JPH0377487B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、複数の光電変換素子を配列した受光
素子列上に結像レンズにより投影される光学像
を、各光電変換素子によつて光電変換し、その出
力を演算処理することにより投影像の鮮明度の評
価関数値を導出することによつて前記結像レンズ
の合焦を検出する方法において、評価値が小さい
場合には前記演算処理方法を変更することによつ
て、常時精度高く合焦を検出しうるようにした合
焦検出方法に関する。

従来のこの種の合焦検出法としては、たとえば
本願人の出願にかかわる特開昭55−57809号公報
に記載された方法がある。

その方法は、結像レンズに対して、光学的な距
離に、一定の距離差を隔てて設けられた１対の受
光素子列から生ずる光電信号を、各素子毎にデイ
ジタル信号に変換し、互いに隣り合う素子の出力
信号の差の絶対値の中から、最大の値より第Ｎ番
目に大きい値までの和を各受光素子列毎に計算
し、第１の受光素子列の和Ｆ−1aと第２の受光
素子列の和Ｆ−2aが等しくなる位置を合焦点と
して検出する方法である。

その方法は、結像レンズの合焦を自動制御する
必要上、一対の受光素子列を用いているが、単に
合焦を検出するだけであれば、一つの受光素子列
で足りるので、本発明と対比してその問題点を明
らかにするため、一列の受光素子列の場合につい
て説明する。

いま、説明を簡単にするため、評価関数は、互
いに隣り合う受光素子の出力信号の差の絶対値の
最大値のみをとるものとする。

第１図は、結像レンズによつて受光素子列に投
影された被写体像の像空間と像の光強度分布の関
係を、横軸に受光素子列Ｐ１〜Ｐ１０をとり、縦
軸に各受光素子の出力をとつて示したものであ
る。同図のＡは被写体の反射濃度変化がステツプ
状に変化している場合であり、その変化部分に隣
り合う受光素子Ｐ５およびＰ６の出力は、光強度
分布が最大（Imax）と最小（Imin）となつてい
る。

この場合、互に隣り合う受光素子の出力の差の
絶対値の最大値をもつて評価関数値とする受光素
子列の評価関数Ｆ−1aは、第２図に示すように
被写体像が受光素子列面で合焦した近傍で、する
どいピークを示し、またそのピーク値は〔Ｆ−
1a（Peak）＝｜Imax−Imin｜〕であつて大きな値
を示す。

ところが、被写体の反射濃度変化がなだらかに
変化している場合（「グレイデツト状」という。）
は、第１図Ｂに示すような像の光強度分布をもつ
ている。この場合の受光素子列の評価関数Ｆ−
1bは、第２図に示したように合焦付近でピーク
を生ずるが、その値（Ｆ−1b＝｜I_(P6)−I_(P7)｜）
は、前記のＦ−1aに比較してはるかに小さな値
である。

一方、第２図のように合焦点より、より離れた
所では、評価関数値がある値で残留し、しかもそ
の値は、各受光素子（Ｐ１〜Ｐ１０）のばらつ
き、それらの出力をアナログ−デイジタル（Ａ／
Ｄ）変換する際の量子化ノイズ等により動揺して
いる。これがため、グレイテツド状の被写体に対
する合焦の検出が困難であり、従つて、前記従来
方法のように、１対の受光素子列を用い、各受光
素子列の出力から求めた評価関数値が等しくなる
位置を合焦位置とする場合は、評価関数のある値
以上の所で判断しなくてはならなくなる。

第２図は、１対の受光素子列を結像レンズの光
軸に沿つて一定の距離を隔てて配置し、各受光素
子列毎に前記の評価方法により得た評価関数につ
いて、ステツプ状の光強度分布像の場合をＦ−
1aおよびＦ−2aで、またグレイデツド状の光強
度分布像のそれをＦ−1bおよびＦ−2bでそれぞ
れ示したものである。そして、各受光素子列毎に
求めた評価関数値が等しい位置を前記結像レンズ
の合焦位置として検出するものである。

なお、一般の物体では、二つの物体の境界、髪
の毛と顔の境界等は、ステツプ状の被写体であ
り、一方顔の鼻や、ほほなどのように漸次の陰影
を生ずる部分は、グレイデツド状の被写体といえ
る。

上述の従来例においては、評価関数値として互
に隣り合う素子の出力信号間の差の絶対値の最大
値のみをとるものとしたが、反射濃度変化がステ
ツプ状の被写体像の評価関数値のデイフオーカス
量に対する変化を最良のものとすべく、受光素子
のピツチを細かくすればする程、互に隣り合う受
光素子の出力間の差は小となるので、このように
受光素子のピツチを細かくすると、グレイデツド
状の被写体像の場合には合焦の検出が困難となる
欠点がある。

本発明の目的は、上述した欠点を除去し、受光
素子列に投影される被写体像の光強度分布がグレ
イテツド状であつても焦点状態を常に正確に検出
できる合焦検出方法を提供するものである。

すなわち、本発明は、複数個の光電変換素子か
らなる受光素子列に結像レンズにより物体像を投
影し、その光電変換信号に基づいて物体像の鮮明
度の評価関数値を算出して前記結像レンズの焦点
状態を検出するにあたり、 前記受光素子列の複数個の光電変換素子の同一
瞬時の光電変換信号を同時にサンプルホールドし
て並列的にデイジタル信号に変換し、 そのデイジタル信号に基づいて基本の評価方法
により評価関数値を算出して所定のしきい値と比
較し、 その評価関数値が前記所定のしきい値よりも大
きい場合は、該評価関数値を用いて結像レンズの
焦点状態を検出し、 前記基本の評価方法による評価関数値が前記所
定のしきい値よりも小さい場合には、前記デイジ
タル信号に基づいて前記基本の評価方法とは異な
る評価方法により評価関数値を算出して前記結像
レンズの焦点状態を検出することを特徴とするも
のである。

以下本発明の方法について詳記するに、本発明
における基本の評価方法とは、任意の方法でよい
が、たとえば複数の光電変換素子からなる受光素
子列に結像レンズにより被写体像を投影して、光
電変換することにより得られる出力をデイジタル
信号に変換し、その隣り合う光電変換素子間の出
力の差、またはその差の最大の値のものから第Ｎ
番目まで大きい値のものの和を評価関数値とする
評価方法を云うこととする。

被写体の反射濃度分布が、グレイデツド状の場
合は、受光素子列上の光強度分布が、第１図Ｂに
示したようになり、その基本の評価方法による評
価関数は、第２図のＦ−1bもしくはＦ−2bのよ
うにピークが目立たない平坦な特性を示すこと
は、さきに説明したとおりである。そのような状
態を新たに第３図ＢのＦ−1b、Ｆ−2bに示した。

このように算出した評価関数値を、従来のしき
い値Ｋよりも比較的高いレベルにあらかじめ設定
したしきい値K1と比較し、そのしきい値K1より
も前記評価値が小さいときは、前記評価値が大き
いときは、この基本の評価方法による評価関数値
を用いて焦点状態を検出し、小さいときは前記基
本の評価方法とは異なる評価方法に切換えて評価
関数値を求め、これにより焦点状態を検出するよ
うにする。

基本の評価方法として、たとえば、受光素子列
の互に隣り合う光電変換素子間の出力信号（デイ
ジタル信号）の差の絶対値を評価関数とする評価
方法を、基本の評価方法として採用した場合、第
３図Ａに示したように光電変換素子Ｐ６とＰ７の
出力の差は、i1であり、Ｐ７とＰ８についてのそ
れはi2である。その値が所定のしきい値K1より
も低い場合は、異なる評価方法に切換えるが、そ
の異なる評価方法として、たとえば１個おきの光
電変換素子Ｐ６とＰ８の出力信号（デイジタル信
号）の差の絶対値を評価関数値とする評価方法を
採用するとすれば、図示のようにi1とi2を加えた
値に等しいi3となる値をもつた評価関数が得られ
ることとなり、その関数が示すピークは、評価方
法を切換える前のものに比べ大きな値を示すよう
になる。

また別の例として基本の評価方法に、受光素子
列の互いに隣り合う光電変換素子間の出力信号
（デイジタル信号）の差の絶対値の中から、最大
値より第２番目に大きな値までの和とする場合、
たとえば第３図Ａのような光強度分布をもつた被
写体像では、光電変換素子のＰ７とＰ８の出力間
の差i1の値が１番大きく、次には、Ｐ６とＰ７の
出力間の差i2が大きいので、この二つの差の絶対
値の和i3をもつて評価関数値とすることとなる。
同図で明らかなように、この例では基本の評価方
法で求めた評価関数値は、すでにさきの例と同等
の値を示している。本発明方法は、このように求
めた基本の評価方法による評価関数値をさきの例
の場合と同様に、所定のしきい値K1と比較し、
K1よりも大きいときはこの基本の評価方法によ
る評価関数値を用いて焦点状態を検出し、同図Ｂ
のＦ−1bまたはＦ−2bのようにその値がしきい
値K1以下のときは、その基本の評価方法と異な
る評価方法、たとえば同図Ａに示したように受光
素子列の２個おきの光電変換素子Ｐ５とＰ８間の
出力信号（デイジタル信号）の差の絶対値i4を評
価関数値とする評価方法に切換える。同図で明ら
かなように、そのようにして求めた評価関数値
は、基本の評価方法によるもので較べて一そう大
きな値を示し、同図ＢのＦ−1BまたはＦ−2Bの
ように合焦点近傍において先鋭なピークをもつよ
うになるから、従来の方法では検出困難であつた
ようなグレイデツト状の被写体像についても正確
に合焦状態の検出ができるようになる。また、そ
の例では、異なる評価方法として、受光素子列の
２個おきに隣り合う光電変換素子間の出力信号の
差の絶対値を求めたが、３個おき、もしくはそれ
以上離れた光電変換素子間の出力信号の差を利用
すれば、さらに一そう顕著な検出効果が期待でき
る。

実際には、後述する実施例のように、基本の評
価方法と、それとは異なる評価方法の双方の効果
の相乗的効果を発揮させることができるので、期
待以上の効果を奏せしめることができる。

第４図は、本発明方法を採用した合焦検出装置
の一例の構成を示すブロツク図である。

同図において、被写体１は、結像レンズ２によ
り受光素子列３に光学像として投影される。受光
素子列の各受光素子の出力は、アナログ−デイジ
タル（Ａ／Ｄ）変換回路４によつて、並列的にデ
イジタル信号に変換された後、順次中央処理装置
５に取り込まれ、ここで隣接する受光素子の出力
間の差の絶対値を算出するとともに指定した基本
の評価関数を演算して所定のしきい値と比較し、
演算結果が、そのしきい値以下であるときは、メ
モリー選択回路３０を制御して、Ａ／Ｄ変換回路
４内に設けられた各光電変換素子のデイジタル出
力を記憶するデイジタルメモリをＮ個おきに選択
し、連続的に順次読み出し、前記中央処理装置５
に入力させることにより、前記基本の評価方法を
それとは異なる評価方法に切換えるように構成さ
れている。また、中央処理装置５には、結像レン
ズ２を光軸に沿つて矢印の方向に変位させるため
の光学系駆動装置８を制御するための光学系駆動
制御回路２９への制御信号発生回路、第３図に
K1で示したしきい値を決定するための定数メモ
リおよびそのメモリから読み出された所定のレベ
ルと前記算出値を比較するための比較回路を含ん
でいる。なお、合焦状態は、表示装置７に表示さ
れるようになつている。なお、簡易型の装置にお
いては、光学系の駆動は、撮影者が、表示装置６
の指示によつて手動で行なうようにして、光学系
駆動装置８および光学系駆動制御回路２９を省略
してもよい。

第５図ないし第８図は、本発明の実施例の構成
図である。第５図は、受光素子列の配置列を、１
眼レフ式カメラを例にとつて示したものであつ
て、１対の受光素子列９，１０は基板１１上に並
列に配置され、結像レンズ２によつて被写体像の
一部を、クイツクリターン・ハーフミラー１２を
介してミラー１３、ハーフミラー１４、およびミ
ラー１５により、結像レンズ２の予定焦平面であ
るフイルム面（図示せず）と光学的に共役な面の
前後に一定の光学的距離を隔てて配置した前記各
受光素子列９および１０に投影するよう構成して
ある。なお、１６はピント板、１７はビユーフア
インダ用ペンタプリズム、１８はシヤツター幕を
示す。

各受光素子列に投影された被写体像は、その光
の強度分布に応じ、さきに説明したように評価関
数値が各受光素子列別に算出され、各受光素子列
の評価関数値が一致するように、結像レンズ２を
光軸に沿つて移動させればよい。

すなわち、第３図のＦ−1bとＦ−2Bは、各受
光素子列の出力から本発明方法により求めた評価
関数であり、従つてその両者の価の等しくなる位
置が前記結像レンズの合焦位置となる。その位置
は、対をなす各受光素子列の性能が等しければ、
第５図のハーフミラー１４とミラー１５の中間位
置となる。

第６図は、本発明方法を実施するための回路構
成例について、Ａ／Ｄ変換回路４を中心に示した
ブロツク線図である。同図において、１対の受光
素子列９，１０の出力は、中央処理装置５からの
制御信号により動作する選択回路２１により交互
に切換えられて、受光素子列９または１０をなす
各光電変換素子に対応する各サンプルホールド回
路２２−１，２２−２…２２−Ｋにそれぞれ入力
する。

各サンプルホールド回路２２−１，２２−２…
２２−Ｋには、前記中央処理装置５からサンプリ
ング信号および読み出し信号を加えることによつ
て、そのサンプリング信号のタイミングにより前
記各光電変換素子の出力信号を同時にサンプル
し、ホールドして出力するように構成してある。

各サンプルホールド回路２２−１，２２−２…
２２−Ｋの出力信号は、次の各比較器２３−１，
２３−２…２３−Ｋにそれぞれ入力し、それら各
比較器２３−１，２３−２…２３−Ｋにおいて
Ｄ／Ａ変換回路２４からのレベルが段階的に変化
する出力信号と比較して、比較出力を取り出し、
それら各比較器に対応して設けたデイジタルメモ
リ２５−１，２５−２…２５−Ｋのそれぞれに記
憶制御信号として導いている。

各デイジタルメモリ２５−１，２５−２…２５
−Ｋおよび記前Ｄ／Ａ変換回路２４には、前記中
央処理装置５からの入力パルス信号を、たとえば
４ビツトの並列２進コード信号の形で出力するカ
ウンタ２６からのデイジタル信号が導かれてい
る。

従つて、各比較器２３−１，２３−２…２３−
Ｋに入力するＤ／Ａ変換回路２４の出力レベル
は、各デイジタルメモリに入力するカウンタ３６
のデイジタル出力信号が表わすレベルと同一レベ
ルに相当することとなるので、各比較器２３−
１，２３−２…２３−Ｋの出力のタイミングで、
各デイジタルメモリ２５−１，２５−２…２５−
Ｋに前記カウンタ２６からのデイジタル信号を記
憶させれば、前記受光素子列９または１０の各光
電変換素子からの出力信号を、それぞれに対応す
る各デイジタルメモリ２５−１，２５−２…２５
−Ｋに、４ビツト２進コードのデイジタル信号に
並列的に変換して記憶することができる。

また、前記サンプルホールドのタイミングは、
各比較器２３−１，２３−２，…２３−Ｋの出力
をOR回路２７に導いて論理和をとり、その出力
を中央処理装置に導くことにより、比較器の出力
中の最初の出力のタイミングをもつたサンプルパ
ルスを中央処理装置から発生させ、このパルスを
前記サンプルホールド回路２２−１，２２−２…
２２−Ｋに加えるサンプリングパルスにして、各
光電変換素子の同一瞬時の光電変換信号を同時に
サンプルホールドする。一方各比較器２３−１，
２３−２，…２３−Ｋの出力をAND回路２８に
導いて、その出力を取り出し、これをそのデイジ
タル変換の終了の情報として、中央処理装置５に
導いている。

前記デイジタルメモリ２５−１，２５−２，…
２５−Ｋからデイジタル信号を読み出して、中央
処理装置により指定の任意の基本の評価方法によ
り求めた評価値を所定のしきい値と比較し、その
しきい値以下の場合には、異なる評価方法に切換
えて評価値を演算するにあたり、この実施例では
その演算結果に応じて、メモリ選択回路３０によ
り読み出すべきデイジタルメモリの番地を指定し
うるようにしている点に特徴がある。

第７図は、そのメモリ選択回路３０の一例を示
すブロツク線図であつて、カウンタ３１は、中央
処理装置５からの制御信号によつて、零からデイ
ジタルメモリの数Ｋまでカウントし、再び零に戻
るように構成してあり、デイジタルメモリ２５−
１，２５−２，…２５−Ｋの順次呼び出すように
動作する。しかし、そのカウンタ３１と、各デイ
ジタルメモリ２５−１，２５−２…２５−Ｋの間
には、第１のデコーダ３２と、ANDゲート群３
３−１，３３−２，…３３−Ｋが介挿されており
デイジタルメモリ２５−１，２５−２…２５−Ｋ
の呼び出しを制限するようにしている。

すなわち、各ANDゲート３３−１，３３−２
…３３−Ｋの一方の入力は、前記第１のデコーダ
３２の出力が導かれており、他方の入力は、詳細
を後記する中央処理装置５からの比較出力をカウ
ントするダウンカウンタ３４の出力を解読して、
Ｃ・Ｂ・Ａからなる並列デイジタル信号を出力す
る第二のデコーダ３５よりの出力が、ANDゲー
ト３３−１〜３３−Ｋを選択的に作動可能なよう
に導かれている。

たとえば、第１のデコーダ３２からのデイジタ
ルメモリ２５−１〜２５−Ｋに対する読み出し信
号が、各ANDゲート３３−１〜３３−Ｋに順次
加わつた場合、前記第２のデコーダ３５の出力
Ｃ・Ｂ・Ａが１・１・１のとき、全部のANDゲ
ート３３−１〜３３−Ｋが出力し、また、前記
Ｃ・Ｂ・Ａが０・１・１のときは、一つおきの
ANDゲート３３−１，３３−３，３３−５…が
出力し、さらに前記Ｃ・Ｂ・Ａが０・０・１とな
つたときは三つおきのANDゲート３３−１，３
３−５，３３−９…がそれぞれ出力するよう構成
されている。

このようにして、第２のデコーダ３５の指定に
従つて第１のデコーダ３２からの読み出し用信号
が順次選択されて、第６図のデイジタルメモリ２
５−１〜２５−Ｋに順次もしくは選択的に供給さ
れ、中央処理装置５に順次読み出される。

その場合に読み出されるデイジタルメモリ２５
−１〜２５−Ｋは、前記ANDゲートによつて指
定されたものだけとなる。

従つて、中央処理装置５に読み込まれる受光素
子列の出力は、その場合に互いに隣り合う光電変
換素子のうち、前記メモリ選択回路３０の指令に
よりＬ個おきのものだけとなり、中央処理装置５
では、Ｌ個おきの光電変換素子間の出力信号の差
を演算することとなり、その結果は、異なる評価
方法による評価関数値に切換えられたこととな
る。

なお、この実施例では、基本の評価方法とし
て、受光素子列９および１０の隣り合う光電変換
素子間の出力信号の差の絶対値の最大値から第Ｎ
番目に大きな値までの和を評価関数値とする方法
を採用しているので、中央処理装置５内には、複
数のメモリブロツクを含む最大値検出回路および
加算器を内蔵している。

いま、受光素子列９または１０の被写体像が第
３図Ａのようにグレイデツド状の光強度分布をも
つている場合の評価関数について考えてみる。説
明を簡単にするため、評価関数は、中央処理装置
５に順次入力するデイジタルメモリ２５−１，２
５−２，…２５−Ｋの出力信号間の出力の差の絶
対値の最大値のみを取るものとする。

すなわち、デイジタルメモリ２５−１，２５−
２…２５−Ｋから読み出された信号は、第８図の
中央処理装置５において、シフトレジスタ４１と
減算回路４２とによつて隣り合うデイジタルメモ
リ２５−１〜２５−Ｋの出力間の差が算出され、
複数のメモリブロツクを含む最大検出回路４３に
入力する。その最大値検出回路４３は、制御回路
４４からの制御信号により、Ｎが指定され、受光
素子間の出力信号の差の絶対値の中から最大の値
より第Ｎ番目に大きい値までの上記絶対値を選択
して検出しうるように構成してあり、Ｎが１のと
きは、基本の評価方法として、受光素子列の隣り
合う光電変換素子間の単なる出力信号間の差の絶
対値を評価関数値とする場合に相当し、最大値検
出回路４３によつて、減算回路４２の出力中の最
大値の絶対値のみが選択される。

いま、そのＮを２に設定すれば、最大値選択回
路４３によつて、減算回路４２の出力中の最大値
から第２番までの値のものが選択され、順次加算
器４５に導かれて加算される。

その加算器４５によつて得られた加算出力は、
比較回路４６に入力し、所定のしきい値K1（第３
図参照）を記憶せしめた定数メモリ４７からの基
準値と比較される。比較回路４６は、前記加算器
４５の出力が、前記しきい値よりも低いときに出
力を生ずるように設定してあるので、前記加算器
４５の出力がもしそのしきい値よりも低ければ、
メモリ選択回路３０のダウンカウンタ３４を１ス
テツプダウンカウントし、その出力Ｃ・Ｂ・Ａを
１・１・１から０・１・１にするので、さきに説
明したようにメモリ選択回路３０のANDゲート
は一つおきに出力することとなり、従つてデイジ
タルメモリも一つおきに読み出されるようアドレ
ス指定されて、その内容が順次中央処理装置５に
読み込まれる。中央処理装置５ではそのように読
み込まれた隣接信号間の差について演算処理する
こととなるので、前記基本の評価方法とは異なつ
た評価方法によつて評価関数値を求めたこととな
り、その評価関数値は、前記アドレス指定された
Ｌ個すなわち１個おきの受光素子の出力に対応す
るデイジタルメモリの出力間の差に相当する。

また、一つおきのデイジタルメモリを読み出し
ても、その評価関数値が、まだ所定のしきい値
K1以下の場合には、再び比較回路４６の出力が
発生するので、さらにダウンカウンタ３４をカウ
ントダウンさせ、ANDゲートを二つおきに動作
させる。この実施例では最大三つおきのANDゲ
ートを動作させるようにしているが、その数を増
加させ、同様な動作を繰返させるように構成して
もよい。

一方、基本の評価方法により求めた評価関数値
が、前記しきい値K1以上であれば、比較回路４
６から出力がないので、ダウンカウンタ３４の出
力は１・１・１の状態を維持することとなり、全
部のデイジタルメモリ２５−１〜２５−Ｋが順次
読み出され、中央処理装置に加わり、最大値検出
回路４３および加算器４５によつて設定される基
本の評価方法に基づいて合焦状態が検出されるこ
ととなる。

この実施例において、たとえば最大値検出回路
４３が、入力信号の最大値からＮ番目までに大き
な値のものを選択するよう設定されているものと
し、デイジタルメモリ２５−１〜２５−ＫのＬ個
おきがアドレス指定されて順次中央処理装置５に
とり込まれるものとすれば、前者の基本の評価方
法と後者の異なる評価方法との相乗効果により、
従来の隣り合う光電変換素子間の出力信号の差の
絶対値を評価関数値とする場合に較べ、ほぼNL
倍の値をもつた評価関数値となるので、第３図Ｂ
に示したように、従来方法では合焦点の検出が不
可能であつたようなグレイデイツト状の被写体像
に関する評価関数Ｆ−1bおよびＦ−2bは、Ｆ−
1BおよびＦ−2Bのように合焦点近傍において躍
著に大きな値を示すようになる。

なお、この実施例では、そのように検出された
合焦状態に対応した信号を表示判定回路４８に導
いて、結像の良否等を表示装置７により表示する
ようにしている。

以上のような演算処理を第６図の９，１０で示
した１対の受光素子列について、中央処理装置５
よりの指令により交互に行なえば、第４図の結像
レンズ２のいわゆる前ピンおよび後ピンの状態に
おける評価関数値を比較し得るので、その等しい
関数値を求めるように前記結像レンズを光軸に沿
つて移動させることにより、正確に合焦位置が検
出できる。

なお、第８図においては、制御回路４４と各機
能ブロツク間の結線の図示を省略してあるが、各
機能ブロツクは、制御回路４４からの制御信号に
より制御されるよう構成されている。

以上実施例によれば基本の評価方法による評価
値が、所定のしきい値以下のときは、Ｌ個おきに
読み出されるデイジタルメモリの中央処理装置５
に入る隣り合う信号の差の絶対値の最大値を評価
関数にしているから、前記Ｌを１とした場合、結
果的には受光素子列９または１０で受光した像の
光強度分布の一つおきの信号の差の絶対値の最大
値を評価関数にしたことになり、その評価関数値
は、基本の評価方法とは異なる評価方法で算出し
たこととなる。

その結果、第３図にＦ−1BまたはＦ−2Bで示
したように、基本の評価方法、すなわち、単に隣
り合う受光素子間の出力信号の差の絶対値の最大
値を評価値Ｆ−1bまたはＦ−2bとするものに比
較して、格段と大きな値を示すようになり、従来
方法では検出不能であつたような場合であつて
も、合焦位置の検出が可能となる。

また、さきの実施例で説明したように、受光素
子出力の一つおきの値の差を計算して、これを評
価値としてもなお検出が困難な場合には、ダウン
カウンタ（第７図の３４）を一つづつ進めること
により、受光素子の二つおき、または三つおきの
出力が、中央処理装置に順次入力するので、きわ
めてなだらかな反射濃度をもつたグレイデツドな
被写体に対しても結像レンズの合焦位置を容易に
検出することができる。また、従来の方法、すな
わち互に隣り合う受光素子間の出力差の絶対値の
中から最大値より第Ｎ番目の大きい値までの和
を、各受光素子列毎に計算し、第１列の和Ｆ−
1aと第２列の和Ｆ−2aとの大小関係により、Ｆ
−1aとＦ−2aが等しくなる位置を合焦点として
検出する方法では、ステツプ状の反射濃度をもつ
被写体の合焦検出を最良の状態にすると、グレイ
デツド状の反射濃度をもつ被写体に対しては合焦
検出が不可能となる場合であつても、本発明方法
では、基本の評価方法と、それとは異なる評価方
法とを組み合わせ、両者の相乗効果による評価方
法に基づいて合焦状態を検出しうる方法であるか
ら、従来方法に較べ格段に優れた合焦検出効果を
奏しうる。

また、受光素子列の複数個の光電変換素子の同
一の瞬時の光電変換信号を同時にサンプルホール
ドして並列的にデイジタル信号に変換して評価値
を求めるようにしたので、Ａ／Ｄ変換を短時間で
できると共に、被写体が移動する場合であつても
光電変換素子間で時間的にずれのない信号を用い
ることができ、したがつて常に正確な評価値を短
時間で得ることができ、焦点状態を常に正確に検
出することができる。

なお、本発明方法における基本の評価方法およ
びそれとは異なる評価方法は、前述の実施例に説
明した各評価方法に限定されるものではないこと
は勿論である。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は、従来方法を説明するた
めの被写体像光強度分布図および評価関数曲線
図、第３図は、本発明方法の作用を説明するため
の図、第４図は、本発明方法を採用した合焦検出
装置の１例の構成を示すブロツク線図、第５図
は、本発明方法の実施例における受光素子列の配
置構成図、第６図は、本発明方法の実施例の回路
構成をＡ／Ｄ変換回路を中心に示したブロツク線
図、第７図は、本発明の実施例におけるメモリ選
択回路の構成例のブロツク線図、第８図は本発明
の実施例における中央処理装置の構成例のブロツ
ク線図である。 １……被写体、２……結像レンズ、１１……基
板、１２……クイツクリターン・ハーフミラー、
１３，１４……ハーフミラー、１５……ミラー、
１６……ピント板、１７……ペンタプリズム、１
８……シヤツタ幕、３３−１〜３３−Ｋ……
ANDゲート。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 複数個の光電変換素子からなる受光素子列に
   結像レンズにより物体像を投影し、その光電変換
   信号に基づいて物体像の鮮明度の評価関数値を算
   出して前記結像レンズの焦点状態を検出するにあ
   たり、 前記受光素子列の複数個の光電変換素子の同一
   瞬時の光電変換信号を読み出してデイジタル信号
   に変換し、 そのデイジタル信号に基づいて基本の評価方法
   たる第１の評価方法により第１の評価関数値を算
   出して所定のしきい値と比較し、 そのとき第１の評価関数値が前記所定のしきい
   値よりも大きい場合は、該第１の評価関数値を用
   いて結像レンズの焦点状態を検出し、 前記第１の評価関数値が前記所定のしきい値よ
   りも小さい場合には、前記デイジタル信号に基づ
   いて前記基本の評価方法たる第１の評価方法とは
   異なる第２の評価方法により第２の評価関数値を
   算出して該第２の評価関数値を用いて前記結像レ
   ンズの焦点状態を検出する合焦検出方法であつ
   て、 前記第１の評価方法は、前記受光素子列につい
   て前記第１の評価関数値として、隣り合う光電変
   換素子によるデイジタル信号出力の差の絶対値の
   中から最大の値より第Ｎ番目までに大きい値の和
   を算出することによる方法であり、 前記第２の評価方法は、前記受光素子列につい
   て前記第２の評価関数値として、Ｌ個おきに隣り
   合う光電変換素子によるデイジタル信号出力の差
   の絶対値の中から最大の値より第Ｎ番目までに大
   きい値の和を算出することによる方法である、こ
   とを特徴とする合焦検出方法。