JPH0376442B2 - - Google Patents
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- JPH0376442B2 JPH0376442B2 JP57040016A JP4001682A JPH0376442B2 JP H0376442 B2 JPH0376442 B2 JP H0376442B2 JP 57040016 A JP57040016 A JP 57040016A JP 4001682 A JP4001682 A JP 4001682A JP H0376442 B2 JPH0376442 B2 JP H0376442B2
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 32
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 11
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 4
- 230000011514 reflex Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
- G02B7/346—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane using horizontal and vertical areas in the pupil plane, i.e. wide area autofocusing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カメラ、特に一眼レフレツクスカメ
ラの合焦判定等に好適な合焦状態検出光学系に関
するものである。
ラの合焦判定等に好適な合焦状態検出光学系に関
するものである。
従来より提案されている一眼レフレツクスカメ
ラ等の焦点合せ装置は、大きく分けてボケ検出方
式と像ズレ検知方式の２つに分類される。
ラ等の焦点合せ装置は、大きく分けてボケ検出方
式と像ズレ検知方式の２つに分類される。
例えば特開昭55−155308号公報に代表される本
出願人による前者のボケ検出方式では、予定結像
面とその前後等距離に設置した計３個のCCDラ
インセンサ上の像のボケ具合を比較して焦点整合
状態を検知するものである。
出願人による前者のボケ検出方式では、予定結像
面とその前後等距離に設置した計３個のCCDラ
インセンサ上の像のボケ具合を比較して焦点整合
状態を検知するものである。
一方、像ズレ検知方式を用いたカメラの合焦装
置については、例えば特開昭53−143315号公報、
特開昭54−7323号公報、米国特許4185191号公報
が知られている。第１図はこの米国特許第
4185191号公報の方式による装置の構成図であり、
結像レンズからの結像光束ｌは、部分透過のクイ
ツクリターンミラー１を透過後にサブミラー２に
入射し、更に下方に反射されて微小レンズ列３
ａ，３ｂ，…に入射する。それぞれの微小レンズ
列３ａ，３ｂ，……の後方には、それぞれ１組ず
つの受光センサ４a1，４a2；４b1，４b2……が配
置されている。この方式の場合、予定結像面に共
役な位置に微小レンズ列３ａ，３ｂ，……が存在
するために、合焦時にはそれぞれの微小レンズ列
３ａ，３ｂ，……の後方にある１組ずつのセンサ
４a1，４a2；４b1，４b2；……には全く同じ情報
光が入射する。予定結像面であるレンズ列３ａ，
３ｂ，……上に結像光束ｌの結像面がない場合、
即ち焦点外れ状態にあるときセンサ列４a1，４b1
……とセンサ列４a2，４b2，……とはデイフオー
カス量に応じたズレ量を有する像情報を受光する
ことになる。なお第１図に於いてクイツクリター
ンミラー１は通常の誘電体半透明膜を用いたビー
ムスプリツタではなく、直径ｗの光透過部１ａを
有する所謂波面分割方式の面積型ビームスプリツ
タが用いられている。このような面積型ビームス
プリツタはローパスフイルタの役割を果してお
り、光透過部１ａの大きさとその分布はセンサ列
４a1，４b1の配列ピツチｐに応じて決められる。
置については、例えば特開昭53−143315号公報、
特開昭54−7323号公報、米国特許4185191号公報
が知られている。第１図はこの米国特許第
4185191号公報の方式による装置の構成図であり、
結像レンズからの結像光束ｌは、部分透過のクイ
ツクリターンミラー１を透過後にサブミラー２に
入射し、更に下方に反射されて微小レンズ列３
ａ，３ｂ，…に入射する。それぞれの微小レンズ
列３ａ，３ｂ，……の後方には、それぞれ１組ず
つの受光センサ４a1，４a2；４b1，４b2……が配
置されている。この方式の場合、予定結像面に共
役な位置に微小レンズ列３ａ，３ｂ，……が存在
するために、合焦時にはそれぞれの微小レンズ列
３ａ，３ｂ，……の後方にある１組ずつのセンサ
４a1，４a2；４b1，４b2；……には全く同じ情報
光が入射する。予定結像面であるレンズ列３ａ，
３ｂ，……上に結像光束ｌの結像面がない場合、
即ち焦点外れ状態にあるときセンサ列４a1，４b1
……とセンサ列４a2，４b2，……とはデイフオー
カス量に応じたズレ量を有する像情報を受光する
ことになる。なお第１図に於いてクイツクリター
ンミラー１は通常の誘電体半透明膜を用いたビー
ムスプリツタではなく、直径ｗの光透過部１ａを
有する所謂波面分割方式の面積型ビームスプリツ
タが用いられている。このような面積型ビームス
プリツタはローパスフイルタの役割を果してお
り、光透過部１ａの大きさとその分布はセンサ列
４a1，４b1の配列ピツチｐに応じて決められる。
像ズレ検知方式としてカメラに組込むことを想
定したとき、結像光束ｌを２分割して行なう方法
があり、この結像光束ｌを２分割する光学系とし
ては、第２図に示すような屋根型サブミラー５が
考えられる。この第２図に於いて結像レンズ６か
らの光束ｌは、２つの反射面５ａ，５ｂを有する
屋根型サブミラー５に入射した後にそれぞれの反
射面５ａ，５ｂで反射され、光束la，lbとなつて
下方に位置するCCD等から成るラインセンサ７
ａ，７ｂ上に入射する。そしてラインセンサ７
ａ，７ｂのそれぞれの出力を比較して合焦検出を
行なえばよい。結像光束ｌが第３図に示すように
屋根型サブミラー５の反射面５ａ，５ｂの中間に
円Ｒとして入射する場合には、それぞれのセンサ
７ａ，７ｂには等量の光が導かれるが、Ｆナンバ
ーが大きい軸外光束l′の場合には、円R′として反
射面５ｂに殆どの光束l′が入射して反射光lb′とな
り、光束がセンサ７ｂには入射するがセンサ７ａ
には殆ど入射しないという現象が起り得る。この
ようにセンサ７ａ，７ｂに入射する光量に不平衡
が生じた状態に於いては、被写体が一様輝度面で
あるときそれぞれのセンサ７ａ，７ｂ上に入射す
る光量分布は、第４図に示すように模式的に表わ
されることになる。この第４図に於いて横軸は第
２図に示すセンサ７ａ，７ｂの配列方向ｘに一致
し、Oxはそれぞれのセンサ７ａ，７ｂ上の光軸
上の光束が交わる位置である。ここで縦軸は相対
光量を表わし、Ａはセンサ７ａ上の光量分布であ
つて右下りとなり、Ｂはセンサ７ｂ上の光量分布
で右下りとなることを示している。このように一
様輝度面を結像しても光量分布が一様とならない
現象を仮にシエーデイングと呼ぶとすると、例え
ば第２図の合焦検出装置に於いて、センサ７ａと
７ｂ上に生じる像の光量分布Ａ、Ｂを比較演算処
理しようとする場合に、前記のシエーデイングが
あると不都合が生ずることとなる。
定したとき、結像光束ｌを２分割して行なう方法
があり、この結像光束ｌを２分割する光学系とし
ては、第２図に示すような屋根型サブミラー５が
考えられる。この第２図に於いて結像レンズ６か
らの光束ｌは、２つの反射面５ａ，５ｂを有する
屋根型サブミラー５に入射した後にそれぞれの反
射面５ａ，５ｂで反射され、光束la，lbとなつて
下方に位置するCCD等から成るラインセンサ７
ａ，７ｂ上に入射する。そしてラインセンサ７
ａ，７ｂのそれぞれの出力を比較して合焦検出を
行なえばよい。結像光束ｌが第３図に示すように
屋根型サブミラー５の反射面５ａ，５ｂの中間に
円Ｒとして入射する場合には、それぞれのセンサ
７ａ，７ｂには等量の光が導かれるが、Ｆナンバ
ーが大きい軸外光束l′の場合には、円R′として反
射面５ｂに殆どの光束l′が入射して反射光lb′とな
り、光束がセンサ７ｂには入射するがセンサ７ａ
には殆ど入射しないという現象が起り得る。この
ようにセンサ７ａ，７ｂに入射する光量に不平衡
が生じた状態に於いては、被写体が一様輝度面で
あるときそれぞれのセンサ７ａ，７ｂ上に入射す
る光量分布は、第４図に示すように模式的に表わ
されることになる。この第４図に於いて横軸は第
２図に示すセンサ７ａ，７ｂの配列方向ｘに一致
し、Oxはそれぞれのセンサ７ａ，７ｂ上の光軸
上の光束が交わる位置である。ここで縦軸は相対
光量を表わし、Ａはセンサ７ａ上の光量分布であ
つて右下りとなり、Ｂはセンサ７ｂ上の光量分布
で右下りとなることを示している。このように一
様輝度面を結像しても光量分布が一様とならない
現象を仮にシエーデイングと呼ぶとすると、例え
ば第２図の合焦検出装置に於いて、センサ７ａと
７ｂ上に生じる像の光量分布Ａ、Ｂを比較演算処
理しようとする場合に、前記のシエーデイングが
あると不都合が生ずることとなる。
本発明の目的は、合焦検出を行なう際の結像光
束を分割する場合に、像ズレ検知方式を用いたシ
エーデイングを殆ど生ずることのない新規な合焦
状態検出光学系を提供することにあり、その要旨
は、結像光学系とその予定結像面との間に設置さ
れた一次元マイクロプリズム形状を有する面積型
光分割素子と、該光分割素子によつて得られる複
数の光束の内の少なくとも２つの結像光束の予定
結像面近傍にそれぞれ置かれ、少なくとも一次元
方向に集光性を有する１個のレンズと、該レンズ
に対し所定の位置に置かれた１個の光電センサと
の組の配列を複数個備えることを特徴とするもの
である。
束を分割する場合に、像ズレ検知方式を用いたシ
エーデイングを殆ど生ずることのない新規な合焦
状態検出光学系を提供することにあり、その要旨
は、結像光学系とその予定結像面との間に設置さ
れた一次元マイクロプリズム形状を有する面積型
光分割素子と、該光分割素子によつて得られる複
数の光束の内の少なくとも２つの結像光束の予定
結像面近傍にそれぞれ置かれ、少なくとも一次元
方向に集光性を有する１個のレンズと、該レンズ
に対し所定の位置に置かれた１個の光電センサと
の組の配列を複数個備えることを特徴とするもの
である。
本発明を第５図以下に図示の実施例に基づいて
詳細に説明する。
詳細に説明する。
本発明の要点は、第２図と比較したときに屋根
型サブミラー５の代りに、一次元のマイクロプリ
ズム形状の多面ミラー１０を用いていることと、
第１図では１個のレンズ３ａの焦点面に２個のセ
ンサ４a1，４b1が配設されているのに対し、第５
図の実施例では１個の微小レンズ１１の焦点面に
１個のセンサ１２が配設されていることにある。
型サブミラー５の代りに、一次元のマイクロプリ
ズム形状の多面ミラー１０を用いていることと、
第１図では１個のレンズ３ａの焦点面に２個のセ
ンサ４a1，４b1が配設されているのに対し、第５
図の実施例では１個の微小レンズ１１の焦点面に
１個のセンサ１２が配設されていることにある。
第５図の説明に先立ち、新規な光学素子である
多面ミラー１０の機能について第６図を基に説明
する。第６図は第５図に於いて結像レンズ６を通
してこの多面ミラー１０を見たときの正面図であ
る。第６図に於いてＲは結像レンズ６の光軸Ｏ付
近に結蔵する光束Ｌの多面ミラー１０上に於ける
断面、R′は同様に光軸Ｏから離れた位置に結蔵
する光束L′の断面である。多面ミラー１０の断面
形状は例えば後述する第７図、第８図に示すよう
なものがあるが、第６図に於いて短冊状に示さ
れ、斜線が施されていない鏡面１０a1，１０a2，
……と、施されている鏡面１０b1，１０b2，……
とは、光軸Ｏに対し異つた傾きを有する系列であ
り、１０a1，１０a2，……の系列の鏡面は第２図
の鏡面５ａに対応し、１０b1，１０b2，……の系
列の鏡面は第２図の鏡面５ｂに対応している。従
つて第６図からも容易に理解されるように、円Ｒ
で表わされる光束Ｌの中に含まれる１０a1，１０
a2，……の系列の鏡面の面積と１０b1，１０b2，
……の系列の鏡面の面積の割合は、円R′で表わ
される軸外光束L′となつても殆ど変るところはな
いので、第２図の屋根型サブミラー５によつて生
ずる第４図に示したようなシエーデイングは起ら
ない。
多面ミラー１０の機能について第６図を基に説明
する。第６図は第５図に於いて結像レンズ６を通
してこの多面ミラー１０を見たときの正面図であ
る。第６図に於いてＲは結像レンズ６の光軸Ｏ付
近に結蔵する光束Ｌの多面ミラー１０上に於ける
断面、R′は同様に光軸Ｏから離れた位置に結蔵
する光束L′の断面である。多面ミラー１０の断面
形状は例えば後述する第７図、第８図に示すよう
なものがあるが、第６図に於いて短冊状に示さ
れ、斜線が施されていない鏡面１０a1，１０a2，
……と、施されている鏡面１０b1，１０b2，……
とは、光軸Ｏに対し異つた傾きを有する系列であ
り、１０a1，１０a2，……の系列の鏡面は第２図
の鏡面５ａに対応し、１０b1，１０b2，……の系
列の鏡面は第２図の鏡面５ｂに対応している。従
つて第６図からも容易に理解されるように、円Ｒ
で表わされる光束Ｌの中に含まれる１０a1，１０
a2，……の系列の鏡面の面積と１０b1，１０b2，
……の系列の鏡面の面積の割合は、円R′で表わ
される軸外光束L′となつても殆ど変るところはな
いので、第２図の屋根型サブミラー５によつて生
ずる第４図に示したようなシエーデイングは起ら
ない。
従つて第５図に於いては結像レンズ６を通過し
た光束は、光軸Ｏに対して面を斜設された多面ミ
ラー１０に入射した後に２つの系列の鏡面により
２つの光束に分離される。そしてそれぞれの光束
は、像面の平面からの傾きを補正するプリズム面
１３ａ，１３ｂとフイールドレンズ１４ａ，１４
ｂとを一体化したレンズ素子１５を通過し、更に
２系列に配置された微小レンズ配列１１a1，１１
a2，１１a3，……と、１１b1，１１b2，１１b3，
……との上に像を形成するようになつている。こ
の微小レンズ配列１１a1，１１a2，……の位置は
結像レンズ６の予定結像面（一眼レフレツクスカ
メラの場合にはフイルム面）と共役の位置に配置
されており、結像レンズ６が被写体とフイルム面
とを共役にする位置にあれば、レンズ配列１１
a1，１１a2，……上には鮮明な像が形成され、共
役にする位置でなければデイフオーカス像が形成
されるが、これらの２つの像の間隔はそれぞれの
場合で異なつたものとなる。例えば前ピントの場
合にはボケながら近付き、後ピントの場合ボケな
がら離れることになる。これらの像の内、微小レ
ンズ配列１１a1，１１a2，１１a3，……上に形成
される像光は、センサ基板１５上の一方向のセン
サ系列１２a1，１２a2，１２a3，……上に入射
し、他方の微小レンズ配列１１b1，１１b2，１１
b3，……上に形成される像光は、センサ系列１２
b1，１２b2，１２b3，……上に入射するようにな
つている。なお第５図ではフイールドフレンズ１
４ａ，１４ｂ、微小レンズ配列１１a1，１１a2，
……、センサ基板１５等の理解を容易にするため
に、光の進行方向の距離を実際の間隔よりも離し
て描いている。ところでセンサ系列１２a1，１２
a1，……のそれぞれのセンサ、例えば１２a2を逆
投影することを考えてみると、像光は微小レンズ
１１a2、フイールドレンズ１４ａを経て多面ミラ
ー１０の一方の系列の鏡面１０a1，１０a2，……
によつて反射され、結像レンズ６の瞳、或いはそ
の近傍に像Iaを形成するが、この像Iaは結像レン
ズ６の光軸Ｏに対し片側に寄つている。センサ１
２a2から出る光線が多面ミラー１０の他の傾きを
有する鏡面１０b1，１０b2，……を経て結像する
場合には、光軸Ｏに対し像Iaと反対の側、つまり
センサ１２b2が多面ミラー１０の鏡面１０b1，１
０b2，……を経て作られる像Ibの側にできるが、
それは結像レンズ６の瞳から外れるようになつて
いる。
た光束は、光軸Ｏに対して面を斜設された多面ミ
ラー１０に入射した後に２つの系列の鏡面により
２つの光束に分離される。そしてそれぞれの光束
は、像面の平面からの傾きを補正するプリズム面
１３ａ，１３ｂとフイールドレンズ１４ａ，１４
ｂとを一体化したレンズ素子１５を通過し、更に
２系列に配置された微小レンズ配列１１a1，１１
a2，１１a3，……と、１１b1，１１b2，１１b3，
……との上に像を形成するようになつている。こ
の微小レンズ配列１１a1，１１a2，……の位置は
結像レンズ６の予定結像面（一眼レフレツクスカ
メラの場合にはフイルム面）と共役の位置に配置
されており、結像レンズ６が被写体とフイルム面
とを共役にする位置にあれば、レンズ配列１１
a1，１１a2，……上には鮮明な像が形成され、共
役にする位置でなければデイフオーカス像が形成
されるが、これらの２つの像の間隔はそれぞれの
場合で異なつたものとなる。例えば前ピントの場
合にはボケながら近付き、後ピントの場合ボケな
がら離れることになる。これらの像の内、微小レ
ンズ配列１１a1，１１a2，１１a3，……上に形成
される像光は、センサ基板１５上の一方向のセン
サ系列１２a1，１２a2，１２a3，……上に入射
し、他方の微小レンズ配列１１b1，１１b2，１１
b3，……上に形成される像光は、センサ系列１２
b1，１２b2，１２b3，……上に入射するようにな
つている。なお第５図ではフイールドフレンズ１
４ａ，１４ｂ、微小レンズ配列１１a1，１１a2，
……、センサ基板１５等の理解を容易にするため
に、光の進行方向の距離を実際の間隔よりも離し
て描いている。ところでセンサ系列１２a1，１２
a1，……のそれぞれのセンサ、例えば１２a2を逆
投影することを考えてみると、像光は微小レンズ
１１a2、フイールドレンズ１４ａを経て多面ミラ
ー１０の一方の系列の鏡面１０a1，１０a2，……
によつて反射され、結像レンズ６の瞳、或いはそ
の近傍に像Iaを形成するが、この像Iaは結像レン
ズ６の光軸Ｏに対し片側に寄つている。センサ１
２a2から出る光線が多面ミラー１０の他の傾きを
有する鏡面１０b1，１０b2，……を経て結像する
場合には、光軸Ｏに対し像Iaと反対の側、つまり
センサ１２b2が多面ミラー１０の鏡面１０b1，１
０b2，……を経て作られる像Ibの側にできるが、
それは結像レンズ６の瞳から外れるようになつて
いる。
逆に、瞳に形成される像Iaの中心を通る細い光
束Laを考えると、それは多面ミラー１０によつ
て２方向に分離され、鏡面１０a1，１０a2，……
の系列によつて反射された光束La1、他の鏡面１
０b1，１０b2，……の系列によつて反射された光
束La2となるが、La1はセンサ１２a2上にスポツ
トLa1′として入射し、La2センサ１２b2と１２b3
の中間の不感帯にスポツトLa2′として入射するこ
とになる。
束Laを考えると、それは多面ミラー１０によつ
て２方向に分離され、鏡面１０a1，１０a2，……
の系列によつて反射された光束La1、他の鏡面１
０b1，１０b2，……の系列によつて反射された光
束La2となるが、La1はセンサ１２a2上にスポツ
トLa1′として入射し、La2センサ１２b2と１２b3
の中間の不感帯にスポツトLa2′として入射するこ
とになる。
なお第５図に示した多面ミラー１０について若
干の説明の加えると、第７図は多面ミラー１０の
断面構造を示し、鏡面の断面は三角波状であつ
て、入射光束Ｌは斜面１０an，１０bnによつて
光束La，Lbの２光束に波面分割されるようにな
つている。また第８図は他の多面ミラー１０が断
面構造を示し、基板１６の上層に外形が三角波状
の透明体から成る微小マイクロプリズム構造１７
が設けられており、基板１６の上面は反斜面１８
となつている。この場合は光束Ｌがプリズム構造
１７により直接反射されずに、反斜面１８により
反射されプリズム構造１７により光束La，Lbと
して分割されることになる。なお多面ミラー１０
の断面は三角波状にのみ限られるものではなく、
例えば台形波状であつてもよい。
干の説明の加えると、第７図は多面ミラー１０の
断面構造を示し、鏡面の断面は三角波状であつ
て、入射光束Ｌは斜面１０an，１０bnによつて
光束La，Lbの２光束に波面分割されるようにな
つている。また第８図は他の多面ミラー１０が断
面構造を示し、基板１６の上層に外形が三角波状
の透明体から成る微小マイクロプリズム構造１７
が設けられており、基板１６の上面は反斜面１８
となつている。この場合は光束Ｌがプリズム構造
１７により直接反射されずに、反斜面１８により
反射されプリズム構造１７により光束La，Lbと
して分割されることになる。なお多面ミラー１０
の断面は三角波状にのみ限られるものではなく、
例えば台形波状であつてもよい。
第９図は他の実施例を示すものであり、第５図
の光学系が多面ミラー１０によつて像を左右にず
らしたのに対し、本実施例では多面ミラー１０に
より２つの像を前後にずらすように、多面ミラー
１０の多数の鏡面が水平方向に配置されている。
また第５図に於ける微小レンズ１１a1，１１a2，
……，１１b1，１１b2，……，及びセンサアレイ
１２a1，１２a2，……，１２b1，１２b2，……の
２像に対応する系列が横一列に並んでいるのに対
し、本実施例ではこれらが前後に２系列並ぶこと
になる。センサ１２ａ，１２ｂが結像レンズ６の
光軸を挟んで結像レンズ６の瞳にIa，Ibとして投
影される。
の光学系が多面ミラー１０によつて像を左右にず
らしたのに対し、本実施例では多面ミラー１０に
より２つの像を前後にずらすように、多面ミラー
１０の多数の鏡面が水平方向に配置されている。
また第５図に於ける微小レンズ１１a1，１１a2，
……，１１b1，１１b2，……，及びセンサアレイ
１２a1，１２a2，……，１２b1，１２b2，……の
２像に対応する系列が横一列に並んでいるのに対
し、本実施例ではこれらが前後に２系列並ぶこと
になる。センサ１２ａ，１２ｂが結像レンズ６の
光軸を挟んで結像レンズ６の瞳にIa，Ibとして投
影される。
上述の実施例に於ける多面ミラー１０を反射型
として光学系を構成したが、多面ミラー１０が透
過型であつても同様の機能を有する光学系が構成
できる。
として光学系を構成したが、多面ミラー１０が透
過型であつても同様の機能を有する光学系が構成
できる。
このような構成とした本発明の光学系と、第１
図に示した米国特許第4185191号公報に記載され
た発明との違いは、本実施例の場合が微小レンズ
の２つの系列面上に、同一像が空間的に完全に分
離して形成され、それぞれの像を１個の微小レン
ズと１個のセンサの組を多数個配列し像数に対応
する２系列の受光系で受光する点にある。
図に示した米国特許第4185191号公報に記載され
た発明との違いは、本実施例の場合が微小レンズ
の２つの系列面上に、同一像が空間的に完全に分
離して形成され、それぞれの像を１個の微小レン
ズと１個のセンサの組を多数個配列し像数に対応
する２系列の受光系で受光する点にある。
以上詳しく説明したように本発明に係る合焦状
態検出光学系は、予定結像面に少くとも２つの像
を形成し、それぞれの像を例えばCCDセンサア
レイで検出する際に、結像状態に応じて検出像が
相対的にずれることを利用して合焦・非合焦を検
知する装置に有効に用いられる新しい光学系であ
り、シエーデイングを殆ど生ずることがない利点
を有している。
態検出光学系は、予定結像面に少くとも２つの像
を形成し、それぞれの像を例えばCCDセンサア
レイで検出する際に、結像状態に応じて検出像が
相対的にずれることを利用して合焦・非合焦を検
知する装置に有効に用いられる新しい光学系であ
り、シエーデイングを殆ど生ずることがない利点
を有している。
第１図は従来のズレ検知方式によるカメラの合
焦光学系の構成図、第２図、第３図は分割機構と
して屋根型サブミラーを用いた場合の説明図、第
４図はセンサ面で生ずるシエーデイングの説明
図、第５図以下は本発明に係る合焦状態検出光学
系の実施例を示すものであり、第５図はその構成
図、第６図は多面ミラーの正面図、第７図、第８
図は多面ミラーの断面図、第９図は合焦光学系の
他の構成図である。 符号６は撮影ミラー、１０は多面ミラー、１０
a1，１０a2，……，１０b1，１０b2，……はその
鏡面、１１a1，１１a2，……１１b1，１１b2，…
…はレンズ配列、１２a1，１２a2，……１２b1，
１２b2，……はセンサ、１３ａ，１３ｂはプリズ
ム面、１４ａ，１４ｂはフイールドレンズであ
る。
焦光学系の構成図、第２図、第３図は分割機構と
して屋根型サブミラーを用いた場合の説明図、第
４図はセンサ面で生ずるシエーデイングの説明
図、第５図以下は本発明に係る合焦状態検出光学
系の実施例を示すものであり、第５図はその構成
図、第６図は多面ミラーの正面図、第７図、第８
図は多面ミラーの断面図、第９図は合焦光学系の
他の構成図である。 符号６は撮影ミラー、１０は多面ミラー、１０
a1，１０a2，……，１０b1，１０b2，……はその
鏡面、１１a1，１１a2，……１１b1，１１b2，…
…はレンズ配列、１２a1，１２a2，……１２b1，
１２b2，……はセンサ、１３ａ，１３ｂはプリズ
ム面、１４ａ，１４ｂはフイールドレンズであ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 結像光学系とその予定結像面との間に設置さ
れた一次元マイクロプリズム形状を有する面積型
光分割素子と、該光分割素子によつて得られる複
数の光束の内の少なくとも２つの結像光束の予定
結像面近傍にそれぞれ置かれ、少なくとも一次元
方向に集光性を有する１個のレンズと、該レンズ
に対し所定の位置に置かれた１個の光電センサと
の組の配列を複数個備えることを特徴とする合焦
状態検出光学系。 ２ 前記面積型光分割素子をプリズムの刻設方向
が、結像光束の光軸を投影した方向と一致するよ
うにした特許請求の範囲第１項記載の合焦状態検
出光学系。 ３ 前記面積型光分割素子のプリズムの刻設方向
が、結像光束の光軸を投影した方向と直交するよ
うにした特許請求の範囲第１項記載の合焦状態検
出光学系。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57040016A JPS58156908A (ja) | 1982-03-13 | 1982-03-13 | 合焦状態検出光学系 |
| US06/472,952 US4659917A (en) | 1982-03-13 | 1983-03-07 | Focus detector having first and second non-overlapping sensor series |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57040016A JPS58156908A (ja) | 1982-03-13 | 1982-03-13 | 合焦状態検出光学系 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58156908A JPS58156908A (ja) | 1983-09-19 |
| JPH0376442B2 true JPH0376442B2 (ja) | 1991-12-05 |
Family
ID=12569105
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57040016A Granted JPS58156908A (ja) | 1982-03-13 | 1982-03-13 | 合焦状態検出光学系 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4659917A (ja) |
| JP (1) | JPS58156908A (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4849782A (en) * | 1985-06-28 | 1989-07-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting device |
| US4792669A (en) * | 1986-01-10 | 1988-12-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting device having two selectively movable lenses |
| JPS62168107A (ja) * | 1986-01-20 | 1987-07-24 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出用光学系 |
| US4904854A (en) * | 1987-01-12 | 1990-02-27 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focus detecting device having deviation compensation |
| US5097282A (en) * | 1987-02-06 | 1992-03-17 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focusing apparatus |
| US4857718A (en) * | 1987-05-15 | 1989-08-15 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Focus detecting device |
| US5243375A (en) * | 1987-05-21 | 1993-09-07 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focus adjusting device for adjusting the focus of the main object to be photographed |
| JP2605282B2 (ja) * | 1987-05-21 | 1997-04-30 | ミノルタ株式会社 | 自動焦点調節装置 |
| US5005041A (en) * | 1987-11-05 | 1991-04-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting apparatus having a plurality of focus detecting areas |
| US5144357A (en) * | 1987-11-06 | 1992-09-01 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focus detecting means |
| JP2662650B2 (ja) * | 1987-11-06 | 1997-10-15 | ミノルタ株式会社 | 自動焦点調節装置 |
| JP3199774B2 (ja) * | 1991-06-26 | 2001-08-20 | 旭光学工業株式会社 | 焦点検出装置 |
| JPH10206723A (ja) * | 1997-01-24 | 1998-08-07 | Nikon Corp | 焦点検出装置 |
| US7301646B2 (en) * | 2004-01-21 | 2007-11-27 | Carl Zeiss Smt Ag | Device and method for the determination of imaging errors and microlithography projection exposure system |
| TW200734026A (en) * | 2006-01-31 | 2007-09-16 | Mallinckrodt Baker Inc | End-cap device for high efficiency disposable chromotography column |
| US9091614B2 (en) * | 2011-05-20 | 2015-07-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Wavefront optical measuring apparatus |
| US9182289B2 (en) * | 2011-10-14 | 2015-11-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for estimating wavefront parameters |
| JP6010505B2 (ja) * | 2013-06-11 | 2016-10-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2156617C3 (de) * | 1971-11-15 | 1980-08-21 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Einrichtung zur Bestimmung der Lage der Ebene maximaler Amplitude einer Ortsfrequenz, beispielsweise bei einem Entfernungsmesser |
| JPS5116020A (en) * | 1974-07-30 | 1976-02-09 | Minolta Camera Kk | Jidoshotenkenshutsusochi |
| US4117325A (en) * | 1975-08-22 | 1978-09-26 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh | Optical objective focus indicator and display |
| US4265520A (en) * | 1977-11-28 | 1981-05-05 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Focus detecting device in single lens reflex camera |
| JPS54145133A (en) * | 1978-05-02 | 1979-11-13 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detector |
| US4185191A (en) * | 1978-06-05 | 1980-01-22 | Honeywell Inc. | Range determination system |
| JPS5859418A (ja) * | 1981-10-06 | 1983-04-08 | Olympus Optical Co Ltd | 合焦検出装置 |
-
1982
- 1982-03-13 JP JP57040016A patent/JPS58156908A/ja active Granted
-
1983
- 1983-03-07 US US06/472,952 patent/US4659917A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58156908A (ja) | 1983-09-19 |
| US4659917A (en) | 1987-04-21 |
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