JPH037272B2 - - Google Patents
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- JPH037272B2 JPH037272B2 JP8543083A JP8543083A JPH037272B2 JP H037272 B2 JPH037272 B2 JP H037272B2 JP 8543083 A JP8543083 A JP 8543083A JP 8543083 A JP8543083 A JP 8543083A JP H037272 B2 JPH037272 B2 JP H037272B2
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Description
【発明の詳細な説明】
<発明の技術分野>
この発明は例えばデイジタル処理形スペクトラ
ムアナライザに応用して好適なピーク検出装置に
関し、特に被観測信号のピーク値を誤まりなく検
出することができるピーク検出装置を提供しよう
とするものである。
ムアナライザに応用して好適なピーク検出装置に
関し、特に被観測信号のピーク値を誤まりなく検
出することができるピーク検出装置を提供しよう
とするものである。
<発明の背景>
従来一般にスペクトラムアナライザはアナログ
回路によつて構成され、被観測信号の例えば周波
数スペクトラムを陰極線管上に表示するようにし
ている。
回路によつて構成され、被観測信号の例えば周波
数スペクトラムを陰極線管上に表示するようにし
ている。
アナログ回路方式による場合、被観測信号の表
示波形を記憶しておくことができない欠点があ
る。このため最近では被観測信号を高速A−D変
換し、メモリに記憶できるデイジタル信号に変換
し、このデイジタル信号を再びD−A変換して陰
極線管上に表示するデイジタル処理形スペクトラ
ムアナライザが主流となりつつある。
示波形を記憶しておくことができない欠点があ
る。このため最近では被観測信号を高速A−D変
換し、メモリに記憶できるデイジタル信号に変換
し、このデイジタル信号を再びD−A変換して陰
極線管上に表示するデイジタル処理形スペクトラ
ムアナライザが主流となりつつある。
デイジタル処理形スペクトラムアナライザによ
れば上記したように波形を記憶できること、及び
演算処理が容易なため例えば複数の観測波形相互
の差或は和に対応した波形を即座に表示できる等
の利点が得られ利用価値の高いスペクトラムアナ
ライザを提供できる。
れば上記したように波形を記憶できること、及び
演算処理が容易なため例えば複数の観測波形相互
の差或は和に対応した波形を即座に表示できる等
の利点が得られ利用価値の高いスペクトラムアナ
ライザを提供できる。
デイジタル処理形スペクトラムアナライザにお
いてA−D変換動作に関連してサンプリング回路
とホールド回路が設けられる。サンプリング回路
のサンプリング周波数はスペクトラムアナライザ
の掃引速度に関連して切換られるようになつてい
る。この切換によつて被観測信号を細かくサンプ
リングし少なくとも正と負のピークをもれなくサ
ンプリングできるようにしている。
いてA−D変換動作に関連してサンプリング回路
とホールド回路が設けられる。サンプリング回路
のサンプリング周波数はスペクトラムアナライザ
の掃引速度に関連して切換られるようになつてい
る。この切換によつて被観測信号を細かくサンプ
リングし少なくとも正と負のピークをもれなくサ
ンプリングできるようにしている。
被観測信号の周期と比較してサンプリング周期
が極く短かい周期の関係にある場合は、被観測信
号の正と負のピークをもれなくサンプリングし、
A−D変換することができる。然し乍らサンプリ
ング周期と被観測信号の周期とが近ずいて来るに
伴なつて正及び負のピークを確実にとらえてサン
プリングすることがむずかしくなる。
が極く短かい周期の関係にある場合は、被観測信
号の正と負のピークをもれなくサンプリングし、
A−D変換することができる。然し乍らサンプリ
ング周期と被観測信号の周期とが近ずいて来るに
伴なつて正及び負のピークを確実にとらえてサン
プリングすることがむずかしくなる。
このため一般にサンプリング回路の前段に正及
び負のピークホールド回路を設け、このピークホ
ールド回路により被観測信号のピークとボトムを
確実にとらえて取込む構造が採られている。この
部分を一般にピーク検出装置と呼んでいる。
び負のピークホールド回路を設け、このピークホ
ールド回路により被観測信号のピークとボトムを
確実にとらえて取込む構造が採られている。この
部分を一般にピーク検出装置と呼んでいる。
<従来技術の説明>
第1図に従来のピーク検出装置の構造を示す。
図中101は被観測信号102の入力端子を示
す。この入力端子101に与えられた被観測信号
102は正のピークホールド回路103と負のピ
ークホールド回路104の双方に入力される。正
及び負のピークホールド回路103,104の出
力は選択回路105により何れか一方を選択して
取出し、サンプルホールド回路106においてサ
ンプルホールドするようにしている。サンプルホ
ールド回路106の出力は出力端子107に送出
され、出力端子107から特に図示しないがA−
D変換器に供給される。
図中101は被観測信号102の入力端子を示
す。この入力端子101に与えられた被観測信号
102は正のピークホールド回路103と負のピ
ークホールド回路104の双方に入力される。正
及び負のピークホールド回路103,104の出
力は選択回路105により何れか一方を選択して
取出し、サンプルホールド回路106においてサ
ンプルホールドするようにしている。サンプルホ
ールド回路106の出力は出力端子107に送出
され、出力端子107から特に図示しないがA−
D変換器に供給される。
108は選択回路105を制御する制御回路を
示す。制御回路108は電圧比較器109と、こ
の電圧比較器109の比較出力を論理値として取
込むD形フリツプフロツプ回路111とにより構
成される。電圧比較器109はサンプルホールド
回路106の出力と被観測信号102の電圧の大
小関係を比較する。つまりサンプルホールド回路
106のホールド出力を反転入力端子に与え、被
観測信号102を非反転入力端子に入力する。D
形フリツプフロツプ111のクロツク端子CKに
は第2図Bに示すサンプリングパルス202を与
える。入力端子101に第2図Aに示す被観測信
号102が入力されたとするとD形フリツプフロ
ツプ111の出力端子Qからは第2図Dに示す正
相矩形波信号204が出力される。この正相矩形
波信号204が選択回路105に与えられる。選
択回路105は正相矩形波信号204がH論理の
とき正のピークホールド回路103を選択し、L
論理のとき負のピークホールド回路104を選択
するように動作する。
示す。制御回路108は電圧比較器109と、こ
の電圧比較器109の比較出力を論理値として取
込むD形フリツプフロツプ回路111とにより構
成される。電圧比較器109はサンプルホールド
回路106の出力と被観測信号102の電圧の大
小関係を比較する。つまりサンプルホールド回路
106のホールド出力を反転入力端子に与え、被
観測信号102を非反転入力端子に入力する。D
形フリツプフロツプ111のクロツク端子CKに
は第2図Bに示すサンプリングパルス202を与
える。入力端子101に第2図Aに示す被観測信
号102が入力されたとするとD形フリツプフロ
ツプ111の出力端子Qからは第2図Dに示す正
相矩形波信号204が出力される。この正相矩形
波信号204が選択回路105に与えられる。選
択回路105は正相矩形波信号204がH論理の
とき正のピークホールド回路103を選択し、L
論理のとき負のピークホールド回路104を選択
するように動作する。
112はゲート手段を示す。このゲート手段1
12は二つのアンドゲート113と114とによ
つて構成され、一方のアンドゲート113にD形
フリツプフロツプ111の出力端子の逆相矩形
波信号204を与え、他方のアンドゲート114
にD形フリツプフロツプ111の出力端子Qの正
相矩形波信号204を与える。これらアンドゲー
ト113及び114の各他方の入力端子には第2
図Cに示すリセツトパルス203を与える。第2
図Eに示すパルス205はアンドゲート113か
ら出力されるリセツトパルスである。また第2図
Fに示すパルス206はアンドゲート114から
出力されるリセツトパルスである。アンドゲート
113の出力パルス205は正のピークホールド
回路103のリセツト端子Rに与えると共に、ア
ンドゲート114の出力パルス206は負のピー
クホールド回路104のリセツト端子Rに与え
る。
12は二つのアンドゲート113と114とによ
つて構成され、一方のアンドゲート113にD形
フリツプフロツプ111の出力端子の逆相矩形
波信号204を与え、他方のアンドゲート114
にD形フリツプフロツプ111の出力端子Qの正
相矩形波信号204を与える。これらアンドゲー
ト113及び114の各他方の入力端子には第2
図Cに示すリセツトパルス203を与える。第2
図Eに示すパルス205はアンドゲート113か
ら出力されるリセツトパルスである。また第2図
Fに示すパルス206はアンドゲート114から
出力されるリセツトパルスである。アンドゲート
113の出力パルス205は正のピークホールド
回路103のリセツト端子Rに与えると共に、ア
ンドゲート114の出力パルス206は負のピー
クホールド回路104のリセツト端子Rに与え
る。
<従来技術の動作説明>
上記した構造において、時点T1でサンプリン
グパルス202aが入力されると、この時点T1
ではD形フリツプフロツプ111の出力端子Qの
出力信号204はL論理となつている。このため
選択回路105は負のピークホールド回路104
を選択し、サンプルホールド回路106は負のピ
ークホールド回路104がホールドしているホー
ルド電圧E1をサンプルホールドする。
グパルス202aが入力されると、この時点T1
ではD形フリツプフロツプ111の出力端子Qの
出力信号204はL論理となつている。このため
選択回路105は負のピークホールド回路104
を選択し、サンプルホールド回路106は負のピ
ークホールド回路104がホールドしているホー
ルド電圧E1をサンプルホールドする。
次に時点T2においてサンプリングパルス20
2bが与えられると、このときはD形フリツプフ
ロツプ111の出力信号204はH論理となつて
いるから選択回路105は正のピークホールド回
路103を選択する。従つてサンプルホールド回
路106は正のピークホールド回路103がホー
ルドしている電圧E2をサンプルホールドする。
2bが与えられると、このときはD形フリツプフ
ロツプ111の出力信号204はH論理となつて
いるから選択回路105は正のピークホールド回
路103を選択する。従つてサンプルホールド回
路106は正のピークホールド回路103がホー
ルドしている電圧E2をサンプルホールドする。
時点T3においてサンプリングパルス202c
が与えられると、このときはD形フリツプフロツ
プ111の出力信号204はL論理となつてい
る。このため選択回路105は負のピークホール
ド回路104を選択し、ホールド電圧E3をサン
プルホールド回路106に取込む。
が与えられると、このときはD形フリツプフロツ
プ111の出力信号204はL論理となつてい
る。このため選択回路105は負のピークホール
ド回路104を選択し、ホールド電圧E3をサン
プルホールド回路106に取込む。
時点T4においてサンプリングパルス202d
が与えられるとこのときはD形フリツプフロツプ
111の出力信号204はH論理であるため選択
回路105は正のピークホールド回路103を選
択する。よつてサンプルホールド回路106は正
のピークホールド回路103がホールドしている
ホールド電圧E4をサンプルホールドする。
が与えられるとこのときはD形フリツプフロツプ
111の出力信号204はH論理であるため選択
回路105は正のピークホールド回路103を選
択する。よつてサンプルホールド回路106は正
のピークホールド回路103がホールドしている
ホールド電圧E4をサンプルホールドする。
時点T5においてサンプリングパルス202e
が与えられるとこのときはD形フリツプフロツプ
111の出力信号204はL論理であるから選択
回路105は負のピークホールド回路104を選
択する。よつてサンプルホールド回路106は負
のピークホールド回路104がホールドしている
電圧E5をサンプルホールドする。
が与えられるとこのときはD形フリツプフロツプ
111の出力信号204はL論理であるから選択
回路105は負のピークホールド回路104を選
択する。よつてサンプルホールド回路106は負
のピークホールド回路104がホールドしている
電圧E5をサンプルホールドする。
<従来技術の欠点>
こゝまでの説明は正常な動作を説明している。
つまりサンプルホールド回路106は時点T1,
T2,T3,T4,T5において正及び負のピークホー
ルド回路103と104のホールド電圧E1〜E5
をサンプルホールドし、そのサンプルホールド電
圧をA−D変換器に供給するからA−D変換して
再びD−A変換すると、第2図に点線で示す波形
207が再現され、スペクトラムの正と負のピー
ク値を正確に再現している。
つまりサンプルホールド回路106は時点T1,
T2,T3,T4,T5において正及び負のピークホー
ルド回路103と104のホールド電圧E1〜E5
をサンプルホールドし、そのサンプルホールド電
圧をA−D変換器に供給するからA−D変換して
再びD−A変換すると、第2図に点線で示す波形
207が再現され、スペクトラムの正と負のピー
ク値を正確に再現している。
従来の欠点は次のサンプル時点T6において発
生する。つまり時点T6においてサンプリングパ
ルス202fが与えられると、このときは信号2
04はH論理となつてから選択回路105は正の
ピークホールド回路103を選択する。正のピー
クホールド回路103は時点T4の直後に与えら
れたリセツトパルス203aによりリセツトが掛
けられるが、そのリセツトによつて正のピークホ
ールド回路103は被観測信号の立下りの途中の
電圧E6をホールドしてしまう。この結果次のサ
ンプリング時点T6においてサンプルホールド回
路106は電圧E6をサンプルホールドしてしま
う。このサンプルホールド動作直後に正のピーク
ホールド回路103はリセツトパルス205によ
つて電圧E7にリセツトされる。
生する。つまり時点T6においてサンプリングパ
ルス202fが与えられると、このときは信号2
04はH論理となつてから選択回路105は正の
ピークホールド回路103を選択する。正のピー
クホールド回路103は時点T4の直後に与えら
れたリセツトパルス203aによりリセツトが掛
けられるが、そのリセツトによつて正のピークホ
ールド回路103は被観測信号の立下りの途中の
電圧E6をホールドしてしまう。この結果次のサ
ンプリング時点T6においてサンプルホールド回
路106は電圧E6をサンプルホールドしてしま
う。このサンプルホールド動作直後に正のピーク
ホールド回路103はリセツトパルス205によ
つて電圧E7にリセツトされる。
結局従来のピーク検出装置においては大きいピ
ーク値を持つスペクトラムの直後に虚偽のピーク
電圧E6を出力し、陰極線管上には第2図に点線
で示すようなスペクトラムが表示される。第2図
は時間軸をかなり拡大して図示している。実際に
は第3図に示すような表示となり、真に大きいピ
ークスペクトラム301の次に虚偽のピークスペ
クトラム302が表示される欠点がある。
ーク値を持つスペクトラムの直後に虚偽のピーク
電圧E6を出力し、陰極線管上には第2図に点線
で示すようなスペクトラムが表示される。第2図
は時間軸をかなり拡大して図示している。実際に
は第3図に示すような表示となり、真に大きいピ
ークスペクトラム301の次に虚偽のピークスペ
クトラム302が表示される欠点がある。
<発明の目的>
この発明は第2図に示した虚偽のピーク電圧
E6を出力することのないピーク検出装置を提供
しようとするものである。
E6を出力することのないピーク検出装置を提供
しようとするものである。
<発明の概要>
この発明では被観測信号の立上り区間と立下り
区間を判別するスロープ検出回路を設け、正のピ
ーク点においては負のピークホールド回路をリセ
ツトし、負のピーク点においては正のピークホー
ルド回路をリセツトするように構成したものであ
る。
区間を判別するスロープ検出回路を設け、正のピ
ーク点においては負のピークホールド回路をリセ
ツトし、負のピーク点においては正のピークホー
ルド回路をリセツトするように構成したものであ
る。
このように構成することにより正のピークホー
ルド回路は少なくともピークホールド動作を行な
う直前の負のピーク点においてリセツト動作を行
ない、また負のピークホールド回路104はピー
クホールド動作を行なう直前の正のピーク点にお
いてリセツト動作を行なうから正及び負のピーク
ホールド回路103,104は虚偽のピーク電圧
を出力することがない。従つてこの発明のピーク
検出装置をデイジタル処理形スペクトラムアナラ
イザのA−D変換手段の前に設けることにより大
きいピーク値を持つ波形の直後に虚偽のピーク波
形が表示されるような不都合を解消することがで
きる。
ルド回路は少なくともピークホールド動作を行な
う直前の負のピーク点においてリセツト動作を行
ない、また負のピークホールド回路104はピー
クホールド動作を行なう直前の正のピーク点にお
いてリセツト動作を行なうから正及び負のピーク
ホールド回路103,104は虚偽のピーク電圧
を出力することがない。従つてこの発明のピーク
検出装置をデイジタル処理形スペクトラムアナラ
イザのA−D変換手段の前に設けることにより大
きいピーク値を持つ波形の直後に虚偽のピーク波
形が表示されるような不都合を解消することがで
きる。
<発明の実施例>
第4図にこの発明の一実施例を示す。第4図に
おいて第1図と対応する部分には同一符号を付
し、その重複説明は省略するが、この発明におい
てはスロープ検出器400と、このスロープ検出
器400の検出出力によりサンプリング直後の正
及び負のピーク点においてリセツトパルスを発生
するリセツトパルス発生手段401とを設け、こ
のリセツトパルス発生手段401から出力される
リセツトパルスに従来から用いているリセツトパ
ルスを加えて正及び負のピークホールド回路10
3,104をリセツト動作させるように構成した
ものである。
おいて第1図と対応する部分には同一符号を付
し、その重複説明は省略するが、この発明におい
てはスロープ検出器400と、このスロープ検出
器400の検出出力によりサンプリング直後の正
及び負のピーク点においてリセツトパルスを発生
するリセツトパルス発生手段401とを設け、こ
のリセツトパルス発生手段401から出力される
リセツトパルスに従来から用いているリセツトパ
ルスを加えて正及び負のピークホールド回路10
3,104をリセツト動作させるように構成した
ものである。
従つてこの発明によれば、第2図で説明したリ
セツトパルス203によるリセツト動作に加えて
リセツトパルス発生手段401から出力されるサ
ンプリング動作直後の負のピーク点で出力される
パルスによつて正のピークホールド回路をリセツ
トし、サンプリング動作直後の正のピーク点で出
力されるパルスによつて負のピークホールド回路
をリセツトさせる。
セツトパルス203によるリセツト動作に加えて
リセツトパルス発生手段401から出力されるサ
ンプリング動作直後の負のピーク点で出力される
パルスによつて正のピークホールド回路をリセツ
トし、サンプリング動作直後の正のピーク点で出
力されるパルスによつて負のピークホールド回路
をリセツトさせる。
このように構成することにより第5図に示すよ
うに仮に時点T4において正のピークホールド回
路が虚偽の電圧E6にリセツトされたとしても、
時点T4′における正のピークホールド回路のホー
ルド電圧は負のピーク値にリセツトされる。よつ
て時点T6において正のピークホールド回路10
3は正規のピーク電圧E10をホールドし、虚偽の
ピーク電圧をホールドすることはない。
うに仮に時点T4において正のピークホールド回
路が虚偽の電圧E6にリセツトされたとしても、
時点T4′における正のピークホールド回路のホー
ルド電圧は負のピーク値にリセツトされる。よつ
て時点T6において正のピークホールド回路10
3は正規のピーク電圧E10をホールドし、虚偽の
ピーク電圧をホールドすることはない。
以下にその詳細を説明する。第6図にスロープ
検出器400とリセツトパルス発生手段401の
構造を示す。スロープ検出回路400は前段側に
演算増幅器601が設けられる。演算増幅器60
1の非反転入力端子に入力端子101から被観測
信号102を与える。演算増幅器601の反転入
力端子と共通電位点602との間に充放電用コン
デンサ603を接続する。また出力端子と反転入
力端子との間にダイオード604と605から成
る逆並列回路を接続する。
検出器400とリセツトパルス発生手段401の
構造を示す。スロープ検出回路400は前段側に
演算増幅器601が設けられる。演算増幅器60
1の非反転入力端子に入力端子101から被観測
信号102を与える。演算増幅器601の反転入
力端子と共通電位点602との間に充放電用コン
デンサ603を接続する。また出力端子と反転入
力端子との間にダイオード604と605から成
る逆並列回路を接続する。
演算増幅器601の後段には演算増幅器によつ
て構成した電圧比較器606を設ける。この電圧
比較器606の一方の入力端子には演算増幅器6
01の出力を与え、他方の入力端子には入力端子
101から被観測信号102を与える。尚電圧比
較器606の入力側に接続した回路607,60
8は雑音除去用のフイルタとして動作する。
て構成した電圧比較器606を設ける。この電圧
比較器606の一方の入力端子には演算増幅器6
01の出力を与え、他方の入力端子には入力端子
101から被観測信号102を与える。尚電圧比
較器606の入力側に接続した回路607,60
8は雑音除去用のフイルタとして動作する。
このスロープ検出回路400の回路構成によれ
ば入力端子101に例えば第7図Aに示すような
三角波状の被観測波102が与えられたとする
と、演算増幅器601の出力電圧は第7図Aに点
線701で示すように変化する。つまり被観測信
号102が上昇スロープにあるときは演算増幅器
601はダイオード605を通じてコンデンサ6
03を充電する。このため演算増幅器601の出
力電圧は第7図Aに点線で示すように入力端子1
01に供給される被観測信号102の電圧よりダ
イオード605の順方向電圧降下VD1分だけ高く
なる。
ば入力端子101に例えば第7図Aに示すような
三角波状の被観測波102が与えられたとする
と、演算増幅器601の出力電圧は第7図Aに点
線701で示すように変化する。つまり被観測信
号102が上昇スロープにあるときは演算増幅器
601はダイオード605を通じてコンデンサ6
03を充電する。このため演算増幅器601の出
力電圧は第7図Aに点線で示すように入力端子1
01に供給される被観測信号102の電圧よりダ
イオード605の順方向電圧降下VD1分だけ高く
なる。
一方、被観測信号102が下降スロープにある
ときは演算増幅器601はダイオード604を通
じてコンデンサ603に充電した電圧を吸引す
る。この結果演算増幅器601の出力端子の電圧
は第7図Aに点線で示すように被観測信号102
の電圧よりダイオード604の順方向電圧降下
VD2分だけ低くなる。
ときは演算増幅器601はダイオード604を通
じてコンデンサ603に充電した電圧を吸引す
る。この結果演算増幅器601の出力端子の電圧
は第7図Aに点線で示すように被観測信号102
の電圧よりダイオード604の順方向電圧降下
VD2分だけ低くなる。
このように演算増幅器601の出力端子の電圧
は被観測信号102の上昇スロープと下降スロー
プにおいて被観測信号102より大きくなつたり
小さくなつたり変化するから、演算増幅器601
の出力と被観測信号102とを電圧比較器606
によつて比較することにより電圧比較器606か
らは第7図Bに示すように被観測信号102が上
昇スロープから下降スロープに移るとき及び下降
スロープから上昇スロープに移るときに転換する
矩形波702が得られる。つまりこの例では上昇
スロープのときH論理で、下降スロープのときL
論理となる矩形波を得るように構成した場合を示
す。
は被観測信号102の上昇スロープと下降スロー
プにおいて被観測信号102より大きくなつたり
小さくなつたり変化するから、演算増幅器601
の出力と被観測信号102とを電圧比較器606
によつて比較することにより電圧比較器606か
らは第7図Bに示すように被観測信号102が上
昇スロープから下降スロープに移るとき及び下降
スロープから上昇スロープに移るときに転換する
矩形波702が得られる。つまりこの例では上昇
スロープのときH論理で、下降スロープのときL
論理となる矩形波を得るように構成した場合を示
す。
リセツトパルス発生手段401はインバータ6
09と、オアゲート611、615と、S−Rフ
リツプフロツプ613,614と、オアゲート6
15と、単安定マルチバイブレータ616とによ
り構成される。スロープ検出回路400から出力
される矩形波702はインバータ609を通じて
オアゲート611の一方の入力端子に与えられ
る。また矩形波702はオアゲート612の一方
の入力端子に直接与える。オアゲート611の他
方の入力端子には第1図で説明した制御回路10
8から出力される正相の矩形波信号204を与え
る。またオアゲート612の他方の入力端子には
制御回路108から出力される逆相矩形波信号2
04を与える。
09と、オアゲート611、615と、S−Rフ
リツプフロツプ613,614と、オアゲート6
15と、単安定マルチバイブレータ616とによ
り構成される。スロープ検出回路400から出力
される矩形波702はインバータ609を通じて
オアゲート611の一方の入力端子に与えられ
る。また矩形波702はオアゲート612の一方
の入力端子に直接与える。オアゲート611の他
方の入力端子には第1図で説明した制御回路10
8から出力される正相の矩形波信号204を与え
る。またオアゲート612の他方の入力端子には
制御回路108から出力される逆相矩形波信号2
04を与える。
オアゲート611と、612の出力はS−Rフ
リツプフロツプ613と614の各セツト端子S
に供給する。S−Rフリツプフロツプ613のリ
セツト端子Rには制御回路108の逆相矩形波信
号を与える。またS−Rフリツプフロツプ614
のリセツト端子Rには制御回路108から正相矩
形波信号を与える。
リツプフロツプ613と614の各セツト端子S
に供給する。S−Rフリツプフロツプ613のリ
セツト端子Rには制御回路108の逆相矩形波信
号を与える。またS−Rフリツプフロツプ614
のリセツト端子Rには制御回路108から正相矩
形波信号を与える。
S−Rフリツプフロツプ613,614の各出
力信号はオアゲート615を通じて単安定マルチ
バイブレータ616の入力端子に与える。単安定
マルチバイブレータ616において一定のパルス
幅を持つパルスに変換し、このパルスをオアゲー
ト402において従来のリセツトパルス203と
加え合せてゲート手段112に与える。
力信号はオアゲート615を通じて単安定マルチ
バイブレータ616の入力端子に与える。単安定
マルチバイブレータ616において一定のパルス
幅を持つパルスに変換し、このパルスをオアゲー
ト402において従来のリセツトパルス203と
加え合せてゲート手段112に与える。
<発明要部の動作説明>
リセツトパルス発生手段401の動作は次の如
くである。スロープ検出器400からは第5図F
に示すような矩形波信号702が出力される。こ
の矩形波信号702はインバータ609により極
性が反転されて信号702に変換されオアゲート
611に供給される。オアゲート611には制御
手段108から出力される正相矩形波信号204
が与えられている。よつてオアゲート611から
は第5図Hに示す矩形波信号501が出力され
る。
くである。スロープ検出器400からは第5図F
に示すような矩形波信号702が出力される。こ
の矩形波信号702はインバータ609により極
性が反転されて信号702に変換されオアゲート
611に供給される。オアゲート611には制御
手段108から出力される正相矩形波信号204
が与えられている。よつてオアゲート611から
は第5図Hに示す矩形波信号501が出力され
る。
オアゲート612には矩形波信号702と20
4が与えられる。よつてオアゲート612からは
第5図Iに示す矩形波502が出力されれる。
4が与えられる。よつてオアゲート612からは
第5図Iに示す矩形波502が出力されれる。
オアゲート611から出力される矩形波信号5
01をS−Rフリツプフロツプ613のセツト端
子Sに与え、S−Rフリツプフロツプ613のリ
セツト端子Rには逆相矩形波204を与える。S
−Rフリツプフロツプ613はセツト端子Sに与
えられた矩形波信号501がL論理に立下るとセ
ツトされ、またリセツト端子Rに与えられた信号
204がL論理に立下るとリセツトされる。従つ
てS−Rフリツプフロツプ613の出力端子Qか
らは第5図Jに示す矩形波503が出力される。
01をS−Rフリツプフロツプ613のセツト端
子Sに与え、S−Rフリツプフロツプ613のリ
セツト端子Rには逆相矩形波204を与える。S
−Rフリツプフロツプ613はセツト端子Sに与
えられた矩形波信号501がL論理に立下るとセ
ツトされ、またリセツト端子Rに与えられた信号
204がL論理に立下るとリセツトされる。従つ
てS−Rフリツプフロツプ613の出力端子Qか
らは第5図Jに示す矩形波503が出力される。
一方、S−Rフリツプフロツプ614のセツト
端子Sに矩形波信号502が与えられ、リセツト
端子Rには正相矩形波信号204が与えられるか
ら、S−Rフリツプフロツプ614からは第5図
Kに示す矩形波信号504が出力される。
端子Sに矩形波信号502が与えられ、リセツト
端子Rには正相矩形波信号204が与えられるか
ら、S−Rフリツプフロツプ614からは第5図
Kに示す矩形波信号504が出力される。
S−Rフリツプフロツプ613と614から出
力される矩形波503と504はオアゲート61
5で論理和がとられ、第5図Lに示すような矩形
波信号505を得る。オアゲート615から出力
された矩形波信号505が単安定マルチバイブレ
ータ616の入力端子に与えられ、矩形波信号5
05の立上り毎に単安定マルチバイブレータ61
6をトリガし、その出力端子Qから第5図Mに示
すパルス506を得る。
力される矩形波503と504はオアゲート61
5で論理和がとられ、第5図Lに示すような矩形
波信号505を得る。オアゲート615から出力
された矩形波信号505が単安定マルチバイブレ
ータ616の入力端子に与えられ、矩形波信号5
05の立上り毎に単安定マルチバイブレータ61
6をトリガし、その出力端子Qから第5図Mに示
すパルス506を得る。
単安定マルチバイブレータ616から出力され
たパルス506はサンプリング直後の正及び負の
ピーク点で得られたパルスである。尚サンプリン
グのタイミングが被観測信号102の正又は負の
ピーク点になつている部分とピークホールド中の
部分ではパルス506は出力されないようになつ
ている。このパルス除去動作をインバータ60
9、オアゲート611,612、S−Rフリツプ
フロツプ613,614、オアゲート615、単
安定マルチバイブレータ616によつて構成され
る回路によつて実行している。
たパルス506はサンプリング直後の正及び負の
ピーク点で得られたパルスである。尚サンプリン
グのタイミングが被観測信号102の正又は負の
ピーク点になつている部分とピークホールド中の
部分ではパルス506は出力されないようになつ
ている。このパルス除去動作をインバータ60
9、オアゲート611,612、S−Rフリツプ
フロツプ613,614、オアゲート615、単
安定マルチバイブレータ616によつて構成され
る回路によつて実行している。
パルス506はオアゲート402において本来
のリセツトパルス203に加え合わせられ、パル
ス列信号507になつてゲート手段112に供給
される。
のリセツトパルス203に加え合わせられ、パル
ス列信号507になつてゲート手段112に供給
される。
ゲート手段112では正相矩形波204と逆相
矩形波204によつてパルス列信号507を第5
図Oに示す正のピークホールド回路103用のリ
セツトパルス508と第5図Pに示す負のピーク
ホールド回路104用のリセツトパルス509に
振り分ける。
矩形波204によつてパルス列信号507を第5
図Oに示す正のピークホールド回路103用のリ
セツトパルス508と第5図Pに示す負のピーク
ホールド回路104用のリセツトパルス509に
振り分ける。
<発明の作用効果>
以上説明したようにこの発明によればサンプリ
ングのタイミング直後における被観測信号102
の正及び負のピーク点においてリセツトパルス5
06を得るようにし、このリセツトパルス506
を負のピーク点で得られたパルスを正のピークホ
ールド回路103のリセツトパルスとして利用
し、正のピーク点で得られたパルスを負のピーク
ホールド回路104のリセツトパルスとして利用
する。
ングのタイミング直後における被観測信号102
の正及び負のピーク点においてリセツトパルス5
06を得るようにし、このリセツトパルス506
を負のピーク点で得られたパルスを正のピークホ
ールド回路103のリセツトパルスとして利用
し、正のピーク点で得られたパルスを負のピーク
ホールド回路104のリセツトパルスとして利用
する。
このようにすることにより仮に第5図に示す時
点T4のリセツト動作により大きいピーク波形の
途中の電圧E6を正のピークホールド回路103
にホールドさせたとしても、これに続く負のピー
ク点T4′においてリセツトパルス506が得られ、
このリセツトパルス506が正のピークホールド
回路103に与えられるから時点T4′において正
のピークホールド回路103にホールドした虚偽
のホールド電圧E6は負のピーク電圧E8にリセツ
トされる。よつてこの時点T4′から正のピークホ
ールド回路103の出力電圧が被観測信号102
のスロープに従つて上昇し、正のピーク値E9を
ホールドし、更に次に来るピーク値E10にホール
ド値を変更するから被観測信号102のピーク値
を正確にとらえることができる。
点T4のリセツト動作により大きいピーク波形の
途中の電圧E6を正のピークホールド回路103
にホールドさせたとしても、これに続く負のピー
ク点T4′においてリセツトパルス506が得られ、
このリセツトパルス506が正のピークホールド
回路103に与えられるから時点T4′において正
のピークホールド回路103にホールドした虚偽
のホールド電圧E6は負のピーク電圧E8にリセツ
トされる。よつてこの時点T4′から正のピークホ
ールド回路103の出力電圧が被観測信号102
のスロープに従つて上昇し、正のピーク値E9を
ホールドし、更に次に来るピーク値E10にホール
ド値を変更するから被観測信号102のピーク値
を正確にとらえることができる。
尚正のピーク点において負のピークホールド回
路104をリセツトするから負の方向に大きく偏
倚されるピーク信号が入力され、その負方向に大
きく偏倚されるピーク信号の直後においてそのピ
ーク信号の途中の電圧をホールドしたとしても、
次の正のピーク点において負のピークホールド回
路がリセツトされるから虚偽の電圧をサンプルホ
ールド回路106に出力することがない。
路104をリセツトするから負の方向に大きく偏
倚されるピーク信号が入力され、その負方向に大
きく偏倚されるピーク信号の直後においてそのピ
ーク信号の途中の電圧をホールドしたとしても、
次の正のピーク点において負のピークホールド回
路がリセツトされるから虚偽の電圧をサンプルホ
ールド回路106に出力することがない。
従つてこの発明によればサンプリング周期より
短かい周期を持つ被観測信号をA−D変換し、再
度D−A変換してそのアナログ出力信号を陰極線
管に表示する例えばスペクトラムアナライザにこ
の発明を応用すれば第3図に示したような虚偽の
波形302が表われることがない。よつて誤つた
測定結果を表示する不都合を解消できるから信頼
性の高いスペクトラムアナライザを提供できる。
短かい周期を持つ被観測信号をA−D変換し、再
度D−A変換してそのアナログ出力信号を陰極線
管に表示する例えばスペクトラムアナライザにこ
の発明を応用すれば第3図に示したような虚偽の
波形302が表われることがない。よつて誤つた
測定結果を表示する不都合を解消できるから信頼
性の高いスペクトラムアナライザを提供できる。
尚上述ではこの発明をスペクトラムアナライザ
に応用した例を説明したが、A−D変換器を使う
その他の装置にもこの発明を応用できることは容
易に理解できよう。
に応用した例を説明したが、A−D変換器を使う
その他の装置にもこの発明を応用できることは容
易に理解できよう。
第1図は従来のピーク検出装置を説明するため
のブロツク図、第2図及び第3図は従来のピーク
検出装置の動作を説明するための波形図、第4図
はこの発明によるピーク検出装置の概要を説明す
るためのブロツク図、第5図はこの発明の要部の
動作を説明するための波形図、第6図はこの発明
の要部の回路構成を説明するための接続図、第7
図はこの発明に用いたスロープ検出回路の動作を
説明するための波形図である。 103,104:正及び負のピークホールド回
路、105:選択回路、106:サンプルホール
ド回路、108:制御手段、112:ゲート手
段、400:スロープ検出手段、401:リセツ
トパルス発生手段。
のブロツク図、第2図及び第3図は従来のピーク
検出装置の動作を説明するための波形図、第4図
はこの発明によるピーク検出装置の概要を説明す
るためのブロツク図、第5図はこの発明の要部の
動作を説明するための波形図、第6図はこの発明
の要部の回路構成を説明するための接続図、第7
図はこの発明に用いたスロープ検出回路の動作を
説明するための波形図である。 103,104:正及び負のピークホールド回
路、105:選択回路、106:サンプルホール
ド回路、108:制御手段、112:ゲート手
段、400:スロープ検出手段、401:リセツ
トパルス発生手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 A 被観測信号の正及び負のピーク値をホー
ルドする正及び負のピークホールド回路と、 B この一対のピークホールド回路の出力をサン
プリング動作と連動して交互に取出す選択回路
と、 C この選択回路で選択したホールド電圧を一定
周期で取出すサンプルホールド回路と、 D 被観測信号の立上りと立下りを判別するスロ
ープ検出手段と、 E このスロープ検出手段の判別出力によりサン
プリング直後の正のピーク点において上記負の
ピークホールド回路をリセツトするパルスと、
サンプリング直後の負のピーク点において上記
正のピークホールド回路をリセツトさせるパル
スを発生するリセツトパルス発生手段と、 から成るピーク検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8543083A JPS59214774A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | ピ−ク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8543083A JPS59214774A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | ピ−ク検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59214774A JPS59214774A (ja) | 1984-12-04 |
| JPH037272B2 true JPH037272B2 (ja) | 1991-02-01 |
Family
ID=13858617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8543083A Granted JPS59214774A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | ピ−ク検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59214774A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6290551A (ja) * | 1984-12-17 | 1987-04-25 | Sony Tektronix Corp | ピ−ク値検出器 |
-
1983
- 1983-05-16 JP JP8543083A patent/JPS59214774A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59214774A (ja) | 1984-12-04 |
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