP12189682A JP12189682A JPH0370860B2 JP H0370860 B2 JPH0370860 B2 JP H0370860B2 JP 12189682 A JP12189682 A JP 12189682A JP 12189682 A JP12189682 A JP 12189682A JP H0370860 B2 JPH0370860 B2 JP H0370860B2
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- focus
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 28
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオデイスク等のようにデイスク
上に記録された情報を光学的に読み取る光学的再
生装置、あるいはデイスクに情報を光学的に記録
再生しようとする光学的記録再生装置に係わり、
特に、デイクスの回転に伴ない回転方向と垂直な
方向にデイスクが面ぶれを生じているとき、常に
微少スポツト光がデイスク上に照射できるよう、
光学系を追従させる焦点制御に関するものであ
る。
上に記録された情報を光学的に読み取る光学的再
生装置、あるいはデイスクに情報を光学的に記録
再生しようとする光学的記録再生装置に係わり、
特に、デイクスの回転に伴ない回転方向と垂直な
方向にデイスクが面ぶれを生じているとき、常に
微少スポツト光がデイスク上に照射できるよう、
光学系を追従させる焦点制御に関するものであ
る。
従来例の構成とその問題点
一般にビデオデイスクや光学的記録再生装置に
おいて、情報を高密度に記録、再生するために、
デイスク上のトラツクは例えばその幅が0.6μｍ、
そのピツチが1.6μｍと微細なスパイラルあるいは
同心円の形状となつている。前記デイスクには
φ1μｍ以下に絞り込まれた微小スポツト光が照射
され、その反射光からデイスク上の情報が読み出
されている。かかる装置においては、デイスクの
回転に伴ない回転方向と垂直な方向にデイスクが
面ぶれをおこした場合、前記面ぶれに対し、前記
φ1μｍ以下に絞られた微小スポツト光が常にデイ
スク上に照射できるように光学系を追従させるた
めにいわゆる焦点制御をかけている（以下フオー
カスサーボと称する）。一方、デイスクの回転に
伴ない前記トラツクが偏心等によりデイスクの半
径方向に移動するが、これに対し、常に前記微小
スポツト光が前記トラツク上を照射するよう光学
系を追従させるトラツキングサーボが必要であ
る。
おいて、情報を高密度に記録、再生するために、
デイスク上のトラツクは例えばその幅が0.6μｍ、
そのピツチが1.6μｍと微細なスパイラルあるいは
同心円の形状となつている。前記デイスクには
φ1μｍ以下に絞り込まれた微小スポツト光が照射
され、その反射光からデイスク上の情報が読み出
されている。かかる装置においては、デイスクの
回転に伴ない回転方向と垂直な方向にデイスクが
面ぶれをおこした場合、前記面ぶれに対し、前記
φ1μｍ以下に絞られた微小スポツト光が常にデイ
スク上に照射できるように光学系を追従させるた
めにいわゆる焦点制御をかけている（以下フオー
カスサーボと称する）。一方、デイスクの回転に
伴ない前記トラツクが偏心等によりデイスクの半
径方向に移動するが、これに対し、常に前記微小
スポツト光が前記トラツク上を照射するよう光学
系を追従させるトラツキングサーボが必要であ
る。
かかるフオーカスサーボ及びトラツキングサー
ボを行なうためのサーボ用誤差信号はデイスク系
の反射光より得ており、従来例を第１図とともに
説明する。尚、トラツキング制御については本発
明と直接関係しないので、詳述を避ける。１は例
えば半導体レーザからなる光源、２は半導体レー
ザ光線１から出た光を集める集光レンズ、３は偏
光ビームスプリツタで、半導体レーザ光線１から
出た光を第１図に示す様に折り曲げてデイスク６
上に導く。４はλ／４板、５は微小スポツト光に
絞り込むための絞りレンズで、デイスク６上に前
記微小スポツト光が照射され、信号の記録再生あ
るいは再生のみが行なわれる。デイスク６よりの
反射光はλ／４板４を再び通り、その偏光方向が
変えられ、偏光ビームスプリツタ３を通過した
後、凸レンズ７により絞られ、全反射ミラー８に
より２分割され、一方の光は図の様にトラツキン
グ制御に用いられる光検出器９に導かれる。光検
出器９はその光入射方向からみると９ａ，９ｂに
示すように２分割されている。前記２分割された
他方の光は凸レンズ７のほぼ集光位置に置かれた
光検出器１０に導かれる。
ボを行なうためのサーボ用誤差信号はデイスク系
の反射光より得ており、従来例を第１図とともに
説明する。尚、トラツキング制御については本発
明と直接関係しないので、詳述を避ける。１は例
えば半導体レーザからなる光源、２は半導体レー
ザ光線１から出た光を集める集光レンズ、３は偏
光ビームスプリツタで、半導体レーザ光線１から
出た光を第１図に示す様に折り曲げてデイスク６
上に導く。４はλ／４板、５は微小スポツト光に
絞り込むための絞りレンズで、デイスク６上に前
記微小スポツト光が照射され、信号の記録再生あ
るいは再生のみが行なわれる。デイスク６よりの
反射光はλ／４板４を再び通り、その偏光方向が
変えられ、偏光ビームスプリツタ３を通過した
後、凸レンズ７により絞られ、全反射ミラー８に
より２分割され、一方の光は図の様にトラツキン
グ制御に用いられる光検出器９に導かれる。光検
出器９はその光入射方向からみると９ａ，９ｂに
示すように２分割されている。前記２分割された
他方の光は凸レンズ７のほぼ集光位置に置かれた
光検出器１０に導かれる。
上記光学系において、第２図とともにフオーカ
スサーボのためのフオーカス誤差信号が得られる
原理について述べる。第２図はフオーカス誤差信
号を得る方法について説明するために第１図を簡
略化した図であり、第１図と同様の構成要素につ
いては同一の符号を付した。第２図において、ａ
は絞りレンズ５とデイスク６間が所望の距離より
近すぎた場合、ｂは丁度所望の距離、すなわちデ
イスク面上に入射光がフオーカスされた場合、ｃ
は前記所望の距離より長くなつた場合をそれぞれ
示している。
スサーボのためのフオーカス誤差信号が得られる
原理について述べる。第２図はフオーカス誤差信
号を得る方法について説明するために第１図を簡
略化した図であり、第１図と同様の構成要素につ
いては同一の符号を付した。第２図において、ａ
は絞りレンズ５とデイスク６間が所望の距離より
近すぎた場合、ｂは丁度所望の距離、すなわちデ
イスク面上に入射光がフオーカスされた場合、ｃ
は前記所望の距離より長くなつた場合をそれぞれ
示している。
第２図ａに示したように絞りレンズ５とデイス
ク６とが前記所望の距離より近ずきすぎると、凸
レンズ７により絞られる反射光の集光位置P1は
光検出器１０より遠くなる。従つて、この場合光
検出器１０ａに受光される光量より光検出器１０
ｂに受光される光量の方が多くなる。逆に第２図
ｃに示すように絞りレンズ５とデイスク６とが前
記所望の距離よりも遠ざかると、光検出器１０ｂ
の受光される光量より光検出器１０ａに受光され
る光量の方が多くなる。また第２図ｂに示すよう
にデイスク６上の入射光がフオーカスされた場合
は、光検出器１０上に凸レンズによりフオーカス
された光が映射されるため、光検出器１０ａ，１
０ｂの受光量は等しくなる。
ク６とが前記所望の距離より近ずきすぎると、凸
レンズ７により絞られる反射光の集光位置P1は
光検出器１０より遠くなる。従つて、この場合光
検出器１０ａに受光される光量より光検出器１０
ｂに受光される光量の方が多くなる。逆に第２図
ｃに示すように絞りレンズ５とデイスク６とが前
記所望の距離よりも遠ざかると、光検出器１０ｂ
の受光される光量より光検出器１０ａに受光され
る光量の方が多くなる。また第２図ｂに示すよう
にデイスク６上の入射光がフオーカスされた場合
は、光検出器１０上に凸レンズによりフオーカス
された光が映射されるため、光検出器１０ａ，１
０ｂの受光量は等しくなる。
従つて、前記両光検出器１０ａと１０ｂの出力
を差動増幅回路１１に入力すれば、第３図Ａに示
すようなＳ字のフオーカス誤差信号が得られる、
前記フオーカス誤差信号を駆動回路１２を介して
絞りレンズ５を上下動するピツクアツプ１３に供
給してこれを駆動し、前記光検出器１０ａ，１０
ｂの受光量が等しくなるようにフオーカスサーボ
をかければよい。第３図Ａは第１図光学系におけ
るフオーカス誤差信号の様子を示し、縦軸Vfは
フオーカス誤差信号、横軸ｘはジヤストフオーカ
ス位置（第２図ｂ）からの焦点のズレ量を示して
いる。
を差動増幅回路１１に入力すれば、第３図Ａに示
すようなＳ字のフオーカス誤差信号が得られる、
前記フオーカス誤差信号を駆動回路１２を介して
絞りレンズ５を上下動するピツクアツプ１３に供
給してこれを駆動し、前記光検出器１０ａ，１０
ｂの受光量が等しくなるようにフオーカスサーボ
をかければよい。第３図Ａは第１図光学系におけ
るフオーカス誤差信号の様子を示し、縦軸Vfは
フオーカス誤差信号、横軸ｘはジヤストフオーカ
ス位置（第２図ｂ）からの焦点のズレ量を示して
いる。
上記のように光検出器１０の取付位置はフオー
カスサーボの目標基準値となつているため、取付
位置が正規の位置からずれると、フオーカスサー
ボの目標値がずれ、面ぶれ等が生じているときデ
イスク６上の実際の絞り位置より異つた場所に微
小スポツト光が照射されるように制御されること
になる。いま焦点ずれ量をｘ、光検出器１０のず
れ量をｙ、絞りレンズ５の焦点距離をf1、凸レン
ズ７の焦点距離をf2とすれば、 ｙ＝１／２・f2／f1・ｘ ……(1) の関係式が得られ、例えばf1＝4.54mm、f2＝30mm
とすれば、(1)式は ｙ＝3.3x ……(2) となる。
カスサーボの目標基準値となつているため、取付
位置が正規の位置からずれると、フオーカスサー
ボの目標値がずれ、面ぶれ等が生じているときデ
イスク６上の実際の絞り位置より異つた場所に微
小スポツト光が照射されるように制御されること
になる。いま焦点ずれ量をｘ、光検出器１０のず
れ量をｙ、絞りレンズ５の焦点距離をf1、凸レン
ズ７の焦点距離をf2とすれば、 ｙ＝１／２・f2／f1・ｘ ……(1) の関係式が得られ、例えばf1＝4.54mm、f2＝30mm
とすれば、(1)式は ｙ＝3.3x ……(2) となる。
いま焦点ずれ量ｘを±1μｍまで許容したとし
ても、光検出器１０のずれ量は(2)式より±3.3μｍ
以内におさえなければならない。光検出器１０が
正規位置からの位置ずれとして、光検出器１０の
位置調整とそのロツク及び光学台のひずみ（経年
変化、温度変化により生じる）等を考えると、上
記±3.3μｍ以内に保持することは非常に困難であ
る。
ても、光検出器１０のずれ量は(2)式より±3.3μｍ
以内におさえなければならない。光検出器１０が
正規位置からの位置ずれとして、光検出器１０の
位置調整とそのロツク及び光学台のひずみ（経年
変化、温度変化により生じる）等を考えると、上
記±3.3μｍ以内に保持することは非常に困難であ
る。
発明の目的
本発明は以上の欠点を改良したものであり、焦
点制御系において、焦点制御誤差を得るための検
出手段が温度変動とか振動によつてその取り付け
位置が正規位置からずれても常に良好なフオーカ
スサーボをかけることができるようにしたことを
目的としたものである。
点制御系において、焦点制御誤差を得るための検
出手段が温度変動とか振動によつてその取り付け
位置が正規位置からずれても常に良好なフオーカ
スサーボをかけることができるようにしたことを
目的としたものである。
発明の構成
上記目的を達成するために、本発明は、円盤記
録担体上の信号トラツクより信号を再生するため
の変換手段と、前記円盤記録担体と前記変換手段
の相対位置を一定に保つための焦点制御手段と、
前記変換手段より得られる再生信号のエンベロー
プの最大値をホールドするピークホールド手段
と、前記再生信号のエンベロープ検波手段と、前
記ピークホールド手段と前記エンベロープ検波手
段の出力差が所定のしき値を越えたことを検出し
て検出出力を発生する検出手段と、前記検出手段
の出力に応じて次の検出出力があるまで順次時間
経過とともにレベルが増加あるいは減少する焦点
位置可変信号を発生して前記焦点制御手段に加算
し、前記相対位置を可変する焦点位置可変信号発
生手段とを備えたものである。
録担体上の信号トラツクより信号を再生するため
の変換手段と、前記円盤記録担体と前記変換手段
の相対位置を一定に保つための焦点制御手段と、
前記変換手段より得られる再生信号のエンベロー
プの最大値をホールドするピークホールド手段
と、前記再生信号のエンベロープ検波手段と、前
記ピークホールド手段と前記エンベロープ検波手
段の出力差が所定のしき値を越えたことを検出し
て検出出力を発生する検出手段と、前記検出手段
の出力に応じて次の検出出力があるまで順次時間
経過とともにレベルが増加あるいは減少する焦点
位置可変信号を発生して前記焦点制御手段に加算
し、前記相対位置を可変する焦点位置可変信号発
生手段とを備えたものである。
実施例の説明
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
第４図において、第１図と同一の物については
同一番号を付与し、具体的な説明は省略する。前
述した第１図の例と同様にフオーカスサーボをか
けた後、トラツキング制御用の光検出器９および
前述したフオーカス制御用の光検出器１０よりの
出力を混合回路４１にて混合し、この混合出力信
号を増幅回路４２にて増幅し、映像信号再生回路
４３に入力するとともにエンベロープ検波回路４
４に入力する。一方増幅回路４２の出力をピーク
ホールド回路４５にも入力する。このピークホー
ルド回路４５は、エンベロープ検波回路４４の出
力である再生信号のエンベロープの最大値を比較
的長時間にわたつてホールドするものであればよ
く、放電によるホールド電圧の減少があつても差
しつかえがなく、エンベロープ検出回路４４の充
電の時定数をノズル等によるエンベロープ電圧の
急変などを考慮して適当な長さに設定し、放電の
時定数を充電の時定数に比較して適当に長く設定
した一般に公知な第５図のような回路を使用する
ことができる。ピークホールド回路４５の出力と
エンベロープ検波回路４４の出力はコンパレータ
４６に加えられる。コンパレータ４６は、第６図
に示すように、ピークホールド回路４５の出力電
圧VPがエンベロープ最大値EAを出力していると
きエンベロープ検波回路４４の出力電圧VeがVe
＞EA−e0となるEC，EBのときは正電圧V1に、Ve
≦EA−e0となるEBOのときは負電圧V2となる。即
ちコンパレータ４６がピークホールド回路４５の
出力電圧VPの内エンベロープ最大値EAを出力し
ているときエンベロープ検波回路４４の出力電圧
Veとの電圧差が適当に設定されたしきい値電圧
e0より小さい（EA−Ve＜e0）か、大きい（EA−
Ve≧e0）かを判別する回路で、小さい場合には
出力電圧はV1に、大きい場合には負荷電圧V2と
なる回路である。この回路によりEAとVeの差が
しきい値電圧e0を越えたかどうかを判別する。
同一番号を付与し、具体的な説明は省略する。前
述した第１図の例と同様にフオーカスサーボをか
けた後、トラツキング制御用の光検出器９および
前述したフオーカス制御用の光検出器１０よりの
出力を混合回路４１にて混合し、この混合出力信
号を増幅回路４２にて増幅し、映像信号再生回路
４３に入力するとともにエンベロープ検波回路４
４に入力する。一方増幅回路４２の出力をピーク
ホールド回路４５にも入力する。このピークホー
ルド回路４５は、エンベロープ検波回路４４の出
力である再生信号のエンベロープの最大値を比較
的長時間にわたつてホールドするものであればよ
く、放電によるホールド電圧の減少があつても差
しつかえがなく、エンベロープ検出回路４４の充
電の時定数をノズル等によるエンベロープ電圧の
急変などを考慮して適当な長さに設定し、放電の
時定数を充電の時定数に比較して適当に長く設定
した一般に公知な第５図のような回路を使用する
ことができる。ピークホールド回路４５の出力と
エンベロープ検波回路４４の出力はコンパレータ
４６に加えられる。コンパレータ４６は、第６図
に示すように、ピークホールド回路４５の出力電
圧VPがエンベロープ最大値EAを出力していると
きエンベロープ検波回路４４の出力電圧VeがVe
＞EA−e0となるEC，EBのときは正電圧V1に、Ve
≦EA−e0となるEBOのときは負電圧V2となる。即
ちコンパレータ４６がピークホールド回路４５の
出力電圧VPの内エンベロープ最大値EAを出力し
ているときエンベロープ検波回路４４の出力電圧
Veとの電圧差が適当に設定されたしきい値電圧
e0より小さい（EA−Ve＜e0）か、大きい（EA−
Ve≧e0）かを判別する回路で、小さい場合には
出力電圧はV1に、大きい場合には負荷電圧V2と
なる回路である。この回路によりEAとVeの差が
しきい値電圧e0を越えたかどうかを判別する。
コンパレータ４６の出力は微分回路４９に加え
られ、コンパレータ４６の出力が反転する毎に正
負のパルスを発生する。フリツプフロツプ４８は
微分回路４７の負パルスの出力のみによつてトリ
ガーされ、正負の出力電圧レベル間を反転する。
フリツプフロツプ４８の出力は積分回路４９に加
えられ、積分されてフリツプフロツプ４８の出力
電圧極性に応じて増減信号に変えられ、前述した
駆動回路１２に混合入力される。
られ、コンパレータ４６の出力が反転する毎に正
負のパルスを発生する。フリツプフロツプ４８は
微分回路４７の負パルスの出力のみによつてトリ
ガーされ、正負の出力電圧レベル間を反転する。
フリツプフロツプ４８の出力は積分回路４９に加
えられ、積分されてフリツプフロツプ４８の出力
電圧極性に応じて増減信号に変えられ、前述した
駆動回路１２に混合入力される。
この構成により、光検出器１０が正規位置から
温度変化等によりずれた時も常に良好なフオーカ
スサーボがかかることを第３図とともに詳述す
る。第１図の構成では前述したようにフオーカス
サーボは、フオーカス誤差信号Vfが零となる第
３図ＡにおけるＡ点を目標位置としてピツクアツ
プ１３が上下動する。
温度変化等によりずれた時も常に良好なフオーカ
スサーボがかかることを第３図とともに詳述す
る。第１図の構成では前述したようにフオーカス
サーボは、フオーカス誤差信号Vfが零となる第
３図ＡにおけるＡ点を目標位置としてピツクアツ
プ１３が上下動する。
このときのエンベロープ検波回路４４の出力電
圧を第３図Ｂ、ピークホールド回路４５の出力電
圧を第３図Ｃに示す。いま、光検出器１０が温度
変化などによりその取付位置が移動すると、フオ
ーカス誤差信号Vfが零となる目標位置が第３図
ＡのB0点に移動することになる。したがつて、
第３図ＡのＡ点よりずれたB0点で常にフオーカ
スサーボがかかることになり、そのときのエンベ
ロープ検波回路４４の出力は第３図Ｂの破線で示
すEB0となる。一方、映像信号再生回路４３はSN
比を考慮するとエンベロープが最大になることが
望ましく、光検出器１０の取付位置が移動した後
も、フオーカス状態はエンベロープが最大である
Ａ点が望ましい。
圧を第３図Ｂ、ピークホールド回路４５の出力電
圧を第３図Ｃに示す。いま、光検出器１０が温度
変化などによりその取付位置が移動すると、フオ
ーカス誤差信号Vfが零となる目標位置が第３図
ＡのB0点に移動することになる。したがつて、
第３図ＡのＡ点よりずれたB0点で常にフオーカ
スサーボがかかることになり、そのときのエンベ
ロープ検波回路４４の出力は第３図Ｂの破線で示
すEB0となる。一方、映像信号再生回路４３はSN
比を考慮するとエンベロープが最大になることが
望ましく、光検出器１０の取付位置が移動した後
も、フオーカス状態はエンベロープが最大である
Ａ点が望ましい。
本発明はエンベロープが最大になる焦点状態を
探し出し、その焦点位置を絶えず往復させること
により、その焦点状態を維持するものである。そ
のために、たとえばフリツプフロツプ４８の出力
電圧が正電圧レベルにあり、積分回路４９の出力
が増加方向にあるとき、駆動回路１２にこの出力
が混合されて、差動増幅器１１の直流分の出力が
等価的に増加し、したがつて、フオーカス誤差電
圧VfがＡ点の方向に変化することになる。これ
にしたがつてエンベロープ検波回路４４の出力は
第３図Ｂに示すようにBB0より順次増加し、エン
ベロープ最大値EAを経て再び減少していく。フ
オーカスずれ量の位置ＸがＣ点になつたときに、
エンベロープ検波回路４４のエンベロープ電圧
EC（第３図Ｂに示す）とピークホールド回路４５
にホールド電圧EA（第３図Ｃに示すように、Ａ点
のエンベロープ最大電圧EAを保持している）の
差がコンパレータ４６の第６図の特性図によつて
定められるしきい値電圧e0となつたとき、コンパ
レータ４６が正レベルから負レベルに反転する。
したがつて微分回路４７は負パルスを発生して、
フリツプフロツプ４８を負電圧レベルに反転させ
る。これにより積分回路４８の出力は減少し始め
差動増幅器１１の直流分は再び減少し、Ｂ点の方
向に変化する。Ｃ点を経てＢ点に達した時点で同
様にして、このときのエンベロープ検波回路４４
の出力電圧EBと、ピークホールド回路４５のホ
ールド電圧EAとの差がe0となり、方向が反転し、
再びＣ点の方向に向かう。ピークホールド回路４
５はこのようにＡ点を通過する毎に最大値EAに
充電し直されて、好都合である。しきい値電圧e0
を適当に設定することにより良好なフオーカス状
態が維持される。駆動回路１２の直流電圧分がＣ
点から減少する方向で動作が開始された場合も同
様である。
探し出し、その焦点位置を絶えず往復させること
により、その焦点状態を維持するものである。そ
のために、たとえばフリツプフロツプ４８の出力
電圧が正電圧レベルにあり、積分回路４９の出力
が増加方向にあるとき、駆動回路１２にこの出力
が混合されて、差動増幅器１１の直流分の出力が
等価的に増加し、したがつて、フオーカス誤差電
圧VfがＡ点の方向に変化することになる。これ
にしたがつてエンベロープ検波回路４４の出力は
第３図Ｂに示すようにBB0より順次増加し、エン
ベロープ最大値EAを経て再び減少していく。フ
オーカスずれ量の位置ＸがＣ点になつたときに、
エンベロープ検波回路４４のエンベロープ電圧
EC（第３図Ｂに示す）とピークホールド回路４５
にホールド電圧EA（第３図Ｃに示すように、Ａ点
のエンベロープ最大電圧EAを保持している）の
差がコンパレータ４６の第６図の特性図によつて
定められるしきい値電圧e0となつたとき、コンパ
レータ４６が正レベルから負レベルに反転する。
したがつて微分回路４７は負パルスを発生して、
フリツプフロツプ４８を負電圧レベルに反転させ
る。これにより積分回路４８の出力は減少し始め
差動増幅器１１の直流分は再び減少し、Ｂ点の方
向に変化する。Ｃ点を経てＢ点に達した時点で同
様にして、このときのエンベロープ検波回路４４
の出力電圧EBと、ピークホールド回路４５のホ
ールド電圧EAとの差がe0となり、方向が反転し、
再びＣ点の方向に向かう。ピークホールド回路４
５はこのようにＡ点を通過する毎に最大値EAに
充電し直されて、好都合である。しきい値電圧e0
を適当に設定することにより良好なフオーカス状
態が維持される。駆動回路１２の直流電圧分がＣ
点から減少する方向で動作が開始された場合も同
様である。
又、実施例として、再生信号のエンベロープの
増減により最適位置にフオーカスされるようにし
たが、再生信号のエンベロープは記録済みのトラ
ツクを再生しているときはその増減の変化は明白
であるが、未記録のトラツクの場合再生信号のエ
ンベロープそのものが小さいので、その増減の変
化がとらえにくい。こういつた場合、あらかじめ
デイスクに記録用トラツクのための凹溝が同心円
状あるいはスパイラル状にデイスクの内外周にわ
たつて設けられ、各トラツクに対応した番地が凹
溝内に凹凸信号として設けられているデイスクに
おいては、番地の再生信号部のみをエンベロープ
として取り出し、その増減の変化をとらえて本発
明を適用すれば、未記録部のトラツクにおいても
最良のフオーカスをかけることが可能である。
増減により最適位置にフオーカスされるようにし
たが、再生信号のエンベロープは記録済みのトラ
ツクを再生しているときはその増減の変化は明白
であるが、未記録のトラツクの場合再生信号のエ
ンベロープそのものが小さいので、その増減の変
化がとらえにくい。こういつた場合、あらかじめ
デイスクに記録用トラツクのための凹溝が同心円
状あるいはスパイラル状にデイスクの内外周にわ
たつて設けられ、各トラツクに対応した番地が凹
溝内に凹凸信号として設けられているデイスクに
おいては、番地の再生信号部のみをエンベロープ
として取り出し、その増減の変化をとらえて本発
明を適用すれば、未記録部のトラツクにおいても
最良のフオーカスをかけることが可能である。
発明の効果
以上述べたように、本発明によれば、フオーカ
スサーボのための光検出器の取付位置が温度変化
とか、ロツクのゆるみとかで動いだ場合も常に良
好なフオーカス状態を維持することが可能であ
る。
スサーボのための光検出器の取付位置が温度変化
とか、ロツクのゆるみとかで動いだ場合も常に良
好なフオーカス状態を維持することが可能であ
る。
第１図は従来例の構成図、第２図は焦点ずれが
生じた場合の反射光の様子を示した図、第３図
Ａ，Ｂ，Ｃはフオーカス誤差信号とエンベロープ
検波出力信号とピークホールド出力信号との関係
を示した図、第４図は本発明の一実施例を示した
構成図、第５図は同要部の電気的結線図、第６図
はコンパレータの特性図である。 ９……トラツキング制御用の光検出器、１０…
…フオーカス制御用の光検出器、１２……駆動回
路、１３……ピツクアツプ、４１……混合回路、
４４……エンベロープ検出回路、４５……ピーク
ホールド回路、４６……コンパレータ、４７……
微分回路、４８……フリツプフロツプ、４９……
積分回路。
生じた場合の反射光の様子を示した図、第３図
Ａ，Ｂ，Ｃはフオーカス誤差信号とエンベロープ
検波出力信号とピークホールド出力信号との関係
を示した図、第４図は本発明の一実施例を示した
構成図、第５図は同要部の電気的結線図、第６図
はコンパレータの特性図である。 ９……トラツキング制御用の光検出器、１０…
…フオーカス制御用の光検出器、１２……駆動回
路、１３……ピツクアツプ、４１……混合回路、
４４……エンベロープ検出回路、４５……ピーク
ホールド回路、４６……コンパレータ、４７……
微分回路、４８……フリツプフロツプ、４９……
積分回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 円盤記録担体上の信号トラツクより信号を再
生するための変換手段と、前記円盤記録担体と前
記変換手段の相対位置を一定に保つための焦点制
御手段と、前記変換手段より得られる再生信号の
エンベロープの最大値をホールドするピークホー
ルド手段と、前記再生信号のエンベロープ検波手
段と、前記ピークホールド手段と前記エンベロー
プ検波手段の出力差が所定のしきい値を越えたこ
とを検出して検出出力を発生する検出手段と、前
記検出手段の出力に応じて次の検出出力があるま
で順次時間経過とともにレベルが増加あるいは減
少する焦点位置可変信号を発生して前記焦点制御
手段に加算し、前記相対位置を可変する焦点位置
可変信号発生手段とを備えた光学記録再生装置。 ２ エンベロープ検波手段及びピークホールド手
段は、変換手段より得られた再生信号の一部区間
のエンベロープを用いることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の光学記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57121896A JPS5911542A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 光学記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57121896A JPS5911542A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 光学記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5911542A JPS5911542A (ja) | 1984-01-21 |
| JPH0370860B2 true JPH0370860B2 (ja) | 1991-11-11 |
Family
ID=14822584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57121896A Granted JPS5911542A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 光学記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5911542A (ja) |
-
1982
- 1982-07-12 JP JP57121896A patent/JPS5911542A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5911542A (ja) | 1984-01-21 |
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